JP2011136308A - パターン描画装置およびパターン描画方法 - Google Patents

パターン描画装置およびパターン描画方法 Download PDF

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Abstract

【課題】高い位置精度の線パターンを短時間に描画することのできるパターン描画装置およびパターン描画方法を提供する。
【解決手段】パターン描画装置100は、インクジェットヘッドに形成され、線10Aを描画するために選択された吐出孔における両端の吐出孔間の中心を、線10Aの中心位置Pに一致させて描画された線の中心位置Qと、線10Aの中心位置Pとの差分Zを補正値として算出し、その補正値に基づいて、中心位置Qが中心位置Pに一致するように、描画情報を補正する描画情報補正部を備え、描画情報補正部によって補正された描画情報に基づいて線パターンを描画する。
【選択図】図3

Description

本発明は、直線状に並んだ複数の吐出孔を有するインクジェットヘッドを用いて、基板上に線パターンを描画するパターン描画装置およびパターン描画方法に関する。
従来、多種多様な基板に対して、インクジェット法により液滴を吐出して、基板面に複雑なパターニングを行う技術が注目されている。基板面のパターニングにインクジェット法を用いることにより、描画したいパターンを基板上に直接形成することができる。従来のリソグラフィを用いた印刷技術は、真空成膜工程、フォトリソグラフィ工程、エッチング工程、レジスト剥離工程といったコストの高い工程が必要になる。しかしながら、パターニングに所望の材料をインクジェット法で直接描画することにより、上記の工程を省略することができる。その結果、安価に回路基板を作成することができる。
しかしながらインクジェット法を、特にデバイス用途などの微細パターンの直接描画に適用するためには、パターンを位置精度高く描画する事が必要不可欠である。また、デバイス用途の微細パターンの描画で、製造工程の初期段階の工程でインクジェット法を適用した場合、描画したパターンが、後続の工程における位置合わせ精度により大きな影響を与える。このため、微細パターンの描画位置精度が低ければ、後続の工程での位置合わせ精度も低くなる。その結果、デバイスの特性に大きく影響を及ぼす。従って、特に微細パターンを描画する場合には、10μm以下のオーダーの描画位置精度が要求される。
例えば、特許文献1には、インクジェット法を用いた塗布方法が開示されている。特許文献1の塗布方法は、まず、所望の塗布領域を示す塗布画像情報(描画データ)からエッジ画像情報を抽出し、抽出したエッジ画像を基板に塗布する。そして、エッジ画像を塗布した後に、エッジ画像に囲まれた内部画像を基板に塗布する。これにより、ノズルから吐出される液滴の着弾位置のばらつきが低減され、描画位置精度の高いパターンが描画される。
特開2005−246248号公報(2005年9月15日公開)
しかし、特許文献1の方法は、描画するパターンのエッジ部分を先に描画した後、エッジ部分に囲まれた内部を描画する。すなわち、特許文献1の方法は、1つのパターンを描画するために、少なくとも2回以上の走査が必要になる。その結果、必然的にタクトタイムが長くなる。
従って、特許文献1の方法をデバイスの生産装置(製造装置)に適用した場合、タクトタイムの短縮を図ることができないという問題を生じる。
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、描画位置精度の高い線パターンを短時間に描画することのできるパターン描画装置およびパターン描画方法を提供することにある。
本発明のパターン描画装置は、上記の課題を解決するために、直線状に並んだ複数の吐出孔を有するインクジェットヘッドを備え、描画情報に基づいて液滴を吐出し、1回の走査で基板上に線パターンを描画するパターン描画装置において、上記インクジェットヘッドは、吐出孔の配列方向が、線パターンを構成する線の幅方向に対して傾斜して設けられており、上記線を描画するために選択された吐出孔における両端の吐出孔間の中心を、上記線の中心位置Pに一致させて描画された線の中心位置Qと、上記線の中心位置Pとの差分Zを補正値として算出し、その補正値に基づいて、上記中心位置Qが中心位置Pに一致するように、上記描画情報を補正する描画情報補正部を備え、上記描画情報補正部によって補正された描画情報に基づいて線パターンを描画することを特徴としている。
本発明のパターン描画方法は、上記の課題を解決するために、直線状に並んだ複数の吐出孔を有するインクジェットヘッドを備え、描画情報に基づいて液滴を吐出し、1回の走査で基板上に線パターンを描画するパターン描画方法において、上記インクジェットヘッドを、吐出孔の配列方向が、線パターンを構成する線の幅方向に対して傾斜させて設け、上記線を描画するために選択された吐出孔における両端の吐出孔間の中心を、上記線の中心位置Pに一致させて描画された線の中心位置Qと、上記線の中心位置Pとの差分Zを補正値として算出し、その補正値に基づいて、上記中心位置Qが中心位置Pに一致するように、上記描画情報を補正する描画情報補正ステップを含み、上記描画情報補正ステップによって補正された描画情報に基づいて線パターンを描画することを特徴としている。
上記の各発明によれば、インクジェットヘッドが有する吐出孔の配列方向が、線パターンを構成する線の幅方向に対して傾斜して設けられている。このため、線の幅方向には液滴の吐出タイミングが異なるため、基板上には液滴の着弾の早い部分と遅い部分とが生じる。その結果、後に着弾した液滴が、先に着弾した液滴の方向へ移動する。このため、上記線を描画するために選択された吐出孔における両端の吐出孔間の中心を、上記線の中心位置Pに一致させて線を描画すると、描画された線の線幅Yは、上記基板に描画されると予想される線幅Xよりも狭くなる。すなわち、上記描画された線の中心位置Qは、上記線の中心位置Pからずれてしまう。なお、線幅Xは、インクジェットヘッドの傾斜を考慮した実質ノズルピッチ×(選択されたノズル数−1)+液滴の拡がり)で算出される。
そこで、本発明では、描画情報補正部が、上記中心位置Qと、上記線の中心位置Pとの差分Zを補正値として算出し、その補正値に基づいて、上記中心位置Qが中心位置Pに一致するように、上記描画情報を補正する。そして、描画情報補正部によって補正された描画情報に基づいて線パターンが描画される。これにより、後に着弾した液滴が、先に着弾した液滴の方向へ移動することを考慮して、描画情報が補正される。従って、描画位置精度の高い線パターンを基板上に描画することができる。
しかも、上記の発明によれば、線パターンを構成する線が1回の走査で形成されるため、2回以上の走査が必要となる特許文献1の装置に比べて、パターン描画のタクトタイムを短縮することができる。
このように、本発明によれば、基板上に、高い位置精度の線パターンを短時間に描画することができる。従って、本発明は、10μmオーダー以下の描画位置精度が要求されるデバイス用途にも適用することができる。
なお、特許文献1の方法では、エッジ部分を先に描画し、内部をあとから描画するため、ノズルから吐出される液滴の着弾位置とパターン形成後の位置ずれは生じにくい。しかし、1つのパターンを描画するのに少なくとも2回以上の走査が必要になる。このため、タクトタイムの短縮を図ることができない。このため、特許文献1の方法は、デバイス用途には適さない。
本発明のパターン描画装置では、上記描画情報補正部は、上記補正された描画情報に基づいて、上記基板上に線パターンを描画する時の基板とインクジェットヘッドとの位置関係を補正することが好ましい。例えば、上記描画情報補正部は、上記補正された描画情報に基づいて、上記インクジェットヘッドの移動量または上記基板の移動量を補正することが好ましい。
上記の発明によれば、後に着弾した液滴が、先に着弾した液滴の方向へ移動することを考慮して補正された描画情報に基づいて、基板の移動量またはインクジェットヘッドの移動量が補正される。すなわち、補正された描画情報に基づいて、基板上に線パターンを描画する時の基板とインクジェットヘッドとの位置関係が補正される。従って、描画位置精度の高い線パターンを基板上に描画することができる。
本発明のパターン描画装置は、以上のように、上記線を描画するために選択された吐出孔における両端の吐出孔間の中心を、上記線の中心位置Pに一致させて描画された線の中心位置Qと、上記線の中心位置Pとの差分Zを補正値として算出し、その補正値に基づいて、上記中心位置Qが中心位置Pに一致するように、上記描画情報を補正する描画情報補正部を備え、上記描画情報補正部によって補正された描画情報に基づいて線パターンを描画する構成である。
また、本発明のパターン描画方法は、以上のように、上記線を描画するために選択された吐出孔における両端の吐出孔間の中心を、上記線の中心位置Pに一致させて描画された線の中心位置Qと、上記線の中心位置Pとの差分Zを補正値として算出し、その補正値に基づいて、上記中心位置Qが中心位置Pに一致するように、上記描画情報を補正する描画情報補正ステップを含み、上記描画情報補正ステップによって補正された描画情報に基づいて線パターンを描画する方法である。
それゆえ、基板上に、高い位置精度の線パターンを短時間に描画することができるという効果を奏する。また、10μmオーダー以下の描画位置精度が要求されるデバイス用途にも適用することができるという効果も奏する。
本発明のパターン描画装置の概略図である。 図1のパターン描画装置におけるインクジェットヘッドと基板に描画された線パターンとの関係を示す平面図である。 図1のパターン描画装置において、吐出孔の配列方向と描画される線との関係を示す平面図であり、(a)はインクの着弾痕の位置に基づいて設定された描画情報に基づいて描画される理想的な線を示し、(b)はインクの着弾痕の位置に基づいて設定された描画情報に基づいて描画された実際の線を示す。
本発明の一実施形態について図1〜図3に基づいて以下に説明する。
図1は、本実施形態のパターン描画装置100の概略図である。パターン描画装置100は、インクジェット方式によりインク(液滴)を吐出して、基板1上に線パターンを描画する。
具体的には、パターン描画装置100は、カセット2,基板取り出し部3,基板移送部4,基板ステージ5,搬送軸6,アライメント部7,印刷部8,基板払出し部9,ヘッドメンテナンス部13,制御部11,描画情報補正部12を備えている。
基板1は、搬送軸6の一端から他端へ搬送され、この搬送中に基板1上に線パターンが描画される。カセット2,基板取り出し部3,基板移送部4は、搬送軸6における搬送方向の上流側の端部近傍に設けられている。アライメント部7,印刷部8は、基板1の搬送方向の上流側からこの順で、必要に応じて搬送軸6上に移動されるように設けられている。基板払出し部9は、搬送軸6における搬送方向の下流側の端部近傍に設けられている。
カセット2は、線パターンの描画対象となる基板1を複数枚収容する。基板1としては、例えば、ガラス基板、シリコン基板などを挙げることができる。後述のように、パターン描画装置100は、高い位置精度の線パターンを描画することができる。従って、基板1は、各種デバイス用途の基板であることが好ましい。また、基板1は、アライメントマークが付いていることが好ましい。これにより、基板ステージ5上の基板1の載置位置を調整することができる。
基板取り出し部3は、線パターン描画時に、カセット2から1枚の基板1を取り出す。
基板移送部4は、任意の位置に移動できるアーム41を備えている。基板取り出し部3に取り出された基板1は、このアーム41によって、基板ステージ5に移送される。
基板ステージ5は、アーム41によって移送された基板1を載置する。基板ステージ5に、図示しない吸着口が形成されており、基板ステージ5上の基板1は、この吸着口によって真空吸着される。基板ステージ5は、図示しない加熱機構を有しており、描画するインク等の特性に応じて基板1を加熱できるようになっている。基板ステージ5は、搬送軸6上に設けられている。そして、基板ステージ5は、搬送軸6の上流側端部(実線部)から、下流側の端部(破線部)までを、図中の破線両矢印で示すように、搬送軸6に沿って両方向に移動できるようになっている。
アライメント部7は、基板ステージ5上に載置された基板1のアライメントを行う。本実施形態では、アライメント部7は、2つのアライメントカメラ71a,71bを備えている。そして、アライメントカメラ71a,71bによって、基板1に形成されたアライメントマークを捉え、基板1の位置合わせを行う。また、アライメント部7は、基板1の搬送方向に対して垂直方向に移動できる観察用カメラ72を備えており、必要に応じて描画後にステージを観察用カメラ72の直下に移動させ、パターンの確認、計測等に使用する。
印刷部8は、搬送された基板1に対しインク(液滴)を吐出し、基板1に線パターンを描画する。印刷部8は、搬送軸6に対向して配置され、インクを吐出するインクジェットヘッド82を1台備えたヘッドユニット81aと、ヘッドユニット81aを基板1の搬送方向に対して垂直方向に移動させるスライド81bとを備えている。なお、インクジェットヘッド82は、搬送方向に対して垂直な方向から、傾斜して設けられている。また、本実施形態においては、インクジェットヘッド82は、3相駆動のヘッドであり、3種類の駆動波形を組み合わせてインクジェットヘッド82からインクを吐出する。各相の駆動周波数(つまりインクの吐出周波数)の最大値は20kHzである。
基板払出し部9は、印刷部8を通過して、線パターンの描画が完了した基板1を、パターン描画装置100の外部へ移送する。基板払出し部9は、3つのアーム91,92,93を備えている。アーム91は、搬送軸6の他端に搬送された線パターンの描画が完了した基板1を、搬送軸6から持ち上げる。アーム92は、アーム91によって持ち上げられた基板1を受け取り、アーム93へ搬送する。アーム93は、搬送された基板1を後続する工程へと搬送する。
ヘッドメンテナンス部13は、定期的にインクジェットヘッド82のメンテナンスを行う。メンテナンス時には、インクジェットヘッド82が、スライド81bに沿って、ヘッドメンテナンス部13まで、基板1の搬送方向に対して垂直に移動する。このため、インクジェットヘッド82は、基板1の搬送経路から外れることになる。ヘッドメンテナンス部13に達したインクジェットヘッド82は、ヘッドメンテナンス部13が基板1の搬送方向に対して平行に移動することによって、メンテナンスが行われる。
制御部11は、メモリ、CPU等から構成され、格納されたプログラムに従って、パターン描画装置100の全体が制御される。具体的には、基板1に線パターンを描画するための描画情報が格納されている。パターン描画装置100は、この描画情報に基づいて、各部の動作が制御され、基板1上に線パターンが描画される。
ここで、描画情報として特に重要となるのが、線パターンの描画に関わる線パターン情報である。具体的には、基板1上に描画する線パターンの位置、各線の線幅、線ピッチ、線の長さ、線数、インクジェットヘッド82の吐出パターン(吐出タイミング,吐出ノズル(吐出孔)の選択,インクジェットヘッド82の移動量),インクジェットヘッド82の基板1に対する傾斜角度などが挙げられる。
なお、描画情報には、他にも、基板取り出し部3がカセット2から基板1を取り出すタイミング、基板移送部4の基板ステージ5への移送タイミング、基板ステージ5上の基板1の位置合わせ、基板1の搬送速度、ヘッドメンテナンス部13によるインクジェットヘッド82をメンテナンスするタイミングなどの各種情報も含まれる。
描画情報補正部12は、制御部11に格納された描画情報を補正する。後述のように、パターン描画装置100は、描画情報補正部12による描画情報の補正によって、高い位置精度の線パターンを描画することが可能となる。
以上のようにパターン描画装置100は、描画対象となる基板1が載置された基板ステージ5を搬送軸6に沿って移動させ、この搬送中にインクジェットヘッド82ヘッドからインクを吐出し、基板1上に高い位置精度の線パターンを描画する。
具体的には、描画処理を開始するには、まず、カセット2に描画対象となる基板1をセットする。次に、制御部11の指示により、基板取り出し部3が、カセット2から基板1を1枚取り出す。次に、基板移送部4のアーム41が、取り出された基板1を、基板ステージ5に移送する。基板ステージ5に基板1が載置されると、基板ステージ5と共に基板1が搬送軸6に沿って移動する。基板1がアライメント部7に達すると、アライメントカメラ71a,71bを用いて、基板ステージ5上の基板1の位置合わせを行う。例えば、基板1に形成された2個のアライメントマークを用いてアライメントを行う。アライメント終了後、印刷部8がインクの吐出準備を行う。すなわち、搬送軸6に対して直交する方向に可動なヘッドユニット81aを、メンテナンス位置から描画すべき適切な位置に移動させる。そして、基板1がヘッドユニット81aの直下を通過するときに、制御部11に格納された描画情報に基づくヘッド駆動信号により、基板1に対向するインクジェットヘッド82からインクが吐出される。これにより、基板1上に線パターンが描画されることになる。線パターンが描画された基板1は、基板払出し部9で基板ステージ5から取り出され、パターン描画装置100の外部に移送され、描画処理が終了する。このような処理を繰り返し、順次基板1に線パターンが描画される。
次に、インクジェットヘッド82を用いたインクの吐出について、より具体的に説明する。図2は、インクジェットヘッド82と基板1に描画された線パターン10との関係を示す平面図である。図2は、一例として、同一の2本の線10A,10Bからなる線パターン10が描画された基板1と、インクジェットヘッド82との関係を示す。なお、図2では、説明のため線パターン10を簡略化して記載しており、実際に基板1に描画される線パターンの全てを記載していない。実際には、基板1にはさらに複雑な線パターンが描画される。
インクジェットヘッド82は、同一ピッチで直線状に並んだ複数の吐出孔(ノズル)83…を備えている。インクジェットヘッド82は、基板1に描画される線10A,10Bに対して、傾斜して設けられている。このため、吐出孔83の配列方向(ノズル列)も、線10A,10Bに対して、傾斜することになる。
インクジェットヘッド82は、例えば、図2の破線で示すように、吐出孔83の配列方向が線幅Xの方向に平行であるインクジェットヘッド82’の場合、基板1には、吐出孔83ピッチと同一ピッチでインクが吐出される。しかし、この場合、吐出孔83のピッチ未満のピッチでインクを吐出することはできない。
これに対し、実線で示すインクジェットヘッド82は、破線で示すインクジェットヘッド82’に対して傾斜している。この場合、基板1には、吐出孔83のピッチよりも小さなピッチ(図中実質ノズルピッチ)でインクが吐出される。本実施形態では、ノズルピッチが141μmであり、実質ノズルピッチが140μmとなるように、インクジェットヘッド82が傾斜している。
このように、インクジェットヘッド82の傾斜角度を調節することによって、実際の吐出孔83のピッチ(ノズルピッチ)よりも小さなピッチ(実質ノズルピッチ)で、インクを吐出することができる。なお、ノズルピッチやインクジェットヘッド82傾斜角度は、描画する線パターンに応じて設定すればよく、特に限定されるものではない。
また、インクジェットヘッド82の傾斜角度は、制御部11に格納された描画情報に含まれる。この描画情報は、描画処理前の調整時に設定される。具体的には、基板1への線パターン10の描画前に、描画対象と同種の基板に対し、各吐出孔83からインクを吐出する。そして、その基板上におけるインクの着弾痕の位置を、基板ステージ5を観察用カメラ72の直下に移動させる。さらに、基板ステージ5と観察用カメラ72の相対移動量で位置を測定し、それに基づいて描画情報が設定され、インクジェットヘッド82の傾斜角度が設定される。
次に、1本の線10Aまたは10Bの描画に使用される吐出孔数(ノズル数)は、線幅Xを考慮して決定される。この線幅Xは、下記の式によって算出される。
線幅X=実質ノズルピッチ×(使用する吐出孔83の数−1)+インクの拡がり
このとき、描画に使用する吐出孔83は、描画に使用する吐出孔83の両端の中心位置が、インクの着弾痕の位置から予想される理想的な線10Aの中心位置(後述の中心位置P)となるように選択される。しかし、実際にそのように選択された吐出孔83を使用して線を描画すると、描画された線の中心位置(後述の中心位置Q)は、中心位置Pからずれてしまう。
具体的には、図3は、吐出孔83の配列方向と描画される線10Aとの関係を示す平面図であり、(a)はインクの着弾痕の位置に基づいて設定された描画情報に基づいて描画される理想的な線10Aを示し、(b)はインクの着弾痕の位置に基づいて設定された描画情報に基づいて描画された実際の線10Aを示す。なお、図3では、図2における4つの吐出孔83a〜83dからインクを吐出して描画される4本の細線10a〜10dから1本の線10Aを描画する図を示している。また、図3(a)では、ある時点で吐出されたインクの中心を「●」、その直前に吐出されたインクの中心を「×」として示している。なお、以下では線10Aについて説明するが、線10Bについても同様である。
図3(a)のように、通常の描画情報は、吐出孔83a〜83dの直下にインクが着弾し、その着弾位置を維持して、基板1の搬送方向と垂直方向に、均一な4本の細線10a〜10dが描画されることを前提に設定される。
線10Aに対しインクジェットヘッド82を傾斜させてインクを吐出する場合、線幅Xの方向には、同時にインクを吐出することはできない。すなわち、図3(a)において、「●」で示す時点においては、例えば、吐出孔83bから吐出されたインク84bが基板1に着弾した時点では、その直前に吐出孔83aから吐出されたインク84a’が既に基板1に着弾している。インク84c,インク84dについても、同様に、インク84b’,インク84c’が既に基板1に着弾している。このように、線幅X方向におけるインクの着弾のタイミングは、異なる。
しかし、図3(b)の矢印で示すように、インクの着弾のタイミングが僅かでも異なると、後に着弾したインクが、先に着弾したインクの方向へ移動する。すなわち、移動後のインクの位置は、吐出孔83の直下からずれる。その結果、実際に描画される線10Aの線幅Yは、描画すべき線幅Xよりも狭くなってしまう。
このように、インクジェットヘッド82を傾斜させた場合、線10Aの幅方向(線幅X方向)にはインクの吐出タイミングが異なるため、基板1上にはインクの着弾の早い部分と遅い部分とが生じる。その結果、後に着弾したインクが、先に着弾したインクの方向へ移動する。このため、図3(a)のように線10Aを描画するために選択された吐出孔83a〜83dにおける両端の吐出孔83a,83d間の中心を、線10Aの中心位置Pに一致させて線を描画すると、実際には図3(b)のように、描画された線の線幅Yは、基板1に描画されると予想される線幅Xよりも狭くなる。すなわち、実際に描画された線の中心位置Qは、理想的な線10Aの中心位置Pからずれてしまう。すなわち、図3(b)のように、中心位置Pと中心位置Qとの間には、ずれ量Z(差分Z)が存在する。
なお、図3(a)において、「両端の吐出孔83a,83d間の中心を、線10Aの中心位置Pに一致させて線を描画する」とは、「吐出孔83,83d間の線幅X方向の長さWの中心を、中心位置Pに一致させて線を描画する」とも言い換えられる。
このように、インクの着弾痕の位置に基づいて描画情報を設定すると、線10Aの描画位置も、線パターン10の描画位置もずれてしまう。実際には、線10Aの中心位置や線幅が、数μm〜数十μm程度変化してしまう。従って、描画位置精度の高い線パターン10を描画することができない。
このような描画位置のずれ量は、描画位置精度の低い印刷物等の用途等においては無視できる程度であり問題とはならない。しかし、デバイス用途などの微細パターンの描画に適用するためには、描画位置精度の高いパターンの描画が必要不可欠である。具体的には、デバイス用途の微細パターンの描画デバイス用途の微細パターンの描画で、製造工程の初期段階の工程でインクジェット法を適用した場合、描画したパターンが、後続の工程における位置合わせ精度により大きな影響を与える。このため、微細パターンの描画位置精度が低ければ、後続の工程での位置合わせ精度も低くなる。その結果、デバイスの特性に大きく影響を及ぼす。従って、特に微細パターンを描画する場合には、10μm以下のオーダーの描画位置精度が要求される。
そこで、パターン描画装置100は、このような描画位置のずれ量Zを補正し、目的通りの線パターン10を描画するために、描画情報補正部12を備えている。すなわち、描画情報補正部12は、上述ような描画位置のずれ量Zを、描画情報の補正値として保有し、その補正値に基づいて、描画情報を補正する。
具体的には、描画情報補正部12は、描画処理前の調整時に、図3(b)のように、中心位置Qと、中心位置Pとのずれ量Zを補正値として算出し、その補正値に基づいて、中心位置Qが中心位置Pに一致するように、上記描画情報を補正する。
このような線幅Xの中心(中心位置P)と線幅Yの中心(中心位置Q)とのずれ量Z(中心位置のずれ量)は、インクジェットヘッド82の傾きが同一であり、吐出孔83のピッチ(ノズルピッチ)が一定であり、隣の吐出孔83から吐出されたインクの基板1上への着弾タイミングの前後関係が変わらなければ同じインクでは一定となる。このため、描画処理前の調整時に予め、後に着弾したインクが、先に着弾したインクの方向へ移動することを考慮して、この移動量(線幅Xの中心と線幅Yの中心との差分(中心位置のずれ量))を補正値として、描画情報補正部12に保有しておく。そして、その移動量(補正値)に基づいて、描画情報を補正する。これにより、描画位置精度の高い線パターン10を基板1上に描画することができる。
例えば、描画情報補正部12は、線幅Yの中心位置が、線幅Xの中心位置に一致するように、描画情報を補正することが好ましい。この場合、描画情報補正部12は、後に着弾したインクが、先に着弾したインクの方向へ移動することを考慮して、線幅Yの中心位置が、描画すべき線の線幅Xの中心位置と一致するように描画情報を補正する。これにより、補正後の描画情報に基づいて描画された線10Aは、線幅Yの中心位置が、描画すべき線の線幅Xの中心位置と一致する。従って、描画位置精度の高い線パターンを確実に描画することができる。
なお、吐出孔83の中心の補正は、例えば、以下のようにして行えばよい。すなわち、奇数個の吐出孔83からインクを吐出して1つの線10Aを描画する場合、真ん中に配置される吐出孔83の中心と、線10aの中心(線幅の中心)とが一致するように、描画情報を補正する。一方、偶数個の吐出孔83からインクを吐出して1つの線10Aを描画する場合、真ん中に配置される2つの吐出孔83の中間と、線10Aの中心(線幅の中心)とが一致するように、描画情報を補正する。
また、描画情報補正部12は、補正された描画情報に基づいて、基板1上に線パターン10を描画する時の基板1とインクジェットヘッド82との位置関係を補正してもよい。この場合、後に着弾したインクが、先に着弾したインクの方向へ移動することを考慮して補正された描画情報に基づいて、基板1の移動量またはインクジェットヘッド82の移動量が補正される。すなわち、補正された描画情報に基づいて、基板上に線パターンを描画する時の基板1とインクジェットヘッド82との位置関係が補正される。従って、描画位置精度の高い線パターンを基板上に描画することができる。
また、搬送軸6による搬送方向(線10Aの長さ方向)の吐出分解能は、基板ステージ5の搬送速度と、インクジェットヘッド82の駆動周波数により決まる。そこで、描画情報補正部12は、補正後の描画情報に基づいて、基板ステージ5の搬送速度、および、インクジェットヘッド82の駆動周波数の少なくとも一方を補正してもよい。これにより、線パターン10の長さ方向についても、描画位置精度の高い線パターン10を描画することができる。
このように、パターン描画装置100においては、後に着弾したインクが、先に着弾したインクの方向へ移動する分の補正量を、描画情報補正部12が補正値をとして保有する。そして、その補正量を描画情報にフィードバックし、その補正量分だけ描画時に描画情報を補正する。これにより、描画すべき線パターン10通りの位置に線パターン10を描画することができる。
なお、描画情報補正部12は、その補正量を、インクジェットヘッド82の位置、基板ステージ5における基板1の位置、インクを吐出する吐出孔83の選択など、他の描画情報にフィードバックしてもよい。
なお、描画情報補正部12による補正としては、例えば走査方向(搬送方向)の吐出ピッチを変更して1つのノズルが長さ当りに吐出する吐出量を制御してもよい。具体的には、線幅Yが狭くなりすぎたときはインクの吐出量を増やす。線幅Yが広すぎるときはインクの吐出量を減らす。また、吐出量を増やすことにより膜厚が厚くなりすぎる場合は、両端の吐出孔83のみ吐出ピッチを変更して、1ノズルが長さあたりに吐出する吐出量を調整することもできる。その他の補正としては、例えば、インクジェットヘッド82が階調制御できる機能を有している場合は、吐出ピッチは同じでも吐出当りの階調(液量)を高めて単位長さあたりの吐出量を増やして線幅Yを調整することができる。
一方、インクジェットヘッド82は、1回の走査で少なくとも1つの線10Aまたは10Bが描画されるようになっていればよいが、1回の走査で全ての線10Aおよび10B、つまり1回の走査で線パターン10が描画されることが好ましい。これにより、線パターン10のタクトタイムを短縮することができる。
以上のように、本実施形態のパターン描画装置100によれば、基板1上に、高い位置精度の線パターン10を短時間に描画することができるという効果を奏する。また、10μmオーダー以下の描画位置精度が要求されるデバイス用途にも適用することができるという効果も奏する。
なお、本実施形態では、搬送軸6に沿って基板1が搬送され、印刷部8が搬送軸6に固定されている構成であった。しかし、この構成に限定されるものではなく、基板1とインクジェットヘッドは、相対的に移動させればよい。
また、本実施形態では、図2のように、連続する4つの吐出孔83a〜83dからインクを吐出させている。これに限定されるものではなく、線幅Xおよびインクジェットヘッド82の傾きに応じて、適切な吐出孔83を選択すればよい。
なお、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。すなわち、請求項に示した範囲で適宜変更した技術的手段を組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
本発明によれば、高精度の線パターンを短時間で描画できるため、特に、10μmオーダー以下の描画位置精度が要求される各種デバイスの用途に好適に利用できる。
1 基板
10 線パターン
12 描画情報補正部
82 インクジェットヘッド
83 吐出孔
83a〜83d 吐出孔
84a〜84dインク(液滴)
84a’〜84d’インク(液滴)
84b インク(液滴)
100 パターン描画装置

Claims (5)

  1. 直線状に並んだ複数の吐出孔を有するインクジェットヘッドを備え、描画情報に基づいて液滴を吐出し、1回の走査で基板上に線パターンを描画するパターン描画装置において、
    上記インクジェットヘッドは、吐出孔の配列方向が、線パターンを構成する線の幅方向に対して傾斜して設けられており、
    上記線を描画するために選択された吐出孔における両端の吐出孔間の中心を、上記線の中心位置Pに一致させて描画された線の中心位置Qと、上記線の中心位置Pとの差分Zを補正値として算出し、その補正値に基づいて、上記中心位置Qが中心位置Pに一致するように、上記描画情報を補正する描画情報補正部を備え、
    上記描画情報補正部によって補正された描画情報に基づいて線パターンを描画することを特徴とするパターン描画装置。
  2. 上記描画情報補正部は、上記補正された描画情報に基づいて、上記基板上に線パターンを描画する時の基板とインクジェットヘッドとの位置関係を補正することを特徴とする請求項1に記載のパターン描画装置。
  3. 上記描画情報補正部は、上記補正された描画情報に基づいて、上記インクジェットヘッドの移動量を補正することを特徴とする請求項2に記載のパターン描画装置。
  4. 上記描画情報補正部は、上記補正された描画情報に基づいて、上記基板の移動量を補正することを特徴とする請求項2または3に記載のパターン描画装置。
  5. 直線状に並んだ複数の吐出孔を有するインクジェットヘッドを備え、描画情報に基づいて液滴を吐出し、1回の走査で基板上に線パターンを描画するパターン描画方法において、
    上記インクジェットヘッドを、吐出孔の配列方向が、線パターンを構成する線の幅方向に対して傾斜させて設け、
    上記線を描画するために選択された吐出孔における両端の吐出孔間の中心を、上記線の中心位置Pに一致させて描画された線の中心位置Qと、上記線の中心位置Pとの差分Zを補正値として算出し、その補正値に基づいて、上記中心位置Qが中心位置Pに一致するように、上記描画情報を補正する描画情報補正ステップを含み、
    上記描画情報補正ステップによって補正された描画情報に基づいて線パターンを描画することを特徴とするパターン描画方法。
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