JP2012075641A - 眼科撮影装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 光源から出射された光束を測定光束と第1参照光束に分割し、スペクトル信号を深さプロファイルの変換して眼底の断層像を得る眼底撮影装置において、前記測定光束又は前記第1参照光束を分割して前記測定光による角膜反射光と合成される第2参照光束を生成する第2参照光学系と、深さプロファイルにおいて被検者眼の角膜と眼底が得られたときの前記光学部材の駆動情報と、角膜と眼底を含む前記深さプロファイルとに基づいて被検者眼の眼軸長を測定する演算手段と、深さプロファイルにおける所定の深さ領域に角膜が検出されるように被検者眼と前記干渉光学系全体とのZ方向におけるアライメントを誘導するZアライメント誘導手段と、を備える。
【選択図】 図2
Description
光源から出射された光束を測定光束と第1参照光束に分割し、測定光束を被検者眼眼底に導き,第1参照光束を第1参照光学系に導いた後、前記眼底で反射した測定光束と第1参照光束との合成により得られる干渉光を受光する干渉光学系と、
前記測定光束又は前記第1参照光束の光路中に配置された光学部材を駆動させて測定光束と前記第1参照光束との光路長差を変更する光路長変更手段と、
前記干渉光のスペクトルを検出する検出ユニットと、を備え、横断方向に異なる測定位置に関し,前記スペクトルを深さプロファイルに変換処理して眼底断層画像を得る眼科撮影装置において、
前記測定光束又は前記参照光束を分割して前記測定光による角膜反射光と合成される第2参照光束を生成する第2参照光学系と、
前記深さプロファイルにおいて被検者眼の角膜と眼底が得られたときの前記光学部材の駆動情報と、角膜と眼底を含む前記深さプロファイルとに基づいて被検者眼の眼軸長を測定する演算手段と、
前記深さプロファイルにおける所定の深さ領域に角膜が検出されるように被検者眼と前記干渉光学系全体とのZ方向におけるアライメントを誘導するZアライメント誘導手段と、
を備えることを特徴とする。
(2)
前記Zアライメント誘導手段は、被検者眼と前記干渉光学系全体とのZ方向におけるアライメント状態を検出するアライメント検出手段と、前記アライメント検出結果に基づいて前記干渉光学系全体を駆動制御させる駆動制御手段と、を備える(1)の眼科撮影装置。
(3)
前記アライメント検出手段は、前記深さプロファイルにおける角膜信号を検出し、前記駆動制御手段は、前記深さプロファイルにおける所定の深さ領域に前記角膜信号が位置されるように駆動制御することを特徴とする(2)の眼科撮影装置。
(4)
前記第1参照光学系は、光ファイバーによって形成された透過型の参照光学系であって、
前記第2参照光学系は、前記測定光束の光路中に配置され、前記測定光束を分割して前記測定光による角膜反射光と合成される第2参照光束を生成することを特徴とする(3)の眼科撮影装置。
(5)
前記第2参照光学系は、光ファイバーによって形成された第2参照光学系であって、
前記測定光学系と第1参照光学系との分散ミスマッチと、前記測定光学系と第2参照光学系との分散ミスマッチと、がほぼ等しくなるように第2参照光学系の光ファイバーの長さが設定されていることを特徴とする(4)の眼科撮影装置。
(6)
眼軸長を測定する場合、眼底断層像を撮影するときより第1参照光の光量を低下させる第1参照光調整手段を備えることを特徴とする(5)の眼科装置。
(7)
光源から出射された光束を測定光束と第1参照光束に分割し、測定光束を被検者眼前眼部に導き,第1参照光束を第1参照光学系に導いた後、前記前眼部で反射した測定光束と第1参照光束との合成により得られる干渉光を受光する干渉光学系と、
前記干渉光のスペクトルを検出する検出ユニットと、を備え、横断方向に異なる測定位置に関し,前記スペクトルを深さプロファイルに変換処理して前眼部断層画像を得る眼科撮影装置において、
前記測定光束又は前記参照光束を分割して前記測定光による眼底反射光と合成される第2参照光束を生成する第2参照光学系と、
前記測定光束又は前記第2参照光束の光路中に配置された光学部材を駆動させて測定光束と前記第2参照光束との光路長差を変更する光路長変更手段と、
前記深さプロファイルにおいて被検者眼の角膜と眼底が得られたときの前記光学部材の駆動情報と、角膜と眼底を含む前記深さプロファイルとに基づいて被検者眼の眼軸長を測定する演算手段と、
前記深さプロファイルにおける所定の深さ領域に角膜が検出されるように被検者眼と前記干渉光学系全体とのZ方向におけるアライメントを誘導するZアライメント誘導手段と、
を備えることを特徴とする。
(8)
前記眼科撮影装置は、スペクトラルドメイン光コヒーレントモグラフィー、スウィプト・ソース・光コヒーレンストモグラフィー、のいずれかであることを特徴とする(1)〜(7)のいずれかの眼科撮影装置。
第2参照光学系300は、ビームスプリッタ(例えば、ハーフミラー)18、全反射ミラー19、集光レンズ20、参照ミラー21を備え、測定光による角膜反射光と合成される第2参照光を生成する。コリメータレンズ22からの光は、ビームスプリッタ18によって測定光と第2参照光に分割される。そして、ビームスプリッタ18に反射された参照光は、全反射ミラー19及び集光レンズ20を介して参照ミラー21によって反射される。そして、参照ミラー21による反射光は、ビームスプリッタ18まで戻され、測定光と同様の光路を経て検出器120によって検出される。一方、光源102から発せられた測定光による角膜反射光は、対物レンズ10〜コリメータレンズ22の光路を介して端部24に戻され、カップラー104を介して検出器120に向かう。
図2の説明に戻る。角膜Ecに指標を投影するための投影光学系150には、図2の左上の点線内の図に示すように、光軸を中心として同心円上に45度間隔で近赤外光源が複数個配置されており、光軸L1を通る垂直平面を挟んで左右対称に配置された赤外光源151とコリメーティングレンズ152を持つ第1指標投影光学系(0度、及び180)と、第1指標投影光学系とは異なる位置に配置され6つの近赤外光源153を持つ第2指標投影光学系と、を備える。なお、図2の本図には、便宜上、第1指標投影光学系(0度、及び180度)と、第2指標投影光学系の一部のみ(45度、135度)が図示されている。光源151は前眼部照明を兼ねる。
眼Eを撮像し前眼部像を得るために配置された観察光学系200は、対物レンズ10、ダイクロイックミラー201、結像レンズ202、二次元撮像素子(二次元受光素子)204を備える。
制御部70は、装置全体の制御、測定、断層像の処理などを行う。制御部70は、モニタ75に接続され、その表示画像を制御する。また、制御部70には、メモリ(記憶部)72、各種操作を行うための操作部74、駆動機構50、52、54、光源102、検出器120、撮像素子204、駆動部6、ジョイスティック4などが接続されている。
眼軸長の測定完了後、眼底断層像を撮影する場合、制御部70は、駆動機構50の駆動を制御して眼底Ef上で測定光を走査させ、検出器120から出力される受光信号に基づいて画像処理により断層像を形成させる(図6参照)。取得された断層像は、モニタ75に静止画又は動画として出力される他、メモリ72に記憶される。
6 駆動部
12、14 ガルバノミラー
22 コリメータレンズ
24 端部
70 制御部
100 干渉光学系
106 測定光学系
110 第1参照光学系
111 光ファイバー
120 検出器
150 投影光学系
200 観察光学系
300 第2参照光学系
304 光ファイバー
Claims (8)
- 光源から出射された光束を測定光束と第1参照光束に分割し、測定光束を被検者眼眼底に導き,第1参照光束を第1参照光学系に導いた後、前記眼底で反射した測定光束と第1参照光束との合成により得られる干渉光を受光する干渉光学系と、
前記測定光束又は前記第1参照光束の光路中に配置された光学部材を駆動させて測定光束と前記第1参照光束との光路長差を変更する光路長変更手段と、
前記干渉光のスペクトルを検出する検出ユニットと、を備え、横断方向に異なる測定位置に関し,前記スペクトルを深さプロファイルに変換処理して眼底断層画像を得る眼科撮影装置において、
前記測定光束又は前記参照光束を分割して前記測定光による角膜反射光と合成される第2参照光束を生成する第2参照光学系と、
前記深さプロファイルにおいて被検者眼の角膜と眼底が得られたときの前記光学部材の駆動情報と、角膜と眼底を含む前記深さプロファイルとに基づいて被検者眼の眼軸長を測定する演算手段と、
前記深さプロファイルにおける所定の深さ領域に角膜が検出されるように被検者眼と前記干渉光学系全体とのZ方向におけるアライメントを誘導するZアライメント誘導手段と、
を備えることを特徴とする眼科撮影装置。 - 前記Zアライメント誘導手段は、被検者眼と前記干渉光学系全体とのZ方向におけるアライメント状態を検出するアライメント検出手段と、前記アライメント検出結果に基づいて前記干渉光学系全体を駆動制御させる駆動制御手段と、を備える請求項1の眼科撮影装置。
- 前記アライメント検出手段は、前記深さプロファイルにおける角膜信号を検出し、前記駆動制御手段は、前記深さプロファイルにおける所定の深さ領域に前記角膜信号が位置されるように駆動制御することを特徴とする請求項2の眼科撮影装置。
- 前記第1参照光学系は、光ファイバーによって形成された透過型の参照光学系であって、
前記第2参照光学系は、前記測定光束の光路中に配置され、前記測定光束を分割して前記測定光による角膜反射光と合成される第2参照光束を生成することを特徴とする請求項3の眼科撮影装置。 - 前記第2参照光学系は、光ファイバーによって形成された第2参照光学系であって、
前記測定光学系と第1参照光学系との分散ミスマッチと、前記測定光学系と第2参照光学系との分散ミスマッチと、がほぼ等しくなるように第2参照光学系の光ファイバーの長さが設定されていることを特徴とする請求項4の眼科撮影装置。 - 眼軸長を測定する場合、眼底断層像を撮影するときより第1参照光の光量を低下させる第1参照光調整手段を備えることを特徴とする請求項5の眼科装置。
- 光源から出射された光束を測定光束と第1参照光束に分割し、測定光束を被検者眼前眼部に導き,第1参照光束を第1参照光学系に導いた後、前記前眼部で反射した測定光束と第1参照光束との合成により得られる干渉光を受光する干渉光学系と、
前記干渉光のスペクトルを検出する検出ユニットと、を備え、横断方向に異なる測定位置に関し,前記スペクトルを深さプロファイルに変換処理して前眼部断層画像を得る眼科撮影装置において、
前記測定光束又は前記参照光束を分割して前記測定光による眼底反射光と合成される第2参照光束を生成する第2参照光学系と、
前記測定光束又は前記第2参照光束の光路中に配置された光学部材を駆動させて測定光束と前記第2参照光束との光路長差を変更する光路長変更手段と、
前記深さプロファイルにおいて被検者眼の角膜と眼底が得られたときの前記光学部材の駆動情報と、角膜と眼底を含む前記深さプロファイルとに基づいて被検者眼の眼軸長を測定する演算手段と、
前記深さプロファイルにおける所定の深さ領域に角膜が検出されるように被検者眼と前記干渉光学系全体とのZ方向におけるアライメントを誘導するZアライメント誘導手段と、
を備えることを特徴とする眼科撮影装置。 - 前記眼科撮影装置は、スペクトラルドメイン光コヒーレントモグラフィー、スウィプト・ソース・光コヒーレンストモグラフィー、のいずれかであることを特徴とする請求項1〜7のいずれかの眼科撮影装置。
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