JP2012027995A - 光ディスク装置 - Google Patents

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Takahiro Matsuda
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Abstract

【課題】コストアップなく、且つ所望のクリーニング効果を保ったうえでレンズとディスク表面の衝突の可能性を抑制し、適切に対物レンズのクリーニングを行う光ディスク装置を提供する。
【解決手段】 光ディスクに記録再生を行う光ディスク記録再生装置であって、対物レンズと、前記対物レンズを駆動する駆動部と、を有する光ピックアップを備え、光ピックアップの対物レンズを記録再生時の位置に比較し、駆動部により光ディスクに接触しないよう一定の駆動力で一定時間駆動することで光ディスクに近づけ、対物レンズの粉塵除去を行なう。
【選択図】 図7

Description

本発明は、光ディスク装置に関する。中でも、例えば、光ディスク装置に搭載された対物レンズの粉塵の除去を低コストで行える光ディスク装置に関するものである。
光ディスク装置に関する文献として、特許文献1が公開されている。当該特許文献1には、例えば、その要約に、「ターンテーブル3にブラシ23やファン等にクリーニング22を付設して、ターンテーブル3の回転により、クリーニング手段22で光ピックアップ7の対物レンズ9をクリーニングする。」と記載されている。また、当該文献の段落番号0016には、「このように構成された光ピックアップ7のクリーニング装置21によれば、対物レンズ9のクリーニングモードが所定の時間間隔で予め設定されているか、或いは、使用者の任意の設定(クリーニングスイッチを任意にオンする等)によって対物レンズ9の表面に(上面)に付着・堆積されたダスト(塵埃)のクリーニングが自動的に行われる。」と記載されている(要約)。
特許文献2には、「対物レンズに付着したダスト等を専用のクリーニング手段を使用せずに自動的にクリーニングする」ことを課題として、「スピンドルモータ2の回転数をCD4のデータの再生時の回転数よりも上げて、該CD4の表面に高速の空気流を発生させ、対物レンズ13を上下左右に振動させながらCD4の内周から外周へ移動させて、対物レンズ13の表面のダストを高速の空気流によって吹き飛ばす」と記載されている(要約)。
特許文献3には、「対物レンズ35の表面に塵埃が付着した場合はクリーニングモードに移動する。クリーニングモードにおいては、フォーカスサーボをONとした状態で、発光ダイオード45からの信号光をフォーカス位置センサ47で検知して対物レンズホルダ31の高さをモニタしながら、クリーニング信号電流をサーボ信号電流に重畳してフォーカシングコイル41に流し、回転する光ディスク51に対物レンズ35を近接させ、回転による空気流により対物レンズ35上の塵埃を吹き飛ばして除去する。」と記載されている(要約)。
特開2005−129169号公報 特開2005−327350号公報 特開平4−302829号公報
光ディスク装置では、光ピックアップから光ディスクに向けて照射されたレーザ光と、光ディスクからの反射光を光ピックアップで受光し、記録再生を行っている。光ディスクの主な規格としてCD、DVD、BDの順で記録容量が増えており、DVDとBDではより記録容量を高めるため記録再生層を同一ディスク内に2層構造となっている。記録容量を高めるためには先にのべたレーザ光/反射光をいかに精度高く発光/受光しその信号をもとに記録再生制御を行うことが重要となる。特にBDにおいては、2層を超えるような多層の研究開発が進んでおり信号対ノイズの観点でより精度の高い発光/受光技術が必要となる。
しかし、従来の技術では信号対ノイズの観点でより精度の高い発光/受光を行うため対物レンズのクリーニングを行っているが、コストの面等で課題が残る。例えば、特許文献1のように、クリーニングを行うために専用に付設されるブラシやファンはコストアップにつながる。
また、特許文献2及び3では、ディスク表面に回転による空気流を発生させ、対物レンズ上の塵埃を吹き飛ばすことを目的とする技術が開示されているが、クリーニング効果あるいはディスク表面と対物レンズの衝突防止の観点から課題が残る。
ディスク回転による空気流で対物レンズ上の塵埃を吹き飛ばす(すなわち所望のクリーニング効果を得る)には、対物レンズをディスク表面にかなり近づける必要がある。そのため、例えば特許文献2のように、対物レンズを上下左右に振動させる方式では、ディスク表面にレンズが衝突する可能性を抑制できないという課題がある。また、特許文献3のように、フォーカスサーボをONとした状態でフィードバック制御を行ない、ディスク面振れに応じたレンズ位置を調整を行なう方式では、レンズ位置制御の応答が間に合わず、ディスク表面にレンズが衝突する可能性を抑制できないという課題が残る。
このように、所望のクリーニング効果を得るためには、対物レンズをディスク表面にかなり近づける必要があるため、ディスク表面に対物レンズが衝突する可能性を抑制することが必要となる。
本発明の目的は、コストアップなく、且つ所望のクリーニング効果を保ったうえでレンズとディスク表面の衝突の可能性を抑制し、適切に光ピックアップの対物レンズのクリーニングを行う光ディスク装置を提供することである。
上記の目的は、例えば、特許請求の範囲に記載の構成により達成される。また、上記の目的は、以下に示す構成によっても解決される。例えば、光ディスクに記録再生を行う光ディスク装置において、対物レンズと、前記対物レンズを駆動する駆動部と、を有する光ピックアップを備え、前記光ピックアップからの信号に応じて前記駆動部に対しフィードバック制御可能なDSPを備え、前記駆動部は、前記対物レンズを前記光ディスクに近づける方向に一定の駆動力で一定時間駆動することで達成される。
本発明によると、コストアップなく、且つ所望のクリーニング効果を保ったうえでレンズとディスク表面の衝突の可能性を抑制し、適切に対物レンズのクリーニングを行う光ディスク装置を提供することが可能となる。
光ディスク装置の構成を示すブロック図。 光ピックアップ動作の詳細を示す。 光ピックアップ内部詳細図を示す。 流速と圧力の関係を示す。 圧力の関係を示す。 圧力とアクチュエータ推力の関係を示す。 ディスク認識のフローチャートを示す。 光ディスク装置のサーボ処理を示す。 周波数分析器結果の比較図を示す。 光ディスク装置のサーボ処理を示す。 振幅検出結果の比較図を示す。 ディスク認識のフローチャートを示す。 チルト制御を示す。 ディスク認識のフローチャートを示す。 アクチュエータ駆動力を示す。
以下、実施例について図を用いて説明する。
図1は光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
光ディスク装置1内には光ピックアップ2を備える。光ピックアップ2はレーザを光ディスク100に照射し、かつ光ディスク100からの反射光を光ピックアップ2自身が受光する。光ディスク100はスピンドルモータ4にチャッキングされており、ドライバ5、DSP3により制御されている。スピンドルモータ4の回転により、チャッキングされた光ディスク100が回転する。光ピックアップ2はモータ4と同様にドライバ5、DSP3により制御されている。DSP3は図示しないCPUを内蔵し、バス6を介してRAM7およびフラッシュメモリ8と接続されている。また、DSP3が、光ピックアップからの信号を取得する取得部として機能する。また、フラッシュメモリ8内には光ディスク記録再生装置1の制御用プログラムが記録されている。光ディスク記録再生装置1は外部インターフェイス9を介しパソコンなどのホスト10に接続される。図1では一例としてDSP3、ドライバ5、RAM7およびフラッシュメモリ8は個別デバイスとして説明したが、これらのうち、任意の組み合わせが統合された1つのデバイスであっても良い。
図2は、光ピックアップ2の動作詳細を示す図である。
光ピックアップ2には対物レンズ11を搭載している。対物レンズ11に対してはディスク面方向のフォーカス制御(12)、ディスク上に刻まれたトラックに追従するためのトラッキング制御(13)およびディスク半径方向に対物レンズを傾けるチルト制御(14)が行われている。また、光ピックアップ2は対物レンズ11と共にスレッドモータ14により光ディスク100の半径方向にスレッド制御15される。
図3は光ピックアップ2の内部の詳細図である。
レーザ光源17からレーザが照射され、スプリッタ18を介し対物レンズ11を通過して光ディスク100に照射される。照射されたレーザは光ディスク100で反射され、同じく対物レンズ11を通過し、スプリッタ18を介し、集光レンズ20で収束された光を光検出器19で受光される。光検出器19で受光した光は電気信号に変換され、変換された電気信号をもとに図示しないDSPは同じく図示しないドライバを介して光ピックアップ2の対物レンズ11を駆動するアクチュエータ21を制御する。光検出器19は反射光量に比例した信号や、先に示したフォーカス制御/トラッキング制御を行うために必要なフォーカスエラー信号(FE信号)、トラッキングエラー信号(TE信号)、全反射光量エラー信号(PE信号)の元となる信号を生成する。なお、全反射光量エラー信号は、和信号、総和信号、総光量信号と言い換えても良い。光ディスク100と対物レンズ11には空間があり、常に外気さらされている。そのため外気の塵埃などが対物レンズ11に付着する。対物レンズ11に塵埃が付着することにより、光ディスク100に照射されるレーザおよび光ディスクからの反射光ともノイズが増大し、光ディスク装置の安定した記録、再生に支障を及ぼす。
図4は光ピックアップと光ディスクの空間における流速と圧力の関係を示した図である。
光ディスク100が回転することにより対物レンズ11との間に発生する空気の流速vとすると、その際の空間の圧力pはベルヌーイの定理により
pv = 一定
となる。そのため流速vが高まると圧力pは図4に示すように反比例し低下していく。
図5は光ピックアップを回転中の光ディスクに近づけた際の圧力の関係を示した図である。
回転する光ディスク100に対し対物レンズ11を矢印Aの方向に近づけた際の光ディスク近傍の流速、圧力をそれぞれv1、p1とし、対物レンズ近傍の流速、圧力をそれぞれv2、p2とする。対物レンズが回転する光ディスクに近接すると、対物レンズ近傍の空気は対物レンズにさえぎられ、矢印Bのように対物レンズを避けるように湾曲して流れる。一方、光ディスク近傍の空気はさえぎられるものがないため矢印Cのように一直線に流れる。ここで、光ディスクと対物レンズが近接している場合には、対物レンズ近傍の空気は、回転する光ディスクにより湾曲しながらも光ディスク近傍の空気と同一時間で流れる。よって、対物レンズ近傍の空気は対物レンズをさけるため直距離を流れるにもかかわらず、光ディスク近傍の空気と同一時間で進むことになる。以上から、対物レンズ近傍の流速v2は光ディスク近傍の流速v1に対し、v2>v1の関係となる。一方、先に述べたように圧力は速度に反比例することから、p1>p2の関係となる。
図6は光ピックアップを回転中の光ディスクに近づけた際の圧力とアクチュエータ推力の関係を示した図である。
圧力の関係(p1>p2)により、対物レンズはより圧力の低いp2に向かい矢印Dの方向に推力が働く。ここで、対物レンズをアクチュエータ21により矢印Eの推力を働かせると、対物レンズ表面の塵埃が空気中に剥ぎ取られレンズクリーナーの効果が発生する。 次に、図7に示すフローチャートにより、本光ディスク装置1のディスク認識過程を説明する。なお当該処理は例えばDSP3の制御により実施される。
光ディスクが光ディスク装置に装着されると、まず光ディスクを回転させる(s50)。その後、対物レンズを光ディスク方向へ駆動する(s60)。その後、対物レンズを一定位置に保持する(s61)。ここで対物レンズの塵埃が除去される。その後、フォーカスサーボオン(s70)、トラックサーボオン(s80)が実施され、光ディスクの記録、再生が可能となる。
また、対物レンズのクリーニングをより効率よく実施するためには以下のような方法がある。先に説明したように、対物レンズに塵埃が付着すると光ディスクの記録、再生動作が安定して行えなくなる。そこで、記録、再生の安定度を事前に検出して必要な時にのみレンズクリーニング動作をさせることでより効率的となる。本処理を説明するにあたり、光ディスク装置のサーボ処理について説明する。
図8は光ディスク装置のサーボ処理の説明図である。
ピック2から得られた信号はDSP3内のサーボ補償器110に入力される。サーボ補償器はピックを制御するのに必要な周波数応答を計算する。また、計算された周波数応答に応じて駆動回路111がドライバ5に駆動信号を送る。駆動回路111は周波数分析器112にも接続されている。周波数分析器は例えば高速フーリエ変換(FFT)などである。
図9は周波数分析器でのアクチェータ駆動信号の標準時と塵埃付着時の比較結果を示している。
先に説明したように対物レンズに塵埃が付着した場合は、光ピックアップからの信号がノイジーとなる。そのため、見かけ上高周波帯域に及んで駆動力が必要となるようにDSPは検出し、周波数分析結果で顕著な差となって現れる。この特性を利用して対物レンズへの塵埃付着を検出可能である。
塵埃の付着は以下に説明する方法でも解析可能である。図10は光ディスク装置のサーボ処理の説明図である。ピック2から得られた信号はDSP3内のサーボ補償器110に入力される。サーボ補償器はピックを制御するのに必要な周波数応答を計算する。また、計算された周波数応答に応じて駆動回路111がドライバ5に駆動信号を送る。駆動回路111は振幅検出器113にも接続されている。
図11は振幅検出器でのアクチェータ駆動信号の標準時と塵埃付着時の比較結果を示している。
補償器は周波数応答を自由に設定できるため、低域の周波数応答Gainを低下させ、高域の周波数応答ゲインを高めに設定しHPF(High Path Filter)とする。この状態で振幅検出を行うと、先に説明したように対物レンズに塵埃が付着した場合は、光ピックアップからの信号がノイジーとなる。そのため、見かけ上高周波帯域に及んで駆動力が必要となるようにDSPは検出すし、図11に示すよう振幅で顕著な差となって現れる。この特性を利用して対物レンズへの塵埃付着を検出可能である。
図12は周波数分析器もしくは振幅検出器での解析結果を用いたディスク認識のフローである。
解析はサーボ制御が動作時に有効であるため、光ディスク回転(s50)、フォーカスサーボオン(s70)、トラックサーボオン(s80)を行う。フォーカスサーボ、トラックサーボともオン状態で解析(s90)を行う。解析結果をもとに閾値のチェック(s91)行い、越えていた場合は、レンズクリーニングを行うため、トラック/フォーカスサーボをオフする(s92)。以降は図7に示したクリーニング動作を行う。解析結果の閾値チェック(s91)の結果、閾値を超えていなかった場合はレンズクリーニング動作をスキップし、ディスク認識時間を短縮できる。
対物レンズに付着する塵埃は光ディスク装置の外部からや、光ディスクに付着していたものがディスク回転で飛散するなど、様々な要因がある。そのため、対物レンズへの塵埃の付着分布も一様とならない。そのため局所的な対物レンズのクリーニングが必要となる。そのためには対物レンズを局所的に光ディスクに近接させる必要がある。そこで、反りの大きい光ディスクの記録、再生の安定化のための機構であるチルト制御を応用する。
図13はチルト制御による対物レンズの光ディスクへの近接方法を示す図である。
対物レンズ11はアクチェータの推力により、チルトさせることが可能である。ここで、回転する光ディスク100に対し、対物レンズ11をチルトさせ近接させることで、光ディスク100により近接するFで流速がはやまり、圧力の低下が発生し、このディスククリーニング効果が高まる。
図14はチルトを用いた光ディスク認識のフローである。
先に説明した駆動信号による周波数分析した結果、閾値を超えている場合には、図7に示したクリーニング動作を行う(s92、s60、s61、s70、s80)。再度、駆動信号周波数分析(s90)を行い、閾値を超えているかのチェックを行う(s91)。その結果、まだ閾値を超えている場合は、チルトによるレンズクリーニングを行うため、まずトラック/フォーカスサーボオフを行う(s92)。次にチルトを駆動させる(s93)。さらにチルトを駆動したまま一定位置を保持し(s94)、対物レンズの塵埃が除去される。レンズクリーニング後、チルトオフし(s95)、フォーカスサーボオン(s70)、トラックサーボオン(s80)が行われ、光ディスク認識が完了する。
レンズクリーニングの効果を高めるためには対物レンズ近傍の流速を高めることが有効である。光ディスクの回転を角速度一定として最高回転で制御した場合は光ディスク外周部で対物レンズ近傍の流速が最高速となる。以上のことから内周部でのレンズクリーニングの効果が足りない場合は、光ピックアップを光ディスク外周部に移動させ、レンズクリーニングを行うことでより効果的となる。
レンズクリーニングのため、対物レンズを回転する光ディスクに近接させる変位量を、回転するディスクと接触しない変位量として見積もることは以下の方法で可能である。すなわち、回転する光ディスクの面振れ量、アクチェータの変位量感度を元に見積もった変位量、接触しないための余裕を考慮しアクチュエータの駆動力を見積もれる。
しかし、よりクリーニング効果を高めるためには少しでも接触させないための余裕(マージン)を少なくしたい。そこで以下の方法によりクリーニング効果を高めるためのアクチュエータの適切な駆動力を求めることが可能となる。
図15は光ディスク1回転中のアクチュエータ駆動力を示す。
アクチュータは光ディスクの回転に同期する変動量と回転に同期しない微小な変動量に追従するため、図に示すサーボオン状態では常に変動している。ここで、アクチュエータ駆動力のうち鋭角に変化する部分(代表部:図中G)は高周波成分であるため、実際のアクチュエータは追従できていない。そこで光ディスク一回転の駆動力を平均化すると破線のようになり、サーボオン状態での実際のアクチェータの駆動力をほぼ最大値のまま一定とすることができる。これにより、レンズが光ディスク表面と接触する可能性を抑制しつつ、クリーニング効果を高めることが可能となる。すなわち、上記のように光ディスクの回転に応じた一定のアクチュエータ駆動力を一定時間かけて対物レンズをディスク表面に近づけることで、対物レンズを適切な位置に移動(変位)させ、クリーニング効果を高めることができる。
回転する光ディスクの面振れ量は内周部でチャッキングされるため、内周部が一番少ない。そこで面振れ量の少ない内周部で本発明で示したレンズクリーニング動作を行わせることにより面触れによる接触を安全に回避しつつ対物レンズを回転する光ディスクに近接させることが可能となる。
これまでは光ディスク認識におけるレンズクリーニングについて説明してきた。ここで、ユーザもしくはホストから光ディスク取り外し(排出)の要求契機で、本実施例のレンズクリーニングを行なってもよい。また、他の例として光ディスク装置がディスク回転を停止してスリープ状態に入る直前や、電源オフ要求時を契機として、レンズクリーニングを行なってもよい。これにより、ユーザがクリーニング処理時間に煩わされるといった場面を極力抑えることができるという効果がある。
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。
1 光ディスク記録再生装置
2 光ピックアップ
3 DSP
4 スピンドルモータ
5 ドライバ
6 バス
7 RAM
8 フラッシュメモリ
9 外部インターフェイス
10 ホスト
11 対物レンズ
12 フォーカス制御
13 トラッキング制御
14 チルト制御
15 スレッドモータ
16 スレッド制御
17 レーザ光源
18 スプリッタ
19 光検出器
20 集光レンズ
21 アクチュエータ
50 光ディスク回転処理
60 対物レンズのディスク方向駆動処理
61 対物レンズの一定値保持処理
70 フォーカスサーボオン処理
80 トラックサーボオン処理
90 解析処理
91 駆動信号周波数分析結果判別処理
92 トラック/フォーカスサーボオフ処理
93 チルト駆動処理
94 チルト一定値保持
95 チルトオフ処理
100 光ディスク
110 補償器
111 駆動回路
112 周波数分析器
113 振幅検出器

Claims (10)

  1. 光ディスクに記録再生を行う光ディスク装置であって、
    対物レンズと、前記対物レンズを駆動する駆動部と、を有する光ピックアップと、
    前記光ピックアップからの信号に応じて前記駆動部に対しフィードバック制御可能なDSPとを備え、
    前記駆動部は、光ディスク認識過程又は光ディスク排出要求時において、前記対物レンズを前記光ディスクに近づける方向に一定の駆動力で一定時間駆動することを特徴とする光ディスク装置。
  2. 光ディスクに記録再生を行う光ディスク装置であって、
    対物レンズと、前記対物レンズを駆動する駆動部と、を有する光ピックアップと、
    前記光ピックアップからの信号に応じて前記駆動部に対しフィードバック制御可能なDSPとを備え、
    前記駆動部は、光ディスク認識過程又は光ディスク排出要求時において、記録再生時のフィードバック制御における駆動力の平均制御点で制御し、一定の駆動力で一定時間駆動することを特徴とする光ディスク装置。
  3. 請求項1又は2に記載の光ディスク装置であって、
    前記DSPは光ピックアップ駆動信号の周波数分析が可能であって、周波数分析結果に応じて、前記駆動部は、光ディスク認識過程又は光ディスク排出要求時において、対物レンズを前記光ディスクに近づける方向に一定の駆動力で一定時間駆動することを特徴とする光ディスク装置。
  4. 請求項1又は2に記載の光ディスク装置であって、
    前記DSPは光ピックアップ駆動信号の振幅検出が可能であって、振幅検出結果に応じて、前記駆動部は、光ディスク認識過程又は光ディスク排出要求時において、対物レンズを前記光ディスクに近づける方向に一定の駆動力で一定時間駆動することを特徴とする光ディスク装置。
  5. 光ディスクに記録再生を行う光ディスク装置であって、
    対物レンズと、前記対物レンズを駆動する駆動部と、を有する光ピックアップと、
    前記光ピックアップからの信号に応じて前記駆動部に対しフィードバック制御可能なDSPとを備え、
    前記駆動部は、光ディスク認識過程又は光ディスク排出要求時において、前記光ディスク回転時に、前記光ディスクの半径方向に前記対物レンズをチルトさせ、一定の駆動力で一定時間駆動することを特徴とする光ディスク装置。
  6. 請求項5に記載の光ディスク装置であって、
    前記DSPは光ピックアップ駆動信号の周波数分析が可能であって、周波数分析結果に応じて、光ディスク認識過程又は光ディスク排出要求時において、前記光ディスク回転時に、前記光ディスクの半径方向に前記対物レンズをチルトさせ、一定の駆動力で一定時間駆動することを特徴とする光ディスク装置。
  7. 請求項5に記載の光ディスク装置であって、
    前記DSPは光ピックアップ駆動信号の振幅検出が可能であって、振幅検出結果に応じて、光ディスク認識過程または光ディスク排出要求時において、前記光ディスク回転時に、前記光ディスクの半径方向に前記対物レンズをチルトさせ、一定の駆動力で一定時間駆動することを特徴とする光ディスク装置。
  8. 請求項1から7のいずれか1項に記載の光ディスク装置であって、光ディスクの内周部で前記対物レンズを一定の駆動力で一定時間駆動することを特徴とする光ディスク装置。
  9. 請求項3又は6に記載の光ディスク装置であって、周波数分析結果に応じて、光ディスクの外周部で前記対物レンズを一定の駆動力で一定時間駆動することを特徴とする光ディスク装置。
  10. 請求項4又は7に記載の光ディスク装置であって、振幅検出結果に応じて、光ディスクの外周部で前記対物レンズを一定の駆動力で一定時間駆動することを特徴とする光ディスク装置。
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