JP2011227594A - データ検査装置及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】撮像装置100であって、解析対象モデルがメッシュ状に分割された所定形状の複数の要素の節点を各節点が少なくとも二つのグループに属するように複数のグループに分けるグループ分け部6aと、複数のグループについて、各グループ内の少なくとも一の節点の座標を取得する座標取得部6bと、これら少なくとも一の節点の座標に基づいて、当該節点の属するグループ内で座標どうしの間隔が所定の閾値以下の少なくとも二つの節点を解析に不適正な節点として特定する誤りデータ特定部6cとを備えている。
【選択図】図1
Description
例えば、有限要素法では、CAD(Computer Aided Design)システムなどを利用して生成された解析対象のシミュレーションモデルを、メッシュ状に区分して複数の多角形や多面体の有限要素に分割し、これらの要素間の物理的関係を数値解析する(例えば、特許文献1参照)。
解析対象のシミュレーションモデル(以下、「解析対象モデル」と言う)がメッシュ状に分割された所定形状の複数の要素を取得する要素取得手段と、この要素取得手段により取得された複数の要素の節点を各節点が少なくとも二つのグループに属するように複数のグループに分けるグループ分け手段と、前記複数のグループについて、各グループ内の少なくとも一の節点の座標を取得する座標取得手段と、この座標取得手段により取得された前記少なくとも一の節点の座標に基づいて、当該節点の属するグループ内で座標どうしの間隔が所定の閾値以下の少なくとも二つの節点を解析に不適正な節点として特定する特定手段と、を備えたことを特徴とする。
データ検査装置のコンピュータを、解析対象のシミュレーションモデル(以下、「解析対象モデル」と言う)がメッシュ状に分割された所定形状の複数の要素を取得する要素取得手段、この要素取得手段により取得された複数の要素の節点を各節点が少なくとも二つのグループに属するように複数のグループに分けるグループ分け手段、前記複数のグループについて、各グループ内の少なくとも一の節点の座標を取得する座標取得手段、この座標取得手段により取得された前記少なくとも一の節点の座標に基づいて、当該節点の属するグループ内で座標どうしの間隔が所定の閾値以下の少なくとも二つの節点を解析に不適正な節点として特定する特定手段、として機能させることを特徴とする。
本実施形態のデータ検査装置100は、解析対象モデルMがメッシュ状に分割された所定形状の複数の要素E、…の節点Pを各節点Pが少なくとも二つのグループに属するように複数のグループに分ける。そして、データ検査装置100は、複数のグループについて、各グループ内の少なくとも一の節点Pの座標を取得して、これら少なくとも一の節点Pの座標に基づいて、当該節点Pの属するグループ内で座標どうしの間隔が所定の閾値以下の少なくとも二つの節点P、…を解析に不適正な節点Pとして特定する。
データ検査装置100は、例えば、ワークステーションなどのコンピュータにより構成され、図1に示すように、中央制御部1と、メモリ2と、記憶部3と、操作入力部4と、データ取得部5と、データ検査部6と、表示部7と、表示制御部8と、外部通信部9とを備えている。
解析対象モデルMとは、CADシステムを構成する外部機器200によって2次元若しくは3次元の連続体を解析対象として生成された当該解析対象のシミュレーションモデル(解析対象モデル)Mのことである。
ここで、解析対象モデルMは、例えば、中身が詰まった中実の構造であっても良いし、中空の構造であっても良いし、当該中空の空間部自体の形状を具備するものであっても良い。また、解析対象モデルMの形状は、特に限定されるものではなく、例えば、立方体、球体、楕円体などの比較的単純な形状のものであっても良いし、これらを組み合わせてなる形状などが挙げられる。本実施形態では、例えば、図3〜図5に示すように、正面視にて鉤状、即ち、「L」字形を天地が逆になるように180°回転させた形状に形成された3次元の解析対象モデルMを例示して説明するが、これに限られるものではなく適宜任意に変更可能である。
具体的には、データ生成部5aは、先ず、メモリ2から外部機器200により生成された3次元の解析対象モデルMを取得する。そして、データ生成部5aは、取得した当該解析対象モデルMを有限要素法によりメッシュ状に区分して所定の多角形や多面体からなる複数の要素E、…に分割することにより、これら要素Eの分割データを生成する。例えば、データ生成部5aは、正面視にて鉤状の解析対象モデルM(図3等参照)を取得して、当該解析対象モデルMを有限要素法によりメッシュ状に区分して略立方体状の複数の要素E、…に分割する(図4参照))。
そして、データ取得部5は、データ生成部5aにより生成された複数の要素E、…の分割データを取得する。
なお、データ生成部5aは、複数の要素E、…の分割データの生成に有限要素法を用いるようにしたが、解析対象モデルMの数値解析の手法として適用可能な他の解析手法、例えば、境界要素法などを用いても良い。また、有限要素法や境界要素法は、解析対象のシミュレーションモデル(解析対象モデル)Mの解析手法として公知の技術であるので、ここでの説明は省略する。
つまり、構成部品の形状によっては、当該構成部品を必ずしも本実施形態のデータ検査装置100によるデータの検査対象とする必要はない。例えば、比較的単純な形状の構成部品は有限要素法による要素Eの分割(即ち、節点Pの設定)に誤りが生じ難いため、要素Eの分割データの検査対象から除外しても良い。一方、構成部品どうしの境目(継ぎ目)などは他の部分に比べて形状が複雑になり、有限要素法による要素Eの分割に誤りが生じ易いため、要素Eの分割データの検査対象とするのが好ましい。また、例えば、解析対象モデルMの凹凸の大きい部分、即ち、例えば、所定方向から視た場合の角度が所定の角度よりも大きく(若しくは、小さく)なっている部分を要素Eの分割データの検査対象としても良い。
なお、解析対象モデルMの各構成物品毎の要素Eは、同一の物性を属性情報として有する集合である。
このように、データ取得部5は、解析対象モデルMがメッシュ状に分割された所定形状の複数の要素E、…を取得する要素取得手段を構成している。
ここで、各検査領域Aの寸法は、例えば、要素Eの寸法、解析対象モデルMの所定軸方向の寸法(最小座標値や最大座標値)、検査精度等を考慮して規定されている。即ち、検査領域Aの所定の軸方向(例えば、x軸方向)の長さは、要素Eの同一方向の長さよりも短く設定されるのが好ましい。つまり、検査領域Aの所定の軸方向の長さが要素Eの同一方向の長さよりも長く設定されると、検査領域A内に要素Eの一の辺の両端の節点Pが検査対象として含まれてしまう虞があり、この場合には、一の検査領域Aにおける計算量の増大を招いてしまうためである。一方、各検査領域Aの寸法を要素Eの寸法に比してあまりにも小さくすると、検査領域Aの数が増大してしまい、要素Eの形状によっては節点Pが全く存しない検査領域Aが多数設定され、処理効率の低下を招いてしまうためである。
また、各検査領域Aの寸法は、例えば、解析対象モデルMの所定軸方向の寸法を基準として検査領域Aの数が略一定となるように設定することで、如何なる形状や寸法の解析対象モデルMに対しても計算量(計算時間)をある程度一定に保つことができ、処理効率の低下を防止することができる。
なお、例えば、図5には、解析対象モデルMをy軸方向に視て、x軸及びz軸方向に複数の検査領域A、…が設定された状態を表しているが、y軸方向に対しても検査領域Aのy軸方向の長さの1/2ずつ互いに重なり合わせるように複数の検査領域A、…が設定されているものとする。また、図5にあっては、例えば、解析対象モデルMの検査領域Aの設定の基準となる一の節点P(例えば、y軸方向に視て左上隅部の節点P等)に対応する検査領域A0を基準(No.0)として、x軸、y軸及びz軸の各々に沿って設定される複数の検査領域A、…の番号を1から順に付すものとするが、基準となる検査領域A0や番号の付す順序はこれらに限られるものではなく適宜任意に変更可能である。
これにより、複数の要素E、…の各節点Pは、少なくとも二つの検査領域(グループ)A、Aに属することとなる。例えば、解析対象モデルMの検査領域Aの設定の基準となる一の節点Pは、基準となるNo.0の検査領域A0と、当該検査領域A0とx軸方向に1/2ずつ互いに重なり合う検査領域A1と、検査領域A0とy軸方向に1/2ずつ互いに重なり合う検査領域(図示略)と、検査領域A0とz軸方向に1/2ずつ互いに重なり合う検査領域A2と、検査領域A0とx軸及びz軸方向に1/4ずつ互いに重なり合う検査領域A3と、検査領域A0とx軸及びy軸方向に1/4ずつ互いに重なり合う検査領域(図示略)と、検査領域A0とy軸及びz軸方向に1/4ずつ互いに重なり合う検査領域(図示略)のそれぞれに属することとなる。また、他の節点Pについても、上記と同様に、少なくとも二つの検査領域A、…に属することとなるが、その詳細な説明は省略する。
なお、図5にあっては、重なり合った状態の複数の検査領域A、…を破線で表しているが、上記した検査領域A0〜A3は、模式的に一点鎖線で囲んで指示するものとする。
また、領域設定部61aは、検査領域Aを所定の軸方向(例えば、x軸、y軸及びz軸等)に沿って設定するようにしたが、検査領域Aの設定方向はこれに限られるものではなく、例えば、所定の軸方向と異なる方向(例えば、交わる方向)に沿って設定するようにしても良い。
さらに、領域設定部61aによる検査領域Aの設定を一の検査領域Aを基準として行うようにしたが、これに限られるものではなく、複数の検査領域A、…を基準とするようにしても良い。
このように、グループ分け部6aは、データ取得部5により取得された複数の要素E、…の節点Pを各節点Pが少なくとも二つのグループに属するように複数のグループに分けるグループ分け手段を構成している。
即ち、座標取得部6bは、解析対象モデルMの複数の要素E、…の分割データに対して領域設定部61aにより設定された複数の検査領域A、…について、各検査領域A内に存する少なくとも一の節点Pのx軸、y軸及びz軸から構成された3次元空間における座標(x,y,z)を取得する。
なお、座標取得部6bは、必ずしも全ての検査領域Aを節点Pの座標(x,y,z)の取得対象とする必要はなく、例えば、要素Eの形状や寸法、検査領域Aの寸法等を考慮して、節点Pが存しないことが明らかな検査領域Aについては節点Pの座標の取得対象から除外しても良い。
ここで、座標取得部6bは、複数のグループについて、各グループ内の少なくとも一の節点Pの座標(x,y,z)を取得する座標取得手段を構成している。
即ち、誤りデータ特定部6cは、座標取得部6bにより取得された各節点Pの属する検査領域(グループ)A内で座標(x,y,z)どうしの間隔が所定の閾値以下となっている二つの節点P、Pを数値解析に不適正な節点Pとして特定する。具体的には、誤りデータ特定部6cは、各検査領域A内の全ての節点Pについて、当該検査領域A内の他の節点Pとの座標(x,y,z)どうしの間隔を所定の演算式に従って算出する。
例えば、図5及び図6に示すように、解析対象モデルMの略直角に屈曲した部分には、実際には複数の要素E、…(図5における向かって左上隅部の要素E、その右隣りの要素E、その下の要素E)によって共有される一の節点として生成されるべきものが二つの節点P1、P2として重複して設定されている。この場合、これら二つの節点P1、P2は、x軸方向の2番目と3番目、且つ、z軸方向の2番目と3番目の検査領域Aに属することとなる。なお、図示は省略するが、y軸方向に関しては0番目と1番目の検査領域Aに属している。
また、図6には、二つの節点P1、P2のx軸方向の検査領域Aに対する関係を示しており、これら二つの節点P1、P2は、x軸方向の2番目と3番目の検査領域Aに属することとなる。また、図5及び図6にあっては、近接する二つの節点P1、P2を例示しているが、一例であってこれに限られるものではなく、3つ以上の節点P、…が重複して(近接して)配置されていても良い。
そして、誤りデータ特定部6cは、これら二つの節点P1、P2が属する各検査領域A内で、各節点Pについて他の節点Pとの座標(x,y,z)どうしの間隔を所定の演算式に従って算出する。
即ち、グループ分け部6aにより各節点Pが少なくとも二つの検査領域(グループ)A、…に属するように設定されているため、誤りデータ特定部6cは、各検査領域Aについて座標(x,y,z)どうしの間隔が所定の閾値以下となっているか否かを判定することで、各節点Pについて近接する節点Pが存するか否かを検査領域Aを重複して判定することができる。つまり、検査領域Aが重なり合わない場合には、近接する二つの節点P、Pの各々が互いに異なる検査領域Aに分けられてしまう虞があるが、検査領域Aが1/2ずつ重なり合って設定されているため、これら二つの節点P、Pは必ず何れかの検査領域A内にて共存することとなる。
なお、所定の閾値は、検査領域Aの寸法や検査精度等を考慮して規定されている。即ち、例えば、所定の閾値を検査領域Aの寸法に比してより大きく設定することで、計算量は増加するものの、誤りデータ特定部6cは、より多くの節点Pを数値解析に不適正な節点Pとして特定することができ、検査精度の向上を図ることができる。一方、所定の閾値をより小さく設定することで、数値解析に不適正な節点Pとして特定される数は減少するものの、誤りデータ特定部6cは、計算量を減少させて処理の高速化を図ることができる。
ここで、データ修正部6dは、誤りデータ特定部6cにより特定された少なくとも二つの節点P、…を所定の座標を有する一の節点Pとするように修正する修正手段を構成している。
具体的には、表示制御部8は、例えば、GPU(Graphics Processing Unit)やVRAM(Video Random Access Memory)等を具備するビデオカード(図示略)を備えている。そして、表示制御部8は、中央制御部1からの表示指示に従って、解析対象モデルMや当該解析対象モデルMの要素分割後の画像の表示用データをビデオカードによる描画処理によって生成し、表示部7に出力する。
このように、表示制御部8は、誤りデータ特定部6cにより特定された少なくとも二つの節点P、…を報知手段(表示部7)から報知させる報知制御手段を構成している。
なお、外部機器200は、CADシステムを構成するワークステーションなどのコンピュータであって、解析対象モデルMを生成可能なものであれば如何なる構成であっても良く、その詳細な説明は省略する。
図2は、データ検査処理に係る動作の一例を示すフローチャートである。また、図3は、解析対象モデルMの一例を模式的に示す図であり、図4は、解析対象モデルMを複数の要素E、…に分割した状態の一例を模式的に示す図であり、図5は、解析対象モデルMに検査領域Aを設定した状態の一例を模式的に示す図である。また、図6は、図5の検査領域Aを用いた節点Pの検査の一例を説明するための図である。
なお、以下の説明にあっては、解析対象モデルMとしてy軸方向に視て鉤状に形成された解析対象モデルMを用いるものとする。また、当該解析対象モデルMは、外部機器200により生成された後、外部通信部9を介してメモリ2に一時記憶されているものとする。
具体的には、データ取得部5のデータ生成部5aは、メモリ2に一時記憶されている3次元の解析対象モデルM(図3参照)を取得する。そして。データ生成部5aは、当該解析対象モデルMを有限要素法によりメッシュ状に区分して所定形状の複数の要素E、…に分割することによって、要素Eの分割データ(図4参照)を生成する。そして、データ取得部5は、データ生成部5aにより生成された要素Eの分割データを取得する。
なお、データ取得部5による要素Eの分割データの取得は、ユーザによる操作入力部4の所定操作に基づいて開始されても良いし、外部機器200から送信された解析対象モデルMがメモリ2に一時記憶されたことを契機として自動的に開始されても良い。
具体的には、領域設定部61aは、解析対象モデルMの複数の要素E、…の分割データに対して、所定の寸法で同一形状(例えば、立方体状)の検査領域Aをx軸方向、y軸方向及びz軸方向の各々に沿って当該検査領域Aの所定の軸方向の長さの1/2ずつ互いに重なり合わせるように複数設定する。これにより、複数の要素E、…の各節点Pは、少なくとも二つの検査領域A、…に属することとなる。
具体的には、誤りデータ特定部6cは、各検査領域A内の全ての節点Pについて、当該検査領域A内の他の節点Pとの座標(x,y,z)どうしの間隔を所定の演算式に従って算出する。その後、誤りデータ特定部6cは、各検査領域Aについて算出された少なくとも二つの節点P、…の座標(x,y,z)どうしの間隔が所定の閾値以下となっているか否かを判定し、所定の閾値以下となっている少なくとも二つの節点P、…(例えば、節点P1、P2等)を数値解析に不適正な節点Pとして特定する。
ここで、データ修正部6dによる節点Pの座標(x,y,z)の修正は、ユーザによる操作入力部4の所定操作に基づいて開始されても良いし、誤りデータ特定部6cにより誤りデータとして少なくとも二つの節点P、…が特定されたことを契機として自動的に開始されても良い。
これにより、データ検査処理を終了する。
即ち、解析対象モデルMにて複数の要素Eによって共有される一の節点Pとして生成されるべきものが重複して複数生成されると、これら複数の近接する節点P、…は数値解析における計算誤差等を生じさせる虞がある。そこで、これら座標どうしの間隔が近い複数の節点P、…を特定する上で、節点Pどうしの間隔の判定用の所定の閾値を設定し、当該所定の閾値以下の少なくとも二つの節点P、…を数値解析に不適正な節点Pとして特定する。このとき、解析対象モデルMの複数の要素E、…の節点Pの各々は、少なくとも二つのグループに属するようにグループ分けされているので、各節点Pについて近接する節点Pが存するか否かの特定を複数のグループに重複して行うことができ、複数の要素E、…の分割データの誤りの検査精度を向上させて適正に検査することができる。
さらに、誤りデータとして特定された一のグループ(検査領域A)内に存する少なくとも二つの節点P、…を所定の座標を有する一の節点Pとするように修正することで、要素分割の誤りが修正された複数の要素E、…の分割データを取得することができ、その後の数値解析を効率良く行うことができる。
例えば、上記実施形態にあっては、解析対象モデルMの所定の軸方向の座標の最小値や最大値並びに各検査領域の所定の軸方向の寸法等から各節点Pの属する検査領域Aを演算により特定して、当該節点Pの属する検査領域のみを検査対象としても良い。これにより、節点Pが存しない検査領域を検査対象から除外することができ、処理の高速化を図ることができる。
即ち、ステップS5における誤りデータとしての少なくとも二つの節点P、…の表示後に、ステップS6における当該少なくとも二つの節点P、…の座標の修正を行うようにしたが、これに限られるものではなく、例えば、誤りデータとして特定された少なくとも二つの節点P、…の座標の修正を先に行うことで誤りデータの表示を行わないようにしても良い。また、誤りデータとして特定された少なくとも二つの節点P、…の表示のみを行って、誤りデータの修正を行わないようにしても良い。
また、データ検査装置100に、解析対象モデルMの複数の要素E、…間の物理的関係を数値解析する数値解析手段を具備するようにしても良く、これにより、複数の要素E、…の分割データの検査後に、当該データ検査装置100を用いて数値解析を即座に行うことができる。
即ち、プログラムを記憶するプログラムメモリ(図示略)に、要素取得処理ルーチン、グループ分け処理ルーチン、座標取得処理ルーチン及び特定処理ルーチンを含むプログラムを記憶しておく。そして、要素取得処理ルーチンにより中央制御部1のCPUを、解析対象のシミュレーションモデル(以下、「解析対象モデルM」と言う)がメッシュ状に分割された所定形状の複数の要素E、…を取得する要素取得手段として機能させるようにしても良い。また、グループ分け処理ルーチンにより中央制御部1のCPUを、要素取得手段により取得された複数の要素E、…の節点Pを各節点Pが少なくとも二つのグループに属するように複数のグループに分けるグループ分け手段として機能させるようにしても良い。また、座標取得処理ルーチンにより中央制御部1のCPUを、複数のグループについて、各グループ内の少なくとも一の節点Pの座標を取得する座標取得手段として機能させるようにしても良い。また、特定処理ルーチンにより中央制御部1のCPUを、座標取得手段により取得された少なくとも一の節点Pの座標に基づいて、当該節点Pの属するグループ内で座標どうしの間隔が所定の閾値以下の少なくとも二つの節点P、…を解析に不適正な節点Pとして特定する特定手段として機能させるようにしても良い。
1 中央制御部
5 データ取得部
5a データ生成部
6 データ検査部
6a グループ分け部
61a 領域設定部
6b 座標取得部
6c 誤りデータ特定部
6d データ修正部
7 表示部
8 表示制御部
Claims (7)
- 解析対象のシミュレーションモデル(以下、「解析対象モデル」と言う)がメッシュ状に分割された所定形状の複数の要素を取得する要素取得手段と、
この要素取得手段により取得された複数の要素の節点を各節点が少なくとも二つのグループに属するように複数のグループに分けるグループ分け手段と、
前記複数のグループについて、各グループ内の少なくとも一の節点の座標を取得する座標取得手段と、
この座標取得手段により取得された前記少なくとも一の節点の座標に基づいて、当該節点の属するグループ内で座標どうしの間隔が所定の閾値以下の少なくとも二つの節点を解析に不適正な節点として特定する特定手段と、
を備えたことを特徴とするデータ検査装置。 - 前記グループ分け手段は、
前記複数の要素の各節点の検査領域を複数設定する領域設定手段を有し、この領域設定手段が前記複数の検査領域を互いに重なり合わせるように設定することにより、当該複数の節点を前記複数のグループに分けることを特徴とする請求項1に記載のデータ検査装置。 - 前記領域設定手段は、更に、同一形状の前記複数の検査領域を所定の軸方向に沿って当該検査領域の前記所定の軸方向の長さの少なくとも1/2ずつ互いに重なり合わせるように設定し、
前記座標取得手段は、更に、前記複数の検査領域について、各検査領域内に存する少なくとも一の節点の座標を取得し、
前記特定手段は、更に、前記座標取得手段により取得された前記少なくとも一の節点の座標に基づいて、当該節点の存する検査領域内で座標どうしの間隔が所定の閾値以下の少なくとも二つの節点を解析に不適正な節点として特定することを特徴とする請求項2に記載のデータ検査装置。 - 前記所定の閾値は、前記検査領域の寸法に基づいて規定されていることを特徴とする請求項2又は3に記載のデータ検査装置。
- 前記特定手段により特定された前記少なくとも二つの節点を報知手段から報知させる報知制御手段を更に備えることを特徴とする請求項1〜4の何れか一項に記載のデータ検査装置。
- 前記特定手段により特定された前記少なくとも二つの節点を所定の座標を有する一の節点とするように修正する修正手段を更に備えることを特徴とする請求項1〜5の何れか一項に記載のデータ検査装置。
- データ検査装置のコンピュータを、
解析対象のシミュレーションモデル(以下、「解析対象モデル」と言う)がメッシュ状に分割された所定形状の複数の要素を取得する要素取得手段、
この要素取得手段により取得された複数の要素の節点を各節点が少なくとも二つのグループに属するように複数のグループに分けるグループ分け手段、
前記複数のグループについて、各グループ内の少なくとも一の節点の座標を取得する座標取得手段、
この座標取得手段により取得された前記少なくとも一の節点の座標に基づいて、当該節点の属するグループ内で座標どうしの間隔が所定の閾値以下の少なくとも二つの節点を解析に不適正な節点として特定する特定手段、
として機能させることを特徴とするプログラム。
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