JP2011515678A5 - - Google Patents

Claims (10)

1. 中心軸から延在する角度方向に間隔を置いた放射状の線の上に位置する複数の試験モジュールを有し、各試験モジュールが、電子部品を試験する複数の接点対を有する電子試験機であって、
   電気試験組立及び較正のための装置は、
   接点対の間に選択的に試験装置を電気的に挿入するため試験位置の間で移動可能な少なくとも１つの試験電極を有するプレートと、ここで、前記試験装置は、電圧計、電流計、精密電流源、精密電圧源、較正抵抗、及び較正キャパシタから構成される群から選択され、
   前記プレートを介して少なくとも１つの試験機能を実行するように構成され、前記試験機能が、アラインメント検証、電圧／電流源検証、絶縁抵抗（ＩＲ)漏電測定検証、部品存在接触チェック検証、容量と散逸（ＣＤ)測定検証、ＩＲ／ＣＤ補償、及びＩＲ／ＣＤ較正から構成される群から選択される、制御プログラムとを具備することを特徴とする電子試験機。
2. 試験のために少なくとも１つの試験電極を別の接点対と選択的に整列させるべく、回転軸の周囲で別の角度位置に回転させるため前記中心軸と同軸状に整列された回転軸を有するプレートをさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の電子試験機。
3. 前記プレートの上に位置する複数のトラックをさらに備え、
   前記試験電極は、前記プレートの前記回転軸の周囲で等間隔で間隔を置いて位置することを特徴とする請求項１または２に記載の電子試験機。
4. 前記少なくとも１つの電極はさらに、各トラックに関連する単一の配線接点を備え、前記単一の配線接点のそれぞれは、互いに電気的に絶縁され、前記単一の配線接点のみが試験される前記電子試験機の前記接点対に一度に接触するように、前記プレート上に位置すると共に、第１の電極及び第２の電極を有することを特徴とする請求項３に記載の電子試験機。
5. 前記プレート上に取り付けられたコネクタ、互いにかつ前記コネクタの内部導体に電気的に接続された前記第１の電極、及び互いにかつ前記コネクタの外部導体に電気的に接続された前記第２の電極をさらに備えることを特徴とする請求項４に記載の電子試験機。
6. 隣接する試験位置の間に３つの配線接点が存在するように、すべての第４の配線接点の間に位置する試験位置をさらに備え、
   前記プレートが、等角度間隔でインデックスされたとき、現在試験中の前記配線接点が移動して接点対との係合が解除され、他の配線接点が移動して試験される別の接点対と係合することを特徴とする請求項４に記載の電子試験機。
7. 中心軸から延在する角度方向に間隔を置いた放射状の線の上に位置する複数の試験モジュールを有し、各試験モジュールが、電子部品を試験する複数の接点対を有する電子試験機の組立及び較正方法であって、
   複数の試験位置の１つに少なくとも１つの電極を選択的に置き、接点対の間に選択的に試験装置を電気的に挿入するべく、試験される前記試験モジュールに対し回転軸の周囲で回転移動させるためプレートを位置付ける工程と、
   電圧計、電流計、精密電流源、精密電圧源、較正抵抗、及び較正キャパシタから構成される群から挿入される前記試験装置を選択する工程と、
   制御プログラムにより、前記プレートを介して少なくとも１つの試験機能を実行する工程と、
   アラインメント検証、電圧／電流源検証、絶縁抵抗（ＩＲ)漏電測定検証、部品存在接触チェック検証、容量と散逸（ＣＤ)測定検証、ＩＲ／ＣＤ補償、及びＩＲ／ＣＤ較正から構成される群から、実行される前記試験機能を選択する工程とを含むことを特徴とする組立及び較正方法。
8. 試験のために、前記少なくとも１つの電極を連続的に別の接点対と選択的に整列させるために、前記回転軸の周囲で回転中の前記プレートを別の角度位置に移動させる工程をさらに含むことを特徴とする請求項７記載の方法。
9. 前記少なくとも１つの試験電極を、試験される複数の試験モジュールの各々に対する各試験位置に関連する接点対に対し角度方向かつ放射状に整列させる工程をさらに含むことを特徴とする請求項７または８記載の方法。
10. 前記少なくとも１つの電極を整列させる工程が、
    前記プレート上の第１の電極及び第２の電極を互いに電気的に絶縁し、前記プレートの各トラックに関連すると共に、前記プレート上に位置する単一の配線接点を、前記単一の配線接点のみが、試験される前記電子試験機の前記接点対に一度に接触するように、規定する工程をさらに含むことを特徴とする請求項９記載の方法。