JP6398541B2 - リードフレーム及び発光装置 - Google Patents

リードフレーム及び発光装置 Download PDF

Info

Publication number
JP6398541B2
JP6398541B2 JP2014198619A JP2014198619A JP6398541B2 JP 6398541 B2 JP6398541 B2 JP 6398541B2 JP 2014198619 A JP2014198619 A JP 2014198619A JP 2014198619 A JP2014198619 A JP 2014198619A JP 6398541 B2 JP6398541 B2 JP 6398541B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
silver
light emitting
lead frame
copper
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2014198619A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2016072364A (ja
Inventor
修司 塩路
修司 塩路
蔵本 雅史
雅史 蔵本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nichia Corp
Original Assignee
Nichia Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nichia Corp filed Critical Nichia Corp
Priority to JP2014198619A priority Critical patent/JP6398541B2/ja
Publication of JP2016072364A publication Critical patent/JP2016072364A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6398541B2 publication Critical patent/JP6398541B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Description

本発明は、リードフレーム及び発光装置に関する。
従来、発光ダイオード(以下「LED」と略記することがある)など発光装置用のリードフレームにおいては、銀又は銀合金からなる反射層の硫化腐食による光反射率の低下が問題視されてきた(例えば、特許文献1、2等)。
特開2010−166044号公報 WO2010/071182号
一方、本発明者らは、このような反射層の硫化腐食の問題とは別に、発光装置の製造工程内の熱履歴により、反射層の下地の銅又は銅合金が酸化し、リードフレームの半田濡れ性が悪化することを新たに見出した。
本発明は、上記課題に鑑みなされたものであり、半田濡れ性に優れるリードフレーム及びこれを用いた発光装置を提供することを目的とする。
本発明は、以下の発明を含む。
(1)銅又は銅合金を含む下地層と、
前記下地層上に形成された、銀層に銀及び銅以外の1種以上の金属並びに/又はその酸化物が拡散されてなる中間層と、
前記中間層上に形成された銀を含む反射層とを備えるリードフレーム。
(2)上記リードフレームと、
前記リードフレームの上に載置された発光素子と、
前記発光素子を封止する封止部材とを備える発光装置。
本発明によれば、下地層の銅又は銅合金の酸化を抑制することができ、半田濡れ性に優れるリードフレームが得られる。また、それにより、実装接合強度に優れる発光装置が得られる。
本発明の原理を説明するための概念図である。 本発明のリードフレーム及びそれを用いた発光装置の一実施形態を示す断面図である。
本明細書では、実施形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対的配置等は、特定的な記載がない限り、本発明の範囲をそれのみに限定する趣旨ではなく、単なる説明例にすぎない。なお、各図面が示す部材の大きさ、位置関係等は、説明を明確にするため誇張していることがある。また、以下の説明において、同一の名称、符号については同一もしくは同質の部材を示しており詳細説明を適宜省略する。
図1は、本発明の原理を説明するための概念図である。まず、本発明者らは、銅の下地層上に銀の反射層が形成されたリードフレームを用いて発光装置を製造し、その発光装置を半田で配線基板に接合する場合に両者の接合不良を生じることがあることを確認した。これは、具体的には、図1(a)に示すように、銀は酸素を透過しやすい性質を有しており、反射層の銀(特にその結晶粒界)を通して侵入した酸素により下地層の銅の表層が酸化する。半田付けの際、反射層の銀は半田に溶け込み、主に下地層が半田と接合するが、下地層の酸化領域には半田が濡れないために、接合不良を生じる、というものである。
次に、本発明者らは、この現象の原因について鋭意研究を行った結果、反射層を構成する銀中に下地層の銅が拡散しているものほど、下地層の酸化が抑制されていることを突き止めた。そして、この知見を元に、図1(b)に示すように、下地層と反射層との間に、異種金属の拡散により銀のガスバリア性を高めた層を予め設けておくことによって、発光装置の製造後においても下地層の酸化が抑制されており良好な半田濡れ性が得られることを見出し、本発明の完成に至った。
〔リードフレーム〕
リードフレームは、主として、基体と、下地層と、中間層と、反射層とがこの順に配置されて構成される。リードフレームは、発光素子などの半導体素子を載置し且つ好ましくはその半導体素子に電力を供給するための金属部材である。リードフレームは、ピン挿入型半導体装置(例えば砲弾型LED)用のものでもよいし、表面実装型半導体装置用のものでもよい。主に、前者では柱状(棒状)、後者では板状である。
(基体)
基体は、リードフレームの基礎を構成する。基体は、例えば、1×10-6/K〜50×10-6/K程度の線膨張係数を有する金属が好ましく、5×10-6/K〜25×10-6/K程度の線膨張係数を有する金属がより好ましい。具体的には、例えば、鉄、鉄合金、銅、銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金などが挙げられる。なかでも、鉄又は鉄合金が製造コスト等の観点から好ましい。基体の厚みは、特に限定されないが、0.05mm〜2mm程度が好ましく、0.1mm〜1mm程度がより好ましい。なお、基体が銅又は銅合金で形成される場合には、基体と下地層を一体として考えられ、基体も含めて下地層としてもよいし、下地層を省略してもよい。
(下地層)
下地層は、銅及び銅合金を含んで構成される。例えば、銅又は銅合金の単層構造であってもよいし、これらを含む積層構造であってもよい。銅合金としては、例えば、Al、Au、Ag、W、Fe、Ni、Pt、Co、Pd、Ti、Mn、V、Cr、Zr、Rh、Mg、Bi、Sn、Ir、Ga、Nd及びReからなる群から選択される1種以上の元素との合金が挙げられる。なかでも、Al、Au、Ag、W、Fe、Niとの合金が好ましい。下地層は、特に、銅の単層構造によって形成されることが、製造コスト等の観点から好ましい。
下地層の厚みは、特に限定されないが、上限としては、例えば、20μm程度以下の厚みが挙げられ、10μm程度以下の厚みであることが好ましく、5μm程度以下の厚みであることがより好ましい。また、下限としては、例えば、0.5μm程度以上の厚みが挙げられ、1μm程度以上の厚みであることが好ましく、2μm程度以上の厚みであることがより好ましい。
下地層は、基体上に配置されるのであれば、当該分野で公知の方法によって形成することができる。具体的には、メッキ法、蒸着法、スパッタ法、イオンビームアシスト蒸着法、ALD(原子層堆積)法等の種々の方法が挙げられる。なかでも、メッキ法が好ましい。
(中間層)
下地層上には、下地層の表面と接触するように中間層が形成されている。
中間層は、下地層と反射層との間にあって、特に反射層を透過する酸素などの外気の下地層への到達を抑制するための層として機能する。また、下地層を構成する元素の反射層への拡散を抑制するための層としても機能する。
中間層は、銀層に、銀及び銅以外の1種以上の金属並びに/又はその酸化物が拡散されてなる。銀及び銅以外の金属又はその酸化物が銀層内、好ましくは銀の結晶粒界に拡散することで、上述のような機能を発揮する。なお、銀及び銅以外の金属の酸化物は、金属の状態で銀層内に拡散され後に酸化したものでもよいし、元々酸化物の状態で銀層内に拡散されてもよい。中間層に拡散される銀及び銅以外の1種以上の金属は、In、Mn、Al、Au、Sn、Zn、Ge及びCoから選択される1種以上が好ましい。なかでも、特にIn、Mn、Al、Auから選択される1種以上が好ましい。また、中間層に拡散される銀及び銅以外の1種以上の金属として、銅より酸化しやすい(銅よりイオン化傾向の大きい)金属元素を選択することも、酸素に対するバリア性の観点から好ましい。
中間層は、銀及び銅以外の1種以上の金属並びに/又はその酸化物を、例えば10mol%程度以下、8mol%程度以下、6mol%程度以下、5mol%程度以下で含むことが好ましい。なお、中間層のこれら拡散物質以外の構成元素は、銀であることが好ましい。
中間層の厚みは、特に限定されないが、上記機能の発揮と量産性の観点から、上限としては、例えば、1μm程度以下の厚みが挙げられ、500nm程度以下の厚みであることが好ましく、200nm程度以下の厚みであることがより好ましい。また、下限としては、例えば、5nm程度以上の厚みが挙げられ、10nm程度以上の厚みであることが好ましく、50nm程度以上の厚みであることがより好ましい。
中間層は、下地層上に配置されるのであれば、当該分野で公知の方法によって形成することができる。具体的には、メッキ法、蒸着法、スパッタ法、イオンビームアシスト蒸着法ALD(原子層堆積)等の種々の方法が挙げられる。なかでも、メッキ法が好ましい。
中間層に微量金属を拡散させる場合、銀層を、メッキ法、蒸着法、スパッタ法、イオンビームアシスト蒸着法、ALD(原子層堆積)法等の種々の方法で成膜した後、異種元素を含有する層を、同様の方法で積層し、熱拡散させる方法、銀層を、メッキ法、蒸着法、スパッタ法、イオンビームアシスト蒸着法等の種々の方法で成膜した後、異種元素自体を同様の方法で拡散させる方法、又はこれらの方法で同時に成膜する方法等を利用することができる。
このような中間層を設けることにより、上述したように、下地層の酸化を有効に抑制することができる。また、下地層を構成する元素の反射層への拡散を抑え、反射層の変質及び/又は変色を抑制することができ、反射層の反射率の低下を抑制又は回避することができる。
(反射層)
反射層は、発光素子から出射される光を効率良く(反射率としては、発光素子から出射される光に対して70%以上が好ましく、80%以上がより好ましく、90%以上がよりいっそう好ましい。)反射させることができる層であり、銀を含む。銀以外の元素を含んでいてもよいが、銀層すなわち純銀(但し「純」は現実的な意味で用いる;以下も同様)の層が好ましい。一方、後述する理由から、微量の銀以外の金属(異種金属)が拡散されたものであることが好ましい。
この異種金属としては、例えば、Pt、Co、Au、Pd、Ti、Mn、V、Cr、Zr、Rh、Al、Mg、Bi、Sn、Ir、Ga、Nd、Re、Ni、Ru、Os、Nb、Ta、Fe、W、In、Ge等からなる群から選択される1種以上の元素が挙げられる。なかでも、In、Mn、Al、Au、Sn、Zn、Ge及びCoから選択される1種以上の金属が好ましい。特にIn、Mn、Al、Auから選択される1種以上の金属が好ましい。
ここでの微量とは、例えば、0.1mol%〜1mol%程度の範囲が挙げられ、0.1mol%〜0.8mol%程度が好ましく、0.1mol%〜0.6mol%程度がより好ましい。また、反射層に拡散される異種金属の量は、中間層に拡散される銀及び銅以外の金属並びにその酸化物の量より少ないことが好ましい。
反射層に拡散されている銀及び銅以外の金属元素は、中間層に拡散されている銀及び銅以外の金属元素と同じでもよいが、異なることが好ましい。言い換えると、反射層に最も多く含まれている銀及び銅以外の金属元素は、中間層に最も多く含まれている銀及び銅以外の金属元素と異なることが好ましい。これは、反射層内の拡散金属と中間層内の拡散金属の其々に優先的に求められる作用が異なるためである。
このように反射層に銀以外の異種金属が拡散されている場合には、異種金属は、銀の結晶粒界に偏析しやすく、また発光装置の製造工程内の熱履歴、若しくは発光素子の駆動時における発熱、又はそれらによる応力等により、銀の結晶粒界への偏析が更に進行し、それによって銀粒子の粗大化を有効に抑制することができる。その結果、銀粒子の粗大化に起因する光の多重散乱による光の吸収を低減することができるため、反射率の低下を抑え、ひいては発光装置の光束低下を有効に抑制することができる。さらに、このような微量の異種金属の拡散であれば、銀本来の反射率への影響を小さく抑えることができる。
さらに、反射層に異種金属が拡散されていることにより、中間層側からの異種元素の拡散を有効に抑制することが可能となり、反射層の変質及び/又は劣化をよりいっそう抑制することができる。
反射層は、中間層と同様の方法によって形成することができる。なかでも、メッキ法が好ましい。
反射層の厚みは、特に限定されないが、光学特性と量産性の観点から、例えば50nm〜10μm程度の範囲が挙げられ、100nm〜5μm程度が好ましく、500nm〜3μm程度がより好ましい。
なお、反射層における銀の平均粒径は、反射率の観点から、50nm〜1.0μmであることが好ましく、50nm〜0.5μmであることがより好ましい。中間層における銀の平均粒径は、これと同等であってよい。
〔発光装置〕
発光装置は、上述したリードフレームと、発光素子と、封止部材とを備える。
(半導体発光素子)
発光素子は、主として、基板、半導体発光構造を備えている。
基板は、通常、半導体発光素子を製造する際に用いられるものであればよく、半導体層とは異なる屈折率を有する材料、例えば、半導体層と異なる材料又は異なる組成からなるものが挙げられる。具体的には、窒化物半導体を用いた半導体発光素子用の基板として好適な、サファイア(C面、A面、R面)、SiC、スピネル(MgAl24)、SiC、NGO(NdGaO3)基板、LiAlO2基板、LiGaO3基板、GaN等が挙げられる。なかでも、サファイア基板が好ましい。基板の厚みは特に限定されないが、例えば50〜1000μm程度の厚みが挙げられ、80〜500μm程度が好ましく、100〜300μm程度であることがより好ましい。
基板は、透光性であることが好ましいが、限定はされない。ここで、透光性とは、発光素子から出射される光を、50%以上透過させる性質を指し、70%以上透過させるものが好ましく、80%以上透過させるものがより好ましく、90%以上透過させるものがよりいっそう好ましい。
半導体発光構造は、上述した基板の一面上に形成される。
半導体発光構造は、いわゆる発光ダイオードと呼ばれる素子を構成するものであればよい。例えば、InN、AlN、GaN、InGaN、AlGaN、InGaAlN等の窒化物半導体、III−V族化合物半導体、II−VI族化合物半導体等、種々の半導体によって構成される、活性層を含む積層構造が挙げられる。発光素子の発光波長は、半導体の材料、混晶比、ドープする不純物の種類などによって、紫外域から赤色域まで変化させることができる。
発光素子の形状は、基板及び半導体発光構造によって確定されるが、特に限定されない。例えば、光取り出し側からみた平面形状が、多角形又はこれに近似する形状であることが適しており、特に、四角形、矩形、正方形又はこれらに近似する形状であることがより好ましい。
発光素子は、通常、n電極及びp電極を備える。基板に対して同じ側にn電極及びp電極が形成された片面電極のものであってもよいし、n電極又はp電極が基板の裏面に形成された両面電極のものであってもよい。なかでも、基板が電気的絶縁性である場合には片面電極のものが好ましく、基板が導電性である場合には両面電極のものが好ましい。
n電極及びp電極は、例えば、W、Pt、Au等の金属及びその合金の単層又は積層構造が挙げられる。また、ITO、ZnO等の透光性導電材料を用いてもよい。また、いわゆるオーミック電極とパッド電極との積層構造としてもよい。これら電極の厚みは特に限定されない。
発光素子は、リードフレーム上に載置され、好ましくは更にリードフレームと電気的に接続される。
発光素子は、上述した片面電極の構造を有する場合、フェイスアップ(電極形成面が光取り出し側にある)、フリップチップ(フェイスダウン;電極形成面が光取り出し側と反対側(搭載面側)にある)のいずれの形態の搭載であってもよい。
発光素子のリードフレーム上への搭載は、当該分野で公知の方法により行うことができる。通常、発光素子の搭載は、接着剤を用いて行うことが生産性の観点で好ましい。
接着剤としては、フェイスアップ搭載される発光素子の場合には、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂等の樹脂材のほか、銀、金、パラジウム等の導電性ペーストを用いることができる。さらに、両面電極構造である発光素子の場合には、上記導電性ペーストのほか、Sn−Bi系、Sn−Pb系、Pd−Sn系、Sn−Ag−Cu系、Au−Sn系、Sn−Zn系、Su−Cu系の半田等を用いてもよい。なかでも、融点が低く安定性のよいAu−Sn系の半田が好ましい。
フリップチップ搭載される発光素子の場合には、上記半田を用いることができる。
発光素子とリードフレームとの電気的な接続は、当該分野において公知の方法のいずれを用いてもよい。例えば、ワイヤを用いて電気的に接続することができる。
ワイヤとしては、発光素子の電極とのオーミック性が良好であるか、機械的接続性が良好であるか、電気伝導性及び熱伝導性が良好なものであることが好ましい。熱伝導率としては、0.01cal/S・cm2・℃/cm程度以上が好ましく、さらに0.5cal/S・cm2・℃/cm程度以上がより好ましい。作業性などを考慮すると、ワイヤの直径は、10〜200μm程度が挙げられ、20〜150μm程度が好ましい。このようなワイヤとしては、例えば、金、銅、白金、アルミニウム等の金属及びそれらの合金で形成されたものが挙げられる。
(封止部材)
封止部材は、発光素子を封止する部材である。より詳細には、封止部材は、リードフレームと一体化して、発光素子を封止し外気及び外力等から保護するために設けられる部材である。例えば表面実装型発光装置の封止部材は、発光素子を収納する凹部を有し、この凹部底面でリードフレームの一部を露出し、かつリードフレームの一部を埋め込む樹脂成形体と、この凹部内に充填され、発光素子を被覆する透光性部材とを備えていることが好ましい。一方、例えばピン挿入型発光装置(一例として砲弾型LED)の封止部材は、発光素子を被覆する透光性部材を備えていればよく、上記樹脂成形体を省略して、又は上記樹脂成形体を透光性として上記透光性部材と一体化して考えることができる。
樹脂成形体は、樹脂パッケージ等として称される部材である。
樹脂成形体は、リードフレームの一部を埋め込み、好ましくは一体的又は塊状に被覆し、発光素子等に対して電気的絶縁性を確保することができればよい。例えば、シリコーン樹脂、シリコーン変性樹脂、エポキシ樹脂、エポキシ変性樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂、ポリイミド、BTレジン、不飽和ポリエステル樹脂等の熱硬化性樹脂、又はポリフタルアミド(PPA)、液晶ポリマー(LCP)、ポリカーボネート樹脂、ポリシクロヘキサンテレフタレート等の熱可塑性樹脂によって形成することができる。これらの材料には、当該分野で公知の着色剤、光拡散剤、フィラー、後述する蛍光体などを含有させてもよい。なかでも、反射率の良好な材料を用いることが好ましく、そのために、酸化チタン等の白色の着色剤を添加したものを用いることが好ましい。
樹脂成形体の形状は特に限定されるものではなく、例えば、円柱、楕円柱、球、卵形、三角柱、四角柱、多角柱又はこれらに近似する形状等どのような形状でもよいが、反射用側壁を備えていることが好ましい。
樹脂成形体には、発光素子を収容する凹部を備えており、この凹部が、反射用側壁として、リードフレーム上に載置される発光素子から出射される光を、光取り出し面側に反射させる。凹部は、発光素子載置面(リードフレームの上面)から樹脂成形体の上面(光取り出し面)側に向かって幅広となる形状、つまり、底面側の平面積が上面側の平面積よりも小さい円錐台又は角錐台及びこれらに近似する形状であることが好ましい。
樹脂成形体及び凹部の大きさは特に限定されるものではなく、発光素子の搭載数、目的とする発光装置の性能等によって適宜調整することができる。
樹脂成形体及び透光性部材は、当該分野で公知の方法、代表的には、トランスファー成形法、射出成形法、キャスティング法、圧縮成形法、ポッティング法等を利用して形成することができる。
透光性部材は、発光素子の上面の略全面、好ましくは、ワイヤ等が存在する場合には、ワイヤの接続部位も含めて、より好ましくは発光素子の側面にも、透光性部材が接触するように配置されていることが好ましい。
透光性部材は、通常、樹脂によって形成される。ここでの樹脂は、熱硬化性樹脂を好適に用いることができる。例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、シリコーン樹脂、アクリル樹脂、及びこれらの変性樹脂等が挙げられる。表面実装型発光装置の透光性部材には、シリコーン樹脂又はその変性樹脂が、耐熱性や耐光性に優れ、硬化後の体積収縮が少ないため、好ましい。ピン挿入型発光装置の透光性部材には、エポキシ樹脂又はその変性樹脂が、耐熱性や耐光性が比較的良く、機械的強度が高いため、好ましい。
透光性部材には、拡散剤、蛍光体等を含有させてもよい。拡散剤は、光を拡散させるものであり、発光素子からの光の指向性を緩和させ、視野角を増大させることができる。例えば、シリカ、アルミナ、酸化チタン等が挙げられる。
蛍光体は、発光素子からの光を変換させるものであり、発光素子から透光性部材を通して外部へ出射される光の波長を変換することができる。例えば、有機蛍光体であるペリレン系誘導体、ZnCdS:Cu、YAG:Ce、Eu及び/又はCrで賦活された窒素含有CaO−Al23−SiO2、Euで賦活されたSi6-ZAlZZ8-Z、Mnで賦活されたK2SiF6などの無機蛍光体など、種々好適に用いられる。
発光装置は、発光素子のほか、受光素子、発光素子及び受光素子等の半導体素子を過電圧から守る保護素子(例えば、ツェナーダイオード、コンデンサー)等の1以上を備えていてもよい。
以下に、本発明のリードフレーム及び発光装置を、図面に基づいて説明する。ただし、以下に示す実施形態に限定されるものではない。
実施形態1
図2は、本発明のリードフレーム及びそれを用いた発光装置の実施形態1を示す断面図である。図2に示すように、この実施形態の発光装置20は、砲弾型LEDである。発光装置20は、リードフレーム10と、このリードフレームの上に載置された発光素子11と、この発光素子を封止する封止部材13と、を備えている。
リードフレーム10は、基体1上に、下地層3、中間層5及び反射層7がメッキ法により順次積層されて構成されている。基体1は、Feからなる。下地層3は、厚み2μmのCu層である。中間層5は、厚み100nmのAg層に1mol%のMnが拡散されてなる。反射層7は、厚み1.5μmの純Ag層である。
発光素子11は、GaP基板上に半導体発光構造が形成された、赤色(発光ピーク波長630nm)発光可能なLEDチップである。発光素子11は、負極側のリードフレーム10のカップ内に、銀ペーストの接着剤で接着されており、金線のワイヤで正極側のリードフレーム10に電気的に接続されている。
封止部材13は、リードフレーム10のカップ内に充填されたシリカを含有するエポキシ変性樹脂の内側被覆部と、リードフレーム10の端子部を露出させて残りの全部を覆って砲弾型に成形されたエポキシ樹脂の外側被覆部と、からなっている。内側被覆部はポッティング法、外側被覆部はキャスティング法により形成される。
なお、この発光装置20の製造工程内での主な熱履歴は、発光素子11の接着工程において180℃(1時間)、ワイヤ接続工程において210℃(10秒)、封止部材13の成形工程において内側被覆部が180℃(2時間)、外側被覆部が130℃(1時間強)と150℃(5時間)である。
また、中間層5として、Mnに代えて、Inが拡散されたAg層を有する以外、実施形態1の発光装置20と同様の構成の発光装置21を作製する。
また、中間層5として、Mnに代えて、Alが拡散されたAg層を有する以外、実施形態1の発光装置20と同様の構成の発光装置22を作製する。
さらに、中間層5として、Mnに代えて、Auが拡散されたAg層を有する以外、実施形態1の発光装置20と同様の構成の発光装置23を作製する。
なお、比較例として、中間層5を形成しないこと以外は、実施形態1の発光装置20と同様の構成の発光装置Xを作製する。
実施形態1の発光装置20,21,22及び23と、比較例である発光装置Xと、について、リードフレームの端子部の半田濡れ性を確認したところ、発光装置Xではリードフレームの端子部において半田が濡れていない下地層の露出領域が数箇所確認されるのに対して、発光装置20、21、22、23では半田はリードフレーム10の端子部に一様に濡れ広がっておりそのような下地層の露出領域は確認されない。この結果から、下地層3と反射層7の間に、銀に異種金属が拡散した中間層5を予め設けておくことにより、発光装置の製造工程内の熱履歴による下地層3の酸化を抑制できることが確認される。
本発明の発光装置は、各種発光装置、特に、照明用光源、LEDディスプレイ、液晶表示装置などのバックライト光源、信号機、照明式スイッチ、各種センサ及び各種インジケータ、動画照明補助光源、その他の一般的な民生品用光源等に好適に利用することができる。
1 基体
3 下地層
5 中間層
7 反射層
10 リードフレーム
11 発光素子
13 封止部材
20 発光装置

Claims (7)

  1. 基体と、
    前記基体上に配置された銅又は銅合金を含む下地層と、
    前記下地層上に形成された、銀層に銀及び銅以外の1種以上の金属並びに/又はその酸化物が拡散されてなる、厚みが200nm以下の中間層と、
    前記中間層上に形成された銀を含む反射層とを備えるリードフレーム。
  2. 前記銀及び銅以外の1種以上の金属は、In、Mn、Al、Au、Sn、Zn、Ge及びCoから選択される請求項1に記載のリードフレーム。
  3. 前記中間層が、前記銀及び銅以外の1種以上の金属並びに/又はその酸化物を10mol%以下の範囲で含む請求項1又は2に記載のリードフレーム。
  4. 前記反射層は、銀層、又は銀層にIn、Mn、Al、Au、Sn、Zn、Ge及びCoから選択される1種以上の金属及び/又はその酸化物が0.1mol%〜1mol%の範囲で拡散されてなる層である請求項1〜3のいずれか1つに記載のリードフレーム。
  5. 前記反射層に拡散されている銀及び銅以外の金属元素は、前記中間層に拡散されている銀及び銅以外の金属元素と異なる請求項4に記載のリードフレーム。
  6. 前記反射層は、厚みが500nm〜3μmである請求項1〜5のいずれか一つに記載のリードフレーム。
  7. 基体と、前記基体上に配置された銅又は銅合金を含む下地層と、前記下地層上に形成された、銀層に銀及び銅以外の1種以上の金属並びに/又はその酸化物が拡散されてなる中間層と、前記中間層上に形成された銀を含む反射層とを備えるリードフレームと、
    前記下地層上に半田付けされた発光素子と、
    前記発光素子を封止する封止部材とを備え
    前記半田付けされた箇所は、前記半田に前記反射層の銀が溶け込んでいることを特徴とする発光装置。
JP2014198619A 2014-09-29 2014-09-29 リードフレーム及び発光装置 Active JP6398541B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014198619A JP6398541B2 (ja) 2014-09-29 2014-09-29 リードフレーム及び発光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014198619A JP6398541B2 (ja) 2014-09-29 2014-09-29 リードフレーム及び発光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016072364A JP2016072364A (ja) 2016-05-09
JP6398541B2 true JP6398541B2 (ja) 2018-10-03

Family

ID=55864947

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014198619A Active JP6398541B2 (ja) 2014-09-29 2014-09-29 リードフレーム及び発光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6398541B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6834424B2 (ja) 2016-12-02 2021-02-24 日亜化学工業株式会社 半導体素子及びその製造方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS574182A (en) * 1980-06-10 1982-01-09 Toshiba Corp Metallic thin strip for installing semiconductor light-emitting element
JP3955386B2 (ja) * 1998-04-09 2007-08-08 富士通株式会社 半導体装置及びその製造方法
KR100386034B1 (ko) * 2000-12-06 2003-06-02 에이에스엠 마이크로케미스트리 리미티드 확산 방지막의 결정립계를 금속산화물로 충진한 구리 배선구조의 반도체 소자 제조 방법
JP2008060239A (ja) * 2006-08-30 2008-03-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP5417128B2 (ja) * 2008-11-27 2014-02-12 新光電気工業株式会社 リードフレーム及びその製造方法、及び半導体装置
WO2010071182A1 (ja) * 2008-12-19 2010-06-24 古河電気工業株式会社 光半導体装置用リードフレーム及びその製造方法
DE102010009717A1 (de) * 2010-03-01 2011-09-01 Osram Opto Semiconductors Gmbh Leuchtdiodenchip
JP2012089830A (ja) * 2010-09-21 2012-05-10 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置
WO2013001673A1 (ja) * 2011-06-29 2013-01-03 Jx日鉱日石金属株式会社 酸化物層を有する銀合金層を備える積層構造物
JP2013174865A (ja) * 2012-01-25 2013-09-05 Jx Nippon Mining & Metals Corp 銅又は銅合金層上にインジウム−銀合金層を有する積層構造物、及び該積層構造物の製造方法
JP5978705B2 (ja) * 2012-03-28 2016-08-24 大日本印刷株式会社 Led素子搭載用基板及びその製造方法、並びにled素子搭載用基板を用いた半導体装置
JP5970922B2 (ja) * 2012-04-04 2016-08-17 大日本印刷株式会社 Led用リードフレーム及びそれを用いた光半導体装置
JP6230778B2 (ja) * 2012-05-31 2017-11-15 日亜化学工業株式会社 光半導体装置用電解銀めっき液
JP6025026B2 (ja) * 2012-07-31 2016-11-16 大日本印刷株式会社 Led用リードフレームまたは基板およびその製造方法、ならびに半導体装置およびその製造方法
US8877633B2 (en) * 2013-03-28 2014-11-04 Globalfoundries Inc. Methods of forming a barrier system containing an alloy of metals introduced into the barrier system, and an integrated circuit product containing such a barrier system
JP6176224B2 (ja) * 2013-12-25 2017-08-09 日亜化学工業株式会社 半導体素子及びそれを備える半導体装置、並びに半導体素子の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2016072364A (ja) 2016-05-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10263166B2 (en) Light emitting device
TWI613737B (zh) 發光裝置之製造方法
JP4773755B2 (ja) チップ型半導体発光素子
JP4655029B2 (ja) 発光装置および半導体発光素子の製造方法
WO2011099384A1 (ja) 発光装置および発光装置の製造方法
JP6947995B2 (ja) 発光装置
JP2008071955A (ja) 発光装置
US9425373B2 (en) Light emitting module
JP6447580B2 (ja) 発光装置
JP5055837B2 (ja) 発光装置
US9564565B2 (en) Light emitting device, light emitting module, and method for manufacturing light emitting device
US10002996B2 (en) Light emitting device and method of manufacturing the same
JP2018088485A (ja) 発光装置
JP6398541B2 (ja) リードフレーム及び発光装置
JP6066544B2 (ja) 発光装置
JP6551210B2 (ja) 発光装置
JP6191214B2 (ja) 発光装置
JP2015162623A (ja) 発光装置の製造方法及び発光装置
JP6520482B2 (ja) 発光装置
JP6409457B2 (ja) 半導体発光素子及び発光装置
JP2008198962A (ja) 発光装置およびその製造方法
JP2016184653A (ja) 発光素子収納用パッケージおよび発光装置
JP2021097170A (ja) 発光素子及び発光装置
JP2016119464A (ja) 発光装置
JP5867261B2 (ja) 光半導体装置用リードフレーム、光半導体装置、および、それらの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170524

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180221

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180227

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180425

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180612

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180807

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180820

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6398541

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250