JP2011130405A - 順序回路におけるリーク電流の低減システム - Google Patents

順序回路におけるリーク電流の低減システム Download PDF

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Abstract

【課題】低サイズ及び低電力で順序回路におけるリーク電流を低減する。
【解決手段】リセット・フリップフロップ104A〜N、108A〜N、112A〜Nがリセットで、セット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、114A〜Nがセット状態のときに組合せ論理回路102A〜Nが最小リーク電流となるように、これらFFと組合せ論理回路とが接続されている。制御モジュール116は、スタンバイ・モードでは、リセットFFをリセットし、セット・リセットFFをセットすることにより、組合せ論理回路に対して、予め決定された最小リーク・ビットを印加する。これにより、組合せ論理回路は、最小リーク電流での待機状態となる。アクティブ・モードでは、入力120A〜NがFFを介して組合せ論理回路102Aに供給されて論理処理され、そして順次、前段の組合せ論理回路の出力がFFを介して次段の組合せ論理回路に入力される。
【選択図】図1

Description

本発明は電子回路の分野に関する。より詳細には、本発明の実施形態は、電子デバイス及びシステムの電力管理に関する。
リーク電流は、オフの状態のデバイスからリークする微量の電流であり、これはデバイスの半導体特性によって生じる。例えば、ディープ・サブミクロン状態(deep-submicrometer regimes)における大きなリーク電流は、デバイス内の相補型金属酸化膜半導体(CMOS)回路の電力損失の大きな要因となってきているが、これは、CMOS回路を構成するトランジスタの閾値電圧、チャネル長、及びゲート酸化物の厚さが、デバイスをダウンサイジングためのたゆみない努力によって、絶えず低減されているからである。
デバイスにおけるリークには3つの主たる原因がある、すなわちサブスレッショルド・リーク、ゲート・リーク、及び逆バイアス接合リークである。サブスレッショルド・リークは、弱い反転領域で動作しているトランジスタのドレインからソースへ流れる電流によって生じる。ゲート・リークは、ゲート酸化物のトンネル現象及びホットキャリア注入による、トランジスタのゲートから酸化物を介して基板に流れる電流によって生じる。逆バイアス接合リークは、逆バイアス状態のダイオードを介して、トランジスタのソース又はドレインから基板へ流れる電流によって生じる。トランジスタのダウンサイジングにともない、各リーク源が増大し、その結果として総リーク電流が増加することになる。
回路におけるリーク電流の大きさは、その主な入力に印加される入力ベクトルに依存している。さらに、回路の論理ゲートに対する異なる入力の組合せの間のリーク電流比は、10程度まで高くなる場合もある。入力ベクトルの制御方法は、リーク電流を低減するための技術である。例えば、組合せ論理回路に接続されるフリップフロップの多段接続を含む順序回路(シーケンシャル回路:sequential circuit)の設計時に、リーク電流を低減、すなわち組合せ論理回路に関する電力消費を低減するための最小リーク・ビット(MLB)が、該順序回路の設計段階の際に算出され、順序回路の製作時に実装される。そしてMLBは、リーク電流を低減するために、順序回路のスタンバイ・モード時に、組合せ論理回路に適用される。
MLBの実装は、順序回路へマルチプレクサを追加することによって実現され、これにより、多段階接続回路のアクティブ・モード時に、フリップフロップへの入力が組合せ論理回路供給される。逆に、順序回路のスタンバイ・モード時には、MLBは、マルチプレクサを用いて組合せ論理回路に供給される。組合せ論理回路を流れるリーク電流は、この方法によって低減されるが、マルチプレクサを追加することにより、順序回路を用いているデバイスの相当の面積が使用されてしまい、かつ/又は、かなりのタイミング・オーバーヘッドを生じさせてしまう。このように構成する代わりに、MLBを記憶するためのメモリをデバイスに実装して、スタンバイ・モード時の組合せ論理回路でMLBを使用可能とすることもできる。この方法は、エリア・オーバーヘッドを低減するという観点では、マルチプレクサを備える方法よりも効果的であるが、組合せ論理回路にMLBを保持及び移動するために、メモリは相当の電力を消費することになる。
順序回路におけるリーク電流を低減するためのシステムが開示される。本発明の一様態によれば、該システムは、組合せ論理回路、該組合せ論理回路と接続された1又は複数のリセット・フリップフロップ、及び組合せ論理回路と接続された1又は複数のセット・リセット・フリップフロップを備えている。本システムはさらに、リセット・フリップフロップ及びセットフリップフロップに接続された制御モジュールであって、順序回路のスタンバイ・モードがトリガされるときに、リセット・フリップフロップをリセットし、セット・リセット・フリップフロップをセットする制御モジュールを備えている。
本発明の別の様態によれば、順序回路は、複数の組合せ論理回路、該組合せ論理回路のそれぞれと接続される1又は複数のリセット・フリップフロップ、及び組合せ論理回路のそれぞれと接続される1又は複数のセット・リセット・フリップフロップを備えている。順序回路はさらに、リセット・フリップフロップ及びセット・リセット・フリップフロップに接続された制御モジュールであって、順序回路のスタンバイ・モードがトリガされるときに、リセット・フリップフロップをリセットし、セット・リセット・フリップフロップをセットする制御モジュールを備えている。
本発明のさらに別の様態によれば、デバイスは、複数の組合せ論理回路、該組合せ論理回路のそれぞれと接続される1又は複数のリセット・フリップフロップ、及び組合せ論理回路のそれぞれと接続される1又は複数のセット・リセット・フリップフロップを備える、順序回路を備えている。順序回路はさらに、リセット・フリップフロップ及びセット・リセット・フリップフロップに接続された制御モジュールであって、順序回路のスタンバイ・モードがトリガされるときに、リセット・フリップフロップをリセットし、セット・リセット・フリップフロップをセットする制御モジュールを備えている。該デバイスはさらに、順序回路のスタンバイ・モードがトリガされる時に、スリープ信号を転送するために制御モジュールと接続される電力管理ユニットを備えている。
本明細書で開示されるシステム及びデバイスは、さまざまな様態を実現するために任意の手段で実現することが可能であり、また他の特徴は付随する図面及び以下の詳細な説明から明らかになるであろう。
なお、本明細書における図面は例示目的によってのみ記載されたものであり、本開示の範囲を制限するものではない。
本発明の一実施形態による、リーク電流を低減するためのシステムを有する順序回路の一例を示す図である。 本発明の一実施形態による、図1におけるシステムの回路例を示す図である。 本発明の一実施形態による、図2Aにおける回路の動作を示す表の一例を示す図である。 本発明の一実施形態による、図1におけるシステムの別の回路例を示す図である。 本発明の一実施形態による、図3Aにおける回路の動作を示す表の一例を示す図である。 本発明の一実施形態による、図1の順序回路を有するデバイス例を示す図である。
順序回路におけるリーク電流を低減するためのシステム及びデバイスが開示される。以下に記す本発明の実施形態の詳細な説明では添付図面が参照されが、図面には本発明が実施される特定の実施形態が図示されている。これらの実施形態は、当業者が本発明を実施できるように詳細に記述されており、また本発明の範囲を逸脱しない限り、別の実施形態の使用及び変形が可能である。従って、以下に記載の発明の詳細な説明は、限定的な意味で解釈されるべきではなく、本発明の範囲は特許請求の範囲によってのみ、規定される。
図1は、一実施形態による、リーク電流を低減するためのシステム150を有する順序回路100を示している。特に、図1ではパイプライン型の順序回路が示されている。順序回路100は、複数の組合せ論理回路102A〜N、複数のリセット・フリップフロップ104A〜N、108A〜N、及び112A〜N、並びに、複数のセット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nを備えている。順序回路100はさらに、制御モジュール116も備えている。
組合せ論理回路102A〜Nは、複数の論理ゲート(AND、OR、NAND、NOR等)を組合せることで構成された回路であり、組合せ論理回路102A〜Nと接続されたフリップフロップから受信した入力120A〜N及び122A〜Nに対して、ブール代数の論理演算を実行するよう構成されている。一実装例では、リセット・フリップフロップ104A〜N、108A〜N、及び112A〜N、並びにセット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nは、D型フリップフロップである。さらに、リセット・フリップフロップ104A〜N、108A〜N、及び112A〜N並びにセット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nは、非同期型又は同期型である。
図示されているように、リセット・フリップフロップ104A〜N及びセット・リセット・フリップフロップ106A〜Nは、組合せ論理回路102Aと接続される。さらに、リセット・フリップフロップ108A〜N及びセット・リセット・フリップフロップ110A〜Nは、組合せ論理回路102A及び組合せ論理回路102Bと接続される。順序回路100における2つの隣接する組合せ論理回路は、リセット・フリップフロップ及びセットフリップフロップを介して接続されている。またさらに、図示されているように、組合せ論理回路102Nは、リセット・フリップフロップ112A〜N及びセット・リセット・フリップフロップ114A〜Nと接続される。
制御モジュール116は、リセット・フリップフロップ104A〜N、108A〜N、及び112A〜N、並びにセット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nと接続されている。一実施形態例では、制御モジュール116は、リセット・フリップフロップ104A〜N、108A〜N、及び112A〜Nと接続されるORゲート、並びにセット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nと接続されるANDゲートを備えている。図1に示すように、リーク電流を低減するためのシステム150は、制御モジュール116、リセット・フリップフロップ104A〜N、セット・リセット・フリップフロップ106A〜N、及び組合せ論理回路102Aを備えている。順序回路100は、好適には、制御モジュール116及び、組合せ論理回路と接続される多段接続の入力フリップフロップを備えている。
順序回路100のアクティブ・モード時に、入力120A〜Nがリセット・フリップフロップ104A〜Nにそれぞれ供給され、また、入力122A〜Nは、セット・リセット・フリップフロップ106A〜Nにそれぞれ供給される。入力120A〜N及び入力122A〜Nにより、リセット・フリップフロップ104A〜N及びセット・リセット・フリップフロップ106A〜Nは、組合せ論理回路102Aを動作させる。組合せ論理回路102Aの出力は、リセット・フリップフロップ108A〜N及びセット・リセット・フリップフロップ110A〜Nに記憶又は保持されて、組合せ論理回路102Bを動作させる。何段階かのフリップフロップ及び組合せ論理回路のコンビネーションを経た後に、出力124A〜N及び126A〜Nが生成される。
順序回路100(又は、順序回路100を備えるデバイス)のスタンバイ又はスリープ・モードがトリガされる(制御信号118の受信により)と、制御モジュール116は、リセット・フリップフロップ104A〜N、108A〜N、及び112A〜Nをリセットし、セット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nをセットする。順序回路100のスタンバイ又はスリープ・モードがトリガされる場合、制御信号118(例:アクティブ・ローのスリープ信号)が、制御モジュール116によって受信され処理される。順序回路100が再びアクティブになるときには、制御モジュール116はフリップフロップに対して、リセット及びセット信号を通信する。
本発明の一実施形態によれば、順序回路100の設計時に以下のプロセスを用いることができる。順序回路100を設計するために、合成、マッピング、及びタイミング・クローズされたネットリストが、論理合成ツールからの入力として採用される。組合せ論理回路102A〜Nの全てに対して、最小リーク・ビット(MLB)が、当業者に周知の入力ベクトル制御方法を用いて算出される。そして、結果として論理値「1」のMLBをもたらす、順序回路100のリセット・フリップフロップが、セット・リセット・フリップフロップ(セット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜N)に置き換えられる。リセット・フリップフロップをセット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nに置き換えるために、リセット・フリップフロップは、合成プロセス前にアクティブ・ローのリセットを有しているものとする。
次に、論理値「0」のMLBを有するリセット・フリップフロップ(リセット・フリップフロップ104A〜N、108A〜N、及び112A〜N)のリセット・ピンが、アクティブ・ローのスリープ信号に論理的に接続される。ここで、セット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nのリセット・ピンの接続に変更はない。すなわち、セット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nのリセット・ピンは、リセット信号に接続されている。さらに、セット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nのセット・ピンは共通接続されており、順序回路100がスタンバイ・モードに入った時に、反転したスリープ信号がこれらセット・ピンに供給される。
そして、静的タイミング解析(STA)が修正されたネットリストに対して実行される。セット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nの挿入によって、なんらかの違反が生じた場合は、セット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nは、等価なリセット・フリップフロップで置き換えられる。STAを実行した後、順序回路100の設計を完成するために、修正されたネットリストが物理的設計ツールに供給される。これで最終的に、図1に示される順序回路100が形成される。
図2Aは、本発明の一実施形態による図1におけるシステム150の回路例200を示している。図示のように、回路200は、組合せ論理回路202、非同期リセット・フリップフロップ204A〜N、及び非同期セット・リセット・フリップフロップ206A〜Nを備えている。回路200はさらに、ORゲート208及びANDゲート210を備えている。ORゲート208及びANDゲート210はともに、制御モジュール116を構成している。
図2Aでは、非同期リセット・フリップフロップ204A〜N及び非同期セット・リセット・フリップフロップ206A〜Nは、組合せ論理回路202と接続されている。ORゲート208の出力は、非同期セット・リセット・フリップフロップ206A〜Nと接続されている。さらに、ORゲート208は、第1の入力ノード214及び第2の入力ノード216を備えており、第1の入力ノード214はセット信号218を受信し、第2の入力ノード216はスリープ信号220を受信する。ANDゲート210の出力は、非同期リセット・フリップフロップ204A〜Nと接続される。さらに、ANDゲート210は第1の入力端子222及び第2の入力端子224を備えており、第1の入力端子222はスリープ信号220を受信し、第2の入力端子224はリセット信号226を受信する。
図示のように、非同期リセット・フリップフロップ204A〜N及び非同期セット・リセット・フリップフロップ206A〜Nは、入力228を受信する。アクティブ・モードにおいては、非同期リセット・フリップフロップ204A〜N及び非同期セット・リセット・フリップフロップ206A〜Nは、組合せ論理回路202に対して入力228を供給し、これにより、出力230は、順序回路100の後段に入力として供給される。スタンバイ・モードで動作時には、非同期リセット・フリップフロップ204A〜N及び非同期セット・リセット・フリップフロップ206A〜Nは、最小リーク・ビット212(0又は1)を組合せ論理回路202に供給する。最小リーク・ビット212は、好適には、入力ベクトル制御方法を用いて取得される。また、最小リーク・ビット212は、スタンバイ・モードで動作時に、組合せ論理回路202を介して最小のリーク電流が生じるように、使用される。
図2Bは、図2Aに示した回路200の動作を説明するための表250を示している。表250は、3タイプの信号252及び2タイプの動作モード254を示している。表250に示されるように、スタンバイ・モード256に入るように回路200がトリガされると、ORゲート208は、第2の入力ノード216を介するアクティブ・ロー・スリープ信号(論理値「0」)を反転し論理処理する。これにより、ORゲート208の出力は非同期セット・リセット・フリップフロップ206A〜Nをセットする。その結果として、非同期セット・リセット・フリップフロップ206A〜Nが、最小リーク・ビット212(値「1」の)を組合せ論理回路202に供給するので、組合せ論理回路202を介したリーク電流は最小限になる。
ANDゲート210は、第1の入力端子222へのアクティブ・ロー・スリープ信号220(論理値「0」)を論理処理し、その出力により非同期リセット・フリップフロップ204A〜Nをリセットする。これにより、非同期リセット・フリップフロップ204A〜Nが、最低リーク・ビット212(値「0」の)を組合せ論理回路202に供給するので、組合せ論理回路202を介したリーク電流は最小限になる。
アクティブ・モード258をトリガする場合、ORゲート208は第1の入力ノード214からのセット信号218及び第2の入力ノード216からの高論理レベルのスリープ信号220(論理値「1」)を論理処理する。これによりORゲート208は、セット信号218を非同期セット・リセット・フリップフロップ206A〜Nへ通過させる。また、ANDゲート210は、第1の入力端子222からの高論理レベルのスリープ信号220(論理値「1」)及び第2の入力端子224からのリセット信号226を論理処理する。これにより、ANDゲート210は、リセット信号226を非同期リセット・フリップフロップ204A〜Nに通過させることができる。このように、ORゲート208及びANDゲート210を含む制御モジュールは、セット信号218及びリセット信号226をフリップフロップに伝達するので、アクティブ・モード258の場合には透過的であると言うことができる。回路200のアクティブ・モード258がトリガされており、且つセット信号218及びリセット信号226が存在しない場合は、非同期リセット・フリップフロップ204A〜N及び非同期セット・リセット・フリップフロップ206A〜Nは、入力228を組合せ論理回路202に提供する。その結果、組合せ論理回路202は、出力230を生成して順序回路100の後段に供給する。
図3Aは、本発明の一実施形態による、図1に示したシステム150の回路300の一例を示す。図示のように、回路300は、組合せ論理回路302、同期リセット・フリップフロップ304A〜N、及び同期セット・リセット・フリップフロップ306A〜Nを備えている。回路300はまた、ORゲート308及びANDゲート310も備えている。ORゲート308及びANDゲート310はともに、図1の制御モジュール116を構成している。
図3Aでは、同期リセット・フリップフロップ304A〜N及び同期セット・リセット・フリップフロップ306A〜Nは、組合せ論理回路302に接続される。ORゲート308の出力は、同期セット・リセット・フリップフロップ306A〜Nに接続される。さらに、ORゲート308は第1の入力ノード314及び第2の入力ノード316を備えており、第1の入力ノード314はセット信号318を受信し、第2の入力ノード316はスリープ信号320を受信する。ANDゲート310の出力は、同期リセット・フリップフロップ304A〜Nと接続される。また、ANDゲート310は第1の入力端子322及び第2の入力端子324を備えており、第1の入力端子322はスリープ信号320を受信し、第2の入力端子324はリセット信号326を受信する。
図示のように、同期リセット・フリップフロップ304A〜N及び同期セット・リセット・フリップフロップ306A〜Nは、入力328を受信し。アクティブ・モード時には、同期リセット・フリップフロップ304A〜N及び同期セット・リセット・フリップフロップ306A〜Nは、組合せ論理回路302に対して入力328を供給し、それにより出力330が生成される。該出力330は、順序回路100の後段に入力として供給される。スタンバイ・モードがトリガされる場合、同期リセット・フリップフロップ304A〜N及び同期セット・リセット・フリップフロップ306A〜Nは、最小リーク・ビット312(0又は1)を組合せ論理回路302に供給する。最小リーク・ビット312は、入力ベクトル制御方法を用いて取得される。また、最小リーク・ビット312は、動作のスタンバイ・モード時に、組合せ論理回路302を介して最小リーク電流を提供するために使用される。
図3Bは、一実施形態による図3Aの回路300の動作を説明するための表350を示している。表350は、3タイプの信号352及び2タイプの動作モード354を示している。表350に示されるように、スタンバイ・モード356及びアクティブ・モード358における回路300の動作は、表250で示した回路200の動作と同じであるので、省略する。
図4は、一実施形態による図1の順序回路100を有するデバイス400を示している。図4に示されたデバイス400は、ラップトップ、携帯機器、ワークステーション、サーバ、デスクトップ等の、順序回路100を採用している任意の電子デバイスである。図示のように、デバイス400は、制御モジュール116(図1に図示)を備えた順序回路100及び電力管理ユニット402を備えている。電力管理ユニット402は、制御モジュール116と接続される。一実装例では、電力管理ユニット402は、デバイス400のスタンバイ・モードがトリガされるとき、スリープ信号404(アクティブ・ロー・スリープ信号)を生成する。さらに電力管理ユニット402は、スリープ信号404を制御モジュール116に転送する。上述のように、制御モジュール116は、スリープ信号404を受信すると、リセット・フリップフロップ104A〜N、108A〜N、及び112A〜Nをリセットし、セット・リセット・フリップフロップ106A〜N、110A〜N、及び114A〜Nをセットするので、組合せ論理回路102A〜Nを介したリーク電流は最小となる。
さまざまな実施形態において、図1〜図4に記載されたシステム及びデバイスは、順序回路に相当な数の部品(マルチプレクサ、論理ゲート等)を追加することなく、MLBに基づくリセット及びセット・リセット・フリップフロップを実装することによって、順序回路におけるリーク電流を低減することができる。また、該システム及びデバイスは、MLBをメモリに記憶させる必要がない。さらに、システム及びデバイスは、順序回路がスタンバイ・モードに入った直後にクロックを遮断することにより、動的電力を大幅に節約可能である。
本発明の実施形態を特定の例に関して記載したが、多岐にわたる実施形態のより広義での技術思想及び範囲を逸脱しないで、多くの修正及び変更が可能であるのは明らかであろう。例えば、本明細書に記載された多様なデバイス、モジュール、アナライザ、ジェネレータ等は、ハードウェア回路(例えば、相補型金属酸化膜半導体(CMOS)ベースの論理回路)、ファームウェア、ソフト及び/又は任意の組合せのハードウェア、ファームウェア、及び/又はソフトウェア(例えば、機械読み取り可能媒体に記憶されている)を用いて、動作が可能となる。例えば、多様な電気的構造及び方法が、トランジスタ、論理ゲート、及び電気回路(例えば、特定用途向集積回路(ASIC))を用いて実現可能である。

Claims (20)

  1. 順序回路におけるリーク電流を低減するためのシステムであって、
    組合せ論理回路と、
    該組合せ論理回路と接続された少なくとも1つのリセット・フリップフロップと、
    組合せ論理回路と接続された少なくとも1つのセット・リセット・フリップフロップと、
    リセット・フリップフロップ及びセット・リセット・フリップフロップと接続され、順序回路のスタンバイ・モードがトリガされるときに、リセット・フリップフロップをリセットし、セット・リセット・フリップフロップをセットするよう制御する制御モジュールと
    を備えることを特徴とするシステム。
  2. 請求項1記載のシステムにおいて、リセット・フリップフロップは、少なくとも1つの非同期リセット・フリップフロップであり、セット・リセット・フリップフロップは、少なくとも1つの非同期セット・リセット・フリップフロップであることを特徴とするシステム。
  3. 請求項1記載のシステムにおいて、リセット・フリップフロップは、同期リセット・フリップフロップであり、セット・リセット・フリップフロップは少なくとも1つの同期セット・リセット・フリップフロップであることを特徴とするシステム。
  4. 請求項1記載のシステムにおいて、リセット・フリップフロップ及びセット・リセット・フリップフロップは、スタンバイ・モードのときに、組合せ回路に対して最小リーク・ビットを供給するよう構成されることを特徴とするシステム。
  5. 請求項4記載のシステムにおいて、最小リーク・ビットは、組合せ論理回路を介して流れるリーク電流を最小化するために用いられることを特徴とするシステム。
  6. 請求項4記載のシステムにおいて、最小リーク・ビットは、入力ベクトル制御方法を用いて取得されることを特徴とするシステム。
  7. 請求項1記載のシステムにおいて、制御モジュールは、
    セット・リセット・フリップフロップと接続されたORゲートと、
    リセット・フリップフロップと接続されたANDゲートと
    を備えることを特徴とするシステム。
  8. 請求項7記載のシステムにおいて、ORゲートは、順序回路のスタンバイ・モードがトリガされるときに、受信したアクティブ・ロー・スリープ信号に基づいて、少なくとも1つのセット・リセット・フリップフロップをセットするよう接続されていることを特徴とするシステム。
  9. 請求項8記載のシステムにおいて、ORゲートは、第1の入力ノード及び第2の入力ノードを備え、第2入力ノードからのアクティブ・ロー・スリープ信号を反転し論理処理することを特徴とするシステム。
  10. 請求項9記載のシステムにおいて、ORゲートは、順序回路のアクティブ・モードがトリガされるときに、第2入力ノードからの高レベルのハイ・スリープ信号を反転し論理処理することを特徴とするシステム。
  11. 請求項7記載のシステムにおいて、ANDゲートは、順序回路のスタンバイ・モードがトリガされるときに、受信したアクティブ・ロー・スリープ信号に基づいて、リセット・フリップフロップをリセットするよう接続されていることを特徴とするシステム。
  12. 請求項11記載のシステムにおいて、ANDゲートは、第1の入力端子及び第2の入力端子を備え、第1入力端子からのアクティブ・ロー・スリープ信号を論理処理することを特徴とするシステム。
  13. 請求項12記載のシステムにおいて、ANDゲートは、順序回路のアクティブ・モードがトリガされるときに、第1入力端子からの高レベルのハイ・スリープ信号を論理処理することを特徴とするシステム。
  14. 順序回路であって、
    複数の組合せ論理回路と、
    複数の組合せ論理回路のそれぞれと接続された少なくとも1つのリセット・フリップフロップと、
    複数の組合せ論理回路のそれぞれと接続された少なくとも1つのセット・リセット・フリップフロップと、
    リセット・フリップフロップ及びセット・リセット・フリップフロップと接続され、順序回路のスタンバイ・モードがトリガされるときに、リセット・フリップフロップをリセットし、セット・リセット・フリップフロップをセットするよう制御する制御モジュールと
    を備えることを特徴とする順序回路。
  15. 請求項14記載の順序回路において、リセット・フリップフロップ及びセット・リセット・フリップフロップのそれぞれが、D型フリップフロップであることを特徴とする順序回路。
  16. 請求項14記載の順序回路において、リセット・フリップフロップは少なくとも1つの非同期リセット・フリップフロップであり、セット・リセット・フリップフロップは少なくとも1つの非同期セット・リセット・フリップフロップであることを特徴とする順序回路。
  17. 請求項14記載の順序回路において、リセット・フリップフロップは少なくとも1つの同期リセット・フリップフロップであり、セット・リセット・フリップフロップは少なくとも1つの同期セット・リセット・フリップフロップであることを特徴とする順序回路。
  18. 請求項14記載の順序回路において、制御モジュールは、
    セット・リセット・フリップフロップと接続されたORゲートと、
    リセット・フリップフロップと接続されたANDゲートと
    を備えることを特徴とする順序回路。
  19. 順序回路を備えるデバイスであって、該順序回路は、
    複数の組合せ論理回路と、
    複数の組合せ論理回路のそれぞれと接続された少なくとも1つのリセット・フリップフロップと、
    複数の組合せ論理回路のそれぞれと接続された少なくとも1つのセット・リセット・フリップフロップと、
    リセット・フリップフロップ及びセット・リセット・フリップフロップと接続され、順序回路のスタンバイ・モードがトリガされるときに、リセット・フリップフロップをリセットし、セット・リセット・フリップフロップをセットするよう制御する制御モジュールと
    を備えることを特徴とするデバイス。
  20. 請求項19記載のデバイスにおいて、該デバイスはさらに、制御モジュールと接続された電力管理ユニットであって、順序回路のスタンバイ・モードがトリガされるときに、制御モジュールにスリープ信号を転送する電力管理ユニットを備えていることを特徴とするデバイス。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8307226B1 (en) * 2011-12-20 2012-11-06 Intel Corporation Method, apparatus, and system for reducing leakage power consumption
US9100002B2 (en) * 2013-09-12 2015-08-04 Micron Technology, Inc. Apparatus and methods for leakage current reduction in integrated circuits
US9496851B2 (en) * 2014-09-10 2016-11-15 Qualcomm Incorporated Systems and methods for setting logic to a desired leakage state
KR102417056B1 (ko) * 2014-12-18 2022-07-05 마벨 아시아 피티이 엘티디. 스페어 회로 셀들을 구비한 집적회로
KR101971472B1 (ko) * 2014-12-26 2019-08-13 전자부품연구원 저전력 구현을 위한 순차회로 설계방법
US9503086B1 (en) * 2015-09-16 2016-11-22 Apple Inc. Lockup latch for subthreshold operation
CN105515565B (zh) * 2015-12-14 2018-07-13 天津光电通信技术有限公司 一种硬件逻辑资源复用模块及复用实现的方法
US10423203B2 (en) * 2016-12-28 2019-09-24 Intel Corporation Flip-flop circuit with low-leakage transistors

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6107700A (en) * 1998-05-22 2000-08-22 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device of hierarchical power source structure
US6191606B1 (en) * 1998-09-10 2001-02-20 Intel Corporation Method and apparatus for reducing standby leakage current using input vector activation
US20040194037A1 (en) * 2003-03-31 2004-09-30 Intel Corporation Leakage control in integrated circuits
US20050168242A1 (en) * 2004-01-29 2005-08-04 Won Hyo-Sig Control circuits and methods including delay times for multi-threshold CMOS devices
US20090051388A1 (en) * 2007-03-28 2009-02-26 Arm Limited Reducing leakage power in low power mode

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW392307B (en) * 1998-01-13 2000-06-01 Mitsubishi Electric Corp A method of the manufacture and the setup of the semiconductor apparatus
US6169419B1 (en) * 1998-09-10 2001-01-02 Intel Corporation Method and apparatus for reducing standby leakage current using a transistor stack effect
US7096374B2 (en) * 2003-05-21 2006-08-22 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for defining an input state vector that achieves low power consumption in digital circuit in an idle state
US7305335B2 (en) * 2004-11-23 2007-12-04 Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. Permanent three-pole independent pole operation recloser simulator feature in a single-pole trip capable recloser control
US20070168792A1 (en) * 2005-12-09 2007-07-19 International Business Machines Corporation Method to Reduce Leakage Within a Sequential Network and Latch Circuit
JP4953716B2 (ja) * 2006-07-25 2012-06-13 パナソニック株式会社 半導体集積回路およびその関連技術
US7949971B2 (en) * 2007-03-27 2011-05-24 International Business Machines Corporation Method and apparatus for on-the-fly minimum power state transition
US7735045B1 (en) * 2008-03-12 2010-06-08 Xilinx, Inc. Method and apparatus for mapping flip-flop logic onto shift register logic

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6107700A (en) * 1998-05-22 2000-08-22 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device of hierarchical power source structure
US6191606B1 (en) * 1998-09-10 2001-02-20 Intel Corporation Method and apparatus for reducing standby leakage current using input vector activation
US20040194037A1 (en) * 2003-03-31 2004-09-30 Intel Corporation Leakage control in integrated circuits
US20050168242A1 (en) * 2004-01-29 2005-08-04 Won Hyo-Sig Control circuits and methods including delay times for multi-threshold CMOS devices
US20090051388A1 (en) * 2007-03-28 2009-02-26 Arm Limited Reducing leakage power in low power mode

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