JP2012049056A - イオントラップ質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ノッチのあるFNF信号をデジタル化したデータをFNF波形記憶部15に記憶しておき、プリカーサ分離の際に主電圧タイミング制御部7及び主電圧発生部9は基準クロック信号CKに基づき矩形波電圧を発生し、補助信号生成部14はFNF波形記憶部15から読み出したデータを基準クロック信号CKに同期したクロック信号によりD/A変換してFNF信号を生成する。基準クロック発生部6は制御部30の制御の下に、目的イオンのm/zに応じた周波数の基準クロック信号CKを生成するため、目的イオンのm/zが変わると基準クロック信号CKの周波数が変化し、同じ比率で矩形波電圧の周波数、FNF信号のノッチの中心周波数も変化する。
【選択図】図1
Description
a)所定の周波数又は周波数範囲にノッチを有する周波数スペクトルを示す広帯域信号をデジタル化した波形データを記憶しておくデータ記憶手段と、
b)特定の質量電荷比又は質量電荷比範囲のイオンを選択的にイオントラップ内に残すイオン選択行程時に、その特定の質量電荷比又は質量電荷比範囲に応じた周波数に設定したイオン捕捉用の矩形波電圧を生成して前記第1電極に印加する矩形波電圧生成手段と、
c)前記イオン選択行程時に前記矩形波電圧生成手段により生成される矩形波電圧の周波数に同期したタイミングで前記データ記憶手段に記憶されている波形データを順次取得してアナログ化することにより、少なくとも前記特定の質量電荷比又は質量電荷比範囲を除くイオンを共鳴励起させる広帯域信号を生成して前記第2及び第3電極に印加する広帯域信号生成手段と、
を備えることを特徴としている。
m/z=1/(αΩ2+βΩ+γ)
などの多項式で表現し、複数の較正点(既知の質量電荷比m/zと周波数Ωとの関係)から、α、β、γの各係数値を求め、この係数値を用いて較正を行うようにするとよい。
2…イオントラップ
21…リング電極
22…入口側エンドキャップ電極
23…イオン入射口
24…出口側エンドキャップ電極
25…イオン出射口
3…検出器
4…データ処理部
5…トラップ駆動部
6…基準クロック発生部
7…主電圧タイミング制御部
8…RF電圧波形記憶部
9…主電圧発生部
10…第1電圧源
11…第2電圧源
12…第1スイッチ
13…第2スイッチ
14…補助信号生成部
15…FNF波形記憶部
16、18…ドライブ回路
17…反転回路
30…制御部
Claims (2)
- 上記課題を解決するために成された本発明は、3以上の電極で囲まれる空間にイオンを捕捉するイオントラップを有し、少なくとも1つの第1電極にイオン捕捉用の矩形波電圧を印加しつつ、該第1電極とは異なる対向配置された一対の第2及び第3電極にそれぞれイオン共鳴励起用の信号を印加することにより、捕捉されているイオンのうちの不要なイオンをイオントラップ内から共鳴励起排出するイオントラップ質量分析装置において、
a)所定の周波数又は周波数範囲にノッチを有する周波数スペクトルを示す広帯域信号をデジタル化した波形データを記憶しておくデータ記憶手段と、
b)特定の質量電荷比又は質量電荷比範囲のイオンを選択的にイオントラップ内に残すイオン選択行程時に、その特定の質量電荷比又は質量電荷比範囲に応じた周波数に設定したイオン捕捉用の矩形波電圧を生成して前記第1電極に印加する矩形波電圧生成手段と、
c)前記イオン選択行程時に前記矩形波電圧生成手段により生成される矩形波電圧の周波数に同期したタイミングで前記データ記憶手段に記憶されている波形データを順次取得してアナログ化することにより、少なくとも前記特定の質量電荷比又は質量電荷比範囲を除くイオンを共鳴励起させる広帯域信号を生成して前記第2及び第3電極に印加する広帯域信号生成手段と、
を備えることを特徴とするイオントラップ質量分析装置。 - 請求項1に記載のイオントラップ質量分析装置であって、
イオン選択行程時にイオントラップ内に残すイオンの質量電荷比又は質量電荷比範囲に応じた周波数の基準クロック信号を生成する基準クロック信号生成手段をさらに備え、
前記矩形波電圧生成手段は前記基準クロック信号に基づいて矩形波電圧を生成するとともに、前記広帯域信号生成手段は前記基準クロック信号又は該信号と同期関係にあるクロック信号に従って前記データ記憶手段から読み出した波形データをアナログ化することにより広帯域信号を生成することを特徴とするイオントラップ質量分析装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010191730A JP5440449B2 (ja) | 2010-08-30 | 2010-08-30 | イオントラップ質量分析装置 |
US13/219,408 US8288720B2 (en) | 2010-08-30 | 2011-08-26 | Ion trap mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010191730A JP5440449B2 (ja) | 2010-08-30 | 2010-08-30 | イオントラップ質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012049056A true JP2012049056A (ja) | 2012-03-08 |
JP5440449B2 JP5440449B2 (ja) | 2014-03-12 |
Family
ID=45695864
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010191730A Active JP5440449B2 (ja) | 2010-08-30 | 2010-08-30 | イオントラップ質量分析装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8288720B2 (ja) |
JP (1) | JP5440449B2 (ja) |
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US10510524B2 (en) | 2016-01-18 | 2019-12-17 | Shimadzu Corporation | Ion trap mass spectrometry device and mass spectrometry method using said device |
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- 2011-08-26 US US13/219,408 patent/US8288720B2/en active Active
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Also Published As
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US20120049059A1 (en) | 2012-03-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20121203 |
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