JP2012080089A - 複数の接触部を有する発光素子 - Google Patents

複数の接触部を有する発光素子 Download PDF

Info

Publication number
JP2012080089A
JP2012080089A JP2011186649A JP2011186649A JP2012080089A JP 2012080089 A JP2012080089 A JP 2012080089A JP 2011186649 A JP2011186649 A JP 2011186649A JP 2011186649 A JP2011186649 A JP 2011186649A JP 2012080089 A JP2012080089 A JP 2012080089A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
light emitting
emitting device
light
contact portions
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011186649A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5718191B2 (ja
Inventor
Shih-I Chen
チェン シィ−イ
Ryan Shu Chia
シュ チア−リァン
Tzu-Chieh Hsu
チエ シュ ツ
Min-Woo Han
ウ ハン−ミン
Min-Shu Yie
シュ イェ−ミン
Huang Fu-Cheng
ファン チェン−フ
Chao-Hsing Chen
チェン チャオ−シン
Yao Chiu-Ling
ヤオ チウ−リン
Liu Mao-Shin
リュウ シン−マオ
Kai Chen Chung
チュン チェン−カイ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Epistar Corp
Original Assignee
Epistar Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Epistar Corp filed Critical Epistar Corp
Publication of JP2012080089A publication Critical patent/JP2012080089A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5718191B2 publication Critical patent/JP5718191B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/40Materials therefor
    • H01L33/42Transparent materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/08Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a plurality of light emitting regions, e.g. laterally discontinuous light emitting layer or photoluminescent region integrated within the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/10Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a light reflecting structure, e.g. semiconductor Bragg reflector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/14Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure
    • H01L33/145Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure with a current-blocking structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • H01L33/382Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape the electrode extending partially in or entirely through the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
    • H01L33/46Reflective coating, e.g. dielectric Bragg reflector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/483Containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/58Optical field-shaping elements
    • H01L33/60Reflective elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/26Materials of the light emitting region
    • H01L33/30Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table
    • H01L33/32Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table containing nitrogen
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • H01L33/385Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape the electrode extending at least partially onto a side surface of the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/40Materials therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

【課題】複数の接触部を有する発光素子を提供する。
【解決手段】本発明の一実施例による発光素子は、支持基板と、該支持基板の上に位置する反射層と、該反射層の上に位置する透明層と、該透明層の上に位置する発光スタック層と、該透明層と該反射層との間に位置するエッチング阻止層と、該発光スタック層と該透明層との間に位置する複数の接触部とを有する。
【選択図】図2

Description

本発明は、発光素子に関し、特に、複数の接触部を有する発光素子に関する。
現在のところ、発光ダイオード(LED)が例えば光学表示装置、交通信号装置、データ記憶装置、通信装置、照明装置及び医療機器に関する分野で幅広く使用されている。従来のLEDは、基板と発光スタック層との間に位置する金属の電流拡散層、例えば、Ti/Au又はCr/Auの金属層を有する。しかし、金属の電流拡散層によりLEDからの光を吸収することができるので、LEDの発光効率が低くなる。
本発明の目的は、複数の接触部を有する発光素子を提供することにある。
一実施例による発光素子は、支持基板と、該支持基板の上に形成される反射層と、該反射層の上に形成される透明層と、該透明層の上に形成される発光スタック層と、該発光スタック層と該反射層との間に形成されるエッチング阻止層と、該発光スタック層の中に形成される貫通孔と、該発光スタック層の側壁に位置し且つ該貫通孔を経由して該エッチング阻止層に実質的に接触する導電層と、を有する。
他の一実施例による発光素子は、支持基板と、該支持基板の上に形成される反射層と、該反射層の上に形成される透明層と、該透明層の上に形成される発光スタック層と、該透明層と該反射層との間に形成されるエッチング阻止層と、該発光スタック層と該透明層との間に形成される複数の接触部と、を有する。
また、一実施例による発光装置は、支持基板と、共に該支持基板の上に形成される第一発光素子及び第二発光素子であって、該第一発光素子は該支持基板の上に形成される透明層を有する第一発光素子及び第二発光素子と、該透明層の上に形成される第一発光スタック層と、該透明層と該第一発光スタック層との間に形成される接触部であって、該第二発光素子の電極と電気的に接続される接触部と、該電極と該支持基板との間に形成される第二発光スタック層と、該支持基板の上に形成され且つ該電極及び該接触部に電気的に接続される金属線と、を有する。
本発明の実施例によると、複数の接触部を有する発光素子を提供することができる。
本発明の一実施例による発光素子の製造フローチャートである。 本発明の一実施例による発光素子の製造フローチャートである。 本発明の一実施例による発光素子の製造フローチャートである。 本発明の一実施例による発光素子の製造フローチャートである。 本発明の一実施例による発光素子の製造フローチャートである。 本発明の一実施例による発光素子の製造フローチャートである。 本発明の他の実施例による発光素子の断面図である。 本発明の他の実施例による発光素子の断面図である。 本発明の一実施例による発光装置の断面図である。 本発明の他の実施例による発光装置の断面図である。 本発明の一実施例による光源生成装置を示す図である。 本発明の一実施例によるバックライトモジュールを示す図である。
次に、添付した図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態を詳細に説明する。
図1A〜図1Fは、本発明の一実施例による発光素子の製造フローチャートである。図1Aに示すように、発光スタック層12が成長基板10の上に形成され、発光スタック層12は、第一半導体層122と、第一半導体層122の上に形成される能動層124と、能動層124の上に形成される第二半導体層126と、を有し、そのうち、第一半導体層122及び第二半導体層126の極性は異なる。複数の導電部20が第二の半導体層126の上に形成され、臨時基板14が発光スタック層12及び複数の導電部20の上に形成される。図1Bに示すように、成長基板10を除去した後に、複数の接触部16は、第一半導体122の下に形成される。図1Cに示すように、透明層18が第一半導体層122の下に形成され且つ複数の接触部16を覆う。エッチング阻止層11が透明層18の下に形成され、及び、反射層13が透明層18の下に形成され且つエッチング阻止層11を覆う。図1Dに示すように、支持基板17が粘着層15を経由して反射層13に貼り付けられる。図1Eに示すように、臨時基板14が除去された後に、一部の第一半導体層122を露出させるよう一部の第二半導体層126及び能動層124を除去する。貫通孔19が第一半導体層122の露出した部分に形成され、また反射層126へ延伸して一部のエッチング阻止層11を露出させる。図1Fに示すように、第二半導体層126の上表面が粗化されて粗化表面になる。第一電極21が第一半導体層122の露出した部分に形成され、且つエッチング阻止層11と電気的に接続するよう貫通孔19に充填される。第二電極22が第二半導体層126の上表面に形成され、複数の導電部20と電気的に接続される。これにより、発光素子1が形成される。
支持基板17は、その上に位置する発光スタック層12及び他の層又は構造を支持するために用いられ、その材料は透明材料又は高放熱材料であっても良い。透明材料は、サファイア、ダイヤモンド、ガラス、エポキシ、石英、アクリル、Al、ZnO、又はAlNなどを含んでも良いが、これらに限定されない。高放熱材料は、Cu、Al、Mo、Cu−Sn、Cu−Zn、Cu−Cd、Ni−Sn、Ni−Co、Au合金、DLC(ダイヤモンドライクカーボン)、グラファイト(石墨)、カーボンファイバー、MMC(金属基複合材料)、CMC(セラミックス基複合材料)、Si、IP、ZnSe、GaAs、SiC、GaP、GaAsP、ZnSe、InP、LiGaO、又はLiAlOを含んでも良いが、これらに限定されない。粘着層15は、支持基板17及び反射層13に接続されても良く、且つ複数の従属層(図示せず)を有しても良い。粘着層15の材料は、絶縁材料又は導電材料であっても良い。絶縁材料は、PI(ポリイミド)、BCB(ベンゾシクロブテン)、PFCB(パーフルオロシクロブタン)、MgO、Su8、エポキシ、アクリル樹脂、COC(環状オレフィンコポリマー)、PMMA(ポリメタクリル酸メチル樹脂)、PET(ポリエチレンテレフタレート)、PC(ポリカーボネート)、ポリエーテルイミド、フルオロカーボンポリマー、ガラス、Al、SiO、TiO、SiN、又はSOG(Spin
on Glass:塗布ガラス)を含んでも良いが、これらに限定されない。導電材料は、ITO、InO、SnO、CTO、ATO、AZO、ZTO、GZO、ZnO、AlGaAs、GaN、GaP、GaAs、GaAsP、IZO、Ta、DLC、Cu、Al、In、Sn、Au、Pt、Zn、Ag、Ti、Ni、Pb、Pd、Ge、Cr、Cd、Co、Mn、Sb、Bi、Ga、Tl、Po、Ir、Re、Rh、Os、W、Li、Na、K、Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zr、Mo、La、Ag−Ti、Cu−Sn、Cu−Zn、Cu−Cd、Sn−Pb−Sb、Sn−Pb−Zn、Ni−Sn、Ni−Co、又はAu合金等を含んでも良いが、これらに限定されない。反射層13は、発光スタック層12からの光線を反射することができ、その材料は、Cu、Al、In、Sn、Au、Pt、Zn、Ag、Ti、Ni、Pb、Pd、Ge、Cr、Cd、Co、Mn、Sb、Bi、Ga、Tl、Po、Ir、Re、Rh、Os、W、Li、Na、K、Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zr、Mo、La、Ag−Ti、Cu−Sn、Cu−Zn、Cu−Cd、Sn−Pb−Sb、Sn−Pb−Zn、Ni−Sn、Ni−Co、又はAu合金等を含んでも良いが、これらに限定されない。エッチング阻止層11は、電流を伝達することができ、また、反射層13を破壊から守ることができ、エッチング阻止層11の材料は、Cu、Al、In、Sn、Au、Pt、Zn、Ag、Ti、Ni、Pb、Pd、Ge、Cr、Cd、Co、Mn、Sb、Bi、Ga、Tl、Po、Ir、Re、Rh、Os、W、Li、Na、K、Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zr、Mo、La、Ag−Ti、Cu−Sn、Cu−Zn、Cu−Cd、Sn−Pb−Sb、Sn−Pb−Zn、Ni−Sn、Ni−Co、Au合金、Ge−Au−Ni,AlGaAs、GaN、GaP、GaAs、又はGaAsP等を含んでも良いが、これらに限定されない。透明層18は、電流の拡散能力を向上し、反射層13と合わせて全方向反射鏡を形成して発光スタック層12からの光を反射する反射率を上げ、また、発光スタック層12を、反射層13から拡散されてきた元素による破壊から守ることができる。透明層18は、さらに、複数の従属層(図示せず)を有しても良く、その材料は、絶縁材料又は導電材料であっても良い。絶縁材料は、PI、BCB、PFCB、MgO、Su8、エポキシ、アクリル樹脂、COC、PMMA、PET、PC、ポリエーテルイミド、フルオロカーボンポリマー、ガラス、Al、SiO、TiO、SiN、又はSOGを含んでも良いが、これらに限定されない。導電材料は、ITO、InO、SnO、CTO、ATO、AZO、ZTO、GZO、ZnO、AlGaAs、GaN、GaP、GaAs、GaAsP、IZO、Ta、又はDLCを含んでも良いが、これらに限定されない。透明層18は、導電可能な時に、電流を伝達及び拡散することができる。
複数の接触部16は、電流を伝達及び拡散することができる。複数の接触部16の各々は、他の接触部16と分離し、且つ、複数の従属層(図示せず)を含んでも良い。複数の接触部16の材料は、Cu、Al、In、Sn、Au、Pt、Zn、Ag、Ti、Ni、Pb、Pd、Ge、Cr、Cd、Co、Mn、Sb、Bi、Ga、Tl、Po、Ir、Re、Rh、Os、W、Li、Na、K、Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zr、Mo、La、Ag−Ti、Cu−Sn、Cu−Zn、Cu−Cd、Sn−Pb−Sb、Sn−Pb−Zn、Ni−Sn、Ni−Co、Au合金、Ge−Au−Ni、AlGaAs、GaN、GaP、GaAs、又はGaAsP等を含んでも良いが、これらに限定されない。各接触部16の上から見る時の形状は、三角形、矩形、台形又は円形等であっても良い。円形の接触部を例とすると、その直径は、3〜15μmであっても良く、好ましくは、6〜10μmである。複数の接触部16の面積が能動層124の上表面の面積に対する比は、約0.5〜6%であり、好ましくは、1〜3%である。電流の拡散能力を向上するためには、透明層18の側面の交わる辺に近い接触部の面積は、他の接触部の面積より大きく設定される。複数の接触部16の互いの間の距離は第一半導体層122の厚みによる。例えば、第一半導体層122の厚みが3μmである場合は、複数の接触部16の互いの間の距離は20〜40μmである。第一半導体層122の厚みは薄ければ薄いほど、複数の接触部16の互いの間の距離は短い。電流の拡散能力を向上するためには、複数の接触部16が任意の隣接する二つの導電部20の間に二つのライン又は三つのラインに配列されても良い。また、複数の接触部16は、第二電極22及び複数の導電部20に覆われない。言い換えると、第二電極22及び複数の導電部20は、複数の接触部16の真上に位置しない。
発光スタック層12は、光線を生成し、且つ、半導体材料を含む。半導体材料は、Ga、Al、In、P、N、Zn、Cd及びSeからなるグループから選択される一つ以上の元素を有する。第一電極21及び第二電極22は、外部電圧を受けるために用いられ、その材料は、透明導電材料又は金属材料であってもよい。透明導電材料は、ITO、InO、SnO、CTO、ATO、AZO、ZTO、GZO、ZnO、AlGaAs、GaN、GaP、GaAs、GaAsP、IZO、Ta、又はDLCを含んでも良いが、これらに限定されない。金属材料は、Cu、Al、In、Sn、Au、Pt、Zn、Ag、Ti、Ni、Pb、Pd、Ge、Cr、Cd、Co、Mn、Sb、Bi、Ga、Tl、Po、Ir、Re、Rh、Os、W、Li、Na、K、Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zr、Mo、La、Ag−Ti、Cu−Sn、Cu−Zn、Cu−Cd、Sn−Pb−Sb、Sn−Pb−Zn、Ni−Sn、Ni−Co、又はAu合金等を含んでもよいが、これらに限定されない。複数の導電部20は、電流を伝達及び拡散することができ、その材料は、透明導電材料又は金属材料であっても良い。透明導電材料は、ITO、InO、SnO、CTO、ATO、AZO、ZTO、GZO、ZnO、AlGaAs、GaN、GaP、GaAs、GaAsP、IZO、Ta、又はDLCを含んでも良いが、これらに限定されない。金属材料は、Cu、Al、In、Sn、Au、Pt、Zn、Ag、Ti、Ni、Pb、Pd、Ge、Cr、Cd、Co、Mn、Sb、Bi、Ga、Tl、Po、Ir、Re、Rh、Os、W、Li、Na、K、Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zr、Mo、La、Ag−Ti、Cu−Sn、Cu−Zn、Cu−Cd、Sn−Pb−Sb、Sn−Pb−Zn、Ni−Sn、Ni−Co、又はAu合金等を含んでもよいが、これらに限定されない。
図2に示す発光素子2では、発光スタック層12及び透明層18の一部を除去して一部の反射層13及びエッチング阻止層11を露出させ、第一電極21が反射層13及びエッチング層11の露出した一部の上に形成される。
図3に示す発光素子3は、支持基板17と、支持基板の上に形成される粘着層15と、粘着層15の上に形成される反射層13と、反射層13の上に形成される透明層18と、透明層18の上に形成される発光スタック層12と、を有し、そのうち、複数の接触部16及びエッチング阻止部11が発光スタック層12と反射層13との間に形成され、且つ透明層18により囲まれる。一部の発光スタック層12を除去して一部の第一半導体122を露出させ、エッチング阻止層11は、発光スタック層12の下表面に形成される。複数の接触部16及びエッチング阻止層11は、反射層13に実質的に接触しても良い。貫通孔19が第一半導体層122の露出した部分に形成され、且つ、第一半導体層122へ延伸してそれを貫通し、一部のエッチング阻止層11を露出させる。第一電極21が発光スタック層12の上において第二電極22及び複数の導電部20が形成されない部分に形成されても良く、発光スタック層12の側壁に沿って延伸し、エッチング阻止層11と電気的に接続される。第一電極21は、選択的に、貫通孔19に充填されてもよく、これにより、エッチング阻止層11に電気的に接続され得る。また、発光スタック層12の上に形成される導電層32があっても良く、それは、発光スタック層12の側壁に沿って延伸し、貫通孔19に充満されてエッチング阻止層11と電気的に接続され、第一電極22は、さらに、発光スタック層12及び導電層32の上に形成されてエッチング阻止層11と電気的に接続される。そのうち、発光スタック層12の側壁は、上述の発光素子に面しない発光スタック層12の側面である。導電層32は、金属材料であっても良く、且つ、無メッキ法により形成される。金属材料は、Cu、Al、In、Sn、Au、Pt、Zn、Ag、Ti、Ni、Pb、Pd、Ge、Cr、Cd、Co、Mn、Sb、Bi、Ga、Tl、Po、Ir、Re、Rh、Os、W、Li、Na、K、Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zr、Mo、La、Ag−Ti、Cu−Sn、Cu−Zn、Cu−Cd、Sn−Pb−Sb、Sn−Pb−Zn、Ni−Sn、Ni−Co、又はAu合金等を含んでもよいが、これらに限定されない。導電層32は、第一電極22の形成品質を改善し、第一電極22とエッチング阻止層との間の電気的な接続を向上することができる。
図4に示すように、発光装置4は、少なくとも、共に支持基板17の上に位置する第一発光素子41及び第二発光素子42を有する。粘着層15がさらに第一発光素子41と第二発光素子42との間に形成され、これにより、第一発光素子41と第二発光素子42とが分離される。粘着層15は、絶縁材料であっても良い。粘着層15は、接触部16に実質的に接触してもよい。絶縁層43が第一発光素子41に近い第二発光スタック層42の上表面及び側辺の部分に形成され、金属線44が絶縁層43及び粘着層15の上に形成されて、第一発光素子41の少なくとも一つの接触部16及び第二発光素子42の第二電極22に電気的に接続される。他の実施例では、金属線44はさらに第二発光素子42の一部の発光スタック層12に接触しても良い。本実施例では、第一発光素子41及び第二発光素子42は、他の実施例の第一電極22を有しない。
絶縁層43の材料は、絶縁材料であっても良く、例えば、PI、BCB、PFCB、MgO、Su8、エポキシ、アクリル樹脂、COC、PMMA、PET、PC、ポリエーテルイミド、フルオロカーボンポリマー、ガラス、Al、SiO、TiO、SiN、又はSOGを含んでも良いが、これらに限定されない。金属線44の材料は、金属材料でであっても良く、例えば、Cu、Al、In、Sn、Au、Pt、Zn、Ag、Ti、Ni、Pb、Pd、Ge、Cr、Cd、Co、Mn、Sb、Bi、Ga、Tl、Po、Ir、Re、Rh、Os、W、Li、Na、K、Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zr、Mo、La、Ag−Ti、Cu−Sn、Cu−Zn、Cu−Cd、Sn−Pb−Sb、Sn−Pb−Zn、Ni−Sn、Ni−Co、又はAu合金等を含んでもよいが、これらに限定されない。
図5に示すように、発光装置5の第一発光素子41及び第二発光素子42は、それぞれ、発光スタック層12と透明層18との間に形成される電流阻止層52をさらに有する。
複数の接触部16は電流阻止層52を囲む。電流阻止層52は、第二電極22の真下に位置し、第二電極22と類似する複数の延伸部(図示せず)を有しても良い。金属線44は、第一発光素子41の透明層及び第二発光素子42の第二電極22に電気的に接続される。電流阻止層52の材料は、絶縁材料であっても良く、例えば、PI、BCB、PFCB、MgO、Su8、エポキシ、アクリル樹脂、COC、PMMA、PET、PC、ポリエーテルイミド、フルオロカーボンポリマー、ガラス、Al、SiO、TiO、SiN、又はSOGを含んでも良いが、これらに限定されない。
図6は、光源生成装置6を示す。光源生成装置6は、ダイ(die)を含み、このダイ(die)は、本発明の任意の実施例による発光素子又は発光装置を有するウェハ(Wafer)から形成される。光源生成装置6は、照明装置、例えば、街灯、車灯、又は室内照明光源であっても良く、または、交通信号装置又は平面表示器のバックライトモジュールのバックライト光源であっても良い。光源生成装置6は、上述の発光素子又は発光装置からなる光源61と、光源61に電源を供給する電源供給システム62と、電源供給システム62を制御する制御ユニット63とを有する。
図7は、バックライトモジュール7の断面を示す。バックライトモジュール7は、上述の実施例における光源生成装置6と、光学ユニット71とを含む。光学ユニット71は、光源生成装置6からの光を平面表示器に応用できるように処理し、この光は、例えば、光源生成装置6が乱射光源生成装置である場合に発される光である。
以上、本発明の好ましい実施形態を説明したが、本発明はこの実施形態に限定されず、本発明の趣旨を離脱しない限り、本発明に対するあらゆる変更は本発明の範囲に属する。
1、2、3 発光素子
10 成長基板
11 エッチング阻止層
12 発光スタック層
122 第一半導体層
124 能動層
126 第二半導体層
13 反射層
14 臨時基板
15 粘着層
16 接触部
17 支持基板
18 透明層
19 貫通孔
20 導電部
21 第一電極
22 第二電極
32 導電層
4、5 発光装置
41 第一発光素子
42 第二発光素子
43 絶縁層
44 金属線
52 電流阻止層
6 光源生成装置
61 光源
62 電源供給システム
63 制御ユニット
7 バックライトモジュール
71 光学ユニット

Claims (10)

  1. 発光素子であって、
    支持基板と、
    前記支持基板の上に形成される反射層と、
    前記反射層の上に形成される透明層と、
    前記透明層の上に形成される発光スタック層と、
    前記発光スタック層と前記反射層との間に形成されるエッチング阻止層と、
    前記発光スタック層と前記反射層との間に形成される複数の接触部と、
    前記発光スタック層の中に位置する貫通孔と、
    前記発光スタック層の側壁に位置し、且つ前記貫通孔を経由して前記エッチング阻止層に実質的に接触する導電層と、
    を含む、発光素子。
  2. 前記導電層の上に位置する第一電極をさらに含む、
    請求項1に記載の発光素子。
  3. 前記発光スタック層の上に位置する複数の導電部をさらに含む、
    請求項1に記載の発光素子。
  4. 前記複数の接触部のうち任意の一つは、複数の従属層を含む、
    請求項1に記載の発光素子。
  5. 前記発光スタック層は、能動層を含み、
    前記複数の接触部の面積が前記能動層の上表面の面積に対する比は、0.5〜6%である、
    請求項1に記載の発光素子。
  6. 前記発光スタック層は、第一半導体層を含み、
    前記複数の接触部の間の距離は、前記第一半導体層の厚みの減少に伴って短くなる、
    請求項1に記載の発光素子。
  7. 前記複数の接触部は互いに分離される、
    請求項1に記載の発光素子。
  8. 前記複数の接触部は、Cu、Al、In、Sn、Au、Pt、Zn、Ag、Ti、Ni、Pb、Pd、Ge、Cr、Cd、Co、Mn、Sb、Bi、Ga、Tl、Po、Ir、Re、Rh、Os、W、Li、Na、K、Be、Mg、Ca、Sr、Ba、Zr、Mo、La、Ag−Ti、Cu−Sn、Cu−Zn、Cu−Cd、Sn−Pb−Sb、Sn−Pb−Zn、Ni−Sn、Ni−Co、Au合金、Ge−Au−Ni、AlGaAs、GaN、GaP、GaAs、及びGaAsPからなるグループから選択される材料を含む、
    請求項1に記載の発光素子。
  9. 前記エッチング阻止層は、前記透明層を突き抜ける、
    請求項1に記載の発光素子。
  10. 前記導電層は、前記貫通孔に充填される、
    請求項1に記載の発光素子。
JP2011186649A 2010-10-04 2011-08-30 複数の接触部を有する発光素子 Active JP5718191B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US38928610P 2010-10-04 2010-10-04
US61/389,286 2010-10-04

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012080089A true JP2012080089A (ja) 2012-04-19
JP5718191B2 JP5718191B2 (ja) 2015-05-13

Family

ID=45832775

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011186649A Active JP5718191B2 (ja) 2010-10-04 2011-08-30 複数の接触部を有する発光素子

Country Status (6)

Country Link
US (4) US9012948B2 (ja)
JP (1) JP5718191B2 (ja)
KR (1) KR101396281B1 (ja)
CN (3) CN105304785B (ja)
DE (1) DE102011114815A1 (ja)
TW (3) TWI483425B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014022380A (ja) * 2012-07-12 2014-02-03 Dowa Electronics Materials Co Ltd 半導体素子およびその製造方法
US20210111325A1 (en) * 2019-10-15 2021-04-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Display module and manufacturing method thereof
JP2022168264A (ja) * 2018-11-15 2022-11-04 日機装株式会社 半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101868537B1 (ko) * 2011-11-07 2018-06-19 엘지이노텍 주식회사 발광소자 및 이를 포함하는 발광 소자 패키지
KR20140018534A (ko) * 2012-08-02 2014-02-13 엘지이노텍 주식회사 발광 소자
TWI538184B (zh) 2012-08-06 2016-06-11 晶元光電股份有限公司 發光二極體陣列
US9082935B2 (en) * 2012-11-05 2015-07-14 Epistar Corporation Light-emitting element and the light-emitting array having the same
CN103811593B (zh) * 2012-11-12 2018-06-19 晶元光电股份有限公司 半导体光电元件的制作方法
CN104300055B (zh) * 2013-07-17 2019-05-10 晶元光电股份有限公司 发光元件
TWI600184B (zh) * 2014-04-08 2017-09-21 晶元光電股份有限公司 發光裝置
TWI630730B (zh) * 2014-04-08 2018-07-21 晶元光電股份有限公司 發光裝置
US9871171B2 (en) * 2014-11-07 2018-01-16 Epistar Corporation Light-emitting device and manufacturing method thereof
CN104465802A (zh) * 2014-11-21 2015-03-25 广西智通节能环保科技有限公司 一种具有砷化镓层器件上形成金属触点及其制造方法
TWI603498B (zh) * 2016-07-05 2017-10-21 隆達電子股份有限公司 側面發光雷射元件
KR102527317B1 (ko) * 2016-08-30 2023-05-03 삼성전자주식회사 금속 패드가 부착된 금속 케이스를 구비한 전자기기
TWI759289B (zh) * 2017-03-21 2022-04-01 晶元光電股份有限公司 發光元件
DE102017114467A1 (de) * 2017-06-29 2019-01-03 Osram Opto Semiconductors Gmbh Halbleiterchip mit transparenter Stromaufweitungsschicht
CN107681034B (zh) * 2017-08-30 2019-11-12 天津三安光电有限公司 微型发光二极管及其制作方法
TWI692116B (zh) * 2017-12-19 2020-04-21 晶元光電股份有限公司 發光元件
CN109326686A (zh) * 2018-09-12 2019-02-12 聚灿光电科技(宿迁)有限公司 一种倒装发光二极管芯片的制作方法
TWI821302B (zh) 2018-11-12 2023-11-11 晶元光電股份有限公司 半導體元件及其封裝結構
CN109860368B (zh) * 2018-11-28 2020-12-01 华灿光电(浙江)有限公司 一种发光二极管外延片、芯片及其制备方法
US11127595B2 (en) 2019-09-19 2021-09-21 Microsoft Technology Licensing, Llc Method for bonding a semiconductor substrate to a carrier
CN111933772B (zh) * 2020-07-09 2022-04-26 厦门士兰明镓化合物半导体有限公司 发光二极管及其制造方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05129658A (ja) * 1991-10-30 1993-05-25 Toyoda Gosei Co Ltd 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JPH10223930A (ja) * 1997-02-04 1998-08-21 Rohm Co Ltd 半導体発光素子
JP2003086836A (ja) * 2001-09-13 2003-03-20 United Epitaxy Co Ltd 発光ダイオードおよびその製造方法
US6838704B2 (en) * 2002-12-31 2005-01-04 United Epitaxy Co., Ltd. Light emitting diode and method of making the same
JP2008283096A (ja) * 2007-05-14 2008-11-20 Hitachi Cable Ltd 半導体発光素子
JP2010080817A (ja) * 2008-09-29 2010-04-08 Hitachi Cable Ltd 発光素子

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3871008A (en) * 1973-12-26 1975-03-11 Gen Electric Reflective multiple contact for semiconductor light conversion elements
GB9803763D0 (en) * 1998-02-23 1998-04-15 Cambridge Display Tech Ltd Display devices
KR100648759B1 (ko) * 1998-09-10 2006-11-23 로무 가부시키가이샤 반도체발광소자 및 그 제조방법
JP2001068786A (ja) 1999-06-24 2001-03-16 Sharp Corp 窒化物系化合物半導体発光素子およびその製造方法
TW541710B (en) * 2001-06-27 2003-07-11 Epistar Corp LED having transparent substrate and the manufacturing method thereof
JP2003078162A (ja) * 2001-08-31 2003-03-14 Shin Etsu Handotai Co Ltd GaP系半導体発光素子
EP1443130B1 (en) * 2001-11-05 2011-09-28 Japan Science and Technology Agency Natural superlattice homologous single crystal thin film, method for preparation thereof, and device using said single crystal thin film
TW513821B (en) * 2002-02-01 2002-12-11 Hsiu-Hen Chang Electrode structure of LED and manufacturing the same
TW577178B (en) * 2002-03-04 2004-02-21 United Epitaxy Co Ltd High efficient reflective metal layer of light emitting diode
JP2004266039A (ja) * 2003-02-28 2004-09-24 Shin Etsu Handotai Co Ltd 発光素子及び発光素子の製造方法
TWI223460B (en) * 2003-09-23 2004-11-01 United Epitaxy Co Ltd Light emitting diodes in series connection and method of making the same
US7119372B2 (en) * 2003-10-24 2006-10-10 Gelcore, Llc Flip-chip light emitting diode
KR100576856B1 (ko) * 2003-12-23 2006-05-10 삼성전기주식회사 질화물 반도체 발광소자 및 제조방법
KR100691497B1 (ko) * 2005-06-22 2007-03-09 서울옵토디바이스주식회사 발광 소자 및 이의 제조 방법
TWI285969B (en) 2005-06-22 2007-08-21 Epistar Corp Light emitting diode and method of the same
EP1897151A4 (en) * 2005-06-22 2010-03-10 Seoul Opto Device Co Ltd ILLUMINATING ELEMENT AND METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF
US8674375B2 (en) * 2005-07-21 2014-03-18 Cree, Inc. Roughened high refractive index layer/LED for high light extraction
TWI291246B (en) * 2005-10-20 2007-12-11 Epistar Corp Light emitting device and method of forming the same
US7777240B2 (en) * 2006-10-17 2010-08-17 Epistar Corporation Optoelectronic device
TWI475716B (zh) * 2007-03-19 2015-03-01 Epistar Corp 光電元件
TW200849548A (en) * 2007-06-05 2008-12-16 Lite On Technology Corp Light emitting element, manufacturing method thereof and light emitting module using the same
JP2009094144A (ja) 2007-10-04 2009-04-30 Canon Inc 発光素子の製造方法
US8368100B2 (en) * 2007-11-14 2013-02-05 Cree, Inc. Semiconductor light emitting diodes having reflective structures and methods of fabricating same
WO2009078574A1 (en) * 2007-12-18 2009-06-25 Seoul Opto Device Co., Ltd. Light emitting device and method of manufacturing the same
CN101483211B (zh) * 2008-01-11 2015-08-12 晶元光电股份有限公司 发光元件
US7856040B2 (en) * 2008-09-24 2010-12-21 Palo Alto Research Center Incorporated Semiconductor light emitting devices with non-epitaxial upper cladding
KR100969126B1 (ko) * 2009-03-10 2010-07-09 엘지이노텍 주식회사 발광 소자
US8658513B2 (en) * 2010-05-04 2014-02-25 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Isolation by implantation in LED array manufacturing
US8471282B2 (en) * 2010-06-07 2013-06-25 Koninklijke Philips Electronics N.V. Passivation for a semiconductor light emitting device
US8592847B2 (en) * 2011-04-15 2013-11-26 Epistar Corporation Light-emitting device

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05129658A (ja) * 1991-10-30 1993-05-25 Toyoda Gosei Co Ltd 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JPH10223930A (ja) * 1997-02-04 1998-08-21 Rohm Co Ltd 半導体発光素子
JP2003086836A (ja) * 2001-09-13 2003-03-20 United Epitaxy Co Ltd 発光ダイオードおよびその製造方法
US6838704B2 (en) * 2002-12-31 2005-01-04 United Epitaxy Co., Ltd. Light emitting diode and method of making the same
JP2008283096A (ja) * 2007-05-14 2008-11-20 Hitachi Cable Ltd 半導体発光素子
JP2010080817A (ja) * 2008-09-29 2010-04-08 Hitachi Cable Ltd 発光素子

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014022380A (ja) * 2012-07-12 2014-02-03 Dowa Electronics Materials Co Ltd 半導体素子およびその製造方法
JP2022168264A (ja) * 2018-11-15 2022-11-04 日機装株式会社 半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法
JP7296002B2 (ja) 2018-11-15 2023-06-21 日機装株式会社 半導体発光素子および半導体発光素子の製造方法
US20210111325A1 (en) * 2019-10-15 2021-04-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Display module and manufacturing method thereof
US11652196B2 (en) * 2019-10-15 2023-05-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Display module and manufacturing method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
TWI578567B (zh) 2017-04-11
TW201216515A (en) 2012-04-16
CN108831980B (zh) 2021-11-30
US20120080697A1 (en) 2012-04-05
CN105304785B (zh) 2019-01-15
CN108831980A (zh) 2018-11-16
US9997687B2 (en) 2018-06-12
US9012948B2 (en) 2015-04-21
CN102446949A (zh) 2012-05-09
CN105304785A (zh) 2016-02-03
TW201528550A (zh) 2015-07-16
KR101396281B1 (ko) 2014-05-16
TWI525855B (zh) 2016-03-11
US20150194586A1 (en) 2015-07-09
TW201616678A (zh) 2016-05-01
KR20120035102A (ko) 2012-04-13
US20170117450A1 (en) 2017-04-27
JP5718191B2 (ja) 2015-05-13
TWI483425B (zh) 2015-05-01
US10985301B2 (en) 2021-04-20
US9577170B2 (en) 2017-02-21
DE102011114815A1 (de) 2012-04-05
CN102446949B (zh) 2016-01-20
US20180287031A1 (en) 2018-10-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5718191B2 (ja) 複数の接触部を有する発光素子
US10930701B2 (en) Light-emitting element having a plurality of light-emitting structures
TWI540758B (zh) 發光裝置
JP6038436B2 (ja) 発光装置及びその製造方法
US20150123152A1 (en) Light-emitting element
TWI701847B (zh) 具有高效率反射結構之發光元件
TWI599070B (zh) 具有平整表面的電流擴散層的發光元件
TWI632700B (zh) 具有高效率反射結構之發光元件
TWI633683B (zh) 具有複數個發光結構之發光元件
TW201836170A (zh) 具有複數個發光結構之發光元件
JP2015056508A (ja) 複数の発光構造を有する発光素子

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120829

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131024

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20131112

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140210

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140805

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141204

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20141211

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150217

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150318

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5718191

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250