JP2012088122A - 絶縁被覆プローブピン及びその製造方法 - Google Patents

絶縁被覆プローブピン及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2012088122A
JP2012088122A JP2010233920A JP2010233920A JP2012088122A JP 2012088122 A JP2012088122 A JP 2012088122A JP 2010233920 A JP2010233920 A JP 2010233920A JP 2010233920 A JP2010233920 A JP 2010233920A JP 2012088122 A JP2012088122 A JP 2012088122A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe pin
end side
insulation
pin
coating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010233920A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshihiro Zushi
敏博 厨子
Kenji Kawamura
賢治 川村
Masayuki Ataka
正之 安宅
Toyokazu Nagato
豊和 長門
Hiroyuki Kamibayashi
裕之 上林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Cable Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Cable Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Cable Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Cable Industries Ltd
Priority to JP2010233920A priority Critical patent/JP2012088122A/ja
Priority to TW100137275A priority patent/TW201221967A/zh
Priority to US13/274,676 priority patent/US20120091999A1/en
Publication of JP2012088122A publication Critical patent/JP2012088122A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06755Material aspects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

【課題】絶縁被覆プローブピンの検出端側の露出した部分同士が接触しにくくする。
【解決手段】絶縁被覆プローブピン10は、導電体のプローブピン11と、その検出端側の部分が露出するように外周を被覆する絶縁被覆12とを備える。絶縁被覆12は、プローブピン11の検出端側の端部12aが全周に渡って接続端側の端部よりも厚肉に形成されている。
【選択図】図1

Description

本発明は絶縁被覆プローブピン及びその製造方法に関する。
回路基板や半導体素子等を検査する場合、通常、それらに設けられた電極や電極パッドにプローバの絶縁被覆プローブピンの検出端側のプローブピンの先端を接触させることにより通電を行う。絶縁被覆プローブピンは、金属製のプローブピンを備え、一般に、その検出端側の部分が露出され、一方、その他の部分の外周が絶縁被覆で被覆された構成を有する。
特許文献1には、電着液に金属製のプローブピンの検出端側から所定長を浸漬した後に通電を行い、それによって電着塗装で絶縁被覆を形成することが開示されている。
特許文献2には、金属製のプローブピンを電着塗装して絶縁被覆を形成するための電着液として、ブロック共重合ポリイミドを含むサスペンジョンを用いることが開示されている。
登録実用新案第3038114号公報 特開2010−107420号公報
本発明の課題は、絶縁被覆プローブピンの検出端側の露出した部分同士が接触しにくくすることである。
本発明は、導電体のプローブピンと、該プローブピンの検出端側の部分が露出するように該プローブピンの外周を被覆する絶縁被覆と、を備えた絶縁被覆プローブピンであって、
上記絶縁被覆は、上記プローブピンの検出端側の端部が全周に渡って接続端側の端部よりも厚肉に形成されている。
本発明は、導電体のプローブピンと、該プローブピンの検出端側の部分が露出するように該プローブピンの外周を被覆する絶縁被覆と、を備えた絶縁被覆プローブピンの製造方法であって、
電着液の入った孔を有する電極を用い、該電極の孔内の電着液に、導電体のプローブピンを、その接続端側から所定長浸漬した後、該電極と該プローブピンとの間で通電を行うものである。
本発明によれば、絶縁被覆におけるプローブピンの検出端側の端部が全周に渡って接続端側の端部よりも厚肉に形成されているので、例えばプローバに多数の絶縁被覆プローブピンが短い間隔で並列して設けられたような場合でも、絶縁被覆の厚肉の端部同士が干渉するため、絶縁被覆プローブピンの検出端側の露出した部分同士が接触しにくくなる。
本実施形態に係る絶縁被覆プローブピンの側面図である。 (a)は図1におけるIIA−IIA断面図であり、(b)は図1におけるIIB−IIB断面図である。 図1におけるIII-III断面図である。 本実施形態に係る絶縁被覆プローブピンの使用状態を示す説明図である。 電着塗装装置を示す斜視図である。 ピン把持部材でプローブピンを把持する状態を示す説明図である。 ピン把持部材を待機位置において上下移動手段に取り付けた状態を示す説明図である。 ピン把持部材を上下移動手段により処理位置に位置付けた状態を示す説明図である。 電着塗装の状態を示す説明図である。
以下、実施形態について図面に基づいて説明する。
(絶縁被覆プローブピン)
図1は本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10を示す。図1に示す本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10において、左側が検出端側及び右側が接続端側である。図2(a)は図1におけるIIA−IIAの部分の横断面を示し、図2(b)は図1におけるIIB−IIBの部分の横断面を示す。図3は図1におけるIII-IIIの部分の縦断面を示す。本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10は、例えば回路基板や半導体素子等を検査する際に用いられるプローバに取り付けられる部品である。
本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10は、金属製のプローブピン11を備え、そのプローブピン11の検出端側の部分が露出している一方、反対側の接続端側の部分の外周が絶縁被覆12で被覆されている。なお、接続端側は、絶縁被覆12がレーザー等を使用した光学剥離或いは溶剤等を使用した化学剥離により剥がされてプローブピン11が露出していてもよい。本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10は、直線状に形成されていてもよく、また、用途に応じて屈曲部を有していてもよい。本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10は、例えば、長さが10〜150mm、外径が20〜400μm、及び検出端側のプローブピン11の露出長さが0.5〜30mmである。
プローブピン11は金属線で構成されている。プローブピン11は高導電性及び高弾性率を有することが好ましく、これを形成する金属材料としては、特に限定されるものではないが、例えば、銅、タングステン、レニウムタングステン、鋼が挙げられる。プローブピン11は、単一の金属材料で形成されていてもよく、また、複数の金属材料の合金で形成されていてもよい。かかる合金としては、例えば、高硬度で且つ高弾性のベリリウム銅が挙げられる。プローブピン11は、例えば表面に金メッキ等が施されていてもよい。プローブピン11の横断面は円形に形成されていてもよく、また、例えば矩形等の多角形のように非円形に形成されていてもよい。プローブピン11の検出端側の先端は、検査体である電極や電極パッドの種類に応じて、フラット、ラウンド(球面)、尖頭、三角錐などの形状に加工されていてもよい。なお、プローブピン11は、金属製に限らず、導電体であれば、例えば導電性樹脂で構成されていてもよい。この導電性樹脂は、導電性を有し、プローブピン11として要求される弾性を有するものであればよい。
絶縁被覆12は、絶縁性の樹脂で形成されている。絶縁被覆12を形成する樹脂材料としては、特に限定されるものではないが、例えば、ポリイミド樹脂、アクリル樹脂、ウレタン樹脂、エポキシ樹脂が挙げられる。絶縁被覆12を形成する樹脂材料としては分子骨格にシロキサン結合含むポリイミド樹脂が好ましい。プローブピン11は、単一の樹脂材料で形成されていてもよく、また、複数の樹脂材料が混合されて形成されていてもよい。
絶縁被覆12は、長さ方向のいずれの部分においても、プローブピン11の外周に全周に渡って偏肉を有することなく均一厚さで付着している。絶縁被覆12は、プローブピン11の接続端側の部分では、長さ方向に沿って例えば1〜50μmの均一厚さを有し、そして、プローブピン11の検出端側の端部12aが全周に渡って接続端側の端部12bよりも厚肉に形成されている。絶縁被覆12におけるプローブピン11の検出端側の端部12aの最も厚肉となる部分の厚さは例えば1.5〜52.5μmであり、プローブピン11の接続端側の部分での厚さよりも例えば0.5〜2.5μm程度厚い。絶縁被覆12におけるプローブピン11の検出端側の端部12aの最も厚肉となる部分は、絶縁被覆12の端から例えば0.02〜1.5mmの位置であり、0.02〜0.5mmの位置であることが好ましい。
本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10によれば、絶縁被覆12におけるプローブピン11の検出端側の端部12aが全周に渡って接続端側の端部12bよりも厚肉に形成されているので、例えばプローバに多数の絶縁被覆プローブピン10が短い間隔で並列して設けられたような場合でも、絶縁被覆12の厚肉の端部12a同士が干渉するため、絶縁被覆プローブピン10の検出端側の露出した部分同士が接触しにくくなる。
また、絶縁被覆12におけるプローブピン11の検出端側の端部12aが全周に渡って接続端側の端部12bよりも厚肉に形成されているので、多数の絶縁被覆プローブピン10が集合したような場合でも、絶縁被覆12の厚肉の端部12aが周辺の絶縁被覆プローブピン10との間に適度に間隔を有することとなり、ハンドリング性が優れることとなる。
さらに、本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10の用途として、図4に示すように、絶縁被覆プローブピン10の検出端側の絶縁被覆12が設けられていない露出した部分が基板Sに形成されたプローブ孔Hから突出及び没入し、突出する際に絶縁被覆12の端部12aがプローブ孔Hの周縁に係止されるプローバがある。かかる用途において、プローバで通電試験を行なうと、絶縁被覆の端が繰り返し応力を受けて後退することによる絶縁被覆プローブピンのプローブ孔からの突出量のバラツキが問題となる。しかしながら、本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10によれば、絶縁被覆12におけるプローブピン11の検出端側の端部12aが全周に渡って接続端側の端部12bよりも厚肉に形成されているので、絶縁被覆12の補強がなされ、プローブ孔Hの周縁に接触して大きな応力が作用したとしても、絶縁被覆12の端部12aの削れや剥離が規制され、その結果、絶縁被覆プローブピン10のプローブ孔Hからの突出量のバラツキを抑制することができる。また、プローブピン10の製品寿命を長くすることができる。このような絶縁被覆12の補強の観点からは、絶縁被覆12は、図1及び3に示すように、検出端側の端部12aからプローブピン11の接続端側に向かって漸次薄肉となってテーパ状に形成されている部分を有することが好ましい。絶縁被覆12におけるプローブピン11の検出端側の端部12aの最も厚肉となる部分から接続端側の均一厚さの部分の始点までの長さは、絶縁被覆プローブピン10の検出端側の露出した部分同士の接触を防ぎ易いという観点から、0.02〜1.5mmであることが好ましい。
(絶縁被覆プローブピンの製造方法)
本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10は、プローブピン11を準備し、それに以下に説明する電着塗装を施すことにより製造することができる。
図5は電着塗装装置20を示す。
この電着塗装装置20は、電着バス21、ブロック状電極22、及びピン把持部材23を備えている。
電着バス21は、上方に開口した槽であり、内部に電着液Lが入れられる。
ブロック状電極22は、電着バス21内に、上部が電着液Lの液面から突出し且つ底面が槽底に接触しないように設置されている。ブロック状電極22には、各々、上下に貫通した複数の円筒孔22aが並列に配設されて形成されている。これにより、円筒孔22aには電着液Lが流入し、円筒孔22aの上部まで電着液Lが入った状態にセッティングされるように構成されている。円筒孔22aの数は例えば1〜50個である。円筒孔22aの直径は例えば2〜10mm(好ましくは3〜8mm)である。なお、孔形状については、プローブピン10の縦断面における絶縁被覆12の厚さの均一性の観点から、上記に示すように円筒孔22aであることが好ましいが、特にこれに限定されるものではなく、貫通孔であれば、孔の形状が矩形などの多角形のような非円形であってもよい。
ブロック状電極22は、金属塊で形成されていてもよく、また、少なくとも円筒孔22aの内壁が金属等の導電体で構成されていれば、本体部分が絶縁体で形成されていてもよく、さらに、導電性の多孔質体で形成されて円筒孔22aの内壁が電着液Lの流出入可能な多孔面に構成されていてもよい。ブロック状電極22を形成する金属材料としては例えば銅が挙げられる。ブロック状電極22は図示しない電源部に接続されている。
ピン把持部材23は、電着バス21内のブロック状電極22の上方の図示しない上下移動手段に取り付けられることにより上の待機位置と下の処理位置との間で上下可動に設けられている。ピン把持部材23は、部材本体23aと挟持板23bとを有し、挟持板23bが部材本体23aの側面に接触する接触位置と離間する離間位置との間で可動に設けられている。これにより、図6に示すように、挟持板23bが離間位置に位置付けられた状態で、部材本体23aの側面に、複数本のプローブピン11が、それらの検出端側の部分が当接するように一定間隔をおいて並列に設けられ、そして、挟持板23bが接触位置に位置付けられると、複数本のプローブピン11が一定間隔をおいて並列に設けられた状態で検出端側の部分が把持されるように構成されている。また、ピン把持部材23が複数本のプローブピン11を把持した状態で待機位置において上下移動手段に取り付けられると、図7に示すように、複数本のプローブピン11が垂下状態に設けられ、ブロック状電極22のそれぞれ対応する円筒孔22aの軸延長上に位置付けられるように構成されている。さらに、ピン把持部材23が上下移動手段により待機位置から処理位置まで移動すると、図8に示すように、複数本のプローブピン11が鉛直下方に移動してブロック状電極22のそれぞれ対応する円筒孔22a内の電着液Lに、接続端側の端から所定長が浸漬するように構成されている。従って、ピン把持部材23が把持可能なプローブピン11の本数はブロック状電極22の円筒孔22aの数と同じであり、また、ピン把持部材23が把持するプローブピン11のピッチはブロック状電極22の円筒孔22aの配設ピッチと同じである。ピン把持部材23を形成する金属材料としては例えばステンレスが挙げられる。ピン把持部材23は、プローブピン11に通電するための電極をも兼ねており、図示しない電源部に接続されている。なお、各プローブピン11が電源部に接続されて、各プローブピン11が独立した電極に構成された構成であってもよい。
本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10の製造で用いる電着液Lは、樹脂成分を含む導電性を有する液体であれば、樹脂成分が、液体中に溶解していてもよく、乳化していてもよく、縣濁状態で存在していてもよいが、電着効率が良好な点から、樹脂成分の平均粒径が0.1μm以上のサスペンジョンが好ましく、絶縁被膜12の厚さの均一性からから、平均粒径が10μm以下のサスペンジョンがより好ましい。ここで、平均粒径は、フロー式粒子像分析装置FPIA−3000S(シスメックス社製)を用いて、電着液L中の分散粒子の粒度分布より測定可能である。
樹脂成分は、ポリマーであってもよく、また、ポリマー前駆体であってもよい。樹脂成分は、カルボキシル基、スルホン酸基、リン酸基などのアニオン性基を有するものであってもよく、また、有機アンモニウム基、ピリジウム基などのカチオン性基を有するものであってもよい。樹脂成分がアニオン性基を有する場合にはプローブピン11側のピン把持部材23が正極及びブロック状電極22が負極とされ、一方、樹脂成分がカチオン性基を有する場合にはプローブピン11側のピン把持部材23が負極及びブロック状電極22が正極とされる。樹脂成分としては、具体的には、例えば、アクリル樹脂、ポリイミド樹脂、ウレタン樹脂、エポキシ樹脂が挙げられる。
電着液Lには、樹脂成分以外に、水、水性或いは油性有機溶剤、顔料、レベリング剤、分散剤、消泡剤等が含まれていてもよい。
電着液Lの電気伝導度は例えば1.5〜15mS/mとし、2.5〜5mS/mとすることが好ましい。電着液LのpHは例えば6〜9とし、6.5〜7.5とすることが好ましい。電着液Lの粘度は例えば1〜30mPa・sとし、1〜10mPa・sとすることが好ましい。電着液Lの表面張力は例えば10〜70mN/mとし、20〜40mN/mとすることが好ましい。電着液Lの固形分濃度は例えば1〜20質量%とし、3〜10質量%とすることが好ましい。電着液Lの温度は例えば5〜50℃とし、10〜30℃とすることが好ましい。
プローブピン11の電着塗装に際し、まず、待機位置に位置付けられたピン把持部材23を上下移動手段から取り外す。しかる後、ピン把持部材23について、図6に示すように、挟持板23bを離間位置に位置付け、部材本体23aの側面に、複数本のプローブピン11を、それらの検出端側の部分が当接するように一定間隔をおいて並列に設け、そして、挟持板23bを接触位置に位置付ける。このとき、複数本のプローブピン11が一定間隔をおいて並列に設けられた状態で検出端側の部分がピン把持部材23によって把持されることとなる。なお、プローブピン11の検出端側の先端加工は、この絶縁被覆12の電着の前に行ってもよく、また、後に行ってもよい。
次に、図7に示すように、ピン把持部材23を上下移動手段に取り付ける。このとき、ピン把持部材23は待機位置に位置付けられ、また、複数本のプローブピン11は、垂下した状態でブロック状電極22のそれぞれ対応する円筒孔22aの軸延長上に位置付けられる。
次に、図8に示すように、上下移動手段を稼働させてピン把持部材23を処理位置に位置付ける。このとき、複数本のプローブピン11は、鉛直下方に移動してブロック状電極22のそれぞれ対応する円筒孔22a内の電着液Lに接続端側の端から所定長が浸漬する。
続いて、ブロック状電極22とピン把持部材23との間に電圧を一定時間印加する。印加電圧は例えば5〜200Vとし、40〜80Vとすることが好ましい。電圧印加時間は例えば1〜180秒とし、1〜30秒とすることが好ましい。このとき、ブロック状電極22とピン把持部材23に把持された複数本のプローブピン11との間に、電着液Lを介して電位差が生じ、図9に示すように、複数本のプローブピン11の電着液Lに浸かった部分に樹脂成分による被覆膜12’が析出する。本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10の製造では、プローブピン11がブロック状電極22の円筒孔22aの軸位置に位置付けられて電着液Lに浸漬されるので、プローブピン11の外周面が同電位とされ、その結果、プローブピン11の外周の全周に渡って偏肉を有することなく均一厚さで被覆膜12’が析出することとなる。また、複数本のプローブピンを並列状態に配して電着液に浸漬した場合、プローブピン相互間の影響により、両端に配されたプローブピンが中間に配されたプローブピンよりも厚肉に被覆膜が析出することがあるが、本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10の製造においては、各プローブピン11が対応する円筒孔22a内の電着液Lに浸漬され、プローブピン11相互間の影響が排除されて、その結果、製造される絶縁被覆プローブピン10の横断面における絶縁被覆12の厚さのバラツキが低減されることとなる。さらに、複数本のプローブピン11について、検出端側の部分の露出長さが同一となることから、プローブピン間の品質のバラツキも低減されることとなる。
そして、上下移動手段を稼働させてピン把持部材23を待機位置に位置付ける。ここで、被覆膜12’の下方への垂れを抑制する観点からは、この引き上げ速度は0.5〜300mm/sとすることが好ましく、1〜10mm/sとすることがより好ましい。しかる後、ピン把持部材23を上下移動手段から取り外し、乾燥炉で乾燥させて水分や有機溶剤を蒸発させ、また、必要に応じて焼付炉で焼き付けを行う。これにより、絶縁被覆12が形成されて本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10が製造される。製造される本実施形態に係る絶縁被覆プローブピン10では、円筒孔22a内の電着液Lに浸漬されて電着塗装されることから、絶縁被覆12は、電着液Lの液面近傍に対応して検出端側の端部12aが液中央の接続端側の端部12bよりも厚肉に形成され、その端部12aからプローブピン11の接続端側に向かって漸次薄肉となってテーパ状に形成されることとなる。
なお、本実施形態では、電着塗装によりプローブピン11に絶縁被覆12を設けたが、特にこれに限定されるものではなく、いわゆるディップ法によりプローブピンに長さ方向に膜厚の不均一な絶縁被膜を設け、その厚肉部分が端部となるように絶縁被膜を剥離すると共に検出端側の部分を露出させる加工を行ってもよい。
本発明は絶縁被覆プローブピン及びその製造方法に関する。
10 絶縁被覆プローブピン
11 プローブピン
12 絶縁被覆
12a 検出端側の端部
12b 接続端側の端部
12’ 被覆膜
20 電着塗装装置
21 電着液槽
22 ブロック状電極
22a 円筒孔
23 ピン把持部材
23a 部材本体
23b 挟持板
L 電着液

Claims (4)

  1. 導電体のプローブピンと、該プローブピンの検出端側の部分が露出するように該プローブピンの外周を被覆する絶縁被覆と、を備えた絶縁被覆プローブピンであって、
    上記絶縁被覆は、上記プローブピンの検出端側の端部が全周に渡って接続端側の端部よりも厚肉に形成されている絶縁被覆プローブピン。
  2. 請求項1に記載された絶縁被覆プローブピンにおいて、
    上記絶縁被覆は、上記検出端側の端部から上記プローブピンの接続端側に向かって漸次薄肉となってテーパ状に形成されている部分を有する絶縁被覆プローブピン。
  3. 導電体のプローブピンと、該プローブピンの検出端側の部分が露出するように該プローブピンの外周を被覆する絶縁被覆と、を備えた絶縁被覆プローブピンの製造方法であって、
    電着液の入った孔を有する電極を用い、該電極の孔内の電着液に、導電体のプローブピンを、その接続端側から所定長浸漬した後、該電極と該プローブピンとの間で通電を行う絶縁被覆プローブピンの製造方法。
  4. 請求項3に記載された絶縁被覆プローブピンの製造方法において、
    上記電極には複数の孔が並列に並ぶように設けられており、該電極の該複数の孔のそれぞれの内の電着液にプローブピンの接続端側から所定長を浸漬する絶縁被覆プローブピンの製造方法。
JP2010233920A 2010-10-18 2010-10-18 絶縁被覆プローブピン及びその製造方法 Pending JP2012088122A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010233920A JP2012088122A (ja) 2010-10-18 2010-10-18 絶縁被覆プローブピン及びその製造方法
TW100137275A TW201221967A (en) 2010-10-18 2011-10-14 Insulating coating probe pin and manufacturing method thereof
US13/274,676 US20120091999A1 (en) 2010-10-18 2011-10-17 Insulated probe pin and method for fabricating the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010233920A JP2012088122A (ja) 2010-10-18 2010-10-18 絶縁被覆プローブピン及びその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2012088122A true JP2012088122A (ja) 2012-05-10

Family

ID=45933593

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010233920A Pending JP2012088122A (ja) 2010-10-18 2010-10-18 絶縁被覆プローブピン及びその製造方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20120091999A1 (ja)
JP (1) JP2012088122A (ja)
TW (1) TW201221967A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140000561A (ko) * 2012-06-25 2014-01-03 주식회사 세디콘 프로브 카드
TWI783074B (zh) * 2017-11-09 2022-11-11 義大利商探針科技公司 用於測試高頻裝置的測試頭的接觸探針
CN114404675B (zh) * 2022-01-28 2023-04-07 上海派拉纶生物技术股份有限公司 一种医用针绝缘防护生物相容性涂层

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01168895A (ja) * 1987-12-23 1989-07-04 Fujikura Ltd ホーローパイプの製造法
JP3038114U (ja) * 1996-11-22 1997-06-06 日本電子材料株式会社 絶縁性被膜付きプローブ及びこれを用いたプローブカード
JP2006226702A (ja) * 2005-02-15 2006-08-31 Nidec-Read Corp 基板検査用治具、基板検査装置及び検査用接触子

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01168895A (ja) * 1987-12-23 1989-07-04 Fujikura Ltd ホーローパイプの製造法
JP3038114U (ja) * 1996-11-22 1997-06-06 日本電子材料株式会社 絶縁性被膜付きプローブ及びこれを用いたプローブカード
JP2006226702A (ja) * 2005-02-15 2006-08-31 Nidec-Read Corp 基板検査用治具、基板検査装置及び検査用接触子

Also Published As

Publication number Publication date
TW201221967A (en) 2012-06-01
US20120091999A1 (en) 2012-04-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3241029B1 (en) Semi-finished product comprising a plurality of contact probes for a testing head and related manufacturing method
US7479794B2 (en) Spring loaded probe pin assembly
US7638028B2 (en) Probe tip plating
KR100551514B1 (ko) 프로브 카드의 제조 방법
Tan et al. Understanding and improving the uniformity of electrodeposition
US20160153105A1 (en) Producing a nanopore for sequencing a biopolymer
JP2012154783A (ja) 光学顕微鏡観察機能を備えた電気化学計測用微小電極システム
Sripirom et al. Easily made and handled carbon nanocones for scanning tunneling microscopy and electroanalysis
JP2012088122A (ja) 絶縁被覆プローブピン及びその製造方法
RU2668240C1 (ru) Подвеска для нанесения гальванических покрытий на контакт-детали герконов
JP2012127869A (ja) 絶縁被膜プローブピン及びその製造方法
JP2010281607A (ja) 基板検査用プローブ及び基板検査用治具
EP3945303A3 (en) Corrosion resistance test apparatus and corrosion resistance test method for coated metal material
Hamelmann et al. Electrochemical investigations of single microparticles
WO2015186932A1 (ko) 컨택 시트 및 소켓 구조체
KR20160149005A (ko) 절연층이 코팅된 프로브 핀의 제조방법
JP5114271B2 (ja) めっきつきまわり評価装置および評価方法
JP5582997B2 (ja) 絶縁被膜プローブピン及びその製造方法
JP2008096293A (ja) 検査用接触子の製造方法、検査用接触子、検査用治具及び検査装置
JPH11158698A (ja) 高速電気めっき試験装置
US7022212B2 (en) Micro structured electrode and method for monitoring wafer electroplating baths
JPH03285097A (ja) 電気めっき用陽極及び電気めっき方法
CN101248220A (zh) 表面处理电极
JP6143040B1 (ja) 高精度局部電気化学計測用微小作用電極、高精度局部電気化学計測用微小作用電極の作製方法および高精度局部電気化学計測用微小作用電極の絶縁被覆層の剥離方法
JP7006472B2 (ja) ニッケル皮膜の成膜方法

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20121107

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130822

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140212

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140327

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140617