JP2011187867A5 - - Google Patents
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ここで、物質層の層厚を1nm未満とすることでより強い接合強度が得られることについて説明する。上述した本実施の形態における接合方法は、まず、高い真空状態のほぼ酸素がなく清浄な環境下で、基板の接合面に極薄い物質層を形成し、この物質層を構成する物質の拡散現象を利用して2つの基板を接合しているものと考えることができる。この接合方法では、物質層が一様な膜となる前の不完全な層の状態の方が、活性が高く拡散速度も高いため、より高い接合強度が得られるものと考えられる。ここで、接合を行う処理室の内部は、10-6Pa以下の圧力(真空度)としておけば、自然酸化膜の形成が抑制されて十分な清浄環境となり、上述した接合が行えることが実験の結果判明している。例えば、スパッタを開始する前の初期段階で、処理室内を10-6Pa以下の圧力としておけばよい。また、スパッタを停止してからスパッタガスの供給を停止してより高い真空度としてから、着接を行って接合してもよい。なお、物質層としてAu,Pt,Agなどの貴金属やCuなどの酸化しにくい金属を用いる場合、接合を行う処理室の内部圧力が、10-4Pa程度であっても上述した接合が行える。
Priority Applications (1)
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JP2010054208A JP2011187867A (ja) | 2010-03-11 | 2010-03-11 | 接合方法および水晶素子 |
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JP2010054208A JP2011187867A (ja) | 2010-03-11 | 2010-03-11 | 接合方法および水晶素子 |
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JP2011187867A JP2011187867A (ja) | 2011-09-22 |
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