JP2011117951A - 光学材料の内部状態の検査方法及び光学素子の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明に係る光学材料OMの内部状態を検査する検査方法は、光源21からの拡散光を光学材料OMに照射し、この光学材料OMを透過した透過光に基づいて光学材料OMの内部状態を検査する工程を有する。また、本発明に係る光学素子の製造方法は、この検査方法を用いて光学素子の候補体である光学材料OMの内部状態を検査し、この内部状態が所定基準を満たすことに基づいて、候補体から光学素子を選別する工程を有する。
【選択図】図1
Description
拡散光を光学材料に照射し、この光学材料を透過した透過光に基づいて前記光学材料の内部状態を検査する工程を有する検査方法。
光学材料として、日本光学硝子工業会(JOGIS)1175に指定された標準試料B及びCを用い、図1に示す検査システムを用いて、光学材料の内部状態の検査を行った。なお、光源21は緑色光源、収束レンズ41は平凸レンズ(平らな面が光源側)、結像レンズ51は凹メニスカスレンズ(曲率の大きい面が光源側)とした。図5において、(a)は脈理が比較的少ない標準試料B、(b)は脈理が比較的多い標準試料Cに関する結果である。
特開2008−267985号公報の実施例1に示す検査システムを用いた点を除き、実施例1と同様の手順で、光学材料の内部状態の検査を行った。図6において、(a)は標準試料B、(b)は標準試料Cに関する結果である。
収束レンズ41として、有効径が45mm(試験例1)、70mm(試験例2)、90mm(試験例3)のレンズを用い、表示部70に出力された画像の視野の広さを評価した。なお、結像レンズ51の有効径は70mmであり、光照射部20から検出部60までの距離は1040mmであった。図7において、(a)は試験例1、(b)は試験例2、(c)は試験例3の結果をそれぞれ示す。
20 光照射部
21 光源
23 光源支持部
30 位置決め部
31 台部
34 伸縮部
35 姿勢調節部
351 支持軸
352 当接面
353 接続部材
354 被当接面
36 磁気遮断板
40 収束部
41 収束レンズ
43 収束支持部
45 枠体
46 回転軸
47 鍔部
50 結像部
51 結像レンズ
53 結像支持部
60 検出部
61 接眼レンズ
62 カメラ
63 接眼支持部
64 カメラ支持部
70 表示部
OM 光学材料
Claims (13)
- 光学材料の内部状態を検査する検査方法であって、
拡散光を光学材料に照射し、この光学材料を透過した透過光に基づいて前記光学材料の内部状態を検査する工程を有する検査方法。 - 前記透過光を収束レンズで収束し、結像レンズで結像される像に基づいて前記光学材料の内部状態を検査する工程を有する請求項1記載の検査方法。
- 前記収束レンズ及び前記結像レンズの少なくとも一方の姿勢を調節する工程を更に有する請求項2記載の検査方法。
- 前記姿勢の調節は、前記光学材料に対する前記収束レンズ及び前記結像レンズの位置を変更せずに行う請求項3記載の検査方法。
- 前記収束レンズは、平凸レンズを有する請求項4記載の検査方法。
- 前記収束レンズは、45mm以上の有効径を有する請求項2記載の検査方法。
- 前記結像レンズは、凹メニスカスレンズである請求項2記載の検査方法。
- 前記光学材料の内部状態の検査は、収束された透過光を電子信号へと変換することで行う請求項1記載の検査方法。
- 前記電子信号への変換は、CMOSを用いて行う請求項8記載の検査方法。
- 前記光学材料の姿勢及び高さを調節する工程を更に有する請求項1記載の検査方法。
- 前記光学材料の姿勢の調節は、前記光学材料が載置されかつ部分球面状の当接面を有する載置台と、前記当接面と対称的な形状を有しかつ前記当接面と磁気的に接続可能な被当接面を有する接続部材とを用い、前記当接面及び被当接面を磁気的に接続した状態で摺動することで行う請求項10記載の検査方法。
- 前記光学材料の内部状態は、脈理の程度を含む請求項1記載の検査方法。
- 請求項1から12いずれか記載の検査方法を用いて、光学素子の候補体である光学材料の内部状態を検査し、この内部状態が所定基準を満たすことに基づいて、前記候補体から光学素子を選別する工程を有する光学素子の製造方法。
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