JP2011242399A - 位相過渡応答測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被測定デバイスの出力信号が第1周波数から第2周波数にステップするときに、被測定デバイスの出力信号を表す瞬時電圧波形に基いて、瞬時位相波形を計算する。瞬時位相波形に基いて、瞬時周波数波形を計算する。ユーザの手間なしに、瞬時周波数波形に基いて、第2周波数を自動で推定する。そして、第2周波数の推定値に基づいて、瞬時位相波形をフラット化する。
【選択図】図7
Description
(ステップ1)瞬時電圧波形に基いて瞬時位相波形を計算する。
(ステップ2)瞬時電圧波形に基いて瞬時周波数波形を計算する。
(ステップ3)瞬時周波数波形に基き、ホップ後の、つまり、複数の到達する周波数それぞれの推定値を、次の(1)及び(2)によって計算する:(1)出力信号が落ち着いて到達する複数の周波数それぞれの沈静期間に対応する瞬時周波数波形の複数の区間それぞれの位置を特定し、(2)各沈静期間内の全ポイントの平均周波数値を計算し、到達周波数それぞれの推定値を生成する。
(ステップ4)複数の到達周波数の推定値に基づき、瞬時位相波形の沈静期間をそれぞれフラット化する。
405 被測定デバイス
410 試験測定装置
500 瞬時電圧波形
605 ADC
610 プロセッサ
615 表示デバイス
620 記憶デバイス
800 瞬時電圧波形500のπ/2ラジアン位相シフトのレプリカ
900 瞬時位相波形
1000 アンラップ(unwrapped)瞬時位相波形
1100 瞬時周波数波形
1200 理想アンラップ瞬時位相波形
1300 アンラップ・フラット化瞬時位相波形
1400 フラット化瞬時位相波形
Claims (3)
- 被測定デバイスの出力信号が第1周波数から第2周波数にステップするときに、上記被測定デバイスの上記出力信号を表す瞬時電圧波形に基いて、上記被測定デバイスの位相過渡応答を測定する方法であって、
上記瞬時電圧波形に基いて瞬時位相波形を計算するステップと、
上記瞬時電圧波形に基いて瞬時周波数波形を計算するステップと、
ユーザの手間なしに、上記瞬時周波数波形に基いて上記第2周波数を自動的に推定するステップと、
上記第2周波数の推定値に基いて上記瞬時位相波形をフラット化するステップと
を具える位相過渡応答測定方法。 - 上記瞬時位相波形をフラット化するステップが、
理想瞬時位相波形を生成するステップと、
上記瞬時位相波形と上記理想瞬時位相波形の差分を取ってフラット化瞬時位相波形を生成するステップと
を有することを特徴とする請求項1記載の位相過渡応答測定方法。 - 被測定デバイスの出力信号が第1周波数から第2周波数にステップするときに、上記被測定デバイスの上記出力信号を表す瞬時電圧波形に基いて、上記被測定デバイスの位相過渡応答を測定する方法であって、
上記瞬時電圧波形に基いて瞬時位相波形を計算するステップと、
ユーザの手間なしに、上記瞬時位相波形に基いて理想瞬時位相波形を自動的に生成するステップと、
上記理想瞬時位相波形に基いて上記瞬時位相波形をフラット化するステップと
を具える位相過渡応答測定方法。
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