JP2012047569A5 - - Google Patents

Description

請求項５に示すように請求項１に記載のパイプ厚み計測装置において、前記外径点検出手段は、前記輝度プロファイル取得手段により取得された輝度プロファイルを正規化する第１の正規化手段と、前記正規化された輝度プロファイルを一次微分した一次微分プロファイルを算出する第１の一次微分プロファイル算出手段と、前記一次微分プロファイルからノイズ成分を除去する第１のノイズ除去手段と、前記ノイズ成分が除去された一次微分プロファイルを微分して二次微分プロファイルを算出する第１の二次微分プロファイル算出手段と、前記算出された二次微分プロファイルのゼロ交差点を検出し、該ゼロ交差点の周辺のゼロ交差領域を設定する第１のゼロ交差領域設定手段と、前記設定されたゼロ交差領域の二次微分プロファイルを所定の関数で近似する第１の近似曲線を算出する第１の近似曲線算出手段と、前記算出した近似曲線のゼロ交差点に基づいて前記パイプの粗い外径点を検出する第１の検出手段と、前記輝度プロファイル取得手段により取得された輝度プロファイルのうちの前記検出された粗い外径点の周辺の輝度プロファイルを抽出する抽出手段と、前記抽出された輝度プロファイルを正規化する第２の正規化手段と、前記正規化された輝度プロファイルを一次微分した一次微分プロファイルを算出する第２の一次微分プロファイル算出手段と、前記一次微分プロファイルからノイズ成分を除去する第２のノイズ除去手段と、前記ノイズ成分が除去された一次微分プロファイルを微分して二次微分プロファイルを算出する第２の二次微分プロファイル算出手段と、前記算出された二次微分プロファイルのゼロ交差点を検出し、該ゼロ交差点の周辺のゼロ交差領域を設定する第２のゼロ交差領域設定手段と、前記設定されたゼロ交差領域の二次微分プロファイルを所定の関数で近似する第２の近似曲線を算出する第２の近似曲線算出手段と、前記算出した近似曲線のゼロ交差点に基づいて前記パイプの精密な外径点を検出する第２の検出手段と、を有することを特徴としている。

請求項１５に係るパイプ厚み計測方法は、計測対象のパイプの放射線透視像のうちの前記パイプを横断する方向の輝度プロファイルを取得する輝度プロファイル取得工程と、前記取得した輝度プロファイルを一次微分した一次微分プロファイル、又は二次微分した二次微分プロファイルを算出する工程と、前記算出した一次微分プロファイルの最大値又は最小値、若しくは前記二次微分プロファイルのゼロ交差点に基づいて前記パイプの外径点を検出する外径点検出工程と、前記検出された前記パイプの２つの外径点の内側の所定の領域を設定する領域設定工程と、前記輝度プロファイル取得工程により取得された輝度プロファイルのうちの前記設定された所定の領域に対応する輝度プロファイルの極小値、又は前記輝度プロファイルを一次微分した一次微分プロファイルのゼロ交差点、若しくは前記輝度プロファイルを二次微分した二次微分プロファイルの最大値に基づいて前記パイプの内径点を検出する内径点検出工程と、を含むことを特徴としている。

Claims (2)

1. 前記外径点検出手段は、
   前記輝度プロファイル取得手段により取得された輝度プロファイルを正規化する第１の正規化手段と、
   前記正規化された輝度プロファイルを一次微分した一次微分プロファイルを算出する第１の一次微分プロファイル算出手段と、
   前記一次微分プロファイルからノイズ成分を除去する第１のノイズ除去手段と、
   前記ノイズ成分が除去された一次微分プロファイルを微分して二次微分プロファイルを算出する第１の二次微分プロファイル算出手段と、
   前記算出された二次微分プロファイルのゼロ交差点を検出し、該ゼロ交差点の周辺のゼロ交差領域を設定する第１のゼロ交差領域設定手段と、
   前記設定されたゼロ交差領域の二次微分プロファイルを所定の関数で近似する第１の近似曲線を算出する第１の近似曲線算出手段と、
   前記算出した近似曲線のゼロ交差点に基づいて前記パイプの粗い外径点を検出する第１の検出手段と、
   前記輝度プロファイル取得手段により取得された輝度プロファイルのうちの前記検出された粗い外径点の周辺の輝度プロファイルを抽出する抽出手段と、
   前記抽出された輝度プロファイルを正規化する第２の正規化手段と、
   前記正規化された輝度プロファイルを一次微分した一次微分プロファイルを算出する第２の一次微分プロファイル算出手段と、
   前記一次微分プロファイルからノイズ成分を除去する第２のノイズ除去手段と、
   前記ノイズ成分が除去された一次微分プロファイルを微分して二次微分プロファイルを算出する第２の二次微分プロファイル算出手段と、
   前記算出された二次微分プロファイルのゼロ交差点を検出し、該ゼロ交差点の周辺のゼロ交差領域を設定する第２のゼロ交差領域設定手段と、
   前記設定されたゼロ交差領域の二次微分プロファイルを所定の関数で近似する第２の近似曲線を算出する第２の近似曲線算出手段と、
   前記算出した近似曲線のゼロ交差点に基づいて前記パイプの精密な外径点を検出する第２の検出手段と、
   を有することを特徴とする請求項１に記載のパイプ厚み計測装置。
2. 計測対象のパイプの放射線透視像のうちの前記パイプを横断する方向の輝度プロファイルを取得する輝度プロファイル取得工程と、
   前記取得した輝度プロファイルを一次微分した一次微分プロファイル、又は二次微分した二次微分プロファイルを算出する工程と、
   前記算出した一次微分プロファイルの最大値又は最小値、若しくは前記二次微分プロファイルのゼロ交差点に基づいて前記パイプの外径点を検出する外径点検出工程と、
   前記検出された前記パイプの２つの外径点の内側の所定の領域を設定する領域設定工程と、
   前記輝度プロファイル取得工程により取得された輝度プロファイルのうちの前記設定された所定の領域に対応する輝度プロファイルの極小値、又は前記輝度プロファイルを一次微分した一次微分プロファイルのゼロ交差点、若しくは前記輝度プロファイルを二次微分した二次微分プロファイルの最大値に基づいて前記パイプの内径点を検出する内径点検出工程と、
   を含むことを特徴とするパイプ厚み計測方法。