KR20030093956A - Method for inspecting polarizing film and apparatus for the method - Google Patents
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Abstract
본 발명은 연속적으로 이동하는 적층 구조의 편광 필름의 결함, 특히 기포를 필름의 이동에 동반하는 폭 방향의 물결침 현상, 반송 중의 진동(불균일함) 등의 영향 없이 높은 정밀도로 검출하는 검사법, 및 검사 장치를 제공한다.The present invention is a test method for detecting with high accuracy without the influence of defects of the polarizing film of the laminated structure continuously moving, in particular, bubbles in the width direction accompanying the movement of the film, vibration (non-uniformity) during transportation, and the like, and Provide an inspection device.
연속적으로 이동하는 편광 필름의 표면측, 이면측에 각각 배치한 광원부와 검출부 및 필름의 이면측을 접촉하여 지지하는 반송 롤을 구비한 검사부를 2세트 갖는 검사 장치를 사용하는 것으로, 광원부, 검출부의 수광부의 어느 하나에 편광 필름의 흡수축과 크로스니콜(crossed nicol)을 이루는 투과축을 갖는 편광 부재가 설치되어 있고, 검사부에서 광원부의 광원으로써 반송 롤로 접촉하여 지지된 편광 필름을 조사하여 그 반사광을 검출부에서 검출한다.By using the inspection apparatus which has two sets of the light source part arrange | positioned on the front surface side and the back surface side of the continuously moving polarizing film, and the inspection part provided with the conveyance roll which contacts and supports the back surface side of a film, a light source part and a detection part A polarizing member having a transmission axis forming an absorption axis of the polarizing film and cross nicol is provided in one of the light receiving sections, and the inspection unit irradiates the polarizing film supported by the conveying roll as a light source of the light source unit to detect the reflected light. Detects at
Description
본 발명은 편광 필름의 결함, 특히 편광 필름의 표면이나 그 내부, 즉 편광 필름 구성 재료 적층 계면(계면(界面))에 존재하는 기포 결함을 검사하는 방법 및 장치에 관한것이다.The present invention relates to a method and an apparatus for inspecting defects of a polarizing film, in particular, bubble defects present on the surface of the polarizing film or inside thereof, that is, at the polarizing film constituent material laminated interface (interface).
편광 필름은 액정 셀의 양면에 점착 사용되고, 액정 표시용 패널의 일부로서 사용된다. 도 1에 액정 표시 패널의 구성의 일예를 단면도로 도시하였다. 액정 표시 패널(20)은 액정 셀(21)의 양면에 편광 필름(1)이 접합된 구성을 갖는다.The polarizing film is adhesively used on both surfaces of a liquid crystal cell, and is used as a part of the panel for liquid crystal displays. An example of the structure of a liquid crystal display panel is shown in sectional drawing in FIG. The liquid crystal display panel 20 has a structure in which the polarizing film 1 is bonded to both surfaces of the liquid crystal cell 21.
액정 표시는 소형화, 박형화가 가능한 동시에 소비 전력이 작다는 이점이 있고, 소형의 비디오 카메라, 휴대 전화, 카 네비게이션 시스템, 퍼스널 컴퓨터 등에 널리 사용되고 있다.Liquid crystal displays are advantageous in that they can be miniaturized and thinned, and they have low power consumption. They are widely used in small video cameras, mobile phones, car navigation systems, personal computers, and the like.
이러한 액정 표시 패널용의 제조에 사용되는 편광 필름의 구성은, 용도에 따라 다르지만, 예를 들면, 편광자 필름 자체의 한쪽 면 또는 양 면에 접착제층과 그 위에 적층된 보호 필름이 설치된 적층 구조로 되어 있다.Although the structure of the polarizing film used for manufacture for such a liquid crystal display panel differs according to a use, For example, it becomes a laminated structure provided with the adhesive bond layer and the protective film laminated | stacked on one side or both sides of the polarizer film itself. have.
이러한 편광 필름은 그 표면이나 내부, 즉 편광자 필름, 접착제층, 보호 필름 구성 재료 내부, 적층 계면에 기포가 존재하면 화상의 결함, 화질 저하의 원인이 되기 때문에, 편광 필름의 제조 단계에서 이러한 결함을 검사할 필요가 있다.Such a polarizing film may cause defects in the image and deterioration of image quality when bubbles exist on the surface or inside thereof, that is, inside the polarizer film, the adhesive layer, the protective film constituent material, and the laminated interface, and thus, such defects may be eliminated at the manufacturing stage of the polarizing film. Need to check
편광 필름의 기포를 검출하는 검사법으로서, 편광 필름의 한쪽 면에, 상기 필름에 대하여 비스듬하게 접촉하도록 광을 조사하고, 그 반사하는 광을 관찰하여 검사하는 방법, 편광 필름의 한쪽 면에 광을 조사하여, 반대면으로부터의 상기 필름을 투과하는 광을 관찰하는 검사법이 공지되어 있다.As a test method for detecting bubbles of a polarizing film, light is irradiated to one surface of the polarizing film at an angle so as to contact the film at an angle, the method of observing and inspecting the reflected light, and light is irradiated to one surface of the polarizing film. An inspection method for observing light passing through the film from the opposite side is known.
그러나, 편광 필름의 한쪽 면에 광을 조사하여, 상기 필름을 투과하는 광을 반대면으로부터 관찰하여 검사하는 방법에서는 검출되지 않는 기포가 많이 존재한다. 또한, 검사 위치에 있어서, 편광 필름의 한쪽 면측에 광원부가, 그리고 그 반대면측에 검출부를 설치하지 해야만 된다. 그렇게 하면, 그 사이는 필름이 구속되지 않은 상태가 되기 때문에, 폭 방향의 물결침 현상, 반송 중의 진동(불균일함) 등이 생겨, 검사부의 화상의 정밀도가 저하된다. 특히 최근에는 액정 디스플레이의 화질이 향상되어 밝고 선명한 화상이 형성된다. 이 때문에, 종래에는 문제되지 않았던 결함도 디스플레이의 결함이 된다. 또한 이 방법에서는 이물과 그 주위의 기포, 소위 핵이 없는 기포는 판별하기 쉽지만, 이물을 동반하지 않는 기포, 소위 핵이 있는 기포는 검출되기 힘들다는 문제를 갖는다. 따라서, 편광 필름의 검사에 있어서도, 작은 결함도 검출하는 정밀도가 요구되고, 상기의 검사법에서는 이러한 요청에 대응할 수 없다.However, there exist many bubbles which are not detected by the method which irradiates light to one surface of a polarizing film, and observes and examines the light which permeate | transmits the said film from the opposite surface. In addition, in a test | inspection position, the light source part must be provided in one surface side of a polarizing film, and a detection part must be provided in the opposite surface side. When it does so, the film will be in the state which is not restrained, and the wave direction of the width direction, the vibration (nonuniformity) during conveyance, etc. will arise, and the precision of the image of an inspection part will fall. In particular, in recent years, the image quality of liquid crystal displays is improved to form bright and clear images. For this reason, the defect which was not a problem in the past also becomes a defect of a display. In addition, this method has a problem in that it is easy to distinguish foreign matters, bubbles around them, and bubbles without a so-called nucleus, but bubbles that do not accompany foreign matters or bubbles with a so-called nucleus are difficult to detect. Therefore, also in the inspection of a polarizing film, the precision which also detects a small defect is calculated | required, and the said inspection method cannot respond to such a request.
이에 대하여, 편광 필름의 한쪽 면에, 상기 필름에 대하여 비스듬하게 접촉하도록 광을 조사하고, 그 반사하는 광을 관찰하여 검사하는 방법에서는 핵이 없는 기포는 밝기가 주위와 상이하기 때문에 보다 명확하게 검출 가능해지고, 또한 연속적으로 제조되는 편광 필름의 검사 부분에 있어서, 판형체에 다수의 구멍을 설치하여 검사 기판으로 하고, 이면측으로부터 슬라이딩 가능하게 흡인하고, 필름의 불균일함, 물결침을 억제하여 검사 정밀도를 높이는 것이 가능하다.On the other hand, in the method of irradiating light so as to contact one side of the polarizing film at an angle to the film at an oblique angle, and observing and inspecting the reflected light, bubbles without nuclei are detected more clearly because the brightness is different from the surroundings. In the inspection part of the polarizing film which becomes possible, and is continuously manufactured, many holes are provided in a plate-shaped object, and it is set as an inspection board, and it suctions so that sliding is possible from a back surface side, and it examines by suppressing the nonuniformity and wave of a film. It is possible to increase the precision.
그러나, 이 방법에서는 검사 기판과 편광 필름 사이에 약간의 틈이 발생하면 진공 흡착이 전체면에 있어서 해제되고, 필름의 불균일함, 물결침이 발생하여 검사 정밀도가 저하된다는 문제가 발생한다. 또한 편광 필름과 검사 기판의 슬라이딩 동작에 의해, 필름 표면에 상처가 나는 문제를 갖는다. 또한, 제조하는 편광 필름의 폭의 변경에 동반되는 진공 흡착의 폭을 변경하는 것이 어렵다는 문제도 갖는다.However, in this method, when a slight gap is generated between the inspection substrate and the polarizing film, vacuum adsorption is released on the whole surface, and a nonuniformity and wave of the film are generated, resulting in a problem of deterioration of inspection accuracy. Moreover, the sliding action of a polarizing film and a test board | substrate has a problem which a wound | wounds on the film surface. Moreover, there also exists a problem that it is difficult to change the width | variety of the vacuum adsorption accompanying the change of the width | variety of the polarizing film to manufacture.
본 발명의 목적은 연속적으로 이동하는 편광자 필름, 접착제층 및 보호 필름이 적층된 적층 구조의 편광 필름의 결함, 특히 기포 결함을, 필름의 이동에 동반하는 폭 방향의 물결침 현상, 반송 중의 진동(불균일함) 등의 영향 없이 높은 정밀도로 검출하는 검사법, 및 검사 장치를 제공하는 것에 있다.An object of the present invention is the wave phenomenon in the width direction accompanying the movement of the film, the defect of the polarizing film of the laminated structure in which the continuously moving polarizer film, the adhesive layer, and the protective film are laminated, and vibration during conveying ( It is an object of the present invention to provide a test method for detecting with high precision without the influence of nonuniformity), and an inspection device.
본 발명은 또한, 필름 표면에 상처내는 일이 없고, 제조하는 편광 필름의 폭의 변경이 있더라도 높은 정밀도로 결함을 검출할 수 있는 검사법, 및 검사 장치를 제공하는 것에 있다.This invention also provides the test | inspection method and test | inspection apparatus which can detect a defect with high precision, even if it does not scratch the film surface, and even if the width of the polarizing film to manufacture is changed.
도 1은 편광 필름을 사용하는 액정 표시 패널의 구성예를 도시한 단면도.1 is a cross-sectional view showing a configuration example of a liquid crystal display panel using a polarizing film.
도 2는 검사 대상의 5층 구조의 편광 필름의 구성과 결함의 예를 도시한 단면도.2 is a cross-sectional view showing an example of a configuration and a defect of a polarizing film having a five-layer structure as an inspection object.
도 3은 검사 대상의 3층 구조의 편광 필름의 구성과 결함의 예를 도시한 단면도.3 is a cross-sectional view showing an example of a configuration and a defect of a polarizing film having a three-layer structure as an inspection object.
도 4는 본 발명의 검사 장치의 구성예를 도시한 도면.4 is a diagram showing an example of the configuration of a test apparatus of the present invention.
도 5는 본 발명의 검사 장치의 검사부를 확대하여 도시한 도면.5 is an enlarged view of an inspection unit of the inspection apparatus of the present invention.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *
1: 편광 필름 21: 제 1 반송 롤1: Polarizing film 21: 1st conveyance roll
3: 광원 4: 슬릿3: light source 4: slit
5: 편광 부재 6: 검출기5: polarizing member 6: detector
12: 편광 필름 13: 보호 필름12: polarizing film 13: protective film
6: 접착제층 20: 액정 표시 패널6: adhesive layer 20: liquid crystal display panel
21′: 액정 셀 D: 검출부21 ': liquid crystal cell D: detection unit
E: 광원부E: light source
본 발명은 연속적으로 이동하는 편광 필름 내에 있는 결함을 반사광에 기초하여 검출하는 검사법으로서,The present invention is an inspection method for detecting a defect in a continuously moving polarizing film based on reflected light,
상기 필름의 표면측에 배치한 제 1 광원부와 제 1 검출부 및 상기 필름의 이면측을 접촉하여 지지하는 제 1 반송 롤을 구비한 제 1 검사부, 및 상기 필름의 이면측에 배치한 제 2 광원부와 제 2 검출부 및 상기 필름의 표면측을 접촉하여 지지하는 제 2 반송 롤을 구비한 제 2 검사부를 갖는 검사 장치를 사용하는 것으로,A first inspection portion provided with a first light source portion disposed on the front surface side of the film, a first detection portion, and a first conveyance roll for supporting the back surface side of the film; and a second light source portion disposed on the back surface side of the film; By using the inspection apparatus which has a 2nd inspection part and a 2nd inspection part provided with the 2nd conveyance roll which contacts and supports the surface side of the said film,
상기 제 1 광원부 및 제 1 검출부의 수광부의 어느 하나, 및 상기 제 2 광원부 및 제 2 검출부의 수광부의 어느 하나에 검사 대상인 편광 필름의 흡수축과 크로스니콜을 이루는 투과축을 갖는 편광 부재가 설치되어 있고,A polarizing member having a transmission axis forming cross nicol with an absorption axis of the polarizing film to be inspected is provided in any one of the light receiving parts of the first light source part and the first detection part, and one of the light receiving parts of the second light source part and the second detection part. ,
상기 제 1 검사부에서 상기 제 1 광원부의 광원으로써 상기 제 1 반송 롤로 접촉하여 지지된 편광 필름을 조사하여 그 반사광을 상기 제 1 검출부에서 검출하고, 상기 제 2 검사부에서 상기 제 2 광원부의 광원으로써 상기 제 2 반송 롤로 접촉하여 지지된 편광 필름을 조사하여 그 반사광을 상기 제 2 검출부에서 검출하는 것을 특징으로 한다.The first inspection unit irradiates the polarizing film supported by contact with the first conveyance roll as a light source of the first light source unit and detects the reflected light in the first detection unit, and the second inspection unit uses the light source as the light source of the second light source unit. It irradiates the polarizing film contacted and supported by the 2nd conveyance roll, and the reflected light is detected by the said 2nd detection part, It is characterized by the above-mentioned.
본 발명의 구성에 의하면, 편광 필름을 파지하여 반송하는 복수의 수단의 사이에서 검사 장치를 작동시키는 경우라도, 검사 장치가 반송 롤을 구비함으로써 필름의 검사 위치에 있어서 필름의 물결침이나 불균일함이 생기지 않고서, 정확한 결함을 검출할 수 있게 된다.According to the configuration of the present invention, even when the inspection apparatus is operated between a plurality of means for holding and conveying the polarizing film, the inspection apparatus is provided with a conveying roll so that the undulation and unevenness of the film at the inspection position of the film It is possible to detect an accurate defect without generating it.
또한, 검사 대상의 편광 필름이 반송 롤에 접촉한 부위에 있어서 검사를 하기 위해서, 얇아서 변형이 생기기 쉬운 편광 필름이라도, 높은 정밀도로 결함의 검출을 행할 수 있다.Moreover, in order to test | inspect in the site | part which the polarizing film of a test subject contacted a conveyance roll, even a thin polarizing film which is easy to produce a deformation | transformation can detect a defect with high precision.
더욱이, 제 1 광원부 또는 제 1 검출부의 수광부의 어느 하나, 및 제 2 광원부 또는 제 2 검출부의 수광부의 어느 하나에 검사 대상인 편광 필름의 흡수축과크로스니콜을 이루는 투과축을 갖는 편광 부재를 설치함으로써, 검사 대상의 편광필름의 반대면으로부터 검출기에 도달하는 광을 감소 내지 차단할 수 있고, 반송 롤의 표면의 먼지, 상처 등을 제품 결함으로서 검출하는 것이 방지된다.Furthermore, by providing a polarizing member having a transmission axis that forms a cross nicol with an absorption axis of the polarizing film to be inspected in either the light receiving portion of the first light source or the first detection portion, and the light receiving portion of the second light source or the second detection portion, The light reaching the detector from the opposite side of the polarizing film to be inspected can be reduced or blocked, and the detection of dust, scratches, etc. on the surface of the conveying roll as a product defect is prevented.
본 발명의 검사법은 광원 이외로부터의 산란광 등(미광)의 영향을 방지하기위해서, 기본적으로는 암실 내에서 행하는 것이 보다 바람직하다. 반송 롤은 불필요한 산란광의 영향을 저감시키는 관점에서, 적어도 표면을 흑색으로 하는 것이 바람직하다.In order to prevent the influence of scattered light or the like (slightly stray light) from a source other than the light source, the inspection method of the present invention is more preferably carried out in a dark room. It is preferable that a conveyance roll makes the surface black at least from a viewpoint of reducing the influence of unnecessary scattered light.
본 발명의 검사 장치에 있어서 사용하는 편광 부재는, 직선 편광광이 얻어지는 것이라면, 특히 한정 없이 사용 가능하지만, 구체적으로는 편광 필터, 편광 필름, 편광 렌즈, 편광자, 검광자 등이 예시된다.Although the polarizing member used in the inspection apparatus of the present invention can be used without particular limitation as long as linearly polarized light is obtained, specifically, a polarizing filter, a polarizing film, a polarizing lens, a polarizer, an analyzer, and the like are exemplified.
본 발명에서는 상기 제 1 검출부 및 제 2 검출부에서 얻어지는 결함을 나타내는 정보에 기초하여, 편광 필름의 결함 위치를 마킹하는 것이 바람직하다.In this invention, it is preferable to mark the defect position of a polarizing film based on the information which shows the defect obtained by the said 1st detection part and a 2nd detection part.
상기 구성에 의하면, 검사를 거친 편광 필름으로부터 불량 부분을 삭제하는 공정에 있어서, 검출된 결함 부위를 디스플레이로 되기 전에 제거할 수 있다. 마킹한 부위는 편광 필름을 소정 사이즈로 뚫을 때에 제외하거나, 혹은 최소 단위의 구획으로 하여 제거하여도 좋다.According to the said structure, in the process of deleting the defective part from the polarizing film which examined, WHEREIN: The detected defect site can be removed before it becomes a display. The marked portion may be removed at the time of drilling the polarizing film to a predetermined size or may be removed as a division of the minimum unit.
다른 본 발명은 연속적으로 이동하는 편광 필름 내에 있는 결함을 반사광에 기초하여 검출하는 편광 필름의 검사 장치로서,Another invention is an inspection apparatus of a polarizing film which detects defects in a continuously moving polarizing film based on reflected light,
상기 필름의 표면측에 배치한 제 1 광원부와 제 1 검출부 및 상기 필름의 이면측을 접촉하여 지지하는 제 1 반송 롤을 구비한 제 1 검사부, 및 상기 필름의 이면측에 배치한 제 2 광원부와 제 2 검출부 및 상기 필름의 표면측을 접촉하여 지지하는 제 2 반송 롤을 구비한 제 2 검사부를 갖고,A first inspection portion provided with a first light source portion disposed on the front surface side of the film, a first detection portion, and a first conveyance roll for supporting the back surface side of the film; and a second light source portion disposed on the back surface side of the film; It has a 2nd inspection part provided with the 2nd detection part and the 2nd conveyance roll which contacts and supports the surface side of the said film,
상기 제 1 광원부 및 제 1 검출부의 수광부의 어느 하나, 및 상기 제 2 광원부 및 제 2 검출부의 수광부의 어느 하나에 검사 대상인 편광 필름의 흡수축과 크로스니콜을 이루는 투과축을 갖는 편광 부재가 설치되어 있고,A polarizing member having a transmission axis forming cross nicol with an absorption axis of the polarizing film to be inspected is provided in any one of the light receiving parts of the first light source part and the first detection part, and one of the light receiving parts of the second light source part and the second detection part. ,
상기 제 1 검사부에서 상기 제 1 광원부의 광원으로써 상기 제 1 반송 롤로 접촉하여 지지된 편광 필름을 조사하여 그 반사광을 상기 제 1 검출부에서 검출하고, 상기 제 2 검사부에서 상기 제 2 광원부의 광원으로써 상기 제 2 반송 롤로 접촉하여 지지된 편광 필름을 조사하고 그 반사광을 상기 제 2 검출부에서 검출하도록 구성되어 있는 것을 특징으로 한다.The first inspection unit irradiates the polarizing film supported by contact with the first conveyance roll as a light source of the first light source unit and detects the reflected light in the first detection unit, and the second inspection unit uses the light source as the light source of the second light source unit. It is comprised so that the polarizing film contacted and supported by the 2nd conveyance roll may be irradiated, and the reflected light will be detected by the said 2nd detection part.
상기 구성의 검사 장치의 사용에 의해, 편광 필름을 파지하여 반송하는 복수의 수단의 사이에서 검사 장치를 작동시키는 경우라도, 검사 장치가 반송 롤을 구비하는 것에 의해 필름의 검사 위치에 있어서 필름의 물결침이나 불균일함이 생기는 일 없이, 정확한 결함의 검출이 가능해진다.Even when the inspection apparatus is operated between a plurality of means for holding and conveying the polarizing film by use of the inspection apparatus having the above-described configuration, the inspection apparatus is provided with a conveying roll so that the wave of the film at the inspection position of the film Accurate defects can be detected without needles or nonuniformities.
또한, 검사 대상의 편광 필름이 반송 롤에 접촉한 부위에 있어서 검사를 행하기 때문에, 얇아서 변형이 생기기 쉬운 편광 필름이라도, 높은 정밀도로 결함을 검출할 수 있다.Moreover, since a test | inspection is performed in the site | part which contacted the conveyance roll with the polarizing film of a test object, even a thin polarizing film which is easy to produce a deformation | transformation, a defect can be detected with high precision.
상기 제 1 검출부 및 제 2 검출부에서 얻어지는 결함을 나타내는 정보에 기초하여, 편광 필름의 결함 위치를 마킹하는 마킹 수단을 구비하고 있는 것이 바람직하다.It is preferable to provide marking means which marks the defect position of a polarizing film based on the information which shows the defect obtained by the said 1st detection part and a 2nd detection part.
(실시예)(Example)
본 발명의 실시예를 도면에 기초하여 설명한다.An embodiment of the present invention will be described based on the drawings.
도 2, 도 3에는 적층 구조의 편광 필름의 예에 관해서 단면을 확대하여, 검출하기 위해서 기포 결함을 모델적으로 도시하였다. 도 2는 보호 필름(13), 접착제층(16), 편광자 필름(12), 접착제층(16), 보호 필름(13)으로 구성되는 5층 구조를 갖는 편광 필름(1)의 예이다. 이 필름에 있어서, 최종 제품인 디스플레이의 결함이 되는 편광 필름(1)의 기포 결함은 a, b, c, d이다.In FIG.2, FIG.3, the bubble defect was modeled in order to enlarge and detect a cross section with respect to the example of the polarizing film of a laminated structure. 2 is an example of a polarizing film 1 having a five-layer structure composed of the protective film 13, the adhesive layer 16, the polarizer film 12, the adhesive layer 16, and the protective film 13. In this film, the bubble defect of the polarizing film 1 used as a defect of the display which is a final product is a, b, c, d.
도 3은 편광자 필름(12), 접착제층(16), 보호 필름(13)으로 구성되는 3층의 적층 구조를 갖는 편광 필름(1)의 예이다. 이 필름에 있어서는 e, f가 검출되는 기포 결함이다.3 is an example of a polarizing film 1 having a three-layer laminated structure composed of the polarizer film 12, the adhesive layer 16, and the protective film 13. In this film, e and f are bubble defects detected.
편광 필름의 구성 부재인 편광자 필름으로서는 공지의 편광자 필름이 사용된다. 구체적으로는, 고중합도의 폴리 비닐 알콜에 요소, 이색성 염료 등의 2색성 색소가 흡착 배향된 필름이 일반적이다.As a polarizer film which is a structural member of a polarizing film, a well-known polarizer film is used. Specifically, a film in which dichroic dyes such as urea and dichroic dye are adsorbed and oriented to polyvinyl alcohol of high polymerization degree is generally used.
보호 필름으로서는 트리아세틸셀룰로스(TAC)가 일반적으로 사용된다. 또한 접착제로서는, 저중합도의 폴리비닐알콜 등의 수용성 수지 등이 일반적으로 사용된다.As the protective film, triacetyl cellulose (TAC) is generally used. As the adhesive, a water-soluble resin such as polyvinyl alcohol having a low degree of polymerization is generally used.
도 4에, 화살표 방향으로 연속적으로 공급 반송되는 편광 필름(1)의 상면측에 배치한 광원부(E1), 검출부(D1) 및 상기 필름(1)의 하면측으로부터 접촉하여 지지하는 반송 롤(21)로 이루어지는 제 1 검사부(T1) 및 편광 필름(1)의 T 면측에 배치한 광원부(E2), 검출부(D2) 및 상기 필름(1)의 상면측으로부터 접촉하여 지지하는 반송 롤(22)로 이루어지는 제 2 검사부(T2)로 이루어지는 검사 장치의 구성예를 도시한다.The conveyance roll 21 which contacts and supports from the lower surface side of the light source part E1, the detection part D1, and the said film 1 arrange | positioned at the upper surface side of the polarizing film 1 supplied and conveyed continuously in the arrow direction to FIG. With the conveyance roll 22 which contacts and supports from the upper surface side of the light source part E2, the detection part D2, and the said film 1 arrange | positioned at the T plane side of the 1st test | inspection part T1 and the polarizing film 1 which consist of The structural example of the test | inspection apparatus which consists of a 2nd test | inspection part T2 which consists of is shown.
검사 대상인 편광 필름(1)은 제 1 반송 롤(21)과 w1의 범위로써 접촉하고, 제 2 반송 롤(22)과 w2의 범위로써 접촉한다. 광원부(E1)는 편광 필름(1)과 제 1 반송 롤(21)과의 접촉 범위(w1)에서 편광 필름 상면을 조사하고, 검출부(D1)에서 그 반사광을 수광한다. 또한 광원부(E2)는 편광 필름(1)과 제 2 반송 롤(22)의 접촉 범위(w2)에 있어서 편광 필름 하면을 조사하여, 검출부(D2)에서 그 반사광을 수광한다. 광원부(E1, E2)에는 적당한 슬릿(4)을 설치하여 편광 필름이 필요한 검사 부위만을 조사하도록 구성하여도 좋다.The polarizing film 1 which is a test object contacts with the 1st conveyance roll 21 in the range of w1, and makes contact with the 2nd conveyance roll 22 in the range of w2. The light source part E1 irradiates a polarizing film upper surface in the contact range w1 of the polarizing film 1 and the 1st conveyance roll 21, and receives the reflected light in the detection part D1. Moreover, the light source part E2 irradiates the lower surface of a polarizing film in the contact range w2 of the polarizing film 1 and the 2nd conveyance roll 22, and receives the reflected light in the detection part D2. Appropriate slits 4 may be provided in the light source sections E1 and E2 so as to irradiate only inspection sites where a polarizing film is required.
광원부(E1, E2)에는 광원(3)이 설치되어 있고, 검출부(D1, D2)에는 검출기(6)가 설치되어 있다. 광원(3)은 형광등 등의 입수하기 쉬운 것을 사용할 수 있고, 발광부의 폭이 넓은 타입을 사용하면, 필름 표면에 다소의 요철이 있더라도 검사 결과에 주는 영향을 적게 할 수 있다. 편광 필름(1)의 접선에 수직인 면과 광원이 이루는 각(θ)은 30 내지 45도인 것이 바람직하다.The light source 3 is provided in the light source parts E1 and E2, and the detector 6 is provided in the detection parts D1 and D2. The light source 3 can be easily obtained, such as a fluorescent lamp, and when a wide type of light emitting part is used, even if there are some irregularities on the surface of the film, the influence on the inspection result can be reduced. It is preferable that the angle (theta) which the surface perpendicular | vertical to the tangent of the polarizing film 1 and the light source make is 30-45 degree.
θ를 상기 범위에 설정함으로써, 동일한 광원부와 검출부를 사용한 경우라도 특히 높은 정밀도로 결함을 검출할 수 있다. 검출부(D1, D2)는 예를 들면 검출기(6)로서 CCD를 사용하고, CCD로부터의 광의 정보에 의해, 기포에 의한 광의 반사를 밝기의 변화로서 검출하는 검출 수단으로 구성된 것이라도 좋고, CCD로부터의 광의 정보로부터 화상을 형성하여 기포, 이물을 화상 처리에 의해서 검출하는 검출 수단을 사용하여도 좋다. 필요에 따라서 CCD는 필름의 폭 방향으로 복수대병설하여 폭 방향의 전체 영역을 검사 가능하게 구성한다.By setting θ in the above range, the defect can be detected with particularly high accuracy even when the same light source unit and the detection unit are used. The detection units D1 and D2 may use, for example, a CCD as the detector 6, and may be constituted by detection means for detecting the reflection of light due to bubbles as a change in brightness based on the light information from the CCD. You may use the detection means which forms an image from the information of the light, and detects a bubble and a foreign material by image processing. If necessary, a plurality of CCDs are arranged in parallel in the width direction of the film so as to be able to inspect the entire area in the width direction.
검사 장치의 제 1 반송 롤(21), 제 2 반송 롤(22)은 종동 롤이고, 반송 롤의 직경이 지나치게 작으면 휘어짐이 생겨 검사 정밀도가 저하되고, 반송 롤의 외경이 지나치게 크면 필름의 움직임에 따라 종동이 곤란해진다. 반송 롤(21, 22)의 외경은 약 100 내지 200mm의 범위인 것이 바람직하다.The 1st conveyance roll 21 and the 2nd conveyance roll 22 of a test | inspection apparatus are driven rolls, and when the diameter of a conveyance roll is too small, it will bend, and inspection precision will fall, and when the outer diameter of a conveyance roll is too large, the film will move. This makes driving difficult. It is preferable that the outer diameter of the conveying rolls 21 and 22 is about 100-200 mm.
도 5는 본 발명의 검사법을 확대하여 모델적으로 도시한 것이다. 여기서는 도 4의 제 1 검사부에서, 도 2의 구성을 갖는 5층 구조(접착제층은 생략하고 도면상은 3층으로 표시하고 있다.)를 갖는 편광 필름을 검사하는 예를 도시하였다. 제 2 검사부에서도, 완전하게 동일한 검사를 한다.5 is an enlarged model of the inspection method of the present invention. Here, the example which test | inspected the polarizing film which has the 5-layered structure (adhesive layer is abbreviate | omitted and shown by three layers on the drawing) which has the structure of FIG. 2 in the 1st inspection part of FIG. 4 was shown. In the second inspection section, the same inspection is performed completely.
광원부(E1)로부터 보내진 광은 검사 위치인 S 위치에 있어서 편광 필름(1)을 조사하고, 이 S 위치로부터의 반사광이 검출부(D1)에 수광된다. 적층 편광 필름(1)을 구성하는 편광자 필름(12)은 검출부(D1)의 편광 부재(5)와 크로스니콜에 구성되어 있기 때문에, 반송 롤(21)의 표면까지 도달한 조명광은 검출부에 도달하지 않는다. 따라서, 기포(p1; 도 2에 있어서의 기포 a, b)는 검출되지만, 반송 롤 표면의 이물은 검출되지 않는다. 기포(p3; 도 2에 있어서의 기포 c, d)는 제 2 검출부에서 검출된다.The light sent from the light source part E1 irradiates the polarizing film 1 in the S position which is an inspection position, and the reflected light from this S position is received by the detection part D1. Since the polarizer film 12 which comprises the laminated polarizing film 1 is comprised by the polarizing member 5 and cross nicol of the detection part D1, the illumination light which reached the surface of the conveyance roll 21 does not reach a detection part. Do not. Accordingly, bubbles p1 (bubbles a and b in FIG. 2) are detected, but foreign matter on the conveying roll surface is not detected. Bubble p3 (bubbles c and d in FIG. 2) are detected by a 2nd detection part.
결함의 마킹은 예를 들면, 편광 필름의 가로 방향으로 복수의 인자체를 일정한 피치로 배열하고, 불량 부분을 포함하는 구분에 상당하는 인자체를 필름 표면에 가압하여 인자하는 방법 등을 들 수 있다.For example, the marking of defects may include a method of arranging a plurality of printing elements at a constant pitch in the horizontal direction of the polarizing film, and pressing and printing the printing material corresponding to the division including the defective part on the film surface. .
본 발명의 검사법은 액정 표시반의 실제의 사용 시에는 박리하는 보호 필름이 편광 반사판의 표면에 적층되어 있어도, 검사는 가능하다.In the inspection method of this invention, even when the protective film which peels at the time of actual use of a liquid crystal display panel is laminated | stacked on the surface of a polarizing reflection plate, inspection is possible.
본 발명의 검사 수단으로서, 광원과 검출기를 복수의 배열하는 구성이나, 단수의 띠형 내지 직관형의 광원과 복수의 검출기를 장착한 구성을 채용하는 것도 가능하다. 또한, 검출부로서, 검출기를 라인 센서로서 배열한 경우나, 에어리어 센서로서 배열한 경우의 어떠한 것도 채용할 수 있다.As the inspection means of the present invention, it is also possible to adopt a configuration in which a plurality of light sources and detectors are arranged, or a configuration in which a single band-to-straight light source and a plurality of detectors are mounted. As the detection unit, any case where the detector is arranged as a line sensor or when the detector is arranged as an area sensor can be adopted.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따라서, 연속적으로 이동하는 편광자 필름, 접착제층 및 보호 필름이 적층된 적층 구조의 편광 필름의 결함, 특히 기포 결함을, 필름의 이동에 동반하는 폭 방향의 물결침 현상, 반송 중의 진동(불균일함) 등의 영향 없이 높은 정밀도로 검출하는 검사법, 및 검사 장치를 제공한다. 또한, 필름 표면에 상처내는 일이 없고, 제조하는 편광 필름의 폭의 변경이 있더라도 높은 정밀도로 결함을 검출할 수 있는 검사법, 및 검사 장치를 제공하는 것이다.As described above, according to the present invention, the wave direction phenomenon in the width direction accompanying the movement of the film is accompanied by defects of the polarizing film of the laminated structure in which the continuously moving polarizer film, the adhesive layer and the protective film are laminated. And an inspection method for detecting with high accuracy without the influence of vibration (non-uniformity) during conveyance, and an inspection apparatus. Moreover, it does not scratch the film surface, Even if there is a change of the width of the polarizing film to manufacture, it is providing the inspection method which can detect a defect with high precision, and an inspection apparatus.
Claims (4)
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002159669A JP2003344302A (en) | 2002-05-31 | 2002-05-31 | Method and equipment for inspecting polarization film |
| JPJP-P-2002-00159669 | 2002-05-31 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20030093956A true KR20030093956A (en) | 2003-12-11 |
Family
ID=29773962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR10-2003-0030806A KR20030093956A (en) | 2002-05-31 | 2003-05-15 | Method for inspecting polarizing film and apparatus for the method |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003344302A (en) |
| KR (1) | KR20030093956A (en) |
| CN (1) | CN100339700C (en) |
| TW (1) | TW200307118A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180101211A (en) * | 2017-03-03 | 2018-09-12 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | Defect inspection system, film manufacturing apparatus, film manufacturing method, printing apparatus, and printing method |
Families Citing this family (33)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006113022A (en) * | 2004-10-18 | 2006-04-27 | Toppan Printing Co Ltd | Defect detection device and method on antireflection film |
| KR100694807B1 (en) | 2005-02-23 | 2007-03-14 | (주)큐엠씨 | Polarizing film inspection method and system |
| KR100734750B1 (en) | 2005-04-28 | 2007-07-03 | 에버테크노 주식회사 | Jig for Inspecting Large Polarizing Film |
| JP2006337630A (en) * | 2005-06-01 | 2006-12-14 | Sumitomo Chemical Co Ltd | Method for manufacturing multilayer optical film |
| WO2006137385A1 (en) * | 2005-06-21 | 2006-12-28 | Gunze Limited | Film inspection apparatus and method |
| JP4775948B2 (en) * | 2005-11-17 | 2011-09-21 | 日東電工株式会社 | Optical display device manufacturing system and manufacturing method thereof |
| KR100788734B1 (en) * | 2005-12-05 | 2008-01-02 | 에버테크노 주식회사 | Polarizing Film Inspecting Apparatus and Method |
| KR100788733B1 (en) * | 2005-12-05 | 2007-12-26 | 에버테크노 주식회사 | Apparatus and Method for Inspecting Polarizing Film |
| JP4626764B2 (en) * | 2005-12-09 | 2011-02-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Foreign matter inspection apparatus and foreign matter inspection method |
| JP4979114B2 (en) * | 2006-02-02 | 2012-07-18 | 株式会社ニレコ | Defect detection apparatus for laminate film and defect detection method for laminate film |
| JP2009192307A (en) * | 2008-02-13 | 2009-08-27 | Gunze Ltd | Film inspection device |
| JP5415709B2 (en) * | 2008-03-31 | 2014-02-12 | 住友化学株式会社 | Polarizing film sorting system |
| WO2009128115A1 (en) | 2008-04-15 | 2009-10-22 | 日東電工株式会社 | Optical film layered roll and method and device for manufacturing the same |
| WO2010039135A1 (en) * | 2008-10-01 | 2010-04-08 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Camera web support |
| JP2010262265A (en) | 2009-04-10 | 2010-11-18 | Nitto Denko Corp | Optical film raw roll and method for manufacturing image display apparatus by using the same |
| WO2011018840A1 (en) * | 2009-08-11 | 2011-02-17 | トヨタ自動車株式会社 | Foreign material detecting device and foreign material detecting method |
| JP4503689B1 (en) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | Method and apparatus for continuous production of liquid crystal display elements |
| JP4503693B1 (en) | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | Continuous roll of cut-lined optical film laminate in the form of a continuous web, its manufacturing method and manufacturing apparatus |
| JP4503692B1 (en) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | Information storage / read operation system and method for manufacturing information storage / read operation system used in apparatus for continuously manufacturing liquid crystal display elements |
| JP4503690B1 (en) | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | Information storage / reading system used in an apparatus for continuously manufacturing liquid crystal display elements, and method and apparatus for manufacturing the information storage / reading system |
| JP4503691B1 (en) | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | Method and apparatus for continuous production of liquid layer display element |
| JP4774123B1 (en) * | 2010-03-18 | 2011-09-14 | 住友化学株式会社 | Method for inspecting bonding accuracy of polarizing plate and apparatus for inspecting bonding accuracy |
| KR101868083B1 (en) * | 2011-04-13 | 2018-06-19 | 삼성디스플레이 주식회사 | Jig unit for inspecting a display panel |
| JP5274622B2 (en) * | 2011-06-27 | 2013-08-28 | 富士フイルム株式会社 | Defect inspection apparatus and method |
| KR101990171B1 (en) * | 2012-04-11 | 2019-06-17 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | System for producing optical display device |
| JP6285658B2 (en) * | 2013-08-02 | 2018-02-28 | 住友化学株式会社 | Defect inspection system and film manufacturing apparatus |
| CN106353332B (en) * | 2015-07-15 | 2019-05-28 | 明眼有限公司 | Utilize the polarisation film detection apparatus of pattern light-transmitting plate |
| CN105158938B (en) * | 2015-08-31 | 2019-04-23 | 河北冀雅电子有限公司 | The choosing method of Polarizer Used for Liquid Crystal Display |
| CN107024482B (en) * | 2015-12-15 | 2020-11-20 | 住友化学株式会社 | Defect imaging device and method, film manufacturing device and method, and defect inspection method |
| TWI782086B (en) * | 2017-09-13 | 2022-11-01 | 日商住友化學股份有限公司 | Defect inspection apparatus, defect inspection method, manufacturing method of circular polarizing plate or oval polarizing plate, and manufacturing method of retardation plate |
| CN112740083B (en) * | 2018-07-30 | 2023-03-14 | 日本化药株式会社 | Marking device, marking method, polarizing plate manufacturing method, and polarizing plate |
| TWI791971B (en) * | 2020-04-08 | 2023-02-11 | 財團法人紡織產業綜合研究所 | Cloth inspection machine |
| KR20230046683A (en) * | 2021-09-30 | 2023-04-06 | 주식회사 엘지화학 | System for detecting foreign substance and defect of optical film |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61274244A (en) * | 1985-05-17 | 1986-12-04 | Toppan Printing Co Ltd | Transparent film inspector |
| JP3140664B2 (en) * | 1995-06-30 | 2001-03-05 | 松下電器産業株式会社 | Foreign matter inspection method and apparatus |
| JP3977503B2 (en) * | 1998-02-05 | 2007-09-19 | 住友化学株式会社 | Film inspection method and film inspection apparatus using the same |
| JP2001056270A (en) * | 1999-08-18 | 2001-02-27 | Sumitomo Chem Co Ltd | Linear polarizing plate inspection method and linear polarizing plate inspection device |
-
2002
- 2002-05-31 JP JP2002159669A patent/JP2003344302A/en active Pending
-
2003
- 2003-05-08 TW TW092112550A patent/TW200307118A/en unknown
- 2003-05-15 KR KR10-2003-0030806A patent/KR20030093956A/en not_active Application Discontinuation
- 2003-05-27 CN CNB031383262A patent/CN100339700C/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180101211A (en) * | 2017-03-03 | 2018-09-12 | 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 | Defect inspection system, film manufacturing apparatus, film manufacturing method, printing apparatus, and printing method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW200307118A (en) | 2003-12-01 |
| CN100339700C (en) | 2007-09-26 |
| JP2003344302A (en) | 2003-12-03 |
| CN1461948A (en) | 2003-12-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E601 | Decision to refuse application |