JP2011099819A - 電気特性測定基板 - Google Patents

電気特性測定基板 Download PDF

Info

Publication number
JP2011099819A
JP2011099819A JP2009256093A JP2009256093A JP2011099819A JP 2011099819 A JP2011099819 A JP 2011099819A JP 2009256093 A JP2009256093 A JP 2009256093A JP 2009256093 A JP2009256093 A JP 2009256093A JP 2011099819 A JP2011099819 A JP 2011099819A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
main surface
substrate
ground electrode
electrode
front main
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009256093A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5024356B2 (ja
Inventor
Hiroshi Yonekura
博 米倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2009256093A priority Critical patent/JP5024356B2/ja
Priority to EP10188204.1A priority patent/EP2320239B1/en
Priority to KR1020100105946A priority patent/KR101166645B1/ko
Priority to US12/913,845 priority patent/US8698514B2/en
Priority to CN201010529797.6A priority patent/CN102095901B/zh
Publication of JP2011099819A publication Critical patent/JP2011099819A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5024356B2 publication Critical patent/JP5024356B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/08Measuring resistance by measuring both voltage and current
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/20Modifications of basic electric elements for use in electric measuring instruments; Structural combinations of such elements with such instruments
    • G01R1/24Transmission-line, e.g. waveguide, measuring sections, e.g. slotted section
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2822Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

【課題】端子配置が非線対称形、且つ、鏡像関係にある2つの電子部品に対して、電気特性の測定ができる電気特性測定基板の提供を図る。
【解決手段】電気特性測定基板1は複数の誘電体層を積層してなり、表主面にコプレーナライン14A〜14Dを備え、裏主面にコプレーナライン24A〜24Dを備え、誘電体層間に層間アース電極3A,3Bを備える。コプレーナライン14A〜14Dの第一端が集まって構成される表主面の部品搭載電極12と、コプレーナライン24A〜24Dの第一端が集まって構成される裏主面の部品搭載電極22とは、表主面法線方向から見て、互いに同一パターン、且つ、それぞれ表主面または裏主面の中心線に対して非線対称形な電極パターンである。
【選択図】 図2

Description

この発明は、電子部品の電気特性を測定する際に、電子部品を搭載して測定装置に接続する電気特性測定基板に関する。
従来、フィルタやデュプレクサなどの電子部品で電気特性を測定して規格適応などの判別を行うことがある。電気特性の測定は、電子部品を電気特性測定基板に搭載し、電気特性測定基板を測定装置に接続して実施される。電気特性測定基板としては、電子部品の出力端子を実装するための部品搭載電極と、測定装置に接続するためのコネクタとの間を、特定インピーダンスのコプレーナラインで接続する構成が一般的である。電子部品には様々なサイズや端子位置のものが存在するため、電気特性測定基板は電子部品の種別に応じて用意する必要が有る。
図1(A)は電気特性測定基板の第1の構成例を示す平面図である。電気特性測定基板101は、コプレーナライン104A〜104C、表主面アース電極105、裏主面アース電極(不図示)、およびビア電極107を備える。コプレーナライン104Aは、電子部品に接続する第一端が基板表主面の中央に配置され、測定装置との接続用のコネクタに接続する第二端が図中右側の基板側面まで延設される。コプレーナライン104Bは、第一端が基板表主面の中央に配置され、第二端が図中左側の基板側面に延設される。コプレーナライン104Cは、第一端が基板表主面の中央に配置され、第二端が図中左側の基板側面に延設される。そして、各コプレーナライン104A〜104Cの第一端が電子部品の出力端子に接続される部品搭載電極102として機能する。表主面アース電極105は基板表主面の略全面にコプレーナライン104A〜104Cから離間して形成される。裏主面アース電極(不図示)は基板裏主面の全面に形成される。ビア電極107はコプレーナライン104A〜104Cに沿って形成され、表主面アース電極105−裏主面アース電極(不図示)間を導通させる。この電気特性測定基板101は、端子位置が線対称形である3ポート電子部品に対して利用される。
図1(B)は電気特性測定基板の第2の構成例を示す平面図である。電気特性測定基板201は、コプレーナライン204A〜204D、表主面アース電極205、裏主面アース電極(不図示)、およびビア電極207を備える。コプレーナライン204Aは、第一端が基板表主面の中央に配置され、第二端が図中右側の基板側面に延設される。コプレーナライン204Bは、第一端が基板表主面の中央に配置され、第二端が図中左側の基板側面に延設される。コプレーナライン204Cは、第一端が基板表主面の中央に配置され、第二端が図中左側の基板側面に延設される。コプレーナライン204Dは、第一端が基板表主面の中央に配置され、第二端が図中右側の基板側面に延設される。そして、各マイクロストリップライン204A〜204Dの第一端が電子部品の出力端子に接続される部品搭載電極202として機能する。この電気特性測定基板201は、端子位置が非線対称形である4ポート電子部品に対して利用される。
フィルタやデュプレクサなどの電子部品では、端子位置が鏡像関係にある複数の型式の提供が求められることがある。図1(A)に示す電気特性測定基板101は、端子位置が線対称形である複数の型式の電子部品に対して利用される。一方、図1(B)に示す電気特性測定基板201では、端子位置が非線対称形である電子部品に対して利用されるため、その電子部品と端子位置が鏡像関係にある別の電子部品に対して電気特性の測定を行なえず、2つの電子部品それぞれの電気特性を測定するためには、それぞれに専用の特性測定基板を作成する必要がある。そのため、電気特性測定基板の作製費用、在庫管理項目等が増加してしまう。
そこで本発明の目的は、端子位置が非線対称形で、且つ、端子位置が鏡像関係にある2つの電子部品に対して、電気特性の測定ができる電気特性測定基板を提供することにある。
この発明の電気特性測定基板は基板と表主面部品搭載電極と裏主面部品搭載電極とを備え、表主面部品搭載電極と裏主面部品搭載電極とは、表主面法線方向または裏主面法線方向から見て、互いに同一パターン、且つ、それぞれ主面中心線に対して非線対称形で形成されることを特徴とする。基板は複数の誘電体層を積層してなる。表主面部品搭載電極は基板の表主面に設けられ電子部品を実装する。裏主面部品搭載電極は基板の裏主面に設けられ電子部品を実装する。
この構成では、端子位置が非対称形で鏡像関係にある2つの電子部品の電気特性を測定する際に、一方の電子部品は基板の表主面に実装して測定し、もう一方の電子部品は基板の裏主面に実装して測定することができる。すなわち、鏡像関係にある2つの電子部品の電気特性を共通した電気特性測定基板で測定できる。したがって、単一の電気特性測定基板で2つの電子部品の電気特性を測定でき、基板作製費用、基板在庫管理項目等を抑制できる。
この発明の電気特性測定基板は層間アース電極と複数の表主面側線路と複数の裏主面側線路とを備え、複数の表主面側線路と複数の裏主面側線路とは、表主面法線方向または裏主面法線方向から見て、それぞれ主面中心線に対して非線対称形であり、互いに同一パターンで形成されると好適である。層間アース電極は基板の誘電体層間に設ける。複数の表主面側線路は層間アース電極よりも基板の表主面側に設け、表主面部品搭載電極に接続する。複数の裏主面側線路は、層間アース電極よりも基板の裏主面側に設け、裏主面部品搭載電極に接続する。
この発明の電気特性測定基板は、表主面側線路に対向する第1の層間アース電極と、裏主面側線路に対向する第2の層間アース電極と、を異なる誘電体層間に備えると好適である。
この構成では、表主面側線路および第1の層間アース電極により伝送線路を構成するとともに、裏主面側線路および第2の層間アース電極により伝送線路を構成する。第1の層間アース電極と第2の層間アース電極とを異なる誘電体層間に備えることで、2つの伝送線路を高周波的に分離して、伝送線路の特性劣化を抑制できる。
この発明の電気特性測定基板は、第1の層間アース電極と第2の層間アース電極との間の誘電体層間に介在する層間アース電極をさらに備えると好適である。
このように、2つの伝送線路の間にさらに層間アース電極を介在させることで、2つの伝送線路を高周波的に確実に分離して、伝送線路の特性劣化をさらに抑制できる。
この発明の表主面側線路および裏主面側線路は、基板の表主面または裏主面に設けられ、電気特性測定基板は、表主面側線路および裏主面側線路の脇に設けられる主面アース電極と、表主面および裏主面の主面アース電極と層間アース電極とを導通するビア電極とをさらに備えると好適である。
このように表主面から裏主面まで貫通するビア電極を設けると、ビア電極の総数を抑制でき、電気特性測定基板の製造コストを抑制できる。
この発明に寄れば、電気特性測定用の表主面部品搭載電極と裏主面部品搭載電極とを、主面法線方向から見て同一パターンで形成するので、端子位置が鏡像関係にある2つの型式の電子部品の電気特性を単一の電気特性測定基板で測定でき、基板作製費用、基板在庫管理項目等を抑制できる。
従来の電気特性測定基板の構成例を説明する図である。 本発明の第1の実施形態に係る電気特性測定基板の構成例を説明する図である。 図2に示す電気特性測定基板の斜視図である。 本発明の第2の実施形態に係る電気特性測定基板の構成例を説明する図である。 本発明の第3の実施形態に係る電気特性測定基板の構成例を説明する図である。 本発明の他の実施形態に係る電気特性測定基板の構成例を説明する図である。
本発明の第1の実施形態に係る電気特性測定基板の構成例について説明する。
図2(A)は電気特性測定基板1の表主面を示す平面図であり、図2(B)は電気特性測定基板1の裏主面を示す平面図である。
電気特性測定基板1は、3層の誘電体層を積層した積層基板であり、コプレーナライン14A〜14D,24A〜24D、表主面アース電極15、裏主面アース電極25、ビア電極7、および層間アース電極3A,3B(図3参照。)を備える。コプレーナライン14Aは、電子部品に接続する第一端が基板表主面の中央に配置され、測定装置との接続用のコネクタに接続する第二端が図中右側の基板右側面まで延設される。コプレーナライン14Bは、第一端が基板表主面の中央に配置され、第二端が図中左側の基板左側面に延設される。コプレーナライン14Cは、第一端が基板表主面の中央に配置され、第二端が基板左側面に延設される。コプレーナライン14Dは、第一端が基板表主面の中央に配置され、第二端が基板右側面に延設される。各コプレーナライン14A〜14Dはそれぞれ本発明の表主面側線路に相当し、第一端が電子部品の出力端子に接続される表主面部品搭載電極12として機能する。
コプレーナライン24Aは、第一端が基板裏主面の中央に配置され、第二端が図中右側の基板右側面まで延設される。コプレーナライン24Bは、第一端が基板裏主面の中央に配置され、第二端が基板左側面に延設される。コプレーナライン24Cは、第一端が基板裏主面の中央に配置され、第二端が基板左側面に延設される。コプレーナライン24Dは、第一端が基板裏主面の中央に配置され、第二端が基板右側面に延設される。各コプレーナライン24A〜24Dはそれぞれ本発明の裏主面側線路に相当し、第一端が電子部品の出力端子に接続される裏主面部品搭載電極22として機能する。
表主面アース電極15はコプレーナライン14A〜14Dの両脇を除く、基板表主面の略全面に形成される。裏主面アース電極25はコプレーナライン24A〜24Dの両脇を除く、基板裏主面の略全面に形成される。層間アース電極3A,3Bは誘電体層間の異なる界面のそれぞれ略全面に設けられる。表主面アース電極15、層間アース電極3A、およびコプレーナライン14A〜14Dは、電気特性測定基板1の表主面にコプレーナ型の伝送線路を構成する。また、裏主面アース電極25、層間アース電極3B、およびコプレーナライン24A〜24Dは、電気特性測定基板1の裏主面にコプレーナ型の伝送線路を構成する。
コプレーナライン14A〜14D,24A〜24D、表主面アース電極15、および裏主面アース電極25は、表主面法線方向(または裏主面法線方向)から見てパターンが一致するように形成される。ビア電極7はコプレーナライン14A〜14D,24A〜24Dに沿って形成され、表主面アース電極15−裏主面アース電極25間を導通させる。ビア電極7について、表主面側と裏主面側とで共通するパターンで形成するので、2枚の電気特性測定基板を用意する場合よりも、ビア電極7の形成総数を低減して製造コストを抑制できる。
図3は電気特性測定基板1の斜視図である。
電気特性測定基板1を用いて、端子位置が非線対称形な第1の4ポート電子部品30Aの電気特性を測定する場合、図3(A)に示すように表主面側の部品搭載電極12(不図示)に第1の4ポート電子部品30Aが実装される。また、電気特性測定基板1の右側面および左側面には4つの同軸コネクタ31が係止され、コプレーナライン14A〜14Dは同軸コネクタ31の中心導体を介して測定装置が接続される。表主面アース電極15は同軸コネクタ31の外側導体を介してアースが接続される。
一方、電気特性測定基板1を用いて、端子位置が第1の4ポート電子部品30Aと鏡像関係にある第2の4ポート電子部品30Bの電気特性を測定する場合、図3(B)に示すように裏主面側の部品搭載電極22(不図示)に第1の4ポート電子部品30Bが実装される。また、電気特性測定基板1の右側面および左側面には同軸コネクタ31が上下を逆にして係止され、コプレーナライン24A〜24Dは同軸コネクタ31の中心導体を介して測定装置に接続される。裏主面アース電極25は同軸コネクタ31の外側導体を介してアースに接続される。
この電気特性測定基板1は、部品搭載電極12と部品搭載電極22とを、表主面法線方向(または裏主面法線方向)から見て同一のパターンで表主面および裏主面それぞれに形成しているため、端子位置が鏡像関係にある2つの型式の電子部品30A,30Bの電気特性を電気特性測定基板1のみで測定でき、基板作製費用、基板在庫管理項目等を抑制できる。
次に、本発明の第2の実施形態に係る電気特性測定基板の構成例について説明する。図4(A)は電気特性測定基板51の概略の側面断面図である。なお、電気特性測定基板51は前述の電気特性測定基板1と同様な平面視形状の電極を備えるものとする。電気特性測定基板51は、2層の誘電体層を積層した積層基板であり、表主面アース電極15、裏主面アース電極25、および層間アース電極3を備える。このように層間アース電極が一層のみであっても本発明は好適に実施できる。なお、ここでは同軸コネクタ31と電気特性測定基板51とをハンダ59によって接合するが、コネクタと電気特性測定基板との接合はどのような手段を用いても良い。
次に、本実施形態に係る電気特性測定基板の変形例について説明する。図4(B)は電気特性測定基板51Aの概略の側面断面図である。この電気特性測定基板51Aは、5層の誘電体層を積層した積層基板である。この構成では、上記電気特性測定基板51とは異なり、コプレーナライン14A〜14Dに対向する層間アース電極3Aと、コプレーナライン24A〜24Dに対向する層間アース電極3Bと、を異なる誘電体層間に設けている。各層間アース電極3A、3Bはそれぞれ本発明の第1の層間アース電極、第2の層間アース電極に相当する。また、それらの層間アース電極3A、3Bの間にさらに多数の層間アース電極3Cを介在させている。これらの構成を採用することにより、コプレーナライン14A〜14Dとコプレーナライン24A〜24Dとを高周波的により確実に分離できる。
次に、本発明の第3の実施形態に係る電気特性測定基板の構成例について説明する。図5(A)は、電気特性測定基板61の平面図であり、図5(B)は、電気特性測定基板61の概略構成を示す側面断面図である。
この電気特性測定基板61は、5層の誘電体層を積層した積層基板であり、表主面アース電極15、裏主面アース電極25、ストリップライン64A,64B、コネクタ接続電極64C、部品搭載電極64D、および層間アース電極3A,3Bを備える。表主面アース電極15は表主面に設けられる。ストリップライン64Aは表主面の誘電体層と2層目の誘電体層との間に設けられる。層間アース電極3Aは2層目の誘電体層と3層目の誘電体層との間に設けられる。層間アース電極3Bは3層目の誘電体層と4層目の誘電体層との間に設けられる。ストリップライン64Bは4層目の誘電体層と裏主面の誘電体層との間に設けられる。裏主面アース電極25は裏主面に設けられる。ストリップライン64Aの両端は、ビア電極を介して、表主面に設けられた部品搭載電極64Dおよびコネクタ接続電極64Cに接続される。ストリップライン64Bの両端は、ビア電極を介して、裏主面に設けられた部品搭載電極64Dおよびコネクタ接続電極64Cに接続される。
この構成では、表主面法線方向(または裏主面法線方向)から見て同一のパターンで、部品搭載電極64Dを表主面および裏主面それぞれに形成している。このため、端子位置が鏡像関係にある2つの型式の電子部品の電気特性をこの電気特性測定基板61で測定でき、基板作製費用、基板在庫管理項目等を抑制できる。
また、ストリップライン64A,64Bについて表主面法線方向(または裏主面法線方向)から見て同一の線路パターンで形成しているため、ストリップライン64A,64Bに沿ってビア電極7を形成する事で、基板61を貫通してビア電極7を形成してビア電極7の総数を抑制することができる。
次に、本発明の他の実施形態に係る電気特性測定基板の構成例について説明する。
図6(A)は電気特性測定基板71の展開図であり、図中左側に表主面を、図中中央に誘電体層間を、図中右側に裏主面を示す。
電気特性測定基板71は2ポート構成である。この電気特性測定基板71で電気特性を測定する電子部品としては、2つの出力端子を備え、端子位置が鏡像関係にある複数の型式が存在するものが望ましい。
図6(B)は電気特性測定基板81の展開図であり、図中左側に表主面を、図中中央に誘電体層間を、図中右側に裏主面を示す。
電気特性測定基板81は3ポート構成である。この電気特性測定基板81で電気特性を測定する電子部品としては、3つの出力端子を備え、端子位置が鏡像関係にある複数の型式が存在するものが望ましい。
以上の各実施形態に示すように、本発明の電気特性測定基板は基板表主面および裏主面の中心線に対して非対称形な線路パターンを有する複数ポート構成であれば、好適に実施できる。
1,51,51A,61,71,81…電気特性測定基板
2…底面基板
3,3A,3B,3C…層間アース電極
7…ビア電極
12…部品搭載電極
14A〜14D,24A〜24D…コプレーナライン
15…表主面アース電極
22,64D…部品搭載電極
25…裏主面アース電極
30A,30B…電子部品
31…同軸コネクタ
57A…外側ビア電極
59…ハンダ
64A,64B…ストリップライン
64C…コネクタ接続電極

Claims (5)

  1. 複数の誘電体層を積層してなる基板と、
    前記基板の表主面に設けた、電子部品を実装するための表主面部品搭載電極と、
    前記基板の裏主面に設けた、電子部品を実装するための裏主面部品搭載電極と、
    を備え、
    前記表主面部品搭載電極と前記裏主面部品搭載電極とは、表主面法線方向または裏主面法線方向から見て、互いに同一パターン、且つ、それぞれ主面中心線に対して非線対称形で形成されることを特徴とする電気特性測定基板。
  2. 前記基板の誘電体層間に設けた層間アース電極と、
    前記層間アース電極よりも前記基板の表主面側に設け、前記表主面部品搭載電極に接続した複数の表主面側線路と、
    前記層間アース電極よりも前記基板の裏主面側に設け、前記裏主面部品搭載電極に接続した複数の裏主面側線路と、を備え、
    前記複数の表主面側線路と前記複数の裏主面側線路とは、表主面法線方向または裏主面法線方向から見て、互いに同一パターンで形成される、請求項1に記載の電気特性測定基板。
  3. 前記表主面側線路に対向する第1の層間アース電極と、前記裏主面側線路に対向する第2の層間アース電極と、を異なる誘電体層間に備える、請求項2に記載の電気特性測定基板。
  4. 前記第1の層間アース電極と前記第2の層間アース電極との間に介在する層間アース電極を、さらに備える請求項3に記載の電気特性測定基板。
  5. 前記表主面側線路および前記裏主面側線路は、前記基板の表主面または裏主面に設けられ、
    前記表主面側線路および前記裏主面側線路の脇に設けられる主面アース電極と、前記主面アース電極と前記層間アース電極とを導通するビア電極とをさらに備える、請求項1〜4のいずれかに記載の電気特性測定基板。
JP2009256093A 2009-11-09 2009-11-09 電気特性測定基板 Active JP5024356B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009256093A JP5024356B2 (ja) 2009-11-09 2009-11-09 電気特性測定基板
EP10188204.1A EP2320239B1 (en) 2009-11-09 2010-10-20 Substrate for use in measuring electric characteristics
KR1020100105946A KR101166645B1 (ko) 2009-11-09 2010-10-28 전기특성 측정기판
US12/913,845 US8698514B2 (en) 2009-11-09 2010-10-28 Electrical characteristic measuring substrate
CN201010529797.6A CN102095901B (zh) 2009-11-09 2010-10-28 电特性测试基板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009256093A JP5024356B2 (ja) 2009-11-09 2009-11-09 電気特性測定基板

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011099819A true JP2011099819A (ja) 2011-05-19
JP5024356B2 JP5024356B2 (ja) 2012-09-12

Family

ID=43602954

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009256093A Active JP5024356B2 (ja) 2009-11-09 2009-11-09 電気特性測定基板

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8698514B2 (ja)
EP (1) EP2320239B1 (ja)
JP (1) JP5024356B2 (ja)
KR (1) KR101166645B1 (ja)
CN (1) CN102095901B (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1183936A (ja) * 1997-09-08 1999-03-26 Oki Electric Ind Co Ltd 素子評価回路
JP2004340909A (ja) * 2003-05-12 2004-12-02 Arumotech Corp 接触端子

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63136657A (ja) * 1986-11-28 1988-06-08 Toshiba Corp 両面実装電子回路ユニツト
DE3703030A1 (de) * 1987-02-02 1988-09-08 Siemens Ag Testanordnung fuer hochgeschwindigkeits-ic
JP2929948B2 (ja) * 1994-09-20 1999-08-03 三菱電機株式会社 プローブ式テストハンドラー及びそれを用いたicのテスト方法
JPH11112152A (ja) 1997-10-03 1999-04-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd フリップチップ実装の多層プリント基板
JPH11330292A (ja) * 1998-05-11 1999-11-30 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 多層基板
JP4349600B2 (ja) * 2000-04-20 2009-10-21 大日本印刷株式会社 積層体、絶縁フィルム、電子回路及び積層体の製造方法
JP3792613B2 (ja) 2002-06-27 2006-07-05 京セラ株式会社 高周波特性評価用基板ならびに測定方法
JP2006115429A (ja) 2004-10-18 2006-04-27 Murata Mfg Co Ltd 高周波回路、高周波モジュールおよび通信装置
CN100504419C (zh) 2005-06-20 2009-06-24 中国科学院半导体研究所 一种热光开关阵列光电特性测试装置及方法
JP5003359B2 (ja) * 2007-08-31 2012-08-15 日本電気株式会社 プリント配線基板
JP4839362B2 (ja) * 2008-11-14 2011-12-21 ホシデン株式会社 高周波回路モジュール

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1183936A (ja) * 1997-09-08 1999-03-26 Oki Electric Ind Co Ltd 素子評価回路
JP2004340909A (ja) * 2003-05-12 2004-12-02 Arumotech Corp 接触端子

Also Published As

Publication number Publication date
JP5024356B2 (ja) 2012-09-12
US20110109332A1 (en) 2011-05-12
EP2320239A3 (en) 2012-07-25
CN102095901A (zh) 2011-06-15
EP2320239A2 (en) 2011-05-11
KR101166645B1 (ko) 2012-07-18
KR20110051140A (ko) 2011-05-17
EP2320239B1 (en) 2013-07-31
CN102095901B (zh) 2013-06-12
US8698514B2 (en) 2014-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4079173B2 (ja) 平衡型分配器
JP4020159B2 (ja) 高周波モジュール
US9843085B2 (en) Directional coupler
EP2785155B1 (en) Circuit board and electronic device
US8629735B2 (en) Electronic component
US8754723B2 (en) Electronic component including directional coupler
JP2019087832A (ja) 双方向型方向性結合器
US8536456B2 (en) Printed circuit board
US8324981B2 (en) Composite balun
JP2009212400A (ja) 高周波パッケージ
US8681474B2 (en) Electrical circuit arrangement with concentrated elements in multi-layer substrates
JP2016152392A (ja) プリント回路板、その製造方法、及びインダクタ製品
JPWO2015186538A1 (ja) 伝送線路部材
JP5024356B2 (ja) 電気特性測定基板
US8847698B2 (en) High-speed feedthrough having a stair-like shape transmission line formed through a multi-layer substrate
US8766742B2 (en) Integrated hybrid-direct couplers
KR100541085B1 (ko) 적층형 세라믹 커플러
JP2010177696A (ja) 積層コンデンサ
JP2012129351A (ja) 素子キャリアおよび受光モジュール
JP2012049696A (ja) 電子部品
JP5545363B2 (ja) 複合部品
TW201419800A (zh) 等化器陣列
WO2015186537A1 (ja) 伝送線路部材
JP2010008275A (ja) 伝送線路基板及び高周波部品の測定装置
JP2005012559A (ja) カプラ及びカプラアレー

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111102

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120306

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120413

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120522

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120604

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150629

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5024356

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150