JP2011106919A - 半導体集積回路及びその遅延故障テスト方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の一観点にかかる半導体集積回路は、複数のフリップフロップと、複数のフリップフロップのうち少なくとも二以上のフリップフロップに接続される選択回路と、選択回路に接続されるテスト応答解析回路と、を有する。この場合において、テスト応答解析回路は、ビットシーケンス信号の作成を行うことが好ましい。また、テスト応答解析回路は、シグネチャレジスタであることが好ましい。
【選択図】図1
Description
図1は、本実施形態に係る半導体集積回路の回路概略図である。図1で示すとおり、本実施形態に係る半導体集積回路1(以下「本集積回路1」という。)は、複数のフリップフロップ21〜28と、複数のフリップフロップ21〜28の各々に接続される選択回路3と、選択回路3に接続されるテスト応答解析回路4と、を有する。
ここで、本実施形態に係る半導体集積回路を用いた遅延故障テスト方法(以下「本テスト方法」という。)について説明する。本テスト方法は、(1)複数のフリップフロップの内のいずれかにテスト信号を入力し、(2)複数のフリップフロップのいずれかからの出力を選択してテスト応答解析回路に入力し、(3)テスト応答解析回路からの出力を得ることで、行うことができる。図4に、本テスト方法のフローについて示しておく。
Claims (5)
- 複数のフリップフロップと、
前記複数のフリップフロップのうち少なくとも二以上のフリップフロップに接続される選択回路と、
前記選択回路に接続されるテスト応答解析回路と、を有する半導体集積回路。 - 前記テスト応答解析回路は、ビットシーケンス信号の作成を行う請求項1記載の半導体集積回路。
- 前記テスト応答解析回路は、シグネチャレジスタである請求項1記載の半導体集積回路。
- 複数のフリップフロップの内のいずれかにテスト信号を入力し、
前記複数のフリップフロップのいずれかからの出力を選択してテスト応答解析回路に入力し、
前記テスト応答解析回路からの出力を得る半導体集積回路の遅延故障テスト方法。 - 前記テスト応答解析回路は、ビットシーケンス信号を作成する請求項4記載の半導体集積回路の遅延故障テスト方法。
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