JP2012078182A - 成分測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】成分測定装置10は、測定部50の内部において、照射光の照射光用光路108と反射光の反射光用光路110を有するとともに試験紙70と対向する前部にレンズ88を保持する測光ブロック72と、照射光を発光する発光素子100及び反射光を受光する受光素子102が実装される基板74と、を有している。この測光ブロック72の後部には、基板74が配設される基板配置部80が備えられるとともに、該基板配置部80よりも後方に突出する隔壁112が形成されている。
【選択図】図8
Description
16…上ケース 18…下ケース
20…先端ケース 48…イジェクト部材
50…測定部 52…角筒部
54…円筒部 58…測定チップ
66…係止爪 70…試験紙
72…測光ブロック 74…基板
80…基板配置部 82…取付用ねじ孔
96…基板固定孔 100…発光素子
102…受光素子 112…隔壁
113…段部 114…クリアランス
116…押出部
Claims (6)
- 測定対象に測定用の照射光を照射して該測定対象から反射された反射光を受光する測定部と、該測定部を収容する筐体と、を備え、前記反射光の検出結果に基づいて前記測定対象に含まれる成分を測定する成分測定装置であって、
前記測定部は、該測定部の内部に取り付けられ、前記照射光と前記反射光の光路を有するとともに前記測定対象と対向する前部にレンズを保持する測光ブロックと、前記照射光を発光する発光素子及び前記反射光を受光する受光素子が実装される基板と、を備え、
前記測光ブロックの後部には、前記基板が配設される基板配置部が備えられるとともに、該基板配置部よりも後方に突出する隔壁が形成されていることを特徴とする成分測定装置。 - 請求項1記載の成分測定装置において、
前記隔壁は、前記基板配置部に前記基板を配設した状態において、該基板の全ての側辺を囲うことを特徴とする成分測定装置。 - 請求項1又は2記載の成分測定装置において、
前記隔壁は、前記基板配置部に前記基板を配設した状態において、該基板よりも後方に突出するように形成されていることを特徴とする成分測定装置。 - 請求項1〜3のいずれか一項に記載の成分測定装置において、
前記測定部には、測定対象として試験紙が収容されるとともに、前記測定部に対して係止可能な係止部を備える測定チップが挿入され、
前記測定部の周囲には、前記測定チップの挿入方向に摺動し、前記係止部に当接して前記測定チップを前方に押し出すイジェクト部材が設けられ、
さらに、前記筐体の内周面と前記測光ブロックの側面との間には、前記イジェクト部材が摺動可能なクリアランスが形成されていることを特徴とする成分測定装置。 - 請求項1〜4のいずれか一項に記載の成分測定装置において、
前記基板配置部には、前記基板がねじ止めされる基板固定孔が前記隔壁の近傍に形成されていることを特徴とする成分測定装置。 - 請求項1〜5のいずれか一項に記載の成分測定装置において、
前記測光ブロックの後方には、前記隔壁と同じ突出量で該隔壁に連なる段部が形成されるとともに、前記段部には、前記測光ブロックが前記筐体にねじ止めされる取付用ねじ孔が穿設されていることを特徴とする成分測定装置。
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