JP2011226957A - Defect inspection method and defect inspection device of polarizing plate - Google Patents

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正敬 川島
Yorikatsu Kanehira
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To develop a defect inspection method and a defect inspection device of a polarizing plate which can accurately detect only defects caused by a popularizing plate and an adhesive layer with simple device configuration, without detecting defects which are caused by a separate film and are not problematic, when inspecting defects of a polarizing plate with a separate film.SOLUTION: The defect inspection method of the polarizing plate with the separate film which uses transmission light of a polarizing plate with the use of a light source arranged in one side of the polarizing plate and a camera arranged in the other side thereof adjusts a light-receiving direction of the camera and a position of the light source so as to prevent the transmission light from the light source from directly entering into the camera.

Description

本発明は、液晶表示装置などに用いられる偏光板の欠陥を検査する欠陥検査方法および欠陥検査装置に関する。   The present invention relates to a defect inspection method and a defect inspection apparatus for inspecting a defect of a polarizing plate used in a liquid crystal display device or the like.

液晶表示装置は、薄型で低消費電力のため、テレビをはじめ、コンピュータ、携帯電話、カーナビゲーションシステムなどの表示装置として、近年、広い用途に用いられるようになった。偏光板は、このような液晶表示装置を構成する光学部品のひとつとして重要であり、通常、液晶パネルの両面に粘着剤層を介して貼合される。   In recent years, liquid crystal display devices have come to be used in a wide range of applications as display devices for televisions, computers, mobile phones, car navigation systems, and the like due to their thinness and low power consumption. The polarizing plate is important as one of the optical components constituting such a liquid crystal display device, and is usually bonded to both surfaces of the liquid crystal panel via an adhesive layer.

このような偏光板は、図1に示すように、通常、ヨウ素などで染色され一軸延伸されたポリビニルアルコール(以下、PVA)フィルムからなる偏光素子11と、その両面に、それぞれ接着剤層12a、12bを介して貼合された保護膜13a、13bで構成される。保護膜13a、13bは、たとえばトリアセチルセルロース(以下、TAC)やノルボルネンからなるフィルムで形成される。(以下、図1の19のように偏光素子11の両面に接着剤層12a、12bを介して保護膜13a、13bが貼合された状態の偏光板を、「偏光板本体」と称する。)   As shown in FIG. 1, such a polarizing plate is usually composed of a polarizing element 11 made of a polyvinyl alcohol (hereinafter, PVA) film dyed with iodine or the like and uniaxially stretched, and adhesive layers 12a, It is comprised by the protective films 13a and 13b bonded through 12b. The protective films 13a and 13b are formed of a film made of, for example, triacetyl cellulose (hereinafter referred to as TAC) or norbornene. (Hereinafter, the polarizing plate in which the protective films 13a and 13b are bonded to both surfaces of the polarizing element 11 via the adhesive layers 12a and 12b as shown in FIG. 1 is referred to as a “polarizing plate body”.)

さらに、液晶表示装置に用いられる偏光板は、この偏光板本体19の一方の表面(図1では保護膜13aの表面)に液晶パネルに貼合するための粘着剤層14が形成され、液晶パネルへの貼合が施されるまで粘着剤層14を保護するために粘着剤層14上にセパレートフィルム15が形成される。このセパレートフィルム15は液晶パネルへの貼合の際に剥離され廃棄される。   Furthermore, the polarizing plate used for the liquid crystal display device is formed with an adhesive layer 14 for bonding to the liquid crystal panel on one surface of the polarizing plate body 19 (the surface of the protective film 13a in FIG. 1). A separate film 15 is formed on the pressure-sensitive adhesive layer 14 in order to protect the pressure-sensitive adhesive layer 14 until being bonded to. This separate film 15 is peeled off and discarded at the time of bonding to the liquid crystal panel.

偏光板本体19の他方の表面(図1では保護膜13bの表面)には、その表面を保護するために、さらに、第2の粘着剤層16を介して剥離フィルム17が添付されることが一般的である。この剥離フィルム17は、液晶パネルへの偏光板の貼合の際に、剥離され廃棄される。その際、第2の粘着剤層16も剥離フィルム17に粘着した状態で剥離され、偏光板本体19の表面には残らない。(以下、図1の10のように、偏光板本体19の少なくとも一方の表面に粘着剤層14を介してセパレートフィルム15が形成された状態の偏光板を、「セパレートフィルム付き偏光板」と称する。セパレートフィルム付き偏光板10は、上述の第2の粘着剤層16を介して剥離フィルム17が形成された状態の偏光板も含むものとする。)   In order to protect the surface of the other side of the polarizing plate body 19 (the surface of the protective film 13b in FIG. 1), a release film 17 may be further attached via the second pressure-sensitive adhesive layer 16. It is common. The release film 17 is peeled off and discarded when the polarizing plate is bonded to the liquid crystal panel. At that time, the second pressure-sensitive adhesive layer 16 is also peeled in a state where it is adhered to the release film 17 and does not remain on the surface of the polarizing plate body 19. (Hereinafter, a polarizing plate in which a separate film 15 is formed on at least one surface of a polarizing plate body 19 via an adhesive layer 14 as shown in FIG. 1 is referred to as a “polarizing plate with a separate film”. (The polarizing plate 10 with a separate film includes a polarizing plate in which a release film 17 is formed via the second pressure-sensitive adhesive layer 16 described above.)

通常、このような偏光板は、長い帯状のシート状態でほぼ連続的に生産され、最後に貼合する液晶パネルの形状に応じた形状に切断され、液晶表示装置の製造メーカに出荷される(以下、これを「偏光板製品」と称する)。その際、偏光板に異物、パーティクル、傷などの欠陥がある箇所は避けて偏光板製品を切りださなければならない。そのため、切断前に、セパレートフィルム付き偏光板10の欠陥を検査する工程が重要となってくる。   Usually, such a polarizing plate is produced almost continuously in a long belt-like sheet state, cut into a shape corresponding to the shape of the liquid crystal panel to be finally bonded, and shipped to the manufacturer of the liquid crystal display device ( Hereinafter, this is referred to as “polarizing plate product”). At that time, it is necessary to cut out the polarizing plate product while avoiding a portion where the polarizing plate has defects such as foreign matter, particles and scratches. Therefore, the process of inspecting the defect of the polarizing film with a separate film 10 before cutting becomes important.

図4は、従来の偏光板の欠陥検査装置の一例の断面図である。偏光板の欠陥検査装置40において、被検査対象の偏光板49は、紙面で左から右に水平方向に移動しており、その検査部は、第1の検査部41とその右側に配置された第2の検査部42からなる。図4では、偏光板49の膜構成は図示を省略している。第1の検査部41は、偏光板49の鉛直方向下方に配置された第1の光源43と、偏光板49の鉛直方向上方に第1の光源43と正対するように配置された第1のカメラ(撮像部)44からなる。同様に、第2の検査部42は、偏光板の鉛直方向下方に配置された第2の光源45と、偏光板の鉛直方向上方に第2の光源45と正対するように配置された第2のカメラ(撮像部)46からなる。この第2の光源45と偏光板49との間には、偏光フィルタ47が配置される。偏光板49と偏光フィルタ47の偏光軸は、クロスニコルになるように配置されている。   FIG. 4 is a cross-sectional view of an example of a conventional polarizing plate defect inspection apparatus. In the defect inspection apparatus 40 for the polarizing plate, the polarizing plate 49 to be inspected moves in the horizontal direction from left to right on the paper surface, and the inspection portion is arranged on the first inspection portion 41 and the right side thereof. It consists of a second inspection unit 42. In FIG. 4, the film configuration of the polarizing plate 49 is not shown. The first inspection unit 41 includes a first light source 43 disposed below the polarizing plate 49 in the vertical direction, and a first light source 43 disposed so as to face the first light source 43 above the polarizing plate 49 in the vertical direction. It consists of a camera (imaging unit) 44. Similarly, the second inspection unit 42 has a second light source 45 disposed below the polarizing plate in the vertical direction, and a second light source 45 disposed so as to face the second light source 45 above the polarizing plate in the vertical direction. Camera (imaging part) 46. A polarizing filter 47 is disposed between the second light source 45 and the polarizing plate 49. The polarizing axes of the polarizing plate 49 and the polarizing filter 47 are arranged so as to be crossed Nicols.

ここで、第1の光源43と第1のカメラ44、第2の光源45と第2のカメラ46は、それぞれ偏光板49に対し鉛直線上に配置され、第1のカメラ44、第2のカメラ46の受光方向は真下、つまりそれぞれ、第1の光源43、第2の光源45に向けられている。
なお、本発明でカメラの受光方向とは、受光レンズの中心が向いている方向を指す。
Here, the first light source 43 and the first camera 44, the second light source 45 and the second camera 46 are arranged on the vertical line with respect to the polarizing plate 49, respectively, and the first camera 44 and the second camera are arranged. The light receiving direction 46 is directly below, that is, directed to the first light source 43 and the second light source 45, respectively.
In the present invention, the light receiving direction of the camera refers to the direction in which the center of the light receiving lens faces.

第1の検査部41では、検査用の偏光フィルタは配置されていないので、偏光板49の欠陥が第1の光源43からの透過光の中の暗点として検出されるため、主として大きな有色のパーティクルなどの欠陥を、第1のカメラ44によって暗点として捕え、検出する。第2の検査部42では、検査用の偏光フィルタ47が被検査対象の偏光板49に対してクロスニコルに配置されているため、通常光は遮断され黒くなるが、偏光板49に欠陥があると黒くならず、透過光が輝点として検出される。したがって、第2の検査部42では、第1の検査部41では検出できないような透明な欠陥や、小さなケバ状の欠陥も、第2のカメラ46によって捕え、検出することができる。   Since the inspection polarizing filter is not arranged in the first inspection unit 41, the defect of the polarizing plate 49 is detected as a dark spot in the transmitted light from the first light source 43, and therefore, a large colored A defect such as a particle is detected as a dark spot by the first camera 44 and detected. In the second inspection unit 42, the polarizing filter 47 for inspection is arranged in crossed Nicols with respect to the polarizing plate 49 to be inspected, so that the normal light is blocked and blackened, but the polarizing plate 49 has a defect. And the transmitted light is detected as a bright spot. Therefore, the second inspection unit 42 can capture and detect the transparent defect that cannot be detected by the first inspection unit 41 and the small defect in the shape of a small mark by the second camera 46.

第1のカメラ44、第2のカメラ46からの映像は、それぞれ、図示しないコンピュータシステムによって画像処理され、適切な閾値をもって欠陥と判断され、またその位置(座標)が記憶される。そして、これによる第1の検査部41と第2の検査部42の検査結果を照合したうえでプログラムされた適切な判断基準によって最終的に欠陥が判断され、かつ、その位置(座標)が記憶される。そして、最終的に欠陥と判断された箇所は、コンピュータシステムからの指令により、図示しないマーキングシステムによって、偏光板49の該当欠陥箇所に直接マーキングされ、その箇所は不良とされる。偏光板製品を切り出す際には、そのマーキングされた不良箇所はさけて切り出され、偏光板製品が得られる。
このような第2の検査部については、たとえば、特許文献1(特開2004−198163号)にも開示されているとおりである。
The images from the first camera 44 and the second camera 46 are each subjected to image processing by a computer system (not shown), determined to be defective with an appropriate threshold, and their positions (coordinates) are stored. Then, after checking the inspection results of the first inspection unit 41 and the second inspection unit 42 by this, a defect is finally determined based on an appropriate determination criterion programmed, and the position (coordinates) is stored. Is done. And the location finally determined as a defect is directly marked by the marking system which is not shown in figure according to the command from a computer system, and the location is made defective. When the polarizing plate product is cut out, the marked defective portion is cut out to obtain a polarizing plate product.
About such a 2nd test | inspection part, it is as having also disclosed by patent document 1 (Unexamined-Japanese-Patent No. 2004-198163), for example.

特開2004−198163号公報JP 2004-198163 A

このような偏光板の欠陥検査装置40において、被検査対象の偏光板49がセパレートフィルム付き偏光板10の場合、第2の検査部42、すなわち第2の光源45と被検査対象の偏光板49との間に偏光フィルタ47を配置し欠陥を輝点として検出する検査では、セパレートフィルム15に起因する欠陥も輝点として検出されてしまうという問題点があった。   In such a polarizing plate defect inspection apparatus 40, when the polarizing plate 49 to be inspected is the polarizing plate 10 with a separate film, the second inspection unit 42, that is, the second light source 45 and the polarizing plate 49 to be inspected. In the inspection in which the polarizing filter 47 is arranged between the two and the defect is detected as a bright spot, there is a problem that the defect caused by the separate film 15 is also detected as the bright spot.

セパレートフィルム15は、上述のように、液晶パネルへの貼合の際に剥離され廃棄されるものであるため、欠陥があっても問題にはならない。ところが、従来の欠陥検査装置では、セパレートフィルム15に起因する欠陥なのか、偏光板本体19や粘着剤層14に起因する欠陥なのか、区別をすることができなかった。そのため、セパレートフィルム15に起因する欠陥であっても、不良と判断され、不当に歩留まりを低下させるという問題点があった。   As described above, the separate film 15 is peeled off and discarded at the time of bonding to the liquid crystal panel, so that there is no problem even if there is a defect. However, in the conventional defect inspection apparatus, it was impossible to distinguish whether the defect was caused by the separate film 15 or the defect caused by the polarizing plate body 19 or the pressure-sensitive adhesive layer 14. For this reason, even a defect caused by the separate film 15 is judged to be defective, and there is a problem that the yield is unduly lowered.

なお、セパレートフィルム15に起因する欠陥は、通常、セパレートフィルム中の異物あるいは付着物によるものであり、セパレートフィルム15と一体化していて無色で屈折率に大きな変化はないため、第1の検査部41、すなわち検査用の偏光フィルタを配置せず欠陥を暗点として検出する検査においては、暗点とはならず、欠陥として検出されない。   The defects caused by the separate film 15 are usually due to foreign matters or adhering substances in the separate film, and are integrated with the separate film 15 and are colorless and have no significant change in the refractive index. 41, that is, in an inspection in which a defect is detected as a dark spot without arranging a polarizing filter for inspection, the defect is not detected as a dark spot.

特許文献1では、液晶パネルに貼合の際に偏光板から剥離され廃棄される保護フィルム(本明細書のセパレートフィルム15に相当)に起因する欠陥を区別するために、暗い画像中に周期的または連続的に検出される明るい部分は保護フィルム(セパレートフィルム)の欠陥と判定することが開示されている。   In patent document 1, in order to distinguish the defect resulting from the protective film (equivalent to the separate film 15 of this specification) peeled off from a polarizing plate at the time of bonding to a liquid crystal panel, it is periodic in a dark image. Alternatively, it is disclosed that a bright portion continuously detected is determined as a defect of a protective film (separate film).

しかしながら、保護フィルム(セパレートフィルム)の欠陥には、必ずしもこのように区別できない場合もある。たとえば、保護フィルム(セパレートフィルム)の欠陥には、蛇行してランダムに現れる欠陥もある。この場合、保護フィルム(セパレートフィルム)の欠陥であっても、この判定方法では保護フィルム(セパレートフィルム)に起因する欠陥とはみなされず、その部分は不良品と判定される。このように、保護フィルム(セパレートフィルム)に起因する欠陥を偏光板本体の欠陥と判定する、また、逆に偏光板本体に存在する周期的又は連続的な欠陥を保護フィルム(セパレートフィルム)の欠陥としてしまう、などの誤判定が多く生じてしまうという問題があった。   However, the defect of the protective film (separate film) may not always be distinguished in this way. For example, the defect of the protective film (separate film) includes a defect that appears meandering at random. In this case, even a defect in the protective film (separate film) is not regarded as a defect due to the protective film (separate film) by this determination method, and the portion is determined as a defective product. In this way, the defect caused by the protective film (separate film) is determined as a defect of the polarizing plate body, and conversely, the periodic or continuous defect present in the polarizing plate body is a defect of the protective film (separate film). There is a problem that many misjudgments such as

本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、セパレートフィルム付き偏光板の欠陥を検査する際に、検査装置を複雑化、高価格化することなく、セパレートフィルムに起因する欠陥は検出せず、偏光板本体および粘着剤層に起因する欠陥のみを精度よく検出できる偏光板の欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供するものである。   The present invention has been made in view of such problems, and when inspecting the defects of the polarizing plate with a separate film, the inspection apparatus is complicated and expensive, without causing defects in the separate film. The defect inspection apparatus and defect inspection method of a polarizing plate which can detect only the defect resulting from a polarizing plate main body and an adhesive layer accurately are detected.

本発明者らは鋭意研究を重ねた結果、偏光板の一方の側に配置された光源と他方の側に配置されたカメラとを用い、偏光板の透過光を利用するセパレートフィルム付き偏光板の欠陥検査方法において、カメラの受光方向と光源の位置との関係に着目し、本発明を完成したものである。
すなわち、カメラの受光方向にある光源からの透過光を利用する従来の欠陥検査方法・装置に換えて、カメラの受光方向に対し斜め方向にある光源からの透過光を利用することにより、全体の受光量を低下させてカメラの感度を上げることが可能となり、セパレートフィルム中の異物は検出せず、小さなケバも検出でき、上記課題を解決できることを初めて見出し、本発明を完成させるに至った。本発明は、次の第1〜第7の発明から構成される。
As a result of intensive research, the present inventors have used a light source disposed on one side of the polarizing plate and a camera disposed on the other side of the polarizing plate with a separate film that utilizes the transmitted light of the polarizing plate. In the defect inspection method, the present invention has been completed by paying attention to the relationship between the light receiving direction of the camera and the position of the light source.
That is, instead of the conventional defect inspection method / apparatus that uses the transmitted light from the light source in the light receiving direction of the camera, the transmitted light from the light source that is oblique to the light receiving direction of the camera is used. It has become possible to increase the sensitivity of the camera by reducing the amount of received light, to detect foreign matter in a separate film, to detect small marks, and to solve the above-mentioned problems for the first time, and to complete the present invention. The present invention includes the following first to seventh inventions.

すなわち第1の発明は、偏光板の一方の側に配置された光源と他方の側に配置されたカメラとを用い、偏光板の透過光を利用するセパレートフィルム付き偏光板の欠陥検査方法において、カメラの受光方向に対し斜め方向にある光源からの透過光に基づき欠陥検査することを特徴とする偏光板の欠陥検査方法に関するものである。   That is, the first invention uses a light source arranged on one side of the polarizing plate and a camera arranged on the other side, and in the defect inspection method for the polarizing plate with a separate film using the transmitted light of the polarizing plate, The present invention relates to a defect inspection method for a polarizing plate, wherein defect inspection is performed based on transmitted light from a light source oblique to a light receiving direction of a camera.

第2の発明は、カメラの受光方向が偏光板と直交し、その直交位置から、偏光板移動方向の上流側又は下流側に10mm〜30mmずれた位置に光源があり、偏光板と光源上面との距離が150〜250mm、偏光板とカメラの下端との距離が200〜260mmであることを特徴とする請求項1に記載の偏光板の欠陥検査方法。
上記の光源とカメラの配置により、カメラに入射する透過光が、カメラの受光方向に対し斜め方向からのものだけになるようにしたものである。
In the second invention, the light receiving direction of the camera is orthogonal to the polarizing plate, and there is a light source at a position shifted from the orthogonal position by 10 mm to 30 mm upstream or downstream in the moving direction of the polarizing plate. 2. The defect inspection method for a polarizing plate according to claim 1, wherein the distance between the polarizing plate and the lower end of the camera is 200 to 260 mm.
With the above arrangement of the light source and the camera, the transmitted light incident on the camera is only from an oblique direction with respect to the light receiving direction of the camera.

第3の発明は、光源とカメラとを偏光板を挟んで正対するように配置し、カメラの受光方向を偏光板移動方向に対して上流側又は下流側に2°〜10°傾斜するように設置することを特徴とする第1の発明に係る偏光板の欠陥検査方法に関するものである。
上記のようにカメラを設置することにより、第2の発明とは異なる方法によって、カメラに入射する透過光が、カメラの受光方向に対し斜め方向からのものだけになるようにしたものである。
In the third invention, the light source and the camera are arranged so as to face each other with the polarizing plate interposed therebetween, and the light receiving direction of the camera is inclined 2 ° to 10 ° upstream or downstream with respect to the moving direction of the polarizing plate. The present invention relates to a polarizing plate defect inspection method according to the first aspect of the present invention.
By installing the camera as described above, the transmitted light incident on the camera is only from an oblique direction with respect to the light receiving direction of the camera by a method different from that of the second invention.

第4の発明は、偏光板を挟んでカメラの受光方向と正対した光源からの透過光に基づき欠陥検査する偏光板の欠陥検査方法と組合わせて用いることを特徴とする第1〜3のいずれかの発明に係る偏光板の欠陥検査方法に関するものであり、本発明と従来の透過検査による欠陥検査方法とを組み合わせることにより、より精度の高い欠陥検査を可能とするものである。   4th invention is used combining with the defect inspection method of the polarizing plate which carries out defect inspection based on the transmitted light from the light source which faced the light-receiving direction of the camera on both sides of the polarizing plate. The present invention relates to a defect inspection method for a polarizing plate according to any one of the inventions, and enables defect inspection with higher accuracy by combining the present invention and a conventional defect inspection method by transmission inspection.

第5の発明は、前記セパレートフィルムが偏光板本体の両方の表面に粘着材層を介して形成されていることを特徴とする第1〜4のいずれかの発明に係る偏光板の欠陥検査方法に関するものである。   According to a fifth aspect of the invention, there is provided the defect inspection method for a polarizing plate according to any one of the first to fourth aspects, wherein the separate film is formed on both surfaces of the polarizing plate body via an adhesive layer. It is about.

第6の発明は、第1,2,4,5のいずれかの偏光板の欠陥検査方法の発明に用いるセパレートフィルム付き偏光板の欠陥検査装置であって、偏光板を挟んで光源とカメラとが配置され、カメラの受光方向が偏光板と直交し、光源の位置がその直交位置から偏光板移動方向の上流側又は下流側に10mm〜30mmずれており、偏光板と光源上面との距離が150〜250mm、偏光板とカメラの下端との距離が200〜260mmであることを特徴とする偏光板の欠陥検査装置。   6th invention is a defect inspection apparatus of the polarizing plate with a separate film used for invention of the defect inspection method of the polarizing plate in any one of 1st, 2nd, 4th, 5th, Comprising: A light source, a camera, Is arranged, the light receiving direction of the camera is orthogonal to the polarizing plate, the position of the light source is shifted from the orthogonal position to the upstream side or the downstream side of the moving direction of the polarizing plate by 10 mm to 30 mm, and the distance between the polarizing plate and the upper surface of the light source is 150 to 250 mm, and the distance between the polarizing plate and the lower end of the camera is 200 to 260 mm.

第7の発明は、第1及び第3〜5のいずれかの偏光板の欠陥検査方法の発明に用いるセパレートフィルム付き偏光板の欠陥検査装置であって、光源とカメラとが偏光板を挟んで正対する位置に配置され、カメラの受光方向が、偏光板移動方向に対して上流側又は下流側に2°〜10°傾斜するように設置されていることを特徴とする偏光板の欠陥検査装置に関するものである。   7th invention is a defect inspection apparatus of the polarizing plate with a separate film used for the invention of the defect inspection method of the polarizing plate in any one of 1st and 3rd-5, Comprising: A light source and a camera pinch | interpose a polarizing plate A polarizing plate defect inspection apparatus, characterized in that the polarizing plate is disposed at a directly facing position, and the light receiving direction of the camera is inclined 2 ° to 10 ° upstream or downstream with respect to the moving direction of the polarizing plate. It is about.

本発明によれば、セパレートフィルム付き偏光板の欠陥を検査する際に、簡便な装置構成にて、問題とならないセパレートフィルムに起因する欠陥を検出せず、偏光板本体および粘着剤層に起因する欠陥のみを精度よく検出できるため、検査精度を落とさず、歩留まりの低下を防ぐことができる。さらに、本発明の検査装置は従来の検査装置に比べ、検査用の偏光フィルタを省略でき、安価で簡便に構成できるという効果もある。   According to the present invention, when inspecting a defect of a polarizing plate with a separate film, a defect caused by a separate film that does not cause a problem is not detected with a simple apparatus configuration, but is caused by a polarizing plate body and an adhesive layer. Since only the defect can be detected with high accuracy, it is possible to prevent a decrease in yield without degrading the inspection accuracy. Furthermore, the inspection apparatus of the present invention has an effect that a polarizing filter for inspection can be omitted, and it can be configured inexpensively and easily, compared with the conventional inspection apparatus.

被検査対象の偏光板の膜構成を示す断面図。Sectional drawing which shows the film | membrane structure of the polarizing plate to be examined. 本発明の第1の実施形態による偏光板の欠陥検査装置の断面図。Sectional drawing of the defect inspection apparatus of the polarizing plate by the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施形態による偏光板の欠陥検査装置の断面図。Sectional drawing of the defect inspection apparatus of the polarizing plate by the 2nd Embodiment of this invention. 従来の偏光板の欠陥検査装置の断面図。Sectional drawing of the defect inspection apparatus of the conventional polarizing plate.

本発明の実施形態を、図面を用いて説明する。
図1は、本発明の偏光板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置において、被検査対象となるセパレートフィルム付き偏光板10の断面構成を示すものである。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 shows a cross-sectional structure of a polarizing plate with a separate film 10 to be inspected in a defect inspection method and a defect inspection apparatus for a polarizing plate according to the present invention.

図1において、11は偏光性能を有する偏光素子である。偏光素子11は、たとえば、ヨウ素で染色され一軸延伸されたPVAフィルムからなり、その膜厚は、たとえば、20μm〜100μmである。偏光素子11のそれぞれの面には、接着剤層12a、12bを介して、保護膜13a、13bが形成されている。接着剤層12a、12bは、たとえば、PVA系接着剤、アクリル系接着剤、ウレタン系接着剤などで形成される。   In FIG. 1, 11 is a polarizing element having polarization performance. The polarizing element 11 is made of, for example, a PVA film dyed with iodine and uniaxially stretched, and the film thickness thereof is, for example, 20 μm to 100 μm. Protective films 13a and 13b are formed on the respective surfaces of the polarizing element 11 via adhesive layers 12a and 12b. The adhesive layers 12a and 12b are formed of, for example, a PVA adhesive, an acrylic adhesive, a urethane adhesive, or the like.

保護膜13a、13bは、たとえばTAC、ノルボルネン、ポリエチレンテレフタレート(以下、PETと称す)のいずれかのフィルム、またはこれらを積層した積層フィルムで形成される。それぞれの保護膜13a、13bの膜厚は、たとえば、5μm〜120μmである。保護膜13aと13bは、それぞれ同じ材質の膜でも互いに異なる材質の膜であってもよい。また保護膜13a、13bのいずれか一方は、位相差板であってもよく、あるいは位相差板が積層されていてもよい。   The protective films 13a and 13b are formed of, for example, a film of any one of TAC, norbornene, and polyethylene terephthalate (hereinafter referred to as PET), or a laminated film obtained by laminating these films. The film thickness of each protective film 13a, 13b is, for example, 5 μm to 120 μm. The protective films 13a and 13b may be films of the same material or different materials. Further, either one of the protective films 13a and 13b may be a retardation plate, or a retardation plate may be laminated.

また、保護膜13a、13bのいずれか一方または両方の表面または内面に、アンチグレア(AG)処理が施されていてもよい。このように、偏光素子11とそのそれぞれの面に接着剤層12a、12bを介して形成された保護膜13a、13bとで、偏光板本体19は構成される。   Moreover, the anti-glare (AG) process may be given to the surface or inner surface of one or both of the protective films 13a and 13b. Thus, the polarizing plate main body 19 is composed of the polarizing element 11 and the protective films 13a and 13b formed on the respective surfaces via the adhesive layers 12a and 12b.

セパレートフィルム付き偏光板10は、偏光板本体19の一方の面(図1の例では、保護膜13aの側)に形成された粘着剤層14とその上面に形成されたセパレートフィルム15で構成される。粘着剤層14は、液晶パネルに貼合するためのものであるが、偏光板製品の一部としてあらかじめ形成されている。   The polarizing plate 10 with a separate film is composed of a pressure-sensitive adhesive layer 14 formed on one surface of the polarizing plate main body 19 (the protective film 13a side in the example of FIG. 1) and a separate film 15 formed on the upper surface thereof. The Although the adhesive layer 14 is for bonding to a liquid crystal panel, it is previously formed as a part of polarizing plate product.

粘着剤層14は、たとえば、アクリル系粘着剤、ウレタン系粘着剤、シリコーン系粘着剤で形成される。セパレートフィルム15は、偏光板が液晶パネルに貼合されるまで、粘着剤層14を保護するために粘着剤層14上に形成される。このセパレートフィルム15は液晶パネルへの貼合の際に剥離され廃棄される。セパレートフィルム15は、たとえば、PETで形成され、その膜厚は、たとえば、20μm〜60μmである。   The adhesive layer 14 is formed of, for example, an acrylic adhesive, a urethane adhesive, or a silicone adhesive. The separate film 15 is formed on the pressure-sensitive adhesive layer 14 in order to protect the pressure-sensitive adhesive layer 14 until the polarizing plate is bonded to the liquid crystal panel. This separate film 15 is peeled off and discarded at the time of bonding to the liquid crystal panel. The separate film 15 is made of, for example, PET, and the film thickness is, for example, 20 μm to 60 μm.

セパレートフィルム付き偏光板10は、偏光板本体19の他方の面(図1の例では、保護膜13bの側)に、第2の粘着財層16を介して、剥離フィルム17が形成されていてもよい。この剥離フィルム17は、偏光板本体19の他方の面を保護するためのフィルムであり、液晶パネルへの偏光板の貼合の際に、剥離され廃棄される。その際、第2の粘着剤層16も剥離フィルム17に粘着したまま剥離され、偏光板本体19の表面には残らない。第2の粘着剤層16は、たとえば、アクリル系粘着剤、ウレタン系粘着剤、シリコーン系粘着剤で形成される。剥離フィルム17は、たとえば、PETで形成され、その膜厚は、たとえば、20μm〜60μmである。   In the polarizing plate with a separate film 10, the release film 17 is formed on the other surface of the polarizing plate body 19 (on the protective film 13 b side in the example of FIG. 1) via the second adhesive layer 16. Also good. This release film 17 is a film for protecting the other surface of the polarizing plate body 19 and is peeled off and discarded when the polarizing plate is bonded to the liquid crystal panel. At that time, the second pressure-sensitive adhesive layer 16 is also peeled while sticking to the release film 17 and does not remain on the surface of the polarizing plate body 19. The second adhesive layer 16 is formed of, for example, an acrylic adhesive, a urethane adhesive, or a silicone adhesive. The release film 17 is formed of, for example, PET, and the film thickness is, for example, 20 μm to 60 μm.

このようなセパレートフィルム付き偏光板10は、既知の製法を用いて作製することができる。以下にその一例を簡単に説明する。
帯状のロールにまかれて供給されたPVAフィルム原反からPVAフィルム引き出し、純水中で膨潤させる。ついで、ヨウ素のヨウ化カリウム溶液中に浸漬し、PVAフィルムをヨウ素で染色する。ついで、ヨウ素で染色されたPVAフィルムをホウ酸を含有する水溶液に浸漬して架橋処理を施す。ついで、PVAフィルムを所定の倍率で一軸延伸する。延伸倍率は、たとえば、4倍〜7倍である。延伸は2段階以上にわけて行ってもよく、染色前あるいは染色と同時に行ってもよく、架橋処理工程で行ってもよい。その後PVAフィルムを乾燥させ、偏光素子11を得る。
Such a polarizing plate 10 with a separate film can be produced using a known production method. An example is briefly described below.
The PVA film is drawn out of the PVA film raw material that is supplied by being fed by a belt-shaped roll, and is swollen in pure water. Subsequently, it is immersed in a potassium iodide solution of iodine, and the PVA film is dyed with iodine. Next, the PVA film dyed with iodine is immersed in an aqueous solution containing boric acid to perform a crosslinking treatment. Next, the PVA film is uniaxially stretched at a predetermined magnification. The draw ratio is, for example, 4 to 7 times. Stretching may be performed in two or more stages, may be performed before or simultaneously with dyeing, or may be performed in a crosslinking treatment step. Thereafter, the PVA film is dried to obtain the polarizing element 11.

次いで、PVAフィルムの偏光素子11の一方の面に接着剤層12aを適切な溶媒を用いた塗布法によって形成し、その上面に保護膜13aとして、たとえば、TACフィルムを貼合させる。ついで、他方の面にも同様に接着剤層12bを同様の塗布法によって形成し、その上面に保護膜13bとしてたとえばTACフィルムを貼合させる。このようにして、偏光板本体19の構造が作製される。   Next, an adhesive layer 12a is formed on one surface of the polarizing element 11 of the PVA film by a coating method using an appropriate solvent, and, for example, a TAC film is bonded to the upper surface as the protective film 13a. Next, the adhesive layer 12b is similarly formed on the other surface by the same coating method, and a TAC film, for example, is bonded to the upper surface as the protective film 13b. In this way, the structure of the polarizing plate body 19 is produced.

次いで、後ほどこの偏光板本体19の一方の面にセパレートフィルム15が粘着剤層14を介して貼合されるが、その前に、偏光板本体19の他方の面に、剥離フィルム17が貼合される。剥離フィルム17には、あらかじめその一方の面に第2の粘着財層16が形成されており、その第2の粘着財層16の形成された面を偏光板本体19の他方の面に粘着させることによって、貼合される。PVAフィルム原反からPVAフィルム引き出して水中で膨潤させる工程から、剥離フィルム17を貼合する工程までは、通常、連続的に行なわれる。   Subsequently, the separate film 15 is bonded to one surface of the polarizing plate body 19 via the pressure-sensitive adhesive layer 14 later, but before that, the release film 17 is bonded to the other surface of the polarizing plate body 19. Is done. The release film 17 has a second adhesive layer 16 formed in advance on one surface thereof, and the surface on which the second adhesive layer 16 is formed is adhered to the other surface of the polarizing plate body 19. It is pasted by. From the process of drawing a PVA film from the PVA film original fabric and swelling it in water, the process of pasting the release film 17 is usually performed continuously.

この後、偏光板本体19の一方の面に粘着剤層14を塗布法によって形成するが、粘着剤層14を塗布する工程は、有機溶媒を多量に使用するため、この工程以降は、これより前の工程とは別の製作室で行なわれる場合が多い。そのため、剥離フィルム17を貼合する工程の後、いったんそこまで作製された帯状の偏光板をロール状に巻き取る。そして、別の製作室であらためて、このロール状に巻き取られた偏光板を引き出し、粘着剤層14を適切な有機溶媒を用いた塗布法にて形成する工程を施す。
粘着剤層14の塗布形成後、粘着剤層14が完全に乾燥しないうちにその上面にセパレートフィルム15を貼合し、適宜乾燥する。以上によって、セパレートフィルム付き偏光板10が作製される。
Thereafter, the pressure-sensitive adhesive layer 14 is formed on one surface of the polarizing plate body 19 by a coating method. The process of applying the pressure-sensitive adhesive layer 14 uses a large amount of an organic solvent. It is often performed in a production room different from the previous process. Therefore, after the process of bonding the release film 17, the band-shaped polarizing plate once produced is wound up in a roll shape. Then, in another production room, the polarizing plate wound up in the form of a roll is pulled out, and the pressure-sensitive adhesive layer 14 is formed by a coating method using an appropriate organic solvent.
After the pressure-sensitive adhesive layer 14 is applied and formed, the separate film 15 is bonded to the upper surface of the pressure-sensitive adhesive layer 14 before it is completely dried, and is appropriately dried. The polarizing plate 10 with a separate film is produced by the above.

その後は、このセパレートフィルム付き偏光板10をロール状に巻き取り、切断工程にて、巻き取られたセパレートフィルム付き偏光板10をあらためて引き出し、要求される貼合すべき液晶パネルの形状に応じた形状に切り出し、偏光板製品として液晶表示装置の製造メーカに出荷される。偏光板製品の切り出しは、一旦シート状に切り出した後、そのシートから偏光板製品として切り出してもよい。なお、セパレートフィルム付き偏光板10をロール状のまま液晶表示装置の製造メーカに出荷し、液晶表示装置の製造ラインで液晶パネルへの貼合の際に切断する場合もある。   Thereafter, the polarizing plate 10 with a separate film is wound up in a roll shape, and the polarizing plate 10 with a separated film that has been wound up is pulled out again in a cutting step, and the required shape of the liquid crystal panel to be bonded is determined. Cut into a shape and shipped to a liquid crystal display manufacturer as a polarizing plate product. The polarizing plate product may be cut out once in a sheet form and then cut out from the sheet as a polarizing plate product. In some cases, the polarizing plate 10 with a separate film is shipped in the form of a roll to a manufacturer of a liquid crystal display device, and cut at the time of bonding to a liquid crystal panel on the production line of the liquid crystal display device.

ここで、偏光板製品を切り出す際、偏光板本体19や粘着剤層14に存在する異物、パーティクル、傷などの欠陥箇所は、避けて切り出さなくてはならない。欠陥を有したままの偏光板を液晶パネルに貼合すると、液晶表示装置が不良となってしまうからである。そのため、偏光板の欠陥を検査する工程が重要となってくる。   Here, when the polarizing plate product is cut out, defective portions such as foreign matter, particles, and scratches present in the polarizing plate main body 19 and the pressure-sensitive adhesive layer 14 must be avoided and cut out. This is because if the polarizing plate with defects is bonded to the liquid crystal panel, the liquid crystal display device becomes defective. Therefore, the process of inspecting the polarizing plate for defects becomes important.

欠陥を検査する工程としては、たとえば、偏光板本体19の構造が作製された後、剥離フィルム17貼合前、または剥離フィルム17貼合後に行われることもあるが、それに加えて、セパレートフィルム15の貼合後、つまりセパレートフィルム付き偏光板10として完成された工程で検査することが重要である。剥離フィルム17貼合後の粘着剤層14形成前では、粘着剤層14の欠陥が検出できない。粘着剤層14は液晶パネル貼合後も残存するため、その欠陥も検出する必要がある。また、粘着剤層14の形成前に、いったんロールに巻かれ製作室を移動している際にパーティクルなどが付着する可能性もあり、それも検出する必要があるからである。また、粘着剤層14形成後、セパレートフィルム15貼合前は、粘着剤層14が露出しており、ここで検査することは好ましくない。よって、セパレートフィルム15の貼合後に検査することが好ましい。本発明による偏光板の欠陥検査方法及び装置は、このセパレートフィルム15貼合後の検査に適用される。   The step of inspecting the defect may be performed, for example, after the structure of the polarizing plate main body 19 is manufactured, before the release film 17 is bonded, or after the release film 17 is bonded, in addition to the separation film 15. It is important to inspect after the pasting, that is, in the process completed as the polarizing film 10 with a separate film. Before the pressure-sensitive adhesive layer 14 is formed after the release film 17 is bonded, defects in the pressure-sensitive adhesive layer 14 cannot be detected. Since the adhesive layer 14 remains even after the liquid crystal panel is bonded, it is necessary to detect the defect. In addition, before the pressure-sensitive adhesive layer 14 is formed, there is a possibility that particles or the like may be attached while being wound around a roll and moving through the production chamber, and it is necessary to detect it. In addition, after the pressure-sensitive adhesive layer 14 is formed and before the separation film 15 is bonded, the pressure-sensitive adhesive layer 14 is exposed, and it is not preferable to inspect here. Therefore, it is preferable to inspect after bonding of the separate film 15. The polarizing plate defect inspection method and apparatus according to the present invention are applied to the inspection after the separation of the separate film 15.

つまり、本発明による偏光板の欠陥検査方法及び装置は、セパレートフィルム15を貼合後、ロール状に巻き取る前に、セパレートフィルム付き偏光板10の帯状フィルムの状態で欠陥を検査するものである。また本発明による偏光板の欠陥検査方法及び装置は、セパレートフィルム15を貼合してロール状に巻き取った後、セパレートフィルム付き偏光板10をロールから引き出し、偏光板製品に切り出す前に、帯状フィルムの状態で、欠陥を検査してもよい。   That is, the defect inspection method and apparatus for a polarizing plate according to the present invention inspects defects in the state of a strip-like film of the polarizing plate with a separate film 10 after the separation of the separate film 15 and before winding into a roll. . Moreover, the polarizing plate defect inspection method and apparatus according to the present invention is obtained by laminating the separate film 15 and winding it into a roll, and then pulling out the separate polarizing film 10 with a separate film from the roll and cutting it into a polarizing plate product. Defects may be inspected in the film state.

図2は、本発明の第1の実施形態による偏光板の欠陥検査方法・装置を示す図である。偏光板の欠陥検査装置20において、セパレートフィルム付き偏光板29は、水平方向に配置され、紙面左から右に移動している。移動の速度は、たとえば、10m/分〜20m/分である。
なお、図2において、セパレートフィルム付き偏光板29は、膜構成の図示は省略しているが、図1の10の膜構成となっている。ここでは、セパレートフィルム付き偏光板29のセパレートフィルム15が下側、剥離フィルム17が上側となっていることが好ましい。
FIG. 2 is a view showing a polarizing plate defect inspection method and apparatus according to the first embodiment of the present invention. In the defect inspection apparatus 20 for a polarizing plate, the polarizing plate 29 with a separate film is disposed in the horizontal direction and moves from the left to the right on the paper surface. The moving speed is, for example, 10 m / min to 20 m / min.
In FIG. 2, the polarizing film 29 with a separate film has a film configuration of 10 in FIG. Here, it is preferable that the separate film 15 of the polarizing plate 29 with a separate film is on the lower side and the release film 17 is on the upper side.

欠陥検査装置20は、好ましくは、第1の検査部21と、第2の検査部22とからなる。第1の検査部21と、第2の検査部22の配置(検査順)は任意であるが、図2の例では、第2の検査部22は第1の検査部21の右側、つまりセパレートフィルム付き偏光板29の移動方向の下流側に配置されている。   The defect inspection apparatus 20 preferably includes a first inspection unit 21 and a second inspection unit 22. The arrangement (inspection order) of the first inspection unit 21 and the second inspection unit 22 is arbitrary, but in the example of FIG. 2, the second inspection unit 22 is on the right side of the first inspection unit 21, that is, a separate. It arrange | positions in the downstream of the moving direction of the polarizing plate 29 with a film.

第1の検査部21は、従来技術の第1の検査部41と同様である。すなわち、セパレートフィルム付き偏光板29に対し、垂直方向、つまり鉛直方向下方に配置された第1の光源23と、それと同じ鉛直方向のセパレートフィルム付き偏光板29の上方に、すなわち、第1の光源23と第1のカメラ24とが偏光板29と正対するように配置された第1の撮像部、つまり第1のカメラ24とからなる。
したがって、第1の光源23と第1のカメラ24とは、第1のカメラ24の受光方向が第1の光源23の方向と一致するように、セパレートフィルム付き偏光板29に対して同じ垂直(鉛直)線上に配置されている。
The first inspection unit 21 is the same as the first inspection unit 41 of the prior art. That is, with respect to the polarizing plate 29 with a separate film, the first light source 23 arranged in the vertical direction, that is, vertically below, and the polarizing plate 29 with a separate film in the same vertical direction, that is, the first light source. 23 and the first camera 24 are composed of a first imaging unit, that is, a first camera 24 arranged so as to face the polarizing plate 29.
Accordingly, the first light source 23 and the first camera 24 have the same vertical (with respect to the polarizing plate 29 with a separate film) so that the light receiving direction of the first camera 24 coincides with the direction of the first light source 23 ( It is arranged on the (vertical) line.

第1の光源23は、たとえば蛍光灯やLEDであり、セパレートフィルム付き偏光板29の幅方向(図で紙面に垂直方向)に全体にいきわたって配置されている。ここで、セパレートフィルム付き偏光板29の幅は、たとえば、0.6m〜2.0mである。図2では、第1の光源23は、第1の蛍光灯23aである場合を示している。第1の蛍光灯23aの下には、その下側半分の面の回りに第1の反射板23bが配置されていて、第1の光源23からの光は上方向に向けられている。第1の反射板23bはなくてもよい。第1の蛍光灯23aの管の直径はたとえば、25mm〜35mmである。セパレートフィルム付き偏光板29と第1の光源23上面との距離は、たとえば、150mm〜250mmであり、より好ましくは170mm〜230mmである。   The first light source 23 is, for example, a fluorescent lamp or an LED, and is disposed throughout the width direction of the polarizing plate 29 with a separate film (perpendicular to the paper surface in the figure). Here, the width of the polarizing plate 29 with a separate film is, for example, 0.6 m to 2.0 m. FIG. 2 shows a case where the first light source 23 is the first fluorescent lamp 23a. Below the first fluorescent lamp 23a, a first reflecting plate 23b is disposed around the lower half surface, and light from the first light source 23 is directed upward. The first reflecting plate 23b may not be provided. The diameter of the tube of the first fluorescent lamp 23a is, for example, 25 mm to 35 mm. The distance between the polarizing plate 29 with a separate film and the upper surface of the first light source 23 is, for example, 150 mm to 250 mm, and more preferably 170 mm to 230 mm.

第1のカメラ24は、たとえば、CCDラインセンサまたは2次元CCDを搭載したカメラからなり、第1の光源23から発せられ、被検査対象のセパレートフィルム付き偏光板29を透過した光を受光する。第1のカメラ24は、下部にレンズを有し、その受光方向は鉛直方向(セパレートフィルム付き偏光板29に垂直方向)直下に向けられている。すなわち、第1の光源23と第1のカメラ24は、セパレートフィルム付き偏光板29に対して同じ垂直(鉛直)線上に配置されており、第1のカメラ24の受光方向もその垂直(鉛直)線上でその下方を向いている。第1のカメラ24も、セパレートフィルム付き偏光板29の幅方向全体をカバーできるよう、幅に応じて必要な数が幅方向に並べられて設けられている。セパレートフィルム付き偏光板29と第1のカメラ24の下端(第1のカメラ24のレンズ)との距離は、たとえば、200mm〜260mmであり、より好ましくは、220mm〜240mmである。   The first camera 24 is composed of, for example, a camera equipped with a CCD line sensor or a two-dimensional CCD, and receives light emitted from the first light source 23 and transmitted through the polarizing film 29 with a separate film to be inspected. The first camera 24 has a lens in the lower part, and its light receiving direction is directed immediately below the vertical direction (perpendicular to the polarizing plate 29 with a separate film). That is, the first light source 23 and the first camera 24 are arranged on the same vertical (vertical) line with respect to the polarizing plate 29 with a separate film, and the light receiving direction of the first camera 24 is also vertical (vertical). It looks down on the line. The first camera 24 is also provided with a necessary number arranged in the width direction so as to cover the entire width direction of the polarizing plate 29 with a separate film. The distance between the polarizing plate 29 with a separate film and the lower end of the first camera 24 (the lens of the first camera 24) is, for example, 200 mm to 260 mm, and more preferably 220 mm to 240 mm.

第2の検査部22は、セパレートフィルム付き偏光板29の下方に配置された第2の光源25と、セパレートフィルム付き偏光板29の上方に配置された第2の撮像部、つまり第2のカメラ26とからなる。第2の光源25、第2のカメラ26の構成、セパレートフィルム付き偏光板29との垂直(鉛直)方向の距離は、第1の検査部と同様である。すなわち、第2の光源25は、たとえば蛍光灯やLEDであり、セパレートフィルム付き偏光板29の幅方向に全体にいきわたって配置されている。図2では、第1の光源23と同様に、第2の光源25は、第2の蛍光灯25aとその下面に配置された第2の反射板25bとからなる例を示しており、第2の光源25からの光は上側に向けられている。第2の反射板25bはなくてもよい。第2の蛍光灯25aの管の直径はたとえば、25mm〜35mmである。セパレートフィルム付き偏光板29と第2の光源25上面との鉛直方向の距離は、たとえば、150mm〜250mmであり、より好ましくは170mm〜230mmである。   The second inspection unit 22 includes a second light source 25 disposed below the polarizing plate 29 with a separate film, and a second imaging unit disposed above the polarizing plate 29 with a separate film, that is, a second camera. 26. The configuration of the second light source 25 and the second camera 26 and the distance in the vertical (vertical) direction from the polarizing plate 29 with a separate film are the same as those of the first inspection unit. That is, the 2nd light source 25 is a fluorescent lamp or LED, for example, and is arrange | positioned over the whole width direction of the polarizing plate 29 with a separate film. In FIG. 2, similarly to the first light source 23, the second light source 25 shows an example including a second fluorescent lamp 25a and a second reflector 25b disposed on the lower surface thereof. The light from the light source 25 is directed upward. The second reflecting plate 25b may not be provided. The diameter of the tube of the second fluorescent lamp 25a is, for example, 25 mm to 35 mm. The distance in the vertical direction between the polarizing plate 29 with a separate film and the upper surface of the second light source 25 is, for example, 150 mm to 250 mm, and more preferably 170 mm to 230 mm.

第2のカメラ26は、たとえば、CCDラインセンサまたは2次元CCDを搭載したカメラからなり、第2の光源25から発せられ、被検査対象のセパレートフィルム付き偏光板29を透過した光を受光する。第2のカメラ26は、下部にレンズを有し、その受光方向は鉛直方向(セパレートフィルム付き偏光板29に垂直方向)直下に向けられている。第2のカメラ26も、セパレートフィルム付き偏光板29の幅方向全体をカバーできるよう、幅に応じて必要な数が幅方向に並べられて設けられている。セパレートフィルム付き偏光板29と第2のカメラ26の下端(第2のカメラ26のレンズ部)との垂直(鉛直)方向の距離は、たとえば、200mm〜260mmであり、より好ましくは、220mm〜240mmである。   The second camera 26 is composed of, for example, a camera equipped with a CCD line sensor or a two-dimensional CCD, and receives light emitted from the second light source 25 and transmitted through the polarizing film 29 with a separate film to be inspected. The second camera 26 has a lens in the lower part, and its light receiving direction is directed immediately below the vertical direction (perpendicular to the polarizing plate 29 with a separate film). The second camera 26 is also provided with a necessary number arranged in the width direction so as to cover the entire width direction of the polarizing plate 29 with a separate film. The distance in the vertical (vertical) direction between the polarizing plate 29 with a separate film and the lower end of the second camera 26 (lens portion of the second camera 26) is, for example, 200 mm to 260 mm, and more preferably 220 mm to 240 mm. It is.

本発明による第2の検査部22の、第1の検査部21と異なる点は、第2のカメラ26による欠陥検査が、カメラの受光方向に対し斜め方向にある光源からの透過光に基づきなされる点である。
すなわち、第2の光源25と第2のカメラ26とが、偏光板29を挟んで正対する位置からずれており、透過光がカメラの受光方向に対し斜め方向からカメラに入射するようになっている。具体的には、第2の光源25は、第2のカメラ26のセパレートフィルム付き偏光板29に対する垂直(鉛直)線から、水平方向に、つまり図2における紙面の左右方向にずれた位置に配置される。図2では、第2の光源25は左方向にずれた位置に配置された場合を示したが、右方向にずれた位置に配置されていてもよい。その左右方向のずれ量d、つまり第2のカメラ26のセパレートフィルム付き偏光板に対する垂直(鉛直)線からの第2の光源の水平方向のずれ量dは、たとえば、10mm〜30mmであり、より好ましくは、15mm〜25mmである。
The second inspection unit 22 according to the present invention is different from the first inspection unit 21 in that defect inspection by the second camera 26 is performed based on transmitted light from a light source that is oblique to the light receiving direction of the camera. It is a point.
That is, the second light source 25 and the second camera 26 are deviated from the position where they face each other with the polarizing plate 29 interposed therebetween, and the transmitted light enters the camera from an oblique direction with respect to the light receiving direction of the camera. Yes. Specifically, the second light source 25 is arranged at a position shifted from the vertical (vertical) line with respect to the polarizing plate 29 with a separate film of the second camera 26 in the horizontal direction, that is, in the left-right direction on the paper surface in FIG. Is done. Although FIG. 2 shows the case where the second light source 25 is arranged at a position shifted in the left direction, the second light source 25 may be arranged at a position shifted in the right direction. The horizontal shift amount d, that is, the horizontal shift amount d of the second light source from the vertical (vertical) line with respect to the polarizing plate with the separate film of the second camera 26 is, for example, 10 mm to 30 mm. Preferably, it is 15 mm-25 mm.

ここで、第2のカメラ26の受光方向は、偏光板の移動方向と直交する方向、すなわち、垂直(鉛直)方向の直下に向けられているので、第2の検査部22では、第2のカメラ26は、第2の光源25からの光を斜め方向から受光することになる。
さらに、第2の検査部22は、従来技術では、検査用の偏光フィルタが被検査対象の偏光板と第2の光源との間に配置されていたが、本発明による偏光板の欠陥検査装置20の第2の検査部22には、偏光フィルタは配置されていない。
Here, since the light receiving direction of the second camera 26 is directed to a direction orthogonal to the moving direction of the polarizing plate, that is, directly below the vertical (vertical) direction, the second inspection unit 22 The camera 26 receives light from the second light source 25 from an oblique direction.
Further, in the second inspection unit 22, in the related art, the polarizing filter for inspection is disposed between the polarizing plate to be inspected and the second light source. A polarizing filter is not disposed in the 20 second inspection unit 22.

本発明の第2の検査部22は、このように検査用の偏光フィルタを配置しないので、第1の検査部21と同様セパレートフィルム15に起因する欠陥が第2のカメラ26で捕えらえることはない。あるいは、捕えたとしても、他の欠陥と適切な閾値によって区別できる程度に抑えることができる。これは、先に述べたように、セパレートフィルム15に起因する欠陥は、セパレートフィルム中の異物あるいは付着物によるものが多く、これらはセパレートフィルム15と一体化していて無色で屈折率に大きな変化はないため、検査用の偏光フィルタを配置しない本発明の第2の検査部22においては、検出されないためである。   Since the second inspection unit 22 of the present invention does not arrange the polarizing filter for inspection in this way, defects caused by the separate film 15 can be captured by the second camera 26 as in the first inspection unit 21. There is no. Or even if it catches, it can restrain to the grade which can be distinguished from another defect with a suitable threshold value. This is because, as described above, defects caused by the separate film 15 are mostly due to foreign matters or adhering substances in the separate film, and these are integrated with the separate film 15 and are colorless and have a large change in refractive index. This is because the second inspection unit 22 of the present invention in which no polarizing filter for inspection is disposed is not detected.

なおかつ、第2の光源25から発せられ、被検査対象のセパレートフィルム付き偏光板29を透過した光を斜め方向から受光することによって、セパレートフィルム15以外に起因する欠陥については、従来の偏光フィルタを配置して検出される欠陥と同等のレベルで、検出することができる。これは、本発明による第2の検査部22は検査用の偏光フィルタを配置しないため、基本的には、欠陥の検出としては、第1の検査部21と同様に暗点を検出することによるが、欠陥の種類によっては偏光フィルタを配置した場合と同様の輝点としても検出されるからである。その理由を以下に述べる。   In addition, by receiving light emitted from the second light source 25 and transmitted through the polarizing film 29 with a separation film to be inspected from an oblique direction, a conventional polarizing filter is used for defects caused by other than the separation film 15. It can be detected at the same level as the defect detected by placement. This is because the second inspection unit 22 according to the present invention does not include a polarizing filter for inspection, and therefore, basically, the defect is detected by detecting a dark spot in the same manner as the first inspection unit 21. However, depending on the type of defect, a bright spot similar to the case where the polarizing filter is disposed is detected. The reason is described below.

本発明による第2の検査部22は基本的には暗点を検出することによる。通常の従来の暗点による欠陥検出では、欠陥が小さいと回りの光によって埋もれてしまい暗点とならず検出できない。ところが、本発明のように、第2のカメラ26に光を斜め方向から受光させることによって、第2のカメラ26が受光する全体の光量を低く抑えることができ、小さな欠陥も暗点として感度よく検出することができる。   The second inspection unit 22 according to the present invention is basically based on detecting a dark spot. In the conventional defect detection using a conventional dark spot, if the defect is small, it is buried by surrounding light and cannot be detected as a dark spot. However, by making the second camera 26 receive light from an oblique direction as in the present invention, the total amount of light received by the second camera 26 can be kept low, and even a small defect has high sensitivity as a dark spot. Can be detected.

さらに、本発明による第2の検査部22は、欠陥に対して斜め方向から光をあてることにより、欠陥のエッジにより光をあてることができ、欠陥のエッジからの反射光を、その周りの全体の光量が低いことから、輝点として捉えることができる。したがって、セパレートフィルム15以外に起因する、無色透明であってもフィルムと一体化していない、エッジを有する異物等による欠陥をも感度よく検出することができる。
このように、本発明の第2の検査部22は、欠陥の種類によって、暗点、輝点として捉えることができるので、多くの欠陥を感度よく検出することができ、さらに、暗点、輝点の別によって、欠陥の種類も判別することができるという効果もある。なおかつ、セパレートフィルム15に起因する欠陥は検出されない。
Furthermore, the second inspection unit 22 according to the present invention can apply light to the defect from an oblique direction so as to apply light to the edge of the defect. Since the amount of light is low, it can be regarded as a bright spot. Therefore, it is possible to detect with high sensitivity even defects caused by other than the separate film 15 due to foreign matters having an edge that are colorless and transparent but are not integrated with the film.
As described above, the second inspection unit 22 according to the present invention can be regarded as a dark spot and a bright spot depending on the type of the defect, so that many defects can be detected with high sensitivity. There is also an effect that it is possible to determine the type of defect depending on the point. In addition, no defect due to the separate film 15 is detected.

本発明の偏光板の欠陥検査方法は、この第2の検査部22のみを用いた欠陥検査方法としてもよい。また、本発明の欠陥検査装置20は、この本発明の第2の検査部22のみで構成されても効果を発揮することができる。つまり、本発明の偏光板の欠陥検査装置は、この第2の検査部22のみで構成されるとしてもよい。   The defect inspection method for the polarizing plate of the present invention may be a defect inspection method using only the second inspection unit 22. Moreover, even if the defect inspection apparatus 20 of this invention is comprised only with this 2nd test | inspection part 22 of this invention, it can exhibit an effect. That is, the polarizing plate defect inspection apparatus of the present invention may be configured by only the second inspection unit 22.

しかしながら、上述した実施の形態のように、第1の検査部21と併用する方式がさらに好ましい。たとえば、比較的大きな有色のパーティクルからなる欠陥の場合、第2の検査部22では、欠陥のエッジからの光による輝点によって、欠陥の暗点の大きさが半減してしまう場合がある。このような有色のパーティクルの場合は、第1の検査部21のほうが、その大きさをより正確に検出することができる。したがって、第1の検査部と第2の検査部とを併用する偏光板の欠陥検査方法・装置がより望ましい。   However, as in the embodiment described above, a method that is used in combination with the first inspection unit 21 is more preferable. For example, in the case of a defect made up of relatively large colored particles, in the second inspection unit 22, the size of the dark spot of the defect may be halved due to a bright spot from light from the edge of the defect. In the case of such colored particles, the first inspection unit 21 can detect the size more accurately. Therefore, a polarizing plate defect inspection method / apparatus that uses both the first inspection section and the second inspection section is more desirable.

第1のカメラ24、第2のカメラ26で捕えた映像は、それぞれ、図示しないコンピュータシステムによって画像処理し、適切な閾値をもって欠陥と判断され、またその位置(座標)が記憶される。そして、これによる第1の検査部21と第2の検査部22の検査結果をコンピュータシステムにて照合したうえで、コンピュータシステムにプログラムされた適切な判断基準によって最終的に欠陥か否かが判断され、かつ、欠陥と判断された場合はその位置(座標)が記憶される。通常、第1の検査部21と第2の検査部22のいずれか一方で欠陥と判断された箇所は、最終的な欠陥と判断されるが、第1の検査部21と第2の検査部22の欠陥を総合したうえでの閾値を定め、適切な閾値をもって最終的に欠陥と判断するよう、プログラムしてもよい。   Images captured by the first camera 24 and the second camera 26 are each subjected to image processing by a computer system (not shown), determined to be defective with an appropriate threshold, and their positions (coordinates) are stored. Then, after checking the inspection results of the first inspection unit 21 and the second inspection unit 22 by the computer system, it is finally determined whether or not the defect is based on an appropriate determination criterion programmed in the computer system. If it is determined as a defect, the position (coordinates) is stored. Normally, a location determined as a defect in either the first inspection unit 21 or the second inspection unit 22 is determined as a final defect, but the first inspection unit 21 and the second inspection unit It is also possible to program so as to determine a threshold value based on the total of 22 defects and finally determine a defect with an appropriate threshold value.

そして、最終的に欠陥と判断された箇所は、コンピュータシステムからの指令により、図示しないマーキングシステムによって、セパレートフィルム付き偏光板29の該当欠陥箇所に直接マーキングされ、その箇所は不良とされる。マーキング手段は、既知の手段が用いられ、たとえばインクジェット方式による印字が例示される。セパレートフィルム付き偏光板29から偏光板製品を切り出す際には、マーキングされた不良箇所はさけて切り出され、偏光板製品が得られる。   And the location finally judged as a defect is directly marked by the marking system which is not shown in figure according to the command from a computer system to the applicable defect location of the polarizing plate 29 with a separate film, and the location is made into a defect. A known means is used as the marking means, and for example, printing by an ink jet method is exemplified. When a polarizing plate product is cut out from the polarizing plate 29 with a separate film, the marked defective portion is cut out to obtain a polarizing plate product.

本実施形態では、第2の検査部22は第1の検査部21の右側、つまりセパレートフィルム付き偏光板29の移動方向の下流側に配置したが、第1の検査部21と第2の検査部22の配置を左右逆に、つまり第2の検査部22をセパレートフィルム付き偏光板29の移動方向の上流側に配置してもよい。
また、被検査対象のセパレートフィルム付き偏光板29のセパレートフィルム15側を下側、つまり第1、第2の光源23、25の側が好ましいとしたが、逆にセパレートフィルム15側を上側、つまり第1、第2のカメラ24、26の側とすることも可能である。
In the present embodiment, the second inspection unit 22 is arranged on the right side of the first inspection unit 21, that is, on the downstream side in the moving direction of the polarizing plate 29 with a separate film, but the first inspection unit 21 and the second inspection unit 21 are arranged. The arrangement of the part 22 may be reversed in the left-right direction, that is, the second inspection part 22 may be arranged on the upstream side in the moving direction of the polarizing film 29 with a separate film.
In addition, although the separate film 15 side of the polarizing film 29 with the separate film to be inspected is preferably the lower side, that is, the first and second light sources 23 and 25 side, the separate film 15 side is the upper side, that is, the first side. It can also be on the side of the first and second cameras 24, 26.

また、本実施形態では、セパレートフィルム付き偏光板29の移動方向を水平方向としたが、セパレートフィルム付き偏光板29の移動方向を鉛直方向や斜め方向にして、それに応じて、第1の検査部、第2の検査部の各構成要件の配置を本発明の趣旨にしたがって変更させてもよい。   Moreover, in this embodiment, although the moving direction of the polarizing plate 29 with a separate film was made into the horizontal direction, the moving direction of the polarizing plate 29 with a separate film was made into the vertical direction or a diagonal direction, and according to it, the 1st test | inspection part The arrangement of the constituent elements of the second inspection unit may be changed according to the spirit of the present invention.

また、セパレートフィルム付き偏光板29は、帯状フィルムの状態としたが、切り出された後のシート状のセパレートフィルム付き偏光板や、貼合される液晶パネルの形状に応じて切り出された偏光板製品についても、光源からの光を透過させるようセパレートフィルム付き偏光板の両端のみを支え検査部中を移動できる適切な載置手段を設ければ、適用できる。これは、たとえば偏光板製品の出荷前、または液晶パネルへの貼合前の再検査などに用いることができる。   Moreover, although the polarizing plate 29 with a separate film was made into the state of a strip | belt-shaped film, the polarizing plate product cut out according to the shape of the sheet-like polarizing film with a separated film after being cut out, and the liquid crystal panel to be bonded This can also be applied by providing an appropriate mounting means that supports only both ends of the polarizing plate with a separate film so as to transmit light from the light source and can move in the inspection section. This can be used, for example, for re-inspection before shipment of polarizing plate products or before bonding to a liquid crystal panel.

次に、本発明の第2の実施の形態を説明する。図3は本発明の第2の実施の形態による偏光板の欠陥検査方法・装置を示す図である。偏光板の欠陥検査装置30は、第2の検査部32の、第2の光源35と第2の撮像部である第2のカメラ36とが、水平方向に移動しているセパレートフィルム付き偏光板39に対して、同じ垂直(鉛直)線上に、すなわち、第2のカメラ36と第2の光源35とが偏光板39をはさんで正対するように配置されている。   Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 3 shows a polarizing plate defect inspection method / apparatus according to a second embodiment of the present invention. The defect inspection apparatus 30 for the polarizing plate includes a polarizing plate with a separate film in which the second light source 35 and the second camera 36 as the second imaging unit of the second inspection unit 32 are moving in the horizontal direction. 39, the second camera 36 and the second light source 35 are arranged on the same vertical (vertical) line so as to face each other across the polarizing plate 39.

ただし、第2のカメラ36の受光方向が、垂直(鉛直)方向の真下ではなく斜め方向を向いている。その傾斜方向は、その傾いた角度θが、垂直(鉛直)方向の真下方向から、図で紙面の右または左の方向に、2°〜10°傾いた方向が好ましい傾斜方向である。   However, the light receiving direction of the second camera 36 is directed obliquely, not directly below the vertical (vertical) direction. The tilt direction is preferably a tilt direction in which the tilt angle θ is tilted by 2 ° to 10 ° from the direction directly below the vertical (vertical) direction to the right or left side of the drawing.

第2の光源35は、たとえば第2の蛍光灯35aとその下側半分の面の回りに配置された第2の反射板35bからなる。それ以外の構成、位置関係は、第1の実施形態と同じである。また、第1の検査部31の、第1の蛍光灯33aとその下側半分の面の回りに配置された第2の反射板33bからなる第1の光源33、第1のカメラ34も第1の実施形態と同じである。このように構成することによっても、第2のカメラ36は、第2の光源35から発せられ被検査対象のセパレートフィルム付き偏光板39を透過した光を、斜め方向から受光することができ、第1の実施形態と同様の効果を奏することができる。   The second light source 35 includes, for example, a second fluorescent lamp 35a and a second reflecting plate 35b arranged around the lower half surface thereof. Other configurations and positional relationships are the same as those in the first embodiment. In addition, the first light source 33 and the first camera 34 including the first fluorescent lamp 33a and the second reflecting plate 33b arranged around the lower half surface of the first inspection unit 31 are also the first. This is the same as the first embodiment. Also with this configuration, the second camera 36 can receive the light emitted from the second light source 35 and transmitted through the polarizing film 39 with the separate film to be inspected from an oblique direction. The same effects as those of the first embodiment can be obtained.

10 セパレートフィルム付き偏光板
11 偏光素子
12a、12b 接着剤層
13a、13b 保護膜
14 粘着剤層
15 セパレートフィルム
16 第2の粘着財層
17 剥離フィルム
19 偏光板本体
20、30、40 偏光板の欠陥検査装置
21、31、41 第1の検査部
22、32、42 第2の検査部
23、33、43 第1の光源
23a、33a 第1の蛍光灯
23b、33b 第1の反射板
24、34、44 第1のカメラ
25、35、45 第2の光源
25a、35a 第2の蛍光灯
25b、35b 第2の反射板
26、36、46 第2のカメラ
29、39 セパレートフィルム付き偏光板
47 偏光フィルタ
49 偏光板
X カメラの受光方向
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Polarizing plate with separate film 11 Polarizing elements 12a and 12b Adhesive layers 13a and 13b Protective film 14 Adhesive layer 15 Separate film 16 Second adhesive layer 17 Peeling film 19 Polarizing plate body 20, 30, and 40 Defects of polarizing plate Inspection devices 21, 31, 41 First inspection units 22, 32, 42 Second inspection units 23, 33, 43 First light sources 23a, 33a First fluorescent lamps 23b, 33b First reflectors 24, 34 , 44 First camera 25, 35, 45 Second light source 25a, 35a Second fluorescent lamp 25b, 35b Second reflector 26, 36, 46 Second camera 29, 39 Polarizing plate 47 with separate film Polarized light Filter 49 Polarizing plate X Camera light reception direction

Claims (7)

偏光板の一方の側に配置された光源と他方の側に配置されたカメラとを用い、偏光板の透過光を利用するセパレートフィルム付き偏光板の欠陥検査方法において、カメラの受光方向に対し斜め方向にある光源からの透過光に基づき欠陥検査することを特徴とする偏光板の欠陥検査方法。   In a defect inspection method for a polarizing plate with a separate film using a light source disposed on one side of the polarizing plate and a camera disposed on the other side and using the transmitted light of the polarizing plate, the method is oblique with respect to the light receiving direction of the camera. A defect inspection method for a polarizing plate, wherein a defect inspection is performed based on transmitted light from a light source in a direction. カメラの受光方向が偏光板と直交し、その直交位置から、偏光板移動方向の上流側又は下流側に10mm〜30mmずれた位置に光源があり、偏光板と光源上面との距離が150〜250mm、偏光板とカメラの下端との距離が200〜260mmであることを特徴とする請求項1に記載の偏光板の欠陥検査方法。   The light receiving direction of the camera is orthogonal to the polarizing plate, and the light source is located 10 mm to 30 mm away from the orthogonal position upstream or downstream of the moving direction of the polarizing plate, and the distance between the polarizing plate and the upper surface of the light source is 150 to 250 mm. The method for inspecting a defect of a polarizing plate according to claim 1, wherein the distance between the polarizing plate and the lower end of the camera is 200 to 260 mm. 光源とカメラとを偏光板を挟んで正対するように配置し、カメラの受光方向を偏光板移動方向に対して上流側又は下流側に2°〜10°傾斜するように設置することを特徴とする請求項1に記載の偏光板の欠陥検査方法。   The light source and the camera are arranged so as to face each other with a polarizing plate interposed therebetween, and the light receiving direction of the camera is installed so as to be inclined 2 ° to 10 ° upstream or downstream with respect to the moving direction of the polarizing plate. The defect inspection method for a polarizing plate according to claim 1. 偏光板を挟んでカメラの受光方向と正対した光源からの透過光に基づき欠陥検査する偏光板の欠陥検査方法と組合わせて用いることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の偏光板の欠陥検査方法。 The polarizing plate is used in combination with a defect inspection method for a polarizing plate for inspecting defects based on light transmitted from a light source facing the light receiving direction of the camera across the polarizing plate. Defect inspection method for polarizing plate. 前記セパレートフィルムが偏光板本体の両方の表面に粘着材層を介して形成されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の偏光板の欠陥検査方法。   The defect inspection method for a polarizing plate according to any one of claims 1 to 4, wherein the separate film is formed on both surfaces of the polarizing plate body via an adhesive layer. 請求項第1,2,4,5のいずれかに記載の偏光板の欠陥検査方法の発明に用いるセパレートフィルム付き偏光板の欠陥検査装置であって、偏光板を挟んで光源とカメラとが配置され、カメラの受光方向が偏光板と直交し、光源の位置がその直交位置から偏光板移動方向の上流側又は下流側に10mm〜30mmずれており、偏光板と光源上面との距離が150〜250mm、偏光板とカメラの下端との距離が200〜260mmであることを特徴とする偏光板の欠陥検査装置。   6. A defect inspection apparatus for a polarizing plate with a separate film for use in the invention for a defect inspection method for a polarizing plate according to any one of claims 1, 2, 4 and 5, wherein a light source and a camera are arranged across the polarizing plate. The light receiving direction of the camera is orthogonal to the polarizing plate, the position of the light source is shifted 10 mm to 30 mm upstream or downstream of the moving direction of the polarizing plate from the orthogonal position, and the distance between the polarizing plate and the upper surface of the light source is 150 to 250 mm, and the distance between the polarizing plate and the lower end of the camera is 200 to 260 mm. 請求項1及び請求項3〜5のいずれかに記載の偏光板の欠陥検査方法の発明に用いるセパレートフィルム付き偏光板の欠陥検査装置であって、光源とカメラとが偏光板を挟んで正対する位置に配置され、カメラの受光方向が、偏光板移動方向に対して上流側又は下流側に2°〜10°傾斜するように設置されていることを特徴とする偏光板の欠陥検査装置。   It is a defect inspection apparatus of the polarizing plate with a separate film used for the defect inspection method invention of the polarizing plate in any one of Claim 1 and Claim 3-5, Comprising: A light source and a camera oppose on both sides of a polarizing plate. A defect inspection apparatus for a polarizing plate, which is disposed at a position and is installed so that a light receiving direction of a camera is inclined 2 ° to 10 ° upstream or downstream with respect to a moving direction of the polarizing plate.
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