JP2011258856A - 発光素子および発光装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】発光素子の耐久性および発光効率を向上させ、小型化を図る。
【解決手段】発光素子は、基板と、第1の半導体層、前記第1の半導体層上に設けられた発光層、および前記発光層の上に設けられた第2の半導体層を有し、前記基板の第1の主面側に設けられた半導体多層構造体と、前記半導体多層構造体の前記第2の半導体層上に設けられた電極と、前記基板を貫通して前記第1の半導体層に接続し、前記基板の第2の主面側に設けられた第1のビア電極と、前記基板および前記半導体多層構造体を貫通して前記電極に接続し、前記基板の前記第2の主面側に設けられた第2のビア電極と、を備え、前記第1のビア電極および前記第2のビア電極の少なくともいずれかのビア電極であって、前記第2の主面側の一部に、凹みが設けられている。
【選択図】図1

Description

本発明の実施形態は、発光素子および発光装置に関する。
LED(Light Emitting Diode)等の発光素子を搭載した発光装置は、フルカラーディスプレイ、交通・信号機器、車載用途などに幅広く用いられている。このため、発光強度が高く、耐久性の高い発光装置が要求される。
LED等の発光素子においては、例えば、発光層がクラッド層で挟まれ、n側電極側から発光層に電子、p側電極側から発光層に正孔が注入され、発光層内に形成されたpn接合界面での電子と正孔との再結合により発光が生じる。発光素子は、一般的には、パッケージ部材の底面に設けられたリードフレームの上に搭載されて、封止用樹脂により封止される。
しかし、発光素子とリードフレームとは、例えば、ハンダ等の接着層によって接合されているに過ぎず、封止用樹脂がパッケージ部材内に圧入されたり、封止用樹脂が熱硬化されるとき、あるいは、発光装置を点灯・消灯するときに生じる温度サイクルによって発光素子がリードフレームから剥離したり、発光素子の位置ずれが生じたりする場合がある。
また、発光層から発せられる光を効率よく取り出すために、発光素子の光取り出し側の電極として光透過性電極が用いられている。例えば、ITO(Indium Tin Oxide)電極がその例である。この光透過性電極には外部配線を直接ボンディングすることは困難であるため、ボンディング用の電極パッドを光透過性電極の上に形成するのが一般的である。
しかしながら、ボンディング用の電極パッドは、ある程度の厚みと面積を有するため、発光層から発せられる光の一部が電極パッドによって遮られてしまう。これにより、発光素子の発光効率が向上しないという問題があった。これを回避するために、ボンディング用の電極パッドを設けず、光透過性電極を発光素子の横方向に引き出す方策があるが、このような構造では、配線を横方向に引き出すスペースが必然になり、発光装置の小型化が図れないという問題があった。
特開2009−099716号公報
本発明の実施形態は、耐久性および発光効率が向上し、小型化が実現する発光素子および発光装置を提供する。
本実施形態の発光素子は、基板と、第1の半導体層、前記第1の半導体層上に設けられた発光層、および前記発光層の上に設けられた第2の半導体層を有し、前記基板の第1の主面側に設けられた半導体多層構造体と、前記半導体多層構造体の前記第2の半導体層上に設けられた電極と、前記基板を貫通して前記第1の半導体層に接続し、前記基板の第2の主面側に設けられた第1のビア電極と、前記基板および前記半導体多層構造体を貫通して前記電極に接続し、前記基板の前記第2の主面側に設けられた第2のビア電極と、を備え、前記第1のビア電極および前記第2のビア電極の少なくともいずれかのビア電極であって、前記第2の主面側の一部に、凹みが設けられている。
また、本実施形態の発光装置は、筐体と、前記筐体内に設けられた、上記発光素子と、前記発光素子を覆うように設けられた樹脂と、前記発光素子の前記第1のビア電極に電気的に接続された第1のリードフレームと、前記第1のビア電極と、前記第1のリードフレームとの間に設けられ、前記第1のビア電極に設けられた凹みに入り込んだ第1接着部材と、前記発光素子の前記第2のビア電極に電気的に接続された第2のリードフレームと、前記第2のビア電極と、前記第2のリードフレームとの間に設けられ、前記第2のビア電極に設けられた凹みに入り込んだ第2接着部材と、を備える。
第1の実施の形態に係る発光素子の要部模式図であり、(a)は、発光素子の上面模式図、(b)は、(a)および(c)のX−Y断面図、(c)は、発光素子の下面模式図である。 第1の実施の形態に係る発光装置の要部断面模式図である。 第1の実施の形態に係る発光素子の製造過程を説明する要部断面模式図であり、(a)は、絶縁膜の形成工程図、(b)は、半導体多層構造体および電極の形成工程図、(c)は、基板の研磨工程図である。 第1の実施の形態に係る発光素子の製造過程を説明する要部断面模式図であり、(a)は、第2のビア電極形成のためのコンタクトホールの形成工程図、(b)は、第1のビア電極形成のためのコンタクトホールの形成工程図、(c)は、第1および第2のビア電極形成工程図である。 第1の実施の形態に係る発光装置の製造過程を説明する要部断面模式図であり、(a)は、発光素子とリードフレームとの位置あわせ工程図、(b)は、発光素子とリードフレームとの接合工程図である。 第2の実施の形態に係る発光素子の要部模式図であり、(a)は、第2の実施の形態の第1の実施例の下面模式図、(b)は、第2の実施の形態の第2の実施例の下面模式図、(c)は、第2の実施の形態の第3の実施例の下面模式図である。 第3の実施の形態に係る発光素子の要部模式図であり、(a)は、第3の実施の形態の第1の実施例の下面模式図、(b)は、第3の実施の形態の第2の実施例の下面模式図、(c)は、第3の実施の形態の第3の実施例の下面模式図、(d)は、第3の実施の形態の第4の実施例の下面模式図である。 第4の実施の形態に係る発光素子の要部断面模式図である。 第5の実施の形態に係る発光素子の要部断面模式図である。 第6の実施の形態に係る発光素子の要部断面模式図である。
以下、図面を参照しつつ、本実施の形態について説明する。
(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態に係る発光素子の要部模式図であり、(a)は、発光素子の上面模式図、(b)は、(a)および(c)のX−Y断面図、(c)は、発光素子の下面模式図である。
発光素子1は、LED素子であり、基板10と、基板10の第1の主面側(表面側)に設けられた絶縁層20と、絶縁層20の上(上側)に設けられた半導体多層構造体33と、を有する。半導体多層構造体33は、第1の半導体層30と、第2の半導体層31とが発光層32を挟む構造を有する。すなわち、絶縁層20の上に設けられた第1の半導体層30と、第1の半導体層30の上に設けられた発光層32と、発光層32の上に設けられた第2の半導体層31と、を含む半導体多層構造体33が基板10の上に設けられている。絶縁層20は、基板10と、半導体多層構造体33との間に設けられている。
発光素子1は、半導体多層構造体33の第2の半導体層31に接続された電極40を有する。電極40は、平面状の透光性電極であり、第2の半導体層31の上に設けられている。
絶縁層20については、基板10の上に設けられていない形態も、本実施の形態に含まれる。以下の説明では、基板10と、半導体多層構造体33との間に設けられた絶縁層20が存在する形態について説明する。
発光素子1は、第1のビア電極50と、第2のビア電極60と、を有する。ビア電極50は、基板10の第2の主面側(裏面側)に少なくとも1つ設けられ、基板10および絶縁層20を貫通して、第1の半導体層30に接続されている。例えば、複数のビア電極50が基板10の第2の主面に対して垂直な方向からみて、格子状に配置されている。このような配置であれば、発光素子を動作させたときに発光層32内に流れる電流は、発光素子1の主面において均等に分散され易くなる。その結果、発光素子1の発光分布が向上する。それぞれのビア電極50は、基板10の裏面側において互いに導通させてもよい。図1(b)、(c)には、それぞれのビア電極50を基板10の裏面側において互いに導通させた状態が例示されている。ビア電極60は、基板10の第2の主面側に少なくとも1つ設けられ、基板10、絶縁層20、および半導体多層構造体33を貫通して、電極40に接続されている。すなわち、ビア電極50およびビア電極60は、ともに基板10の第2の主面側に設けられている。
ビア電極50と、基板10および絶縁層20との間には、絶縁膜70が設けられている。ビア電極60と、基板10、絶縁層20、および半導体多層構造体33との間には、絶縁膜71が設けられている。絶縁膜70については、必要に応じて取り除いてもよい。この絶縁膜70を取り除いた場合、基板10が半導体材であると、基板10とビア電極50とが導通する。しかし、絶縁膜71の存在により、ビア電極50とビア電極60とが短絡することはない。
ビア電極50が基板10および絶縁層20を貫通して半導体多層構造体33の第2の半導体層31にまで延在する部分においては、基板10の第2の主面から第1の主面に向かって凹み(凹部)50hが形成されている。すなわち、ビア電極50の基板10の第2の主面側に表出された面の一部には、凹み50hが設けられている。
ビア電極60が基板10、絶縁層20、および半導体多層構造体33を貫通して電極40にまで延在する部分においては、基板10の第2の主面から第1の主面に向かって凹み(凹部)60hが形成されている。すなわち、ビア電極60の基板10の第2の主面側に表出された面の一部には、凹み60hが設けられている。
このように、ビア電極50およびビア電極60の少なくともいずれかのビア電極であって、基板10の第2の主面側に表出された面の一部に、凹みが設けられている。これらの凹み50h、60hについては、凹み50hおよび凹み60hを基板10の第2の主面側に設けてもよく、凹み50hまたは凹み60hのいずれか一方を基板10の第2の主面側に設けてもよい。
基板10の材質は、例えば、シリコン(Si)等の半導体である。絶縁層20の材質は、例えば、アルミナ(Al)等の金属酸化物である。半導体層30の材質は、例えば、GaNバッファ層/n形GaN層/n形GaNガイド層の積層体である。半導体層31の材質は、例えば、p形GaNガイド層/p形GaN層の積層体である。発光層32は、例えば、In0.15Ga0.85N/In0.02Ga0.98NのMQW(Multi-Quantum Well)構造の層である。発光層32からは、例えば、青色光、紫色光等が放射される。
電極40の材質は、例えば、ITO、酸化亜鉛(ZnO)、酸化錫(SnO)、極薄の金属(Au、Pt)等である。ビア電極50、60の材質は、例えば、銅(Cu)、ニッケル(Ni)、アルミニウム(Al)等である。ビア電極50の材質としては、AuGe/Mo/Au、Ti/Pt/Au等の積層膜であってもよい。電極60の材質としては、AuZn/Mo/Au、Ti/Pt/Au等の積層膜であってもよい。絶縁膜70、71の材質は、例えば、酸化シリコン(SiO)である。
図2は、第1の実施の形態に係る発光装置の要部断面模式図である。
発光装置100は、パッケージ部材である筐体101と、筐体101内に設けられた発光素子1と、発光素子1を覆うように設けられた封止用樹脂102と、発光素子1のビア電極50に電気的に接続された第1のリードフレーム110と、発光素子1のビア電極60に電気的に接続された第2のリードフレーム120と、を備える。
発光素子1のビア電極50と、リードフレーム110とは、例えば、第1接着部材である接着部材111によって接合されている。ビア電極50には、凹み50hが設けられているので、接着部材111は、ビア電極50とリードフレーム110とが対向する間隙のほか、ビア電極50の凹み50hにまで入り込んでいる。このように、接着部材111は、ビア電極50と、リードフレーム110との間に設けられ、ビア電極50に設けられた凹み50hに入り込んでいる。発光素子1のビア電極60と、リードフレーム120とは、例えば、第2接着部材である接着部材121によって接合されている。ビア電極60には、凹み60hが設けられているので、接着部材121は、ビア電極60とリードフレーム120とが対向する間隙のほか、ビア電極60の凹み60hにまで入り込んでいる。このように、接着部材121は、ビア電極60と、リードフレーム120との間に設けられ、ビア電極60に設けられた凹み60hに入り込んでいる。
筐体101の材質は、例えば、樹脂、シリコン、セラミック材等である。封止用樹脂102の材質は、例えば、熱硬化性のシリコーン等である。封止用樹脂102の中には、必要に応じて蛍光体を混在させてもよい。リードフレーム110、120の材質は、例えば、銅(Cu)である。接着部材111、121の材質は、例えば、ハンダ等の導電性の接着材である。ハンダとしては、例えば、錫(Sn)−銅(Cu)、錫(Sn)−銀(Ag)、錫(Sn)−亜鉛(Zn)、錫(Sn)−銀(Ag)−銅(Cu)等の鉛フリーハンダが用いられる。
次に、発光素子1および発光装置100の製造過程について説明する。
図3は、第1の実施の形態に係る発光素子の製造過程を説明する要部断面模式図であり、(a)は、絶縁膜の形成工程図、(b)は、半導体多層構造体および電極の形成工程図、(c)は、基板の研磨工程図である。
まず、図3(a)に示すように、基板10の第1の主面側に絶縁層20を形成する。この段階での基板10は、個片化前の状態にあり、例えば、シリコンウェーハである。
絶縁層20については、塩化アルミニウム(AlCl)、トリメチルアルミニウム(TMA)、トリイソブチルアルミニウム(TIBA)等のアルミニウム含有ガスと、酸素(O)、二酸化炭素(CO)、亜酸化窒素(NO)等の酸素含有ガスと、を混合させてCVD(Chemical Vapor Deposition)法で成長する。このCVDでは、キャリアガスとしてヘリウム(He)、アルゴン(Ar)等を用いてもよい。絶縁層20の材質は、例えば、アルミナ(Al)であるが、GaN系半導体を絶縁層20の上に形成する場合は、サファイアであることが望ましい。絶縁層20には、加熱処理を施して結晶相を制御してもよい。絶縁層20については、基板10の上に形成しない実施の形態も、本実施の形態に含まれる。以下に例示する製造過程の説明では、絶縁層20を基板10の上に形成する例を説明する。
次に、図3(b)に示すように、絶縁層20の上に、エピタキシャル成長法(MOCVD法)によって、半導体層30、発光層32、半導体層31を、この順に積層する。これにより、絶縁層20の上に半導体多層構造体33が形成される。さらに、半導体多層構造体33の上に電極40を形成する。電極40は、スパッタリング法、真空蒸着法等によって形成する。
次に、図3(c)に示すように、基板10の厚みが所望の厚みになるように、基板10の第2の主面側を研磨する。さらに、ダイシングライン90付近の絶縁層20、半導体多層構造体33、および電極40をエッチングによって選択的に除去する。
図4は、第1の実施の形態に係る発光素子の製造過程を説明する要部断面模式図であり、(a)は、第2のビア電極形成のためのコンタクトホールの形成工程図、(b)は、第1のビア電極形成のためのコンタクトホールの形成工程図、(c)は、第1および第2のビア電極形成工程図である。
第1のビア電極50が基板10および絶縁層10に貫通する深さと、第2のビア電極60が基板10、絶縁層20、および半導体多層構造体33を貫通する深さが異なるために、本実施の形態では、第2のビア電極60を形成するためのコンタクトホール81と、第1のビア電極50を形成するためのコンタクトホール80とを形成する製造過程を分けている。
例えば、図4(a)に示すように、第2のビア電極60を形成するためのコンタクトホール81をフォトリソグラフィおよびドライエッチングにより少なくとも1つ形成する。基板10の裏面側からドライエッチングにより、基板10、絶縁層20、半導体多層構造体33のそれぞれの一部を除去する都合上、コンタクトホール81の断面形状は、図4(a)においては逆V字型になる。コンタクトホール81の断面形状については、ドライエッチング条件を調整することにより、ストレート型に形成してもよい。このコンタクトホール81の形成によって、半導体多層構造体33の上に設けられた電極40の一部が基板10の裏面側に露出する。
続いて、コンタクトホール81の内壁、およびコンタクトホール81の入り口近傍の基板10の上に、絶縁膜71を形成する。基板10の裏面側からコンタクトホール81の内部をみた場合、コンタクトホール81の底から基板10の一部が露出するように、コンタクトホール81および絶縁膜71を形成する。
次に、コンタクトホール81および絶縁膜71を形成した後、図4(b)に示すように、第1のビア電極50を形成するためのコンタクトホール80をフォトリソグラフィおよびドライエッチングにより少なくとも1つ形成する。基板10の裏面側からドライエッチングにより、基板10、絶縁層20、半導体多層構造体33のそれぞれの一部を除去する都合上、コンタクトホール80の断面形状は、図4(a)においては逆V字型になる。コンタクトホール80の断面形状については、ドライエッチング条件を調整することにより、ストレート型に形成してもよい。このコンタクトホール80の形成によって、電極40の裏面側の一部が基板10の裏面側に露出する。
続いて、コンタクトホール80の内壁、およびコンタクトホール80の入り口近傍の基板10の上に、絶縁膜70を形成する。基板10の裏面側からコンタクトホール80の内部をみた場合、コンタクトホール80の底から基板10の一部が露出するように、コンタクトホール80および絶縁膜70を形成する。なお、絶縁膜70を形成しない製造過程も本実施の形態に含まれる。
次に、図4(c)に示すように、フォトリソグラフィによりパターニングされたレジスト層85を形成した後、コンタクトホール80の内部に絶縁膜70を貫通するようにビア電極50を形成する。それぞれのビア電極50については基板10の裏面側において連通させてもよい。さらに、コンタクトホール81の内部およびコンタクトホール81の入り口近傍の基板10の上に絶縁膜71を貫通するようにビア電極60を形成する。これにより、半導体多層構造体33の半導体層30に接続されたビア電極50が形成される。また、電極40に接続されたビア電極60が形成される。
ここで、ビア電極50については、コンタクトホール80の内部に完全に埋設しない。これにより、コンタクトホール80の内部に形成されたビア電極50に凹み50hが形成される。同様に、ビア電極60については、コンタクトホール81の内部に完全に埋設しない。これにより、コンタクトホール81の内部に形成されたビア電極60に凹み60hが形成される。本実施の形態では、凹み50hおよび凹み60hを形成する製造過程、凹み50hまたは凹み60hを形成する製造過程を含む。
凹み50h、60hは、例えば、ビア電極50およびビア電極60の厚みを制御することによって形成される。凹み50h、60hは、ともに基板10の第2の主面側に形成される。ビア電極50およびビア電極60は、例えば、めっき法、CVD法、スパッタリング法等により形成する。
レジスト層85を除去した後においては、ダイシングライン90に沿って基板10を切断する。これにより、個片化された発光素子1が形成される。
図5は、第1の実施の形態に係る発光装置の製造過程を説明する要部断面模式図であり、(a)は、発光素子とリードフレームとの位置あわせ工程図、(b)は、発光素子とリードフレームとの接合工程図である。
次に、図5(a)に示すように、個片化された発光素子1と、筐体101に配置されたリードフレーム110、120との位置あわせを行う。リードフレーム110、120の上には、それぞれ接着部材111、121が載置されている。例えば、ビア電極50とリードフレーム110とを接着部材111を介して対向させ、ビア電極60とリードフレーム120とを接着部材121を介して対向させる。そして、フェイスダウンにより矢印の方向に発光素子1を降下させて、発光素子1をリードフレーム110、120の上に載置する。ビア電極50、60およびリードフレーム110、120には、予めフラックス剤を塗布してもよい。
次に、図5(b)に示すように、発光素子1、筐体101、およびリードフレーム110、120を加熱して、接着部材111、121を溶融させる。この際、溶融した接着部材111、121は、例えば、表面張力によって発光素子1の凹み50h、60hの内部にめり込む。そして、発光素子1、筐体101、およびリードフレーム110、120を接着部材111、121の融点より低くなるまで冷却する。これにより、発光素子1のビア電極50がリードフレーム110と接合し、発光素子1のビア電極60がリードフレーム120に接合する。接合後、接着部材111、121は、発光素子1の凹み50h、60hにめり込んだ状態を維持する。すなわち、接着部材111、121は、接着力のほか、アンカー効果が生じて、発光素子1のビア電極50、60と、リードフレーム110、120とが強固に接合する。
接着部材111、121の凹み50h、60hへのめり込みを促進させるために、接着部材111、121を減圧下で溶融させてもよい。あるいは、接着部材111、121が溶融しているときに、ハンドラ等で発光素子1を接着部材111、121に押しつけてもよい。そして、この後においては、図2に示すように、封止用樹脂102によって、発光素子1を封止する。封止用樹脂102として、熱硬化性のシリコーン樹脂を用い、熱硬化によって封止用樹脂102を形成する。封止用樹脂102には、必要に応じて蛍光体を混入してもよい。このような製造過程により、発光装置100が形成される。
発光装置100(または、発光素子1)においては、ビア電極50をn側電極とし、ビア電極60をp側電極とすることにより、ビア電極50とビア電極60との間に所定の電圧を印加することにより、発光層32から所定の波長域の光が放出される。
ところで、ビア電極50、60に凹み50h、60hを設けない構造では、接着部材111、121によるアンカー効果が生じ難い。このような構造では、封止用樹脂102を筐体101内に圧入したり、封止用樹脂102を熱硬化すると、発光素子1とリードフレーム110、120との相対位置がずれたり、ビア電極50、60がリードフレーム110、120から剥離する場合がある。さらに、発光素子を組み込んだ発光装置を長時間にわたり使用すると、発光装置の点灯および消灯が繰り返され、発光素子1とリードフレーム110、120との相対位置がずれたり、ビア電極50、60がリードフレーム110、120から剥離したりする場合がある。これらの要因は、主に、発光素子1の線膨張係数と、リードフレーム110、120の線膨張係数とに差異があるためである。
これに対し、本実施の形態に係る発光装置100においては、接着部材111、121が発光素子1の凹み50h、60hに入り込むので、接着部材111、121によるアンカー効果が生じる。これにより、発光素子1のビア電極50、60と、リードフレーム110、120とが強固に接合する。従って、上述したような相対的な位置ずれ、剥離は生じ難くなる。これにより、発光装置100の耐久性は向上する。
また、発光装置100(または、発光素子1)では、電極40に接続されたビア電極60を基板10の裏面側(第2の主面側)に引き出している。従って、電極40の上に、外部配線との電気的な接続を図るための電極パッド(ボンディング用の電極パッド)、この電極パッドに接続されるボンディングワイヤを配置する必要がない。
ボンディング用の電極パッドは、外部配線とのハンダ付けや超音波接合等を行う都合上、一般的には、ある程度の面積、厚みを有する。また、ボンディングワイヤは、所定の電流を流す都合上、所定の太さになる。このため、ボンディング用の電極パッド、ボンディングワイヤを電極40の上に配置すると、発光層32から発せられる光の一部がこれらの電極パッド、ボンディングワイヤによって遮られてしまう。その結果、発光装置の発光効率が低下する。ここで、発光効率とは、発光装置に投入する電力Pに対する、発光装置から放出される光の強度Iの割合(I/P)で定義される。
これに対し、発光装置100(発光素子1)では、ボンディング用の電極パッド、ボンディングワイヤを設ける必要がないので、遮光が弱まり、発光装置100(発光素子1)の発光効率がより向上する。
また、発光装置100(または、発光素子1)では、電極40との電気的な接続を、基板10の裏面側に引き出したビア電極60によって遂行している。このため、電極40に導通する別の電極(配線)を発光素子1の外周から外側(例えば、発光素子1の横方向)に配置する必要がなくなる。すなわち、電極40は、発光素子1の主面内に収められている。また、半導体層30に電気的に接続されたビア電極50、および半導体層31に電気的に接続されたビア電極60は、ともに発光素子1の下(下側)に配置されている。これにより、発光装置100(または、発光素子1)は、より小型になるとともに薄型になる。
また、発光素子1の凹み50h、60hは、ビア電極50、60を形成する工程において、ビア電極50、60の厚みを制御することによって形成し得る。従って、凹み50h、60hを形成するための特別なフォトリソグラフィ工程を要しない。このため、発光素子1を製造するときの製造コストは増加することなく、凹み50h、60hを形成することができる。
また、発光素子1では、高価なサファイア結晶基板の上に半導体多層構造体33を形成するのではなく、より安価なシリコンウェーハの上に絶縁層20を介して半導体多層構造体33を形成する。また、サファイア結晶基板の上に半導体多層構造体33を形成する必要がないため、サファイア結晶基板から半導体多層構造体33を剥離させる工程が不要になる。このため、発光素子1の製造コストは、より低減する。
また、基板10の材質は、サファイア結晶、樹脂といった熱伝導率の低い材質ではなく、例えば、シリコン材なので、発光素子1から発せられる熱を基板10から効率よく放出させることができる。
また、個片化前の基板10として、高硬度のサファイア結晶を用いず、例えば、シリコンウェーハを用いるので、基板10のダイシング処理を容易に遂行することができる。
次に、実施の形態の変形例について説明する。以下の説明では、同一の部材には同一の符号を付し、既に説明した部材の説明については適宜省略する。
(第2の実施の形態)
図6は、第2の実施の形態に係る発光素子の要部模式図であり、(a)は、第2の実施の形態の第1の実施例の下面模式図、(b)は、第2の実施の形態の第2の実施例の下面模式図、(c)は、第2の実施の形態の第3の実施例の下面模式図である。図6には、n側電極であるビア電極が例示されている。図6には、p側電極であるビア電極は、表示されていない。
図6(a)に示すように、発光素子2Aのビア電極50は、基板10の第2の主面に対して垂直な方向からみて、ハニカム状に配置されている。このような配置であれば、発光素子を動作させたときに発光層32内を流れる電流は、発光素子2Aの主面において均等に分散され易くなる。その結果、発光素子2Aの発光分布が向上する。ハニカム状に配置したビア電極50のそれぞれについては、図示するごとく、基板10の裏面側において互いに導通させてもよい。
図6(b)に示すように、発光素子2Bのビア電極51は、基板10の第2の主面に対して垂直な方向からみて、発光素子2Bの中央に配置されている。ビア電極51の基板10の第2の主面側に表出された面の一部には、凹み51hが設けられている。基板10の第2の主面に略垂直な方向からみた場合のビア電極51の面積は、ビア電極50よりも大きい。ビア電極51の平面形状は、矩形状である。このような広い面積のビア電極51を設ければ、発光素子を動作させたときに発光層32内を流れる電流は、発光素子2Bの主面において均等に分散され易くなる。その結果、発光素子2Bの発光分布が向上する。
図6(c)に示すように、発光素子2Cのビア電極52は、基板10の第2の主面に対して垂直な方向からみて、発光素子2Cの中央に配置されている。ビア電極52の基板10の第2の主面側に表出された面の一部には、凹み52hが設けられている。基板10の第2の主面に略垂直な方向からみた場合のビア電極52の面積は、ビア電極50よりも大きい。ビア電極52の平面形状は、円形状である。このような広い面積のビア電極52を設ければ、発光素子を動作させたときに発光層32内を流れる電流は、発光素子2Cの主面において均等に分散され易くなる。その結果、発光素子2Cの発光分布が向上する。
(第3の実施の形態)
図7は、第3の実施の形態に係る発光素子の要部模式図であり、(a)は、第3の実施の形態の第1の実施例の下面模式図、(b)は、第3の実施の形態の第2の実施例の下面模式図、(c)は、第3の実施の形態の第3の実施例の下面模式図、(d)は、第3の実施の形態の第4の実施例の下面模式図である。図7には、p側電極であるビア電極が例示されている。図7には、n側電極であるビア電極は、表示されていない。
図7(a)に示すように、発光素子3Aのビア電極61は、基板10の第2の主面に対して垂直な方向からみて、発光素子3Aの外周の隅に配置されている。ビア電極61の基板10の第2の主面側に表出された面の一部には、凹み61hが設けられている。このようなビア電極61も、本実施の形態に含まれる。
図7(b)に示すように、発光素子3Bのビア電極62は、基板10の第2の主面に対して垂直な方向からみて、発光素子3Bの外周の一辺においてライン状に配置されている。ビア電極62の基板10の第2の主面側に表出された面の一部には、凹み62hが設けられている。このような広い面積のビア電極62を設ければ、発光素子を動作させたときに発光層32内を流れる電流は、発光素子3Bの主面においてより均等に分散され易くなる。その結果、発光素子3Bの発光分布が向上する。
図7(c)に示すように、発光素子3Cのビア電極63は、基板10の第2の主面に対して垂直な方向からみて、発光素子3Cの外周においてL字状に配置されている。ビア電極63の基板10の第2の主面側に表出された面の一部には、凹み63hが設けられている。このような広い面積のビア電極63を設ければ、発光素子を動作させたときに発光層32内を流れる電流は、発光素子3Cの主面においてより均等に分散され易くなる。その結果、発光素子3Cの発光分布が向上する。
図7(d)に示すように、発光素子3Dのビア電極64は、基板10の第2の主面に対して垂直な方向からみて、発光素子3Dの外周に沿って配置されている。ビア電極64の基板10の第2の主面側に表出された面の一部には、凹み64hが設けられている。このような広い面積のビア電極64を設ければ、発光素子を動作させたときに発光層32内を流れる電流は、発光素子3Dの主面においてより均等に分散され易くなる。その結果、発光素子3Dの発光分布が向上する。
このように、ビア電極61〜64は、基板10の第2の主面に対して垂直な方向からみて、第2の主面の外周の少なくとも一部に沿って設けられている。このような形態も本実施の形態に含まれる。
(第4の実施の形態)
図8は、第4の実施の形態に係る発光素子の要部断面模式図である。
図8に示す発光素子4には、電極40の上に凸状のレンズ91が設けられている。レンズ91の材質は、例えば、ガラス、石英、樹脂等である。レンズ91の材質が樹脂である場合、例えば、光硬化型の透明接着剤がその材として用いられる。このようなレンズ91を設けることにより、発光層32から発せられる光の配向性が緩和される。すなわち、発光層32から発せられる光の方向がレンズ91によって分散され、輝度斑の少ない発光素子が実現する。
レンズ91の上には、蛍光体層92が設けられている。蛍光体層92の主成分は、例えば、透明な樹脂である。蛍光体層92には、発光素子4の発光層32が発する波長域の光を吸収して、発光層32が発する波長域の光とは異なる波長域の光を発する蛍光体が含まれている。
蛍光体としては、発光層32が発する波長域の光が短波長(例えば、青色)である場合、青色光を発光する蛍光体、緑色光を発光する蛍光体、赤色光を発光する蛍光体、黄色光を発光する蛍光体が挙げられる。蛍光体層92には、青色光を発光する蛍光体、緑色光を発光する蛍光体、および赤色光を発光する蛍光体の少なくとも1つが含まれている。さらに、これらの蛍光体層92に黄色光を発光する蛍光体を混ぜてもよい。
青色光を発光する蛍光体としては、例えば以下のものを挙げることができる。
ZnS:Ag
ZnS:Ag+Pigment
ZnS:Ag,Al
ZnS:Ag,Cu,Ga,Cl
ZnS:Ag+In
ZnS:Zn+In
(Ba,Eu)MgAl1017
(Sr,Ca,Ba,Mg)10(POCl:Eu
Sr10(POCl:Eu
(Ba,Sr,Eu)(Mg,Mn)Al1017
10(Sr,Ca,Ba,Eu)・6PO・Cl
BaMgAl1625:Eu
緑色光を発光する蛍光体としては,例えば、以下のものを挙げることができる。
ZnS:Cu,Al
ZnS:Cu,Al+Pigment
(Zn,Cd)S:Cu,Al
ZnS:Cu,Au,Al,+pigment
Al12:Tb
(Al,Ga)12:Tb
SiO:Tb
ZnSiO:Mn
(Zn,Cd)S:Cu
ZnS:Cu
ZnSiO:Mn
ZnS:Cu+ZnSiO:Mn
GdS:Tb
(Zn,Cd)S:Ag
ZnS:Cu,Al
S:Tb
ZnS:Cu,Al+In
(Zn,Cd)S:Ag+In
(Zn,Mn)SiO
BaAl1219:Mn
(Ba,Sr,Mg)O・aAl:Mn
LaPO:Ce,Tb
ZnSiO:Mn
ZnS:Cu
3(Ba,Mg,Eu,Mn)O・8Al
La・0.2SiO・0.9P:Ce,Tb
CeMgAl1119:Tb
赤色光を発光する蛍光体としては、例えば、次のものを挙げることができる。
S:Eu
S:Eu+pigment
:Eu
Zn(PO:Mn
(Zn,Cd)S:Ag+In
(Y,Gd,Eu)BO
(Y,Gd,Eu)
YVO:Eu
LaS:Eu,Sm
このような発光素子4であれば、蛍光体層92が発光層32の発する波長域の光とは異なる波長域の光を発することができるので、発光層32が発する波長域の光のほか、発光層32が発する波長域以外の光を放出させることができる。例えば、発光素子4は、白色光を発することができる。
(第5の実施の形態)
図9は、第6の実施の形態に係る発光素子の要部断面模式図である。
図9に示す発光素子5においては、電極40の上に凸状のレンズ91が設けられている。レンズ91の上には、蛍光体層92が設けられている。さらに、絶縁層20と、基板10との間に、光反射層25が設けられている。
光反射層25は、発光層32が発する光を反射する機能を有する。一例として、発光層32が発する波長域の光に対する光反射層25の光透過率は、その波長域とは異なる波長域の光に対する光反射層25の光透過率よりも低くなるように設計されている。例えば、光反射層25の例として、誘電体の多層構造で構成されたダイクロイックミラーが該当する。このような構造であれば、発光層32が基板10側に発した光は、光反射層25によって電極40側に反射される。従って、発光効率がより向上する。ただし、光反射層25の構成は、この構造に特に限定されない。
(第6の実施の形態)
図10は、第6の実施の形態に係る発光素子の要部断面模式図である。
図10に示す発光素子6は、半導体多層構造体33が基板11の内部に埋め込まれた構造を有する。半導体多層構造体33と基板11との間には、絶縁層21が介在している。
電極40の上に凸状のレンズ91が設けられている。レンズ91の上には、蛍光体層92が設けられている。レンズ91および蛍光体層92の両側の基板11、絶縁層21の上は、パシベーション膜93によって被覆されている。
基板11の材質は、例えば、シリコン(Si)等の半導体である。絶縁層21の材質は、例えば、アルミナ(Al)等の金属酸化物である。パシベーション膜93の材質は、例えば、窒化シリコン(Si)、ポリイミド等である。
絶縁層21については、必要に応じて取り除いた構造も本実施の形態に含まれる。また、レンズ91、蛍光体層92が例示されているが、レンズ91、蛍光体層92を必要に応じて取り除いた構造も本実施の形態に含まれる。このような構造であれば、発光素子がより薄型になる。
以上、具体例を参照しつつ本実施の形態について説明した。しかし、本実施の形態はこれらの具体例に限定されるものではない。すなわち、これら具体例に、当業者が適宜設計変更を加えたものも、本実施の形態の特徴を備えている限り、本実施の形態の範囲に包含される。さらに、前述した各具体例が備える各要素およびその配置、材料、条件、形状、サイズなどは、例示したものに限定されるわけではなく適宜変更することもできる。
1、2A、2B、2C、3A、3B、3C、3D、4、5、6 発光素子
10、11 基板
20、21 絶縁層
25 光反射層
30、31 半導体層
32 発光層
33 半導体多層構造体
40 電極
50、51、52、60、61、62、63、64 ビア電極
50h、51h、52h、60h、61h、62h、63h、64h 凹み
70、71 絶縁膜
91 レンズ
92 蛍光体層
100 発光装置
101 筐体
102 封止用樹脂
110、120 リードフレーム
111 接着部材(第1接着部材)
121 接着部材(第2接着部材)

Claims (7)

  1. 基板と、
    第1の半導体層、前記第1の半導体層上に設けられた発光層、および前記発光層上に設けられた第2の半導体層を有し、前記基板の第1の主面側に設けられた半導体多層構造体と、
    前記半導体多層構造体の前記第2の半導体層上に設けられた電極と、
    前記基板を貫通して前記第1の半導体層に接続し、前記基板の第2の主面側に設けられた第1のビア電極と、
    前記基板および前記半導体多層構造体を貫通して前記電極に接続し、前記基板の前記第2の主面側に設けられた第2のビア電極と、
    を備え、
    前記第1のビア電極および前記第2のビア電極の少なくともいずれかのビア電極であって、前記第2の主面側の一部に、凹みが設けられていることを特徴とする発光素子。
  2. 前記第1のビア電極は、前記基板の前記第2の主面に対して垂直な方向からみて、格子状またはハニカム状に配置されていることを特徴とする請求項1記載の発光素子。
  3. 前記第2のビア電極は、前記基板の前記第2の主面に対して垂直な方向からみて、前記基板の前記第2の主面の外周の少なくとも一部に沿って設けられていることを特徴とする請求項1または2に記載の発光素子。
  4. 前記電極上に、レンズがさらに設けられていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の発光素子。
  5. 前記電極上に、前記発光層が発する波長域の光を吸収して、前記発光層が発する波長域の光とは異なる波長域の光を発する蛍光体層がさらに設けられていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の発光素子。
  6. 前記基板と、前記半導体多層構造体との間に、前記発光層が発する光を反射する光反射層がさらに設けられていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1つに記載の発光素子。
  7. 筐体と、
    前記筐体内に設けられた、請求項1〜6のいずれか1つに記載の発光素子と、
    前記発光素子を覆うように設けられた樹脂と、
    前記発光素子の前記第1のビア電極に電気的に接続された第1のリードフレームと、
    前記第1のビア電極と、前記第1のリードフレームとの間に設けられ、前記第1のビア電極に設けられた凹みに入り込んだ第1接着部材と、
    前記発光素子の前記第2のビア電極に電気的に接続された第2のリードフレームと、
    前記第2のビア電極と、前記第2のリードフレームとの間に設けられ、前記第2のビア電極に設けられた凹みに入り込んだ第2接着部材と、
    を備えたことを特徴とする発光装置。
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