JP2011205586A - 画像処理装置、画像処理装置の制御方法及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】画像処理装置は、注目画素の周囲に位置する複数の画素の信号レベルに対する、注目画素の信号レベルの差分の大きさを示す第1の判定値を求める第1の判定手段と、注目画素の周囲に位置する複数の画素の信号レベルに対する、注目画素の信号レベルの差分の大きさのばらつきを示す第2の判定値を求める第2の判定手段を有する。第1の判定値は信号レベルの差分の大きさが大きいほど大きな値となり、第2の判定値は信号レベルの差分の大きさのばらつきが小さいほど大きな値となる。画像処理装置は、第1の判定値及び第2の判定値のいずれもが、予め定められた閾値以上である場合に、注目画素の信号を欠陥画素の信号として検出する検出手段を更に有する。
【選択図】図2
Description
Y=0.299R+0.587G+0.114B ・・・(式1)
傷判定回路215は、第1のHPF回路206乃至第4のHPF回路209によるHPF処理の結果の符号(正又は負)に応じて、注目画素の信号が欠陥画素の信号であるかどうかを示す傷フラグを出力する。また、傷判定回路215は、欠陥画素が白傷であるか黒傷であるかを示す白黒フラグとを出力する。ここで、白傷とは、暗状態で明るく見える欠陥画素であり、黒傷とは、入射光がある状態で暗く見える欠陥画素である。
HA≦TH2の場合
DL=0 ・・・(式2)
TH2<HA<TH1の場合
DL=SL1×(HA−TH2) ・・・(式3)
TH1≦HAの場合
DL=1 ・・・(式4)
但し、TH1=TH2+(255/SL1)
例えば、図5に示す例では、入力されるHPF処理の結果の絶対値HAが閾値TH1以上であれば、第1の傷レベル生成回路401乃至第4の傷レベル生成回路404は、傷レベルDL「255」を生成する。一方、入力されるHPF処理の結果の絶対値HAが閾値TH2以下であれば、第1の傷レベル生成回路401乃至第4の傷レベル生成回路404は、傷レベルDL「0」を生成する。また、入力されるHPF処理の結果の絶対値HAが閾値TH2より大きく、閾値TH1より小さければ、第1の傷レベル生成回路401乃至第4の傷レベル生成回路404は、入力されるHPF処理の結果の絶対値が大きいほど大きな値の傷レベルDLを生成する。
HB≦TH3の場合
D2=1 ・・・(式5)
TH3<HB<TH4の場合
D2=SL2×(HB−TH3)+255 ・・・(式6)
TH4≦HBの場合
D2=0 ・・・(式7)
但し、TH4=TH3−(255/SL2)
例えば、図7に示す例では、減算器607による減算の結果HBが閾値TH3以下であれば、傷レベル判定回路608は、第2の判定値D2「255」を生成する。一方、減算器607による減算の結果HBが閾値TH4以上であれば、傷レベル判定回路608は、第2の判定値D2「0」を生成する。また、減算器607による減算の結果HBが閾値TH3より大きく、閾値TH4より小さければ、傷レベル判定回路608は、減算器607による減算の結果(絶対値)が小さいほど大きな値の第2の判定値D2を生成する。
OUT=COR×K+ORG×(255−K) ・・・(式8)
上述したように、第3の判定値Kは、0乃至255の範囲の値である。注目画素が欠陥画素でない(正常な画素である)可能性が高い場合には「0」に近いため、加重加算回路802は、注目画素の信号レベルORGの重みを大きくして補正値CORと加重加算した信号レベル(即ち、欠陥画素が補正された画像データ)OUTを出力する。一方、注目画素が欠陥画素である可能性が高い場合には、第3の判定値Kが「255」に近いため、加重加算回路802は、補正値CORの重みを大きくして注目画素の信号レベルORGと加重加算した信号レベルOUTを出力する。あるいは、第3の判定値Kを所定の閾値と比較し、第3の判定値Kがこの閾値よりも小さければ注目画素の信号レベルORGを、そうでなければ式8に従って求めた値を、補正後の信号レベルOUTとして出力してもよい。
Claims (10)
- 複数の画素で構成された撮像素子で生成された画像データから、前記撮像素子の欠陥画素の信号を検出する画像処理装置であって、
注目画素の周囲に位置する複数の画素の信号レベルに対する、前記注目画素の信号レベルの差分の大きさを示す第1の判定値を求める第1の判定手段と、
前記注目画素の周囲に位置する複数の画素の信号レベルに対する、前記注目画素の信号レベルの差分の大きさのばらつきを示す第2の判定値を求める第2の判定手段と、
前記第1の判定値及び前記第2の判定値を用いて、前記注目画素の信号が欠陥画素の信号であるか否かを検出する検出手段と、を有し、
前記第1の判定値は前記差分の大きさが大きいほど大きな値となり、前記第2の判定値は前記差分の大きさのばらつきが小さいほど大きな値となるものであって、
前記検出手段は、前記第1の判定値及び前記第2の判定値のいずれもが、予め定められた閾値以上である場合に、前記注目画素の信号を欠陥画素の信号として検出することを特徴とする画像処理装置。 - 前記検出手段が、前記注目画素の信号を前記欠陥画素の信号として検出した場合に、前記注目画素の周囲に位置する画素から得られた信号レベルから求めた補正値を用いて、前記注目画素の信号レベルを補正する補正手段を更に有することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 複数の画素で構成された撮像素子で生成された画像データから、前記撮像素子の欠陥画素の信号を検出する画像処理装置であって、
注目画素の周囲に位置する複数の画素の信号レベルに対する、前記注目画素の信号レベルの差分の大きさを示す第1の判定値を求める第1の判定手段と、
前記注目画素の周囲に位置する複数の画素の信号レベルに対する、前記注目画素の信号レベルの差分の大きさのばらつきを示す第2の判定値を求める第2の判定手段と、
前記第1の判定値と前記第2の判定値を乗算して得られた値を用いて、前記注目画素の信号レベルと、前記注目画素の周囲に位置する画素の信号レベルから求めた補正値を重み付け加算することで、前記注目画素の信号レベルを補正する補正手段と、を有し、
前記第1の判定値は前記差分の大きさが大きいほど大きな値となり、前記第2の判定値は前記差分の大きさのばらつきが小さいほど大きな値となるものであって、
前記補正手段は、前記第1の判定値と前記第2の判定値を乗算して得られた値が大きいほど、前記補正値の重み付けを大きくすることを特徴とする画像処理装置。 - 前記第1の判定手段は、前記注目画素の周囲に位置する複数の画素のそれぞれの信号レベルについて、前記注目画素の信号レベルとの差分を求め、それぞれの差分から前記注目画素の信号が欠陥画素の信号である可能性を示す値を求め、求めた値を乗算することで前記第1の判定値を求めることを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記注目画素を含む領域において、前記注目画素を中心として複数の方向に対して高域通過フィルタ処理を行う処理手段を更に有し、
前記第1の判定手段は、前記高域通過フィルタ処理の結果の絶対値から、前記第1の判定値を求め、
前記第2の判定手段は、前記高域通過フィルタ処理の結果の絶対値のばらつきから、前記第2の判定値を求めることを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記処理手段は、前記注目画素を含む領域において、前記注目画素を中心として複数の方向に対して低域通過フィルタ処理を行ってから、前記高域通過フィルタ処理を行うものであり、
前記注目画素を中心としていずれかの方向に前記低域通過フィルタ処理を行ってから、前記注目画素を中心として前記低域通過フィルタ処理とは異なる方向に前記高域通過フィルタ処理を行うことを特徴とする請求項5に記載の画像処理装置。 - 互いに帯域の異なる高域通過フィルタ処理を行う複数の前記処理手段と、
複数の前記処理手段のそれぞれに対応して設けられた複数の前記第1の判定手段及び複数の前記第2の判定手段と、
いずれか1つの前記処理手段に対応した前記第1の判定手段と前記第2の判定手段によって求められた前記第1の判定値及び前記第2の判定値から得られた値を選択する選択手段と、を更に有することを特徴とする請求項5又は6に記載の画像処理装置。 - 複数の画素で構成された撮像素子で生成された画像データから、前記撮像素子の欠陥画素の信号を検出する画像処理装置の制御方法であって、
第1の判定手段が、注目画素の周囲に位置する複数の画素の信号レベルに対する、前記注目画素の信号レベルの差分の大きさを示すものであって、前記差分の大きさが大きいほど大きな値となる第1の判定値を求めるステップと、
第2の判定手段が、前記注目画素の周囲に位置する複数の画素の信号レベルに対する、前記注目画素の信号レベルの差分の大きさのばらつきを示すものであって、前記差分の大きさのばらつきが小さいほど大きな値となる第2の判定値を求めるステップと、
検出手段が、前記第1の判定値及び前記第2の判定値のいずれもが、予め定められた閾値以上である場合に、前記注目画素の信号を欠陥画素の信号として検出するステップと、
を有することを特徴とする制御方法。 - 複数の画素で構成された撮像素子で生成された画像データから、前記撮像素子の欠陥画素の信号を検出する画像処理装置の制御方法であって、
第1の判定手段が、注目画素の周囲に位置する複数の画素の信号レベルに対する、前記注目画素の信号レベルの差分の大きさを示すものであって、前記差分の大きさが大きいほど大きな値となる第1の判定値を求めるステップと、
第2の判定手段が、前記注目画素の周囲に位置する複数の画素の信号レベルに対する、前記注目画素の信号レベルの差分の大きさのばらつきを示すものであって、前記差分の大きさのばらつきが小さいほど大きな値となる第2の判定値を求めるステップと、
補正手段が、前記第1の判定値と前記第2の判定値を乗算して得られた値が大きいほど、前記注目画素の周囲に位置する画素の信号レベルから求めた補正値の重み付けを大きくして、前記注目画素の信号レベルと前記補正値を重み付け加算することで、前記注目画素の信号レベルを補正するステップと、
を有することを特徴とする制御方法。 - コンピュータを、請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載の画像処理装置が有する各手段として機能させるためのプログラム。
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