JP2012053049A - 光学フィルムを有するシート状製品の検査データ処理装置および切断装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光学表示装置の部材である光学フィルムを少なくとも有するシート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体を検査することで得られる欠点に関する欠点情報を取得する欠点情報取得手段と、前記欠点情報取得手段で取得された欠点情報を解析し、良品か否かを判定する条件である判定条件に従って、シート状製品原反の切断位置情報を算出する切断位置情報算出手段とを備える検査データ処理装置である。
【選択図】図1
Description
シート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体の欠点を検出する欠点検出手段と、
前記欠点検出手段で検出された欠点に関する情報である欠点情報を作成する欠点情報作成手段と、を備え、
前記欠点情報は、ロール状または枚葉のシート状製品を製造するために用いられることを特徴とする。
前記欠点情報取得手段で取得された欠点情報を解析し、良品か否かを判定する条件である判定条件に従って、シート状製品原反をスリットまたは切断することで得られるロール状または枚葉のシート状製品の歩留まりを算出する歩留まり算出手段と、
前記歩留まりが所定値以上であるシート状製品原反を設定する設定手段とを備える。
前記取得手段で取得されたスリット幅でシート状製品原反を切断する切断手段と、
前記スリット幅で切断されたシート状製品原反の保護層に前記取得された欠点情報を形成する欠点情報形成手段と、を備える。
シート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体の欠点を検出する欠点検出手段と、
前記欠点検出手段で検出された欠点に関する情報である欠点情報を作成する欠点情報作成手段と、
前記欠点情報作成手段で作成された欠点情報を解析し、良品か否かを判定する条件である判定条件に従って、シート状製品原反をスリットまたは切断することで得られるロール状または枚葉のシート状製品の歩留まりを算出する歩留まり算出手段と、
前記歩留まりが所定値以上であるシート状製品原反を設定する設定手段と、
前記設定されたシート状製品原反をスリット幅で切断する切断手段と、
前記切断されたシート状製品原反の保護層に欠点情報を形成する欠点情報形成手段とを備えている。
前記欠点情報読取手段で読み取られた欠点情報を解析し、良品か否かを判定する条件である判定条件に従って、切断位置を算出し、シート状製品原反を切断して枚葉のシート状製品を製造する切断手段とを備えている。
シート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体の欠点を検出する欠点検出手段と、
前記欠点検出手段で検出された欠点に関する情報である欠点情報を作成する欠点情報作成手段と、
前記欠点情報作成手段で作成された欠点情報を解析し、良品か否かを判定する条件である判定条件に従って、シート状製品原反を切断することで得られる枚葉のシート状製品の歩留まりを算出する歩留まり算出手段と、
前記歩留まりが所定値以上であるシート状製品原反を設定する設定手段と、
前記設定されたシート状製品原反をスリット幅で切断する第1の切断手段と、
前記切断されたシート状製品原反の保護層に欠点情報を形成する欠点情報形成手段と、
前記欠点情報形成手段で形成された欠点情報を読み取る欠点情報読取手段と、
前記欠点情報読取手段で読み取られた欠点情報を解析し、良品か否かを判定する条件である判定条件に従って、シート状製品原反を切断して枚葉のシート状製品を製造する第2の切断手段とを備えている。
前記欠点情報取得手段で取得された欠点情報を解析し、良品か否かを判定する条件である判定条件に従って、シート状製品原反の切断位置情報を算出する切断位置情報算出手段とを備えている。
所定のスリット幅に切断されたシート状製品原反若しくはスリット切断されていないシート状製品原反に形成された当該シート状製品原反の欠点情報を読み取る欠点情報読取手段と、
前記欠点情報読取手段で読み取られた欠点情報を解析し、前記切断位置情報取得手段で取得された切断位置情報に従って、切断位置を算出し、シート状製品原反を切断して枚葉のシート状製品を製造する切断手段とを備えている。
良品か否かを判定する条件である判定条件の入力を受け付ける入力受付手段と、
光学表示装置の部材である光学フィルムを少なくとも有するシート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体を検査することで得られる欠点に関する欠点情報を取得する欠点情報取得手段と、
前記欠点情報を解析して、前記判定条件に従って、歩留まりを算出する歩留まり算出手段と、
前記算出された歩留まりを表示手段に表示させるように制御する表示制御手段と、
を備えている。
光学表示装置の部材である光学フィルムを少なくとも有するシート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体を検査することで得られる欠点に関する欠点情報を取得し、
前記欠点情報を解析して、前記判定条件に従って、歩留まりを算出し、
前記算出された歩留まりを表示手段に表示させることを特徴とする。
この構成の作用効果は、上記記載の検査データ処理装置の作用効果を有するものであるが、その具体的手段は、これに制限されない。
本発明において扱うシート状製品の例として、偏光板原反をあげて説明する。偏光板原反は、長い帯状に形成され、フィルム状の偏光板原反から個々の大きさの偏光板を打ち抜き(又は切断)により得ることがきる。偏光板原反は、予め製造しておいたポリビニルアルコール系フィルム(偏光子)の表裏両面に例えばトリアセチルセルロースフィルム(透明の偏光子保護層)を貼り合わせることで得ることができる。この多層構造とされた偏光板原反の表面あるいは内部に存在する欠点(キズ、異物、クニック、汚れなど)を検出する必要がある。これは、後述する検出手段によって検出される。
(実施形態1)
以下で図面を用いて、本発明の欠陥検査装置、切断装置、検査データ処理装置、製造システムの構成について説明する。図1は、製造システムの機能ブロック図である。図1の機能説明では、本発明の作用効果を奏する手段等について主に説明し、従来公知の手段についてはその説明を省略又は簡単に説明する。図1の製造システムは、欠点検査装置10、第1検査データ処理装置20、スリット用切断装置30、第2検査データ処理装置40、枚葉用切断装置50を有して構成されている。以下、各装置ごとに説明する。
欠点検査手段は、各製造工程ごとに、例えば、シート状製品を構成する単層体の加工処理ごと、積層体形成(成膜)工程ごとに、検査部を設けることができる。ここでは説明上、欠点検出手段は、偏光子検査部11、偏光板検査部12、セパレータ検査部13、保護フィルム検査部14を有している。また、欠点検査手段は、偏光板検査部12のみ、偏光板検査部12、セパレータ検査部13及び保護フィルム検査部14のみで構成することもできる。また、偏光板を構成するTACフィルムの処理工程においてTACフィルムの欠点を検出するように構成できる。このように、シート状製品を構成する部材を単層体(接着剤又は粘着剤を含んでもよい)ごとに欠点検査することで、セパレータ又は保護フィルムの影響がなく、精度良く欠点を検出することができる。また、シート状製品を構成する積層体(例えば、偏光板)の欠点検査をすることで、セパレータ又は保護フィルムの影響がなく、精度良く欠点を検出することができる。そして、セパレータと保護フィルムについては、それ自体(粘着剤が塗工されている状態を含む)で欠点を検出し、他の欠点情報と統合することで、セパレータと保護フィルムが貼られた状態のシート状製品としての欠点情報が得られる。
第1検査データ処理装置20は、所望の設定条件に従って欠点情報を解析し、例えば最適歩留まりのシート状製品原反を選ぶことができる。これにより、スリット用切断工程より下流の製造工程において所望される設定条件(ユーザー側固有の条件)に最適なシート状製品原反を製造することができる。
スリット用切断装置30は、第1検査データ処理装置20で設定されたシート状製品原反を、第1検査データ処理装置20から取得したスリット幅及び/又はスリット位置に従ってスリット切断することができる。また、スリット用切断装置30は、シート状製品原反ロールが、セットされ、欠点情報が読み取られた場合に、欠点情報に含まれる製造ロットを第1検査データ処理装置20に問い合わせ、その問い合わせに対するスリット幅及び/又はスリット位置に従ってスリット切断するように構成できる。
第2検査データ処理装置40及び枚葉用切断装置50に用いられる製造ラインは、これより上流の製造ラインと連続していてもよいが、別ライン(例えば、異なる製造場所)に設置されていてもよい。例えば、上流製造工程で製造されたシート状製品原反を異なる製造所に搬送し、ここで下流の製造工程を実施することができる。下流の製造工程では、第2検査データ処理装置40を用いて、所望の設定条件を設定して歩留まり等を確認しながら最適のシート状製品原反を選び、枚葉のシート状製品を製造することができる。また、第1検査データ処理装置20から製造識別情報に対応する切断位置情報を得るように構成されていてもよい。
枚葉用切断装置50は、シート状製品原反を枚葉のシート状製品に切断する機能を有している。
以下では、各工程の検査機能を独立の検査装置で構成し、各検査装置で得られた欠点情報は、第1検査データ処理装置120に送信され、第1検査データ処理装置120がシート状製品原反の統合した欠点情報を作成する構成である。
実施形態3においては、検査データ処理装置が1つの形態について説明する。実施形態1,2では、検査データ処理装置が2つ存在するように構成されている。しかし、製造場所が同一である場合には、検査データ処理装置を一つで構成することができる。
本発明の第1検査データ処理装置、第2検査データ処理装置は、ソフトウエアとハードウエア(CPU、メモリ等)を協働作用によって実現でき、専用回路、ファームウエア等で、またはそれらの組み合わせで実現することもできる。
良品か否かを判定する条件である判定条件の入力を受け付けるステップと、
光学表示装置の部材である光学フィルムを少なくとも有するシート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体を検査することで得られる欠点に関する欠点情報を取得するステップと、
前記欠点情報を解析して、前記判定条件に従って、歩留まりを算出するステップと、
前記算出された歩留まりを表示手段に表示させるステップとを実行させるためのプログラムである。
光学表示装置の部材である光学フィルムを少なくとも有するシート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体の欠点を検出する欠点検出手段で検出された欠点情報を取得するステップと、
前記取得された欠点情報を解析し、良品か否かを判定する条件である判定条件に従って、シート状製品原反を切断することで得られる枚葉のシート状製品の歩留まりを算出するステップと、
前記歩留まりが所定値以上であるシート状製品原反を設定するステップとを実行させるためのプログラムである。
本発明は、偏光板を含むシート状製品について説明したが、本発明は、これに制限されず、光学フィルムとして、偏光板と位相差板の積層体、位相差板のみについても適用できる。
11 偏光子検査部
12 偏光板検査部
13 セパレータ検査部
14 保護フィルム検査部
15 欠点情報作成部
16 格納部
17 欠点情報形成部
18 表示制御部
19 異常判定部
20 第1検査データ処理装置
21 取得手段
22 格納部
23 歩留まり算出部
24 原反設定部
25 入力受付手段
26 表示制御部
30 スリット用切断装置
31 取得手段
32 欠点情報読取部
33 切断手段
34 欠点情報形成部
40 第2検査データ処理装置
41 取得手段
42 格納部
43 歩留まり算出部
44 原反設定部
45 入力受付手段
46 表示制御部
47 切断位置情報作成部
50 枚葉用切断装置
51 取得手段
52 欠点情報読取部
53 切断手段
54 製品情報形成部
Claims (8)
- 光学表示装置の部材である光学フィルムを少なくとも有するシート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体を検査することで得られる欠点に関する欠点情報を取得する欠点情報取得手段と、
前記欠点情報取得手段で取得された欠点情報を解析し、良品か否かを判定する条件である判定条件に従って、シート状製品原反の切断位置情報を算出する切断位置情報算出手段とを備える検査データ処理装置。 - 請求項1に記載の検査データ処理装置で算出された切断位置情報を取得する切断位置情報取得手段と、
所定のスリット幅に切断されたシート状製品原反若しくはスリット切断されていないシート状製品原反に形成された当該シート状製品原反の欠点情報を読み取る欠点情報読取手段と、
前記欠点情報読取手段で読み取られた欠点情報を解析し、前記切断位置情報取得手段で取得された切断位置情報に従って、シート状製品原反を切断して枚葉のシート状製品を製造する切断手段とを備える切断装置。 - 前記切断された枚葉のシート状製品に当該シート状製品に対応する製品情報を形成する製品情報形成手段を、さらに備える請求項2に記載の切断装置。
- 前記所定のスリット幅に切断されたシート状製品原反を製造するための製造システムは、
シート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体の欠点を検出する欠点検出手段と、
前記欠点検出手段で検出された欠点に関する情報である欠点情報を作成する欠点情報作成手段と、
前記欠点情報作成手段で作成された欠点情報を解析し、良品か否かを判定する条件である判定条件に従って、シート状製品原反をスリットまたは切断することで得られるロール状または枚葉のシート状製品の歩留まりを算出する歩留まり算出手段と、
前記歩留まりが所定値以上であるシート状製品原反を設定する設定手段と、
前記設定されたシート状製品原反をスリット幅で切断する切断手段と、
前記切断されたシート状製品原反の保護層に欠点情報を形成する欠点情報形成手段と、を備える、請求項2に記載の切断装置。 - 良品か否かを判定する条件である判定条件の入力を受け付ける入力受付手段と、
光学表示装置の部材である光学フィルムを少なくとも有するシート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体を検査することで得られる欠点に関する欠点情報を取得する欠点情報取得手段と、
前記欠点情報を解析して、前記判定条件に従って、歩留まりを算出する歩留まり算出手段と、
前記算出された歩留まりを表示手段に表示させるように制御する表示制御手段と、
を備える検査データ処理装置。 - 前記歩留まりを算出する場合に、スキップカット方式を採用して算出することを特徴とする請求項5に記載の検査データ処理装置。
- 前記表示制御手段は、シート状製品原反を展開させて、それに重複するように、良品として得られる枚葉のシート状製品を表示するように制御する請求項5又は6に記載の検査データ処理装置。
- 良品か否かを判定する条件である判定条件の入力を受け付け、
光学表示装置の部材である光学フィルムを少なくとも有するシート状製品を構成する単層体及び/又は積層体であって、シート状製品表面の保護層が設けられていない状態で当該単層体及び/又は積層体を検査することで得られる欠点に関する欠点情報を取得し、
前記欠点情報を解析して、前記判定条件に従って、歩留まりを算出し、
前記算出された歩留まりを表示手段に表示させることを特徴とする検査データ処理方法。
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