JP2008131161A - 欠陥画素検出装置、電子機器、及び欠陥画素検出プログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】注目画素を通過する1ドット単位の直線が存在する場合における欠陥画素の誤検出を抑えることができる欠陥画素検出装置を提供する。
【解決手段】ベイヤー配列の画像データの注目画素が赤(青)色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する1ドット単位の斜めの直線が存在するか否かを判定する(ステップS10参照)第1判定部と、ベイヤー配列の画像データの注目画素が緑色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する1ドット単位の上下の直線又は左右の直線が存在するか否かを判定する第2判定部と、注目画素が1ドット単位の直線上に存在すると判定された場合、前記注目画素を正常な画素として認識する(ステップS40参照)認識部とを備える欠陥画素検出装置。
【選択図】図2
【解決手段】ベイヤー配列の画像データの注目画素が赤(青)色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する1ドット単位の斜めの直線が存在するか否かを判定する(ステップS10参照)第1判定部と、ベイヤー配列の画像データの注目画素が緑色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する1ドット単位の上下の直線又は左右の直線が存在するか否かを判定する第2判定部と、注目画素が1ドット単位の直線上に存在すると判定された場合、前記注目画素を正常な画素として認識する(ステップS40参照)認識部とを備える欠陥画素検出装置。
【選択図】図2
Description
本発明は、ベイヤー配列の画像データの欠陥画素を検出する欠陥画素検出装置及びそれを備える電子機器並びにベイヤー配列の画像データの欠陥画素を検出するようにコンピュータを機能させるための欠陥画素検出プログラムに関するものである。
ベイヤー配列の画像データの欠陥画素を検出する欠陥画素検出方法に関する従来技術の一例を以下に説明する。
注目画素が赤色成分画素で有る場合、図4に示す注目画素R33を中心とする5×5画素の画素ブロックを用いて欠陥画素検出を行う。注目画素R33の信号レベルが注目画素R33の最も近くに存在する上下左右の四つの赤色成分画素R31,R35,R13,R53の信号レベル全てに対して極端に高い場合又は注目画素R33の最も近くに存在する上下左右の四つの画素R31,R35,R13,R53の信号レベル全てに対して極端に低い場合に、注目画素R33は欠陥画素として検出される。注目画素が青色成分画素で有る場合も同様の方法すなわち注目画素の最も近くに存在する上下左右の四つの青色成分画素を参照して欠陥画素を検出する。
注目画素が緑色成分画素で有る場合、図5に示す注目画素G33を中心とする5×5画素の画素ブロックを用いて欠陥画素検出を行う。注目画素G33の信号レベルが注目画素G33の最も近くに存在する左斜め上、左斜め下、右斜め上、右斜め下の四つの緑色成分画素G22,G24,G42,G44の信号レベル全てに対して極端に高い場合又は注目画素G33の最も近くに存在する左斜め上、左斜め下、右斜め上、右斜め下の四つの緑色成分画素G22,G24,G42,G44の信号レベル全てに対して極端に低い場合に、注目画素G33は欠陥画素として検出される。
特開2005−123946号公報
しかしながら、上記欠陥画素検出方法では、注目画素が赤色成分画素又は青色成分画素で有って、注目画素を通過する1ドット単位の斜めの直線(一例として、図6に注目画素R33を通過する周囲より暗い1ドット単位の右下がりの斜線を示す。)が存在する場合、注目画素が実際には欠陥画素でなくても欠陥画素として検出され、注目画素が緑色成分画素で有って、注目画素を通過する1ドット単位の上下又は左右の直線(一例として、図7に注目画素G33を通過する周囲より暗い1ドット単位の左右の直線を示す。)が存在する場合、注目画素が実際には欠陥画素でなくても欠陥画素として誤検出される。このように欠陥画素が誤検出されると、後段の補正回路での欠陥画素の信号レベルの補正によって、1ドット単位の直線が消去されてしまう。
また、ベイヤー配列の画像データの欠陥画素を検出する欠陥画素検出方法に関する従来技術の他の例として、特許文献1に開示されている欠陥画素検出方法がある。特許文献1に開示されている欠陥画素検出方法は、注目画素と同色成分の周辺画素の信号レベルの分散値を用いることで、欠陥画素検出の誤検出を少なくしているが、注目画素と同色成分の周辺画素8個のうち注目画素を通過する1ドット単位の直線に含まれる画素は2個しかないため、注目画素を通過する1ドット単位の直線が存在する場合に上記分散値が低い値になり、注目画素が実際には欠陥画素でなくても欠陥画素として検出されるおそれがあった。
本発明は、上記の状況に鑑み、注目画素を通過する1ドット単位の直線が存在する場合における欠陥画素の誤検出を抑えることができる欠陥画素検出装置及びそれを備える電子機器並びに欠陥画素検出プログラムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明に係る欠陥画素検出装置は、ベイヤー配列の画像データの欠陥画素を検出する欠陥画素検出装置であって、注目画素が赤色成分画素又は青色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する1ドット単位の斜めの直線が存在するか否かを判定する第1判定部と、注目画素が緑色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する1ドット単位の上下の直線又は左右の直線が存在するか否かを判定する第2判定部と、前記第1判定部又は前記第2判定部によって注目画素が1ドット単位の直線上に存在すると判定された場合、前記注目画素を正常な画素として認識する認識部とを備える構成としている。
このような構成によると、注目画素が1ドット単位の直線上に存在する場合に注目画素を正常な画素として認識するので、注目画素が1ドット単位の直線上に存在する場合に注目画素が実際には欠陥画素でなくても欠陥画素として誤検出されることを抑えることができる。
また、上記目的を達成するために、本発明に係る電子機器は、上記構成の欠陥画素検出装置と、前記欠陥画素検出装置によって検出された欠陥画素の画素データを補正する補正部とを有する画像処理装置を備える構成としている。本発明に係る電子機器の例としては、カメラ付き携帯電話装置、デジタルスチールカメラ、デジタルビデオカメラ等が挙げられる。
また、上記目的を達成するために、本発明に係る欠陥画素検出プログラムは、ベイヤー配列の画像データの欠陥画素を検出するための欠陥画素検出プログラムであって、コンピュータを、注目画素が赤色成分画素又は青色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する1ドット単位の斜めの直線が存在するか否かを判定する第1判定手段、注目画素が緑色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する1ドット単位の上下の直線又は左右の直線が存在するか否かを判定する第2判定手段、及び前記第1判定手段又は前記第2判定手段によって注目画素が1ドット単位の直線上に存在すると判定された場合、前記注目画素を正常な画素として認識する認識手段として機能させるようにする。
本発明によると、注目画素が1ドット単位の直線上に存在する場合に注目画素を正常な画素として認識するので、注目画素を通過する1ドット単位の直線が存在する場合における欠陥画素の誤検出を抑えることができる。
本発明の実施形態について図面を参照して以下に説明する。本発明に係る電子機器として、ここではカメラ付き携帯電話装置を例に挙げて説明する。
本発明に係るカメラ付き携帯電話装置の概略構成例を図1に示す。光学レンズ系1と、ベイヤー配列のカラーフィルタを有するCCD等の固体撮像素子2と、固体撮像素子2から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換部3とによって構成されるカメラモジュール4は、ベイヤー配列のデジタル画像データであるRAW形式の画像データを半導体集積回路装置である画像処理装置5に出力する。
画像処理装置5においては、カメラモジュール4から出力されたRAW形式の画像データをフレームメモリ6が一時的に保存し、欠陥画素検出装置7がRAW形式の画像データの欠陥画素を検出し、欠陥画素の画素データを欠陥画素の最も近くに存在する画素であって欠陥画素と同色成分の画素の画素データを演算処理して得られるデータに置換する等の補正処理によって補正部8が欠陥画素の画素データを補正し、画像処理部9が欠陥画素の画素データが補正されたRAW形式の画像データに色補間等の各種画像処理を施してRGB画像データを作成する。
CPU11によってプレビューモードに設定されている場合、画像処理装置5は、画像処理部9によって作成されたRGB画像データを液晶ディスプレイ等の表示装置12に出力する。これにより、カメラモジュール4によって撮像された画像が表示装置12に表示される。また、CPU11によって画像記録が指示されると、画像処理装置5は、画像処理部9によって作成されたRGB画像データをデータ圧縮部10での圧縮処理により圧縮画像データに変換した後、メモリカード等の外部記憶媒体が着脱可能に装着される記憶媒体インターフェース13にその圧縮画像データを出力し、その圧縮画像データを外部記憶媒体に書き込む。これにより、カメラモジュール4によって撮像された画像の圧縮データが外部記憶媒体に記録される。
また、図1に示す本発明に係るカメラ付き携帯電話装置は、アンテナ14と、アンテナ14を介して基地局と送受信する無線部15と、着信を音や振動によって報知する報知部16と、キー入力部17と、音声通話時に操作者が発する音声を入力して電気信号に変換する音声入力部18と、音声通話時に相手方の音声に応じた電気信号を音声に変換して出力する音声出力部19とを備えている。なお、表示装置12は、CPU11の制御によって電話番号等の表示も行う。
次に、欠陥画素検出装置7の動作について詳細に説明する。注目画素が赤色成分画素で有る場合、欠陥画素検出装置7は、図4に示す注目画素R33を中心とする5×5画素の画素ブロックを用いて図2に示すフローチャートの手順に従って欠陥画素検出を行う。
ステップS10において、欠陥画素検出装置7は、注目画素R33を通過する1ドット単位の斜めの直線が存在するか否かを判定する。かかる判定の一具体例としては、画素R11の信号レベルと注目画素R33の信号レベルとの差分が所定値以下であり、且つ画素R55の信号レベルと注目画素R33の信号レベルとの差分が所定値以下であれば、注目画素R33を通過する1ドット単位の斜めの直線(右下がりの斜線)が存在すると判定し、画素R51の信号レベルと注目画素R33の信号レベルとの差分が所定値以下であり、且つ画素R15の信号レベルと注目画素R33の信号レベルとの差分が所定値以下であれば、注目画素R33を通過する1ドット単位の斜めの直線(右上がりの斜線)が存在すると判定し、画素R11の信号レベルと注目画素R33の信号レベルとの差分及び画素R55の信号レベルと注目画素R33の信号レベルとの差分の少なくとも一つが所定値より大きく、且つ、画素R51の信号レベルと注目画素R33の信号レベルとの差分及び画素R15の信号レベルと注目画素R33の信号レベルとの差分の少なくとも一つが所定値より大きい場合、注目画素R33を通過する1ドット単位の斜めの直線が存在しないと判定するという手順が挙げられる。
ステップS10において注目画素R33を通過する1ドット単位の斜めの直線が存在すると判定された場合(ステップS10のYES)、後述するステップS40に移行する。
一方、ステップS10において注目画素R33を通過する1ドット単位の斜めの直線が存在すると判定されなかった場合(ステップS10のNO)、欠陥画素検出装置7は、注目画素R33が欠陥画素であるか否かを判定する。かかる判定の一具体例としては、注目画素R33の信号レベルLR33と注目画素R33の最も近くに存在する四つの赤色成分画素R31,R53,R35,R13の信号レベルLR31,LR53,LR35,LR13との各差分Δ1〜Δ4を求め、差分Δ1〜Δ4全てが予め設定された第1の閾値(負の値)より小さければ注目画素R33が欠陥画素(より詳細には白欠陥画素)であると判定し、差分Δ1〜Δ4全てが予め設定された第2の閾値(正の値)より大きければ注目画素R33が欠陥画素(より詳細には黒欠陥画素)であると判定するという手順が挙げられる。なお、差分Δ1〜Δ4は以下の(1)式〜(4)式によって求められる。
Δ1=LR31−LR33 ・・・(1)
Δ2=LR53−LR33 ・・・(2)
Δ3=LR35−LR33 ・・・(3)
Δ4=LR13−LR33 ・・・(4)
Δ1=LR31−LR33 ・・・(1)
Δ2=LR53−LR33 ・・・(2)
Δ3=LR35−LR33 ・・・(3)
Δ4=LR13−LR33 ・・・(4)
ステップS20において注目画素R33が欠陥画素でないと判定された場合(ステップS20のYES)、後述するステップS40に移行する。
一方、ステップS20において注目画素R33が欠陥画素であると判定された場合(ステップS20のNO)、後述するステップS30に移行する。
欠陥画素検出装置7は、ステップS30において注目画素R33を欠陥画素として検出し、ステップS40において注目画素R33を正常な画素として認識し、ステップS30又はステップS40の処理が終了するとフローを終了する。
注目画素が青色成分画素で有る場合には、欠陥画素検出装置7が、上述した注目画素が赤色成分画素で有る場合と同様の動作(上述した動作において赤色成分画素を青色成分画素に置換する)によって、欠陥画素検出を行うようにすればよい。
注目画素が緑色成分画素で有る場合、欠陥画素検出装置7は、図5に示す注目画素G33を中心とする5×5画素の画素ブロックを用いて図3に示すフローチャートの手順に従って欠陥画素検出を行う。
ステップS50において、欠陥画素検出装置7は、注目画素G33を通過する1ドット単位の上下の直線又は左右の直線が存在するか否かを判定する。かかる判定の一具体例としては、画素G31の信号レベルと注目画素G33の信号レベルとの差分が所定値以下であり、且つ画素G35の信号レベルと注目画素G33の信号レベルとの差分が所定値以下であれば、注目画素G33を通過する1ドット単位の上下の直線が存在すると判定し、画素G13の信号レベルと注目画素G33の信号レベルとの差分が所定値以下であり、且つ画素G53の信号レベルと注目画素G33の信号レベルとの差分が所定値以下であれば、注目画素G33を通過する1ドット単位の左右の直線が存在すると判定し、画素G31の信号レベルと注目画素G33の信号レベルとの差分及び画素G35の信号レベルと注目画素G33の信号レベルとの差分の少なくとも一つが所定値より大きく、且つ、画素G13の信号レベルと注目画素G33の信号レベルとの差分及び画素G53の信号レベルと注目画素G33の信号レベルとの差分の少なくとも一つが所定値より大きい場合、注目画素G33を通過する1ドット単位の直線が存在しないと判定するという手順が挙げられる。
ステップS50において注目画素G33を通過する1ドット単位の上下の直線又は左右の直線が存在すると判定された場合(ステップS50のYES)、後述するステップS80に移行する。
一方、ステップS50において注目画素G33を通過する1ドット単位の上下の直線又は左右の直線が存在すると判定されなかった場合(ステップS50のNO)、欠陥画素検出装置7は、注目画素G33が欠陥画素であるか否かを判定する。かかる判定の一具体例としては、注目画素G33の信号レベルLG33と注目画素G33の最も近くに存在する四つの緑色画素G22,G42,G24,G44の信号レベルLG22,LG42,LG24,LG44との各差分Δ5〜Δ8を求め、差分Δ5〜Δ8全てが予め設定された第3の閾値(負の値)より小さければ注目画素G33が欠陥画素(より詳細には白欠陥画素)であると判定し、差分Δ5〜Δ8全てが予め設定された第4の閾値(正の値)より大きければ注目画素G33が欠陥画素(より詳細には黒欠陥画素)であると判定するという手順が挙げられる。なお、差分Δ5〜Δ8は以下の(5)式〜(8)式によって求められる。
Δ5=LG22−LG33 ・・・(5)
Δ6=LG42−LG33 ・・・(6)
Δ7=LG24−LG33 ・・・(7)
Δ8=LG44−LG33 ・・・(8)
Δ5=LG22−LG33 ・・・(5)
Δ6=LG42−LG33 ・・・(6)
Δ7=LG24−LG33 ・・・(7)
Δ8=LG44−LG33 ・・・(8)
ステップS60において注目画素G33が欠陥画素でないと判定された場合(ステップS60のYES)、後述するステップS80に移行する。
一方、ステップS60において注目画素G33が欠陥画素であると判定された場合(ステップS60のNO)、後述するステップS70に移行する。
欠陥画素検出装置7は、ステップS70において注目画素G33を欠陥画素として検出し、ステップS80において注目画素G33を正常な画素として認識し、ステップS70又はステップS80の処理が終了するとフローを終了する。
また、本発明の他の実施形態として、コンピュータが、デジタルスチールカメラから出力されるベイヤー配列のデジタル画像データであるRAW形式の画像データを入力し、そのコンピュータが、図1中の画像処理装置5と同様の動作を行う実施形態が挙げられる。この場合、当該コンピュータは、本発明に係る欠陥画素検出プログラムによって、図1中の欠陥画素検出装置7と同様の動作を行う。
1 光学レンズ系
2 固体撮像素子
3 A/D変換部
4 カメラモジュール
5 画像処理装置
6 フレームメモリ
7 欠陥画素検出装置
8 補正部
9 画像処理部
10 データ圧縮部
11 CPU
12 表示装置
13 記憶媒体インターフェース
14 アンテナ
15 無線部
16 報知部
17 キー入力部
18 音声入力部
19 音声出力部
2 固体撮像素子
3 A/D変換部
4 カメラモジュール
5 画像処理装置
6 フレームメモリ
7 欠陥画素検出装置
8 補正部
9 画像処理部
10 データ圧縮部
11 CPU
12 表示装置
13 記憶媒体インターフェース
14 アンテナ
15 無線部
16 報知部
17 キー入力部
18 音声入力部
19 音声出力部
Claims (3)
- ベイヤー配列の画像データの欠陥画素を検出する欠陥画素検出装置であって、
注目画素が赤色成分画素又は青色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する1ドット単位の斜めの直線が存在するか否かを判定する第1判定部と、
注目画素が緑色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する1ドット単位の上下の直線又は左右の直線が存在するか否かを判定する第2判定部と、
前記第1判定部又は前記第2判定部によって注目画素が1ドット単位の直線上に存在すると判定された場合、前記注目画素を正常な画素として認識する認識部とを備えることを特徴とする欠陥画素検出装置。 - 請求項1に記載の欠陥画素検出装置と、前記欠陥画素検出装置によって検出された欠陥画素の画素データを補正する補正部とを有する画像処理装置を備えることを特徴とする電子機器。
- ベイヤー配列の画像データの欠陥画素を検出するための欠陥画素検出プログラムであって、
コンピュータを、
注目画素が赤色成分画素又は青色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する1ドット単位の斜めの直線が存在するか否かを判定する第1判定手段、
注目画素が緑色成分画素である場合に、所定の画素数からなり前記注目画素が含まれる画素ブロック内に前記注目画素を通過する1ドット単位の上下の直線又は左右の直線が存在するか否かを判定する第2判定手段、及び
前記第1判定手段又は前記第2判定手段によって注目画素が1ドット単位の直線上に存在すると判定された場合、前記注目画素を正常な画素として認識する認識手段として機能させるための欠陥画素検出プログラム。
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-
2006
- 2006-11-17 JP JP2006311553A patent/JP2008131161A/ja active Pending
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