JP2005069708A - テープ体検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】使用上問題な表面欠陥を確実に検出しつつ、テープ体を原材料とする情報記録媒体の製造歩留まりを向上し得るテープ体検査装置を提供する。
【解決手段】磁気テープ１０をその長手方向に沿って移動させる移動機構２と、磁気テープ１０に検査用の光を照射すると共にその表面１０ａで反射された散乱光を受光して光検出信号を出力する表面検査部４と、出力された光検出信号に基づいて磁気テープ１０の表面欠陥を検出すると共にその検出結果に基づいて磁気テープ１０の良否を判別する制御部８と、磁気テープ１０をその幅方向において仮想的に分割した複数の検査領域毎に規定された良否判別基準を記憶する記憶部９とを備え、制御部８は、検出した各検査領域毎の表面欠陥の検出結果と、記憶されている各検査領域毎の良否判別基準とに基づいて各検査領域毎に磁気テープ１０の良否を判別する。
【選択図】 図１
【解決手段】磁気テープ１０をその長手方向に沿って移動させる移動機構２と、磁気テープ１０に検査用の光を照射すると共にその表面１０ａで反射された散乱光を受光して光検出信号を出力する表面検査部４と、出力された光検出信号に基づいて磁気テープ１０の表面欠陥を検出すると共にその検出結果に基づいて磁気テープ１０の良否を判別する制御部８と、磁気テープ１０をその幅方向において仮想的に分割した複数の検査領域毎に規定された良否判別基準を記憶する記憶部９とを備え、制御部８は、検出した各検査領域毎の表面欠陥の検出結果と、記憶されている各検査領域毎の良否判別基準とに基づいて各検査領域毎に磁気テープ１０の良否を判別する。
【選択図】 図１
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、テープ体の表面欠陥を検査可能に構成されたテープ体検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
この種のテープ体検査装置として、出願人は、特願２００３−０９６７２８に表面欠陥検出装置１０を提案している。この表面欠陥検出装置１０は、磁気テープ１２（磁気記録媒体）の表面に直径１０μｍ程度よりも大きい表面欠陥（傷、剥離部および付着物）が存在するか否かを検査する検査装置であって、同出願の図１に示すように、磁気テープ１２に光Ｌａ，Ｌｂ（以下、「光Ｌ」ともいう）を照射すると共にその反射光（散乱光）に基づいて表面欠陥の有無を検査可能に構成されている。この表面欠陥検出装置１０では、まず、支持装置１４の円筒状ガイド部材２６Ａ，２６Ｂの間に磁気テープ１２を張架する。この際に、円筒状ガイド部材２６Ａ，２６Ｂによって磁気テープ１２が平坦（平面状）となるように支持される。次に、円筒状ガイド部材２６Ａ，２６Ｂに形成された多数のエア吹出し細孔２７，２７・・（同出願の図３参照）から圧縮空気を吐出させつつ、磁気テープ１２をその長手方向に沿って移動させる。この際に、エア吹出し細孔２７から吐出された圧縮空気によって円筒状ガイド部材２６Ａ，２６Ｂの周面と磁気テープ１２との間に空気の層が形成されて、磁気テープ１２が円筒状ガイド部材２６Ａ，２６Ｂに対して非接触の状態で移動させられる。
【０００３】
次に、磁気テープ１２における円筒状ガイド部材２６Ａ，２６Ｂの間に張架されている領域内（光源像領域１８Ａ，１８Ｂ）に向けて検査光照射装置２０から検査用の光Ｌを照射する。同時に、光源像領域１８Ａ，１８Ｂの間に規定された帯状検査領域２２Ａを含む領域をＣＣＤラインカメラ２２によって撮像する。この場合、この表面欠陥検出装置１０では、検査光照射装置２０によって照射されて磁気テープ１２によって反射された正反射光がＣＣＤラインカメラ２２に入光しないように、磁気テープ１２に対する検査光照射装置２０およびＣＣＤラインカメラ２２の光軸と位置とが規定されている。したがって、磁気テープ１２に表面欠陥が存在しないときには、光源像領域１８Ａ，１８Ｂに向けて照射した光Ｌの大半がＣＣＤラインカメラ２２に入光しないため、ＣＣＤラインカメラ２２によって出力される輝度信号が所定の輝度レベル以下となる。したがって、この際には、判定装置２４が、ＣＣＤラインカメラ２２によって出力された輝度信号に基づいて、磁気テープ１２に表面欠陥が存在しないと判定する。
【０００４】
一方、磁気テープ１２に表面欠陥が存在するときには、検査光照射装置２０によって照射された光Ｌが表面欠陥によって乱反射され、その反射光（散乱光）の一部がＣＣＤラインカメラ２２に入光する。この結果、ＣＣＤラインカメラ２２によって出力される輝度信号が所定の輝度レベルを超える。したがって、この際には、判定装置２４が、ＣＣＤラインカメラ２２によって出力された輝度信号に基づいて、磁気テープ１２に表面欠陥が存在すると判定する。この判定処理を磁気テープ１２の全域に亘って実行することにより、磁気テープ１２の良否（表面欠陥の有無）が検査される。
【０００５】
【先行出願１】
特願２００３−０９６７２８（図１）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、出願人が提案している表面欠陥検出装置１０には、以下の改善すべき課題がある。すなわち、この表面欠陥検出装置１０では、磁気テープ１２の幅方向全域を含んで規定した光源像領域１８Ａ，１８Ｂに検査用の光Ｌを照射すると共に、帯状検査領域２２Ａを撮像しているＣＣＤラインカメラ２２によって出力される輝度信号に基づいて、磁気テープ１２に表面欠陥が存在するか否かを検査し、その検査結果（検出した表面結果の数）が所定の基準範囲内のときに磁気テープ１２を良品と判別している。一方、検査対象の磁気テープ１２等には、磁気テープをその幅方向において仮想的に分割した複数のデータ記録領域が規定されて、各データ記録領域毎に異なる種類の記録データが記録される。具体的には、一例として、磁気テープの幅方向の両端側において映像データを記録可能にそれぞれ規定された２つの端部記録領域と、幅方向の中央部において音声データを記録可能に規定された中央部記録領域との３つのデータ記録領域を有する磁気テープが存在する。
【０００７】
この場合、磁気テープの表面欠陥に起因して記録データの一部を正常に書き込みまたは読み取りできなかったとしても、映像データについては、データの欠落部分（書き込みまたは読み取りができなかった部分）に対する補完処理等によって比較的容易にほぼ正常な再生が可能となる。これに対して、音声データについては、データの欠落部分に対する補完処理等が困難のため、欠落部分を正常に再生するのが非常に困難となっている。したがって、この例では、音声データが記録される中央部記録領域に対しては、その良否判別の判別基準を高く設定して（良品と判別する基準を高くして）、記録再生時における音声データの部分的な書き込みエラーおよび読み取りエラーの発生を回避する必要がある。しかし、音声データの部分的な書き込みエラーおよび読み取りエラーの発生を回避可能な判別基準で磁気テープの表面全域を検査（良否判別）する場合、ほぼ正常な映像の再生が可能な程度の極く小さな表面欠陥（または、極く少数の表面欠陥）が端部記録領域に存在するときにも、その表面欠陥の存在部位が不良と判別される。このため、磁気テープ１２の幅方向全域に対して同一の判別基準でその良否を判別している従来の表面欠陥検出装置１０では、使用上問題とならない表面欠陥が存在する部位を不良として扱うことに起因して、その分だけ不良率が高くなって製造歩留まりが低くなり、これを改善するのが好ましい。
【０００８】
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、使用上問題な表面欠陥を確実に検出しつつ、テープ体を原材料とする情報記録媒体の製造歩留まりを向上し得るテープ体検査装置を提供することを主目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成すべく本発明に係るテープ体検査装置は、情報記録媒体用のテープ体をその長手方向に沿って移動させる移動機構と、前記テープ体の表面に検査用の光を照射する光照射部と、当該光照射部によって照射されて前記テープ体の表面で反射された散乱光を受光して光検出信号を出力する受光部と、当該出力された光検出信号に基づいて前記テープ体の表面欠陥を検出する欠陥検出部と、当該欠陥検出部による検出結果に基づいて前記テープ体の良否を判別する判別部と、前記テープ体をその幅方向において仮想的に分割した複数の検査領域毎に規定された良否判別基準を記憶する記憶部とを備え、前記判別部は、前記欠陥検出部によって検出された前記各検査領域毎の前記表面欠陥の検出結果と、前記記憶されている前記各検査領域毎の良否判別基準とに基づいて当該各検査領域毎に前記テープ体の良否を判別する。
【００１０】
この場合、前記良否判別基準を変更操作可能に構成すると共に、変更操作後の前記良否判別基準を記憶可能に前記記憶部を構成するのが好ましい。
【００１１】
また、前記欠陥検出部の検出結果を具現化する検出結果具現部を備え、前記欠陥検出部が前記テープ体における前記表面欠陥の検出位置を特定可能に当該テープ体を模したテープ体表示と当該表面欠陥を模した表面欠陥表示とを前記検出結果具現部に具現化させるのが好ましい。
【００１２】
さらに、前記判別部の判別結果を具現化する判別結果具現部を備え、前記判別部が前記テープ体を前記長手方向において所定寸法で裁断して製造される各情報記録媒体のそれぞれの良否を特定可能に前記テープ体の良否についての判別結果を前記判別結果具現部に具現化させるのが好ましい。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して、本発明に係るテープ体検査装置の実施の形態について説明する。
【００１４】
最初に、テープ体検査装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１５】
テープ体検査装置（以下、「検査装置」ともいう）１は、図１に示すように、移動機構２、支持機構３、表面検査部４、計測部５、操作部６、表示部７、制御部８および記憶部９を備えて磁気テープ１０の良否を検査可能に構成されている。この場合、磁気テープ１０は、本発明におけるテープ体の一例であって、支持体としてのベースフィルムと、ベースフィルムの表面に形成された磁性層（以下、磁性層の形成面を「表面１０ａ」ともいう）と、ベースフィルムの裏面に形成されたバックコート層とを備え、一例として、厚みが１０μｍ程度、幅が１３ｍｍ程度、長さが３０００ｍ程度に形成されている。また、この磁気テープ１０では、幅２ｍｍ程度の非記録領域がその両端部に規定されている。さらに、磁気テープ１０では、その幅方向における両端側（非記録領域の内側）に映像データを記録可能にそれぞれ規定された２つの端部記録領域と、幅方向における中央部に音声データを記録可能に規定された中央部記録領域との３つのデータ記録領域が規定されている。また、この磁気テープ１０は、検査装置１による検査が完了した後には、記録再生装置による各種の記録データの記録再生が可能にテープリールに巻回されてカセットケースに収容される。
【００１６】
移動機構２は、図１に示すように、検査対象の磁気テープ１０が巻回された送り側リール２ａと、テープ検査装置１による検査が完了した磁気テープ１０を巻回する巻取り側リール２ｂと、両リール２ａ，２ｂを回転させることによって磁気テープ１０をその長手方向（同図に示す矢印の向き）に移動させるモータ（図示せず）とを備えて構成されている。この場合、移動機構２は、制御部８の制御下で、一例として毎秒５ｍの速度で磁気テープ１０を高速移動させる。支持機構３は、図２に示すように、テンション機構１１，１１、エアガイド１３，１３およびテープ支持具１４を備え、磁気テープ１０に所定の張力を付与しつつ支持する。テンション機構１１は、ローラ１２ａ，１２ａ，１２ｂを備えて、磁気テープ１０に張力を付与することによって検査時における弛みの発生を回避する。具体的には、ローラ１２ａ，１２ａ間に張架された磁気テープ１０をローラ１２ｂによって同図の下方に引き下げることによって磁気テープ１０に張力を付与する。エアガイド（以下、「ガイド」ともいう）１３は、その表面に多数のエア吐出し細孔が形成されて構成され、図外のエア供給部から供給されるエア（圧縮空気）を吐出して磁気テープ１０との間に空気の層を形成することにより、テープ支持具１４と相俟って磁気テープ１０を非接触の状態で支持する。また、ガイド１３は、テンション機構１１によって磁気テープ１０に張力が付与されて空気の層を介して磁気テープ１０がガイド１３に押し付けられることにより、磁気テープ１０に生じた振動を吸収して下流側への伝搬を回避する。
【００１７】
テープ支持具（以下、「支持具」ともいう）１４は、ベース部１４ａと、ベース部１４ａに立設された壁部１４ｂ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｃとを備えて、全体としてセラミックによって一体形成されている。壁部１４ｂ，１４ｂは、一例として、その厚みが１．５ｍｍの壁状に形成されて、２．５ｍｍ程度だけ離間して互いに対向するようにして配置されている。また、壁部１４ｂは、その先端面（同図では上端面）が平坦に形成されると共にその先端面と側面との角部が面取りされて、磁気テープ１０の幅方向に沿った線状の領域（壁部１４ｂの厚み（１．５ｍｍ）と同幅で線状の平面視長方形の領域）に当接可能に構成されている。一方、壁部１４ｃ，１４ｃは、一例として、その厚みが１．５ｍｍの壁状に形成されている。この場合、各壁部１４ｃは、壁部１４ｂに対して、一例として、１．６ｍｍ程度だけ離間するように、その各壁面が壁部１４ｂ，１４ｂの各壁面と対向するようにして配置されている。また、壁部１４ｃは、壁部１４ｂと同様にして、その先端面が平坦に形成されると共に、先端面と側面との角部が面取りされて、磁気テープ１０の幅方向に沿った線状の領域（壁部１４ｃの厚み（１．５ｍｍ）と同幅で線状の平面視長方形の領域）に当接可能に構成されている。さらに、壁部１４ｃは、壁部１４ｂと比較して、一例として０．２ｍｍだけ低背に形成されている。
【００１８】
表面検査部４は、磁気テープ１０の表面１０ａに例えば直径１０μｍよりも大きい欠陥部Ｘ（傷、剥離部および付着物：図４参照）が存在するか否かを光学的に検査する。この表面検査部４は、図２に示すように、検査光照射部４ａおよびＣＣＤカメラ４ｂを備えて構成されている。検査光照射部４ａは、本発明における光照射部に相当し、ハロゲンランプ、高輝度ＬＥＤ、ナトリウムランプおよびレーザダイオード等で構成されると共に、制御部８の制御下で支持具１４の壁部１４ｂ，１４ｂ間に張架された磁気テープ１０の表面１０ａに検査光Ｌａを照射する。この場合、本発明の実施の形態では、高輝度で、しかも調光が容易なハロゲンランプによって検査光照射部４ａが構成されて、磁気テープ１０の表面１０ａに規定された線状の領域Ａ１（図３参照）に検査光Ｌａを照射する。
【００１９】
ＣＣＤカメラ４ｂは、本発明における受光部に相当し、磁気テープ１０の表面１０ａに規定された線状の領域Ａ２（図３参照）を撮像することにより、検査光照射部４ａによって照射されて磁気テープ１０の表面１０ａで反射された反射光Ｌｂ（散乱光）を受光して輝度信号（本発明における光検出信号）を出力する。具体的には、ＣＣＤカメラ４ｂは、検査光照射部４ａによって検査光Ｌａが照射された領域Ａ１の近傍である領域Ａ２を撮像する。この際に、磁気テープ１０に欠陥部Ｘが存在するときには、検査光照射部４ａによって照射された検査光Ｌａが欠陥部Ｘによって乱反射されて、その反射光Ｌｂ（散乱光）の一部がＣＣＤカメラ４ｂに入光する。この場合、この表面検査部４では、検査光照射部４ａによって照射されて磁気テープ１０の表面１０ａで反射された正反射光がＣＣＤカメラ４ｂに入光しないように、検査光照射部４ａによる検査光Ｌａの照射位置（領域Ａ１）およびその照射角度と、ＣＣＤカメラ４ｂによる撮像位置（領域Ａ２）およびＣＣＤカメラ４ｂの表面１０ａに対する設置角度とが規定されている。したがって、磁気テープ１０の表面１０ａに欠陥部Ｘが存在しないときには、検査光照射部４ａから照射した検査光Ｌａの大半がＣＣＤカメラ４ｂに入光しないため、ＣＣＤカメラ４ｂによって出力される輝度信号が所定の輝度レベル以下となる。逆に、磁気テープ１０の表面１０ａに欠陥部Ｘが存在するときには、検査光照射部４ａから照射した検査光Ｌａの一部が乱反射されてその一部がＣＣＤカメラ４ｂに入光するため、ＣＣＤカメラ４ｂによって出力される輝度信号が所定の輝度レベルを超えることとなる。
【００２０】
計測部５は、移動機構２によって移動させられた磁気テープ１０の移動距離（すなわち、表面検査部４による検査が完了して巻取り側リール２ｂに巻回された磁気テープ１０の長さ）を計測する。操作部６は、一例として、キーボードおよびマウスを備えて後述する検査条件の入力操作（本発明における変更操作）などが可能に構成されている。表示部７は、本発明における検出結果具現部および判別結果具現部に相当し、制御部８の制御下で、検査条件設定画面２０（図６参照）および検査結果表示画面３０，４０（図７，１０参照）などを表示する（本発明における具現化の一例）。制御部８は、移動機構２を制御して磁気テープ１０を高速移動させると共に、表面検査部４を制御して磁気テープ１０の表面１０ａに対する検査光Ｌａの照射および反射光Ｌｂの受光を実行させる。また、制御部８は、本発明における欠陥検出部および判別部を構成し、表面検査部４のＣＣＤカメラ４ｂによって出力された輝度信号（ＣＣＤカメラ４ｂによる散乱光の受光状態）に基づいて磁気テープ１０の表面１０ａに欠陥部Ｘが存在するか否かを検出すると共に、その検出結果に基づいて磁気テープ１０の良否を判別する。
【００２１】
また、図４に示すように、制御部８は、磁気テープ１０をその幅方向において仮想的に分割して、非検査領域Ａ１１，Ａ１１および検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３の５つの領域を規定し、各領域毎にその良否を判別する。この場合、非検査領域Ａ１１が前述した非記録領域に対応して規定され、検査領域Ａ１２が端部記録領域に対応して規定され、検査領域Ａ１３が中央部記録領域に対応して規定される。さらに、図５に示すように、この検査装置１では、磁気テープ１０をその長手方向に沿って、その長さＬ１が１ｍ程度の複数のブロックＢ，Ｂ・・に仮想的に分割して、制御部８が、各ブロックＢ，Ｂ・・を良否判別の単位として検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３を検査（良否を判別）する。さらに、制御部８は、各ブロックＢ，Ｂ・・毎の良否判別の結果（判別結果）をその磁気テープ１０に関連付けて記憶部９に記憶させると共に表示部７に表示させる。また、検査装置１は、実際には、送り側リール２ａに巻回されている磁気テープ１０をテンション機構１１に案内する各種のローラー等、検査が完了した磁気テープ１０をテンション機構１１から巻取り側リール２ｂに案内する各種のローラー等、および磁気テープ１０をクリーニングするクリーナーなどを備えているが、本発明についての理解を容易とするために、これらについての説明および図示を省略する。
【００２２】
次に、検査装置１による磁気テープ１０の検査方法について、図面を参照して説明する。なお、磁気テープ１０の幅方向におけるいずれの部位を非検査領域Ａ１１とし、いずれの部位を検査領域Ａ１２，Ａ１３とするかについては、既に規定されているものとする。
【００２３】
まず、操作部６を操作して図６に示す検査条件設定画面２０を表示部７に表示させて、磁気テープ１０の検査に関する条件（磁気テープ１０の良否を判別するための判別条件）を設定する。この検査条件設定画面２０には、検査対象の磁気テープの品種名を入力（選択）するためのテープ品種名入力部２１と、検査領域Ａ１２についての検査条件（良否判別についての判別条件）を入力するための端部検査領域条件入力部２２と、検査領域Ａ１３についての検査条件を入力するための中央部検査領域条件入力部２３とが表示される。この場合、この検査装置１では、同一品種の磁気テープに対して、この検査条件設定画面２０において入力した（設定した）２種類の検査基準（基準Ａ，Ｂ）のいずれかに基づいて磁気テープを検査可能に構成されている。したがって、検査条件設定画面２０の端部検査領域条件入力部２２および中央部検査領域条件入力部２３には、基準Ａの検査基準値（本発明における良否判別基準）を入力する検査条件入力部２２ａ，２３ａと、基準Ｂの検査基準値（本発明における良否判別基準）を入力する検査条件入力部２２ｂ，２３ｂとが用意されている。なお、検査条件設定画面２０における表示「Ｓ欠陥」「Ｍ欠陥」「Ｌ欠陥」は、それぞれ「比較的小さな欠陥（Ｓサイズ）」「やや大きい欠陥（Ｍサイズ）」「比較的大きな欠陥（Ｌサイズ）」を意味し、図示しない欠陥種別設定用画面においてその大きさについての基準値が規定されている。以下、「Ｓサイズの欠陥」「Ｍサイズの欠陥」「Ｌサイズの欠陥」をそれぞれ「Ｓ欠陥」「Ｍ欠陥」「Ｌ欠陥」ともいう。
【００２４】
また、検査条件設定画面２０における表示「平均上限値」の右側に位置する検査条件入力部２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂには、例えば連続する１００個のブロックＢ，Ｂ・・について、その欠陥部Ｘの検出数の平均値に対する許容値（良好であると判別する欠陥部Ｘの検出数についての平均値の上限値）が入力される。さらに、表示「上限値」の右側に位置する検査条件入力部２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂには、１つのブロックＢに対して許容する欠陥部Ｘの検出数（良好であると判別する欠陥部Ｘの検出数の上限値）が入力される。したがって、同図の端部検査領域条件入力部２２における表示「Ｌ欠陥 平均上限値（基準Ａ）」の右側に位置する検査条件入力部２２ａに入力された数値「０．０２」は、連続する１００個のブロックＢ，Ｂ・・についてのＬサイズの欠陥部Ｘ（Ｌ欠陥）の検出数の平均値が０．０２個以下のときには、これら１００個のブロックＢ，Ｂ・・における検査領域Ａ１２を良好と判別することを意味する。また、表示「Ｌ欠陥 上限値（基準Ａ）」の右側に位置する検査条件入力部２２ａに入力された数値「２」は、各ブロックＢについて「Ｌ欠陥」の検出数が２個以下のときには、そのブロックＢにおける検査領域Ａ１２を良好と判別することを意味する。この場合、後述する検査処理では、「Ｓ欠陥」「Ｍ欠陥」および「Ｌ欠陥」のうちのいずれかの「平均上限値」または「上限値」が検査条件入力部２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂに入力されている値を超えたときに、対応するブロックＢの検査領域Ａ１２，Ａ１３を不良と判別する。したがって、操作部６を操作して、磁気テープ１０の使用目的に鑑みて、各検査条件入力部２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂに基準値を入力する。
【００２５】
具体的には、検査対象の磁気テープ１０は、前述したように、その端部記録領域に映像データが記録され、その中央部記録領域に音声データが記録される。したがって、中央部記録領域に対応する検査領域Ａ１３については比較的高い検査基準を設定（入力）し、端部記録領域に対応する検査領域Ａ１２については、検査領域Ａ１３についての検査基準よりもやや低めの検査基準を設定（入力）する。また、「Ｓ欠陥」については、各ブロックＢ，Ｂ・・中の存在数が少なかったとしても、連続するブロックＢ，Ｂ・・中の存在数の平均値が高いときには、記録データの記録再生時におけるエラーレートに影響を及ぼす。このため、１つのブロックＢ中に「Ｓ欠陥」が幾つ存在するかの検査よりも、連続するブロックＢ，Ｂ・・についての平均値が重要となる。したがって、この「Ｓ欠陥」については、その「上限値」を設定せずに「平均上限値」のみを設定しておくのが好ましい。続いて、同図に示すように、各検査条件入力部２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂに検査用の基準値を入力することにより、検査に関する条件（磁気テープ１０の良否を判別するための判別条件）の設定が完了する。この際に、制御部８は、設定された条件を特定可能なデータ（本発明における良否判別基準）を生成して記憶部９に記憶させる。
【００２６】
次に、検査条件設定画面２０において設定した検査条件に基づいて磁気テープ１０を検査する検査処理を開始する。この際には、まず、検査対象の磁気テープ１０が巻回された送り側リール２ａと、検査が完了した磁気テープ１０を巻回する巻取り側リール２ｂとを移動機構２に取り付ける。次に、送り側リール２ａから磁気テープ１０の先端部を引き出して、図２に示すように、テンション機構１１、表面検査部４およびテンション機構１１をこの順で通過するように磁気テープ１０をセットした後に、巻取り側リール２ｂに先端部を固定する。この際に、磁気テープ１０の表面１０ａには、エアガイド１３，１３が接触し、その裏面には、支持具１４が接触する。次いで、制御部８がエア供給部を制御して各ガイド１３からエアを吐出させる。この際に、吐出されたエアによって各ガイド１３と磁気テープ１０との間に空気の層が形成され、これにより、磁気テープ１０が各ガイド１３に対して非接触の状態で支持される。
【００２７】
続いて、制御部８は、移動機構２を制御して送り側リール２ａおよび巻取り側リール２ｂを回転させることにより、送り側リール２ａに巻回されている磁気テープ１０を巻取り側リール２ｂに巻回させる。この際に、テンション機構１１，１１によって磁気テープ１０に所定の張力が付与されているため、磁気テープ１０は、その表面１０ａが空気の層を介して各ガイド１３に押し付けられると共に、その裏面が支持具１４における壁部１４ｂ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｃに押し付けられた状態で送り側リール２ａから巻取り側リール２ｂに向けて移動させられる。この場合、この検査装置１では、磁気テープ１０が空気の層を介して各ガイド１３に押し付けられる構成のため、ガイド１３によって磁気テープ１０の表面１０ａが傷付けられる事態が回避されている。また、磁気テープ１０がガイド１３に対して非接触状態で支持されているため、ガイド１３の近傍における磁気テープ１０の摺動抵抗（移動抵抗）が極く小さくなっている。さらに、支持具１４における各壁部１４ｂ，１４ｃの先端面が平坦に形成されると共に、その先端面と側面との角部が面取りされているため、支持具１４によって磁気テープ１０の裏面が傷付けられる事態が回避されている。また、支持具１４の各壁部１４ｂ，１４ｃの厚みが１．５ｍｍ程度と薄厚のため、支持具１４によって支持されている部位において磁気テープ１０との間での摺動抵抗も極く小さくなっている。
【００２８】
次に、制御部８は、表面検査部４に対して磁気テープ１０の表面１０ａの検査を開始させる。この際に、制御部８は、図７に示す検査結果表示画面３０を表示部７に表示させて検査結果（検出した欠陥部Ｘを模した欠陥部表示Ｘｉ等）を表示させる。一方、表面検査部４は、まず、検査光照射部４ａが図３に示す領域Ａ１に対する検査光Ｌａの照射を開始すると共に、ＣＣＤカメラ４ｂが領域Ａ２の撮像を開始する。この際に、磁気テープ１０の表面１０ａに異物の付着や傷などの欠陥部Ｘが存在するときには、検査光照射部４ａによって領域Ａ１に照射された検査光Ｌａが欠陥部Ｘによって乱反射されて、この反射光Ｌｂ（散乱光）がＣＣＤカメラ４ｂに入光する。この結果、ＣＣＤカメラ４ｂによって出力される輝度信号が所定の輝度レベルを上回る。したがって、この際に、制御部８は、磁気テープ１０の表面１０ａに欠陥部Ｘが存在すると判別する。
【００２９】
この場合、ＣＣＤカメラ４ｂが磁気テープ１０の幅方向のいずれの部位で反射光Ｌｂが入光したかを特定可能な輝度信号を出力するため、制御部８は、ＣＣＤカメラ４ｂによって出力された輝度信号に基づいて、非検査領域Ａ１１および検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３のいずれの領域において、検査光Ｌａがどの程度反射されたかを特定する。また、制御部８は、計測部５による計測データと、ＣＣＤカメラ４ｂによって出力された輝度信号とに基づいて、欠陥部Ｘの位置を特定し、その特定結果（以下、「検出結果」ともいう）を特定可能なデータを記憶部９に記憶させると共に、特定した位置に応じて、検査結果表示画面３０の検査結果表示部３１に欠陥部表示Ｘｉを表示させる。この場合、検査結果表示画面３０の検査結果表示部３１が本発明におけるテープ体表示に相当し、検査結果表示部３１内に表示される欠陥部表示Ｘｉが本発明における表面欠陥表示に相当する。
【００３０】
一方、磁気テープ１０の表面１０ａに欠陥部Ｘが存在しないときには、検査光照射部４ａから照射された検査光Ｌａが磁気テープ１０によって殆ど乱反射されずに、ＣＣＤカメラ４ｂによって出力される輝度信号が所定の基準値以下となる。したがって、この際には、制御部８は、非検査領域Ａ１１および検査領域Ａ１２，Ａ１３のいずれの部位にも磁気テープ１０に欠陥部Ｘが存在しないと判別する。このように、検査光Ｌａの照射、反射光Ｌｂの受光位置の特定（欠陥部Ｘの位置の特定）、および欠陥部Ｘの存在位置の記憶部９の記憶を磁気テープ１０の長手方向全域について実行することにより、欠陥部Ｘの検出処理が完了する。
【００３１】
次に、制御部８は、記憶部９に記憶されている検出結果（欠陥部Ｘが検出された検出位置に関するデータ）に基づいて、検出された各欠陥部Ｘが非検査領域Ａ１１，Ａ１１、検査領域Ａ１２，Ａ１２および検査領域Ａ１３のいずれに位置するかを各ブロックＢ毎に特定する。この際に、非検査領域Ａ１１，Ａ１１（すなわち、非記録領域）において検出された欠陥部Ｘについては、磁気テープ１０に対する記録データの記録再生に影響を及ぼさないため、制御部８は、非検査領域Ａ１１で検出された欠陥部Ｘを判別処理の対象外とする。また、制御部８は、検出された欠陥部Ｘが「Ｓ欠陥」、「Ｍ欠陥」および「Ｌ欠陥」のいずれに該当するかを判別する。次いで、制御部８は、各検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３毎に、検出した欠陥部Ｘの数を計数する。この際に、前述した検査条件設定画面２０において設定した判別条件（検査条件）を超える数の欠陥部Ｘが検出されたときには、制御部８は、その検査領域Ａ１２，Ａ１３を不良と判別する。また、判別条件を超える数の欠陥部Ｘが検出されなかったときには、制御部８は、その検査領域Ａ１２，Ａ１３を良好と判別する。この際に、制御部８は、各検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３毎の良否判別結果をそのブロックＢに関連付けて記憶部９に記憶させる。
【００３２】
さらに、制御部８は、１つのブロックＢにおける検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３のうちのいずれかを不良と判別したときには、制御部８は、そのブロックＢ全体を不良と判別する。具体的には、例えば図８に示すブロックＢａのように、検査開始前に設定した判別条件を超える数の欠陥部Ｘが検査領域Ａ１２，Ａ１２内で検出され（この場合、「Ｍ欠陥」が１１個以上、または「Ｌ欠陥」が３個以上とする）、判別条件を超える数の欠陥部Ｘが検査領域Ａ１３内で検出されたとき（この場合、「Ｍ欠陥」が６個以上、または「Ｌ欠陥」が２個以上とする）には、そのブロックＢａを不良と判別する。また、例えばブロックＢｂのように、検査領域Ａ１３内で検出された欠陥部Ｘの数が判別条件の範囲内であったとしても、判別条件を超える数の欠陥部Ｘが検査領域Ａ１２，Ａ１２内で検出されたときには、そのブロックＢｂを不良と判別する。さらに、例えばブロックＢｃのように、検査領域Ａ１２，Ａ１２内で検出された欠陥部Ｘの数が判別条件の範囲内であったとしても、判別条件を超える数の欠陥部Ｘが検査領域Ａ１３内で検出されたときには、そのブロックＢｃを不良と判別する。一方、例えばブロックＢｄのように、検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３のすべてにおいて、検出された欠陥部Ｘの数が判別条件の範囲内のときには、そのブロックＢｄを良好と判別する。この際に、制御部８は、各ブロックＢ，Ｂ・・毎の良否判別の結果を記憶部９に記憶させる。なお、同図および図９では、不良のブロックＢを「×」で示し、良好なブロックＢを「○」で示している。この後、制御部８は、すべてのブロックＢ，Ｂ・・についても同様の判別処理を実行して、その判別結果を記憶部９に記憶させる。
【００３３】
続いて、制御部８は、連続するブロックＢ，Ｂ・・における各検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３毎の欠陥部Ｘの検出数に基づいて、検出数の平均値を演算し、演算結果が判別条件を超えるブロックＢ，Ｂ・・を不良と判別する。具体的には、連続する１００個のブロックＢ，Ｂ・・について、その検査領域Ａ１２，Ａ１２内で検出された欠陥部Ｘの数の平均値が判別条件を超えるとき（この場合、「Ｓ欠陥」の平均値が５個よりも多いとき、「Ｍ欠陥」の平均値が０．０８個よりも多いとき、および「Ｌ欠陥」の平均値が０．０２個よりも多いときのいずれかとする）には、その１００個のブロックＢ，Ｂ・・のすべてを不良と判別する。また、連続する１００個のブロックＢ，Ｂ・・について、その検査領域Ａ１３内で検出された欠陥部Ｘの数の平均値が判別条件を超えるとき（この場合、「Ｓ欠陥」の平均値が３個よりも多いとき、「Ｍ欠陥」の平均値が０．０６個よりも多いとき、および「Ｌ欠陥」の平均値が０．０１個よりも多いときのいずれかとする）には、その１００個のブロックＢ，Ｂ・・のすべてを不良と判別する。この際に、各ブロックＢ単体についての良否判別に際して欠陥部Ｘの検出数が判別条件の範囲内と判別された（良好と判別された）検査領域Ａ１２，Ａ１３であっても、平均値が判別条件を超えているときには、そのブロックＢを不良として確定する。一方、連続する１００個のブロックＢ，Ｂ・・について、その検査領域Ａ１３内で検出された欠陥部Ｘの数の平均値が判別条件の範囲内のときには、各ブロックＢ単体についての判別結果（各ブロックＢ内の欠陥部Ｘの検出数に基づく判別結果）を最終的な判別結果として確定する。これにより、各ブロックＢ，Ｂ・・の良否判別が完了する。
【００３４】
次いで、制御部８は、記憶部９に記憶させた各ブロックＢ，Ｂ・・についての判別結果に基づいて、テープカセット用の磁気テープとして使用可能な長さＬ２の間に不良のブロックＢが存在するか否かを判別する。この際に、図９に示すように、制御部８は、長さＬ２の間に存在する複数のブロックＢ，Ｂ・・のすべてが良好のときは、その長さＬ２の部位が良品であると判別して判別結果を磁気テープ１０に関連付けて記憶部９に記憶させる。また、制御部８は、例えば、長さＬ２の間に存在する複数のブロックＢ，Ｂ・・のうちの少なくとも１つが不良のときには、その長さＬ２の部位が不良（記録媒体として使用不可能）と判別して、その判別結果を磁気テープ１０に関連付けて記憶部９に記憶させる。
【００３５】
この場合、磁気テープ１０は、その記録可能容量が相違する複数種類のテープカセットに使用可能な磁気テープであって、その記憶可能容量に応じて、一例として、１２４０ｍ、９４０ｍ、６３０ｍ、３３０ｍ、２９０ｍの５種類の長さＬ２のいずれかに裁断される。したがって、制御部８は、検査が完了した磁気テープ１０を５種類の長さＬ２で裁断した際に、各種長さＬ２で裁断したときの磁気テープがそれぞれ良品か不良品かを特定可能に検査結果を表示する。具体的には、制御部８は、図１０に示す検査結果表示画面４０を表示部７に表示させると共に、その検査結果表示部４１に、磁気テープ１０を示す磁気テープ表示４２と、裁断後の磁気テープを示す磁気テープ表示４２ａ，４２ａ・・とを表示させる。この場合、磁気テープ表示４２には、前述した各ブロックＢ，Ｂ・・の良否判別処理において不良と判別したブロックＢを示す欠陥部表示Ｘｂ，Ｘｂ・・が表示される。また、磁気テープ表示４２ａ，４２ａ・・は、磁気テープ１０を各種長さＬ２に裁断した状態を模して表示され、欠陥部表示Ｘｂに対応する部位を含む磁気テープ表示４２ａ（すなわち、磁気テープとしての使用が困難な部位）と、欠陥部表示Ｘｂに対応する部位を含まない磁気テープ表示４２ａ（すなわち、磁気テープとしての使用が可能な部位）とが色分けされて表示される。
【００３６】
この場合、制御部８は、裁断後の磁気テープの型名およびその全長（上記の長さＬ２）を「ＥＸＣ１２４ＬＴ（１２４０ｍ）」、「ＥＸＣ９４ＬＴ（９４０ｍ）」および「ＥＸＣ６３ＭＴ（６３０ｍ）」などのように各磁気テープ表示４２ａ，４２ａ・・に対応させてその左覧にそれぞれ表示させる。また、制御部８は、磁気テープ１０を各種長さＬ２に裁断する場合に、その磁気テープ１０から製造可能な磁気テープの本数（テープ取り可能な本数）を各磁気テープ表示４２ａ，４２ａ・・に対応させてその右側にそれぞれ表示させる。なお、同図では、例えば、磁気テープ１０を１２４０ｍ（「ＥＸＣ１２４ＬＴ」）に裁断する場合には、２本の磁気テープを製造可能であるが、欠陥部表示Ｘｂの存在によって２本とも磁気テープとしての使用が困難で、磁気テープ１０を９４０ｍ（「ＥＸＣ９４ＬＴ」）に裁断する場合には、３本製造可能であるが欠陥部表示Ｘｂの存在によってそのうちの１本が磁気テープとしての使用が困難である旨が表示されている。これにより、検査装置１による磁気テープ１０についての検査結果が表示されて検査が完了する。
【００３７】
このように、この検査装置１によれば、制御部８が、表面検査部４によって検出された各検査領域Ａ１２，Ａ１３毎の欠陥部Ｘの数（検出結果）と、各検査領域Ａ１２，Ａ１３毎の良否判別基準（検査条件設定画面２０において設定した各検査基準値）とに基づいて各検査領域Ａ１２，Ａ１３毎に磁気テープ１０の良否を判別するように構成したことにより、磁気テープ１０の使用目的に合致する良否判別基準を各検査領域Ａ１２，Ａ１３毎にきめ細やかに適宜設定することができる。このため、使用上問題とならない表面欠陥の存在に起因して画一的に不良として扱われる事態を回避して、使用目的によっては問題とならない表面欠陥が存在する磁気テープ１０を有効利用することができる。したがって、使用上問題となる表面欠陥を確実に検出することができる一方、磁気テープ１０を材料とするテープカセット（情報記録媒体）の製造歩留まりを十分に向上させることができる。
【００３８】
また、この検査装置１によれば、表示部７に検査条件設定画面２０を表示させて本発明における良否判別基準を変更操作可能に構成したことにより、検査対象の磁気テープ１０の種類や、その使用目的に合致する良否判別基準を自在に変更することができるため、１つの良否判別基準に基づいて磁気テープ１０の良否を判別する方式と比較して、その歩留まりを一層向上させることができる。
【００３９】
さらに、この検査装置１によれば、磁気テープ１０における欠陥部Ｘの検出位置を特定可能に磁気テープ１０を模したテープ体表示と欠陥部Ｘを模した欠陥部表示Ｘｉとを表示部７に表示させることにより、磁気テープ１０のいずれの部位に欠陥部Ｘが存在するかを直感的に認識させることができる。
【００４０】
また、この検査装置１によれば、磁気テープ１０を長手方向において所定寸法で裁断して製造される各磁気テープ（リールに巻回される磁気テープ）のそれぞれの良否を特定可能に磁気テープ１０の良否についての判別結果を示す検査結果表示画面４０を表示部７に表示させることにより、検査が完了した磁気テープ１０を裁断する際に、裁断後の磁気テープのうちのいずれの磁気テープが不良なのかを確実に認識させることができる。
【００４１】
なお、本発明は、上記した本発明の実施の形態に限定されない。例えば、本発明の実施の形態では、磁気テープ１０をその幅方向において５つの領域（非検査領域Ａ１１，Ａ１１、検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３）に仮想的に分割して良否を判別する構成について説明したが、これに限定されず、５つ未満または６つ以上に分割することができる。また、本発明の実施の形態では、検査領域Ａ１３についての判別基準を検査領域Ａ１２よりも高く（厳しく）設定して良否判別する例について説明したが、本発明はこれに限定されず、良否判別基準の高低についても任意に変更が可能である。さらに、本発明の実施の形態では、欠陥部Ｘの検出結果（検査結果表示画面３０）および磁気テープ１０の良否判別結果（検査結果表示画面４０）を表示部７に表示させる例について説明したが、本発明はこれに限定されず、検査結果表示画面３０，４０と同様の情報を印刷可能なプリンタを採用して検出結果具現部および判別結果具現部を構成することができる。
【００４２】
【発明の効果】
以上のように、本発明に係るテープ体検査装置によれば、欠陥検出部によって検出された各検査領域毎の表面欠陥の検出結果と、各検査領域毎の良否判別基準とに基づいて各検査領域毎にテープ体の良否を判別することにより、テープ体の使用目的に合致する良否判別基準を各検査領域毎にきめ細やかに適宜設定することができる。このため、使用上問題とならない表面欠陥の存在に起因して画一的に不良として扱われる事態を回避して、使用目的によっては問題とならない表面欠陥が存在するテープ体を有効利用することができる。したがって、使用上問題となる表面欠陥を確実に検出することができる一方、テープ体を材料とするテープカセット（情報記録媒体）等の製造歩留まりを十分に向上させることができる。
【００４３】
また、本発明に係るテープ体検査装置によれば、良否判別基準を変更操作可能に構成したことにより、検査対象のテープ体の種類や、その使用目的に合致する良否判別基準を自在に変更することができるため、１つの良否判別基準に基づいてテープ体の良否を判別する方式と比較して、その歩留まりを一層向上させることができる。
【００４４】
さらに、本発明に係るテープ体検査装置によれば、テープ体における表面欠陥の検出位置を特定可能にテープ体を模したテープ体表示と表面欠陥を模した表面欠陥表示とを検査結果出力部に表示または印刷させることにより、テープ体のいずれの部位に表面欠陥が存在するかを直感的に認識させることができる。
【００４５】
また、本発明に係るテープ体検査装置によれば、テープ体を長手方向において所定寸法で裁断して製造する複数の情報記録媒のそれぞれの良否を特定可能にテープ体の良否についての判別結果を検査結果出力部に表示または印刷させることにより、検査が完了したテープ体を裁断する際に、裁断後のテープ体のうちのいずれのテープ体が不良なのかを確実に認識させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る検査装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】検査装置１の支持機構３および表面検査部４と磁気テープ１０との位置関係を示す側面図である。
【図３】支持具１４の壁部１４ｂ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｃと、表面検査部４の検査光照射部４ａによる検査光Ｌａの照射位置（領域Ａ１）およびＣＣＤカメラ４ｂによる撮像位置（領域Ａ２）との関係を示す平面図である。
【図４】検査装置１による磁気テープ１０の検査時に規定される非検査領域Ａ１１，Ａ１１および検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３を示す平面図である。
【図５】検査装置１の検査対象である磁気テープ１０を複数のブロックＢ，Ｂ・・に仮想的に分割した状態の説明図である。
【図６】検査条件（判別条件）を設定（変更）するための検査条件設定画面２０の表示画面図である。
【図７】検査装置１による検査結果を表示するための検査結果表示画面３０の表示画面図である。
【図８】検査領域Ａ１２，Ａ１２における欠陥部Ｘの有無および検査領域Ａ１３における欠陥部Ｘの有無と、磁気テープ１０の各ブロックＢ，Ｂ・・の良否との関係を示す説明図である。
【図９】磁気テープ１０の各ブロックＢ，Ｂ・・の良否を示す説明図である。
【図１０】検査装置１による検査結果を表示するための検査結果表示画面４０の表示画面図である。
【符号の説明】
１ テープ体検査装置
２ 移動機構
３ 支持機構
４ 表面検査部
４ａ 検査光照射部
４ｂ ＣＣＤカメラ
５ 計測部
６ 操作部
７ 表示部
８ 制御部
９ 記憶部
１０ 磁気テープ
１０ａ 表面
１４ テープ支持具
２０ 検査条件設定画面
２１ テープ品種名入力部
２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂ 検査条件入力部
３０，４０ 検査結果表示画面
３１，４１ 検査結果表示部
４２，４２ａ 磁気テープ表示
Ａ１１ 非検査領域
Ａ１２，Ａ１３ 検査領域
Ｂ ブロック
Ｌａ 検査光
Ｌｂ 反射光
Ｘ 欠陥部
Ｘｂ，Ｘｉ 欠陥部表示
【発明の属する技術分野】
本発明は、テープ体の表面欠陥を検査可能に構成されたテープ体検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
この種のテープ体検査装置として、出願人は、特願２００３−０９６７２８に表面欠陥検出装置１０を提案している。この表面欠陥検出装置１０は、磁気テープ１２（磁気記録媒体）の表面に直径１０μｍ程度よりも大きい表面欠陥（傷、剥離部および付着物）が存在するか否かを検査する検査装置であって、同出願の図１に示すように、磁気テープ１２に光Ｌａ，Ｌｂ（以下、「光Ｌ」ともいう）を照射すると共にその反射光（散乱光）に基づいて表面欠陥の有無を検査可能に構成されている。この表面欠陥検出装置１０では、まず、支持装置１４の円筒状ガイド部材２６Ａ，２６Ｂの間に磁気テープ１２を張架する。この際に、円筒状ガイド部材２６Ａ，２６Ｂによって磁気テープ１２が平坦（平面状）となるように支持される。次に、円筒状ガイド部材２６Ａ，２６Ｂに形成された多数のエア吹出し細孔２７，２７・・（同出願の図３参照）から圧縮空気を吐出させつつ、磁気テープ１２をその長手方向に沿って移動させる。この際に、エア吹出し細孔２７から吐出された圧縮空気によって円筒状ガイド部材２６Ａ，２６Ｂの周面と磁気テープ１２との間に空気の層が形成されて、磁気テープ１２が円筒状ガイド部材２６Ａ，２６Ｂに対して非接触の状態で移動させられる。
【０００３】
次に、磁気テープ１２における円筒状ガイド部材２６Ａ，２６Ｂの間に張架されている領域内（光源像領域１８Ａ，１８Ｂ）に向けて検査光照射装置２０から検査用の光Ｌを照射する。同時に、光源像領域１８Ａ，１８Ｂの間に規定された帯状検査領域２２Ａを含む領域をＣＣＤラインカメラ２２によって撮像する。この場合、この表面欠陥検出装置１０では、検査光照射装置２０によって照射されて磁気テープ１２によって反射された正反射光がＣＣＤラインカメラ２２に入光しないように、磁気テープ１２に対する検査光照射装置２０およびＣＣＤラインカメラ２２の光軸と位置とが規定されている。したがって、磁気テープ１２に表面欠陥が存在しないときには、光源像領域１８Ａ，１８Ｂに向けて照射した光Ｌの大半がＣＣＤラインカメラ２２に入光しないため、ＣＣＤラインカメラ２２によって出力される輝度信号が所定の輝度レベル以下となる。したがって、この際には、判定装置２４が、ＣＣＤラインカメラ２２によって出力された輝度信号に基づいて、磁気テープ１２に表面欠陥が存在しないと判定する。
【０００４】
一方、磁気テープ１２に表面欠陥が存在するときには、検査光照射装置２０によって照射された光Ｌが表面欠陥によって乱反射され、その反射光（散乱光）の一部がＣＣＤラインカメラ２２に入光する。この結果、ＣＣＤラインカメラ２２によって出力される輝度信号が所定の輝度レベルを超える。したがって、この際には、判定装置２４が、ＣＣＤラインカメラ２２によって出力された輝度信号に基づいて、磁気テープ１２に表面欠陥が存在すると判定する。この判定処理を磁気テープ１２の全域に亘って実行することにより、磁気テープ１２の良否（表面欠陥の有無）が検査される。
【０００５】
【先行出願１】
特願２００３−０９６７２８（図１）
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、出願人が提案している表面欠陥検出装置１０には、以下の改善すべき課題がある。すなわち、この表面欠陥検出装置１０では、磁気テープ１２の幅方向全域を含んで規定した光源像領域１８Ａ，１８Ｂに検査用の光Ｌを照射すると共に、帯状検査領域２２Ａを撮像しているＣＣＤラインカメラ２２によって出力される輝度信号に基づいて、磁気テープ１２に表面欠陥が存在するか否かを検査し、その検査結果（検出した表面結果の数）が所定の基準範囲内のときに磁気テープ１２を良品と判別している。一方、検査対象の磁気テープ１２等には、磁気テープをその幅方向において仮想的に分割した複数のデータ記録領域が規定されて、各データ記録領域毎に異なる種類の記録データが記録される。具体的には、一例として、磁気テープの幅方向の両端側において映像データを記録可能にそれぞれ規定された２つの端部記録領域と、幅方向の中央部において音声データを記録可能に規定された中央部記録領域との３つのデータ記録領域を有する磁気テープが存在する。
【０００７】
この場合、磁気テープの表面欠陥に起因して記録データの一部を正常に書き込みまたは読み取りできなかったとしても、映像データについては、データの欠落部分（書き込みまたは読み取りができなかった部分）に対する補完処理等によって比較的容易にほぼ正常な再生が可能となる。これに対して、音声データについては、データの欠落部分に対する補完処理等が困難のため、欠落部分を正常に再生するのが非常に困難となっている。したがって、この例では、音声データが記録される中央部記録領域に対しては、その良否判別の判別基準を高く設定して（良品と判別する基準を高くして）、記録再生時における音声データの部分的な書き込みエラーおよび読み取りエラーの発生を回避する必要がある。しかし、音声データの部分的な書き込みエラーおよび読み取りエラーの発生を回避可能な判別基準で磁気テープの表面全域を検査（良否判別）する場合、ほぼ正常な映像の再生が可能な程度の極く小さな表面欠陥（または、極く少数の表面欠陥）が端部記録領域に存在するときにも、その表面欠陥の存在部位が不良と判別される。このため、磁気テープ１２の幅方向全域に対して同一の判別基準でその良否を判別している従来の表面欠陥検出装置１０では、使用上問題とならない表面欠陥が存在する部位を不良として扱うことに起因して、その分だけ不良率が高くなって製造歩留まりが低くなり、これを改善するのが好ましい。
【０００８】
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、使用上問題な表面欠陥を確実に検出しつつ、テープ体を原材料とする情報記録媒体の製造歩留まりを向上し得るテープ体検査装置を提供することを主目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成すべく本発明に係るテープ体検査装置は、情報記録媒体用のテープ体をその長手方向に沿って移動させる移動機構と、前記テープ体の表面に検査用の光を照射する光照射部と、当該光照射部によって照射されて前記テープ体の表面で反射された散乱光を受光して光検出信号を出力する受光部と、当該出力された光検出信号に基づいて前記テープ体の表面欠陥を検出する欠陥検出部と、当該欠陥検出部による検出結果に基づいて前記テープ体の良否を判別する判別部と、前記テープ体をその幅方向において仮想的に分割した複数の検査領域毎に規定された良否判別基準を記憶する記憶部とを備え、前記判別部は、前記欠陥検出部によって検出された前記各検査領域毎の前記表面欠陥の検出結果と、前記記憶されている前記各検査領域毎の良否判別基準とに基づいて当該各検査領域毎に前記テープ体の良否を判別する。
【００１０】
この場合、前記良否判別基準を変更操作可能に構成すると共に、変更操作後の前記良否判別基準を記憶可能に前記記憶部を構成するのが好ましい。
【００１１】
また、前記欠陥検出部の検出結果を具現化する検出結果具現部を備え、前記欠陥検出部が前記テープ体における前記表面欠陥の検出位置を特定可能に当該テープ体を模したテープ体表示と当該表面欠陥を模した表面欠陥表示とを前記検出結果具現部に具現化させるのが好ましい。
【００１２】
さらに、前記判別部の判別結果を具現化する判別結果具現部を備え、前記判別部が前記テープ体を前記長手方向において所定寸法で裁断して製造される各情報記録媒体のそれぞれの良否を特定可能に前記テープ体の良否についての判別結果を前記判別結果具現部に具現化させるのが好ましい。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して、本発明に係るテープ体検査装置の実施の形態について説明する。
【００１４】
最初に、テープ体検査装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１５】
テープ体検査装置（以下、「検査装置」ともいう）１は、図１に示すように、移動機構２、支持機構３、表面検査部４、計測部５、操作部６、表示部７、制御部８および記憶部９を備えて磁気テープ１０の良否を検査可能に構成されている。この場合、磁気テープ１０は、本発明におけるテープ体の一例であって、支持体としてのベースフィルムと、ベースフィルムの表面に形成された磁性層（以下、磁性層の形成面を「表面１０ａ」ともいう）と、ベースフィルムの裏面に形成されたバックコート層とを備え、一例として、厚みが１０μｍ程度、幅が１３ｍｍ程度、長さが３０００ｍ程度に形成されている。また、この磁気テープ１０では、幅２ｍｍ程度の非記録領域がその両端部に規定されている。さらに、磁気テープ１０では、その幅方向における両端側（非記録領域の内側）に映像データを記録可能にそれぞれ規定された２つの端部記録領域と、幅方向における中央部に音声データを記録可能に規定された中央部記録領域との３つのデータ記録領域が規定されている。また、この磁気テープ１０は、検査装置１による検査が完了した後には、記録再生装置による各種の記録データの記録再生が可能にテープリールに巻回されてカセットケースに収容される。
【００１６】
移動機構２は、図１に示すように、検査対象の磁気テープ１０が巻回された送り側リール２ａと、テープ検査装置１による検査が完了した磁気テープ１０を巻回する巻取り側リール２ｂと、両リール２ａ，２ｂを回転させることによって磁気テープ１０をその長手方向（同図に示す矢印の向き）に移動させるモータ（図示せず）とを備えて構成されている。この場合、移動機構２は、制御部８の制御下で、一例として毎秒５ｍの速度で磁気テープ１０を高速移動させる。支持機構３は、図２に示すように、テンション機構１１，１１、エアガイド１３，１３およびテープ支持具１４を備え、磁気テープ１０に所定の張力を付与しつつ支持する。テンション機構１１は、ローラ１２ａ，１２ａ，１２ｂを備えて、磁気テープ１０に張力を付与することによって検査時における弛みの発生を回避する。具体的には、ローラ１２ａ，１２ａ間に張架された磁気テープ１０をローラ１２ｂによって同図の下方に引き下げることによって磁気テープ１０に張力を付与する。エアガイド（以下、「ガイド」ともいう）１３は、その表面に多数のエア吐出し細孔が形成されて構成され、図外のエア供給部から供給されるエア（圧縮空気）を吐出して磁気テープ１０との間に空気の層を形成することにより、テープ支持具１４と相俟って磁気テープ１０を非接触の状態で支持する。また、ガイド１３は、テンション機構１１によって磁気テープ１０に張力が付与されて空気の層を介して磁気テープ１０がガイド１３に押し付けられることにより、磁気テープ１０に生じた振動を吸収して下流側への伝搬を回避する。
【００１７】
テープ支持具（以下、「支持具」ともいう）１４は、ベース部１４ａと、ベース部１４ａに立設された壁部１４ｂ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｃとを備えて、全体としてセラミックによって一体形成されている。壁部１４ｂ，１４ｂは、一例として、その厚みが１．５ｍｍの壁状に形成されて、２．５ｍｍ程度だけ離間して互いに対向するようにして配置されている。また、壁部１４ｂは、その先端面（同図では上端面）が平坦に形成されると共にその先端面と側面との角部が面取りされて、磁気テープ１０の幅方向に沿った線状の領域（壁部１４ｂの厚み（１．５ｍｍ）と同幅で線状の平面視長方形の領域）に当接可能に構成されている。一方、壁部１４ｃ，１４ｃは、一例として、その厚みが１．５ｍｍの壁状に形成されている。この場合、各壁部１４ｃは、壁部１４ｂに対して、一例として、１．６ｍｍ程度だけ離間するように、その各壁面が壁部１４ｂ，１４ｂの各壁面と対向するようにして配置されている。また、壁部１４ｃは、壁部１４ｂと同様にして、その先端面が平坦に形成されると共に、先端面と側面との角部が面取りされて、磁気テープ１０の幅方向に沿った線状の領域（壁部１４ｃの厚み（１．５ｍｍ）と同幅で線状の平面視長方形の領域）に当接可能に構成されている。さらに、壁部１４ｃは、壁部１４ｂと比較して、一例として０．２ｍｍだけ低背に形成されている。
【００１８】
表面検査部４は、磁気テープ１０の表面１０ａに例えば直径１０μｍよりも大きい欠陥部Ｘ（傷、剥離部および付着物：図４参照）が存在するか否かを光学的に検査する。この表面検査部４は、図２に示すように、検査光照射部４ａおよびＣＣＤカメラ４ｂを備えて構成されている。検査光照射部４ａは、本発明における光照射部に相当し、ハロゲンランプ、高輝度ＬＥＤ、ナトリウムランプおよびレーザダイオード等で構成されると共に、制御部８の制御下で支持具１４の壁部１４ｂ，１４ｂ間に張架された磁気テープ１０の表面１０ａに検査光Ｌａを照射する。この場合、本発明の実施の形態では、高輝度で、しかも調光が容易なハロゲンランプによって検査光照射部４ａが構成されて、磁気テープ１０の表面１０ａに規定された線状の領域Ａ１（図３参照）に検査光Ｌａを照射する。
【００１９】
ＣＣＤカメラ４ｂは、本発明における受光部に相当し、磁気テープ１０の表面１０ａに規定された線状の領域Ａ２（図３参照）を撮像することにより、検査光照射部４ａによって照射されて磁気テープ１０の表面１０ａで反射された反射光Ｌｂ（散乱光）を受光して輝度信号（本発明における光検出信号）を出力する。具体的には、ＣＣＤカメラ４ｂは、検査光照射部４ａによって検査光Ｌａが照射された領域Ａ１の近傍である領域Ａ２を撮像する。この際に、磁気テープ１０に欠陥部Ｘが存在するときには、検査光照射部４ａによって照射された検査光Ｌａが欠陥部Ｘによって乱反射されて、その反射光Ｌｂ（散乱光）の一部がＣＣＤカメラ４ｂに入光する。この場合、この表面検査部４では、検査光照射部４ａによって照射されて磁気テープ１０の表面１０ａで反射された正反射光がＣＣＤカメラ４ｂに入光しないように、検査光照射部４ａによる検査光Ｌａの照射位置（領域Ａ１）およびその照射角度と、ＣＣＤカメラ４ｂによる撮像位置（領域Ａ２）およびＣＣＤカメラ４ｂの表面１０ａに対する設置角度とが規定されている。したがって、磁気テープ１０の表面１０ａに欠陥部Ｘが存在しないときには、検査光照射部４ａから照射した検査光Ｌａの大半がＣＣＤカメラ４ｂに入光しないため、ＣＣＤカメラ４ｂによって出力される輝度信号が所定の輝度レベル以下となる。逆に、磁気テープ１０の表面１０ａに欠陥部Ｘが存在するときには、検査光照射部４ａから照射した検査光Ｌａの一部が乱反射されてその一部がＣＣＤカメラ４ｂに入光するため、ＣＣＤカメラ４ｂによって出力される輝度信号が所定の輝度レベルを超えることとなる。
【００２０】
計測部５は、移動機構２によって移動させられた磁気テープ１０の移動距離（すなわち、表面検査部４による検査が完了して巻取り側リール２ｂに巻回された磁気テープ１０の長さ）を計測する。操作部６は、一例として、キーボードおよびマウスを備えて後述する検査条件の入力操作（本発明における変更操作）などが可能に構成されている。表示部７は、本発明における検出結果具現部および判別結果具現部に相当し、制御部８の制御下で、検査条件設定画面２０（図６参照）および検査結果表示画面３０，４０（図７，１０参照）などを表示する（本発明における具現化の一例）。制御部８は、移動機構２を制御して磁気テープ１０を高速移動させると共に、表面検査部４を制御して磁気テープ１０の表面１０ａに対する検査光Ｌａの照射および反射光Ｌｂの受光を実行させる。また、制御部８は、本発明における欠陥検出部および判別部を構成し、表面検査部４のＣＣＤカメラ４ｂによって出力された輝度信号（ＣＣＤカメラ４ｂによる散乱光の受光状態）に基づいて磁気テープ１０の表面１０ａに欠陥部Ｘが存在するか否かを検出すると共に、その検出結果に基づいて磁気テープ１０の良否を判別する。
【００２１】
また、図４に示すように、制御部８は、磁気テープ１０をその幅方向において仮想的に分割して、非検査領域Ａ１１，Ａ１１および検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３の５つの領域を規定し、各領域毎にその良否を判別する。この場合、非検査領域Ａ１１が前述した非記録領域に対応して規定され、検査領域Ａ１２が端部記録領域に対応して規定され、検査領域Ａ１３が中央部記録領域に対応して規定される。さらに、図５に示すように、この検査装置１では、磁気テープ１０をその長手方向に沿って、その長さＬ１が１ｍ程度の複数のブロックＢ，Ｂ・・に仮想的に分割して、制御部８が、各ブロックＢ，Ｂ・・を良否判別の単位として検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３を検査（良否を判別）する。さらに、制御部８は、各ブロックＢ，Ｂ・・毎の良否判別の結果（判別結果）をその磁気テープ１０に関連付けて記憶部９に記憶させると共に表示部７に表示させる。また、検査装置１は、実際には、送り側リール２ａに巻回されている磁気テープ１０をテンション機構１１に案内する各種のローラー等、検査が完了した磁気テープ１０をテンション機構１１から巻取り側リール２ｂに案内する各種のローラー等、および磁気テープ１０をクリーニングするクリーナーなどを備えているが、本発明についての理解を容易とするために、これらについての説明および図示を省略する。
【００２２】
次に、検査装置１による磁気テープ１０の検査方法について、図面を参照して説明する。なお、磁気テープ１０の幅方向におけるいずれの部位を非検査領域Ａ１１とし、いずれの部位を検査領域Ａ１２，Ａ１３とするかについては、既に規定されているものとする。
【００２３】
まず、操作部６を操作して図６に示す検査条件設定画面２０を表示部７に表示させて、磁気テープ１０の検査に関する条件（磁気テープ１０の良否を判別するための判別条件）を設定する。この検査条件設定画面２０には、検査対象の磁気テープの品種名を入力（選択）するためのテープ品種名入力部２１と、検査領域Ａ１２についての検査条件（良否判別についての判別条件）を入力するための端部検査領域条件入力部２２と、検査領域Ａ１３についての検査条件を入力するための中央部検査領域条件入力部２３とが表示される。この場合、この検査装置１では、同一品種の磁気テープに対して、この検査条件設定画面２０において入力した（設定した）２種類の検査基準（基準Ａ，Ｂ）のいずれかに基づいて磁気テープを検査可能に構成されている。したがって、検査条件設定画面２０の端部検査領域条件入力部２２および中央部検査領域条件入力部２３には、基準Ａの検査基準値（本発明における良否判別基準）を入力する検査条件入力部２２ａ，２３ａと、基準Ｂの検査基準値（本発明における良否判別基準）を入力する検査条件入力部２２ｂ，２３ｂとが用意されている。なお、検査条件設定画面２０における表示「Ｓ欠陥」「Ｍ欠陥」「Ｌ欠陥」は、それぞれ「比較的小さな欠陥（Ｓサイズ）」「やや大きい欠陥（Ｍサイズ）」「比較的大きな欠陥（Ｌサイズ）」を意味し、図示しない欠陥種別設定用画面においてその大きさについての基準値が規定されている。以下、「Ｓサイズの欠陥」「Ｍサイズの欠陥」「Ｌサイズの欠陥」をそれぞれ「Ｓ欠陥」「Ｍ欠陥」「Ｌ欠陥」ともいう。
【００２４】
また、検査条件設定画面２０における表示「平均上限値」の右側に位置する検査条件入力部２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂには、例えば連続する１００個のブロックＢ，Ｂ・・について、その欠陥部Ｘの検出数の平均値に対する許容値（良好であると判別する欠陥部Ｘの検出数についての平均値の上限値）が入力される。さらに、表示「上限値」の右側に位置する検査条件入力部２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂには、１つのブロックＢに対して許容する欠陥部Ｘの検出数（良好であると判別する欠陥部Ｘの検出数の上限値）が入力される。したがって、同図の端部検査領域条件入力部２２における表示「Ｌ欠陥 平均上限値（基準Ａ）」の右側に位置する検査条件入力部２２ａに入力された数値「０．０２」は、連続する１００個のブロックＢ，Ｂ・・についてのＬサイズの欠陥部Ｘ（Ｌ欠陥）の検出数の平均値が０．０２個以下のときには、これら１００個のブロックＢ，Ｂ・・における検査領域Ａ１２を良好と判別することを意味する。また、表示「Ｌ欠陥 上限値（基準Ａ）」の右側に位置する検査条件入力部２２ａに入力された数値「２」は、各ブロックＢについて「Ｌ欠陥」の検出数が２個以下のときには、そのブロックＢにおける検査領域Ａ１２を良好と判別することを意味する。この場合、後述する検査処理では、「Ｓ欠陥」「Ｍ欠陥」および「Ｌ欠陥」のうちのいずれかの「平均上限値」または「上限値」が検査条件入力部２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂに入力されている値を超えたときに、対応するブロックＢの検査領域Ａ１２，Ａ１３を不良と判別する。したがって、操作部６を操作して、磁気テープ１０の使用目的に鑑みて、各検査条件入力部２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂに基準値を入力する。
【００２５】
具体的には、検査対象の磁気テープ１０は、前述したように、その端部記録領域に映像データが記録され、その中央部記録領域に音声データが記録される。したがって、中央部記録領域に対応する検査領域Ａ１３については比較的高い検査基準を設定（入力）し、端部記録領域に対応する検査領域Ａ１２については、検査領域Ａ１３についての検査基準よりもやや低めの検査基準を設定（入力）する。また、「Ｓ欠陥」については、各ブロックＢ，Ｂ・・中の存在数が少なかったとしても、連続するブロックＢ，Ｂ・・中の存在数の平均値が高いときには、記録データの記録再生時におけるエラーレートに影響を及ぼす。このため、１つのブロックＢ中に「Ｓ欠陥」が幾つ存在するかの検査よりも、連続するブロックＢ，Ｂ・・についての平均値が重要となる。したがって、この「Ｓ欠陥」については、その「上限値」を設定せずに「平均上限値」のみを設定しておくのが好ましい。続いて、同図に示すように、各検査条件入力部２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂに検査用の基準値を入力することにより、検査に関する条件（磁気テープ１０の良否を判別するための判別条件）の設定が完了する。この際に、制御部８は、設定された条件を特定可能なデータ（本発明における良否判別基準）を生成して記憶部９に記憶させる。
【００２６】
次に、検査条件設定画面２０において設定した検査条件に基づいて磁気テープ１０を検査する検査処理を開始する。この際には、まず、検査対象の磁気テープ１０が巻回された送り側リール２ａと、検査が完了した磁気テープ１０を巻回する巻取り側リール２ｂとを移動機構２に取り付ける。次に、送り側リール２ａから磁気テープ１０の先端部を引き出して、図２に示すように、テンション機構１１、表面検査部４およびテンション機構１１をこの順で通過するように磁気テープ１０をセットした後に、巻取り側リール２ｂに先端部を固定する。この際に、磁気テープ１０の表面１０ａには、エアガイド１３，１３が接触し、その裏面には、支持具１４が接触する。次いで、制御部８がエア供給部を制御して各ガイド１３からエアを吐出させる。この際に、吐出されたエアによって各ガイド１３と磁気テープ１０との間に空気の層が形成され、これにより、磁気テープ１０が各ガイド１３に対して非接触の状態で支持される。
【００２７】
続いて、制御部８は、移動機構２を制御して送り側リール２ａおよび巻取り側リール２ｂを回転させることにより、送り側リール２ａに巻回されている磁気テープ１０を巻取り側リール２ｂに巻回させる。この際に、テンション機構１１，１１によって磁気テープ１０に所定の張力が付与されているため、磁気テープ１０は、その表面１０ａが空気の層を介して各ガイド１３に押し付けられると共に、その裏面が支持具１４における壁部１４ｂ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｃに押し付けられた状態で送り側リール２ａから巻取り側リール２ｂに向けて移動させられる。この場合、この検査装置１では、磁気テープ１０が空気の層を介して各ガイド１３に押し付けられる構成のため、ガイド１３によって磁気テープ１０の表面１０ａが傷付けられる事態が回避されている。また、磁気テープ１０がガイド１３に対して非接触状態で支持されているため、ガイド１３の近傍における磁気テープ１０の摺動抵抗（移動抵抗）が極く小さくなっている。さらに、支持具１４における各壁部１４ｂ，１４ｃの先端面が平坦に形成されると共に、その先端面と側面との角部が面取りされているため、支持具１４によって磁気テープ１０の裏面が傷付けられる事態が回避されている。また、支持具１４の各壁部１４ｂ，１４ｃの厚みが１．５ｍｍ程度と薄厚のため、支持具１４によって支持されている部位において磁気テープ１０との間での摺動抵抗も極く小さくなっている。
【００２８】
次に、制御部８は、表面検査部４に対して磁気テープ１０の表面１０ａの検査を開始させる。この際に、制御部８は、図７に示す検査結果表示画面３０を表示部７に表示させて検査結果（検出した欠陥部Ｘを模した欠陥部表示Ｘｉ等）を表示させる。一方、表面検査部４は、まず、検査光照射部４ａが図３に示す領域Ａ１に対する検査光Ｌａの照射を開始すると共に、ＣＣＤカメラ４ｂが領域Ａ２の撮像を開始する。この際に、磁気テープ１０の表面１０ａに異物の付着や傷などの欠陥部Ｘが存在するときには、検査光照射部４ａによって領域Ａ１に照射された検査光Ｌａが欠陥部Ｘによって乱反射されて、この反射光Ｌｂ（散乱光）がＣＣＤカメラ４ｂに入光する。この結果、ＣＣＤカメラ４ｂによって出力される輝度信号が所定の輝度レベルを上回る。したがって、この際に、制御部８は、磁気テープ１０の表面１０ａに欠陥部Ｘが存在すると判別する。
【００２９】
この場合、ＣＣＤカメラ４ｂが磁気テープ１０の幅方向のいずれの部位で反射光Ｌｂが入光したかを特定可能な輝度信号を出力するため、制御部８は、ＣＣＤカメラ４ｂによって出力された輝度信号に基づいて、非検査領域Ａ１１および検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３のいずれの領域において、検査光Ｌａがどの程度反射されたかを特定する。また、制御部８は、計測部５による計測データと、ＣＣＤカメラ４ｂによって出力された輝度信号とに基づいて、欠陥部Ｘの位置を特定し、その特定結果（以下、「検出結果」ともいう）を特定可能なデータを記憶部９に記憶させると共に、特定した位置に応じて、検査結果表示画面３０の検査結果表示部３１に欠陥部表示Ｘｉを表示させる。この場合、検査結果表示画面３０の検査結果表示部３１が本発明におけるテープ体表示に相当し、検査結果表示部３１内に表示される欠陥部表示Ｘｉが本発明における表面欠陥表示に相当する。
【００３０】
一方、磁気テープ１０の表面１０ａに欠陥部Ｘが存在しないときには、検査光照射部４ａから照射された検査光Ｌａが磁気テープ１０によって殆ど乱反射されずに、ＣＣＤカメラ４ｂによって出力される輝度信号が所定の基準値以下となる。したがって、この際には、制御部８は、非検査領域Ａ１１および検査領域Ａ１２，Ａ１３のいずれの部位にも磁気テープ１０に欠陥部Ｘが存在しないと判別する。このように、検査光Ｌａの照射、反射光Ｌｂの受光位置の特定（欠陥部Ｘの位置の特定）、および欠陥部Ｘの存在位置の記憶部９の記憶を磁気テープ１０の長手方向全域について実行することにより、欠陥部Ｘの検出処理が完了する。
【００３１】
次に、制御部８は、記憶部９に記憶されている検出結果（欠陥部Ｘが検出された検出位置に関するデータ）に基づいて、検出された各欠陥部Ｘが非検査領域Ａ１１，Ａ１１、検査領域Ａ１２，Ａ１２および検査領域Ａ１３のいずれに位置するかを各ブロックＢ毎に特定する。この際に、非検査領域Ａ１１，Ａ１１（すなわち、非記録領域）において検出された欠陥部Ｘについては、磁気テープ１０に対する記録データの記録再生に影響を及ぼさないため、制御部８は、非検査領域Ａ１１で検出された欠陥部Ｘを判別処理の対象外とする。また、制御部８は、検出された欠陥部Ｘが「Ｓ欠陥」、「Ｍ欠陥」および「Ｌ欠陥」のいずれに該当するかを判別する。次いで、制御部８は、各検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３毎に、検出した欠陥部Ｘの数を計数する。この際に、前述した検査条件設定画面２０において設定した判別条件（検査条件）を超える数の欠陥部Ｘが検出されたときには、制御部８は、その検査領域Ａ１２，Ａ１３を不良と判別する。また、判別条件を超える数の欠陥部Ｘが検出されなかったときには、制御部８は、その検査領域Ａ１２，Ａ１３を良好と判別する。この際に、制御部８は、各検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３毎の良否判別結果をそのブロックＢに関連付けて記憶部９に記憶させる。
【００３２】
さらに、制御部８は、１つのブロックＢにおける検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３のうちのいずれかを不良と判別したときには、制御部８は、そのブロックＢ全体を不良と判別する。具体的には、例えば図８に示すブロックＢａのように、検査開始前に設定した判別条件を超える数の欠陥部Ｘが検査領域Ａ１２，Ａ１２内で検出され（この場合、「Ｍ欠陥」が１１個以上、または「Ｌ欠陥」が３個以上とする）、判別条件を超える数の欠陥部Ｘが検査領域Ａ１３内で検出されたとき（この場合、「Ｍ欠陥」が６個以上、または「Ｌ欠陥」が２個以上とする）には、そのブロックＢａを不良と判別する。また、例えばブロックＢｂのように、検査領域Ａ１３内で検出された欠陥部Ｘの数が判別条件の範囲内であったとしても、判別条件を超える数の欠陥部Ｘが検査領域Ａ１２，Ａ１２内で検出されたときには、そのブロックＢｂを不良と判別する。さらに、例えばブロックＢｃのように、検査領域Ａ１２，Ａ１２内で検出された欠陥部Ｘの数が判別条件の範囲内であったとしても、判別条件を超える数の欠陥部Ｘが検査領域Ａ１３内で検出されたときには、そのブロックＢｃを不良と判別する。一方、例えばブロックＢｄのように、検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３のすべてにおいて、検出された欠陥部Ｘの数が判別条件の範囲内のときには、そのブロックＢｄを良好と判別する。この際に、制御部８は、各ブロックＢ，Ｂ・・毎の良否判別の結果を記憶部９に記憶させる。なお、同図および図９では、不良のブロックＢを「×」で示し、良好なブロックＢを「○」で示している。この後、制御部８は、すべてのブロックＢ，Ｂ・・についても同様の判別処理を実行して、その判別結果を記憶部９に記憶させる。
【００３３】
続いて、制御部８は、連続するブロックＢ，Ｂ・・における各検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３毎の欠陥部Ｘの検出数に基づいて、検出数の平均値を演算し、演算結果が判別条件を超えるブロックＢ，Ｂ・・を不良と判別する。具体的には、連続する１００個のブロックＢ，Ｂ・・について、その検査領域Ａ１２，Ａ１２内で検出された欠陥部Ｘの数の平均値が判別条件を超えるとき（この場合、「Ｓ欠陥」の平均値が５個よりも多いとき、「Ｍ欠陥」の平均値が０．０８個よりも多いとき、および「Ｌ欠陥」の平均値が０．０２個よりも多いときのいずれかとする）には、その１００個のブロックＢ，Ｂ・・のすべてを不良と判別する。また、連続する１００個のブロックＢ，Ｂ・・について、その検査領域Ａ１３内で検出された欠陥部Ｘの数の平均値が判別条件を超えるとき（この場合、「Ｓ欠陥」の平均値が３個よりも多いとき、「Ｍ欠陥」の平均値が０．０６個よりも多いとき、および「Ｌ欠陥」の平均値が０．０１個よりも多いときのいずれかとする）には、その１００個のブロックＢ，Ｂ・・のすべてを不良と判別する。この際に、各ブロックＢ単体についての良否判別に際して欠陥部Ｘの検出数が判別条件の範囲内と判別された（良好と判別された）検査領域Ａ１２，Ａ１３であっても、平均値が判別条件を超えているときには、そのブロックＢを不良として確定する。一方、連続する１００個のブロックＢ，Ｂ・・について、その検査領域Ａ１３内で検出された欠陥部Ｘの数の平均値が判別条件の範囲内のときには、各ブロックＢ単体についての判別結果（各ブロックＢ内の欠陥部Ｘの検出数に基づく判別結果）を最終的な判別結果として確定する。これにより、各ブロックＢ，Ｂ・・の良否判別が完了する。
【００３４】
次いで、制御部８は、記憶部９に記憶させた各ブロックＢ，Ｂ・・についての判別結果に基づいて、テープカセット用の磁気テープとして使用可能な長さＬ２の間に不良のブロックＢが存在するか否かを判別する。この際に、図９に示すように、制御部８は、長さＬ２の間に存在する複数のブロックＢ，Ｂ・・のすべてが良好のときは、その長さＬ２の部位が良品であると判別して判別結果を磁気テープ１０に関連付けて記憶部９に記憶させる。また、制御部８は、例えば、長さＬ２の間に存在する複数のブロックＢ，Ｂ・・のうちの少なくとも１つが不良のときには、その長さＬ２の部位が不良（記録媒体として使用不可能）と判別して、その判別結果を磁気テープ１０に関連付けて記憶部９に記憶させる。
【００３５】
この場合、磁気テープ１０は、その記録可能容量が相違する複数種類のテープカセットに使用可能な磁気テープであって、その記憶可能容量に応じて、一例として、１２４０ｍ、９４０ｍ、６３０ｍ、３３０ｍ、２９０ｍの５種類の長さＬ２のいずれかに裁断される。したがって、制御部８は、検査が完了した磁気テープ１０を５種類の長さＬ２で裁断した際に、各種長さＬ２で裁断したときの磁気テープがそれぞれ良品か不良品かを特定可能に検査結果を表示する。具体的には、制御部８は、図１０に示す検査結果表示画面４０を表示部７に表示させると共に、その検査結果表示部４１に、磁気テープ１０を示す磁気テープ表示４２と、裁断後の磁気テープを示す磁気テープ表示４２ａ，４２ａ・・とを表示させる。この場合、磁気テープ表示４２には、前述した各ブロックＢ，Ｂ・・の良否判別処理において不良と判別したブロックＢを示す欠陥部表示Ｘｂ，Ｘｂ・・が表示される。また、磁気テープ表示４２ａ，４２ａ・・は、磁気テープ１０を各種長さＬ２に裁断した状態を模して表示され、欠陥部表示Ｘｂに対応する部位を含む磁気テープ表示４２ａ（すなわち、磁気テープとしての使用が困難な部位）と、欠陥部表示Ｘｂに対応する部位を含まない磁気テープ表示４２ａ（すなわち、磁気テープとしての使用が可能な部位）とが色分けされて表示される。
【００３６】
この場合、制御部８は、裁断後の磁気テープの型名およびその全長（上記の長さＬ２）を「ＥＸＣ１２４ＬＴ（１２４０ｍ）」、「ＥＸＣ９４ＬＴ（９４０ｍ）」および「ＥＸＣ６３ＭＴ（６３０ｍ）」などのように各磁気テープ表示４２ａ，４２ａ・・に対応させてその左覧にそれぞれ表示させる。また、制御部８は、磁気テープ１０を各種長さＬ２に裁断する場合に、その磁気テープ１０から製造可能な磁気テープの本数（テープ取り可能な本数）を各磁気テープ表示４２ａ，４２ａ・・に対応させてその右側にそれぞれ表示させる。なお、同図では、例えば、磁気テープ１０を１２４０ｍ（「ＥＸＣ１２４ＬＴ」）に裁断する場合には、２本の磁気テープを製造可能であるが、欠陥部表示Ｘｂの存在によって２本とも磁気テープとしての使用が困難で、磁気テープ１０を９４０ｍ（「ＥＸＣ９４ＬＴ」）に裁断する場合には、３本製造可能であるが欠陥部表示Ｘｂの存在によってそのうちの１本が磁気テープとしての使用が困難である旨が表示されている。これにより、検査装置１による磁気テープ１０についての検査結果が表示されて検査が完了する。
【００３７】
このように、この検査装置１によれば、制御部８が、表面検査部４によって検出された各検査領域Ａ１２，Ａ１３毎の欠陥部Ｘの数（検出結果）と、各検査領域Ａ１２，Ａ１３毎の良否判別基準（検査条件設定画面２０において設定した各検査基準値）とに基づいて各検査領域Ａ１２，Ａ１３毎に磁気テープ１０の良否を判別するように構成したことにより、磁気テープ１０の使用目的に合致する良否判別基準を各検査領域Ａ１２，Ａ１３毎にきめ細やかに適宜設定することができる。このため、使用上問題とならない表面欠陥の存在に起因して画一的に不良として扱われる事態を回避して、使用目的によっては問題とならない表面欠陥が存在する磁気テープ１０を有効利用することができる。したがって、使用上問題となる表面欠陥を確実に検出することができる一方、磁気テープ１０を材料とするテープカセット（情報記録媒体）の製造歩留まりを十分に向上させることができる。
【００３８】
また、この検査装置１によれば、表示部７に検査条件設定画面２０を表示させて本発明における良否判別基準を変更操作可能に構成したことにより、検査対象の磁気テープ１０の種類や、その使用目的に合致する良否判別基準を自在に変更することができるため、１つの良否判別基準に基づいて磁気テープ１０の良否を判別する方式と比較して、その歩留まりを一層向上させることができる。
【００３９】
さらに、この検査装置１によれば、磁気テープ１０における欠陥部Ｘの検出位置を特定可能に磁気テープ１０を模したテープ体表示と欠陥部Ｘを模した欠陥部表示Ｘｉとを表示部７に表示させることにより、磁気テープ１０のいずれの部位に欠陥部Ｘが存在するかを直感的に認識させることができる。
【００４０】
また、この検査装置１によれば、磁気テープ１０を長手方向において所定寸法で裁断して製造される各磁気テープ（リールに巻回される磁気テープ）のそれぞれの良否を特定可能に磁気テープ１０の良否についての判別結果を示す検査結果表示画面４０を表示部７に表示させることにより、検査が完了した磁気テープ１０を裁断する際に、裁断後の磁気テープのうちのいずれの磁気テープが不良なのかを確実に認識させることができる。
【００４１】
なお、本発明は、上記した本発明の実施の形態に限定されない。例えば、本発明の実施の形態では、磁気テープ１０をその幅方向において５つの領域（非検査領域Ａ１１，Ａ１１、検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３）に仮想的に分割して良否を判別する構成について説明したが、これに限定されず、５つ未満または６つ以上に分割することができる。また、本発明の実施の形態では、検査領域Ａ１３についての判別基準を検査領域Ａ１２よりも高く（厳しく）設定して良否判別する例について説明したが、本発明はこれに限定されず、良否判別基準の高低についても任意に変更が可能である。さらに、本発明の実施の形態では、欠陥部Ｘの検出結果（検査結果表示画面３０）および磁気テープ１０の良否判別結果（検査結果表示画面４０）を表示部７に表示させる例について説明したが、本発明はこれに限定されず、検査結果表示画面３０，４０と同様の情報を印刷可能なプリンタを採用して検出結果具現部および判別結果具現部を構成することができる。
【００４２】
【発明の効果】
以上のように、本発明に係るテープ体検査装置によれば、欠陥検出部によって検出された各検査領域毎の表面欠陥の検出結果と、各検査領域毎の良否判別基準とに基づいて各検査領域毎にテープ体の良否を判別することにより、テープ体の使用目的に合致する良否判別基準を各検査領域毎にきめ細やかに適宜設定することができる。このため、使用上問題とならない表面欠陥の存在に起因して画一的に不良として扱われる事態を回避して、使用目的によっては問題とならない表面欠陥が存在するテープ体を有効利用することができる。したがって、使用上問題となる表面欠陥を確実に検出することができる一方、テープ体を材料とするテープカセット（情報記録媒体）等の製造歩留まりを十分に向上させることができる。
【００４３】
また、本発明に係るテープ体検査装置によれば、良否判別基準を変更操作可能に構成したことにより、検査対象のテープ体の種類や、その使用目的に合致する良否判別基準を自在に変更することができるため、１つの良否判別基準に基づいてテープ体の良否を判別する方式と比較して、その歩留まりを一層向上させることができる。
【００４４】
さらに、本発明に係るテープ体検査装置によれば、テープ体における表面欠陥の検出位置を特定可能にテープ体を模したテープ体表示と表面欠陥を模した表面欠陥表示とを検査結果出力部に表示または印刷させることにより、テープ体のいずれの部位に表面欠陥が存在するかを直感的に認識させることができる。
【００４５】
また、本発明に係るテープ体検査装置によれば、テープ体を長手方向において所定寸法で裁断して製造する複数の情報記録媒のそれぞれの良否を特定可能にテープ体の良否についての判別結果を検査結果出力部に表示または印刷させることにより、検査が完了したテープ体を裁断する際に、裁断後のテープ体のうちのいずれのテープ体が不良なのかを確実に認識させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る検査装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】検査装置１の支持機構３および表面検査部４と磁気テープ１０との位置関係を示す側面図である。
【図３】支持具１４の壁部１４ｂ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｃと、表面検査部４の検査光照射部４ａによる検査光Ｌａの照射位置（領域Ａ１）およびＣＣＤカメラ４ｂによる撮像位置（領域Ａ２）との関係を示す平面図である。
【図４】検査装置１による磁気テープ１０の検査時に規定される非検査領域Ａ１１，Ａ１１および検査領域Ａ１２，Ａ１２，Ａ１３を示す平面図である。
【図５】検査装置１の検査対象である磁気テープ１０を複数のブロックＢ，Ｂ・・に仮想的に分割した状態の説明図である。
【図６】検査条件（判別条件）を設定（変更）するための検査条件設定画面２０の表示画面図である。
【図７】検査装置１による検査結果を表示するための検査結果表示画面３０の表示画面図である。
【図８】検査領域Ａ１２，Ａ１２における欠陥部Ｘの有無および検査領域Ａ１３における欠陥部Ｘの有無と、磁気テープ１０の各ブロックＢ，Ｂ・・の良否との関係を示す説明図である。
【図９】磁気テープ１０の各ブロックＢ，Ｂ・・の良否を示す説明図である。
【図１０】検査装置１による検査結果を表示するための検査結果表示画面４０の表示画面図である。
【符号の説明】
１ テープ体検査装置
２ 移動機構
３ 支持機構
４ 表面検査部
４ａ 検査光照射部
４ｂ ＣＣＤカメラ
５ 計測部
６ 操作部
７ 表示部
８ 制御部
９ 記憶部
１０ 磁気テープ
１０ａ 表面
１４ テープ支持具
２０ 検査条件設定画面
２１ テープ品種名入力部
２２ａ，２２ｂ，２３ａ，２３ｂ 検査条件入力部
３０，４０ 検査結果表示画面
３１，４１ 検査結果表示部
４２，４２ａ 磁気テープ表示
Ａ１１ 非検査領域
Ａ１２，Ａ１３ 検査領域
Ｂ ブロック
Ｌａ 検査光
Ｌｂ 反射光
Ｘ 欠陥部
Ｘｂ，Ｘｉ 欠陥部表示
Claims (4)
- 情報記録媒体用のテープ体をその長手方向に沿って移動させる移動機構と、前記テープ体の表面に検査用の光を照射する光照射部と、当該光照射部によって照射されて前記テープ体の表面で反射された散乱光を受光して光検出信号を出力する受光部と、当該出力された光検出信号に基づいて前記テープ体の表面欠陥を検出する欠陥検出部と、当該欠陥検出部による検出結果に基づいて前記テープ体の良否を判別する判別部と、前記テープ体をその幅方向において仮想的に分割した複数の検査領域毎に規定された良否判別基準を記憶する記憶部とを備え、
前記判別部は、前記欠陥検出部によって検出された前記各検査領域毎の前記表面欠陥の検出結果と、前記記憶されている前記各検査領域毎の良否判別基準とに基づいて当該各検査領域毎に前記テープ体の良否を判別するテープ体検査装置。 - 前記良否判別基準を変更操作可能に構成され、前記記憶部は、変更操作後の前記良否判別基準を記憶可能に構成されている請求項１記載のテープ体検査装置。
- 前記欠陥検出部の検出結果を具現化する検出結果具現部を備え、前記欠陥検出部は、前記テープ体における前記表面欠陥の検出位置を特定可能に当該テープ体を模したテープ体表示と当該表面欠陥を模した表面欠陥表示とを前記検出結果具現部に具現化させる請求項１または２記載のテープ体検査装置。
- 前記判別部の判別結果を具現化する判別結果具現部を備え、前記判別部は、前記テープ体を前記長手方向において所定寸法で裁断して製造される各情報記録媒体のそれぞれの良否を特定可能に前記テープ体の良否についての判別結果を前記判別結果具現部に具現化させる請求項１から３のいずれかに記載のテープ体検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003208777A JP2005069708A (ja) | 2003-08-26 | 2003-08-26 | テープ体検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2003208777A JP2005069708A (ja) | 2003-08-26 | 2003-08-26 | テープ体検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2005069708A true JP2005069708A (ja) | 2005-03-17 |
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ID=34401930
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003208777A Pending JP2005069708A (ja) | 2003-08-26 | 2003-08-26 | テープ体検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2005069708A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100627488B1 (ko) * | 2005-05-16 | 2006-09-25 | 주식회사 포스코 | 표면결함 정보를 이용한 강판의 표면품질 판정방법 |
| JP2010243263A (ja) * | 2009-04-02 | 2010-10-28 | Nippon Steel Corp | 帯状体の表面検査装置、表面検査方法及びプログラム |
| JP2013145242A (ja) * | 2006-10-11 | 2013-07-25 | Nitto Denko Corp | 光学フィルムを有するシート状製品の検査データ処理装置および切断装置 |
-
2003
- 2003-08-26 JP JP2003208777A patent/JP2005069708A/ja active Pending
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