JP2012007203A - 真空遮断器用電極材料の製造方法及び真空遮断器用電極材料 - Google Patents

真空遮断器用電極材料の製造方法及び真空遮断器用電極材料 Download PDF

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Abstract

【課題】耐電圧や遮断性能やコンデンサ開閉性能を向上できる真空遮断器用電極材料の製造方法及び真空遮断器用電極材料を提供する。
【解決手段】真空遮断器用電極材料は、混合工程と、プレス焼結工程と、Cu溶浸工程で製造する。混合工程で、粒径が0.8〜6μmのMo粉と粒径が40〜300μmのテルミットCr粉とを、混合比率をMo:Cr=1:1〜9:1にすると共に混合重量をMo≧Crにして均一に混合する。プレス焼結工程で、混合した混合物をプレス圧1〜4t/cmで加圧成形して成形体を形成し、かつ成形体を加熱炉において1100〜1200℃の温度で1〜2時間保持する焼結を行って仮焼結体を作る。Cu溶浸工程で、仮焼結体上にCu薄板を配置し、加熱炉において1100〜1200℃の温度で1〜2時間保持することで仮焼結体中にCuを液相焼結させて溶侵させる。
【選択図】図1

Description

本発明は真空遮断器用電極材料の製造方法及び真空遮断器用電極材料に係り、特にモリブデン(Mo)−クロム(Cr)合金材料を用いた遮断性能の良好な高電圧大容量の真空遮断器用電極材料の製造方法及び真空遮断器用電極材料に関する。
通常、高電圧で大容量の真空遮断器では、接触及び開離動作が繰り返される電極は、その接触面に設ける電極材料として電流遮断性能や耐電圧性能等の電気的特性の良好な材料が使用されている。
一般的には、真空遮断器用電極材料は、導電性の良好なCuと耐アーク性成分のCrやMo等を定めた割合で混合し、この混合物を加圧成形してから、真空中等の非酸素雰囲気で焼結して焼結体を製造し、この焼結体を使用している。
例えば、特許文献1には、電流遮断性能や耐電圧性能等の電気的特性の良好な電極材料として、Cu−Cr系の電極材料を製造するとき、基材として用いられるCuと、電気的特性を向上させるCr及びCr粒子を微細にする耐熱元素の各粉末を混合した後、焼結体を得る電極材料が提案されている。この電極材料の組成範囲は、重量比でCu 20〜80%、Cr 10〜80%、Mo 0.001〜80%、タングステン(W) 0.01〜80%、タンタル(Ta )0.001〜80%、ニオブ(Nb) 0.001〜80%、バナジウム(V) 0.001〜80%であるとされている。
また、特許文献2には、溶着や消耗が少なくて耐弧性能を改善でき、低接触抵抗で信頼性の高い真空遮断器用接点材料として、Cu、銀(Ag)及び金(Au)のうち少なくとも一種の含有量が20〜45重量%からなる高導電成分と、W、Moのうち少なくとも一種の含有量が55〜80重量%からなる耐弧成分とを含む接点材料と、この接点材料の金属組織に最大断面積が0.001〜0.005mmのものが複数点在して設けられた高導電成分相とを備えることが提案されている。また、この電極材料の製造の最終工程で、更に高導電成分を焼結体の空孔に溶浸させる溶浸工程を行うことも提案されている。
特許第3926994号 特開2002−15644号公報
上記した特許文献1に記載のように、真空遮断器用電極材料では電流遮断性能や耐電圧性能等の電気的特性が向上させるには、Cu系電極材料におけるCu基材中のCr 、Mo等の高融点材の含有量を多くし、かつCr等の粒径を微細化して均一に分散させると良好である。しかし、高融点材であるCr 、Mo等の含有する量が多い真空遮断器用電極材料は、Cu分の含有量の低下によって導電率が下がって接触抵抗値が上昇してしまい、かつ遮断性能が低下するし、更には容量不可を遮断した特の遮断性能(以下「コンデンサ開閉性能」という)が満足できなくなる欠点がある。また、特許文献1に記載の如く、特にCu粉とW粉を混合して製造するCu−W系の電極材料では、遮断性能が低くなることから、真空遮断器に使用できなくなる。
高電圧大容量の真空遮断器に使用する電極材料は、高融点材であるCr等の含有量を増加する必要があるが知られている。ところが、この電極材料の場合には、遮断性能が低下する上、接触抵抗が増加してしまうという問題があった。
本発明の目的は、電極材料中に耐弧成分の含有量が多くなっても、耐電圧や遮断性能やコンデンサ開閉性能を向上できる真空遮断器用電極材料の製造方法及び真空遮断器用電極材料を提供することにある。
本発明の真空遮断器用電極材料の製造方法は、粒径が0.8〜6μmのMo粉と粒径が40〜300μmのテルミットCr粉とを、混合比率をMo:Cr=1:1〜9:1にすると共に混合重量をMo≧Crにして均一に混合する混合工程と、前記混合工程で混合した混合物をプレス圧1〜4t/cmで加圧成形して成形体を形成し、かつ前記成形体を1100〜1200℃の温度で1〜2時間保持する焼結を行って仮焼結体を作るプレス焼結工程と、前記プレス焼結工程で形成した仮焼結体上にCu薄板を配置し、1100〜1200℃の温度で1〜2時間保持して前記仮焼結体中にCuを液相焼結させて溶侵させるCu溶浸工程からなることを特徴としている。
このようにして製造した真空遮断器用電極材料は、粒径20〜150μmのCuが30〜50wt%と、粒径1〜5μmのCrMoが50〜70wt%を含有することを特徴としている。
本発明の真空遮断器用電極材料の製造方法は、Mo粉とテルミットCr粉とを用い、混合比率をMo:Cr=1:1〜9:1でかつ混合重量をMo≧Crして均一に混合し、この混合物を所定のプレス圧で加圧成形して成形体を形成し、この成形体を焼結して仮焼結体を形成し、仮焼結体上にCu薄板を配置した状態で加熱を行い、仮焼結体中にCuを液相焼結させて溶侵させて電極材料を製造するものであるから、容易に製造することができる。しかも、MoCr微細合金の母材組織にCuが溶浸して均一に分布した組織となるため、従来に比べて硬度が高くて耐アーク性が向上するし、接触抵抗の増加を抑制できて、真空遮断器で要求される電流遮断性能や耐電圧性能等の電気的特性、更にはコンデンサ開閉性能も向上できる。
本発明の真空遮断器用電極材料の製造方法で製造した電極材料の金属組織の顕微鏡写真である。 図1を拡大した顕微鏡写真である。
本発明の真空遮断器用電極材料の製造方法は、Mo粉とテルミットCr粉を用い、これらの混合比率をMo:Cr=1:1〜9:1にすると共に、混合重量をMo≧Crにして均一に混合する。この混合物は加圧成形して成形体を形成してから、所定の温度で焼結して仮焼結体を作る。最後に、仮焼結体上にCu薄板を配置し、所定の温度で仮焼結体中にCuを液相焼結させて溶侵させる。製造された真空遮断器用電極材料は、粒径20〜150μmのCuが30〜50wt%と、粒径1〜5μmのCrMoが50〜70wt%を含有している。
以下、本発明の真空遮断器用電極材料の製造方法及び真空遮断器用電極材料について、順に説明する。真空遮断器用電極材料の製造には、主原材料にMo粉とCr粉を用いている。Mo粉は、市販の粒径が0.8〜6μmのものを用い、またCrの微粒子粉は酸化し易いことから、微粒子粉は使用できないため、テルミットCr粉を使用する。テルミットCr粉は、粒径が40〜80μm程度のものが望ましいが、市販の粒径が40〜300μmものを使用することができる。また、市販されているテルミットCr粉の酸素含有量は、1200ppm以下であって、500から1200ppmであるから、これを使用することができる。
Mo粉とテルミットCr粉とは、後述するように両者の混合比率を1:1以上のMo:Cr=1:1〜9:1にすると共に、混合重量をMo≧Crにし、両者を均一に混合する。好ましいMoCrの混合比率は、後述する実施例の試料での検討によれと、Mo:Cr=3:1程度である。また、耐弧成分であるCrは、いずれの混合比率の場合でも5〜15wt%程度存在すると遮断性能が良好になるから、真空遮断器用電極材料としてより一層好適となる。
本発明の真空遮断器用電極材料の製造は、Mo粉とテルミットCr粉を均一に混ぜ合わせる混合工程と、混合物を所定のプレス成形圧力で加圧成形して成形体を形成し、かつこの成形体を予め定めた温度に加熱して仮焼結体を作るプレス焼結工程と、作った仮焼結体上にCu薄板を配置して定めた温度に加熱して仮焼結体中にCuを溶侵させるCu溶浸工程によって製造している。
更に具体的に説明すると、混合工程では上記した条件を満たすMo粉とテルミットCr粉を準備し、最初の工程でこれらを均一に混合する混合処理を施して混合物を作る。続くプレス焼結工程では、混合物を所定の形状の金型に入れ、プレスによる成形圧力を1〜4t/cmにして短時間で圧縮成形する加圧成形の処理を施し、成形体を形成する。この成形体は、加熱炉において1100〜1200℃の温度で1〜2時間保持する焼結を行い、MoCr合金組織の仮焼結体(スケルトン)を作る。
最後のCu溶浸工程では、MoCr合金組織の仮焼結体上に、このMoCr合金組織と濡れ性の非常に良好なCu薄板を配置した状態で、同様に加熱炉において1100〜1200℃の温度で1〜2時間保持する溶浸処理を施している。このようにすると、微細なMoCr合金の焼結母材内に、数十μm程度のCuを液相焼結させて均一に溶侵させることができる。
仮焼結体を作る際の1100〜1200℃の温度で1〜2時間保持する焼結は、Mo粉とテルミットCr粉の混合比率から考慮して加熱温度と時間を適切に設定して行わせることができる。また、同様にCu溶浸工程の1100〜1200℃の温度で1〜2時間保持する溶浸処理も、Cu溶浸の程度を考慮して同様に加熱温度と時間を適切に設定して行わせることができる。
真空遮断器用電極材料の実施例と比較例
表1には、上記した本発明の製造方法の混合工程、プレス焼結工程、Cu溶浸工程とによって製造した真空遮断器用電極材料の実施例を試料NO.1〜12に示し、比較例として従来の方法で製造したCuCr主体の真空遮断器用電極材料を、試料NO.13に示している。
Figure 2012007203
試料NO.1〜12の真空遮断器用電極材料は、いずれも表1記載のMoCrの混合比率で均一に混合し、これを試料NO.12を除いて試料NO.1〜11は記載のように最大4t/cm〜最小1t/cmのプレスによる成形圧力を加えて成形し、加熱炉で1150℃の温度で1.5時間保持する焼結を行い、MoCr合金組織の仮焼結体を作った。その後、仮焼結体上にCu薄板を配置した状態で、加熱炉で1150℃の温度で1.5時間保持する溶浸処理によって、MoCr合金組織中にCuを均一に分散させ、Cuがそれぞれ表1記載のwt%を含むように製造した。
上記した方法で製造した真空遮断器用電極材料は、図1の倍率×100の顕微鏡写真及び図2の倍率×500の顕微鏡写真に示すように、Mo粒子にCrが拡散固着した状態である粒径1〜5μmの微細なMoCr合金組織(白色箇所)中に、粒径20〜150μmのCu(黒色箇所)が分散した組織となっている。これは、Cu溶浸工程でMo粒子を付着させていたCrが、拡散固着していく過程で生ずる空隙部分に、Cuが溶浸していった結果であると推定される。
表1の試料NO.1〜5は、MoCrの混合比率が約3:1、9:1、約4:1、即ち混合重量がMo>Crであって、成形圧力が4t/cm、3t/cm、1t/cmと異なっているが、接触抵抗はいずれも従来の試料NO.13よりも小さく、しかもブリネル硬度が大きく真空遮断器用電極材料として好適なものと判定できた。また、試料NO.6〜8は、混合比率が略1:1で成形圧力を上記と同じように変えたものであるが、接触抵抗及びブリネル硬度とも真空遮断器用電極材料として使用可能なものと判定できた。
しかし、試料NO.9〜11のようにMoCrの混合比率が1:3、即ちMoCrの混合重量をMo<Crとした場合の電極材料は、満足できるものでなくて使用不可能の判定となった。また、試料NO.12のようにMoCrの混合比率を約3:1とした場合であっても、MoCrにプレスによる成形圧力を加えなかった電極材料は、使用不可能の判定となった。
本発明の製造方法では、Mo粉とテルミットCr粉を用い、焼結により微細なCrMo合金組織とし、この組織と濡れ性が非常に良いCuを隙間に溶浸させて真空遮断器用電極材料を作るものである。このため、微細なMoCrの焼結母材中に数十μmのCuを均一に分散させることで、Cuの一定量が確保できるから、従来の50%wtずつのCuCrの真空遮断器用電極材料と比較し、真空遮断器用電極材料の遮断性能を低下させることなく接触抵抗の上昇を抑制できる。また、この真空遮断器用電極材料は、耐弧成分含有量が多いCrMo合金の複合組織ではあるが、微細な組織であるから遮断性能を向上できるし、硬度がより高くできるので耐電圧やコンデンサ開閉性能も向上できる。

Claims (2)

  1. 粒径が0.8〜6μmのMo粉と粒径が40〜300μmのテルミットCr粉とを、混合比率をMo:Cr=1:1〜9:1にすると共に混合重量をMo≧Crにして均一に混合する混合工程と、前記混合工程で混合した混合物をプレス圧1〜4t/cmで加圧成形して成形体を形成し、かつ前記成形体を1100〜1200℃の温度で1〜2時間保持する焼結を行って仮焼結体を作るプレス焼結工程と、前記プレス焼結工程で形成した仮焼結体上にCu薄板を配置し、1100〜1200℃の温度で1〜2時間保持して前記仮焼結体中にCuを液相焼結させて溶侵させるCu溶浸工程からなることを特徴とする真空遮断器用電極材料の製造方法。
  2. 請求項1記載の製造方法によって製造され、粒径Mo>Cr20〜150μmのCuが30〜50wt%と、粒径1〜5μmのCrMoが50〜70wt%を含有することを特徴とする真空遮断器用電極材料。
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