KR20200047266A - Method and device for inspecting defect of optical film - Google Patents
Method and device for inspecting defect of optical film Download PDFInfo
- Publication number
- KR20200047266A KR20200047266A KR1020190018162A KR20190018162A KR20200047266A KR 20200047266 A KR20200047266 A KR 20200047266A KR 1020190018162 A KR1020190018162 A KR 1020190018162A KR 20190018162 A KR20190018162 A KR 20190018162A KR 20200047266 A KR20200047266 A KR 20200047266A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- optical film
- film
- inspection
- transparent film
- optical
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
Abstract
Description
본 발명은 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a method and apparatus for inspecting defects in optical films.
최근 스마트폰, 태블릿 PC와 같은 모바일 기기의 발전과 함께 디스플레이용 기재의 박막화 및 슬림화 뿐만 아니라, 접을 수 있는 디스플레이까지 개발하려는 시도가 있다.Recently, with the development of mobile devices such as smartphones and tablet PCs, there have been attempts to develop not only thinning and slimming of display substrates, but also foldable displays.
일반적으로, LCD(liquid crystal display), LED(light emitting diode), OLED(organic light emitting diode) 등의 디스플레이 패널은 디스플레이 패널 자체의 패턴 불량 또는 디스플레이 패널을 구성하고 있는 광학 필름의 내부 또는 표면에 존재하는 파티클(이물질) 등으로 인하여 불량 화소가 발생할 수 있기 때문에, 광학카메라를 이용하여 불량 여부를 검출하는 공정을 거치게 된다.In general, display panels such as liquid crystal displays (LCDs), light emitting diodes (LEDs), and organic light emitting diodes (OLEDs) are defective in the pattern of the display panel itself or inside or on the surface of the optical film constituting the display panel. Since defective pixels may be generated due to particles (foreign matter) or the like, a process of detecting a defect using an optical camera is performed.
도 1a를 참고하면, 시트 형태의 검사체(100)는 스테이지(10) 상에 위치될 수 있다. 도 1b와 같이 상기 검사체(100)가 롤 형태로 제공이 가능한 경우 상기 검사체(100)는 권출롤(20)로부터 권출되어 결함 검사가 수행되며, 검사가 완료된 상기 검사체(100)은 권취롤(30)에 의해 권취되는 과정을 거치게 된다. 이때, 검사는 광원(40)에 조사된 광에 의하여, 상기 검사체(100)의 상부에 위치하는 영상 획득부(50)가 상기 검사체(100)의 일면을 표면 이미지를 획득하게 됨으로써 수행되고 있다.Referring to Figure 1a, the sheet-
예컨대, 대한민국 공개특허 제2011-0024608호는 광학 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법에 관한 것으로서, 검사 대상물이 안착되는 지지유닛; 상기 지지유닛 상부에 설치되고, 단파장을 갖는 제1 광을 생성하여 상기 지지유닛에 안착된 검사 대상물을 향해 조사하는 제1 조명 유닛; 및 상기 제1 광이 조사되는 상기 검사 대상물을 촬상하는 촬상 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 검사 장치에 관한 내용을 개시하고 있다.For example, Republic of Korea Patent Publication No. 2011-0024608 relates to an optical inspection device and an inspection method using the same, a support unit to which the inspection object is seated; A first illumination unit installed on the support unit and generating a first light having a short wavelength to irradiate toward an inspection object seated on the support unit; And an imaging unit for imaging the inspection object to which the first light is irradiated.
그러나, 종래의 광학 검사 장치를 이용하여 광학 필름, 특히 최근 필름형 터치 센서와 같은 시트형태의 플렉서블(flexible)한 광학 필름을 검사하는 경우, 필름 자체의 컬(curl) 발생으로 인하여 상기 광학 필름을 검사하기 위한 영상획득부의 아웃 포커스(out of focus) 현상이 발생하기 때문에 검사가 용이하지 않은 문제가 있다.However, when inspecting an optical film using a conventional optical inspection device, in particular, a flexible optical film in the form of a sheet such as a film-type touch sensor, the optical film is generated due to curl of the film itself. There is a problem in that inspection is not easy because an out of focus phenomenon occurs in the image acquisition unit for inspection.
그러므로, 컬 발생을 억제, 요컨대 평탄도를 확보하여 결함 검사가 용이한 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치의 개발이 요구되고 있는 실정이다.Therefore, there is a need to develop a defect inspection method and apparatus for an optical film that suppresses curl generation, that is, secures flatness and facilitates defect inspection.
본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로서, 광학 필름의 결함 검사 과정 중 평탄도의 확보가 가능하여, 필름형 터치 센서와 같은 플렉서블한 광학 필름의 검사가 가능한 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention is to solve the above problems, it is possible to secure the flatness during the defect inspection process of the optical film, a defect inspection method and apparatus for an optical film capable of inspecting a flexible optical film such as a film type touch sensor It aims to provide.
본 발명은 (a) 광학 필름을 스테이지에 위치시키는 단계; (b) 권출롤로부터 투명 필름을 권출하여 상기 광학 필름 상에 위치시키는 단계; (c) 상기 투명 필름 상에 구비된 제1 및 제2 가이드롤을, 상기 투명 필름의 하부가 상기 광학 필름의 상부에 접할때까지 하강시키는 단계; (d) 상기 광학 필름의 일면에 광을 조사하여 상기 광학 필름 상부의 표면 이미지를 획득하는 단계; (e) 상기 표면 이미지로부터 결함을 검출하는 단계; (f) 상기 제1 및 제2 가이드롤을 상승시키는 단계; 및 (g) 검출된 상기 결함을 제1열 마킹기구 또는 제2열 마킹기구로 마킹하는 단계;를 포함하는 광학 필름의 결함 검사 방법을 제공하고자 한다.The present invention comprises the steps of (a) placing the optical film on the stage; (b) unwinding the transparent film from the unwinding roll and placing it on the optical film; (c) lowering the first and second guide rolls provided on the transparent film until the lower portion of the transparent film contacts the upper portion of the optical film; (d) irradiating light to one surface of the optical film to obtain a surface image on the top of the optical film; (e) detecting a defect from the surface image; (f) raising the first and second guide rolls; And (g) marking the detected defects with a first-row marking mechanism or a second-row marking mechanism.
또한, 본 발명은 광학 필름의 일면을 촬영하여 표면 이미지를 획득하는 영상획득부; 상기 광학 필름의 일면에 광을 조사하는 광원; 투명 필름을 권출하는 권출롤 및 상기 투명 필름을 권취하는 권취롤; 상기 권출롤과 권취롤 사이에 구비되어, 권출된 상기 투명 필름을 상승 및 하강시키는 제1 및 제2 가이드롤; 상기 광학 필름이 위치되는 스테이지; 및 1 이상의 제1 마킹기를 포함하는 제1열 마킹기구 및 1 이상의 제2 마킹기를 포함하는 제2열 마킹기구;를 포함하고, 상기 제1열 마킹기구와 상기 제2열 마킹기구는 상기 광학 필름의 이동 방향에 대하여 병렬 설치되되, 상기 제1 마킹기와 상기 제2 마킹기는 분사구가 교대로 위치하도록 배치되는 광학 필름의 결함 검사 장치를 제공하고자 한다.In addition, the present invention is an image acquisition unit for acquiring a surface image by photographing one surface of the optical film; A light source that irradiates light on one surface of the optical film; A winding roll for unwinding the transparent film and a winding roll for winding the transparent film; First and second guide rolls provided between the unwinding roll and the take-up roll to raise and lower the unwound transparent film; A stage on which the optical film is located; And a first row marking mechanism including at least one first marking machine and a second row marking mechanism including at least one second marking machine, wherein the first row marking mechanism and the second row marking mechanism are the optical film. It is installed in parallel with respect to the moving direction of the, the first marker and the second marker is to provide a defect inspection device for the optical film is disposed so that the injection hole is alternately positioned.
본 발명에 따른 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치는 검사 과정 중 발생할 수 있는 컬을 억제하고, 평탄도를 확보하여 플렉서블한 광학 필름의 검사가 용이한 이점이 있다.The defect inspection method and apparatus of the optical film according to the present invention has an advantage of suppressing curls that may occur during the inspection process and securing flatness, thereby making it possible to inspect the flexible optical film.
도 1a 및 1b는 종래의 광학 필름의 결함 검사 장치를 예시한 도이다.
도 2는 본 발명에 따른 광학 필름의 결함 검사 장치를 예시한 도이다.
도 3은 본 발명에 따른 제1열 마킹기구 및 제2열 마킹기구를 예시한 도이다.
도 4는 본 발명에 따른 광학 필름의 결함 검사 장치를 예시한 도이다.
도 5는 본 발명에 따른 검사체의 구조를 예시한 도이다.
도 6 내지 10은 실시예 및 비교예에 따른 광학 필름의 결함 검사 이미지를 나타낸 도이다.
도 11 및 12는 본 발명의 실시예, 비교예에 따른 이물 검출 크기 비교 및 위상차 결함 평가 결과를 나타낸 도이다.1A and 1B are diagrams illustrating a defect inspection apparatus of a conventional optical film.
2 is a view illustrating a defect inspection apparatus for an optical film according to the present invention.
3 is a view illustrating a first row marking mechanism and a second row marking mechanism according to the present invention.
4 is a diagram illustrating a defect inspection apparatus for an optical film according to the present invention.
5 is a view illustrating the structure of a test body according to the present invention.
6 to 10 are views showing defect inspection images of optical films according to Examples and Comparative Examples.
11 and 12 are diagrams showing a result of comparing the size of a foreign object and evaluating a phase difference defect according to an embodiment of the present invention and a comparative example.
본 발명에서 어떤 부재가 다른 부재 "상에" 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 직접 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 개재되는 경우도 포함한다.In the present invention, when a member is said to be positioned “on” another member, this includes not only the case where one member is directly in contact with the other member but also another member interposed between the two members.
본 발명에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.In the present invention, when a part “includes” a certain component, this means that other components may be further included, rather than excluding other components, unless otherwise stated.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치에 대하여 더욱 상세히 설명한다.Hereinafter, a defect inspection method and apparatus for the optical film of the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.
본 발명의 한 양태는, (a) 광학 필름(100)을 스테이지(10)에 위치시키는 단계; (b) 권출롤(20)로부터 투명 필름(200)을 권출하여 상기 광학 필름(100) 상에 위치시키는 단계; (c) 상기 투명 필름(200) 상에 구비된 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을, 상기 투명 필름(200)의 하부가 상기 광학 필름(100)의 상부에 접할때까지 하강시키는 단계; (d) 상기 광학 필름(100)의 일면에 광을 조사하여 상기 광학 필름(100) 상부의 표면 이미지를 획득하는 단계; (e) 상기 표면 이미지로부터 결함을 검출하는 단계; (f) 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을 상승시키는 단계; 및 (g) 검출된 상기 결함을 제1열 마킹기구(300) 또는 제2열 마킹기구(400)로 마킹하는 단계;를 포함하는 광학 필름(100)의 결함 검사 방법에 관한 것이다.An aspect of the invention, (a) placing the
본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (a) 광학 필름(100)을 스테이지(10)에 위치시키는 단계; (b) 권출롤(20)로부터 투명 필름(200)을 권출하여 상기 광학 필름(100) 상에 위치시키는 단계; (c) 상기 투명 필름(200) 상에 구비된 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을, 상기 투명 필름(200)의 하부가 상기 광학 필름(100)의 상부에 접할때까지 하강시키는 단계; (c1) 영상획득부(50)가 상기 광학 필름(100)의 상부에 위치하도록 조정하고, 광원(40)이 상기 광학 필름(100)의 하부에 위치하도록 조정하는 단계; (c2) 상기 광원(40)과 상기 광학 필름(100) 사이 또는 상기 영상획득부(50)와 상기 광학 필름(100) 사이에 검사용 편광 필터(600) 및 검사용 위상차 필터(500)를 위치시키는 단계; (d) 상기 광학 필름(100)의 하부에서 확산판이 구비된 광원을 이용하여 광을 조사하여 상기 광학 필름(100) 상부의 표면 이미지를 획득하거나, 상기 광학 필름(100)의 위상차 결함을 검출하는 단계; (e) 상기 표면 이미지로부터 결함을 검출하는 단계; (f) 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을 상승시키는 단계; 및 (g) 검출된 상기 결함을 제1열 마킹기구(300) 또는 제2열 마킹기구(400)로 마킹하는 단계;를 포함하되, 상기 투명 필름(200)은 상기 광학 필름(100)과 접합되지 않은 일면에 점착제(201)를 이용하여 보호 필름(202)이 접합되며, 상기 검사용 편광 필터(600)와 검사용 위상차 필터(500)는 점착제 또는 접착제를 이용하여 접합되지 않고 적층된 형태일 수 있다.In one embodiment of the present invention, the defect inspection method of the
도 2에 본 발명의 일 실시형태에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 장치를 도시하였다. 도 2를 참고하면, 광원(40) 및 영상획득부(50)를 통하여 검사하고자 하는 광학 필름(100)의 표면 이미지를 얻을 수 있다.2 shows a defect inspection apparatus of the
이와 같이, 광원(40)을 통해 광학 필름(100) 상의 결함을 검출하는 방법은 일반적으로 광원(40)으로부터 방출되는 광의 입사 전후의 매질의 굴절률비(굴절률 차이)를 이용하여 검출하게 되며 이 때 굴절률비는 스넬의 법칙에 의거하여 계산될 수 있다. 상기 광학 필름(100) 상에 스크래치가 발생하여, 상기 광학 필름(100) 상에 투명 필름(200)이 접합되면, 상기 스크래치가 발생한 곳에는 공기층(101)이 형성되고, 이와 같이 공기층(101)이 형성된 부분에서는 광의 굴절률 차이가 크다는 점을 이용하여 스크래치 유무를 판별하게 된다. 하지만 이와 같은 방법으로는 광학 필름(100)상에 존재하는 스크래치뿐만 아니라, 상기 광학 필름(100)상에 접합되는 투명 필름(200) 상에 존재하는 스크래치 역시 굴절률의 차이가 발생하기 때문에, 실질적으로 광학 필름(100) 상에는 스크래치가 없는 경우라 하더라도 투명 필름(200)상에 스크래치가 존재한다면, 그 또한 스크래치가 존재하는 것으로 판별하여 불량으로 검출되므로, 불필요한 불량률이 증가하게 되는 요인이 될 수 있다.As described above, a method of detecting a defect on the
따라서, 본 발명의 광학 필름(100)의 검출 방법에서는 광학 필름(100)이 접합되지 않은 투명필름(200)의 일면 상에 점착제(201)를 이용하여 보호 필름(202)을 더 접합(도 5)할 수 있으며, 이와 같이 본 발명에서 상기 투명 필름(200) 상에 점착제(201)를 도포하는 경우, 상기 투명 필름(200)상에 존재하는 스크래치 부분을 점착제(201)로 채워 공기층(101)의 형성을 방지함으로써, 투명 필름(200) 상에 존재하는 스크래치의 검출이 억제되고, 광학 필름(100) 상에 존재하는 스크래치만을 선별적으로 검출함으로써 불필요한 불량률이 감소되는 효과가 있다.Therefore, in the detection method of the
또한, 도 4를 참고하면, 상기 광원(40)과 광학 필름(100) 사이의 광로 중에 검사용 편광 필터(600) 및 상기 검사용 위상차 필터(500)가 배치되는 경우, 상기 검사용 편광 필터(600)는 상기 광원(40)에 인접 배치될 수 있고, 상기 검사용 위상차 필터(500)는 상기 광학 필름(100)에 인접 배치될 수 있으며, 도시하지는 않았지만, 상기 검사용 편광 필터(600) 및 상기 위상차 필터(500)는 상기 영상획득부(50)와 상기 광학 필름(100) 사이의 광로 중에 배치될 수 도 있는데, 이 때 상기 검사용 편광 필터(600)는 상기 영상 획득부(50)와 인접하여 배치될 수 있고, 상기 검사용 위상차 필터(500)는 상기 광학 필름(100)과 인접하여 배치될 수 있다. 바람직하게는, 결함 검출력을 보다 향상시킬 수 있다는 점에서 상기 검사용 편광 필터(600) 및 위상차 필터(500)는 상기 광원(40)과 상기 광학 필름(100) 사이의 광로 중에 배치되고, 상기 검사용 편광 필터(600)가 상기 광원(40)에 인접하게 배치되며, 상기 검사용 위상차 필터(500)는 상기 광학 필름(100)에 인접하게 배치될 수 있다.Further, referring to FIG. 4, when the
상기 검사용 위상차 필터(500)와 편광 필름(101)은 서로 적층된 형태일 수도 있고 일정 거리를 두고 분리된 형태일 수도 있으나, 상기와 같이 적층된 형태일 경우, 점착제 또는 접착제를 이용하여 접합된 형태는 아닐 수 있다. 이와 같이, 상기 검사용 위상차 필터(500)와 편광 필름(101)을 서로 접합되지 않은 형태로 위치시킬 경우, 같은 사이즈의 이물이라 할지라도 보다 크게 시인됨으로써 보다 작은 크기 이물의 검출이 용이한 이점이 있다. The phase difference filter 500 for inspection and the polarizing
본 발명에서 "광학 필름(100)"이란, 광학 특성을 갖는 필름을 일컬을 수 있으며, 예컨대 필름형 터치센서, 패턴이 구비된 필름, 편광자, 투명 보호 필름, 상기 편광자의 적어도 일면에 보호 필름이 부착된 편광판, 위상차층 등을 들 수 있으며, 구체적으로는 편광자 및 위상차층을 포함하는 것일 수 있다. 이와 같은 "광학 필름(100)"은 시트 형태의 플렉서블(flexible) 광학 필름(100)일 수 있다.In the present invention, "
더욱 구체적으로 상기 “광학 필름(100)”은 금속 패턴을 구비하고 있는 플렉서블 광학 필름(100)일 수 있다.More specifically, the "
상기 편광자는 자연광을 직선 편광으로 변화시키기 위한 소자로서 편광자 형성용 필름을 팽윤, 염색, 가교, 연신, 수세, 건조하는 등의 단계를 포함하는 공정에 따라 제조된 당 분야에서 통상적으로 사용되는 편광자일 수 있다. 상기 편광자 형성용 필름은 이색성 물질, 즉 요오드에 의해 염색 가능한 필름이라면 그 종류가 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 폴리비닐알코올 필름, 탈수 처리된 폴리비닐알코올 필름, 탈염산 처리된 폴리비닐알코올 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, 에틸렌-아세트산 비닐 공중합체 필름, 에틸렌-비닐알코올 공중합체 필름, 셀룰로오스 필름, 이들의 부분적으로 검화된 필름 등을 들 수 있다. The polarizer is a device for converting natural light into linearly polarized light, which is a polarizer commonly used in the field manufactured according to a process including steps of swelling, dyeing, crosslinking, stretching, washing, drying, and the like, for forming a polarizer. You can. The film for forming the polarizer is not particularly limited as long as it is a dichroic material, that is, a film that can be dyed with iodine, for example, a polyvinyl alcohol film, a dehydrated polyvinyl alcohol film, and a hydrochloric acid treated polyvinyl alcohol film. , Polyethylene terephthalate films, ethylene-vinyl acetate copolymer films, ethylene-vinyl alcohol copolymer films, cellulose films, partially gummed films, and the like.
상기 위상차층은 당 업계에서 사용되는 위상차층이 필요에 따라 다양하게 적용될 수 있는 것으로 본 발명에서 그 종류를 특별히 한정하는 것은 아니나 예를 들면, λ/2 위상차층이나 λ/4 위상차층 등을 들 수 있으며, 이들은 각각 네마틱 액정 화합물 또는 디스코틱 액정 화합물의 경화물을 포함하는 것일 수 있다.The retardation layer is a retardation layer used in the art can be applied in various ways as required. The type of the retardation layer is not particularly limited in the present invention. For example, a λ / 2 retardation layer, a λ / 4 retardation layer, etc. Each of these may include a nematic liquid crystal compound or a cured product of a discotic liquid crystal compound.
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은, (a) 광학 필름(100)을 스테이지(10)에 위치시키는 단계;를 포함한다.The defect inspection method of the
상기 스테이지(10)는 상기 광학 필름(100)을 지지하며, 투명하거나 불투명한 재질일 수 있다. 구체적으로 상기 스테이지(10)는 상기 광학 필름(100)의 결함 검사 방식, 예컨대 투과 광학계 또는 반사 광학계에 따라 적절한 재질을 사용할 수 있다.The
구체적으로, 상기 광학 필름(100)의 결함 검사 방식이 투과 광학계를 이용하고, 스테이지가 불투명한 재질로 이루어진 경우, 상기 광학 필름(100)의 하부에 구비된 광원(40)에 의하여 광이 투과될 수 있도록 관통부가 설치되어야 한다. 또한, 상기 스테이지(10)는 상기 광학 필름(100)을 흡착할 수 있는 흡착 홀이 구비될 수도 있으나 이에 한정되지는 않는다.Specifically, when the defect inspection method of the
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법 및 장치는 "투과 광학계"를 이용한 것일 수 있다.The defect inspection method and apparatus of the
동축 반사와 같은 반사 광학계를 이용하는 경우 광학 필름(100)의 일면 또는 양면에 위치할 수 있는 보호 필름의 표면이 시인되고, 이에 따라 보호 필름의 표면 결함이 결함으로 인식되어 검사가 용이하지 않은 문제가 발생할 수 있다.In the case of using a reflective optical system such as coaxial reflection, a surface of the protective film that can be located on one or both surfaces of the
그러므로, 투과 광학계, 특히 정투과 방식을 사용하는 것이 바람직하며, 이 경우 상기 광원(40)은 면조명일 수 있다.Therefore, it is preferable to use a transmission optical system, especially a forward transmission method, in which case the
상기 스테이지(10)는 바람직하게는 광투과성이 우수하면서도, 평탄도의 확보가 용이한 점에서 유리로 이루어질 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.The
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (b) 권출롤(20)로부터 투명 필름(200)을 권출하여 상기 광학 필름(100) 상에 위치시키는 단계;를 포함한다.The defect inspection method of the
상기 권출롤(20)은 구동모터에 의해 회전 구동됨으로써 상기 투명 필름(200)을 권출하는 역할을 수행한다. 도시하지는 않았으나, 상기 권출롤(20)을 회전 구동하는 구동모터와 후술할 상기 권취롤(30)을 회전 구동하는 구동모터는 컨트롤러에 의해 상기 투명 필름(200)의 장력을 유지시켜주면서 상호간에 이동되도록 제어될 수 있다.The unwinding
상기 권출롤(20) 및 후술할 상기 권취롤(30)의 하부측에 장력 조절구가 설치될 수도 있으나 이에 한정되지는 않는다.A tension adjusting mechanism may be installed on the lower side of the winding
상기 투명 필름(200)은 상기 광학 필름(100)의 결함 검사 시 상기 광학 필름(100)의 일면에 접하도록 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 상승 및 하강되는 것으로서, 투명도를 가지고 있어 상기 광학 필름(100)의 결함 검사에 영향을 주지 않은 것이라면 한정되지 않으나, 예컨대 광투과성이 좋고, 필름 자체의 결함의 발생이 적은 면에서 PET 필름, 또는 TAC 필름 등이 바람직하다.When the defect of the
상기 권출롤(20)에 의해 권출된 상기 투명 필름은(200)은, 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 하강된다. 구체적으로, 본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (c) 상기 투명 필름(200) 상에 구비된 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을, 상기 투명 필름(200)의 하부가 상기 광학 필름(100)의 상부에 접할때까지 하강시키는 단계를 포함한다.The
또한, 본 발명에서는 도시하지는 않았지만 상기 투명 필름(200) 상에 존재하는 스크래치의 검출을 방지하기 위한 수단으로, 상기 광학 필름(100)과 접합되지 않는 상기 투명 필름(200)의 일면 상에 점착제(201)를 이용하여 보호 필름(202)이 더 접합될 수 있다. 이 때, 상기 점착제(201)는 당 업계에서 사용되는 일반적인 점착제를 제한 없이 사용할 수 있으며, 보호 필름(202)의 구체적인 내용은 전술한 투명 필름(200)의 내용이 동일하게 적용될 수 있다. In addition, although not shown in the present invention, as a means for preventing detection of scratches present on the
상기 점착제(201) 및 보호 필름(202)은 상기 권출롤(20)로 진입하기 전 투명 필름(200)의 일면상에 점착제(201)를 도포하고 상기 점착제(201) 상에 보호 필름(202)이 사전 적층된 것일 수 있다.The pressure-
상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 수직방향으로 이동 가능하고, 상기 권출된 상기 투명 필름(200)의 상부에 위치하도록 설치된다.The first and second guide rolls 60 and 70 are movable in a vertical direction and are installed to be positioned on the unfolded
상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)이 수직 방향으로 이동하게 됨에 따라, 상기 투명 필름(200) 역시 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 따라 수직 방향으로 이동이 가능하게 된다.As the first and second guide rolls 60 and 70 move in the vertical direction, the
상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 상기 투명 필름(200)의 장력을 유지하는 역할을 수행할 수 있다.The first and second guide rolls 60 and 70 may serve to maintain the tension of the
상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 도 2과 같이, 상기 제1 가이드(60)와 상기 제2 가이드롤(70)의 사이에서 결함 검사가 이루어지도록 위치되는 것이 평탄도 확보 면에서 바람직하다.2, the first and second guide rolls 60 and 70 are positioned so that defect inspection is performed between the
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법 및 장치는, 상기 제1 및 제2 가이드롤에 의하여 상기 투명 필름(200)이 상기 광학 필름(100)과 적절한 장력을 가지고 접할 수 있기 때문에, 상기 광학 필름(100)의 평탄도를 확보할 수 있으며, 결함 검사 과정 중 발생할 수 있는 컬을 억제할 수 있는 이점이 있다.In the defect inspection method and apparatus of the
본 발명에서 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 부여되는 장력을 한정하지는 않는다. 예컨대, 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 상기 투명 필름(200)이 상기 광학 필름(100)과 접할 때 상기 투명 필름(200)에 부여되는 장력은 50 내지 1000N일 수 있다.In the present invention, the tension imparted by the first and second guide rolls 60 and 70 is not limited. For example, the tension applied to the
본 발명에서 "접한다"는 것은, 상기 투명 필름(200)이 장력에 의하여 상기 광학 필름(100)의 표면에 완전히 밀착된 상태 또는 상기 광학 필름(100)의 검사가 가능한 수준으로 상기 광학 필름(100)의 컬이 상기 투명 필름(200)에 의하여 억제된 상태를 의미할 수 있다.In the present invention, "contacting" means that the
본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 스테이지(10)에 구비된 스테이지 핀(90)을 상기 투명 필름(200)의 하부가 상기 광학 필름(100)의 상부에 접하도록, 하강시키는 단계;를 더 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the step of lowering the
상기 스테이지 핀(90)은, 상기 광학 필름(100)이 움직이지 않도록 상기 광학 필름(100)을 받치고 고정시키는 역할을 수행할 수 있으므로, 상기 스테이지(10)는 상기 스테이지 핀(90)을 도 2과 같이 상기 광학 필름(100)의 주변부에 2 이상 구비되도록 포함하는 것이 바람직하다.The
본 발명에 따른 상기 스테이지 핀(90)은 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)과 같이 수직 방향으로 이동할 수 있다.The
도 2를 참고하면, 상기 스테이지 핀(90)은 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)이 상승된 상태일 때는 상기 광학 필름(100)이 움직이지 않도록 일정 높이를 가진 상태로 구비되어 있다가, 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)이 하강하는 경우 상기 투명 필름(200)에 걸리지 않도록 상기 스테이지 핀(90)도 하강할 수 있다.Referring to FIG. 2, the
본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 권출롤(20)로부터 권출되는 상기 투명 필름(200)을 이오나이저(80)로 이온화 처리하는 단계;를 더 포함할 수 있다.In another embodiment of the present invention, the step of ionizing the
상기 이오나이저(80)은 상기 투명 필름(200)에 이온화 처리를 하여 상기 투명 필름(200)의 정전기를 제거하는 역할을 수행하는 것으로, 도 2를 참고하면, 상기 권출롤(20)과 상기 제1 가이드롤(60)에 배치되어 권출된 상기 투명 필름(200)을 이온화 처리할 수 있다.The
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 영상획득부(50)가 상기 광학 필름(100)의 상부에 위치하도록 조정하고, 광원(40)이 상기 광학 필름(100)의 하부에 위치하도록 조정하는 단계; 및 상기 광원(40)과 광학 필름(100) 사이 또는 상기 영상획득부(50)와 상기 광학 필름(100) 사이에 검사용 편광 필터(600) 및 검사용 위상차 필터(500)를 위치시키는 단계;를 더 포함할 수 있다.The defect inspection method of the
구체적으로, 상기 영상획득부(50)가 상기 광학 필름(100)의 상부에 위치하도록 조정하고, 광원(40)이 상기 광학 필름(100)의 하부에 위치하도록 조정하는 단계; 및 상기 광원(40)과 광학 필름(100) 사이 또는 상기 영상획득부(50)와 상기 광학 필름(100) 사이에 검사용 편광 필터(600) 및 검사용 위상차 필터(500)를 위치시키는 단계;는 상기 (c) 단계 이후에 수행될 수 있다.Specifically, adjusting the
이와 같이, 검사용 편광 필터(600) 및 상기 검사용 위상차 필터(500)를 위치시킴으로써 이물로 인한 결함뿐만 아니라, 광학 필름(100)의 위상차 결함까지도 검출이 가능한 이점이 있다.As described above, by positioning the
상기 검사용 편광 필터(600)는 전술한 바와 같이 광원(40)과 광학 필름(100)사이에 광로 중 또는 영상획득부(50)와 광학 필름(100) 사이에 광로 중에 배치되며, 상기 광원(40)가 광학 필름(100) 사이에 배치되는 경우 광원(40)과 인접하게 배치될 수 있고, 상기 영상획득부(50)와 광학 필름(100) 사이에 배치되는 경우 상기 영상획득부(50)와 인접하게 배치될 수 있다. 상기 검사용 편광 필터(600)의 편광축은 광학 필름(100)내에 포함될 수 있는 편광자의 편광축과 크로스 니콜의 위치 관계가 되도록 배치될 수 있다. 이와 같이, 크로스 니콜로 배치함으로써 만일 결함이 존재하지 않으면 영상획득부(50)에서 전면 흑의 화상이 입려되지만, 결함이 존재하면 흑이 되지 않는다. 단, 광학 필름(100)이 위상차층을 포함하는 경우 광원(40)으로부터의 광이 위상차층을 통과함으로써 광축이 어긋나게 되어 실질적으로 크로스 니콜 상태가 되지 않는데, 본 발명의 광학 필름(100) 결함 검출 방법은 검사용 위상차 필터(500)를 포함함으로써, 이러한 문제를 극복할 수 있다.As described above, the
상기 검사용 위상차 필터(500)는 광학 필름(100) 내에 포함되는 위상차층과 동일한 특성(예를 들어, 같은 재질, 두께, 위상차)을 갖고 있는 것이 바람직하며, 이로써 위상차층의 존재에서 기인되는 위상차를 캔슬(또는 억제)하고, 결함 검출을 안정적으로 실시할 수 있다.The
상기 검사용 편광 필터(600) 및 상기 검사용 위상차 필터(500)는 검사하고자 하는 광학 필름(100)의 종류에 따라 그 배치가 상이할 수 있다. 따라서, 상기 검사용 편광 필터(600)나 상기 검사용 위상차 필터(500)를 수평 또는 수직으로 이동 또는 회전시킬 수 있는 기구가 배치되어 있는 것이 바람직하다. The arrangement of the
본 발명의 일 실시형태에 따르면 상기 영상획득부(40)는 텔레센트릭 렌즈를 포함할 수 있다. 이와 같이, 텔레센트릭 렌즈를 포함함으로써 포커스의 영향을 상대적으로 작게 하여 보다 정밀한 결함 검출이 가능할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 상기 광학 필름의 일면에 광을 조사하여 상기 광학 필름 상부의 표면 이미지를 획득하는 단계;를 포함한다.The defect inspection method of the
상기 광학 필름(100)의 하부에서 확산판이 구비된 광원(40)을 이용하여 광을 조사하여 상기 광학 필름 상부의 표면 이미지를 획득하거나, 상기 광학 필름의 위상차 결함을 검출하는 단계;는 구체적으로 하부에서 확산판이 구비된 광원(40)을 이용하여 광을 조사하여 상기 광학 필름 상부의 표면 이미지를 획득하거나, 상기 광학 필름의 위상차 결함을 검출하는 것일 수 있다.Obtaining a surface image of the top of the optical film by irradiating light using a
상기 광을 조사하는 광원(40)은 본 발명에서 특별히 제한하지는 않는다. 구체적으로, 상기 광원(40)은 상기 광학 필름(100)에 광을 조사하는 것으로서, LED, 금속 할라이드 등, 형광등 및 할로겐 등 등을 들 수 있다. 예를 들면, 광원(40)은 막대형 또는 봉형일 수 있으며, 그 발광 방식으로는 면조명 또는 집광조명일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 바람직하게는 상기 광원(40)은 면조명의 형태일 수 있다.The
상기 광원(40)이 면조명일 경우 집광조명에 비하여 빛의 산란으로 인하여 상기 광학 필름(100)의 결함 검출이 용이하고, 상기 광학 필름(100)과 접하는 상기 투명 필름(200)의 표면 이미지가 결함으로 인식되는 현상을 억제할 수 있으므로 바람직하다.When the
상기 표면 이미지를 획득하는 방법을 본 발명에서 특별히 제한하지는 않는다. 예컨대 상기 표면 이미지는 라인 스캔(line scan) 또는 면 스캔(area scan) 방법을 이용하여 획득할 수 있다.The method for obtaining the surface image is not particularly limited in the present invention. For example, the surface image may be obtained using a line scan or area scan method.
상기 표면 이미지를 획득한 후 상기 표면 이미지로부터 이물, 실오라기, 요철, 눌림, 스크래치, 기포, 크랙, 버(burr), 들뜸과 같은 결함을 검출할 수 있다.After acquiring the surface image, defects such as foreign matter, thread, irregularities, pressing, scratches, bubbles, cracks, burrs, and lifting can be detected from the surface image.
본 발명에서, 상기 투명 필름(200) 상에 점착제(201)를 도포하는 경우 상기 투명 필름(200)에 존재하는 스크래치 상에 존재하는 스크래치를 채워 상기 스크래치의 검출을 억제하는 효과가 있으며, 이로 인해 광학 필름(100) 상에 존재하는 스크래치만을 선별적으로 검출할 수 있어 투명 필름(200) 상의 스크래치 검출로 인해 발생하는 불필요한 불량률을 억제하는 효과가 있다.In the present invention, when applying the adhesive 201 on the
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (f) 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을 상승시키는 단계;를 포함한다.The defect inspection method of the
상기 표면 이미지를 획득한 후, 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을 상승시켜 상기 광학 필름(100)과 접하고 있던 상기 투명 필름(200)을 상승시킨다. After obtaining the surface image, the first and second guide rolls 60 and 70 are raised to raise the
본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 (f) 단계 이후에 상기 투명 필름(200)을 권취롤(30)로 권취하여 회수하는 단계;를 더 포함할 수 있다.In another embodiment of the present invention, after the step (f), the
상기 권취롤(30)로 권취된 상기 투명 필름(200)은 필요에 따라 새로운 투명 필름(200)으로 교체될 수도 있고, 검사가 완료된 상기 광학 필름(100) 외 새로운 광학 필름을 검사할 때 다시 사용할 수도 있다. 필요에 따라서, 상기 투명 필름(200)을 회수하는 사행 수정을 위한 전자장치 등이 추가로 구비될 수도 있으나 이에 한정되지 않는다.The
본 발명의 광학 필름의 결함 검사 방법은 (g) 검출된 상기 결함을 제1열 마킹기구(300) 또는 제2열 마킹기구(400)로 마킹하는 단계;를 포함한다.The defect inspection method of the optical film of the present invention includes (g) marking the detected defects with a first
구체적으로, 도 3을 참고하면 상기 제1열 마킹기구(300)와 상기 제2열 마킹기구(400)는 상기 광학 필름의 이동 방향에 대하여 병렬 설치되되, 상기 제1 마킹기(301)와 상기 제2 마킹기(401)는 분사구가 교대로 위치하도록 배치된다.Specifically, referring to FIG. 3, the first
일반적으로 검출된 결함은, 마킹기를 이용하여 잉크를 분사하여 마킹함으로서 불량 표시를 한다. 이때, 실 불량의 크기 대비 마킹의 사이즈가 통상적으로 10배 내지 100배 가량 크기 때문에 불량 인접위치의 양품 영역이 마킹으로 인하여 불량 처리가 되는 현상이 발생하고 있다.In general, the detected defect is marked as defective by spraying and marking ink using a marking machine. At this time, since the size of the marking compared to the size of the actual defect is usually about 10 to 100 times larger, a phenomenon in which a good product area at a defective adjacent position is processed due to the marking is defective.
예컨대, 분사구의 간격은 통상 10mm로 100㎛ 대의 작은 불량을 마킹하기 위해, 불필요하게 많은 면적을 마킹하게 되어 이에 해당되는 양품 영역이 불량으로 처리되게 된다.For example, in order to mark small defects in the 100 µm range at an interval of 10 mm, the area of the good product corresponding to the defective area is treated as a defect.
또한, 상기 마킹기는 일반적으로 솔레노이드 밸브를 이용한 마킹기를 사용하고 있는데, 메인폴더의 잉크 분사구 간의 간격이 넓어 이로 인하여 양품 영역이 불량 처리가 되는 현상이 발생한다.In addition, the marking machine generally uses a marking machine using a solenoid valve, and the gap between the ink ejection holes of the main folder is wide, thereby causing a defect in the quality area.
그러나, 본 발명에 따른 광학 필름의 결함 검사 방법은 제1열 마킹기구(300) 또는 제2열 마킹기구(400)로 마킹, 구체적으로 분사구가 교대로 위치하도록 배치된 제1열 마킹기구(300)와 제2열 마킹기구(400)를 이용함으로서, 잉크 분사구 간의 간격을 1/2 가량 줄일 수 있어 불량 인접위치의 양품 영역이 마킹되는 현상의 억제가 가능하다. 특히, 본 발명에 따른 광학 필름의 결함 검사 방법은 소형 제품에 적용하기 위한 광학 필름(100)을 검사하는 경우 우수하게 활용할 수 있다.However, the defect inspection method of the optical film according to the present invention is marked with the first
상기 제1 마킹기(301)와 상기 제2 마킹기(401)는 서로 동일한 것이어도 무방하며, 상기 제1열 마킹기구(300)는 상기 제1 마킹기(301)를 1 이상, 상기 제2열 마킹기구(400)는 상기 제2 마킹기(401)를 1 이상 포함한다.The
예컨대, 도 3을 참고하면 상기 제1열 마킹기구(300)는 상기 제1 마킹기(301, 302, 303)를 3개 구비하고, 상기 제2열 마킹기구(400)를 상기 제2 마킹기(401, 402, 403)를 3개 구비할 수 있으며, 이때 3개의 상기 제1 또는 제2 마킹기(301, 401)는 서로 1열로 배열될 수 있으며, 상기 제1 마킹기(301)를 통하여 형성된 상기 제1열 마킹기구(300)와 상기 제2 마킹기(401)를 통하여 형성된 상기 제2열 마킹기구(400)는 서로 병렬적으로 배치된다.For example, referring to FIG. 3, the first
상기 마킹기는 솔레노이드 밸브, 다수의 잉크 분사구를 갖는 메인폴더를 포함할 수 있으나 이에 한정되지는 않으며, 통상적으로 사용되는 솔레노이드 마킹기를 적용할 수 있다.The marking machine may include a solenoid valve, a main folder having a plurality of ink ejection orifices, but is not limited thereto, and a commonly used solenoid marking machine may be applied.
상기 제1열 마킹기구(300)와 상기 제2열 마킹기구(400)는 서로 연계하여 동작할 수 있도록 별도 컨트롤러를 설치하여 상기 광학 필름(100)의 결함 검사 방법의 마킹 신호에 맞춰 불량의 크기, 검사 속도 등과 같은 컨트롤러의 로직에 따라 자동으로 상기 제1열 마킹기구(300)와 상기 제2열 마킹기구(400)가 선택되어 마킹이 가능할 수 있으나 이에 한정되지는 않는다.The first
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 검사가 완료된 상기 광학 필름(100)을 이동하는 단계를 더 포함할 수도 있으나 이에 한정되지는 않는다. 이때, 상기 광학 필름(100)의 이동은 당업계에서 통상적으로 사용되는 방법을 통하여 수행될 수 있으며, 예컨대 컨베이너 벨트, 흡착 방식 등을 이용하여 수행될 수 있으나 이에 한정되지는 않는다.The defect inspection method of the
본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 광학 필름(100)은 플렉서블 광학 필름(100)일 수 있다.In another embodiment of the present invention, the
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 검사시 상기 광학 필름(100)과 상기 투명 필름(200)이 접하도록 하여 상기 광학 필름(100)의 평탄도를 확보할 수 있으며, 검사시 발생하는 컬 현상을 억제할 수 있어, 상기 광학 필름(100)이 플렉서블한 형태를 나타내도 검사가 용이한 이점이 있다. 상기 투명 필름(200)의 일 면 상에 점착제(201)를 도포하는 경우 상기 투명 필름(200) 상에 존재하는 스크래치를 채워 상기 스크래치가 검출되는 것을 억제함으로써 그로 인해 발생하는 불필요한 불량률을 감소시킬 수 있으며, 상기 광학 필름(100) 상에 존재하는 스크래치만을 선별적으로 검출이 용이한 이점이 있다.The defect inspection method of the
본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 광학 필름(100)은 패턴층을 포함할 수 있다. 구체적으로, 상기 광학 필름(100)은 터치 센서일 수 있으며, 본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 미세한 패턴을 검사하기 위한 고해상도 상태의 짧은 초점심도를 가져야 하는 검사 과정에서도, 대상 기재 요컨대 광학 필름(100)의 컬 등의 변형을 물리적으로 억제할 수 있기 때문에, 미세한 패턴층을 포함하는 경우에도 검사가 용이한 이점이 있다.In another embodiment of the present invention, the
또한, 상기 광학 필름(100)이 위상차층을 포함하는 경우에도 보다 정밀한 위상차 결함을 검출할 수 있으며, 작은 사이즈의 이물이라 할지라도 그 시인성이 보다 향상되어 이물의 검출이 보다 용이한 이점이 있다.In addition, even when the
구체적으로, 상기 광학 필름(100)은 금속 패턴층을 포함할 수 있다.Specifically, the
더욱 구체적으로 상기 광학 필름(100)은 금속 패턴층을 포함하고, 보호 필름을 포함하고 있는 것일 수 있다.More specifically, the
본 발명의 다른 양태는, 광학 필름(100)의 일면을 촬영하여 표면 이미지를 획득하는 영상획득부(50); 상기 광학 필름(100)의 일면에 광을 조사하는 광원(40); 투명 필름(200)을 권출하는 권출롤(20) 및 상기 투명 필름을 권취하는 권취롤(30); 상기 권출롤(20)과 권취롤(30) 사이에 구비되어, 권출된 상기 투명 필름(200)을 상승 및 하강시키는 제1 및 제2 가이드롤(60, 70); 상기 광학 필름(100)이 위치되는 스테이지(10); 및 1 이상의 제1 마킹기(301)를 포함하는 제1열 마킹기구(300) 및 1 이상의 제2 마킹기(401)를 포함하는 제2열 마킹기구(400);를 포함하고, 상기 제1열 마킹기구(300)와 상기 제2열 마킹기구(400)는 상기 광학 필름의 이동 방향에 대하여 병렬 설치되되, 상기 제1 마킹기(301)와 상기 제2 마킹기(401)는 분사 구멍이 교대로 위치하도록 배치되는 광학 필름의 결함 검사 장치에 관한 것이다.Another aspect of the present invention, the
본 발명의 다른 실시형태에 있어서, 상기 광학 필름의 결함 검사 장치는 광학 필름(100)의 일면을 촬영하여 표면 이미지를 획득하는 영상획득부(50); 상기 광학 필름(100)의 일면에 광을 조사하는 광원(40); 투명 필름(200)을 권출하는 권출롤(20) 및 상기 투명 필름(200)을 권취하는 권취롤(30); 상기 권출롤(20)과 권취롤(30) 사이에 구비되어, 권출된 상기 투명 필름(200)을 상승 및 하강시키는 제1 및 제2 가이드롤(60, 70); 상기 광학 필름(100)이 위치되는 스테이지(10); 1 이상의 제1 마킹기(301)를 포함하는 제1열 마킹기구(300) 및 1 이상의 제2 마킹기(401)를 포함하는 제2열 마킹기구(400); 및 광학 필름의 위상차 결함이나 이물로 인한 결함을 검출하기 위한 검사용 편광 필터(600) 및 위상차 필름;을 포함하고, 상기 제1열 마킹기구(300)와 상기 제2열 마킹기구(400)는 상기 광학 필름의 이동 방향에 대하여 병렬 설치되되, 상기 제1 마킹기(301)와 상기 제2 마킹기(401)는 분사 구멍이 교대로 위치하도록 배치되며, 상기 투명 필름(200)은 상기 광학 필름(100)과 접합되지 않은 일면에 점착제(201)를 이용하여 보호 필름(202)이 접합되며, 상기 검사용 편광 필터(600)와 검사용 위상차 필터(500)는 점착제 또는 접착제를 이용하여 접합되지 않고 적층된 형태일 수 있다.In another embodiment of the present invention, the defect inspection apparatus of the optical film comprises: an image acquisition unit 50 that acquires a surface image by photographing one surface of the optical film 100; A light source 40 irradiating light to one surface of the optical film 100; A winding roll 20 for unwinding the transparent film 200 and a winding roll 30 for winding the transparent film 200; First and second guide rolls 60 and 70 provided between the unwinding roll 20 and the unwinding roll 30 to raise and lower the unwound transparent film 200; A stage 10 on which the optical film 100 is located; A first row marking mechanism 300 including one or more first marking machines 301 and a second row marking mechanism 400 including one or more second marking machines 401; And a polarization filter 600 for inspection and a retardation film for detecting a retardation defect or a defect due to a foreign material of the optical film, wherein the first row marking mechanism 300 and the second row marking mechanism 400 are Parallel to the direction of movement of the optical film, the first marking machine 301 and the second marking machine 401 are arranged such that the injection holes are alternately positioned, and the transparent film 200 is the optical film 100 ) And the protective film 202 is bonded to one surface that is not bonded with the adhesive 201, and the polarizing filter 600 for inspection and the retardation filter 500 for inspection are laminated without bonding using an adhesive or adhesive. Can be in the form of
상기 영상획득부(50)는 컬러 또는 흑백 화상의 표면 이미지를 획득할 수 있는 것이 바람직하며, CCD 카메라, 그 밖의 2차원 카메라일 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 상기 영상획득부(50)는 본 발명에 따른 상기 광학 필름(100)의 표면 이미지, 적층 구조 내부 이미지 또는 광 투과 이미지를 얻는 역할을 수행한다.The
상기 광학 필름(100)을 비젼 얼라인먼트를 수행하는 경우 상기 얼라인먼트를 위한 비젼 영상획득부(vision camera), 초음파 EPC(Edge Point Controller), 레이저 EPC가 추가로 구비될 수도 있다.When performing the vision alignment of the
상기 광원(40)은 상기 영상획득부(50)와 대향하도록 위치되는 것으로서, 구체적으로 도 2를 참고하면 상기 광원(40)은 상기 스테이지(10)의 하부에 위치하고, 상기 영상획득부(50)는 상기 투명 필름(200)의 상부에 위치한다.The
상기 광원(40)은 전술한 내용을 적용할 수 있다. 구체적으로, 본 발명에 있어서 상기 광원(40)은 면조명일 수 있다.The
상기 권출롤(20)과 상기 귄취롤(30)은 각각 상기 투명 필름(200)을 권출하고 권취하는 역할을 수행하는 것으로, 전술한 내용을 적용할 수 있다.The unwinding
상기 권출롤(20)과 상기 권취롤(30)은 상기 스테이지(10)로부터 일정 간격의 높이를 두고 위치될 수 있다. 구체적으로, 상기 권출롤(20)과 상기 권취롤(30)은 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)이 상승된 상태, 요컨대 상기 투명 필름(200)이 상기 광학 필름(100)과 접하도록 하강된 상태가 아닌 경우, 상기 광학 필름(100)과 상기 투명 필름(200)이 접하지 않도록 수직방향으로 적절한 높이를 가지도록 구비되는 것이 바람직하다.The unwinding
상기 광학 필름(100), 상기 투명 필름(200), 상기 점착제(201) 및 상기 보호 필름(202)은 전술한 내용을 적용할 수 있다. 요컨대, 상기 광학 필름(100)은 플렉서블 광학 필름(100)일 수 있다. 또한, 상기 광학 필름(100)은 패턴층 또는 위상차층을 포함할 수 있다.The
상기 제1 마킹기(301), 제2 마킹기(401), 제1열 마킹기구(300), 제2열 마킹기구(400)에 대한 내용은 전술한 내용을 적용할 수 있다.The contents of the
상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 상기 권출롤(20)과 권취롤(30) 사이에 구비되어, 권출된 상기 투명 필름(200)을 상승 및 하강시키는 역할을 수행한다. The first and second guide rolls 60 and 70 are provided between the unwinding
도 2를 참고하면, 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70) 사이에 상기 스테이지(10)가 위치하도록 구비되는 것이 상기 투명 필름(200)의 장력을 유지하는 측면에 있어 바람직하다.Referring to FIG. 2, it is preferable in terms of maintaining the tension of the
상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 상기 권출된 상기 투명 필름(200)의 상부에 구비되어 있으며, 수직 운동을 통하여 상기 투명 필름(200)을 상기 광학 필름(100)과 접하도록 하강시키고, 상기 광학 필름(100)과 접하던 상기 투명 필름(200)을 접하기 이전 상태로 상승시키는 역할을 수행할 수 있다. 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 관한 내용을 전술한 내용으로 이해될 수 있다.The first and second guide rolls 60 and 70 are provided on the unfolded
상기 스테이지(10)는 검사하고자 하는 상기 광학 필름(100)이 위치되는 곳이다. 상기 스테이지(10)는 예컨대 투명한 재질일 수 있으며, 구체적으로 유리로 이루어져 있을 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. The
본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 스테이지(10)는 상기 광학 필름(100)을 얼라인(align)하고, 상승 및 하강되는 스테이지 핀(90);을 더 포함할 수 있다.In another embodiment of the present invention, the
상기 스테이지 핀(90)은 상기 상기 광학 필름(100) 상에 상기 투명 필름(200)이 접하도록 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 하강될 때 상기 투명 필름(200)에 걸리지 않도록, 하강될 수 있다.The
상기 스테이지 핀(90)은 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)과 동시에 컨트롤 될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.The
상기 스테이지(10) 및 상기 스테이지 핀(90)은 전술한 내용을 적용할 수도 있다.The above-described content may be applied to the
본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 권출롤(20)로부터 권출된 상기 투명 필름(200)을 이온화 처리하는 이오나이저(80);를 더 구비할 수 있다. 상기 이오나이저(80)는 상기 투명 필름(200)의 폭 방향 전역에 걸쳐 이온화한 기체를 분무함으로써, 상기 투명 필름(200)의 표면에 발생한 정전기를 제거할 수 있다. 구체적으로, 상기 광학 필름(100)과 접하는 상기 투명 필름(200)의 일면에 발생한 정전기를 제거하는 역할을 수행할 수 있으며, 이로 인하여 상기 광학 필름(100)의 표면의 손상을 억제할 수 있고, 이물 부착으로 인한 추가 불량을 예방할 수 있는 이점이 있다.In still another embodiment of the present invention, the
또한, 본 발명의 광학 필름(100)의 결함 검출 장치는 상기 광원(40)과 광학 필름(100) 사이의 광로 중에 광원(40)에 인접 배치되는 검사용 위상차 필터(500)와 광학 필름(100)에 인접 배치되는 검사용 편광 필터(600)가 배치될 수 있다.In addition, the defect detection apparatus of the
상기 검사용 위상차 필터(500)와 편광 필름(101)은 서로 적층된 형태일 수도 있고 일정 거리를 두고 분리된 형태일 수도 있으나, 상기와 적층된 형태일 경우, 점착제 또는 접착제를 이용하여 접합된 형태는 아니다. 이와 같이, 검사용 위상차 필터(500)과 편광 필름(101)을 서로 접합되지 않은 형태로 위치시킬 경우, 같은 사이즈의 이물이라 할지라도 보다 크게 시인됨으로써 보다 작은 크기 이물의 검출이 용이한 이점이 있다.The
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법 및 장치는, 상기 광학 필름(100)과 상기 투명 필름(200)이 접한 상태에서 결함 검사를 수행하기 때문에, 검사 과정 중 발생하는 컬을 억제할 수 있고, 상기 광학 필름(100) 자체에 컬이 형성되어 있는 경우, 요컨대 플렉서블한 광학 필름(100)의 검사도 용이한 이점이 있다.Defect inspection method and apparatus of the
또한, 제1열 마킹기구(300)와 제2열 마킹기구(400)를 이용하여 검출된 결함을 마킹함으로서, 양품 영역이 마킹으로 인하여 불량 처리 되는 현상을 억제하여 실수율 향상에 기여할 수 있는 이점이 있다.In addition, by marking the defects detected by using the first
상기 광학 필름(100)과 접합되지 않는 투명 필름(200)의 다른 일 면 상에 점착제(201)를 도포하여 보호 필름(202)을 더 접합시키는 경우, 상기 점착제(201)의 도포로 인해 상기 투명 필름(200) 상에 존재하는 스크래치의 공기층(101)이 채워져 상기 스크래치의 검출이 억제되며, 이와 같이 투명 필름(200) 상의 스크래치의 검출이 억제됨으로써 목적으로 하는 검사체인 광학 필름(100) 상의 스크래치만을 선별적으로 검출하는 것이 용이해져 투명 필름(200) 상의 스크래치 검출로 인해 발생하던 불필요한 불량률이 감소되는 이점이 있다.When the
또한, 광원을 이용하기 때문에 상기 광학 필름(100)이 보호 필름을 포함하고 있는 상태에서도, 보호 필름으로 인하여 발생하는 과검 요인이 시인되지 않고 패턴에 대한 검사가 용이한 이점이 있다.In addition, even when the
그리고, 검사용 편광 필터(600) 및 검사용 위상차 필터(500)를 포함하는 경우 위상차층이 포함된 광학 필름(100)의 이물로 인한 결함이나 위상차 결함을 보다 용이하게 검출 할 수 있고, 상기 검사용 편광 필터(600) 및 검사용 위상차 필터(500)를 점착제 또는 접착제로 접합하지 않은 형태로 적층시킴으로써, 이물의 시인성이 향상되어 보다 작은 사이즈의 이물까지도 정밀하게 검출할 수 있는 이점이 있다.In addition, when the
이하, 본 명세서를 구체적으로 설명하기 위해 실시예를 들어 상세히 설명한다. 그러나, 본 명세서에 따른 실시예들은 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 명세서의 범위가 아래에서 상술하는 실시예들에 한정되는 것으로 해석되지는 않는다. 본 명세서의 실시예들은 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 명세서를 보다 완전하게 설명하기 위해 제공되는 것이다. 또한, 이하에서 함유량을 나타내는 "%" 및 "부"는 특별히 언급하지 않는 한 중량 기준이다.Hereinafter, examples will be described in detail to specifically describe the present specification. However, the embodiments according to the present specification may be modified in various other forms, and the scope of the present specification is not interpreted to be limited to the embodiments described below. The embodiments of the present specification are provided to more fully describe the present specification to those skilled in the art. In addition, "%" and "part" which represent content below are on a weight basis unless otherwise specified.
<< 실시예Example 1-2 및 1-2 and 비교예Comparative example 1-3> 1-3>
광학계와 광원에 따른 광학 필름의 결함 검사에 따른 이미지를 하기 표 1 에 나타내었다.Table 1 shows images of defect inspection of the optical film according to the optical system and the light source.
비교예 1의 경우 보호 필름의 표면이 시인되어 검사가 불가능하였다. 실시예의 경우 보호 필름의 표면의 시인성이 감소되어 광학 필름의 표면 검사가 용이한 것을 확인할 수 있다.In the case of Comparative Example 1, the surface of the protective film was visually inspected and inspection was impossible. In the case of the embodiment, it can be seen that the visibility of the surface of the protective film is reduced, thereby making it easy to inspect the surface of the optical film.
<< 실시예Example 3 및 3 and 비교예Comparative example 4> 4>
제조예Manufacturing example 1: One: 편광자의Polarizer 제조 Produce
평균 중합도가 2,500, 비누화도 99.9몰% 이상인 두께 75㎛의 폴리비닐알콜 필름(VF-PS, KURARAY 사)을 습식으로 6배 1축 연신하고, 긴장 상태를 유지한 채로 60℃의 물(탈이온수)에 1분 동안 침지한 후, 요오드:요오드화칼륨:물의 중량비가 0.013:5:100인 55℃의 수용액에 400초 동안 침지하였다. 그 후, 10℃의 물로 5초 동안 세정한 후 45℃에서 4분간 건조하여 폴리비닐알콜 수지에 요오드가 흡착 배향된 편광자를 제조하였다.A polyvinyl alcohol film (VF-PS, KURARAY Co., Ltd.) having a thickness of 75 µm with an average polymerization degree of 2,500 or more and a saponification degree of 99.9 mol% or more was wet uniaxially stretched 6 times, and water at 60 ° C. (deionized water) while maintaining tension. ), After immersing for 1 minute, immersed in an aqueous solution at 55 ° C for an iodine: potassium iodide: water weight ratio of 0.013: 5: 100 for 400 seconds. Thereafter, after washing for 5 seconds with water at 10 ° C. and drying at 45 ° C. for 4 minutes, a polarizer in which iodine was adsorbed and oriented in a polyvinyl alcohol resin was prepared.
제조예Manufacturing example 2: 편광 필름의 제조 2: Preparation of polarizing film
제조예Manufacturing example 2-1(Sample #1) 2-1 (Sample # 1)
상기 제조예 1에서 제조된 편광자의 일면 상에 두께 5 ㎛의 제1점착제층(아크릴계 점착제, 린텍(주) 제조)을 배치하고, 상기 점착제층 상에 두께 2 ㎛의 λ/2 위상차층(후지필름(주) 제조)을 배치하였으며, 상기 λ/2 위상차층 상에 두께 5 ㎛의 제2점착제층(아크릴계 점착제, 린텍(주) 제조) 를 배치하고 상기 제2점착제층 상에 λ/4 위상차층(후지필름(주) 제조)을 배치하였으며, 상기 λ/4 위상차층 상에 두께 5 ㎛의 제3점착제층(아크릴계 점착제, 린텍(주) 제조)을 배치하고, 상기 제3점착제층 상에 TAC필름을 적층함으로써 편광 필름을 제조하였다.A first adhesive layer (acrylic pressure-sensitive adhesive, manufactured by Lintec Co., Ltd.) having a thickness of 5 μm is disposed on one surface of the polarizer prepared in Preparation Example 1, and a λ / 2 phase difference layer having a thickness of 2 μm (fuji) Film Co., Ltd.) was disposed, and a second adhesive layer (acrylic adhesive, manufactured by Lintec Co., Ltd.) having a thickness of 5 μm was disposed on the λ / 2 phase difference layer, and λ / 4 phase difference on the second adhesive layer. A layer (manufactured by Fuji Film Co., Ltd.) was disposed, and a third adhesive layer (acrylic adhesive, manufactured by Lintec Co., Ltd.) having a thickness of 5 μm was disposed on the λ / 4 phase difference layer, and on the third adhesive layer. A polarizing film was prepared by laminating a TAC film.
제조예Manufacturing example
2-2 및 2-3(Sample #2, Sample #3) 2-2 and 2-3 (
상기 제조예 2-1과 동일한 구성 및 방법으로 편광 필름을 각각 제조하였다.Each of the polarizing films was manufactured in the same configuration and method as in Production Example 2-1.
실험예Experimental example 1: 이물 검출 크기 비교 1: Comparison of foreign object detection size
상기 제조예예서 제조된 각각의 편광 필름을 본 발명의 결함 검출 장치에 도입하여 실험을 진행하였다. 광원과 편광 필름 사이에 검사용 편광 필터 및 검사용 위상차 필터를 위치시켰으며, 상기 검사용 편광 필터는 광원에 인접하는 방향으로 배치하고, 상기 검사용 위상차 필터는 편광 필름에 인접하는 방향으로 상기 두 필터를 적층하였다. 상기 검사용 편광 필터는 편광 필터의 흡수축과 상기 편광 필름 내에 포함되는 편광자의 흡수축이 서로 직교하여 크로스 니콜의 상태가 되도록 배치하였으며, 검사용 위상차 필터의 경우 검사용 편광 필터와 축 각도가 45° 차이가 발생하도록 배치하였다.Each polarizing film prepared in the above manufacturing example was introduced into the defect detection device of the present invention to conduct an experiment. An inspection polarization filter and an inspection retardation filter were positioned between the light source and the polarizing film, and the inspection polarization filter was disposed in a direction adjacent to the light source, and the inspection retardation filter was placed in the direction adjacent to the polarizing film. The filters were stacked. The inspection polarization filter was disposed such that the absorption axis of the polarization filter and the absorption axis of the polarizer included in the polarization film were orthogonal to each other to form a cross-Nicol state. In the case of the inspection retardation filter, the inspection polarization filter and the axial angle were 45 ° Placed to make a difference.
이 때, 동일한 편광 필름을 대상으로 실시예의 경우 상기 두 필터를 점착제나 접착제 없이 단순 적층 시킨 상태로 평가를 진행하였으며, 비교예의 경우 상기 두 필터를 PSA 점착제를 이용하여 접착시킨 상태로 평가를 진행하였다. At this time, in the case of an example targeting the same polarizing film, the evaluation was conducted in a state in which the two filters were simply laminated without an adhesive or an adhesive, and in the case of a comparative example, the evaluation was conducted in a state in which the two filters were bonded using a PSA adhesive. .
Dalsa Line Scan Camera P3-8K Model을 이용하여, 편광 필름의 표면 이미지 영상을 획득하였으며, 검출된 이물의 크기를 측정하여 그 결과를 하기 표 2 및 도 11에 기재하였다.Using the Dalsa Line Scan Camera P3-8K Model, a surface image image of a polarizing film was obtained, and the size of the detected foreign matter was measured and the results are shown in Table 2 and FIG. 11 below.
상기 표 2 및 도 11을 참고하면, 본 발명에서 제시하는 대로 검사용 편광 필터와 검사용 위상차 필터를 점착제 또는 접착제를 이용하여 접합하지 않은 상태로 평가를 진행하는 경우(실시예 3) 동일한 이물의 크기가 보다 크게 검출되어 검출이 용이한 것을 확인할 수 있었다.Referring to Table 2 and FIG. 11, as described in the present invention, when the evaluation is performed without bonding the inspection polarization filter and the inspection phase difference filter using an adhesive or an adhesive (Example 3), the same foreign matter It was confirmed that the detection was easy because the size was larger.
실험예Experimental example 2: 2: 위상차Phase difference 결함 평가 Defect evaluation
상기 실험예 1과 동일한 방법으로 평가를 진행하였으며, 이 때, 위상차 결함은 획득된 이미지의 배경의 평균 밝기값과 검출된 결함의 밝기 값 중 최대치와의 차이를 계산하였으며, 그 결과를 하기 표 3 및 도 12에 기재하였다.The evaluation was performed in the same manner as in Experimental Example 1, and at this time, the phase difference defect was calculated as the difference between the average brightness value of the background of the acquired image and the maximum value of the detected defect brightness values, and the results are shown in Table 3 below. And FIG. 12.
상기 표 3 및 도 12를 참고하면, 본 발명에서 제시하는 대로 검사용 편광 필터와 검사용 위상차 필터를 점착제 또는 접착제를 이용하여 접합하지 않은 상태로 평가를 진행하는 경우(실시예 3) 동일한 검사체를 대상으로 하였을 때, 위상차 결함이 보다 효과적으로 검출되는 것을 확인할 수 있었다.Referring to Table 3 and FIG. 12, as described in the present invention, when the evaluation is performed without bonding the inspection polarization filter and the inspection phase difference filter using an adhesive or an adhesive (Example 3), the same test body When it was targeted, it was confirmed that the phase difference defect was more effectively detected.
10: 스테이지
20: 권출롤
30: 권취롤
40: 광원
50: 영상획득부
60: 제1 가이드롤
70: 제2 가이드롤
80: 이오나이저
90: 스테이지 핀
100: 광학 필름
101: 공기층
200: 투명 필름
201: 점착제
202: 보호 필름
300: 제1열 마킹기구
301: 제1 마킹기
400: 제2열 마킹기구
401: 제2 마킹기
500: 검사용 위상차 필터
600: 검사용 편광 필터10: Stage
20: winding roll
30: Winding roll
40: light source
50: video acquisition department
60: first guide roll
70: second guide roll
80: ionizer
90: stage pin
100: optical film
101: air layer
200: transparent film
201: adhesive
202: protective film
300: first row marking mechanism
301: first marking machine
400: second row marking mechanism
401: second marking machine
500: phase difference filter for inspection
600: inspection polarization filter
Claims (2)
(b) 권출롤로부터 투명 필름을 권출하여 상기 광학 필름 상에 위치시키는 단계;
(c) 상기 투명 필름 상에 구비된 제1 및 제2 가이드롤을, 상기 투명 필름의 하부가 상기 광학 필름의 상부에 접할때까지 하강시키는 단계;
(d) 상기 광학 필름의 일면에 광을 조사하여 상기 광학 필름 상부의 표면 이미지를 획득하는 단계;
(e) 상기 표면 이미지로부터 결함을 검출하는 단계;
(f) 상기 제1 및 제2 가이드롤을 상승시키는 단계; 및
(g) 검출된 상기 결함을 제1열 마킹기구 또는 제2열 마킹기구로 마킹하는 단계;
를 포함하는 광학 필름의 결함 검사 방법.(a) placing the optical film on the stage;
(b) unwinding the transparent film from the unwinding roll and placing it on the optical film;
(c) lowering the first and second guide rolls provided on the transparent film until the lower portion of the transparent film contacts the upper portion of the optical film;
(d) irradiating light to one surface of the optical film to obtain a surface image on the top of the optical film;
(e) detecting a defect from the surface image;
(f) raising the first and second guide rolls; And
(g) marking the detected defects with a first row marking mechanism or a second row marking mechanism;
Defect inspection method of the optical film comprising a.
상기 광학 필름의 일면에 광을 조사하는 광원;
투명 필름을 권출하는 권출롤 및 상기 투명 필름을 권취하는 권취롤;
상기 권출롤과 권취롤 사이에 구비되어, 권출된 상기 투명 필름을 상승 및 하강시키는 제1 및 제2 가이드롤;
상기 광학 필름이 위치되는 스테이지; 및
1 이상의 제1 마킹기를 포함하는 제1열 마킹기구 및 1 이상의 제2 마킹기를 포함하는 제2열 마킹기구;
를 포함하고,
상기 제1열 마킹기구와 상기 제2열 마킹기구는 상기 광학 필름의 이동 방향에 대하여 병렬 설치되되,
상기 제1 마킹기와 상기 제2 마킹기는 분사구가 교대로 위치하도록 배치되는 광학 필름의 결함 검사 장치.An image acquisition unit that acquires a surface image by photographing one surface of the optical film;
A light source that irradiates light on one surface of the optical film;
A winding roll for unwinding the transparent film and a winding roll for winding the transparent film;
First and second guide rolls provided between the unwinding roll and the take-up roll to raise and lower the unwound transparent film;
A stage on which the optical film is located; And
A first row marking mechanism including at least one first marking machine and a second row marking mechanism including at least one second marking machine;
Including,
The first row marking mechanism and the second row marking mechanism are installed in parallel with respect to the moving direction of the optical film,
The first marking machine and the second marking machine are defect inspection devices for optical films, which are arranged such that the injection holes are alternately positioned.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR20180128333 | 2018-10-25 | ||
| KR1020180128333 | 2018-10-25 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20200047266A true KR20200047266A (en) | 2020-05-07 |
Family
ID=70734044
Family Applications (4)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020190001879A KR20200047259A (en) | 2018-10-25 | 2019-01-07 | Method and device for inspecting defect of optical film |
| KR1020190005124A KR20200047260A (en) | 2018-10-25 | 2019-01-15 | Method and device for inspecting defect of optical film |
| KR1020190008409A KR20200047262A (en) | 2018-10-25 | 2019-01-22 | Method and device for inspecting defect of optical film |
| KR1020190018162A KR20200047266A (en) | 2018-10-25 | 2019-02-15 | Method and device for inspecting defect of optical film |
Family Applications Before (3)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020190001879A KR20200047259A (en) | 2018-10-25 | 2019-01-07 | Method and device for inspecting defect of optical film |
| KR1020190005124A KR20200047260A (en) | 2018-10-25 | 2019-01-15 | Method and device for inspecting defect of optical film |
| KR1020190008409A KR20200047262A (en) | 2018-10-25 | 2019-01-22 | Method and device for inspecting defect of optical film |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (4) | KR20200047259A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20220037912A (en) * | 2020-09-18 | 2022-03-25 | 류한용 | COF Disctance Measuring Apparatus |
| KR20220038233A (en) * | 2020-09-18 | 2022-03-28 | 류한용 | COF Disctance Inspection Method Through COF Distance Inspectiong Apparatus |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116465826B (en) * | 2023-03-15 | 2023-10-24 | 东阳市诰源闪光材料有限公司 | Device and method for testing polarization rate of optical film |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20080086928A (en) | 2006-01-11 | 2008-09-26 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | Layered film fabrication method, layered film defect detection method, layered film defect detection device, layered film, and image display device |
| KR20110024608A (en) | 2009-09-02 | 2011-03-09 | 아주하이텍(주) | Optical inspection apparatus and method of inspecting using the same |
| KR20170129077A (en) | 2017-11-06 | 2017-11-24 | 동우 화인켐 주식회사 | Transmissive optical inspection device and method of detecting defect using the same |
-
2019
- 2019-01-07 KR KR1020190001879A patent/KR20200047259A/en unknown
- 2019-01-15 KR KR1020190005124A patent/KR20200047260A/en unknown
- 2019-01-22 KR KR1020190008409A patent/KR20200047262A/en unknown
- 2019-02-15 KR KR1020190018162A patent/KR20200047266A/en unknown
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20080086928A (en) | 2006-01-11 | 2008-09-26 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | Layered film fabrication method, layered film defect detection method, layered film defect detection device, layered film, and image display device |
| KR20110024608A (en) | 2009-09-02 | 2011-03-09 | 아주하이텍(주) | Optical inspection apparatus and method of inspecting using the same |
| KR20170129077A (en) | 2017-11-06 | 2017-11-24 | 동우 화인켐 주식회사 | Transmissive optical inspection device and method of detecting defect using the same |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20220037912A (en) * | 2020-09-18 | 2022-03-25 | 류한용 | COF Disctance Measuring Apparatus |
| KR20220038233A (en) * | 2020-09-18 | 2022-03-28 | 류한용 | COF Disctance Inspection Method Through COF Distance Inspectiong Apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20200047259A (en) | 2020-05-07 |
| KR20200047262A (en) | 2020-05-07 |
| KR20200047260A (en) | 2020-05-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4960026B2 (en) | Film defect inspection apparatus and film manufacturing method | |
| KR101019621B1 (en) | Continuous roll of optical film laminate with a continuous web of cutting lines and manufacturing method and manufacturing apparatus thereof | |
| KR101101470B1 (en) | Process for producing image display device | |
| KR101369534B1 (en) | Test data processing device and test data processing method | |
| WO2016194874A1 (en) | Inspection method for defects in light transmissive film, manufacturing method for linear polarizer film, and manufcturing method for polarizing plate | |
| KR20200047266A (en) | Method and device for inspecting defect of optical film | |
| JP2015138031A (en) | Apparatus and method for inspecting optical film | |
| JP2011226957A (en) | Defect inspection method and defect inspection device of polarizing plate | |
| KR20030093956A (en) | Method for inspecting polarizing film and apparatus for the method | |
| TW201113598A (en) | Method and system for continuously manufacturing liquid-crystal display element | |
| TW201610419A (en) | Laminated polarizing film defect inspection method, production method, and production device | |
| JP4776739B2 (en) | Method for manufacturing image display device using optical film roll original fabric | |
| TW202037905A (en) | Appearance inspection method and appearance inspection apparatus | |
| JP6807637B2 (en) | Polarizer inspection method and polarizing plate manufacturing method | |
| JP6604805B2 (en) | Polarizer inspection method and polarizing plate manufacturing method | |
| KR20180016757A (en) | Method and device for inspecting depect of optical film | |
| JP2017068244A (en) | Method and device for inspecting polarizing plate | |
| TWI816846B (en) | Polarizing plate manufacturing system, marking method, polarizing plate manufacturing method and polarizing plate | |
| TW202033952A (en) | Optical film detecting device and optical film detecting method | |
| JP6898492B2 (en) | Polarizer inspection method and polarizing plate manufacturing method | |
| CN115015280A (en) | Defect inspection method and defect inspection apparatus | |
| KR20220106744A (en) | Inspection method and inspection system for long optical laminates | |
| JP2011149741A (en) | Inspection method of polarization plate and manufacturing method of polarization plate |