JP2004069428A5 - - Google Patents

Claims (18)

1. 光刺激に対する生体試料の局所的な部位の反応をＡＦＭ観察する原子及び分子間力顕微鏡であり、
   ＡＦＭ観察のための探針を先端に備えるカンチレバーと、
   カンチレバーの変位を光学的に検出する変位検出手段と、
   変位検出手段で得られた検出信号を処理する処理手段と、
   試料に対してカンチレバーをＸＹＺ走査する走査手段と、
   試料の全体像を得るための撮像手段と、
   試料の局所的な部位に光刺激を与えるための光ビームを発する光源手段と、
   光源手段からの光ビームの照射の位置と領域と光量と時間を指定する指定手段と、
   光源手段からの光ビームの照射の位置と領域と光量と時間を制御する制御手段とを備えている、原子及び分子間力顕微鏡。
2. 前記光ビームの照射のタイミングが細胞の反応開始のトリガーになることを特徴とする請求項１に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
3. 前記光ビームの照射のタイミング前後の試料を観測することを特徴とする請求項２に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
4. 前記観測は試料の三次元画像を得ることを特徴とする請求項３に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
5. 前記観測は経時変化を伴った観測をすることを特徴とする請求項３に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
6. 前記光ビームの照射の前後の現象を経時的に画像化することを特徴とする請求項２に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
7. 前記光ビームの照射はＣａｇｅｄ解除であることを特徴とする請求項２に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
8. 前記光ビームの照射は試料に局所的にダメージを与えることを特徴とする請求項２に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
9. 前記光ビームの照射は複数の波長の光を用いることを特徴とする請求項２に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
10. 前記光ビームの照射は、ＡＯＴＦ素子による波長選択機能を用いて、任意領域にレーザ光を照射することを特徴とする請求項９に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
11. 前記光ビームの照射は、ＡＯＴＦ素子による波長選択機能を用いて、複数の任意領域に、異なる波長の複数のレーザ光を、異なる強度で照射することを特徴とする請求項１０に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
12. 光刺激に対する生体試料の局所的な部位の反応をＡＦＭ観察する原子及び分子間力顕微鏡であり、
    ＡＦＭ観察のための探針を先端に備えるカンチレバーと、
    カンチレバーの変位を光学的に検出する変位検出手段と、
    変位検出手段で得られた検出信号を処理する処理手段と、
    試料に対してカンチレバーをＸＹＺ走査する走査手段と、
    試料の全体像を得るための撮像手段と、
    試料の局所的な部位に光刺激を与えるための光ビームを発する光源手段と、
    光源手段からの光ビームの照射の位置と領域と光量と時間を指定する指定手段と、
    光源手段からの光ビームの照射の位置と領域と光量と時間を制御する制御手段とを備え、
    前記カンチレバーに蛍光物質が付されている、原子及び分子間力顕微鏡。
13. 光刺激に対する生体試料の局所的な部位の反応をＡＦＭ観察する原子及び分子間力顕微鏡であり、
    ＡＦＭ観察のための探針を先端に備えるカンチレバーと、
    カンチレバーの変位を光学的に検出する変位検出手段と、
    変位検出手段で得られた検出信号を処理する処理手段と、
    試料に対してカンチレバーをＸＹＺ走査する走査手段と、
    試料の全体像を得るための撮像手段と、
    試料の局所的な部位に光刺激を与えるための光ビームを発する光源手段と、
    光源手段からの光ビームの照射の位置と領域と光量と時間を指定する指定手段と、
    光源手段からの光ビームの照射の位置と領域と光量と時間を制御する制御手段と、
    共焦点光学系を備えている、原子及び分子間力顕微鏡。
14. 前記光ビームの照射は、前記共焦点光学系のＺ方向に移動する機構により指定した Z 方向の位置で空間照射することを特徴とする請求項１３に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
15. 微分干渉像による観察を行うことを特徴とする請求項１または１３に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
16. 蛍光像でによる観察を行うことを特徴とする請求項１または１３に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
17. 光源手段からの光ビームの照射に反応して試料が発する蛍光を検出する共焦点光学系の検出光学系を更に備えている、請求項１に記載の原子及び分子間力顕微鏡。
18. 光源手段から発せられ試料を透過した光ビームを検出する検出手段を更に備えている、請求項１または請求項２に記載の原子及び分子間力顕微鏡。