JP2011521202A - 走査型プローブ顕微鏡用ステージ及び試料観察方法 - Google Patents
走査型プローブ顕微鏡用ステージ及び試料観察方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011521202A JP2011521202A JP2010546562A JP2010546562A JP2011521202A JP 2011521202 A JP2011521202 A JP 2011521202A JP 2010546562 A JP2010546562 A JP 2010546562A JP 2010546562 A JP2010546562 A JP 2010546562A JP 2011521202 A JP2011521202 A JP 2011521202A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sample
- probe microscope
- scanning probe
- stage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q30/00—Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
- G01Q30/20—Sample handling devices or methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q30/00—Auxiliary means serving to assist or improve the scanning probe techniques or apparatus, e.g. display or data processing devices
- G01Q30/02—Non-SPM analysing devices, e.g. SEM [Scanning Electron Microscope], spectrometer or optical microscope
Abstract
【解決手段】本発明の走査型プローブ顕微鏡用ステージは、観察対象の試料を搭載する光透過性を有する試料基板を固定する走査型プローブ顕微鏡用ステージであり、試料基板が固定される下部に設けられ、平面視にて試料基板面内に含まれる開口面積の開口部を有し、試料に対し、試料基板の裏面から開口部を介して光を照射する。
【選択図】図1
Description
SPMとしては、上記プローブが試料のいずれの物理量を検出するかによって、図10に示すように、さまざまな種類に分類することができる。
すなわち、半導体デバイスについては、薄膜化の技術の進歩とともに、薄膜の凹凸の観察が必要となるためSPMの高垂直分解能が期待される。
また、不純物(ドーパント原子)を混入させた半導体材料の電気的性質を、高い精度にて計測し、半導体材料内におけるドーパント原子の分布状況を評価することができるため、SPMが活用されている。
さらに、SPMは生体分子の観察において、高い空間分解能が得られ、かつ、真空中の観察や電子照射を行うことが無いため、生体分子にダメージを与えることがなく、生きたままの状態での生体分子の観測を行うことができる。この生体分子の観察には、特に原子間力顕微鏡(AFM:Atomic Force Microscope)と近接場光学顕微鏡(NSOM:Near field Scanning Optical Microscope)が用いられ、今後も利用の範囲が広がっていくものと考えられる。
一方、AFMに関しては、コンタクト、ダイナミック及び位相モードにより試料の高さ、硬さの2次元イメージングができるほか、フォースモジュレーション、磁気力(MFM)、電流、表面電位(KFM)、ナノメートルサイズで試料に穴を開けるナノインデンテーション、雰囲気制御が比較的容易に行うことができる。また試料に制約がないため、生体試料の測定が可能な方法でもある。
したがって、SPMにおいては試料に対し、光照射を可能とするような技術はいままでほとんどなかった。
一方、これまで試料への光照射は、光学顕微鏡においては一般的に行われており、ケージド化合物の解除のための光照射も、市販の顕微鏡に付属の機能として、通常に搭載されている。
すなわち、生理活性物質は、光解離性保護基と結合状態にある場合、生理不活性であるが、紫外線等の照射により、光解離性保護基との結合を解離することにより、生理活性物質を活性状態に変化させ、この生理活性物質により生体分子に薬物刺激を与えることができる。
上述した光としてレーザー光を照射させるため、光路、集光レンズ、及びしぼりなどの光学部品を精度よく設置する必要がある。
光ファイバーを用い、外部からレーザーなどで直接光を照射する方法も考えられるが、その場合においても、レーザー光の光軸調整などが煩雑であり、システムも大規模になり、簡易にSPMから取り外すことが不可能である。
上述した特開2005−106790号公報における試料への光照射の技術は、SPM対して光学顕微鏡を組み合わせたものであり、従来から光学顕微鏡を使った光照射技術に基づくものであり、かつ光照射による反応をケージド化合物を使うことに限定したものである。
しかしながら、上述したSPMにおける照射機構は、SPMの装置と一体化しており、大がかりで高価な煩雑なシステム構成であり、SPMの装置と一体化しているため、他のSPMと共用して使用できない欠点がある。
また、上述したSPMにおいては、試料近傍の溶液に光照射を行う際、光源と試料との間にカンチレバーが存在するため、このカンチレバーが照射光を遮蔽してしまい、最も光を照射したいカンチレバー下部の試料及び溶液に対し、効果的な光照射を行うことができない。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、いずれのSPMにおいても利用することができ、カンチレバーによって照射光が遮蔽されることなく、試料及び試料近傍の溶液に対して効果的に光を照射することができる走査型プローブ顕微鏡用ステージを提供することを目的とする。
上述した構成により、本発明によれば、走査型プローブ顕微鏡用ステージと試料及び試料基板(プラットフォーム)とを一体化して構成しており、試料ステージ自体に光照射の機能を持たせることができ、試料基板を直接に光照射ベース上に固定することが可能となり、容易に試料基板下面から光を照射することができる。
また、本発明によれば、試料基板の下面からの光照射を行うため、SPMのカンチレバー下部に設置することにより、従来のSPM観察をそのまま行うことが可能である。
また、本発明によれば、試料ステージとして、円筒型や穴の開いた板を利用するなど、従来では難しかった形状並びに材質(ガラスのみならず、プラスチックや金属への変更も容易)を用いることができ、汎用性と操作性が広がる。
また、本発明によれば、従来例のように、様々な光学部品を用いることがなく、単純な構造のために汎用性があり、かつ従来例に比較して構造が単純なため壊れにくい。
また本発明によれば、従来例におけるレーザー光源と異なり、光源の電源としてAC電源からDC電圧を生成するものでなく、乾電池や二次電池などの電池若しくはバッテリを使用するため、電源に由来する電磁波ノイズを抑制することができ、計測ノイズを最小限に抑えて、SPMにおける計測ノイズの増加を防止することがきる。
以下、本発明の第1の実施形態による走査型プローブ顕微鏡用ステージを図面を参照して説明する。図1は同実施形態による走査型プローブ顕微鏡用ステージの構成例を示すブロック図である。
この図1において、走査型プローブ顕微鏡用ステージ1は、穴H11を有した筒形状であり、筒の上部(後述する試料基板12を配置する側の面)に開口部を有する容器11と、この容器11内における穴H11の筒の軸方向の上部に、軸方向に対して基板面が垂直に設けられ、観察対象の試料100を上面に固定するマイカなどの平面基板である試料基板12と、この試料基板12の下面方向から試料に対して予め設定された波長の光を照射する光源13と、光源13の電源14と、光源13のオン(光照射)及びオフ(非光照射)を切り替えるスイッチ15とから構成されている。
光源13の電源14(例えば、乾電池)と、光源13のオン/オフ制御を行うスイッチ15は、容器11の外部の測定場所と離れた位置に配置し、配線16(例えば、細い電線)により容器11内の光源13と接続しておき、スイッチ15をオン/オフする際の振動及びノイズを、SPMの測定系に対して与えないようにする。
試料100は、試料基板12上に表面張力により付着した溶液102内に浸された状態となっている。
また、この試料100の観察を行う際、この溶液102中の試料100に対し、SPMのプローブであるカンチレバー101が近接した状態で設けられる。
このため、本実施形態によれば、カンチレバー101とは逆側から光が試料100に対して照射され、従来例のように光源13からの光を遮るものがなく、試料100に対して十分な光量の光を照射することが可能である。
また、従来例の様に、本実施形態における試料に対する光照射機構はSPM本体に固定されているものではないため、走査型プローブ顕微鏡用ステージとし、市販されているSPMに対して容易に脱着することが可能である。
また、市販の他のSPMの走査型プローブ顕微鏡用ステージと同一形状にて構成することにより、容易に交換することが可能となり、すみやかに装着及び脱着が行え、複数のSPMにて共通に使用することができる。
上記試料基板12として、試料100を固定するマイカ基板のみでも、また、マイカ基板をスライドガラスなど光透過性を有する材質の基板の上面に固定したものを用いてもよい。
そして、容器11及び板11Bを形成するベース材料としては、ガラスやアクリル、あるいは金属などを用いることができる。
このため、すでに述べたように、カンチレバー101に光源13から照射された光が遮蔽されることなく、十分に試料100に対して照射されることになる。
そして、容器11及び板11Bを形成するベース材料として、金属のような光の反射強度が高い材料を利用することができれば、容器11あるいは板11Bの開口部上に置かれた試料基板12の裏面から試料100に照射する光の強度を上げることができる。
また、乾電池によって駆動するため、AC電源からDC電圧をレギュレータなどにより生成しないため、測定系及び光源13の光の放射に対する電源ノイズを抑制することができ、観測に問題を与えることがない。
例えば、LEDの波長の種類として、赤外光〜UV(ultraviolet:紫外)光まであり、半導体材料によって放射する光の波長が決まっており、市販されているのは360nm〜1550nmと種類が多い。また、LEDの放射光の場合、太陽光や電球と異なり、発光色が単色、すなわち波長帯域が狭いために必要な波長のみを試料に照射することができる。
また、人間が見える光の範囲(可視光)約380nmから780nmの波長(おおよそ青色が450nm、緑色が520nm、黄色が590nm、赤色が660nm)のほか、380nmより短い紫外光(紫外線)、780nmを超える赤外光(赤外線)のLEDも多数存在する。
たとえば、有害なUV光が、ナノメートルサイズの生物学的な試料に対して、どのように機能対して影響を与えるかを観察することも可能となる。
一方、図3(b)は、UV光を照射することにより、リガンドすなわち、受容体タンパク質に結合して活性化したり活性を抑制する物質が、光解離性保護基から分離し、試料100(例えば、受容体タンパク質)に対して結合する生理活性状態を示している。
したがって、リガンドに光解離性保護基が結合した状態において生理不活性であるが、UV光の照射により、リガンドに対する光解離性保護基の結合を解離させることで、リガンドを生理活性状態に変化させることができ、任意のタイミングにおいて、生体分子に薬物刺激を与えることができる。
そして、溶液102にUV光を照射することにより、図3(b)に示すように、溶液102中のケージド化合物が解除され、リガンドが溶液102中に放出された状態になる。この結果、リガンドは受容体タンパク質のリガンド結合部位に結合することとなり、受容体タンパク質は薬物刺激を受け、形状の変化を起こすことになる。
また、UV光を含めて、ケージド化合物を用いない場合、光反応により励起した反応をナノメートルレベルで観察することができる。
たとえば、UV光による劣化の分子レベル観察、可視光による光合成に関与するタンパク質の分子構造観察、及び光による光硬化樹脂などの高分子の構造変化などに応用できる。
また、マイカ表面にITO(Indium Tin Oxide)などの金属類をコーティングして用いることにより、光照射による電気特性の変化をモニターすることも可能となる。
上述した構成は、いずれのSPMに対しても同様に、容易に用いることができる。
また、試料基板12の温度を変化させる構成とし、走査型プローブ顕微鏡用ステージにおいて異なる温度によって試料を観察できるようにすることができる。この場合、試料基板12の温度を変化させるために、この試料基板12にヒータを組み込むことにより加温する、ペルチェ素子を組み込んで冷却させる、及びグリセリール(glycerol)などの溶媒を、試料基板12に密着させたチューブ内に環流させるなどの方法がある。
第1の実施形態にて説明したように、LEDは1個のみ用いた構成でも良いが、第2の実施形態の様に、複数のLEDを使用する波長に応じて一つを選び、任意の波長の光を試料100に対して照射する構成としてもよい。また、この第2の実施形態において、複数のLEDを順番に一つずつ選択し、時系列的に複数の異なる波長の光を試料100に対して照射し、波長に対応した変化を観察するように構成しても良い。
LEDボックス30のLED毎に設けられたミラー52が、LEDボックス30の各LEDの放射する光を入射し、光導波路40に対して出射させる。
そして、穴H11Bの底部に、上記光導波路40毎に設けられたミラー51により、各光導波路40から出射される光を反射することにより、試料100に対して出射させる。すなわち、試料100に対して各LEDの放射した光を、試料基板12の下部から照射する構成となっている。
そして、穴H11Bの底部に、上記光導波路40毎に設けられたミラー51により反射することで、各光導波路40から出射される光を、試料100に対して出射させて、試料100に対して各LEDの放射した光を照射する。すなわち、試料100に対して各LEDの放射した光を、試料基板12の下部から照射する。
そして、外部のスイッチ15により、選択してオン/オフ制御することにより、試料の観察に必要な波長のLEDの点灯を行うことにより、穴H11Bの開口部からその光を試料に対して照射することができる。試料100は光照射する部分を含めた周囲に置くことができ、試料100上部からカンチレバー101で観察しつつ、同時に試料基板12の下部から光照射することができる。
光導波路40は、それぞれの光導波路40に対応するLEDの放射する、所望の波長の光の伝播が減衰しないような材料である必要がある。
電源14やスイッチ15は、図4(a)〜図4(c)には記載されていないが、第1の実施形態と同様に、走査型プローブ顕微鏡用ステージから離れたところに置くことは十分可能である。
また、LEDボックス30のいずれのLEDを選択するかに関し、予めシーケンス制御のプログラムを作成しておき、このプログラムを用いてコンピュータを動作させて、スイッチ15を自動で制御することもできる。
また、上述の説明においては、LEDボックス30には複数のLEDを配置するとして説明したが、LEDボックス30にLEDを1つのみ配置し、第1の実施形態と同様に、一つの波長のみを使用する構成としても良い。
図5(a)は本実施形態による他の構成の走査型プローブ顕微鏡用のステージの上面図を示し、図5(b)は図5(a)の線A−Aによる線示断面図である。
この光導波路40は、板11Bの側面に光取り入れ口、すなわち、光コネクタ55を接続する接続部が設けられている。
本実施形態においても、図1及び図2におけるカンチレバー101が、試料基板12の上面(図5(b)の試料基板12の上部の面)と対向する位置に設けられているため、試料100に照射される光は、穴H11Bを介し、試料基板12の裏面から試料100に照射されるため、図1及び図2と同様に、カンチレバー101により遮蔽されることはない。
LEDボックス30の各LEDから放射された光は、光ファイバ60及び光コネクタ55を介し、光導波路40に入射される。
各LEDに対応する光導波路40から出射された光は、ミラー51により反射されて、穴H11Bを介して試料基板12の裏面から試料100に対して照射される。
図には示していないが、各LEDにはそれぞれ図1あるいは図2と同様に、電源14から駆動電力を供給するか否かを制御するスイッチ15が設けられている。それぞれのLEDのスイッチ15をオン/オフすることにより、任意の波長の光を試料100に照射させることができる。この電源14及びスイッチ15は、LEDボックス30から離れた位置に配置され、配線によりLEDボックスの各LEDに対して接続されている。
AWG波長分波器70は、波長分波器の一例であり、入射される波長多重光を、予め設定された波長(波長帯域)それぞれを有する光に分波する。
分波された各光に対応し、それぞれ光スイッチ71が設けられており、各光スイッチ71からそれぞれ対応した光ファイバ60を介し、分波された各光が光導波路40へ入射される。光導波路40に入射された光は、図4(a)〜図4(c)の構成と同様に、ミラー51に反射されることにより、穴H11Bを介して試料基板12の裏面から試料100に対して放射される。
また、板11Bに設けられている光導波路40は、図6(a)及び図6(b)に示すように、板11Bの内部に構成しても、あるいは板11Bの表面に設けても、いずれの構成でも良い。
図4(a)〜図4(c)と同様にステージの上面にAWG波長分波器70を設けても良く、この場合、光源ボックス35から放射される光は、板11Bの側面から光ファイバ60により、光コネクタ55を介して、光導波路40に入射される。
板11Bとしては、シリコン基板などを一般的に用いるが、光を透過しないものであれば、導体、半導体及び絶縁体のいずれでもかまわない(図1及び図2の容器11も同様)。
次に、第1及び第2の実施形態における走査型プローブ顕微鏡用ステージを用いた応用例の一例を、図7(a)〜図7(c)及び図8(a)〜図8(c)を用いて説明する。図7(a)〜図7(c)及び図8(a)〜図8(c)は、人工脂質二分子膜中に再構成した受容体タンパク質を観察した結果を示すAFM像(AFMにて観察した試料基板12上の受容体タンパク質の表面画像)及び、このAFM像により解析される受容体タンパク質の概念図である。本応用例においては、SPMとしてAFMを用いて観察を行った。
また、図7(a)〜図7(c)はUV光の照射前の観察結果を示す図であり、図8(a)〜図8(c)はUV光の照射後の観察結果を示す図である。
そして、上記試料100を溶液102中にて、AFMのカンチレバー101により観察を行った。この溶液102中には、2mM(モル)のケージドグルタミン酸が溶解している。
図7(a)において、大きな突起物が1個と、小さな突起物2個とが観察されており、これら3個の突起物を合わせた平面形状は、正方形に近い形状(略正方形)となっている。
しかしながら、図7(a)のAFM像においては、4つの突起物が観察されずに、破線で囲んである部分が示す1個の大きな突起物と、2個の小さな突起物とが観察されている。この理由としては、破線で囲まれている大きな突起物が、実際には2個の小さな突起物(サブユニット)から構成されており、その突起物間の距離が短く、AFMにより観察できる解像度以下の距離だったため、1個の突起物(サブユニット)のように観察されてしまったことが考えられる。
いずれにしても、UV光が照射されておらず、ケージド化合物であるケージドグルタミン酸が分解されておらず、非生理活性状態の環境に受容体タンパク質が置かれており、従って受容体タンパク質のサブユニット間が狭い状態にあるため、図7(a)のように、正方形の形状にて観察されていると考えられる。
これは、UV光の照射により、溶液102中のケージドグルタミン酸が分解、すなわちグルタミン酸と、光解離性保護基とが解離し、グルタミン酸によって受容体タンパク質が活性化、すなわち刺激を受けて、サブユニット間の立体形状が変化し、受容体タンパク質の構造が変化したと考えられる。
また、図8(a)においては、図7(a)と比較して、会合した2個の突起間の距離Dが長くなっていることが観察できる。
この図9のグラフからも分かるように、UV光の照射前において、上記構造物間の距離Dは狭くなったり、広くなったりと、距離Dが揺らいで変動していた状態であることが分かる。
この観察結果は、UV光の照射によって、溶液102中のケージドグルタミン酸が解離し、解離したグルタミン酸によって受容体タンパク質が刺激を受け、上述したようにサブユニットの立体構造が変化したと考えられる。
Claims (9)
- 観察対象の試料を搭載する光透過性を有する試料基板を固定する走査型プローブ顕微鏡用ステージであり、
前記試料基板が固定される下部に設けられ、平面視にて該試料基板面内に含まれる開口面積の開口部を有し、
前記試料に対し、前記試料基板の裏面から前記開口部を介して光を照射することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡用ステージ。 - 前記開口部内に、試料に対して影響を与える波長の前記光を照射する光照射部を有することを特徴とする請求項1に記載の走査型プローブ顕微鏡用ステージ。
- 前記光照射部が光源を有していることを特徴とする請求項2に記載の走査型プローブ顕微鏡用ステージ。
- それぞれが異なる波長を有する複数の光源からなる光源部と、
該光源部からのそれぞれの波長の光に対応する導波路とをさらに有し、
前記各導波路が光照射部にて結合しており、前記光源のオン/オフ制御を行い、いずれかの波長の前記光を前記試料に照射することを特徴とする請求項2記載の走査型プローブ顕微鏡用ステージ。 - 前記光照射部によりLEDを光源とする光を照射することを特徴とする請求項2に記載の走査型プローブ顕微鏡用ステージ。
- 前記光源の電源として、走査型プローブ顕微鏡用ステージから離れた位置に、配線により接続された電池が設けられていることを特徴とする請求項3に記載の走査型プローブ顕微鏡用ステージ。
- 前記光源部の電源として、走査型ブローブ顕微鏡ステージから離れた位置に、配線により接続された電池が設けられていることを特徴とする請求項4に記載の走査型プローブ顕微鏡用ステージ。
- 前記試料基板がマイカ基板であることを特徴とする請求項1に記載の走査型プローブ顕微鏡用ステージ。
- 観察対象の試料を搭載する光透過性を有する試料基板を走査型プローブ顕微鏡用ステージに固定し、走査型プローブ顕微鏡によって前記試料を観察する試料観察方法であり、
前記試料基板が固定される下部に設けられ、平面視にて該試料基板内に含まれる開口面積の開口部を介し、該試料基板の裏面から、前記試料に対して光を照射することを特徴とする試料観察方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2008/062118 WO2009157096A1 (en) | 2008-06-27 | 2008-06-27 | Stage for scanning probe microscopy and sample observation method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011521202A true JP2011521202A (ja) | 2011-07-21 |
JP5340313B2 JP5340313B2 (ja) | 2013-11-13 |
Family
ID=41444171
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010546562A Active JP5340313B2 (ja) | 2008-06-27 | 2008-06-27 | 走査型プローブ顕微鏡用ステージ及び試料観察方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8418261B2 (ja) |
JP (1) | JP5340313B2 (ja) |
GB (1) | GB2473368B (ja) |
WO (1) | WO2009157096A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020105213A1 (ja) * | 2018-11-20 | 2020-05-28 | 株式会社島津製作所 | 走査型プローブ顕微鏡および走査型プローブ顕微鏡の光軸調整方法 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8519330B2 (en) * | 2010-10-01 | 2013-08-27 | Ut-Battelle, Llc | Systems and methods for laser assisted sample transfer to solution for chemical analysis |
US8695108B2 (en) * | 2010-11-05 | 2014-04-08 | National University Corporation Kanazawa University | In-liquid potential measurement device and atomic force microscope |
GB201100967D0 (en) * | 2011-01-20 | 2011-03-02 | Univ Swansea | Lab on a chip device |
CN108445260B (zh) * | 2018-04-10 | 2021-03-19 | 北京航空航天大学 | 一种基于原子力显微镜的多波段样品辐照系统 |
KR102634125B1 (ko) * | 2021-11-05 | 2024-02-06 | 한국표준과학연구원 | 전반사를 발생시키는 광학모듈을 포함하는 광유도력 현미경 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0612907U (ja) * | 1992-07-15 | 1994-02-18 | オリンパス光学工業株式会社 | 走査型トンネル顕微鏡およびその試料台 |
JPH07260458A (ja) * | 1994-03-22 | 1995-10-13 | Seiko Instr Inc | 光伝搬体プローブの透過孔形成方法および透過孔形成手段を有する走査型プローブ顕微鏡 |
JPH08146300A (ja) * | 1994-11-18 | 1996-06-07 | Olympus Optical Co Ltd | 透過照明光学顕微鏡 |
JP2001242384A (ja) * | 2000-03-01 | 2001-09-07 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡用対物レンズ及びそれを用いた顕微鏡 |
JP2004069428A (ja) * | 2002-08-05 | 2004-03-04 | Olympus Corp | 原子及び分子間力顕微鏡 |
JP2006038947A (ja) * | 2004-07-22 | 2006-02-09 | Olympus Corp | 顕微鏡用光源装置および蛍光顕微鏡 |
JP2007033198A (ja) * | 2005-07-26 | 2007-02-08 | Kyoto Univ | 細胞の物質取り込み評価方法及びその装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1116932A3 (de) * | 2000-01-14 | 2003-04-16 | Leica Microsystems Wetzlar GmbH | Messgerät und Verfahren zun Vermessen von Strukturen auf einem Substrat |
US7193706B2 (en) * | 2000-08-02 | 2007-03-20 | Arizona Board Of Regents, Acting On Behalf Of Arizona State University | Computer interfaced scanning fluorescence lifetime microscope applied to directed evolution |
JP2005106790A (ja) | 2003-01-09 | 2005-04-21 | Univ Kanazawa | 走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法 |
-
2008
- 2008-06-27 JP JP2010546562A patent/JP5340313B2/ja active Active
- 2008-06-27 US US12/994,581 patent/US8418261B2/en active Active
- 2008-06-27 WO PCT/JP2008/062118 patent/WO2009157096A1/en active Application Filing
- 2008-06-27 GB GB1020168.9A patent/GB2473368B/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0612907U (ja) * | 1992-07-15 | 1994-02-18 | オリンパス光学工業株式会社 | 走査型トンネル顕微鏡およびその試料台 |
JPH07260458A (ja) * | 1994-03-22 | 1995-10-13 | Seiko Instr Inc | 光伝搬体プローブの透過孔形成方法および透過孔形成手段を有する走査型プローブ顕微鏡 |
JPH08146300A (ja) * | 1994-11-18 | 1996-06-07 | Olympus Optical Co Ltd | 透過照明光学顕微鏡 |
JP2001242384A (ja) * | 2000-03-01 | 2001-09-07 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡用対物レンズ及びそれを用いた顕微鏡 |
JP2004069428A (ja) * | 2002-08-05 | 2004-03-04 | Olympus Corp | 原子及び分子間力顕微鏡 |
JP2006038947A (ja) * | 2004-07-22 | 2006-02-09 | Olympus Corp | 顕微鏡用光源装置および蛍光顕微鏡 |
JP2007033198A (ja) * | 2005-07-26 | 2007-02-08 | Kyoto Univ | 細胞の物質取り込み評価方法及びその装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020105213A1 (ja) * | 2018-11-20 | 2020-05-28 | 株式会社島津製作所 | 走査型プローブ顕微鏡および走査型プローブ顕微鏡の光軸調整方法 |
JP2020085562A (ja) * | 2018-11-20 | 2020-06-04 | 株式会社島津製作所 | 走査型プローブ顕微鏡の光軸調整方法 |
CN112955753A (zh) * | 2018-11-20 | 2021-06-11 | 株式会社岛津制作所 | 扫描型探针显微镜和扫描型探针显微镜的光轴调整方法 |
US11519936B2 (en) | 2018-11-20 | 2022-12-06 | Shimadzu Corporation | Scanning probe microscope and scanning probe microscope optical axis adjustment method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2473368B (en) | 2012-09-19 |
GB201020168D0 (en) | 2011-01-12 |
JP5340313B2 (ja) | 2013-11-13 |
WO2009157096A1 (en) | 2009-12-30 |
US20110099673A1 (en) | 2011-04-28 |
US8418261B2 (en) | 2013-04-09 |
GB2473368A (en) | 2011-03-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5340313B2 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡用ステージ及び試料観察方法 | |
Monks et al. | Spider silk: mother nature’s bio-superlens | |
Shambat et al. | Single-cell photonic nanocavity probes | |
Chen et al. | Wide-field multispectral super-resolution imaging using spin-dependent fluorescence in nanodiamonds | |
Nikolenko et al. | SLM microscopy: scanless two-photon imaging and photostimulation using spatial light modulators | |
US8179597B2 (en) | Biological specimen imaging method and biological specimen imaging apparatus | |
CN209589844U (zh) | 结构照明成像系统和生物传感器 | |
Labilloy et al. | Use of guided spontaneous emission of a semiconductor to probe the optical properties of two-dimensional photonic crystals | |
Böckmann et al. | Near-field manipulation in a scanning tunneling microscope junction with plasmonic Fabry-Pérot tips | |
JP4952784B2 (ja) | 生体用蛍光測定装置及び蛍光測定用励起光照射装置 | |
JP2005535878A (ja) | 走査型無開口蛍光顕微鏡のための改良された方法およびシステム | |
US7929132B2 (en) | Transmission microscopy using light emitted from nanoparticles | |
JP2008309706A (ja) | 分光計測装置及び分光計測方法 | |
JP4448493B2 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法 | |
US20170023611A1 (en) | Atomic force microscope measuring device | |
Blanquer et al. | Relocating single molecules in super-resolved fluorescence lifetime images near a plasmonic nanostructure | |
US10201054B2 (en) | Optical detection device, its method for operating and computer program | |
Trache et al. | Integrated microscopy for real-time imaging of mechanotransduction studies in live cells | |
JP2005309415A (ja) | 光学顕微鏡と光学的観察方法 | |
Dereux et al. | Subwavelength mapping of surface photonic states | |
JP5317133B2 (ja) | 光学顕微鏡 | |
JP2004069428A5 (ja) | ||
Li et al. | Microsphere‐Aided Super‐Resolution Scanning Spectral and Photocurrent Microscopy for Optoelectronic Devices | |
Zecevic et al. | Imaging nervous system activity with voltage‐sensitive dyes | |
Dogan et al. | Spectral self-interference fluorescence microscopy for subcellular imaging |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110124 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101124 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20101124 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111220 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120301 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120724 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121024 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20130605 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20130618 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20130618 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20130726 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130730 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130806 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5340313 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |