KR20200047262A

KR20200047262A - Method and device for inspecting defect of optical film

Info

Publication number: KR20200047262A
Application number: KR1020190008409A
Authority: KR
Inventors: 박진용; 김종우
Original assignee: 동우 화인켐 주식회사
Priority date: 2018-10-25
Filing date: 2019-01-22
Publication date: 2020-05-07
Also published as: KR20200047260A; KR20200047266A; KR20200047259A

Abstract

The present invention relates to a method and an apparatus for inspecting a defect of an optical film, capable of more precisely detecting a phase difference defect. According to the present invention, the method for inspecting a defect of an optical film comprises the steps of: (a) positioning an optical film (100) on a stage (10); (b) unwinding a transparent film (200) from an unwinding roll (20) and positioning the transparent film (200) on the optical film (100); (c) lowering first and second guide rolls (60, 70); (d) adjusting an image acquisition unit (50) to be located on an upper part of the optical film (100) and adjusting a light source (40) to be located on a lower part of the optical film (100); (e) positioning a test polarizing filter (400) and a test phase difference filter (300) between the light source (40) and the optical film (100) or between the image acquisition unit (50) and the optical film (100); (f) detecting a defect of the optical film (100); and (g) raising the first and second guide rolls (60, 70).

Description

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF OPTICAL FILM

본 발명은 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a method and apparatus for inspecting defects in optical films.

최근 스마트폰, 태블릿 PC와 같은 모바일 기기의 발전과 함께 디스플레이용 기재의 박막화 및 슬림화뿐만 아니라, 접을 수 있는 디스플레이까지 개발하려는 시도가 있다.Recently, with the development of mobile devices such as smartphones and tablet PCs, there have been attempts to develop not only thinning and slimming of substrates for displays, but also foldable displays.

일반적으로, LCD(liquid crystal display), LED(light emitting diode), OLED(organic light emitting diode) 등의 디스플레이 패널은 디스플레이 패널 자체의 패턴 불량 또는 디스플레이 패널을 구성하고 있는 광학 필름(예를 들면, 편광판에 점착제층 등을 개재하여 위상차층이 적층된 것)의 내부 또는 표면에 존재하는 파티클(이물질) 등으로 인하여 불량 화소가 발생할 수 있기 때문에, 광학카메라를 이용하여 불량 여부를 검출하는 공정을 거치게 된다. In general, display panels such as liquid crystal displays (LCDs), light emitting diodes (LEDs), and organic light emitting diodes (OLEDs) are defective in patterns of the display panel itself or optical films constituting the display panel (for example, polarizing plates) Since a defective pixel may be generated due to particles (foreign matter) or the like present on the inside or the surface of the retardation layer laminated via an adhesive layer, etc., a process of detecting a defect using an optical camera is performed. .

도 1a를 참고하면, 시트 형태의 검사체(100)는 스테이지(10) 상에 위치될 수 있다. 도 1b와 같이 상기 검사체(100)가 롤 형태로 제공이 가능한 경우 상기 검사체(100)는 권출롤(20)로부터 권출되어 결함 검사가 수행되며, 검사가 완료된 상기 검사체(100)은 권취롤(30)에 의해 권취되는 과정을 거치게 된다. 이때, 검사는 광원(40)에 조사된 광에 의하여, 상기 검사체(100)의 상부에 위치하는 영상 획득부(50)가 상기 검사체(100)의 일면을 표면 이미지를 획득하게 됨으로써 수행되고 있다.Referring to Figure 1a, the sheet-shaped test body 100 may be positioned on the stage 10. When the test body 100 can be provided in a roll form as shown in FIG. 1B, the test body 100 is unwound from the unwinding roll 20 to perform defect inspection, and the inspection body 100 after the inspection is completed is wound up The process of being wound by the roll 30 is performed. At this time, the inspection is performed by the light irradiated to the light source 40, the image acquisition unit 50 positioned on the upper portion of the inspection body 100 acquires a surface image of one surface of the inspection body 100 have.

또한, 편광판의 이상현상에 대한 검사를 실시하는 경우에는, 광원과 영상 획득부 사이의 광로 중에 검사용 편광 필터를 개재시킨 상태에서 화상 데이터를 취득한다. 통상적으로, 이 검사용 편광 필터의 편광축(예를 들어, 편광 흡수축)은, 검사 대상인 편광판의 편광축과 직교하는 상태(크로스 니콜)가 되도록 배치하며, 결함이 존재하는 경우, 그 부분이 흑의 상태가 되지 않는다.In addition, when inspecting for an abnormal phenomenon of the polarizing plate, image data is acquired in a state in which a polarizing filter for inspection is interposed in the optical path between the light source and the image acquisition unit. Normally, the polarization axis (for example, polarization absorption axis) of the polarization filter for inspection is arranged to be in a state orthogonal to the polarization axis (cross Nicole) of the polarizing plate to be inspected, and when a defect is present, the part is black. Is not.

하지만, 편광자 외에 위상차를 갖는 위상차층이 존재하는 광학 필름에서는, 광원으로부터의 광이 위상차층을 통과함으로써 광축이 어긋나서, 실질적으로는 편광자와 검사용 편광 필터가 크로스 니콜 상태가 되지 않는다. 그 결과, 편광판의 결함 검사를 고정밀도로 할 수 없는 문제가 발생하게 된다.However, in an optical film in which a retardation layer having a retardation other than a polarizer is present, the optical axis is shifted by light from the light source passing through the retardation layer, so that the polarizer and the polarization filter for inspection are not in a cross-Nicol state. As a result, there arises a problem that defect inspection of the polarizing plate cannot be performed with high precision.

이러한 문제를 해결하기 위하여, 대한민국 공개특허 제10-2008-0086928호에는 편광판과 광학 보상층을 적층하여 적층 필름을 제조하는 공정과, 제조된 상기 적층 필름의 결함 검사를 실시하는 공정을 갖는 적층 필름의 제조 방법으로서, 상기 결함 검사 공정은, 상기 적층 필름의 상기 편광판 적층 측에 배치된 광원에 의해, 상기 적층 필름에 대하여 광을 조사하는 공정과, 상기 적층 필름의 상기 광학 보상층 측에 배치된 촬상부에 의해, 상기 적층 필름의 투과광 이미지를 촬영하는 공정과, 상기 촬상부에 의해 촬영된 투과광 이미지에 기초하여, 상기 적층 필름에 존재하는 결함의 검출을 실시하는 결함 검출 공정을 갖고, 상기 광원과 상기 촬상부 사이의 광로 상에 있어서, 상기 촬상부에 인접 배치되는 검사용 편광 필터와, 상기 광원과 상기 촬상부 사이의 광로 상에 있어서, 상기 검사용 편광 필터와 상기 적층 필름 사이에 배치되는 검사용 위상차 필터를 통하여, 상기 촬상부에 의한 촬상이 실시되는 것을 특징으로 함으로써, 적층 필름의 결함의 누락이 적은 적층 필름의 제조방법에 대하여 기재되어 있으나, 이는 작은 사이즈의 이물을 정밀하게 검출하기 어려우며, 최근 필름형 터치 센서와 같은 시트 형태의 플렉서블(flexible)한 광학 필름을 검사하는 경우, 필름 자체의 컬(curl) 발생으로 인하여 상기 광학 필름을 검사하기 위한 영상 획득부의 아웃 포커스(out of focus) 현상이 발생하는 등 검사가 용이하지 않은 문제가 있다.In order to solve this problem, in Korean Patent Publication No. 10-2008-0086928, a laminated film having a process of manufacturing a laminated film by laminating a polarizing plate and an optical compensation layer, and performing a defect inspection of the produced laminated film As a manufacturing method of the above, the defect inspection step is a step of irradiating light to the laminated film by a light source disposed on the polarizing plate laminated side of the laminated film, and disposed on the optical compensation layer side of the laminated film The imaging unit has a step of photographing the transmitted light image of the laminated film, and a defect detection step of detecting a defect existing in the laminated film based on the transmitted light image photographed by the imaging section, wherein the light source has On the optical path between the and the imaging unit, a polarization filter for inspection disposed adjacent to the imaging unit, and between the light source and the imaging unit On the optical path, it is characterized in that the imaging is performed by the imaging unit through an inspection retardation filter disposed between the inspection polarizing filter and the laminated film. Although described with respect to the manufacturing method, it is difficult to accurately detect a small-size foreign matter, and when inspecting a sheet-like flexible optical film such as a film-type touch sensor, curl of the film itself occurs. Due to this, there is a problem in that inspection is not easy, such as an out of focus phenomenon of an image acquisition unit for inspecting the optical film.

따라서, 작은 크기의 이물까지도 효과적으로 검출할 수 있을 정도의 검출능력 향상과, 컬 발생 억제, 요컨대 평탄도를 확보하여 결함 검사가 용이한 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치의 개발이 요구되고 있는 실정이다.Accordingly, there is a need to develop a defect inspection method and apparatus for an optical film that is easy to inspect defects by improving detection capability to sufficiently detect even small-sized foreign objects, suppressing curl generation, and in other words, securing flatness. .

대한민국 공개특허 제10-2008-0086928호(2008.09.26)Republic of Korea Patent Publication No. 10-2008-0086928 (2008.09.26)

본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로서, 광학 필름의 결함 검사 과정 중 평탄도의 확보가 가능하여, 필름형 터치 센서와 같은 플렉서블한 광학 필름의 검사가 가능하고, 작은 사이즈의 이물 검출이 가능하며 보다 정밀한 위상차 결함의 검출이 가능한 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.The present invention is to solve the above problems, it is possible to secure the flatness during the defect inspection process of the optical film, it is possible to inspect a flexible optical film, such as a film-type touch sensor, it is possible to detect foreign matter of a small size It is an object of the present invention to provide a method and apparatus for inspecting defects of an optical film capable of detecting more precise phase difference defects.

본 발명은 (a) 광학 필름을 스테이지에 위치시키는 단계; (b) 권출롤로부터 투명 필름을 권출하여 상기 광학 필름 상에 위치시키는 단계; (c) 상기 투명 필름 상에 구비된 제1 및 제2 가이드롤을, 상기 투명 필름의 하부가 상기 광학 필름의 상부에 접할때까지 하강시키는 단계; (d) 영상획득부가 상기 광학필름의 상부에 위치하도록 조정하고, 광원이 상기 광학필름의 하부에 위치하도록 조정하는 단계; (e) 상기 광원과 광학필름 사이 또는 상기 영상획득부와 광학 필름 사이에 검사용 편광필터 및 검사용 위상차 필터를 위치시키는 단계; (f) 상기 광학 필름의 하부에 위치한 광원으로부터 상기 광학 필름의 일면에 광을 조사하여, 광학 필름의 위상차 결함을 검출하는 단계; 및 (g) 상기 제1 및 제2 가이드롤을 상승시키는 단계;를 포함하되, 상기 검사용 편광 필터와 검사용 위상차 필터는 점착제 또는 접착제를 이용하여 접합되지 않고 적층된 형태인 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 방법을 제공하고자 한다.The present invention comprises the steps of (a) placing the optical film on the stage; (b) unwinding the transparent film from the unwinding roll and placing it on the optical film; (c) lowering the first and second guide rolls provided on the transparent film until the lower portion of the transparent film contacts the upper portion of the optical film; (d) adjusting the image acquisition unit to be positioned on the upper portion of the optical film, and adjusting the light source to be located on the lower portion of the optical film; (e) placing a polarization filter for inspection and a phase difference filter for inspection between the light source and the optical film or between the image acquisition unit and the optical film; (f) irradiating light to one surface of the optical film from a light source located under the optical film to detect a phase difference defect of the optical film; And (g) raising the first and second guide rolls, wherein the inspection polarization filter and the inspection retardation filter are laminated without bonding using an adhesive or an adhesive. It is intended to provide a film defect inspection method.

또한, 본 발명은 광학 필름의 일면을 촬영하여 표면 이미지를 획득하는 영상획득부; 상기 광학 필름의 일면에 광을 조사하는 광원; 투명 필름을 권출하는 권출롤 및 상기 투명 필름을 권취하는 권취롤; 상기 권출롤과 권취롤 사이에 구비되어, 권출된 상기 투명 필름을 상승 및 하강시키는 제1 및 제 제2 가이드롤; 상기 광학 필름이 위치되는 스테이지; 및 광학 필름의 위상차 결함이나 이물로 인한 결함을 검출하기 위한 검사용 편광 필터 및 위상차 필름;을 포함하는 광학 필름의 결함 검사 장치를 제공하고자 한다.In addition, the present invention is an image acquisition unit for acquiring a surface image by photographing one surface of the optical film; A light source that irradiates light on one surface of the optical film; A winding roll for unwinding the transparent film and a winding roll for winding the transparent film; First and second guide rolls provided between the unwinding roll and the take-up roll to raise and lower the unwound transparent film; A stage on which the optical film is located; And a polarization filter and a retardation film for inspection to detect a defect due to a retardation defect or a foreign material of the optical film.

본 발명의 광학 필름의 결함 검사 방법은 광학 필름의 결함 검사 과정 중 평탄도의 확보가 가능하여, 필름형 터치 센서와 같은 플렉서블한 광학 필름의 검사가 가능하고, 작은 사이즈의 이물 검출이 가능하며 보다 정밀한 위상차 결함의 검출이 가능한 이점이 있다. In the defect inspection method of the optical film of the present invention, flatness can be secured during the defect inspection process of the optical film, so that a flexible optical film such as a film type touch sensor can be inspected, and foreign matter of a small size can be detected and more There is an advantage that it is possible to detect a precise phase difference defect.

도 1a 및 1b는 종래의 광학 필름의 결함 검사 장치를 예시한 도이다.
도 2는 본 발명에 따른 광학 필름의 결함 검사 장치를 예시한 도이다.
도 3은 이물 크기 비교 결과를 도시한 것이다.
도 4는 위상차 결함 비교 결과를 도시한 것이다.1A and 1B are diagrams illustrating a defect inspection apparatus of a conventional optical film.
2 is a view illustrating a defect inspection apparatus for an optical film according to the present invention.
Figure 3 shows the results of the foreign material size comparison.
4 shows a result of comparing phase difference defects.

본 발명에서 어떤 부재가 다른 부재 "상에" 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 직접 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 개재되어 있는 경우도 포함한다. In the present invention, when a member is positioned "on" another member, this includes not only the case where one member is directly in contact with the other member but also another member interposed between the two members.

본 발명에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. In the present invention, when a part “includes” a certain component, this means that other components may be further included, rather than excluding other components, unless otherwise specified.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치에 대하여 더욱 상세히 설명한다.Hereinafter, a defect inspection method and apparatus for the optical film of the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.

본 발명의 한 양태는, (a) 광학 필름(100)을 스테이지(10)에 위치시키는 단계; (b) 권출롤(20)로부터 투명 필름(200)을 권출하여 상기 광학 필름(100) 상에 위치시키는 단계; (c) 상기 투명 필름(200) 상에 구비된 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을, 상기 투명 필름(200)의 하부가 상기 광학 필름(100)의 상부에 접할때까지 하강시키는 단계; (d) 영상획득부(50)가 상기 광학필름(100)의 상부에 위치하도록 조정하고, 광원(40)이 상기 광학필름(100)의 하부에 위치하도록 조정하는 단계; (e) 상기 광원(40)과 광학필름(100) 사이 또는 상기 영상획득부(50)와 광학필름(100) 사이에 검사용 편광필터(400) 및 검사용 위상차 필터(300)를 위치시키는 단계; (f) 상기 광학 필름(100)의 하부에 위치한 광원(40)으로부터 상기 광학 필름(100)의 일면에 광을 조사하여, 광학 필름(100)의 결함을 검출하는 단계; 및 (g) 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을 상승시키는 단계;를 포함하되, 상기 검사용 편광 필터(400)와 검사용 위상차 필터(300)는 점착제 또는 접착제를 이용하여 접합되지 않고 적층된 형태인 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 방법에 관한 것이다. An aspect of the invention, (a) placing the optical film 100 on the stage 10; (b) unwinding the transparent film 200 from the unwinding roll 20 and placing it on the optical film 100; (c) lowering the first and second guide rolls 60 and 70 provided on the transparent film 200 until the lower portion of the transparent film 200 contacts the upper portion of the optical film 100. step; (d) adjusting the image acquisition unit 50 to be positioned on the top of the optical film 100, and adjusting the light source 40 to be located on the bottom of the optical film 100; (e) placing a polarization filter 400 for inspection and a phase difference filter 300 for inspection between the light source 40 and the optical film 100 or between the image acquisition unit 50 and the optical film 100 ; (f) irradiating light to one surface of the optical film 100 from a light source 40 located under the optical film 100 to detect a defect in the optical film 100; And (g) raising the first and second guide rolls 60 and 70, wherein the inspection polarization filter 400 and the inspection phase difference filter 300 are bonded using an adhesive or an adhesive. It relates to a defect inspection method of the optical film, characterized in that the laminated form.

도 2에 본 발명의 일 실시형태에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 장치를 도시하였다. 도 2를 참고하면, 광원(40) 및 영상획득부(50)를 통하여 검사하고자 하는 광학 필름(100)의 이미지를 얻을 수 있으며, 상기 광원(40)과 광학 필름(100) 사이의 광로 중에 검사용 편광 필터(400) 및 위상차 필터(300)가 배치되는 경우, 상기 편광 필터(400)는 광원(40)에 인접 배치될 수 있고, 상기 검사용 위상차 필터(300)는 상기 광학 필름(100)에 인접 배치될 수 있으며, 도시하지는 않았지만, 상기 검사용 편광 필터(400) 및 위상차 필터(300)는 상기 영상획득부(50)와 광학 필름(100) 사이의 광로 중에 배치될 수 도 있는데, 이 때 상기 검사용 편광 필터(400)는 상기 영상 획득부(50)와 인접하여 배치될 수 있고, 상기 검사용 위상차 필터(300)는 상기 광학 필름(100)과 인접하여 배치될 수 있다. 바람직하게는, 결함 검출력을 보다 향상시킬 수 있다는 점에서 상기 검사용 편광 필터(400) 및 위상차 필터(300)는 상기 광원(40)과 광학 필름(100) 사이의 광로 중에 배치되고, 상기 검사용 편광 필터(400)가 상기 광원(40)에 인접하게 배치되며, 상기 검사용 위상차 필터(300)는 상기 광학 필름(100)에 인접하게 배치될 수 있다.2 shows a defect inspection apparatus of the optical film 100 according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 2, an image of the optical film 100 to be inspected can be obtained through the light source 40 and the image acquisition unit 50 and inspected during the optical path between the light source 40 and the optical film 100. When the polarization filter 400 and the phase difference filter 300 are disposed, the polarization filter 400 may be disposed adjacent to the light source 40, and the phase difference filter 300 for inspection may be the optical film 100 It may be disposed adjacent to, although not shown, the inspection polarization filter 400 and the phase difference filter 300 may be disposed in the optical path between the image acquisition unit 50 and the optical film 100, this When the polarization filter 400 for inspection may be disposed adjacent to the image acquisition unit 50, the inspection phase difference filter 300 may be disposed adjacent to the optical film 100. Preferably, the polarization filter 400 and the phase difference filter 300 for inspection are disposed in an optical path between the light source 40 and the optical film 100 in that defect detection power can be further improved. The polarization filter 400 is disposed adjacent to the light source 40, and the phase difference filter 300 for inspection may be disposed adjacent to the optical film 100.

상기 검사용 위상차 필터(300)과 편광 필름(400)은 서로 적층된 형태일 수도 있고 일정 거리를 두고 분리된 형태일 수도 있으나, 상기와 적층된 형태일 경우, 점착제 또는 접착제를 이용하여 접합된 형태는 아니다. 이와 같이, 검사용 위상차 필터(300)와 편광 필름(400)을 서로 접합되지 않은 형태로 위치시킬 경우, 같은 사이즈의 이물이라 할지라도 보다 크게 시인됨으로써 보다 작은 크기 이물의 검출이 용이한 이점이 있다. The phase difference filter 300 for inspection and the polarizing film 400 may be in the form of being stacked with each other or separated from each other at a predetermined distance, but in the case of the stacked form with the above, the form is bonded using an adhesive or an adhesive. Is not. As described above, when the retardation filter 300 for inspection and the polarizing film 400 are positioned in a non-bonded form, even if the foreign matter of the same size is recognized more, there is an advantage of easily detecting a foreign matter of a smaller size. .

본 발명에서 "광학 필름(100)"이란, 광학 특성을 갖는 필름을 일컬을 수 있으며, 예컨대 필름형 터치센서, 패턴이 구비된 필름, 편광자, 투명 보호 필름, 상기 편광자의 적어도 일면에 보호 필름이 부착된 편광판, 위상차층 등을 들 수 있으며, 구체적으로는 편광자 및 위상차층을 포함하는 것일 수 있다. 이와 같은 "광학 필름(100)"은 시트 형태의 플렉서블(flexible) 광학 필름(100)일 수 있다.In the present invention, "optical film 100" may refer to a film having optical properties, for example, a film-type touch sensor, a patterned film, a polarizer, a transparent protective film, and a protective film attached to at least one surface of the polarizer Polarized plate, retardation layer, and the like, and specifically, may include a polarizer and a retardation layer. The "optical film 100" may be a sheet-type flexible optical film 100.

상기 편광자는 자연광을 직선 편광으로 변화시키기 위한 소자로서 편광자 형성용 필름을 팽윤, 염색, 가교, 연신, 수세, 건조하는 등의 단계를 포함하는 공정에 따라 제조된 당 분야에서 통상적으로 사용되는 편광자일 수 있다. 상기 편광자 형성용 필름은 이색성 물질, 즉 요오드에 의해 염색 가능한 필름이라면 그 종류가 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 폴리비닐알코올 필름, 탈수 처리된 폴리비닐알코올 필름, 탈염산 처리된 폴리비닐알코올 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, 에틸렌-아세트산 비닐 공중합체 필름, 에틸렌-비닐알코올 공중합체 필름, 셀룰로오스 필름, 이들의 부분적으로 검화된 필름 등을 들 수 있다. The polarizer is a device for converting natural light into linearly polarized light, which is a polarizer commonly used in the field manufactured according to a process including steps of swelling, dyeing, crosslinking, stretching, washing, drying, and the like, for forming a polarizer. You can. The film for forming the polarizer is not particularly limited as long as it is a dichroic material, that is, a film that can be dyed with iodine, for example, a polyvinyl alcohol film, a dehydrated polyvinyl alcohol film, and a hydrochloric acid treated polyvinyl alcohol film. , Polyethylene terephthalate films, ethylene-vinyl acetate copolymer films, ethylene-vinyl alcohol copolymer films, cellulose films, partially gummed films, and the like.

상기 위상차층은 당 업계에서 사용되는 위상차층이 필요에 따라 다양하게 적용될 수 있는 것으로 본 발명에서 그 종류를 특별히 한정하는 것은 아니나 예를 들면, λ/2 위상차층이나 λ/4 위상차층 등을 들 수 있으며, 이들은 각각 네마틱 액정 화합물 또는 디스코틱 액정 화합물의 경화물을 포함하는 것일 수 있다.The retardation layer is a retardation layer used in the art can be applied in various ways as required. The type of the retardation layer is not particularly limited in the present invention. For example, a λ / 2 retardation layer, a λ / 4 retardation layer, etc. Each of these may include a nematic liquid crystal compound or a cured product of a discotic liquid crystal compound.

본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은, (a) 광학 필름(100)을 스테이지(10)에 위치시키는 단계;를 포함한다.The defect inspection method of the optical film 100 according to the present invention includes the steps of: (a) placing the optical film 100 on the stage 10.

상기 스테이지(10)는 상기 광학 필름(100)을 지지하며, 투명하거나 불투명한 재질일 수 있다. 구체적으로 상기 스테이지(10)는 상기 광학 필름(100)의 결함 검사 방식, 예컨대 투과 광학계 또는 반사 광학계에 따라 적절한 재질을 사용할 수 있다.The stage 10 supports the optical film 100 and may be a transparent or opaque material. Specifically, the stage 10 may use a suitable material according to a defect inspection method of the optical film 100, for example, a transmission optical system or a reflection optical system.

구체적으로, 상기 광학 필름(100)의 결함 검사 방식이 투과 광학계를 이용하고, 스테이지가 불투명한 재질로 이루어진 경우, 상기 광학 필름(100)의 하부에 구비된 광원(40)에 의하여 광이 투과될 수 있도록 관통부가 설치되어야 한다. 또한, 상기 스테이지(10)는 상기 광학 필름(100)을 흡착할 수 있는 흡착 홀이 구비될 수도 있으나 이에 한정되지는 않는다.Specifically, when the defect inspection method of the optical film 100 uses a transmission optical system and the stage is made of an opaque material, light is transmitted by the light source 40 provided at the lower portion of the optical film 100. Penetrations should be provided to ensure that. In addition, the stage 10 may be provided with an adsorption hole capable of adsorbing the optical film 100, but is not limited thereto.

본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법 및 장치는 "투과 광학계"를 이용한 것일 수 있다.The defect inspection method and apparatus of the optical film 100 according to the present invention may be one using a “transmission optical system”.

상기 스테이지(10)는 바람직하게는 광투과성이 우수하면서도, 평탄도의 확보가 용이한 점에서 유리로 이루어질 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.The stage 10 may be made of glass in that it is preferably excellent in light transmittance and easy to secure flatness, but is not limited thereto.

본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (b) 권출롤(20)로부터 투명 필름(200)을 권출하여 상기 광학 필름(100) 상에 위치시키는 단계;를 포함한다.The defect inspection method of the optical film 100 according to the present invention includes (b) unwinding the transparent film 200 from the unwinding roll 20 and placing it on the optical film 100.

상기 권출롤(20)은 구동모터에 의해 회전 구동됨으로써 상기 투명 필름(200)을 권출하는 역할을 수행한다. 도시하지는 않았으나, 상기 권출롤(20)을 회전 구동하는 구동모터와 후술할 상기 권취롤(30)을 회전 구동하는 구동모터는 컨트롤러에 의해 상기 투명 필름(200)의 장력을 유지시켜주면서 상호간에 이동되도록 제어될 수 있다.The unwinding roll 20 is rotated by a driving motor to serve to unwrap the transparent film 200. Although not shown, the driving motor for rotationally driving the unwinding roll 20 and the driving motor for rotationally driving the winding roll 30 to be described later are moved to each other while maintaining the tension of the transparent film 200 by a controller. It can be controlled as much as possible.

상기 권출롤(20) 및 후술할 상기 권취롤(30)의 하부측에 장력 조절구가 설치될 수도 있으나 이에 한정되지는 않는다.A tension adjusting mechanism may be installed on the lower side of the winding roll 20 and the winding roll 30 to be described later, but is not limited thereto.

상기 투명 필름(200)은 상기 광학 필름(100)의 결함 검사 시 상기 광학 필름(100)의 일면에 접하도록 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 상승 및 하강되는 것으로서, 투명도를 가지고 있어 상기 광학 필름(100)의 결함 검사에 영향을 주지 않는 것이라면 한정되지 않으나, 예컨대 광투과성이 좋고, 필름 자체의 결함의 발생이 적은 면에서 PET 필름, 또는 TAC 필름 등이 바람직하다.When the defect of the optical film 100 is inspected, the transparent film 200 is raised and lowered by the first and second guide rolls 60 and 70 so as to contact one surface of the optical film 100. It is not limited as long as it does not affect the defect inspection of the optical film 100, but is preferably a PET film or a TAC film, for example, in view of good light transmittance and less occurrence of defects in the film itself.

상기 권출롤(20)에 의해 권출된 상기 투명 필름은(200)은, 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 하강된다. 구체적으로, 본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (c) 상기 투명 필름(200) 상에 구비된 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을, 상기 투명 필름(200)의 하부가 상기 광학 필름(100)의 상부에 접할때까지 하강시키는 단계를 포함한다.The transparent film 200 unwound by the unwinding roll 20 is lowered by the first and second guide rolls 60 and 70. Specifically, the defect inspection method of the optical film 100 according to the present invention is (c) the first and second guide rolls 60 and 70 provided on the transparent film 200, the transparent film 200 And lowering the lower portion until the lower portion of the optical film 100 contacts the upper portion.

상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 수직방향으로 이동 가능하고, 상기 권출된 상기 투명 필름(200)의 상부에 위치하도록 설치된다.The first and second guide rolls 60 and 70 are movable in a vertical direction and are installed to be positioned on the unfolded transparent film 200.

상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)이 수직 방향으로 이동하게 됨에 따라, 상기 투명 필름(200) 역시 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 따라 수직 방향으로 이동이 가능하게 된다.As the first and second guide rolls 60 and 70 move in the vertical direction, the transparent film 200 can also move in the vertical direction according to the first and second guide rolls 60 and 70. Is done.

상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 상기 투명 필름(200)의 장력을 유지하는 역할을 수행할 수 있다.The first and second guide rolls 60 and 70 may serve to maintain the tension of the transparent film 200.

상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 도 2와 같이, 상기 제1 가이드(60)와 상기 제2 가이드롤(70)의 사이에서 결함 검사가 이루어지도록 위치되는 것이 평탄도 확보 면에서 바람직하다.The first and second guide rolls 60 and 70 are positioned so that defect inspection is performed between the first guide 60 and the second guide roll 70 as shown in FIG. 2. Is preferred.

본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법 및 장치는, 상기 제1 및 제2 가이드롤에 의하여 상기 투명 필름(200)이 상기 광학 필름(100)과 적절한 장력을 가지고 접할 수 있기 때문에, 상기 광학 필름(100)의 평탄도를 확보할수 있으며, 결함 검사 과정 중 발생할 수 있는 컬을 억제할 수 있는 이점이 있다.In the defect inspection method and apparatus of the optical film 100 according to the present invention, the first and second guide rolls allow the transparent film 200 to contact the optical film 100 with appropriate tension. It is possible to secure the flatness of the optical film 100 and has the advantage of suppressing curls that may occur during a defect inspection process.

본 발명에서 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 부여되는 장력을 한정하지는 않는다. 예컨대, 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 상기 투명 필름(200)이 상기 광학 필름(100)과 접할 때 상기 투명 필름(200)에 부여되는 장력은 50 내지 1000N일 수 있다.In the present invention, the tension imparted by the first and second guide rolls 60 and 70 is not limited. For example, the tension applied to the transparent film 200 when the transparent film 200 comes into contact with the optical film 100 by the first and second guide rolls 60 and 70 may be 50 to 1000 N. .

본 발명에서 "접한다"는 것은, 상기 투명 필름(200)이 장력에 의하여 상기 광학 필름(100)의 표면에 완전히 밀착된 상태 또는 상기 광학 필름(100)의 검사가 가능한 수준으로 상기 광학 필름(100)의 컬이 상기 투명 필름(200)에 의하여 억제된 상태를 의미할 수 있다.In the present invention, "contacting" means that the transparent film 200 is completely in contact with the surface of the optical film 100 by tension, or the optical film 100 can be inspected at a level capable of inspecting the optical film 100. ) May mean a state in which the curl is suppressed by the transparent film 200.

본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 스테이지(10)에 구비된 스테이지 핀(90)을 상기 투명 필름(200)의 하부가 상기 광학 필름(100)의 상부에 접하도록, 하강시키는 단계;를 더 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the step of lowering the stage pin 90 provided on the stage 10 so that the lower portion of the transparent film 200 is in contact with the upper portion of the optical film 100; It can contain.

상기 스테이지 핀(90)은, 상기 광학 필름(100)이 움직이지 않도록 상기 광학 필름(100)을 받치고 고정시키는 역할을 수행할 수 있으므로, 상기 스테이지(10)는 상기 스테이지 핀(90)을 도 2와 같이 상기 광학 필름(100)의 주변부에 2 이상 구비되도록 포함하는 것이 바람직하다.The stage pin 90 may serve to support and fix the optical film 100 so that the optical film 100 does not move, so that the stage 10 shows the stage pin 90 in FIG. 2. As described above, it is preferable to include two or more parts in the periphery of the optical film 100.

본 발명에 따른 상기 스테이지 핀(90)은 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)과 같이 수직 방향으로 이동할 수 있다.The stage pin 90 according to the present invention can move in the vertical direction like the first and second guide rolls 60 and 70.

도 2를 참고하면, 상기 스테이지 핀(90)은 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)이 상승된 상태일 때는 상기 광학 필름(100)이 움직이지 않도록 일정 높이를 가진 상태로 구비되어 있다가, 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)이 하강하는 경우 상기 투명 필름(200)에 걸리지 않도록 상기 스테이지 핀(90)도 하강할 수 있다.Referring to FIG. 2, the stage pin 90 is provided in a state having a predetermined height so that the optical film 100 does not move when the first and second guide rolls 60 and 70 are raised. Thereafter, when the first and second guide rolls 60 and 70 descend, the stage pin 90 may also descend so as not to be caught by the transparent film 200.

본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 권출롤(20)로부터 권출되는 상기 투명 필름(200)을 이오나이저(80)로 이온화 처리하는 단계;를 더 포함할 수 있다.In another embodiment of the present invention, the step of ionizing the transparent film 200 unwound from the unwinding roll 20 with an ionizer 80 may be further included.

상기 이오나이저(80)는 상기 투명 필름(200)에 이온화 처리를 하여 상기 투명 필름(200)의 정전기를 제거하는 역할을 수행하는 것으로, 도 2를 참고하면, 상기 권출롤(20)과 상기 제1 가이드롤(60)에 배치되어 권출된 상기 투명 필름(200)을 이온화 처리할 수 있다.The ionizer 80 serves to remove the static electricity of the transparent film 200 by ionizing the transparent film 200. Referring to FIG. 2, the unwinding roll 20 and the agent 1, the transparent film 200 disposed on the guide roll 60 and unwound can be ionized.

본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (d) 영상획득부(50)가 상기 광학 필름(100)의 상부에 위치하도록 조정하고, 광원(40)이 상기 광학 필름(100)의 하부에 위치하도록 조정하는 단계; 및 (e) 상기 광원(40)과 광학 필름(100) 사이 또는 상기 영상획득부(50)와 상기 광학 필름(100) 사이에 검사용 편광필터(400) 및 검사용 위상차 필터(300)를 위치시키는 단계;를 포함한다. 이와 같이, 검사용 편광필터(400) 및 위상차 필터(300)를 위치시킴으로써 이물로 인한 결함뿐만 아니라, 광학 필름(100)의 위상차 결함까지도 검출이 가능한 이점이 있다.Defect inspection method of the optical film 100 according to the present invention is (d) the image acquisition unit 50 is adjusted to be located on top of the optical film 100, the light source 40 is the optical film 100 of the Adjusting to be located at the bottom; And (e) a polarization filter 400 for inspection and a phase difference filter 300 for inspection between the light source 40 and the optical film 100 or between the image acquisition unit 50 and the optical film 100. It includes; letting. As described above, by positioning the polarization filter 400 and the phase difference filter 300 for inspection, it is possible to detect not only defects due to foreign matters, but also phase difference defects of the optical film 100.

상기 검사용 편광필터(400)는 전술한 바와 같이 광원(40)과 광학 필름(100)사이에 광로 중 또는 영상획득부(50)와 광학 필름(100) 사이에 광로 중에 배치되며, 상기 광원(40)가 광학 필름(100) 사이에 배치되는 경우 광원(40)과 인접하게 배치될 수 있고, 상기 영상획득부(50)와 광학 필름(100) 사이에 배치되는 경우 상기 영상획득부(50)와 인접하게 배치될 수 있다. 상기 검사용 편광필터(400)의 편광축은 광학 필름(100)내에 포함될 수 있는 편광자의 편광축과 크로스 니콜의 위치 관계가 되도록 배치된다. 이와 같이, 크로스 니콜로 배치함으로써 만일 결함이 존재하지 않으면 영상획득부(50)에서 전면 흑의 화상이 입력되지만, 결함이 존재하면 흑이 되지 않는다. 단, 광학 필름(100)이 위상차층을 포함하는 경우 광원(40)으로부터의 광이 위상차층을 통과함으로써 광축이 어긋나게 되어 실질적으로 크로스 니콜 상태가 되지 않는데, 본 발명의 광학 필름(100) 결함 검출 방법은 검사용 위상차 필터(300)를 포함함으로써, 이러한 문제를 극복하였다.As described above, the inspection polarization filter 400 is disposed in the optical path between the light source 40 and the optical film 100 or in the optical path between the image acquisition unit 50 and the optical film 100, and the light source ( When 40) is disposed between the optical film 100 may be disposed adjacent to the light source 40, when disposed between the image acquisition unit 50 and the optical film 100, the image acquisition unit 50 It can be disposed adjacent to. The polarization axis of the polarization filter 400 for inspection is arranged to be in a positional relationship between the polarization axis of the polarizer that can be included in the optical film 100 and the cross nicol. As described above, by arranging in cross nicol, if a defect does not exist, the front black image is input from the image acquisition unit 50, but if a defect exists, it does not become black. However, when the optical film 100 includes a retardation layer, light from the light source 40 passes through the retardation layer, and thus the optical axis is shifted, so that it is not substantially in a cross-Nicol state. However, the optical film 100 defect detection of the present invention The method overcomes this problem by including a phase difference filter 300 for inspection.

상기 검사용 위상차 필터(300)는 광학 필름(100) 내에 포함되는 위상차층과 동일한 특성(예를 들어, 같은 재질, 두께, 위상차)을 갖고 있는 것이 바람직하며, 이로써 위상차층의 존재에서 기인되는 위상차를 캔슬(또는 억제)하고, 결함 검출을 안정적으로 실시할 수 있다.The retardation filter 300 for inspection preferably has the same characteristics (for example, the same material, thickness, and retardation) as the retardation layer included in the optical film 100, whereby the retardation resulting from the presence of the retardation layer Can be canceled (or suppressed) and defect detection can be stably performed.

상기 검사용 편광 필터(400) 및 위상차 필터(300)는 검사하고자 하는 광학 필름(100)의 종류에 따라 그 배치가 상이할 수 있다. 따라서, 상기 검사용 편광 필터(400)나 검사용 위상차 필터(300)를 수평 또는 수직으로 이동 또는 회전시킬 수 있는 기구가 배치되어 있는 것이 바람직하다. The inspection polarization filter 400 and the phase difference filter 300 may be arranged differently according to the type of the optical film 100 to be inspected. Therefore, it is preferable that a mechanism capable of moving or rotating the polarization filter 400 for inspection or the phase difference filter 300 for inspection is disposed horizontally or vertically.

본 발명의 일 실시형태에 따르면 상기 영상획득부(50)는 텔레센트릭 렌즈를 포함할 수 있다. 이와 같이, 텔레센트릭 렌즈를 포함함으로써 포커스의 영향을 상대적으로 작게 하여 보다 정밀한 결함 검출이 가능할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the image acquisition unit 50 may include a telecentric lens. As described above, by including the telecentric lens, the influence of focus can be relatively small, thereby enabling more precise defect detection.

본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (f) 광학 필름(100)의 하부에 위치한 광원(40)으로부터 상기 광학 필름(100)의 일면에 광을 조사하여, 광학 필름(100)의 결함을 검출하는 단계;를 포함한다.Defect inspection method of the optical film 100 according to the present invention is (f) irradiating light to one surface of the optical film 100 from the light source 40 located at the bottom of the optical film 100, the optical film 100 It includes; detecting a defect.

상기 광을 조사하는 광원(40)은 본 발명에서 특별히 제한하지는 않는다. 구체적으로, 상기 광원(40)은 상기 광학 필름(100)에 광을 조사하는 것으로서, LED, 금속 할라이드 등, 형광등 및 할로겐 등 등을 들 수 있다. 예를 들면, 광원(40)은 막대형 또는 봉형일 수 있으며, 그 발광 방식으로는 면조명 또는 집광조명일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 바람직하게는 상기 광원(40)은 면조명의 형태일 수 있다.The light source 40 for irradiating the light is not particularly limited in the present invention. Specifically, the light source 40 is to irradiate light to the optical film 100, LED, metal halide, fluorescent lamps and halogens. For example, the light source 40 may be rod-shaped or rod-shaped, and the light emitting method may be surface lighting or light collection, but is not limited thereto. Preferably, the light source 40 may be in the form of surface lighting.

상기 광원(40)이 면조명일 경우 집광조명에 비해 빛의 산란으로 인하여 상기 광학 필름(100)의 결함 검출이 용이하고, 상기 광학 필름(100)과 접하는 상기 투명 필름(200)의 표면 이미지가 결함으로 인식되는 현상을 억제할 수 있으므로 바람직하다.When the light source 40 is a surface light, it is easy to detect defects in the optical film 100 due to scattering of light compared to condensing light, and the surface image of the transparent film 200 in contact with the optical film 100 is defective It is preferable because the phenomenon recognized as can be suppressed.

상기 표면 이미지를 획득하는 방법을 본 발명에서 특별히 제한하지는 않는다. 예컨대 상기 표면 이미지는 라인 스캔(line scan) 또는 면 스캔(area scan) 방법을 이용하여 획득할 수 있다.The method for obtaining the surface image is not particularly limited in the present invention. For example, the surface image may be obtained using a line scan or area scan method.

상기 표면 이미지를 획득한 후 상기 표면 이미지로부터 이물, 실오라기, 요철, 눌림, 스크래치, 기포, 크랙, 버(burr), 들뜸과 같은 결함을 검출할 수 있다.After acquiring the surface image, defects such as foreign matter, thread, irregularities, pressing, scratches, bubbles, cracks, burrs, and lifting can be detected from the surface image.

본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (g) 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을 상승시키는 단계;를 포함한다.The defect inspection method of the optical film 100 according to the present invention includes (g) raising the first and second guide rolls 60 and 70.

상기 표면 이미지를 획득한 후, 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을 상승시켜 상기 광학 필름(100)과 접하고 있던 상기 투명 필름(200)을 상승시킨다.After obtaining the surface image, the first and second guide rolls 60 and 70 are raised to raise the transparent film 200 in contact with the optical film 100.

본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 (f) 단계 이후에 상기 투명 필름(200)을 권취롤(30)로 권취하여 회수하는 단계;를 더 포함할 수 있다.In another embodiment of the present invention, after the step (f), the transparent film 200 is wound with a winding roll 30 to be recovered; and may be further included.

상기 권취롤(30)로 권취된 상기 투명 필름(200)은 필요에 따라 새로운 투명 필름(200)으로 교체될 수도 있고, 검사가 완료된 상기 광학 필름(100) 외 새로운 광학 필름을 검사할 때 다시 사용할 수도 있다. 필요에 따라서, 상기 투명 필름(200)을 회수하는 사행 수정을 위한 전자장치 등이 추가로 구비될 수도 있으나 이에 한정되지 않는다.The transparent film 200 wound with the winding roll 30 may be replaced with a new transparent film 200 as necessary, and may be used again when inspecting a new optical film other than the optical film 100 that has been inspected. It might be. If necessary, an electronic device or the like for correcting meandering to recover the transparent film 200 may be additionally provided, but is not limited thereto.

본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 검사가 완료된 상기 광학 필름(100)을 이동하는 단계를 더 포함할 수도 있으나 이에 한정되지는 않는다. 이때, 상기 광학 필름(100)의 이동은 당업계에서 통상적으로 사용되는 방법을 통하여 수행될 수 있으며, 예컨대 컨베이너 벨트, 흡착 방식 등을 이용하여 수행될 수 있으나 이에 한정되지는 않는다.The defect inspection method of the optical film 100 according to the present invention may further include the step of moving the optical film 100 after the inspection is completed, but is not limited thereto. At this time, the movement of the optical film 100 may be performed through a method commonly used in the art, for example, it may be performed using a conveyor belt, an adsorption method, but is not limited thereto.

본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 광학 필름(100)은 플렉서블 광학 필름(100)일 수 있다.In another embodiment of the present invention, the optical film 100 may be a flexible optical film 100.

본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 검사시 상기 광학 필름(100)과 상기 투명 필름(200)이 접하도록 하여 상기 광학 필름(100)의 평탄도를 확보할 수 있으며, 검사시 발생하는 컬 현상을 억제할 수 있어, 상기 광학 필름(100)이 플렉서블한 형태를 나타내도 검사가 용이한 이점이 있다.The defect inspection method of the optical film 100 according to the present invention can secure the flatness of the optical film 100 by making the optical film 100 and the transparent film 200 come into contact during inspection. Since the curl phenomenon occurring can be suppressed, even if the optical film 100 exhibits a flexible shape, there is an advantage of easy inspection.

본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 광학 필름(100)은 패턴층을 포함할 수 있다. 구체적으로, 상기 광학 필름(100)은 터치 센서를 포함하는 것일 수 있으며, 본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 미세한 패턴을 검사하기 위한 고해상도 상태의 짧은 초점심도를 가져야 하는 검사 과정에서도, 대상 기재 요컨대 광학 필름(100)의 컬 등의 변형을 물리적으로 억제할 수 있기 때문에, 미세한 패턴 층을 포함하는 경우에도 검사가 용이한 이점이 있다.In another embodiment of the present invention, the optical film 100 may include a pattern layer. Specifically, the optical film 100 may include a touch sensor, and the defect inspection method of the optical film 100 according to the present invention is an inspection process that requires a short depth of focus in a high resolution state for inspecting a fine pattern. Also, since the target substrate, in other words, the deformation of the optical film 100 such as curl can be physically suppressed, there is an advantage of easy inspection even when a fine pattern layer is included.

또한, 상기 광학 필름(100)이 위상차층을 포함하는 경우에도 보다 정밀한 위상차 결함을 검출할 수 있으며, 작은 사이즈의 이물이라 할지라도 그 시인성이 보다 향상되어 이물의 검출이 보다 용이한 이점이 있다.In addition, even when the optical film 100 includes a retardation layer, more precise retardation defects can be detected, and even with a small sized foreign matter, the visibility is more improved, so that there is an advantage of easier detection of foreign matter.

본 발명의 다른 양태는 광학 필름(100)의 일면을 촬영하여 표면 이미지를 획득하는 영상획득부(50); 상기 광학 필름(100)의 일면에 광을 조사하는 광원(40); 투명 필름(200)을 권출하는 권출롤(20) 및 상기 투명 필름(200)을 권취하는 권취롤(30); 상기 권출롤(20)과 권취롤(30) 사이에 구비되어, 권출된 상기 투명 필름(200)을 상승 및 하강시키는 제1 및 제 제2 가이드롤(60, 70); 상기 광학 필름(100)이 위치되는 스테이지(10); 및 광학 필름(100)의 위상차 결함이나 이물로 인한 결함을 검출하기 위한 검사용 편광 필터(400) 및 위상차 필름(300);을 포함하는 광학 필름(100)의 결함 검사 장치에 관한 것이다.Another aspect of the present invention is an image acquisition unit 50 for acquiring a surface image by photographing one surface of the optical film 100; A light source 40 irradiating light to one surface of the optical film 100; A winding roll 20 for unwinding the transparent film 200 and a winding roll 30 for winding the transparent film 200; First and second guide rolls 60 and 70 provided between the unwinding roll 20 and the unwinding roll 30 to raise and lower the unwound transparent film 200; A stage 10 on which the optical film 100 is located; And a polarization filter 400 and a retardation film 300 for inspection to detect a retardation defect or a defect due to a foreign material of the optical film 100.

상기 영상획득부(50)는 컬러 또는 흑백 화상의 표면 이미지를 획득할 수 있는 것이 바람직하며, CCD 카메라, 그 밖의 2차원 카메라일 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 상기 영상획득부(50)는 본 발명에 따른 상기 광학 필름(100)의 표면 이미지, 적층 구조 내부의 이미지 또는 광 투과 이미지를 얻는 역할을 수행한다.The image acquisition unit 50 is preferably capable of acquiring a surface image of a color or black and white image, and may be a CCD camera or other two-dimensional camera, but is not limited thereto. The image acquisition unit 50 serves to obtain a surface image of the optical film 100 according to the present invention, an image inside a laminated structure, or a light transmission image.

상기 광학 필름(100)을 비젼 얼라인먼트를 수행하는 경우 상기 얼라인먼트를 위한 비젼 영상획득부(vision camera), 초음파 EPC(Edge Point Controller), 레이저 EPC가 추가로 구비될 수도 있다.When performing the vision alignment of the optical film 100, a vision image acquisition unit, an ultrasonic edge point controller (EPC), and a laser EPC for the alignment may be additionally provided.

상기 광원(40)은 상기 영상획득부(50)와 대향하도록 위치되는 것으로서, 구체적으로 도 2를 참고하면 상기 광원(40)은 상기 스테이지(10)에 하부에 위치하고, 상기 영상획득부(50)는 상기 투명 필름(200)의 상부에 위치한다.The light source 40 is positioned to face the image acquisition unit 50. Specifically, referring to FIG. 2, the light source 40 is located below the stage 10, and the image acquisition unit 50 Is located on the top of the transparent film 200.

상기 광원(40)은 전술한 내용을 적용할 수 있다. 구체적으로, 본 발명에 있어서 상기 광원(40)은 면조명일 수 있다.The light source 40 may apply the above-described contents. Specifically, in the present invention, the light source 40 may be a surface light.

상기 권출롤(20)과 상기 귄취롤(30)은 각각 상기 투명 필름(200)을 권출하고 권취하는 역할을 수행하는 것으로, 전술한 내용을 적용할 수 있다.The unwinding roll 20 and the take-up roll 30 serve to unwind and wind the transparent film 200, respectively, and the above-described contents may be applied.

상기 권출롤(20)과 상기 권취롤(30)은 상기 스테이지(10)로부터 일정 간격의 높이를 두고 위치될 수 있다. 구체적으로, 상기 권출롤(20)과 상기 권취롤(30)은 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)이 상승된 상태, 요컨대 상기 투명 필름(200)이 상기 광학 필름(100)과 접하도록 하강된 상태가 아닌 경우, 상기 광학 필름(100)과 상기 투명 필름(200)이 접하지 않도록 수직방향으로 적절한 높이를 가지도록 구비되는 것이 바람직하다.The unwinding roll 20 and the unwinding roll 30 may be positioned at a predetermined interval from the stage 10. Specifically, the unwinding roll 20 and the take-up roll 30 are in a state in which the first and second guide rolls 60 and 70 are raised, that is, the transparent film 200 and the optical film 100 When not in a lowered state to contact, it is preferable that the optical film 100 and the transparent film 200 are provided to have an appropriate height in the vertical direction so as not to contact.

상기 광학 필름(100) 및 상기 투명 필름(200)은 전술한 내용을 적용할 수 있다. 요컨대, 상기 광학 필름(100)은 플렉서블 광학 필름(100)일 수 있다. 또한, 상기 광학 필름(100)은 패턴층 또는 위상차층을 포함할 수 있다.The above-described contents may be applied to the optical film 100 and the transparent film 200. In short, the optical film 100 may be a flexible optical film 100. In addition, the optical film 100 may include a pattern layer or a retardation layer.

상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 상기 권출롤(20)과 권취롤(30) 사이에 구비되어, 권출된 상기 투명 필름(200)을 상승 및 하강시키는 역할을 수행한다.The first and second guide rolls 60 and 70 are provided between the unwinding roll 20 and the take-up roll 30, and serve to raise and lower the unwound transparent film 200.

도 2를 참고하면, 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70) 사이에 상기 스테이지(10)가 위치하도록 구비되는 것이 상기 투명 필름(200)의 장력을 유지하는 측면에 있어 바람직하다.Referring to FIG. 2, it is preferable in terms of maintaining the tension of the transparent film 200 that the stage 10 is disposed between the first and second guide rolls 60 and 70.

상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 상기 권출된 상기 투명 필름(200)의 상부에 구비되어 있으며, 수직 운동을 통하여 상기 투명 필름(200)을 상기 광학 필름(100)과 접하도록 하강시키고, 상기 광학 필름(100)과 접하던 상기 투명 필름(200)을 접하기 이전 상태로 상승시키는 역할을 수행할 수 있다. 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 관한 내용을 전술한 내용으로 이해될 수 있다.The first and second guide rolls 60 and 70 are provided on the unfolded transparent film 200, so that the transparent film 200 comes into contact with the optical film 100 through vertical movement. It may serve to descend and to raise the transparent film 200, which was in contact with the optical film 100, to a state before contact. The contents of the first and second guide rolls 60 and 70 may be understood as the contents described above.

상기 스테이지(10)는 검사하고자 하는 상기 광학 필름(100)이 위치되는 곳이다. 상기 스테이지(10)는 예컨대 투명한 재질일 수 있으며, 구체적으로 유리로 이루어져 있을 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.The stage 10 is where the optical film 100 to be inspected is located. The stage 10 may be, for example, a transparent material, and may be specifically made of glass, but is not limited thereto.

본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 스테이지(10)는 상기 광학 필름(100)을 얼라인(align)하고, 상승 및 하강되는 스테이지 핀(90);을 더 포함할 수 있다.In another embodiment of the present invention, the stage 10 may further include a stage pin 90 that aligns the optical film 100 and rises and falls.

상기 스테이지 핀(90)은 상기 상기 광학 필름(100) 상에 상기 투명 필름(200)이 접하도록 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 하강될 때 상기 투명 필름(200)에 걸리지 않도록, 하강될 수 있다.The stage pin 90 is attached to the transparent film 200 when it is lowered by the first and second guide rolls 60 and 70 so that the transparent film 200 comes into contact with the optical film 100. It can be lowered so as not to get caught.

상기 스테이지 핀(90)은 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)과 동시에 컨트롤 될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.The stage pin 90 may be controlled simultaneously with the first and second guide rolls 60 and 70, but is not limited thereto.

상기 스테이지(10) 및 상기 스테이지 핀(90)은 전술한 내용을 적용할 수도 있다.The above-described content may be applied to the stage 10 and the stage pin 90.

본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 권출롤(20)로부터 권출된 상기 투명 필름(200)을 이온화 처리하는 이오나이저(80);를 더 구비할 수 있다.In still another embodiment of the present invention, the ionizer 80 for ionizing the transparent film 200 unwound from the unwinding roll 20 may be further provided.

상기 이오나이저(80)는 상기 투명 필름(200)의 폭 방향 전역에 걸쳐 이온화한 기체를 분무함으로써, 상기 투명 필름(200)의 표면에 발생한 정전기를 제거할 수 있다.The ionizer 80 may remove static electricity generated on the surface of the transparent film 200 by spraying an ionized gas over the entire width direction of the transparent film 200.

구체적으로, 상기 광학 필름(100)과 접하는 상기 투명 필름(200)의 일면에 발생한 정전기를 제거하는 역할을 수행할 수 있으며, 이로 인하여 상기 광학 필름(100)의 표면의 손상을 억제할 수 있고, 이물 부착으로 인한 추가 불량을 예방할 수 있는 이점이 있다.Specifically, it may serve to remove static electricity generated on one surface of the transparent film 200 in contact with the optical film 100, thereby suppressing damage to the surface of the optical film 100, There is an advantage that can prevent additional defects due to foreign matter adhesion.

또한, 본 발명의 광학 필름(100)의 결함 검출 장치는 상기 광원(40)과 광학 필름(100) 사이의 광로 중에 광원(40)에 인접 배치되는 검사용 위상차 필터(300)와 광학 필름(100)에 인접 배치되는 검사용 편광 필터(400)가 배치된다.In addition, the defect detection device of the optical film 100 of the present invention includes a phase difference filter 300 and an optical film 100 for inspection disposed adjacent to the light source 40 in the optical path between the light source 40 and the optical film 100 ) Is disposed adjacent to the inspection polarizing filter 400.

본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법 및 장치는, 상기 광학 필름(100)과 상기 투명 필름(200)이 접한 상태에서 결함 검사를 수행하기 때문에, 검사 과정 중 발생하는 컬을 억제할 수 있고, 상기 광학 필름(100) 자체에 컬이 형성되어 있는 경우, 요컨대 플렉서블한 광학 필름(100)의 검사도 용이한 이점이 있으며, 검사용 편광 필터(400) 및 검사용 위상차 필터(300)를 포함함으로써 위상차층이 포함된 광학 필름(100)의 이물로 인하 결함이나 위상차 결함을 보다 용이하게 검출 할 수 있고, 상기 검사용 편광 필터(400) 및 검사용 위상차 필터(300)를 점착제 또는 접착제로 접합하지 않은 형태로 적층시킴으로써, 이물의 시인성이 향상되어 보다 작은 사이즈의 이물까지도 정밀하게 검출할 수 있는 이점이 있다.Defect inspection method and apparatus of the optical film 100 according to the present invention, because the defect inspection is performed in the state in which the optical film 100 and the transparent film 200 are in contact, to suppress the curl generated during the inspection process If the curl is formed on the optical film 100 itself, in short, the inspection of the flexible optical film 100 also has an advantage, and the polarization filter 400 for inspection and the phase difference filter 300 for inspection By including, it is possible to more easily detect a reduction defect or a phase difference defect with a foreign material of the optical film 100 containing the phase difference layer, and the polarization filter 400 for inspection and the phase difference filter 300 for inspection are adhesives or adhesives. By stacking in a form that is not bonded to each other, the visibility of the foreign matter is improved, and there is an advantage that even foreign matter of a smaller size can be accurately detected.

이하, 본 발명의 이해를 돕기 위하여 바람직한 실시예를 제시하나, 하기 실시예는 본 발명을 예시하는 것일 뿐 본 발명의 범주 및 기술사상 범위 내에서 다양한 변경 및 수정이 가능함은 당 업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속하는 것도 당연한 것이다. 이하의 실시예 및 비교예에서 함량을 나타내는 "%" 및 "부"는 특별히 언급하지 않는 한 중량 기준이다. Hereinafter, preferred examples are provided to help understanding of the present invention, but the following examples are merely illustrative of the present invention, and it is apparent to those skilled in the art that various changes and modifications are possible within the scope and technical scope of the present invention. It is also natural that such modifications and variations fall within the scope of the appended claims. In the following examples and comparative examples, "%" and "part" indicating content are based on weight unless otherwise specified.

제조예Manufacturing example 1: One: 편광자의Polarizer 제조 Produce

평균 중합도가 2,400, 비누화도 99.9몰% 이상인 두께 75㎛의 폴리비닐알콜 필름(VF-PS, KURARAY 사)을 습식으로 6배 1축 연신하고, 긴장 상태를 유지한 채로 60℃의 물(탈이온수)에 1분 동안 침지한 후, 요오드 : 요오드화칼륨 : 물의 중량비가 0.013 : 5 : 100인 55℃의 수용액에 300초 동안 침지하였다. 그 후, 10℃의 물로 5초 동안 세정한 후 45℃에서 4분간 건조하여 폴리비닐알콜 수지에 요오드가 흡착 배향된 편광자를 제조하였다.A polyvinyl alcohol film (VF-PS, KURARAY Co., Ltd.) having a thickness of 75 µm with an average degree of polymerization of 2,400 and a saponification degree of 99.9 mol% or more is uniaxially stretched six times by wet and water at 60 ° C. (deionized water) After immersing in) for 1 minute, it was immersed in a 55 ° C aqueous solution having an iodine: potassium iodide: water weight ratio of 0.013: 5: 100 for 300 seconds. Thereafter, after washing for 5 seconds with water at 10 ° C. and drying at 45 ° C. for 4 minutes, a polarizer in which iodine was adsorbed and oriented in a polyvinyl alcohol resin was prepared.

제조예Manufacturing example 2: 편광 필름의 제조 2: Preparation of polarizing film

제조예Manufacturing example 2-1( 2-1 ( SampleSample #1) #One)

상기 제조예 1에서 제조된 편광자의 일면 상에 두께 5 ㎛의 제1점착제층(아크릴계 점착제, 린텍(주) 제조)을 배치하고, 상기 점착제층 상에 두께 2 ㎛의 λ/2 위상차층(후지필름(주) 제조)을 배치하였으며, 상기 λ/2 위상차층 상에 두께 5 ㎛의 제2점착제층(아크릴계 점착제, 린텍(주) 제조) 를 배치하고 상기 제2점착제층 상에 λ/4 위상차층(후지필름(주) 제조)을 배치하였으며, 상기 λ/4 위상차층 상에 두께 5 ㎛의 제3점착제층(아크릴계 점착제, 린텍(주) 제조)을 배치하고, 상기 제3점착제층 상에 TAC필름을 적층함으로써 편광 필름을 제조하였다.A first adhesive layer (acrylic pressure-sensitive adhesive, manufactured by Lintec Co., Ltd.) having a thickness of 5 μm is disposed on one surface of the polarizer prepared in Preparation Example 1, and a λ / 2 phase difference layer having a thickness of 2 μm (fuji) Film Co., Ltd.) was disposed, and a second adhesive layer (acrylic adhesive, manufactured by Lintec Co., Ltd.) having a thickness of 5 μm was disposed on the λ / 2 phase difference layer, and λ / 4 phase difference on the second adhesive layer. A layer (manufactured by Fuji Film Co., Ltd.) was disposed, and a third adhesive layer (acrylic adhesive, manufactured by Lintec Co., Ltd.) having a thickness of 5 μm was disposed on the λ / 4 phase difference layer, and on the third adhesive layer. A polarizing film was prepared by laminating a TAC film.

제조예Manufacturing example 2-2 및 2-3( 2-2 and 2-3 ( SampleSample #2, #2, SampleSample #3) # 3)

상기 제조예 2-1과 동일한 구성 및 방법으로 편광 필름을 각각 제조하였다.Each of the polarizing films was manufactured in the same configuration and method as in Production Example 2-1.

실험예Experimental example 1: 이물 검출 크기 비교 1: Comparison of foreign object detection size

상기 제조예예서 제조된 각각의 편광 필름을 본 발명의 결함 검출 장치에 도입하여 실험을 진행하였다. 광원과 편광 필름 사이에 검사용 편광 필터 및 검사용 위상차 필터를 위치시켰으며, 상기 검사용 편광 필터는 광원에 인접하는 방향으로 배치하고, 상기 검사용 위상차 필터는 편광 필름에 인접하는 방향으로 상기 두 필터를 적층하였다. 상기 검사용 편광 필터는 편광 필터의 흡수축과 상기 편광 필름 내에 포함되는 편광자의 흡수축이 서로 직교하여 크로스 니콜의 상태가 되도록 배치하였으며, 검사용 위상차 필터의 경우 검사용 편광필터와 축 각도가 45° 차이가 발생하도록 배치하였다.Each polarizing film prepared in the above manufacturing example was introduced into the defect detection device of the present invention to conduct an experiment. An inspection polarization filter and an inspection retardation filter were positioned between the light source and the polarizing film, and the inspection polarization filter was disposed in a direction adjacent to the light source, and the inspection retardation filter was placed in the direction adjacent to the polarizing film. The filters were stacked. The inspection polarization filter was disposed such that the absorption axis of the polarization filter and the absorption axis of the polarizer included in the polarizing film were orthogonal to each other to form a cross-Nicol state. In the case of the inspection retardation filter, the inspection polarization filter and the axial angle were 45 ° Placed to make a difference.

이 때, 동일한 편광 필름을 대상으로 실시예의 경우 상기 두 필터를 점착제나 접착제 없이 단순 적층 시킨 상태로 평가를 진행하였으며, 비교예의 경우 상기 두 필터를 PSA 점착제를 이용하여 접착시킨 상태로 평가를 진행하였다. At this time, in the case of an example targeting the same polarizing film, the evaluation was conducted in a state in which the two filters were simply laminated without an adhesive or an adhesive, and in the case of a comparative example, the evaluation was conducted in a state in which the two filters were bonded using a PSA adhesive. .

Dalsa Line Scan Camera P3-8K Model을 이용하여, 편광 필름의 표면 이미지 영상을 획득하였으며, 검출된 이물의 크기를 측정하여 그 결과를 하기 표 1 및 도 3에 기재하였다.Using the Dalsa Line Scan Camera P3-8K Model, a surface image image of a polarizing film was obtained, and the size of the detected foreign matter was measured and the results are shown in Table 1 and FIG. 3 below.

(단위: ㎛)(Unit: μm) 실시예Example 비교예Comparative example 제조예 1(Sample #1)Preparation Example 1 (Sample # 1) 8686 5454 제조예 2(Sample #2)Preparation Example 2 (Sample # 2) 122122 9191 제조예 3(Sample #3)Preparation Example 3 (Sample # 3) 9191 7272

상기 표 1 및 도 3을 참고하면, 본 발명에서 제시하는 대로 검사용 편광 필터와 검사용 위상차 필터를 점착제 또는 접착제를 이용하여 접합하지 않은 상태로 평가를 진행하는 경우(실시예) 동일한 이물의 크기가 보다 크게 검출되어 검출이 용이한 것을 확인할 수 있었다.Referring to Table 1 and FIG. 3, when the evaluation is performed without bonding the inspection polarization filter and the inspection phase difference filter using an adhesive or an adhesive as presented in the present invention (Example) Size of the same foreign material It was confirmed that the detection was easy because it was detected larger.

실험예Experimental example 2: 2: 위상차Phase difference 결함 평가 Defect evaluation

상기 실험예 1과 동일한 방법으로 평가를 진행하였으며, 이 때, 위상차 결함은 획득된 이미지의 배경의 평균 밝기값과 검출된 결함의 밝기 값 중 최대치와의 차이를 계산하였으며, 그 결과를 하기 표 2 및 도 4에 기재하였다.Evaluation was performed in the same manner as in Experimental Example 1, and at this time, the phase difference defect was calculated by calculating the difference between the average brightness value of the background of the acquired image and the maximum value among the brightness values of the detected defects, and the results are shown in Table 2 below. And FIG. 4.

실시예Example 비교예Comparative example 제조예 1(Sample #1)Preparation Example 1 (Sample # 1) 5252 3535 제조예 2(Sample #2)Preparation Example 2 (Sample # 2) 108108 9595 제조예 3(Sample #3)Preparation Example 3 (Sample # 3) 7070 5252

상기 표 2 및 도 4를 참고하면, 본 발명에서 제시하는 대로 검사용 편광 필터와 검사용 위상차 필터를 점착제 또는 접착제를 이용하여 접합하지 않은 상태로 평가를 진행하는 경우(실시예) 동일한 검사체를 대상으로 하였을 때, 위상차 결함이 보다 효과적으로 검출되는 것을 확인할 수 있었다.Referring to Tables 2 and 4 above, as described in the present invention, when the evaluation is performed without bonding the inspection polarization filter and the inspection phase difference filter using an adhesive or an adhesive (Example), the same inspection body is used. When targeting, it was confirmed that the phase difference defect was more effectively detected.

10: 스테이지 20: 권출롤
30: 권취롤 40: 광원
50: 영상획득부 60: 제1 가이드롤
70: 제2 가이드롤 80: 이오나이저
90: 스테이지 핀 100: 광학 필름
200: 투명 필름 300: 검사용 위상차 필터
400: 검사용 편광 필터10: stage 20: winding roll
30: winding roll 40: light source
50: image acquisition unit 60: first guide roll
70: second guide roll 80: ionizer
90: stage pin 100: optical film
200: transparent film 300: phase difference filter for inspection
400: polarization filter for inspection

Claims

(a) placing the optical film on the stage;
(b) unwinding the transparent film from the unwinding roll and placing it on the optical film;
(c) lowering the first and second guide rolls provided on the transparent film until the lower portion of the transparent film contacts the upper portion of the optical film;
(d) adjusting the image acquisition unit to be positioned on the upper portion of the optical film, and adjusting the light source to be located on the lower portion of the optical film;
(e) placing a polarization filter for inspection and a phase difference filter for inspection between the light source and the optical film or between the image acquisition unit and the light source;
(f) irradiating light to one surface of the optical film from a light source located under the optical film to detect defects in the optical film; And
(g) raising the first and second guide rolls;
The inspection polarization filter and the phase difference filter for inspection is a defect inspection method of an optical film, characterized in that the laminated form without bonding using an adhesive or an adhesive.

According to claim 1,
The optical film includes a polarizer and a retardation layer, wherein the polarization axis of the polarization filter for inspection is arranged to be in a positional relationship between the polarization axis of the polarizer and the cross-Nicol defect inspection method of the optical film.

According to claim 1,
The image acquisition unit comprises a telecentric lens inspection method of the optical film, characterized in that