JP2011106841A - センサーユニットおよびその製造方法 - Google Patents

センサーユニットおよびその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2011106841A
JP2011106841A JP2009259411A JP2009259411A JP2011106841A JP 2011106841 A JP2011106841 A JP 2011106841A JP 2009259411 A JP2009259411 A JP 2009259411A JP 2009259411 A JP2009259411 A JP 2009259411A JP 2011106841 A JP2011106841 A JP 2011106841A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
active element
insulating resin
resin member
sensor unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009259411A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5672690B2 (ja
Inventor
Satoru Kuramochi
悟 倉持
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP2009259411A priority Critical patent/JP5672690B2/ja
Publication of JP2011106841A publication Critical patent/JP2011106841A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5672690B2 publication Critical patent/JP5672690B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract


【課題】小型で信頼性の高いセンサーユニットと、このようなセンサーユニットを簡便に製造するための製造方法を提供する。
【解決手段】センサーユニット1は、ピエゾ抵抗素子を用いたセンサー2と、このセンサーに接合した能動素子モジュール5とを備え、センサー2は、ピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zに電気的に接続し可動機能領域2Aの外側に位置する端子31を有するセンサー本体3と、センサー本体3の枠部23に接合された保護用蓋部材4と、を有し、能動素子モジュール5は、複数の貫通電極53と、センサー2の可動機能領域2Aを囲むように配設された絶縁性樹脂部材54と、所望の貫通電極53に接続し、かつ、絶縁性樹脂部材54上まで達しているコンタクト電極55とを有し、コンタクト電極55がセンサー本体3の端子31と接触した状態で、絶縁性樹脂部材54がセンサー2と能動素子モジュール5とを接合している。
【選択図】 図1

Description

本発明は、センサーユニットに係り、特にセンサーと能動素子とを内蔵したセンサーユニットと、このセンサーユニットを簡便に製造する方法に関する。
従来から、CCD、CMOS等のイメージセンサー、加速度センサー等のセンサーと、このセンサーを制御する能動素子とを備えたセンサーユニットが種々の用途に用いられている。このようなセンサーユニットとしては、例えば、ワイヤボンディング、金属バンプ等の接続手段を用いて配線基板上にセンサー内蔵モジュールと能動素子内蔵モジュールを実装し、これらを樹脂封止して保護したものが知られている(特許文献1)。
また、センサー内蔵モジュールと能動素子内蔵モジュールとを重ね合わせて接合したセンサーユニットが開発されている(特許文献2)。
一方、物体に作用する圧力、あるいは加速度を検出するセンサーとして種々のセンサーが開発されている(特許文献3、4)。
特開2003−259169号公報 特開2002−188975号公報 特開2002−221463号公報 特開2004−069405号公報
しかしながら、上述のような配線基板上に実装された従来のセンサーユニットでは、センサー内蔵モジュールが能動素子内蔵モジュールの実装部位とは別の部位に位置するため、配線基板の面方向の広がりが必要であった。このため、センサーユニットの小型化には限界があった。また、配線基板上にセンサー内蔵モジュールと能動素子内蔵モジュールを個々に実装するため、個々のモジュールを配線基板の所定の位置に実装するための位置合せを正確に行なう必要があり、工程管理が煩雑であるとともに、実装位置のズレを生じた場合、センサーユニットの信頼性が低下するという問題があった。さらに、実装時にセンサーが高温に曝されることがあり、センサーの特性の低下や、センサーユニットの信頼性低下を引き起こすことがあった。
また、センサー内蔵モジュールと能動素子内蔵モジュールとを重ね合わせて接合した従来のセンサーユニットでは、ウエハレベルの多面付けでセンサー内蔵モジュールと能動素子内蔵モジュールを作製し、両者を対向させて各モジュールの対応した電極をウエハレベルで電気的に確実に接続し、その後、ダイシングして個々のセンサーユニットとすることが難しく、生産性に問題があった。
本発明は、上記のような実情に鑑みてなされたものであり、小型で信頼性の高いセンサーユニットと、このようなセンサーユニットを簡便に製造するための製造方法を提供することを目的とする。
このような目的を達成するために、本発明のセンサーユニットは、ピエゾ抵抗素子を用いたセンサーと、該センサーに接合した能動素子モジュールとを備えたセンサーユニットにおいて、前記センサーは、可動機能領域内に位置するピエゾ抵抗素子と、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続し前記可動機能領域の外側に位置する複数の端子を有し、前記能動素子モジュールは、複数の貫通電極と、前記センサーとの対向面に前記可動機能領域を囲むように位置する絶縁性樹脂部材と、所望の前記貫通電極に接続し、かつ、前記絶縁性樹脂部材上まで達しているコンタクト電極とを有し、前記絶縁性樹脂部材上に位置する所定の前記コンタクト電極が前記センサーの所定の端子と接触した状態で、前記絶縁性樹脂部材が前記センサーと前記能動素子モジュールとを接合しているような構成とした。
本発明の他の態様として、前記絶縁性樹脂部材は、融点が200〜350℃以下の樹脂であるような構成とした。
本発明の他の態様として、前記絶縁性樹脂部材は、ポリイミド樹脂であるような構成とした。
本発明の他の態様として、前記センサーは、シリコン層/酸化シリコン層/シリコン層の3層構造を有するSOI基板からなるセンサー本体であって、枠部と、該枠部から内側方向に突出する複数の梁部と、該梁部により支持される錘部と、前記梁部に位置するピエゾ抵抗素子と、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続し前記枠部に位置する複数の前記端子と、を有するセンサー本体と、前記錘部との間に所定の間隙を形成するように前記センサー本体の枠部の前記端子が位置する面と反対側の面に接合している保護用蓋部材と、を有し、前記梁部と前記錘部が前記可動機能領域にあるような構成とした。
本発明のセンサーユニットの製造方法は、シリコン層/酸化シリコン層/シリコン層の3層構造を有するSOIウエハを多面付けに区画し、面付け毎に所望の加工を施して、可動機能領域内にピエゾ抵抗素子を備え、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続された複数の端子を前記可動機能領域の外側に有するセンサー本体を、前記SOIウエハの各面付けに作製する工程と、能動素子モジュール用ウエハを多面付けに区画し、各面付け毎に、能動素子を作製し、複数の微細貫通孔を形成して該微細貫通孔に導電材料を配設して貫通電極とし、前記センサー本体の前記可動機能領域を囲めるように一方の面に絶縁性樹脂部材を配設し、前記貫通電極に接続され、かつ、前記絶縁性樹脂部材上に達するようにコンタクト電極を形成して、能動素子モジュールを多面付けで作製する工程と、前記能動素子モジュールの絶縁性樹脂部材上に位置する所定のコンタクト電極と前記センサー本体の所定の端子とを接触させた状態で、加熱圧着を施して前記絶縁性樹脂部材により前記センサー本体と前記能動素子モジュールとを接合して、多面付けのセンサーユニットとする工程と、多面付けのセンサーユニットをダイシングする工程と、を有するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記絶縁性樹脂部材として、融点が200〜350℃以下の樹脂を使用するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記絶縁性樹脂部材としてポリイミド樹脂を使用し、前記センサー本体と前記能動素子モジュールとの接合時の加熱温度を250〜350℃の範囲内とするような構成とした。
本発明の他の態様として、前記センサー本体を前記SOIウエハの各面付けに作製する工程では、枠部と、該枠部から内側方向に突出する複数の梁部と、該梁部により支持される錘部と、前記梁部に配設されたピエゾ抵抗素子と、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続され前記枠部に位置する前記端子と、を有するセンサー本体を作製するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記センサー本体と前記能動素子モジュールとを接合する工程の前に、ガラスウエハを多面付けに区画し、面付け毎に所望の加工を施して、保護用蓋部材を、前記ガラスウエハの各面付けに作製する工程と、前記SOIウエハに作製された前記センサー本体の枠部に、前記ガラスウエハに作製された保護用蓋部材を接合してセンサーを多面付けで作製する工程と、を有するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記能動素子の作製は、別途作製した能動素子を前記能動素子モジュール用ウエハに埋設するような構成とした。
このような本発明のセンサーユニットは、センサー本体の端子と能動素子モジュールのコンタクト電極とが接触した状態で絶縁性樹脂部材によりセンサーと能動素子モジュールとを接合した構造であり、配線基板を備えていないので、面積、高さともに大幅な小型化が可能となり、また、センサーと能動素子モジュールとの熱挙動の違いによる応力が生じても、絶縁性樹脂部材が応力を緩和する作用をなすので、コンタクト電極を介したセンサー本体の端子と能動素子モジュールの貫通電極との接続が確実に維持されるとともに、センサー本体と能動素子モジュールとが対向しピエゾ抵抗素子が位置する空間が絶縁性樹脂部材により密封されるので、センサーユニットの実装時においてピエゾ抵抗素子が熱等の悪影響を受け難くいものとなる。
また、本発明の製造方法は、能動素子モジュールの絶縁性樹脂部材上に位置するコンタクト電極をセンサー本体の端子と接触させた状態で、加熱圧着を施して絶縁性樹脂部材によりセンサーと能動素子モジュールとを接合するので、センサー本体側に凸形状となっているコンタクト電極がセンサー本体の端子と確実に接続され、かつ、絶縁性樹脂部材が接触状態のコンタクト電極と端子との段差を吸収して、これらを包み込み、ウエハレベルでのコンタクト電極を介したセンサー本体の端子と能動素子モジュールの貫通電極との接続を確実に行うことができ、ウエハレベルでセンサーと能動素子モジュールとの接合を行う一括アッセンブリーが可能であり、工程管理が容易で製造コストの低減が可能であり、また、接合が絶縁性樹脂部材を用いたものであり、加熱圧着の温度が低く、ピエゾ抵抗素子への熱の影響を阻止することができ、信頼性の高いセンサーユニットの製造が可能となる。
本発明のセンサーユニットの一実施形態を示す概略断面図であり、図2に示されるセンサー本体のI−I線での縦断面図である。 図1に示されるセンサーを構成するセンサー本体のシリコン層(活性層シリコン)側からの平面図である。 図2に示されるセンサー本体のII−II線での縦断面図である。 ピエゾ抵抗素子と端子とが配線で電気的に接続されている一例を示すセンサーの平面図である。 絶縁性樹脂部材を備えている面における能動素子モジュールの平面図である。 絶縁性樹脂部材を介したセンサーと能動素子モジュールとの接合状態を説明するための図1の部分拡大断面図である。 本発明のセンサーユニットを構成する能動素子モジュールの他の態様を示す断面図である。 本発明のセンサーユニットの製造方法の一実施形態を説明するための工程図である。 本発明のセンサーユニットの製造方法の一実施形態を説明するための工程図である。 本発明のセンサーユニットの製造方法におけるセンサーの作製例を示す工程図である。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
[センサーユニット]
図1は、本発明のセンサーユニットの一実施形態を示す概略断面図である。図1において、本発明のセンサーユニット1は、センサー2と能動素子モジュール5とが絶縁性樹脂部材54を介して接合されたものである。
センサーユニット1を構成するセンサー2は、ピエゾ抵抗素子を用いたセンサーであり、例えば、MEMS(Micro Electromechanical System)型の圧力センサー、加速度センサー等の従来公知のセンサーであってよく、特に制限はない。図示例では、センサー2は、センサー本体3と、これに接合された保護用蓋部材4を備えており、センサー本体3は酸化シリコン層13をシリコン層12(活性層シリコン)とシリコン層14(基板シリコン)で挟持した3層構造を有するSOI(Silicon On Insulator)基板11からなる。
図2は、図1に示されるセンサー2を構成するセンサー本体3のシリコン層12(活性層シリコン)側からの平面図である。そして、図1に示されるセンサー本体3は、図2におけるI−I線での縦断面形状を示している。また、図3は、図2に示されるセンサー本体3のII−II線での縦断面形状を示している。
図1〜図3に示されるように、センサー本体3を構成するシリコン層12(活性層シリコン)は、錘部21を構成する錘接合部24と、この錘接合部24を支持するための4本の梁部22と、枠部23と、各梁部22と枠部23で囲まれた4箇所の窓部25とを備えている。そして、錘部21と4本の梁部22は可動機能領域2A内にあり、4本の梁部22には、X軸方向の外力を検出する4個のピエゾ抵抗素子29X、Y軸方向の外力を検出する4個のピエゾ抵抗素子29Yと、Z軸方向の外力を検出する4個のピエゾ抵抗素子29Zが配設されている。また、各ピエゾ抵抗素子は、配線32を介して対応する端子31に電気的に接続されている。上記の可動機能領域2Aは、センサー2の機能を発現するうえで可動を確保する必要がある領域であり、図1、図3に矢印で範囲を示し、図2では鎖線で囲んで範囲を示している。尚、図1では配線32は図示していない。
また、センサー本体3を構成するシリコン層14(基板シリコン)は、錘部21を構成する錘26と、この錘26の周囲に開口部を介して位置する枠部27とを備えている。錘26は、その厚みが枠部27よりも薄いものであり、基部26Aと、この基部26Aから十字型の梁部22の間(窓部25)方向に突出している4個の突出部26Bからなる。そして、錘26の基部26Aは、酸化シリコン層13を介してシリコン層12(活性層シリコン)の錘接合部24に接合され、錘部21が構成されている。
センサー2を構成する保護用蓋部材4は、例えば、ガラス、シリコン、SUS板、インバー(Fe−36%Ni合金)等の金属板、絶縁性樹脂板等を用いることができ、厚みは50〜1000μm程度の範囲で適宜設定することができる。尚、本発明においてセンサー2は、センサー本体3からなり、保護用蓋部材4を備えていないものであってもよい。
このセンサー2では、4本の梁部22で支持された錘部21に、X軸、Y軸、あるいは、Z軸(図2参照)方向に外力が作用すると、可動機能領域2A内に位置する錘部21に変位が生じる。この変位により、梁部22に撓みが生じて、錘部21に作用した外力がピエゾ抵抗素子により検出される。
ピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zは、例えば、梁部22(シリコン層12(活性層シリコン))に、ボロン、リン等の不純物をイオン注入あるいは熱拡散して形成したP型拡散層あるいはN型拡散層であり、長さ、幅は適宜設定することができる。また、ピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zの形状は、図示のようなストライプ形状に限定されるものではなく、例えば、折り返し部を有するような形状であってもよい。
また、絶縁層28は、ピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zを被覆するように、センサー本体3を構成するシリコン層12(活性層シリコン)上に形成されている。このような絶縁層28は、例えば、二酸化珪素膜であり、厚みは50〜500nm程度の範囲で適宜設定することができる。
図4は、ピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zと端子31とが配線32で電気的に接続されている一例を示すセンサーの平面図であり、センサー本体3を構成するシリコン層12(活性層シリコン)のみを示している。図4では、右側の枠部23に11個の端子31が設けられ、これらの端子31とピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zとがブリッジ回路を構成するように配線32で電気的に接続されている。端子31、配線32は、例えば、アルミニウム、アルミニウムを主とした合金、銅、チタン、窒化チタン、および、これらの積層膜等の金属材料を用いて形成することができる。
センサーユニット1を構成する能動素子モジュール5は、能動素子51と、能動素子51に穿設された複数の微細貫通孔52と、これらの微細貫通孔52内に配設された貫通電極53とを備えている。微細貫通孔52は、開口径が1〜100μm、好ましくは5〜60μm程度であり、開口径が1μm未満であると、細貫通孔52への貫通電極53の形成が難しく断線が生じ易く、また、100μmを超えると、細貫通孔52への材料充填が難しくなり好ましくない。また、微細貫通孔52の形状は、図示例では厚み方向で内径がほぼ一定のストレート形状であるが、これに限定されず、一方の開口径が広いテーパー形状をなすもの、厚み方向のほぼ中央で内径が狭くなっているような形状等であってもよい。
また、能動素子モジュール5は、センサー2との対向面に、センサーの可動機能領域2Aを囲むように絶縁性樹脂部材54を備えている。図5は、絶縁性樹脂部材54を備えている面における能動素子モジュール5の平面図であり、方形の能動素子51の一つの辺に沿って11個の貫通電極53が配設されており、二点鎖線で示される可動機能領域2Aを囲むように絶縁性樹脂部材54(図示例では斜線を付して示している)が回廊形状に配設されている。また、能動素子モジュール5は、所望の貫通電極53に接続され、かつ、絶縁性樹脂部材54上に達するように配設されたコンタクト電極55を有している。図示例では、絶縁性樹脂部材54は貫通電極53の外側に位置しているが、可動機能領域2Aと絶縁電極53の位置関係に応じて、絶縁性樹脂部材54が貫通電極53よりも内側に位置してもよい。
尚、絶縁性樹脂部材54が形成されている面と反対側の能動素子51の面には、能動素子51の端子や貫通電極53にバンプが形成されていてもよい。
上記のような微細貫通孔52内に配設された貫通電極53は、微細貫通孔52内に充填されたものであってもよく、また、微細貫通孔52の内壁面に形成され、貫通電極53の中心に貫通孔が存在するようなものであってもよい。貫通電極53の材質は、Au、Ag、Cu、Sn等の導電材料とすることができる。また、コンタクト電極55は、例えば、Cu/Cr積層、Cu/Ti積層等とすることができる。
上記の絶縁性樹脂部材54の厚みは、センサー本体3と能動素子モジュール5とが対向する空間に要求される間隙に応じて設定することができ、例えば、3〜30μm程度の範囲で適宜設定することができる。絶縁性樹脂部材54の厚みが3μm未満であると、絶縁性樹脂部材54の形成が難しいとともに、絶縁性樹脂部材54の応力緩和作用が不十分となったり、コンタクト電極55と端子31との段差の吸収が不十分となることがあり好ましくない。また、絶縁性樹脂部材54の厚みが30μmを超えると、絶縁性樹脂部材の形成が難しくなり好ましくない。また、絶縁性樹脂部材54の幅は、貫通電極53から能動素子51の端辺までの距離、可動機能領域2Aと絶縁電極53の位置関係、センサー本体3の枠部23の幅等を考慮して設定することができ、例えば、30〜100μm程度の範囲で適宜設定することができる。このような絶縁性樹脂部材54の材質は、例えば、ポリイミド樹脂、ベンゾシクロブテン(BCB)、ポリアミド樹脂、エポキシ樹脂、アクリル樹脂等の融点が400℃以下、好ましくは200〜350℃程度の範囲にある樹脂を挙げることができる。絶縁性樹脂部材54に用いる材質の融点が400℃を超えると、センサー2と能動素子モジュール5との接合時の熱の悪影響がピエゾ抵抗素子に及ぶことがあり好ましくない。
図6は、絶縁性樹脂部材54を介したセンサー2と能動素子モジュール5との接合状態を説明するための図1の部分拡大断面図である。図6に示されるように、能動素子モジュール5の所定のコンタクト電極55が、センサー本体3の所定の端子31と接触した状態で、絶縁性樹脂部材54によりセンサー2と能動素子モジュール5とが接合されている。
尚、図6では、コンタクト電極55の一方の端部55aが所望の貫通電極53に接続され、他方の端部55bが絶縁性樹脂部材54上に位置するように配設されているが、これに限定されるものではない。例えば、コンタクト電極の一方の端部55aが貫通電極53よりも能動素子モジュール5の内側方向へ延設されていてもよく、また、他方の端部55bが絶縁性樹脂部材54を乗り越えるように延設されていてもよい。
このような本発明のセンサーユニット1は、センサー本体3の端子31と能動素子モジュール5の絶縁性樹脂部材54上に位置するコンタクト電極55とが接触した状態で絶縁性樹脂部材54によりセンサー2と能動素子モジュール5とを接合した構造であり、配線基板を備えていないので、面積、高さともに大幅な小型化が可能となる。また、センサー2と能動素子モジュール5との熱挙動の違いによる応力が生じても、絶縁性樹脂部材54が応力を緩和する作用をなすので、コンタクト電極55を介したセンサー本体3の端子31と能動素子モジュール5の貫通電極53との接続が確実に維持される。さらに、絶縁性樹脂部材54が可動機能領域2Aを囲むように位置するので、センサー本体3と能動素子モジュール5とが対向しピエゾ抵抗素子が位置する空間が絶縁性樹脂部材54により密封され、センサーユニットの実装時においてピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zが熱等の悪影響を受け難くいものとなる。
上述のセンサーユニットの実施形態は例示であり、本発明のセンサーユニットはこれらに限定されるものではない。したがって、センサー本体3に配設された端子31の位置、個数、能動素子モジュール5に配設された貫通電極53の位置、個数等は、上述の実施形態に限定されるものではない。また、例えば、センサーユニットを構成する能動素子モジュール5が、図7に示されるように、基板50と、この基板50に内蔵された能動素子51と、この能動素子51の外側の領域の基板50に形成された複数の微細貫通孔52と、これらの微細貫通孔52内に配設された貫通電極53とを備えているものであってもよい。そして、貫通電極53は、配線56を介して能動素子51の所望の端子に接続されている。この場合も、能動素子51を内蔵した基板50の貫通電極53が配設された領域の外側の一方の面には、これら貫通電極53を囲むように絶縁性樹脂部材54を備えている。このような態様における基板50の材質は、例えば、シリコン、ガラス等を挙げることができる。また、このような能動素子モジュール5は、基板50のセンサー2と対向する面に能動素子51を内蔵するものであってもよい。
[センサーユニットの製造方法]
次に、本発明のセンサーユニットの製造方法について、上述の図1に示すセンサーユニット1を例として説明する。
図8および図9は、本発明のセンサーユニットの製造方法の一実施形態を説明するための工程図である。本発明では、まず、多面付けでセンサー2を作製する。すなわち、シリコン層12(活性層シリコン)、酸化シリコン層13、シリコン層14(基板シリコン)の3層構造を有するSOI(Silicon On Insulator)ウエハ11′と、1枚のガラスウエハ4′とを多面付け(各面付け部を1Aで示す)に区画する(図8(A))。
次に、SOIウエハ11′の面付け1A毎に所望の加工を施して、枠部23と、この枠部23から内側方向に突出する複数の梁部22と、梁部22により支持される錘部21と、梁部22に配設されたピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zと、ピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Zに電気的に接続され枠部23(可動機能領域2Aの外側)に位置する端子31と、を有するセンサー本体3を、SOIウエハ11′の各面付け1Aに作製する。また、ガラスウエハ4′の面付け1A毎に所望の加工を施して、保護用蓋部材4をガラスウエハ4′の各面付け1Aに作製する(図8(B))。そして、SOIウエハ11′に形成されたセンサー本体3の枠部27に、ガラスウエハ4′に形成された保護用蓋部材4を接合して、センサー2を多面付けで作製する(図8(C))。この多面付けのセンサー2の錘部21、梁部22、枠部23,27の作製工程については、後述する。
また、本発明のセンサーユニットの製造方法では、センサー2と同様に、多面付けで能動素子モジュール5を作製する(図9(A))。すなわち、能動素子モジュール用ウエハ5′を多面付け(各面付け部を1Aで示す)に区画し、面付け1A毎に能動素子51を作製し、所定の部位に複数の微細貫通孔52を形成し、これらの微細貫通孔52に導電材料を配設して貫通電極53とする。その後、可動機能領域2Aを囲むように、能動素子51の一方の面に絶縁性樹脂部材54を配設し、さらにコンタクト電極55を配設する。このコンタクト電極55は、所望の貫通電極53に接続され、かつ、絶縁性樹脂部材54上に達するように形成する。これにより、能動素子モジュール5が多面付けで作製される。
上記の微細貫通孔52の形成は、例えば、マスクパターンを介してICP−RIE法により行うことができる。また、サンドブラスト法、ウエットエッチング法、フェムト秒レーザ法により微細貫通孔52を形成することもできる。さらに、能動素子モジュール用ウエハ5′に、上述のいずれかの方法により、一方の面から所定の深さで微細孔を形成し、その後、能動素子モジュール用ウエハ5′の反対面を研磨して微細孔を露出させることにより、微細貫通孔52を形成してもよい。この微細貫通孔52の開口径は、1〜100μm、好ましくは5〜60μmの範囲で設定することができる。
また、微細貫通孔52内への貫通電極53の形成は、例えば、プラズマCVD法等により下地導電薄膜を微細貫通孔52内に形成し、その後、電気フィルドめっきにより、導電金属を析出させることにより行うことができる。これにより、ボイドのない貫通電極53を得ることができる。また、導電性ペーストを微細貫通孔52内に充填することにより貫通電極53を形成することもできる。
また、コンタクト電極55の形成は、例えば、マスクパターンを介して真空成膜法により、Cu/Cr、Cu/Ti等の積層配線を形成することにより行うことができる。
尚、上述の図7で説明したように、基板50に能動素子51を内蔵する能動素子モジュールを作製する場合には、面付け1A毎に、能動素子51を埋設するための凹部を形成し、この凹部内に能動素子51を埋設する。上記の凹部は、例えば、能動素子モジュール用ウエハ5′上にマスクパターンを形成し、露出している能動素子モジュール用ウエハ5′に対して、ICP−RIE法により形成することができる。また、サンドブラスト法、ウエットエッチング法等によっても形成することができる。凹部の形状、寸法は、埋設する能動素子の形状、寸法に応じて適宜設定することができる。また、能動素子51の埋設は、例えば、接着剤を用いて固着する方法、凹部に能動素子を嵌合する方法等、特に制限はない。
次いで、能動素子モジュール5の所定のコンタクト電極55とセンサー本体3の所定の端子31とを接触させた状態で加熱圧着を施して、絶縁性樹脂部材54により多面付けの能動素子モジュール5と多面付けのセンサー2とを接合する。これにより、多面付けのセンサーユニット1が得られる(図9(B))。この絶縁性樹脂部材54を介したセンサー2と能動素子モジュール5との接合における加熱圧着の条件は、絶縁性樹脂部材54に用いる樹脂部材の融点から適宜設定することができ、例えば、加熱温度を400℃以下、好ましくは250〜350℃とすることができる。
次いで、多面付けのセンサーユニット1をダイシングすることにより、図1に示されるようなセンサーユニット1が得られる。
ここで、多面付けのセンサー2の錘部21、梁部22、枠部23,27の作製工程の一例を、上述のセンサー2のセンサー本体3の製造を例として説明する。図10は、センサーの製造例を示す工程図であり、図3に示した断面形状に相当する部位を示している。
図10において、シリコン層12(活性層シリコン)、酸化シリコン層13、シリコン層14(基板シリコン)の3層構造を有するSOIウエハ11′に多面付けで加工が行われる。まず、各面付け1Aに、梁部22、枠部23、錘接合部24を形成する部位を設定し、梁部22となるシリコン層12(活性層シリコン)の所定箇所に熱拡散法あるいはイオン注入法を用いてピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Z(図示せず)を形成する。そして、ピエゾ抵抗素子を被覆するように絶縁層28を形成し、この絶縁層28上に配線32(図示せず)でピエゾ抵抗素子29X,29Y,29Z(図示せず)に電気的に接続された端子31を形成する(図10(A))。
次に、梁部22、枠部23、錘接合部24を形成するための溝部16をシリコン層12(活性層シリコン)に形成し、また、錘26の厚みを設定するための凹部17をシリコン層14(基板シリコン)に形成する(図10(B))。この溝部16、凹部17の形成は、例えば、マスクパターンを介して、プラズマを利用したドライエッチング法であるDRIE(Deep Reactive Ion Etching)法により行うことができる。また、サンドブラスト法、ウエットエッチング法、フェムト秒レーザ法により溝部16、凹部17を形成することもできる。
次に、面付け1A毎に、SOIウエハ11′のシリコン層14(基板シリコン)側(凹部17側)からマスクパターン19を介して酸化シリコン層13が露出するまで開口部18を穿設して錘26(基部26A、突出部26B)と枠部27を形成する(図10(C))。その後、開口部18と溝部16とに露出する酸化シリコン層13を除去する(図10(D))。これによりセンサー本体3が得られる。開口部18の形成は、マスクパターン19を介してDRIE法により行うことができる。また、酸化シリコン層13の除去は、例えば、反応性ガスによるドライエッチングにより行うことができる。マスクパターン19の形成方法には特に制限はなく、例えば、感光性レジストを用いてフォトリソグラフィーにより形成する方法、樹脂層や金属層を配設し、これにレーザ描画により直接パターニングする方法等を用いることができる。
このようなセンサーを構成する枠部、梁部、錘部の形成と、上述のようなピエゾ抵抗素子、配線、端子の形成の工程順序は特に制限はない。
そして、ピエゾ抵抗素子が形成されたセンサー本体3に保護用蓋部材4を接合することにより上述のセンサー2が得られる。センサー本体3と保護用蓋部材4との接合は、例えば、陽極接合、直接接合、共晶接合、接着剤を用いた接合等により行うことができる。
上述のような本発明のセンサーユニットの製造方法は、能動素子モジュール5の絶縁性樹脂部材54上に位置するコンタクト電極55の端部55bをセンサー本体3の端子31と接触させた状態で、加熱圧着を施して絶縁性樹脂部材54によりセンサー2と能動素子モジュール5とを接合するので、センサー本体3側に凸形状となっているコンタクト電極55がセンサー本体3の端子31と確実に接続される。また、絶縁性樹脂部材54が、接触状態のコンタクト電極55と端子31との段差を吸収して、これらを包み込むので、ウエハレベルでのコンタクト電極55を介したセンサー本体3の端子31と能動素子モジュール5の貫通電極53との接続を確実に行うことができる。これにより、ウエハレベルでセンサーと能動素子モジュールとの接合を行う一括アッセンブリーが可能であり、工程管理が容易で製造コストの低減が可能である。また、接合が、絶縁性樹脂部材を用いたものであり、加熱圧着の温度が低く、ピエゾ抵抗素子への熱の影響を阻止することができ、信頼性の高いセンサーユニットの製造が可能となる。
尚、上述のセンサーユニットの製造方法は例示であり、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではない。
小型で高信頼性のセンサーユニットが要求される種々の分野において適用できる。
1…センサーユニット
2…センサー
2A…可動機能領域
3…センサー本体
4…保護用蓋部材
5…能動素子モジュール
11…SOI基板
21…錘部
22…梁部
23…枠部
24…錘接合部
26…錘
27…枠部
29X,29Y,29Z…ピエゾ抵抗素子
31…端子
53…貫通電極
54…絶縁性樹脂部材
55…コンタクト電極
4′…ガラスウエハ
5′…能動素子モジュール用ウエハ
11′…SOIウエハ

Claims (10)

  1. ピエゾ抵抗素子を用いたセンサーと、該センサーに接合した能動素子モジュールとを備えたセンサーユニットにおいて、
    前記センサーは、可動機能領域内に位置するピエゾ抵抗素子と、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続し前記可動機能領域の外側に位置する複数の端子を有し、
    前記能動素子モジュールは、複数の貫通電極と、前記センサーとの対向面に前記可動機能領域を囲むように位置する絶縁性樹脂部材と、所望の前記貫通電極に接続し、かつ、前記絶縁性樹脂部材上まで達しているコンタクト電極とを有し、
    前記絶縁性樹脂部材上に位置する所定の前記コンタクト電極が前記センサーの所定の端子と接触した状態で、前記絶縁性樹脂部材が前記センサーと前記能動素子モジュールとを接合していることを特徴とするセンサーユニット。
  2. 前記絶縁性樹脂部材は、融点が200〜350℃以下の樹脂であることを特徴とする請求項1に記載のセンサーユニット。
  3. 前記絶縁性樹脂部材は、ポリイミド樹脂であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のセンサーユニット。
  4. 前記センサーは、シリコン層/酸化シリコン層/シリコン層の3層構造を有するSOI基板からなるセンサー本体であって、枠部と、該枠部から内側方向に突出する複数の梁部と、該梁部により支持される錘部と、前記梁部に位置するピエゾ抵抗素子と、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続し前記枠部に位置する複数の前記端子と、を有するセンサー本体と、前記錘部との間に所定の間隙を形成するように前記センサー本体の枠部の前記端子が位置する面と反対側の面に接合している保護用蓋部材と、を有し、前記梁部と前記錘部が前記可動機能領域にあることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載のセンサーユニット。
  5. シリコン層/酸化シリコン層/シリコン層の3層構造を有するSOIウエハを多面付けに区画し、面付け毎に所望の加工を施して、可動機能領域内にピエゾ抵抗素子を備え、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続された複数の端子を前記可動機能領域の外側に有するセンサー本体を、前記SOIウエハの各面付けに作製する工程と、
    能動素子モジュール用ウエハを多面付けに区画し、各面付け毎に、能動素子を作製し、複数の微細貫通孔を形成して該微細貫通孔に導電材料を配設して貫通電極とし、前記センサー本体の前記可動機能領域を囲めるように一方の面に絶縁性樹脂部材を配設し、前記貫通電極に接続され、かつ、前記絶縁性樹脂部材上に達するようにコンタクト電極を形成して、能動素子モジュールを多面付けで作製する工程と、
    前記能動素子モジュールの絶縁性樹脂部材上に位置する所定のコンタクト電極と前記センサー本体の所定の端子とを接触させた状態で、加熱圧着を施して前記絶縁性樹脂部材により前記センサー本体と前記能動素子モジュールとを接合して、多面付けのセンサーユニットとする工程と、
    多面付けのセンサーユニットをダイシングする工程と、を有することを特徴とするセンサーユニットの製造方法。
  6. 前記絶縁性樹脂部材として、融点が200〜350℃以下の樹脂を使用することを特徴とする請求項5に記載のセンサーユニットの製造方法。
  7. 前記絶縁性樹脂部材としてポリイミド樹脂を使用し、前記センサー本体と前記能動素子モジュールとの接合時の加熱温度を250〜350℃の範囲内とすることを特徴とする請求項5または請求項6に記載のセンサーユニットの製造方法。
  8. 前記センサー本体を前記SOIウエハの各面付けに作製する工程では、枠部と、該枠部から内側方向に突出する複数の梁部と、該梁部により支持される錘部と、前記梁部に配設されたピエゾ抵抗素子と、該ピエゾ抵抗素子に電気的に接続され前記枠部に位置する前記端子と、を有するセンサー本体を作製することを特徴とする請求項5乃至請求項7のいずれかに記載のセンサーユニットの製造方法。
  9. 前記センサー本体と前記能動素子モジュールとを接合する工程の前に、ガラスウエハを多面付けに区画し、面付け毎に所望の加工を施して、保護用蓋部材を、前記ガラスウエハの各面付けに作製する工程と、前記SOIウエハに作製された前記センサー本体の枠部に、前記ガラスウエハに作製された保護用蓋部材を接合してセンサーを多面付けで作製する工程と、を有することを特徴とする請求項8に記載のセンサーユニットの製造方法。
  10. 前記能動素子の作製は、別途作製した能動素子を前記能動素子モジュール用ウエハに埋設することを特徴とする請求項5乃至請求項9のいずれかに記載のセンサーユニットの製造方法。
JP2009259411A 2009-11-13 2009-11-13 センサーユニットおよびその製造方法 Expired - Fee Related JP5672690B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009259411A JP5672690B2 (ja) 2009-11-13 2009-11-13 センサーユニットおよびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009259411A JP5672690B2 (ja) 2009-11-13 2009-11-13 センサーユニットおよびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011106841A true JP2011106841A (ja) 2011-06-02
JP5672690B2 JP5672690B2 (ja) 2015-02-18

Family

ID=44230495

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009259411A Expired - Fee Related JP5672690B2 (ja) 2009-11-13 2009-11-13 センサーユニットおよびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5672690B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9568386B2 (en) 2014-03-05 2017-02-14 Kabushiki Kaisha Toshiba MEMS device with protective structure

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06322122A (ja) * 1992-05-25 1994-11-22 Mitsui Toatsu Chem Inc 芳香族ジアミンおよびポリイミド、ならびにこれらの製造方法
JPH09252072A (ja) * 1996-03-15 1997-09-22 Shinko Electric Ind Co Ltd 多層リードフレームおよびその製造方法
JP2006119042A (ja) * 2004-10-22 2006-05-11 Oki Electric Ind Co Ltd 加速度センサチップパッケージ及びその製造方法
JP2006278906A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2007264424A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Kyocera Corp 光ファイバ部品と光デバイス
JP2008051686A (ja) * 2006-08-25 2008-03-06 Dainippon Printing Co Ltd センサーユニットおよびその製造方法
JP2008218744A (ja) * 2007-03-05 2008-09-18 Denso Corp 半導体装置の製造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06322122A (ja) * 1992-05-25 1994-11-22 Mitsui Toatsu Chem Inc 芳香族ジアミンおよびポリイミド、ならびにこれらの製造方法
JPH09252072A (ja) * 1996-03-15 1997-09-22 Shinko Electric Ind Co Ltd 多層リードフレームおよびその製造方法
JP2006119042A (ja) * 2004-10-22 2006-05-11 Oki Electric Ind Co Ltd 加速度センサチップパッケージ及びその製造方法
JP2006278906A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Oki Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
JP2007264424A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Kyocera Corp 光ファイバ部品と光デバイス
JP2008051686A (ja) * 2006-08-25 2008-03-06 Dainippon Printing Co Ltd センサーユニットおよびその製造方法
JP2008218744A (ja) * 2007-03-05 2008-09-18 Denso Corp 半導体装置の製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9568386B2 (en) 2014-03-05 2017-02-14 Kabushiki Kaisha Toshiba MEMS device with protective structure

Also Published As

Publication number Publication date
JP5672690B2 (ja) 2015-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5493767B2 (ja) センサーユニットおよびその製造方法
JP5092462B2 (ja) 力学量センサ
US9926188B2 (en) Sensor unit including a decoupling structure and manufacturing method therefor
JP4967537B2 (ja) センサーユニットおよびその製造方法
US10466119B2 (en) Ruggedized wafer level MEMS force sensor with a tolerance trench
JP5545281B2 (ja) 力学量センサ
EP3052901B1 (en) Inertial and pressure sensors on single chip
KR101048085B1 (ko) 기능성 소자 패키지 및 그 제조 방법
JP2011106955A (ja) 加速度センサ、及び加速度センサの製造方法
JP5615122B2 (ja) 電子部品装置及びその製造方法
TWI634069B (zh) 混合整合構件及其製造方法
JP2008091845A (ja) 半導体センサー装置およびその製造方法
JP4957123B2 (ja) センサーユニットおよびその製造方法
JP4675945B2 (ja) 半導体装置
TW201234543A (en) Glass-embedded silicon substrate and method for manufacturing same
JP5672690B2 (ja) センサーユニットおよびその製造方法
JP5684233B2 (ja) シリコン配線埋込ガラス基板及びその製造方法
JP5123575B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP5366463B2 (ja) 物理量センサ及びその製造方法、ならびに、物理量センサ実装構造
JP2006186357A (ja) センサ装置及びその製造方法
JP6851773B2 (ja) 半導体装置
JP2005228863A (ja) 半導体装置の製造方法、半導体装置及びセンサ
JP2007288024A (ja) センサーチップおよびその製造方法
JP2008051686A (ja) センサーユニットおよびその製造方法
JP2010025822A (ja) 物理量センサ及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120918

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130524

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130528

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130729

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140408

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140609

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20141202

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141215

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5672690

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees