JP2011089801A - Tool for inspection and contact - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 162
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 3
- 230000010485 coping Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 22
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 19
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 17
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 11
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 11
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 10
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 8
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 7
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 6
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 5
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910001252 Pd alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000007669 thermal treatment Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 2
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- -1 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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Abstract
Description
本発明は、被検査物の検査対象部上に予め設定される検査点とこの検査を実施する検査装置とを電気的に接続する検査用治具に関し、特に四端子測定を容易に測定可能とする検査用接触子とこの接触子を用いる検査用治具に関する。 The present invention relates to an inspection jig for electrically connecting an inspection point set in advance on an inspection target portion of an object to be inspected and an inspection apparatus for performing this inspection, and in particular, four-terminal measurement can be easily measured. The present invention relates to an inspection contact to be performed and an inspection jig using the contact.
本発明の検査用治具とは、被検査物が有する検査対象部に、検査装置から電力或いは電気信号を所定検査位置に供給するとともに、検査対象部から電気信号を検出することによって、検査対象部の電気的特性を検出したり、動作試験を行ったりすることを可能にする。 The inspection jig of the present invention refers to an inspection object by supplying electric power or an electric signal from an inspection apparatus to a predetermined inspection position and detecting an electric signal from the inspection object part. It is possible to detect the electrical characteristics of the part and perform an operation test.
このような被検査物とは、例えば、プリント配線基板、フレキシブル基板、セラミック多層配線基板、液晶ディスプレイやプラズマディスプレイ用の電極板、及び半導体パッケージ用のパッケージ基板やフィルムキャリアなど種々の基板や、半導体ウェハや半導体チップやCSP(Chip size package)などの半導体装置を例示することができる。 Examples of such inspected objects include printed wiring boards, flexible boards, ceramic multilayer wiring boards, electrode plates for liquid crystal displays and plasma displays, and various boards such as package boards and film carriers for semiconductor packages, and semiconductors. Examples of the semiconductor device include a wafer, a semiconductor chip, and a CSP (Chip size package).
本明細書では、これらの上記の被検査物を総称して「被検査物」とし、被検査物に形成される検査対象部を「検査部」と称する。なお、検査部には、この検査部の電気的特性を実際に検査するための検査点が設定され、この検査点に接触子を圧接させることにより、検査部の電気的特性が検出される。 In the present specification, these inspection objects are collectively referred to as “inspection object”, and an inspection target part formed on the inspection object is referred to as “inspection part”. An inspection point for actually inspecting the electrical characteristics of the inspection unit is set in the inspection unit, and the electrical characteristic of the inspection unit is detected by pressing a contact with the inspection point.
従来、被検査物の一実施形態である回路基板には、複数の配線が形成されている。この配線は、回路基板上に搭載される電気・電子部品が所望の機能を有するように、電力を供給したり、電気信号を流したりするために形成されている。このため、配線の不良は、回路基板の動作不良につながることが知られている。 Conventionally, a plurality of wirings are formed on a circuit board which is an embodiment of an object to be inspected. This wiring is formed to supply electric power and to flow an electric signal so that electric / electronic components mounted on the circuit board have a desired function. For this reason, it is known that defective wiring leads to defective operation of the circuit board.
このような問題を解決するために、回路基板や半導体装置などの被検査物に形成される配線のような対象部の良否を判定する検査装置の発明が多数提案されている。 In order to solve such a problem, many inventions of an inspection apparatus for determining the quality of a target portion such as a wiring formed on an inspection object such as a circuit board or a semiconductor device have been proposed.
このような検査装置は、例えば、被検査物となる基板上に形成される配線の良否を判断するために、配線上に予め設定される複数の検査点と、夫々に接続される複数の接触子(プローブ)を備える検査用治具を用いて検査が実施される。 Such an inspection apparatus, for example, in order to determine the quality of the wiring formed on the substrate to be inspected, a plurality of inspection points set in advance on the wiring, and a plurality of contacts connected to each of them. Inspection is performed using an inspection jig having a child (probe).
このような検査用治具は、接触子の一端が配線(検査部)上の検査点に圧接され、その他端が基板検査装置と電気的に接続される電極部に圧接される。そして、この検査用治具を介して、基板検査装置から配線の電気的特性を測定するための電流や電圧を供給するとともに、配線から検出される電気的信号を基板検査装置へ送信することになる。 In such an inspection jig, one end of the contact is pressed against an inspection point on the wiring (inspection part), and the other end is pressed against an electrode part electrically connected to the substrate inspection apparatus. Then, the current and voltage for measuring the electrical characteristics of the wiring are supplied from the board inspection apparatus through the inspection jig, and the electrical signal detected from the wiring is transmitted to the board inspection apparatus. Become.
近年、技術の進歩により、半導体装置の小形化や、基板の小形化などに伴い、基板上の配線もより微細かつ複雑に形成されるようになっている。このような基板の配線の微細化及び複雑化が進むにつれて、検査用治具が備える接触子も接触子自体の細線化、接触子間の狭ピッチ化や多ピン化や簡素化が求められている。 In recent years, with the advancement of technology, with the miniaturization of a semiconductor device and the miniaturization of a substrate, the wiring on the substrate is formed more finely and complicatedly. As miniaturization and complexity of the wiring of such a substrate progresses, the contacts provided in the inspection jig are also required to be thinned, the pitch between the contacts is reduced, the number of pins is increased, and simplification is required. Yes.
特に、微細化及び複雑化した被検査物の対象部を測定する場合には、対象部が接触子と接触した場合に生じる接触抵抗値の影響が大きいため、四端子測定法が実施される。この四端子測定法では、検査点に電流供給用と電圧検出用の電気的に独立した2組の接触子を配置する必要がある。このため、通常よりも細線化した接触子が要求されることになる。 In particular, when measuring a target portion of an inspection object that has been refined and complicated, a four-terminal measurement method is performed because the influence of a contact resistance value that occurs when the target portion comes into contact with a contact is large. In this four-terminal measurement method, it is necessary to arrange two sets of electrically independent contacts for current supply and voltage detection at the inspection point. For this reason, the contactor made thinner than usual is required.
ここで、例えば、特許文献1に開示される検査用治具の接触子では、筒状部材の第一電極部と、この第一電極部内部と絶縁されてその内部に配置される第二電極部を備えてなり、検査点に対して第一電極部と第二電極部が同時に接触するように形成されている。
Here, for example, in the contact of the inspection jig disclosed in
しかしながら、特許文献1に開示される検査用治具では、巻線を用いたコイルばねにより形成されるため、コイルの直径の4倍程度より小さい径を有するコイルの形成が困難であり、外径が100μm以下の巻線コイルばねを形成し、検査用治具として組み立てることは極めて困難であった。仮に形成することができたとしても、製造コストの問題から2〜4千本の検査用治具に利用することは高価に成り過ぎて、実用的でない問題点を有していた。
However, since the inspection jig disclosed in
本発明は、基板の微細化及び複雑化に対応することができるとともに、部品点数を低減した簡素化した構造の四端子測定用の接触子を備える検査用治具を提供する。 The present invention provides an inspection jig provided with a four-terminal measuring contact having a simplified structure that can cope with miniaturization and complexity of a substrate and has a reduced number of components.
上記の課題を解決するために、本発明に係る検査用治具は、検査装置と電気的に接続される電極部を複数備える接続電極体と、上方端が前記電極部に圧接される導電性の筒形状の第一筒体と、前記第一筒体の下方端開口部から突出されるとともに該第一筒体内に電気的に接続されて同軸に配置され、上方端が該第一筒体の内部に配置されるとともに下方端が前記検査部に圧接される導電性の筒形状の第二筒体と、前記第一筒体及び前記第二筒体と電気的に非接続で且つ該第一筒体及び該第二筒体内部に同軸で収容され、上方端が前記電極部に圧接されるとともに下方端が前記検査部に圧接される導電性の筒形状の第三筒体と、前記第二筒体と第三筒体の夫々の下方端を前記検査点へ案内する第一案内孔を有する第一板状部材と、前記第一筒体と前記第三筒体の夫々の上方端を前記電極部へ案内する第二案内孔を有し、前記第一板状部材と所定間隔を有して配置される第二板状部材とを備え、前記第一筒体は、該第一筒体の上方端と下方端の間の筒壁部に螺旋状の第一切欠部が設けられ、前記第三筒体は、該第三筒体の上方端と下方端の間の筒壁部に螺旋状の第二切欠部が設けられ、前記第一筒体は、前記第一切欠部より該下方端側に前記第二筒体と固定される第一固定部を有することを特徴とする。 In order to solve the above-described problems, an inspection jig according to the present invention includes a connection electrode body including a plurality of electrode portions that are electrically connected to an inspection apparatus, and a conductive material whose upper end is in pressure contact with the electrode portions. A first cylindrical body having a cylindrical shape, a first cylindrical body that protrudes from a lower end opening of the first cylindrical body, is electrically connected to the first cylindrical body, and is disposed coaxially. And a conductive cylindrical second cylinder whose lower end is press-contacted to the inspection portion, electrically disconnected from the first cylinder and the second cylinder, and the first cylinder A conductive cylindrical third cylindrical body that is coaxially accommodated inside the one cylindrical body and the second cylindrical body, and whose upper end is pressed against the electrode portion and whose lower end is pressed against the inspection portion; A first plate member having a first guide hole for guiding respective lower ends of the second cylinder and the third cylinder to the inspection point; and the first cylinder. A second guide hole having a second guide hole for guiding the upper end of each of the third cylinders to the electrode portion, and a second plate-like member arranged with a predetermined interval from the first plate-like member, The first cylinder is provided with a spiral first notch in the cylinder wall between the upper end and the lower end of the first cylinder, and the third cylinder is formed of the third cylinder. A spiral second notch is provided in the cylindrical wall between the upper end and the lower end, and the first cylinder is fixed to the second cylinder on the lower end side from the first notch. It has the 1st fixed part which is characterized by the above-mentioned.
その第一案内孔は、前記第一筒体の外径よりも小さく且つ第二筒体の外径よりもわずかに大きい径を有するようにしてもよい。 The first guide hole may have a diameter that is smaller than the outer diameter of the first cylinder and slightly larger than the outer diameter of the second cylinder.
その第三筒体は、該第三筒体の下方側に設けられる一つの切欠部が、第一案内孔の内部に存在するようにしてもよい。 In the third cylinder, one notch provided on the lower side of the third cylinder may be present inside the first guide hole.
その第一案内孔は、前記第一筒体の外径よりもわずかに大きい径を有する第一案内上孔と、前記第一案内上孔と連通連結され、前記第一筒体の外径より小さく、前記第二筒体の外径よりもわずかに大きい径を有する第一案内下孔を有するようにしてもよい。 The first guide hole is connected in communication with the first guide upper hole having a diameter slightly larger than the outer diameter of the first cylinder, and the first guide upper hole. You may make it have a 1st guide pilot hole which is small and has a diameter slightly larger than the outer diameter of said 2nd cylinder.
その第三筒体は、上方端と下方端の間の筒壁部に螺旋状の二つの第二切欠部を互いに距離を有して備えるとともに、前記二つの第二切欠部の間に前記第二筒体と固定される第二固定部を有するようにしてもよい。 The third cylindrical body is provided with two spiral second cutout portions at a distance from each other in the cylindrical wall portion between the upper end and the lower end, and the second cylindrical cutout portion between the two second cutout portions. You may make it have the 2nd fixing | fixed part fixed with a two cylinder body.
その第三筒体は、該第三筒体の中心に対して略対称な形状となるように第二切欠部が配置されるようにしてもよい。 The third cylindrical body may be arranged with the second cutout portion so as to have a substantially symmetrical shape with respect to the center of the third cylindrical body.
また、本発明に係る接触子は、被検査対象となる検査部を有する被検査物と、該検査部の電気的特性を検査する検査装置とを電気的に接続する検査用治具に用いる接触子であって、上方端が前記電極部に圧接される導電性の筒形状の第一筒体と、前記第一筒体の下方端開口部から突出されるとともに該第一筒体内に電気的に接続されて同軸に配置され、上方端が該第一筒体の内部に配置されるとともに下方端が前記検査部に圧接される導電性の筒形状の第二筒体と、前記第一筒体及び前記第二筒体と夫々電気的に非接続で且つ該第一筒体及び該第二筒体内部に同軸で収容され、上方端が前記電極部に圧接されるとともに下方端が前記検査部に圧接される導電性の筒形状の第三筒体とを備え、前記第一筒体は、該第一筒体の上方端と下方端の間の筒壁部に螺旋状の第一切欠部が設けられ、前記第三筒体は、該第三筒体の上方端と下方端の間の筒壁部に螺旋状の二つの第二切欠部が互いに距離を有して設けられ、前記第一筒体は、第一切欠部より下方端側に前記第二筒体が固定される第一固定部を有しており、前記第三筒体は、二つの第二切欠部の間に前記第二筒体と固定される第二固定部を有していることを特徴とする。 Further, the contact according to the present invention is a contact used for an inspection jig for electrically connecting an object to be inspected having an inspection part to be inspected and an inspection apparatus for inspecting an electrical characteristic of the inspection part. A conductive cylindrical first cylinder whose upper end is pressed against the electrode portion; and a first cylindrical body that protrudes from a lower end opening of the first cylindrical body and electrically A conductive cylindrical second cylinder having an upper end disposed inside the first cylinder and a lower end pressed against the inspection portion; and the first cylinder The body and the second cylinder are electrically disconnected from each other and are coaxially accommodated in the first cylinder and the second cylinder, the upper end is pressed against the electrode portion, and the lower end is the inspection A conductive cylindrical third cylinder pressed against the portion, and the first cylinder is between an upper end and a lower end of the first cylinder The cylindrical wall portion is provided with a spiral first notch portion, and the third cylindrical body has two helical second notch portions on the cylindrical wall portion between the upper end and the lower end of the third cylindrical body. Are provided at a distance from each other, and the first cylinder has a first fixing portion to which the second cylinder is fixed at a lower end side than the first notch, and the third cylinder The body has a second fixing portion that is fixed to the second cylindrical body between two second cutout portions.
その第三筒体は、該第三筒体の中心に対して略対称な形状となるように第二切欠部が配置されるようにしてもよい。 The third cylindrical body may be arranged with the second cutout portion so as to have a substantially symmetrical shape with respect to the center of the third cylindrical body.
また、本発明に係る接触子は、被検査対象となる検査部を有する被検査物と、該検査部の電気的特性を検査する検査装置とを電気的に接続する検査用治具に用いる接触子であって、一方端が電極部に圧接されるとともに他方端が検査点に圧接され、導電性の筒状部材から形成される内側接触子と、前記内側接触子を内部に非導電状態で収容し、一方端が電極部に圧接されるとともに他方端が検査点に圧接される導電性の筒状部材からなる外側接触子を有し、前記内側接触子及び前記外側接触子は、前記一方端と他方端の間の筒壁部に螺旋状の切欠部が設けられ、前記外側接触子の筒状部材の外側壁面が、前記他方端側から前記一方端側に沿って、徐々に又は階段状に大きくなるように形成されていることを特徴とする。 Further, the contact according to the present invention is a contact used for an inspection jig for electrically connecting an object to be inspected having an inspection part to be inspected and an inspection apparatus for inspecting an electrical characteristic of the inspection part. An inner contact formed from a conductive cylindrical member and having the one end pressed against the electrode portion and the other end pressed against the inspection point, and the inner contact in a non-conductive state inside. And having an outer contact made of a conductive cylindrical member having one end pressed against the electrode portion and the other end pressed against the inspection point. The inner contact and the outer contact A spiral notch is provided in the cylindrical wall portion between the end and the other end, and the outer wall surface of the cylindrical member of the outer contact is gradually or stepped from the other end side to the one end side. It is formed so that it may become large in a shape.
請求項1記載の発明によれば、導電性の第一筒体とこの第一筒体より突出されて第一筒体の内部に収容される導電性の第二筒体と、この第二筒体内部に収容される導電性の第三筒体を用いることにより、本検査用治具が備える接触子は同軸上に配置される二つの端子(外側接触子と内側接触子)を有することになる。また、検査部側には第一筒体内部に収容される第二筒体の下方端と第二筒体内部に収容される第三筒体の下方端が接触し、電極部側には、第二筒体を内部に収容する第一筒体の上方端と第二筒体内部に収容される第三筒体の上方端が接触するため、下方端(検査部側)の2端子のピッチよりも、上方端(電極部側)の2端子のピッチをより広くすることができるので、電極部の狭ピッチ化を回避して、狭ピッチの検査点にも効果的に用いることができる。さらにまた、第二筒体を第一筒体と第三筒体のガイドとすることにより、接触子の強度を確保するとともに双方を確実に垂直に伸縮させることができる。なお、二つの接触子が一体型の筒状部材三点から形成されるため、部品点数を低減し簡素化することができる。
請求項2記載の発明によれば、接触子が検査用治具に保持されたときに、その接触子の第一筒体下方端が第一板状部材上面に接触することで接触子が抜け落ちることを防止することができる。
請求項3記載の発明によれば、第三筒体の下方側に設けられる一つの切欠部が、第一案内孔の内部に存在するため、この第一案内孔を形成する第一板状部材が該切欠部の伸縮動作をガイドすることができ、安定して伸縮動作を行うことができる。
請求項4記載の発明によれば、接触子が検査用治具に保持されたときに、その接触子の第一筒体下方端が第一案内下孔を形成する第一板状部材の上面(第一案内上孔と第一案内下孔との境界面)に接触することにより接触子を適正な位置に精度良く保持するとともに、接触子を第二筒体下方端と第三筒体下方端が検査点に接触可能なように保持することができる。
請求項5記載の発明によれば、第三筒体には、第二固定部を挟んで二つの切欠部が形成されているので、上方端側の切欠部は電極部からの押圧力に応じて伸縮し、下方端側の切欠部は検査点からの押圧力に応じて伸縮するため、各切欠部が独立して伸縮機能を果たすことができる。
請求項6記載の発明によれば、第三筒体には、その中心に対して略対称な形状となるように第二切欠部が配置されているので、接触子を組み立てる際に第三筒体の上方端・下方端を区別する必要がないため、接触子の製作に要する時間を短縮することができる。
請求項7及び9記載の発明によれば、導電性の第一筒体とこの第一筒体の開口より突出されて第一筒体の内部に収容される導電性の第二筒体と、この第二筒体内部に収容される導電性の第三筒体により、検査用治具の接触子の上方端及び下方端は同軸上に配置される。また、検査部側には第一筒体内部に収容される第二筒体の下方端と第二筒体内部に収容される第三筒体の下方端が接触し、電極部側には、第二筒体を内部に収容する第一筒体の上方端と第二筒体内部に収容される第三筒体の上方端が接触するため、下方端(検査部側)の2端子のピッチよりも、上方端(電極部側)の2端子のピッチをより広くすることができるので、電極部の狭ピッチ化を回避して、狭ピッチの検査点にも効果的に用いることができる。さらにまた、第二筒体を第一筒体と第三筒体のガイドとすることにより、接触子の強度を確保するとともに双方を確実に垂直に伸縮させることができる。なお、二つの接触子が一体型の筒状部材三点から形成されるため、部品点数を低減し簡素化することができる。
請求項8記載の発明によれば、第三筒体には、その中心に対して略対称な形状となるように第二切欠部が配置されているので、接触子を組み立てる際に第三筒体の上方端・下方端を区別する必要がないため、接触子の製作に要する時間を短縮することができる。
According to the first aspect of the present invention, the conductive first cylinder, the conductive second cylinder protruding from the first cylinder and housed in the first cylinder, and the second cylinder By using the conductive third cylinder housed inside the body, the contact provided in the inspection jig has two terminals (outer contact and inner contact) arranged on the same axis. Become. Further, the lower end of the second cylinder housed inside the first cylinder body and the lower end of the third cylinder housed inside the second cylinder body are in contact with the inspection section side, Since the upper end of the first cylinder that houses the second cylinder is in contact with the upper end of the third cylinder that is accommodated inside the second cylinder, the pitch of the two terminals at the lower end (inspection part side) In addition, since the pitch of the two terminals at the upper end (electrode part side) can be made wider, it is possible to avoid the narrowing of the pitch of the electrode part and effectively use it for inspection points with a narrow pitch. Furthermore, by using the second cylinder as a guide for the first cylinder and the third cylinder, the strength of the contact can be ensured and both can be expanded and contracted with certainty. In addition, since two contactors are formed from three integral cylindrical members, the number of parts can be reduced and simplified.
According to invention of
According to the invention described in
According to invention of
According to the fifth aspect of the present invention, since the two cutout portions are formed in the third cylindrical body with the second fixed portion interposed therebetween, the cutout portion on the upper end side corresponds to the pressing force from the electrode portion. Since the notch portion on the lower end side expands and contracts according to the pressing force from the inspection point, each notch portion can independently perform an expansion / contraction function.
According to the invention described in claim 6, since the second cutout portion is arranged in the third cylinder so as to have a substantially symmetric shape with respect to the center thereof, the third cylinder is formed when assembling the contact. Since it is not necessary to distinguish between the upper end and the lower end of the body, the time required for manufacturing the contact can be shortened.
According to invention of Claim 7 and 9, the electroconductive 1st cylinder, the electroconductive 2nd cylinder which protrudes from the opening of this 1st cylinder, and is accommodated in the inside of the 1st cylinder, By the conductive third cylinder housed in the second cylinder body, the upper end and the lower end of the contact of the inspection jig are coaxially arranged. Further, the lower end of the second cylinder housed inside the first cylinder body and the lower end of the third cylinder housed inside the second cylinder body are in contact with the inspection section side, Since the upper end of the first cylinder that houses the second cylinder is in contact with the upper end of the third cylinder that is accommodated inside the second cylinder, the pitch of the two terminals at the lower end (inspection part side) In addition, since the pitch of the two terminals at the upper end (electrode part side) can be made wider, it is possible to avoid the narrowing of the pitch of the electrode part and effectively use it for inspection points with a narrow pitch. Furthermore, by using the second cylinder as a guide for the first cylinder and the third cylinder, the strength of the contact can be ensured and both can be expanded and contracted with certainty. In addition, since two contactors are formed from three integral cylindrical members, the number of parts can be reduced and simplified.
According to the eighth aspect of the invention, since the second cutout portion is disposed in the third cylinder so as to have a substantially symmetric shape with respect to the center thereof, the third cylinder is assembled when assembling the contact. Since it is not necessary to distinguish between the upper end and the lower end of the body, the time required for manufacturing the contact can be shortened.
本発明を実施するための形態を説明する。
図1は、本発明にかかる検査用治具の一実施形態を示す概略構成図である。本発明に係る検査用治具1は、複数の接触子2、これら接触子2を多針状に保持する保持体3、この保持体3を支持するとともに各接触子2と接触して導通状態となる電極部41(図5参照)を有する接続電極体4、電極部41から電気的に接続されて延設される導線部5を有してなる。
なお、図1では、複数の接触子2として三本の接触子が示されるとともに夫々に対応する三本の導線部5が示されているが、これらは三本に限定されるものではなく、検査対象の基板に設定される検査点に応じて決められる。
A mode for carrying out the present invention will be described.
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of an inspection jig according to the present invention. An
In FIG. 1, three contacts are shown as the plurality of
本発明の主要な特徴は、三点の導電性の筒状部材のうち二点を一つ目の接触子として利用し、残り一点の筒状部材を二つ目の接触子として利用することにより、外側接触子と内側接触子の二つの接触子を有する接触子として用いることにより、四端子測定に利用することを可能にしている。
このように構成することで、検査点には外側接触子の下方端(第二筒体の下方端)と内側接触子の下方端(第三筒体の下方端)が接触し、電極部には外側接触子の上方端(第一筒体の上方端)と内側接触子の上方端(第三筒体の上方端)が接触することになる。
The main feature of the present invention is that two of the three conductive cylindrical members are used as the first contact and the remaining one cylindrical member is used as the second contact. By using it as a contact having two contacts, an outer contact and an inner contact, it can be used for four-terminal measurement.
With this configuration, the lower end of the outer contact (the lower end of the second cylinder) and the lower end of the inner contact (the lower end of the third cylinder) are in contact with the inspection point, and the electrode portion Will contact the upper end of the outer contact (upper end of the first cylinder) and the upper end of the inner contact (upper end of the third cylinder).
本発明に係る第一実施形態の接触子(以下、第一接触子という)について説明する。図2は、本発明の第一接触子の概略断面図であり、図3は、第一接触子を構成する外側接触子の分解断面図を示し、(a)は第一筒体を示し、(b)は第二筒体を示し、(c)は第一筒体内に第二筒体が配置された状態を示し、図4は第三筒体の概略断面図を示している。
この第一接触子2は、上述の如く、外側接触子21と内側接触子22を有してなり、外側接触子21の内部に外側接触子21とは絶縁状態で内側接触子22が配置されている。
外側接触子21は、第一筒体211及び第二筒体212を有してなり、内側接触子22は、第三筒体213から形成されている。第一接触子2は、図2で示される如く、最外側に外側接触子21の第一筒体211が配置され、その内側に外側接触子21の第二筒体212が配置され、最内側に第三筒体213が配置されている。このように第一接触子2は径の相違する三つの筒状部材が、同心軸に配置されて構成されている。
A contact according to the first embodiment of the present invention (hereinafter referred to as a first contact) will be described. FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the first contact of the present invention, FIG. 3 shows an exploded cross-sectional view of the outer contact constituting the first contact, (a) shows the first cylinder, (B) shows a 2nd cylinder, (c) shows the state by which the 2nd cylinder was arrange | positioned in the 1st cylinder, and FIG. 4 has shown schematic sectional drawing of the 3rd cylinder.
As described above, the
The
第一筒体211は、外側接触子21の一部を形成するとともに外側接触子21の電極部へ当接する部位を形成している。この第一筒体211は、三つの筒状部材のうち最も大きい径を有する筒状部材である。この第一筒体211は、所定の長さを有するとともに、両端開口部を有する導電性の中空状の円柱形状(筒形状)に形成される。この第一筒体211は、その一端開口部が、後述する電極部41と接触することにより、電極部と外側接触子21の電気的接続を可能とする。
The
第一筒体211は、第一先端部211a、第一切欠部211b、第一固定部211cと第一後端部211dの各部位から形成されている(図3(a)参照)。第一先端部211aと第一切欠部211bと第一後端部211dは、同一の筒状部材から各部位が形成されるため、夫々の部位は同一の外径と内径を有しており、第一固定部211cはこの筒状部材の壁面に形成されている。本発明の第一筒体211は、一本の筒状部材の壁面に螺旋状の切欠を設けることにより切欠部を形成し、その切欠部を挟んだ二つの筒状部材を夫々第一先端部と第一後端部として形成されている。尚、この第一切欠部211bの長さは、特に限定されるものではないが、所望の伸縮長を有するように長さを調整する必要があり、第一筒体211の強度が十分であれば、第一筒体211の略全長に亘って切欠部を形成することもできる。
The
第一先端部211aは、電極部41に当接する一方開口の上端面を有しており、この第一先端部211aの上端面が、第一筒体211の上方端に相当することになる。第一先端部211aは、後述する第二板状部材32の第二案内孔321内部に貫通支持されて、所定の第一電極部411へ案内される。第一先端部211aの長軸方向の長さは、特に限定されないが、第二板状部材32の厚さより長く形成されることが好ましい。第一先端部211aの下端は、後述する第一切欠部211b上端と連通連結される。
The
第一切欠部211bは、第一先端部211aと第一後端部211dの間に形成され、その上端が第一先端部211aの下端と連通連結され、その下端は後述する第一後端部211d上端と連通連結される。この第一切欠部211bは、上述の如く、第一筒体である筒状部材の壁面に沿って螺旋状の切欠により形成されている。このように第一筒体211に螺旋状の切欠を形成することにより、この第一切欠部211bは第一筒体の長軸方向に伸縮する伸縮部として機能することになる。なお、この切欠部211bが有する伸縮の特性は、切欠部の幅や長さと筒状部材の厚さの調整、筒状部材の材料の種類、筒状部材に加える各種処理(熱的処理や化学的処理等)や各種機械的加工処理(塑性加工等)により適宜調整可能であり、使用者により適宜調整される。なお、切欠部は図中では一つであるが、複数設けても構わない。
The
第一後端部211dは、その上端が第一切欠部211bの下端と連通連結され、その下端開口部は第一筒体211の下方端に相当する。この第一後端部211dは、第一板状部材31とこの第一後端部211dの下方面が当接することになる。このため、第一筒体21は、その上方端となる第一先端部211aの上方面が電極部に当接し、その下方端となる第一後端部211dの下方面が第一板状部材31に当接することになる(図5参照)。第一後端部211dの長軸方向の長さは、上述の如き第一板状部材31に第一後端部211dの下方面が当接することができる長さを有するように形成されることになる。なお、この第一後端部211dは、後述する第二筒体をその開口部から突出するように設けられることになる。
The upper end of the first
第一固定部211cは、第一筒体21と第二筒体22を電気的に接続する。この第一固定部211cは、第一後端部211dに形成される。この図3(a)で示される第一固定部211cでは、第一筒体21(第一後端部211d)側から第二筒体22側へ押圧を行うことにより、第一後端部211dが内側に湾曲する凹部が形成されている状態を示している。なお、この凹部は、第二筒体212を第一筒体211内に配置した後の場合に、第一筒体211と第二筒体212を固定するために形成されるが、第一筒体211に予め形成されていても良い。また、この凹部は、第一筒体211と第二筒体212を固定するために、外側(第一筒体211)から内側(第二筒体212)へ押圧(かしめ)を行うことで固定した場合に形成されたものである。
The
第一固定部211cによる第一及び第二筒体の固定方法は、このかしめの方法に限定されず、レーザ溶接、アーク溶接や接着剤などの他の固定方法を用いても良い。なお、第一筒体211と第二筒体212の固定方法として溶接等第一筒体211と第二筒体212が電気的に接続される固定方法を用いた場合には不要であるが、第一筒体211と第二筒体212が電気的に接続されない固定方法を用いた場合には、例えば第一筒体211と第二筒体212をはんだ或いは導線等で電気的に接続するようにすることもできる。
The fixing method of the 1st and 2nd cylinder by the 1st fixing |
第一筒体211は、上述の如く、一本の導電性の筒状部材により形成することができるが、例えば、外径40〜250μm、内径30〜240μm、肉厚5〜50μmに形成される。
第一筒体211の長軸方向の長さは、後述する第一板状部材31と第二板状部材32の間隔と第一案内上孔311の深さを合算した長さより僅かに長く形成されることが好ましい。これは、第一接触子2が保持体3に保持される場合に、第一切欠部211bが収縮して付勢状態となり、第一筒体211上端が定常的に電極部を圧接する状態となるからである。
As described above, the first
The length of the
第一筒体211は、その上端が電極部に接触して、その下端から第一筒体211に電気的に接続される第二筒体212が突出して配置される。第一筒体211と第二筒体212は導電性の材料で形成される。この材料としては、導電性を有する材料であれば特に限定されないが、例えば、ニッケルやニッケル合金やパラジウム合金を例示することができる。
The
第一先端部211a、第一切欠部211bと第一後端部211cは、夫々第一筒体211に配置されるが、これらの部位は第一筒体211に対して対称の位置となるように配置することもできる。このように配置した場合、第一筒体211が対称形状を有することにより、上下方向の相違がなくなるため、組立てが容易となる。
The first
第二筒体212は、外側接触子21の一部を形成するとともに外側接触子21の検査点に当接するための部材である。この第二筒体212は、三つの筒状部材の内で略中間の大きさの径を有しており、所定の長さを有するとともに導電性の材料から形成される。この第二筒体212は、両端開口を有する中空状の円柱形状(筒形状)に形成される。第二筒体212は、その下方端が検査点に接触し、上方端が第一筒体211内部に常に存在するように配置されている。なお、外側接触子21は、電気的に接続されている第一筒体211と第二筒体212を用いて、電極部41と第一筒体211が導通接触し、検査点と第二筒体212が導通接触することにより、検査点と電極部が電気的に接続されることになる。
The
この第二筒体212は、第二先端部212a、第二固定部212b、第二後端部212cを有している。第二先端部212aと第二後端部212cは、一本の筒状部材により形成されており、同一の外径と内径を有しており、第二固定部212bはこの筒状部材の壁面上に形成されることになる。
The
第二先端部212aは、第二筒体212を形成する筒状部材の一方端部であり、後述する第二固定部212bから電極部側の部位がこれに相当する。この第二先端部212aは、第一筒体211内に常に収容されて配置される。第二先端部212aの長さは、上述の如く常に第一筒体211内に常に収容されているため、第一筒体211の有する第一切欠部211bの伸縮機能により第一筒体211が短くなった場合であっても、第一筒体211の上方端から突出しない長さに形成される必要がある。
The 2nd front-end |
第二後端部212cは、第二筒体212を形成する筒状部材の他方端であり、後述する第二固定部212bから検査点側の部位がこれに相当し、この第二後端部212cの他方開口部が外側接触子21の下方端として検査点と導通接触される。第二後端部212cの長さは、上述の如く、第一筒体211の第一後端部211dの他方開口部より突出して配置される長さが必要である。
The second
第二固定部212bは、第一筒体211と第二筒体212を電気的に接続する。この第二固定部212bは、上述する第一固定部211bと同一位置に形成される。第二固定部212bは、第二筒体212の中央からずれた位置(図3では中央から下方側の位置)に形成されることが好ましい。これは、第一後端部212d上に配置される第一固定部211cの位置に応じた位置に形成されるためである。このように第一筒体211と第二筒体212が固定されることによって、第一固定部211cが第一切欠部211bより下方端側の第一後端部211d上に存在することになるため、第一切欠部211bが伸縮することにより、第二先端部212aが第一筒体211の内部空間を相対的に移動することになる。なお、図3(b)で示される第二固定部212cは、内側に湾曲する内側凹部として示されているが、この内側凹部は、第二筒体212を第一筒体211内部に収容した後に、第一筒体211と第二筒体212と第三筒体213を固定するために形成されるものであるが、第二筒体212に予め形成されていても良い。また、この内側凹部は、第一筒体211と第二筒体212を固定するために、外側(第一筒体211)から内側(第二筒体212)へ押圧(かしめ)を行うことで固定した場合に形成される。この第一及び第二筒体の固定方法は、このかしめに限定されず、レーザ溶接、アーク溶接や接着剤などの他の固定方法を用いても良い。
The
第二筒体212は、一本の導電性の筒状部材により形成することができ、例えば、外径20〜220μm、内径10〜200μm、肉厚5〜50μmに形成される。
The
第二筒体212は、その中心に対して点対称又は中心軸に対して線対称となるように各部位を配置して形成することもできる。このように対称形状となるように形成した場合、外側接触子21を製造する際に、第二筒体212の上下の区別無く取り扱うことができる。
The
第二筒体212は、第一筒体211と同様に導電性の材料で形成される。この材料としては、導電性を有する材料であれば特に限定されないが、例えば、ニッケルやニッケル合金やパラジウム合金を例示することができる。
The
第一筒体211と第二筒体212は、図3(c)に示すように、一方では第一筒体211が突出され、他方では第二筒体212が突出されて配置されることにより、外側接触子21として形成される。第一筒体211と第二筒体212は、第一固定部211cと第二固定部212bで電気的に接続されて固定されているため、第一筒体211の上方端が電極部に接触し、第二筒体212の下方端が検査点に接触することで、電極部と検査点を電気的に接続する接触子として機能することができる。
As shown in FIG. 3C, the
次に、第一接触子21を形成する内側接触子22となる第三筒体213について説明する(図4参照)。この第三筒体213は、内側接触子21を形成するとともに内側接触子21の電極部と検査点へ当接する部位を形成している。この第三筒体213は、三つの筒状部材のうち最も小さい径を有する筒状部材である。この第三筒体213は、所定の長さを有するとともに、両端開口を有する導電性の中空状の円柱形状(筒形状)に形成される。
Next, the
第三筒体213は、第三先端部213a、第二切欠部213b、中間部213c、第三固定部213d、第三切欠部213eと第三後端部213fの各部位から形成されている(図4参照)。第三先端部213aと第二切欠部213bと中間部213cと第三切欠部213eと第三後端部213fは、同一の筒状部材から各部位が形成されるため、夫々の部位は同一の外径と内径を有しており、第三固定部213cはこの筒状部材の壁面に形成されている。本発明の第三筒体213は、一本の筒状部材の壁面に螺旋状の切欠を設けることにより切欠部を形成し、その切欠部を挟んだ二つの筒状部材を夫々第三先端部213aと第三後端部213fとして形成している。尚、この第二切欠部213b及び第三切欠部213eの長さは、特に限定されるものではないが、所望の伸縮長を有するように長さを調整する必要があり、第三筒体213の強度が十分であれば、第三筒体213の略全長に亘って切欠部を形成することもできる。
The third
第三先端部213aは、電極部41に当接する上方開口の上端面を有しており、この第三先端部213aの上端面が、内側接触子22の上方端に相当することになる。第三先端部213aは、後述する第二板状部材32の第二案内孔321内部に貫通支持されて、所定の第一電極部412へ案内される。第三先端部213aの長軸方向の長さは、特に限定されないが、第二板状部材32の厚さより長く形成されることが好ましい。第三先端部213aの下端は、後述する第二切欠部213b上端と連通連結される。
The
第二切欠部213bは、第三先端部213aと中間部213cの間に形成され、その上端が第三先端部213aの下端と連通連結され、その下端は後述する中間部213c上端と連通連結される。この第二切欠部213bは、上述の如く、第三筒体である筒状部材の壁面に沿って螺旋状の切欠により形成されている。このように第三筒体213に螺旋状の切欠を形成することにより、この第二切欠部213bは第三筒体の長軸方向に伸縮する伸縮部として機能することになる。なお、この切欠部213bが有する伸縮の特性は、切欠部の幅や長さと筒状部材の厚さの調整、筒状部材の材料の種類、筒状部材に加える各種処理(熱的処理や化学的処理等)や各種機械的加工処理(塑性加工等)により調整可能であり、使用者により適宜調整される。また、この切欠部213bは図中では1つであるが、複数設けても構わない。
The
中間部213cは、第三筒体213の第二切欠部213bと第三切欠部213eの間に形成され、その上端は第二切欠部213b下端に連通連結され、その下端は後述する第三切欠部213e上端に連通連結される。この中間部213cは、後述する第三固定部213dを有し、第一筒体211及び第二筒体212と電気的に絶縁されて固定される。
The
第三固定部213dは、第二筒体212と第三筒体213を絶縁状態で固定する。この第三固定部213dは、中間部213cに形成される。この図4で示される第三固定部213dでは、第二筒体212(第二後端部212c)側から第三筒体213側へ押圧を行うことによる、固定が行われることになる。なお、この固定部は、第三筒体213を第二筒体212内に配置した後の場合に、第二筒体212と第三筒体213を固定するために形成されるものであるが、第三筒体213に予め形成されていても良い。また、この固定部は、第二筒体212と第三筒体213を固定するために、外側(第二筒体212)から内側(第三筒体213)へ押圧(かしめ)を行うことで固定した場合に形成されたものである。
The
第三固定部213dによる第二及び第三筒体の固定方法は、このかしめの方法に限定されず、接着剤など他の固定方法を用いても良い。但し、第二筒体212と第三筒体213は絶縁状態で固定されなければならないので、電気的に接続される固定方法を採用することはできない。
The fixing method of the 2nd and 3rd cylinder by the 3rd fixing | fixed
第三切欠部213eは、中間部213cと第三後端部213fの間に形成され、その上端が中間部213cの下端と連通連結され、その下端は後述する第三後端部213f上端と連通連結される。この第三切欠部213eは、上述の如く、第三筒体である筒状部材の壁面に沿って螺旋状の切欠により形成されている。このように第三筒体213に螺旋状の切欠を形成することにより、この第三切欠部213eは第三筒体の長軸方向に伸縮する伸縮部として機能することになる。なお、この切欠部213eが有する伸縮の特性は、切欠部の幅や長さと筒状部材の厚さの調整、筒状部材の材料の種類、筒状部材に加える各種処理(熱的処理や化学的処理等)や各種機械的加工処理(塑性加工等)により適宜調整可能であり、使用者により適宜調整される。また、第三切欠部は図中では1つであるが、複数設けても構わない。
The
第三後端部213fは、その上端が第三切欠部213eの下端と連通連結され、その下端開口は第三筒体213の下方端に相当する。このため、第三筒体213は、その上方端となる第三先端部213aの上方面が電極部に当接し、その下方端となる第三後端部213fの下方面が検査点に当接することになる。第一後端部213fの長軸方向の長さは、上述の如き検査点に第三後端部213fの下方面が当接することができる長さを有するように形成されることになる。
The upper end of the third
第三筒体213は、一本の導電性の筒状部材により形成することができ、例えば、外径20〜220μm、内径10〜200μm、肉厚5〜50μmに形成される。
The
第三筒体213の長軸方向の長さは、後述する第一板状部材31下面と第二板状部材32上面の間隔より僅かに長く形成されることが好ましい。これは、第一接触子2が保持体3に保持されるとき、第二切欠部213bが収縮して付勢状態となり、第三筒体213の上端部が定常的に電極部に圧接される状態となるからである。
The length of the
第三筒体213は、その上端が電極部に接触して、その下端が検査点に接触し、この第三筒体313を介して検査点と電極部との電気的導通を図ることになる。なお、第三筒体213は導電性の材料で形成される。この材料としては、導電性を有する材料であれば特に限定されないが、例えば、ニッケルやニッケル合金やパラジウム合金を例示することができる。
The
第三先端部213a、第二切欠部213b、中間部213c、第三切欠部213e、第三後端部213fは、夫々第三筒体213に配置されるが、これらの部位は第三筒体213に対して対称の位置となるように配置されることもできる。このように配置した場合、第三筒体213が対称形状を有することになり、上下方向の相違がなくなるため、組立てが容易となる。
The
第一接触子2は、外側接触子(第一筒体211と第二筒体212)の内部に内側接触子である第三筒体213を収容して配置するため、図4で示される如く、第三筒体213の筒状部材部分の外側周縁には絶縁被膜213gを形成することが好ましい。この絶縁被膜213gは、例えば、ポリイミドやポリテトラフルオロエチレン(PTFE)やエポキシ樹脂を利用することができる。この絶縁被膜213gの厚みは、例えば、1〜5μmに形成される。なお、この絶縁被膜は、切欠部の外側周縁にも形成しても良い。
この絶縁被膜213gは、図4の実施形態において第三筒体213の外側周縁に形成されているが、第二筒体212の内側周縁に形成することもできる。
Since the
The insulating
第一接触子2は、検査点や電極部に押圧される際に、検査点には外側接触子21の下方端(第二筒体212の下方端)と内側接触子22の下方端(第三筒体213の下方端)が当接し、電極部には外側接触子21の上方端(第一筒体211の上方端)と内側接触子の上方端(第三筒体213の上方端)が当接する。
When the
第三筒体213は、図2で示される如く、第一筒体211の上方端開口部と第二筒体212の下方端開口部から突出するように配置されるが、第三筒体213が全く突出しないように配置することもできる。第一筒体211と第三筒体213は、いずれも伸縮機能を有する切欠部を備えているため、平面的にいずれが突出していようとも、検査点又は電極部から押圧される際に切欠部が十分に収縮することで、第一筒体211及び第二筒体212(外側接触子)と第三筒体213(内側接触子)の両方が検査点や電極部に当接することができる。
As shown in FIG. 2, the
図5は、第一接触子21が保持体に取り付けられた状態を示す断面図である。検査用治具1は、第一接触子21を保持するための保持体3を有している。この保持体3は、第一板状部材31と第二板状部材32を有してなる。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state in which the
第一板状部材31は、第一接触子21の下方端を検査点へ案内するための第一案内上孔311と第一案内下孔312を有する。第一案内上孔311は、第一筒体211の外径よりも僅かに大きな内径を有するように形成されている。また、第一案内下孔312は、第一案内上孔311と連通連結され、第一筒体211の外径より僅かに小さく第二筒体212の外径より僅かに大きな内径を有するように形成されている。
The first plate-
このように第一案内上孔311と第一案内下孔312を形成することにより、第一接触子21を後述する第二案内孔321から挿入し、保持体3に保持させたときに、第一筒体211の第一後端部211d下端の外径と第一案内下孔312の径の相違により、第一接触子21を係止させる事ができる。更に、第一後端部211dの外径と第一案内上孔312の内径の差は僅かであるので、より精度良く第一接触子21を保持体3に保持させることができる。
なお、この第一板状部材31の厚みは、特に限定されないが、第一後端部211dの長さよりも短く形成されることが好ましい。これは、第一後端部211dが第一案内上孔311に沿って確実に伸縮することができるからである。
By forming the first guide
The thickness of the
第二板状部材32は、第一板状部材31と所定間隔を有して配置されるとともに、第一接触子21の上方端を電極部41へ案内するための第二案内孔321を有する。第二案内孔321は、第一筒体211の外径よりも僅かに大きな径を有するように形成されている。なお、この第二板状部材32の厚みは、特に限定されないが、第一先端部211aの長さよりも短く形成されることが好ましい。これは、第一先端部211aが第二案内孔321に沿って確実に案内されるからである。また、第一板状部材31下面と第二板状部材32上面の間隔は、特に限定されないが、第一接触子21の長さ(外側接触子及び内側接触子の長さ)より僅かに短くなるように配置される。
The
第一接触子2を保持体3に装着する場合には、第一接触子2の下端部を第二案内孔321に通し、次に、第一案内上孔311と第一案内下孔312にこの下端部を通して装着する。この際に、第一接触子2は、第一案内下孔312と第二案内孔321から、夫々外側に突出するように配置されることになる。
When attaching the
検査用治具1の接続電極体4には、各第一接触子2に対応する電極部41が形成されている。この電極部41は、第一筒体211と当接して導通状態となる第一電極部411と、第三筒体213と当接して導通状態となる第二電極部412を有してなる。
An
図5で示される電極部41は、第一電極部411と第二電極部412が示されており、これらの電極部は、夫々導線で形成され、夫々の端面が各筒体の端部と接触するように形成されている。第一電極部411と第二電極部412が、夫々の筒体と接触するとともに、最も遠い位置(最も大きな空間を有する位置)に配置されるように形成されている。
尚、電極部41の構造は図5に示される他に、例えば、同軸ケーブルのような構造の電線を用いて、筒状の外部導体の内部に内部導体が同軸に配置されている同軸構造とすることもできる。また、内部導体は中実の円柱形状であってもよいし、中空の筒形状であってもよい。この場合、この電極部の外部導体は第一電極部411に対応し、内部導体は第二電極部412に対応することになる。
The
In addition to the structure shown in FIG. 5, the structure of the
図6は、第一接触子を用いた検査用治具の検査時の状態を示す概略断面図である。第一接触子21は、保持体3に装着される場合には、第二板状部材32の第二案内孔321から挿入され、第一板状部材31の第一案内上孔311と第一案内下孔312へ案内される。このとき、第一接触子21は、第一案内上孔311と第一案内下孔312の径の相違する境界に第一筒体211が係止される。
FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing a state at the time of inspection of the inspection jig using the first contact. When the
保持体3に第一接触子21が挿入された後に、第一接触子21の上方端が電極部41へ押し当たるように、第二板状部材32は接続電極体4と当接される。このとき、第一接触子21の外側接触子21と内側接触子22が夫々第一電極部411と第二電極部412に圧接されるため、夫々の第一切欠部211bと第二切欠部213bが収縮して付勢状態となる。このため、外側接触子の下方端(第二筒体212の第二後端部212c下端)と内側接触子の下方端(第三筒体213の第三後端部213fの下方面)が検査点に当接するかしないかに関わらず、外側接触子と内側接触子の上方端は、夫々の電極部41へ定常的に接触する。また、内側接触子22の下方端側に配置されることになる第三切欠部213eは自然長の状態で検査待ちの状態となり、実際の検査時においてのみ、この切欠部が第三筒体213の長軸方向に収縮することになる。なお、外側接触子の第一切欠部211bは、外側接触子の上方端(第一筒体211上方端)が電極部に圧接されたときに収縮するが、外側接触子の下方端(第二筒体212下方端)が検査点に接触したときにも収縮可能であるように形成されることが好ましい。
以上が第一実施形態の検査用治具の構成の説明である。
After the
The above is the description of the configuration of the inspection jig of the first embodiment.
この第一接触子1は、上記の如く、第一筒体211、第二筒体212と第三筒体213からなり、夫々導電性を有する材料で形成されることになる。この第一接触子1は、被検査物の微細化及び複雑化に応じて、接触子自体が細線化して形成される必要がある。一方で、接触子が保持板に対して直角方向の伸縮をするためには、プローブ自体に伸縮機能を有するように形成しなければならない。しかしながら、従来の巻線を用いたコイルばねで伸縮機能を有する部位を形成すると、この部位の外径は巻線自体の直径の大きさに依存することになる。これは巻線の直径の四倍程度より小さい径を有するコイルばねの形成は困難であることを意味しており、特に外径が100μm以下のコイルばねを形成することは極めて困難であった。また、仮にそのようなコイルばねを形成して接触子を製造できたとしても、組立性や製造コストの問題から二〜四千本の接触子からなる検査用治具に利用するには高価に成り過ぎて、実用的でない問題点を有していた。
As described above, the
そこで、本発明では下記の如き製造方法を利用することにより、より安価に且つ容易に微細な接触子を製造することができる。この製造方法には、下記の如き二つの製造方法を開示することができる。 Therefore, in the present invention, a fine contact can be easily produced at a lower cost by using the following production method. In this manufacturing method, the following two manufacturing methods can be disclosed.
[製法例1]
(1)まず、第一筒体211の中空部を形成する芯線(図示せず)を用意する。なお、この芯線は、第一筒体211の内径を規定する所望の太さの導電性を有する芯線(例えば、直径30μm,ステンレス鋼(SUS))を用いる。
[Production Example 1]
(1) First, a core wire (not shown) that forms the hollow portion of the first
(2)次いで、芯線(ステンレス線)にフォトレジスト被膜を塗布し、この芯線の周面を覆う。該フォトレジストの所望の部分を露光・現像・加熱処理して螺旋状のマスクを形成する。このとき、例えば、芯線を中心軸に沿って回転させ、レーザにより露光して螺旋状のマスクを形成されるようにすることができる。本発明の第一筒体211を形成するためには、切欠部(第一切欠部211b)が所定の位置(第一筒体の略中央部)に形成されることになる。
(2) Next, a photoresist film is applied to the core wire (stainless steel wire) to cover the peripheral surface of the core wire. A desired portion of the photoresist is exposed, developed, and heated to form a spiral mask. At this time, for example, the core wire can be rotated along the central axis and exposed by a laser to form a spiral mask. In order to form the
(3)次いで、この芯線にニッケルめっきを実施する。このとき、芯線が導電性であるため、フォトレジストマスクが形成されていない箇所は、ニッケルめっきされる。 (3) Next, nickel plating is performed on this core wire. At this time, since the core wire is conductive, the portion where the photoresist mask is not formed is plated with nickel.
(4)次いで、フォトレジストマスクを除去して、芯線を引き抜き、所望の長さの第一筒体211を形成する。芯線を完全に引き抜いた後に筒体を切断してもよいことは、言うまでもない。
(4) Next, the photoresist mask is removed, the core wire is drawn, and the
また、第一筒体211は、下記の方法で製造することもできる。
Moreover, the
[製法例2]
まず、上記の如き第一筒体211の中空部を形成する芯線(図示せず)を用意する。この芯線にニッケルを所望の厚さにめっきして、芯線の周面にニッケルめっき層を形成する。
[Production Example 2]
First, a core wire (not shown) that forms the hollow portion of the
(2)次に、このニッケルめっき層の表面にフォトレジストを塗布する。該フォトレジストの所望の部分を露光・現像・加熱処理して螺旋状のマスクを形成する。このとき、例えば、芯線を中心軸に沿って回線させ、レーザにより露光して螺旋状のマスクを形成されるようにすることができる。本発明の第一筒体211を形成するためには、切欠部(第一切欠部211b)が所定の位置(第一筒体の略中央部)に形成されることになる。
(2) Next, a photoresist is applied to the surface of the nickel plating layer. A desired portion of the photoresist is exposed, developed, and heated to form a spiral mask. At this time, for example, it is possible to form a spiral mask by forming a core line along the central axis and exposing with a laser. In order to form the
(3)次いで、ニッケルめっきをエッチング除去する。このとき、フォトレジストマスクが形成されていない箇所のニッケルめっきが除去される。 (3) Next, the nickel plating is removed by etching. At this time, the nickel plating in a portion where the photoresist mask is not formed is removed.
(4)次いで、フォトレジストマスクを除去して、芯線を引き抜き、所望の長さの第一筒体211を形成する。芯線を完全に引き抜いた後に筒体を切断してもよいことは、言うまでもない。
(4) Next, the photoresist mask is removed, the core wire is drawn, and the
従来の巻き線を用いたコイルばね方式は、巻き線材料の直径に依存して、該直径の四倍程度より小さい直径を有するコイルの形成が困難で、100μm以下のコイルばねを形成することが極めて困難であった。上記の製法による本発明の第一筒体211は、芯線をニッケルめっきして、所望の形状を形成した後、芯線を引き抜くことにより製造するので、従来の巻き線を用いたコイルばね方式のものよりも、ばね材料の肉厚を薄くすることができ、同時に微細な外径及び内径を精度よく自在に一括製造することができる。
尚、[製法例1]及び[製法例2]において、筒体の切断の為にフォトレジストマスクを形成しても良いことは言うまでもない。
In the conventional coil spring system using a winding, depending on the diameter of the winding material, it is difficult to form a coil having a diameter smaller than about four times the diameter, and it is possible to form a coil spring of 100 μm or less. It was extremely difficult. The first
Needless to say, in [Production Method 1] and [Production Example 2], a photoresist mask may be formed for cutting the cylinder.
第一筒体211の製造方法は以上であるが、本発明における第二筒体212の製造方法は、フォトレジストマスクの形成が不要である点と、筒状部材の直径や内径が異なる点以外は、第一筒体211の製造方法と同様であるため説明を省略する。
Although the manufacturing method of the
本発明の第三筒体213は、2つの切欠部(第二切欠部213bと第三切欠部213e)が所定距離(中間部213cの長さ分の距離)を有して形成されることになる。このため、フォトレジストマスクを形成する場所と個数が異なる。また、筒状部材の直径や内径も第一筒体とは異なる。これらの点以外は、第一筒体211の製造方法と同様であるため製造方法の説明を省略する。
In the
次に、第二実施形態の検査用治具1’について説明する。図7は、本発明の第二実施形態の接触子(第二接触子)の概略断面図である。図8は、第二接触子を用いた検査用治具の概略断面図である。図9は、第一接触子を用いた検査用治具の動作の状態を示す概略断面図である。この第二接触子2’は、基本的な構成は上述する第一接触子2と略同様の構成を有しており、外側接触子21を構成する第一筒体211’及び第二筒体212と、内側接触子22となる第三筒体223を有している。また、更に、第二接触子2’は、第一筒体211’の内部に第二筒体212を収容して外側接触子21とし、第二筒体212の内部に内側接触子22である第三筒体223を収容して形成されている(図7参照)。なお、第二接触子2’と第一接触子2は、類似する構成を有しており、下記の説明では相違する構成について説明し、同一の構成については説明を省略する。
Next, the inspection jig 1 'according to the second embodiment will be described. FIG. 7 is a schematic cross-sectional view of a contact (second contact) according to the second embodiment of the present invention. FIG. 8 is a schematic cross-sectional view of an inspection jig using the second contact. FIG. 9 is a schematic cross-sectional view showing the state of operation of the inspection jig using the first contact. The second contact 2 'has a basic configuration substantially the same as that of the
第一接触子2と第二接触子2’の主要な相違点は、第一筒体211’の長軸方向の長さであり、第二接触子2’の第一筒体211’が、第一接触子2の第一筒体211の長軸方向の長さよりも短く形成されている。特に、この第二接触子2’の第一後端部211d’が、第一接触子2の第一後端部211dの長軸方向の長さよりも短く形成されている。
The main difference between the
また、図7で示される第二接触子2’の実施例では、内側接触子22の第三筒体223に形成される切欠部が三つ形成されているが、後述する第三固定部223fを境として、第三筒体223の上端部側と下端部側の夫々に少なくとも一つの切欠部が形成されていれば良い。図7で示される第二接触子2’では、第三固定部223fの上端部側には、第二切欠部223bと第三切欠部223dの二つの切欠部が形成されてなり、その下端部側には、第四切欠部223gの一つの切欠部が形成されている。なお、第二切欠部223b及び第三切欠部223dは、内側接触子22を電極部に圧接するための押圧力を生み出し、第四切欠部223gは、内側接触子22が検査点に圧接するための押圧力を生み出すことになる。
Further, in the embodiment of the
第二接触子2’は、上述の如く、第三固定部223fを有しているが、この第三固定部223fは第二中間部223eに形成されている(図7参照)。この第三固定部223fは、第三筒体223と第二筒体212を非導電状態で固定する部位となる。なお、第一筒体211’と第二筒体212が導通接続して第一固定部211cと第二固定部212bにより固定され、更に、この第三固定部223fにより第二筒体212と第三筒体223が固定されることになるので、第一乃至第三筒体が一体として固定されることになる。
As described above, the second contact 2 'has the
図7で示される第三固定部223fでは、第二中間部223eの壁面に内側に湾曲する凹部形状に示されており、この凹部は、第三筒体223を第二筒体212内部に収容した後に形成され、第三筒体223に予め形成されているものではない。また、この凹部は、第一筒体211’と第二筒体212と第三筒体223を一体として固定するために、最外側の第一筒体211’側から内側へ向かって押圧(かしめ)を行うことにより形成されたものである。この第一乃至第三筒体の固定方法は、このかしめに限定されず、レーザ溶接、アーク溶接や接着剤などの他の固定方法を用いても良い。なお、この固定方法は、第二筒体と第三筒体を固定した後に、これらの筒体に第一筒体を固定するように二段階に分けても良い。
The
この第二接触子2’の実施例では、第一接触子2と相違し、第三筒体223の絶縁被膜223iが、第三筒体223の全体表面を覆うように形成されており、その筒状部材(第三先端部223a、第二中間部223c、第三中間部223e、第三後端部223h)の表面と、切欠部部分(第二切欠部223b、第三切欠部223d、第四切欠部223g)の表面に夫々形成されている。この絶縁被覆223iは、第一接触子2の実施例で示されるように、筒状部材にのみ絶縁被覆が形成されても良いし、第二筒体212の内側表面に形成されても良い。
In the embodiment of the
第三筒体223は、図7で示される如く、第一筒体211’の上方端開口と第二筒体212の下方端開口から突出するように配置されるが、第三筒体223が全く突出しないように配置することもできる。第一筒体211’と第三筒体223は、いずれも伸縮機能を有する切欠部を備えているため、平面的にいずれが突出していようとも、検査点又は電極部から押圧される際に切欠部が十分に収縮することで、外側接触子21と内側接触子22の夫々が検査点や電極部に当接することができるようになる。
As shown in FIG. 7, the
この図7に示される第二接触子2’では、第一筒体211’と第二筒体212と第三筒体223を固定するために、三つの筒状部材を所定の位置に配置した後、第一筒体211’の外側から内側へ押圧(かしめ)を行うことで、夫々の筒状部材を一体として同一箇所にて固定している。この夫々の筒状部材の固定方法は、このかしめに限定されず、レーザ溶接、アーク溶接や接着剤などの他の固定方法を用いても良い。なお、上述の如き第一乃至第三筒体全てが配置されてから全ての筒体を固定するように形成しても良いし、まず、第一と第二筒体を固定した後に、第三筒体を固定するようにしても良い。あるいは、第二筒体と第三筒体を固定した後に、第一筒体を固定するようにしても良い。なお、第二筒体212と第三筒体223は、非導電状態で固定される必要がある。
In the
図8は、第二接触子2’が保持体3に取り付けられた状態を示す概略断面図である。第二実施形態の検査用治具1’は、第一板状部材33と第二板状部材32を有する保持体3により、第二接触子2’が保持されて組み立てられる。このとき、第一板状部材33に形成される第一案内孔331は、第一実施形態の検査治具1の場合と相違し、所定径を有する貫通孔が形成されるのみである。
この第一板状部材33の第一案内孔331は、第一筒体211’の外径より僅かに小さく、第二筒体212の外径よりも僅かに大きい径を有するように形成されている。このように第一案内孔331が形成されることにより、第二接触子2’が第一筒体211’と第二筒体212の段差によって第二接触子2’が係止されることになる。つまり、第一板状部材33の第一案内孔331を第二筒体212は通過することができるが、第一筒体211’は通過することができず、この第一案内孔331により第二接触子2’が抜け出ることを防止することができる。
FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing a state in which the
The
なお、このとき、第二接触子2’は、第三筒体223の第四切欠部223gが第一案内孔331内部に存在して係止されるように、第一後端部211d’が形成されることが好ましい。このように第二接触子2’を形成することにより、第二筒体212と第三筒体223の第一案内孔331に挿入される部位を多くすることができ、検査実施時に第二後端部212cと第三後端部223iが精度良く検査点に当接できることになる。
At this time, the
保持体3に第二接触子2’を保持させた後に、第二接触子2’の上方端が電極部41に押し当たるように、第二板状部材32を接続電極体4と当接させる。このとき、第二接触子2’の第一筒体211’と第三筒体223が夫々の第一電極部411と第二電極部412に圧接されるため、伸縮機能を有する夫々の第一切欠部211bと第二切欠部223b及び第三切欠部223dが収縮して付勢状態となり、第一筒体211’の第一先端部211aと第三筒体223の第三先端部223aが検査点に当接するかしないにかかわらず定常的に夫々の電極部41へ接触する。また、下方側に配置されることになる第三筒体223の第四切欠部223gは自然長の状態で検査待ちの状態となり、実際の検査時においてのみ、この切欠部が伸縮することになる。
After holding the
第二接触子2’を有する検査用治具を用いて検査を実施する場合には、第二及び第三筒体の下方端が検査点に当接する。このとき、第二筒体212は第二固定部212bで第一筒体211’と固定されているため、第一筒体211’の有する第一切欠部211bが収縮し、第三筒体223においては第四切欠部223gが収縮することになる。
以上が第二実施形態の検査用治具の説明である。
When the inspection is performed using the inspection jig having the second contact 2 ', the lower ends of the second and third cylinders abut on the inspection point. At this time, since the
The above is the description of the inspection jig of the second embodiment.
次に、第三実施形態の接触子(第三接触子)について説明する。この第三接触子2’’は、第二接触子2’の構成と略同一の構成を有しており、その相違する構成を中心に説明する。図10に示される第三接触子2’’は、第二接触子2’と比較した場合、第一筒体211’と第二筒体212’と第三筒体223を接続固定する固定箇所が相違している。この第三接触子2’’では、第一筒体211’と第二筒体212’を導通状態で接続固定する第一固定部211cと第二固定部212bが形成され、第二筒体212’と第三筒体223を非導通状態で接続固定する第三固定部212b’と第四固定部223fが形成されている。これら固定部は、図10で示される如く、第一筒体211’と第二筒体212’の固定箇所と、第二筒体212’と第三筒体223の固定箇所の位置が、同一位置ではなく、異なる位置にて設定されている。このように固定されることにより、第三筒体と第二筒体を先に固定し、これらの筒体に第一筒体を固定して接触子の組立てを実施することになるので、各組立工程を分業化して行うことができ、組立工程が容易になる。
なお、これらの固定部の固定方法は、上述の方法を利用することができ、説明を省略する。
Next, the contact (third contact) of the third embodiment will be described. The
In addition, the above-mentioned method can be utilized for the fixing method of these fixing | fixed parts, and description is abbreviate | omitted.
図10の第三接触子2’’では、これらの固定部が第三筒体223の第二中間部223eの位置に配置されるように形成されており、この位置に夫々の固定部が形成されることにより、この位置より上端部側に位置する切欠部は、電極部41へ圧接される押圧力を生じさせ、この位置より下端部側に位置する切欠部は、検査点へ圧接される押圧力を生じさせることになる。
In the third contact 2 '' of FIG. 10, these fixing portions are formed so as to be arranged at the position of the second
本発明の第一乃至第三接触子は、上記の説明の如き三つの筒体から形成されているので、接触子の上方端(電極部)の2端子のピッチより下方端(検査点)の2端子のピッチを狭くすることができる。また、第二筒体を第一筒体と第三筒体のガイドとすることにより、接触子の強度を確保するとともに双方を確実に垂直に伸縮させることができる。更に、接触子を保持する保持体の案内孔を形成する数を低減することができ、組み立て工数の低減を図ることができる。
以上が第三実施形態の検査用治具の説明である。
Since the first to third contacts of the present invention are formed from the three cylindrical bodies as described above, the lower end (inspection point) of the two terminals on the upper end (electrode part) of the contact is lower. The pitch of the two terminals can be reduced. In addition, by using the second cylinder as a guide for the first cylinder and the third cylinder, the strength of the contact can be ensured and both can be expanded and contracted vertically. Furthermore, it is possible to reduce the number of guide holes formed in the holding body that holds the contact, and to reduce the number of assembly steps.
The above is the description of the inspection jig of the third embodiment.
また、これら第一乃至第三接触子の上端部及び下端部の先端には、先鋭形状となるようなテーパ部を形成したり、複数の凸部を有するクラウン形状に形成したりすることもできる。 In addition, at the top ends of the first to third contacts, the tip of the lower end and the tip may be formed with a tapered portion or a crown shape having a plurality of convex portions. .
第一乃至第三接触子は、三つの筒状部材を組み合わせることにより形成されているが、最内に内側接触子となる筒状部材を配置し、第二筒体と第一筒体で形成される外側接触子のように、複数の徐々に径の大きくなる筒状部材を複数組み合わせて外側接触子とすることもできる。 The first to third contact elements are formed by combining three cylindrical members, but a cylindrical member that is an inner contact element is arranged in the innermost portion, and is formed by a second cylindrical body and a first cylindrical body. As in the case of the outer contact, a plurality of cylindrical members with gradually increasing diameters can be combined to form an outer contact.
1・・・・検査用治具
2・・・・接触子
211・・第一筒体
211b・第一切欠部
211c・第一固定部
212・・第二筒体
212b・第二固定部
213・・第三筒体
213b・第二切欠部
213e・第三切欠部
213d・第三固定部
3・・・・保持体
31・・・第一板状部材
311・・第一案内孔
32・・・第二板状部材
321・・第二案内孔
4・・・・接続電極体
41・・・電極部
5・・・・導線部
DESCRIPTION OF
Claims (9)
前記検査装置と電気的に接続される電極部を複数備える接続電極体と、
上方端が前記電極部に圧接される導電性の筒形状の第一筒体と、
前記第一筒体の下方端開口部から突出されるとともに該第一筒体内に電気的に接続されて同軸に配置され、上方端が該第一筒体の内部に配置されるとともに下方端が前記検査部に圧接される導電性の筒形状の第二筒体と、
前記第一筒体及び前記第二筒体と電気的に非接続で且つ該第一筒体及び該第二筒体内に同軸で収容され、上方端が前記電極部に圧接されるとともに下方端が前記検査部に圧接される導電性の筒形状の第三筒体と、
前記第二筒体と第三筒体の夫々の下方端を前記検査点へ案内する第一案内孔を有する第一板状部材と、
前記第一筒体と前記第三筒体の夫々の上方端を前記電極部へ案内する第二案内孔を有し、前記第一板状部材と所定間隔を有して配置される第二板状部材とを備え、
前記第一筒体は、
該第一筒体の上方端と下方端の間の筒壁部に螺旋状の第一切欠部が設けられ、
前記第三筒体は、
該第三筒体の上方端と下方端の間の筒壁部に螺旋状の第二切欠部が設けられ、
前記第一筒体は、
前記第一切欠部より該下方端側に前記第二筒体と固定される第一固定部を有していることを特徴とする検査用治具。 An inspection jig for electrically connecting an inspection object having an inspection point to be inspected and an inspection device for inspecting the electrical characteristics of the inspection part,
A connection electrode body comprising a plurality of electrode portions electrically connected to the inspection device;
A conductive cylindrical first cylinder whose upper end is pressed against the electrode part; and
It protrudes from the lower end opening of the first cylinder and is electrically connected to the first cylinder and arranged coaxially. The upper end is arranged inside the first cylinder and the lower end is A conductive cylindrical second cylinder pressed against the inspection portion;
The first cylinder and the second cylinder are not electrically connected to each other and are coaxially accommodated in the first cylinder and the second cylinder. The upper end is pressed against the electrode portion and the lower end is A conductive cylindrical third cylinder pressed against the inspection portion;
A first plate-like member having a first guide hole for guiding the lower end of each of the second cylinder and the third cylinder to the inspection point;
A second plate having a second guide hole for guiding the upper end of each of the first cylinder and the third cylinder to the electrode portion, and being arranged at a predetermined interval from the first plate member. And a member
The first cylinder is
A spiral first notch is provided in the cylindrical wall portion between the upper end and the lower end of the first cylindrical body,
The third cylinder is
A spiral second notch is provided in the cylindrical wall between the upper and lower ends of the third cylinder,
The first cylinder is
An inspection jig having a first fixing portion fixed to the second cylindrical body on the lower end side from the first notch portion.
前記第一筒体の外径よりもわずかに大きい径を有する第一案内上孔と、
前記第一案内上孔と連通連結され、前記第一筒体の外径より小さく、前記第二筒体の外径よりもわずかに大きい径を有する第一案内下孔を有することを特徴とする請求項1に記載の検査用治具。 The first guide hole is
A first guide upper hole having a diameter slightly larger than the outer diameter of the first cylinder;
The first guide lower hole is connected to the first guide upper hole and has a diameter smaller than the outer diameter of the first cylinder and slightly larger than the outer diameter of the second cylinder. The inspection jig according to claim 1.
上方端が前記電極部に圧接される導電性の筒形状の第一筒体と、
前記第一筒体の他方端開口部から突出されるとともに該第一筒体内に電気的に接続されて同軸に配置され、上方端が該第一筒体の内部に配置されるとともに下方端が前記検査部に圧接される導電性の筒形状の第二筒体と、
前記第一筒体及び前記第二筒体と夫々電気的に非接続で且つ該第一筒体及び該第二筒体内部に同軸で収容され、上方端が前記電極部に圧接されるとともに下方端が前記検査部に圧接される導電性の筒形状の第三筒体とを備え、
前記第一筒体は、
該第一筒体の上方端と下方端の間の筒壁部に螺旋状の第一切欠部が設けられ、
前記第三筒体は、
該第三筒体の上方端と下方端の間の筒壁部に螺旋状の二つの第二切欠部が互いに距離を有して設けられ、
前記第一筒体は、
第一切欠部より下方端側に前記第二筒体が固定される第一固定部を有しており、
前記第三筒体は、
前記二つの第二切欠部の間に前記第二筒体と固定される第二固定部を有していることを特徴とする接触子。 A contact for use in an inspection jig for electrically connecting an inspection object having an inspection point to be inspected and an inspection device for inspecting the electrical characteristics of the inspection part,
A conductive cylindrical first cylinder whose upper end is pressed against the electrode part; and
It protrudes from the opening at the other end of the first cylinder and is electrically connected to the first cylinder so as to be coaxially arranged. The upper end is arranged inside the first cylinder and the lower end is A conductive cylindrical second cylinder pressed against the inspection portion;
The first cylindrical body and the second cylindrical body are not electrically connected to each other, and are accommodated coaxially in the first cylindrical body and the second cylindrical body, and the upper end is pressed against the electrode portion and the lower side. A conductive cylindrical third cylinder whose end is pressed against the inspection section;
The first cylinder is
A spiral first notch is provided in the cylindrical wall portion between the upper end and the lower end of the first cylindrical body,
The third cylinder is
Two spiral second cutout portions are provided at a distance from each other in a cylindrical wall portion between an upper end and a lower end of the third cylindrical body,
The first cylinder is
It has a first fixing part to which the second cylindrical body is fixed on the lower end side from the first notch part,
The third cylinder is
A contact having a second fixing portion fixed to the second cylinder between the two second notches.
一方端が電極部に圧接されるとともに他方端が検査点に圧接され、導電性の筒状部材から形成される内側接触子と、
前記内側接触子を内部に非導電状態で収容し、一方端が電極部に圧接されるとともに他方端が検査点に圧接される導電性の筒状部材からなる外側接触子を有し、
前記内側接触子及び前記外側接触子は、前記一方端と他方端の間の筒壁部に螺旋状の切欠部が設けられ、
前記外側接触子の筒状部材の外側壁面が、前記他方端側から前記一方端側に沿って、徐々に又は階段状に大きくなるように形成されていることを特徴とする接触子。 A contactor used for an inspection jig for electrically connecting an inspection object having an inspection part to be inspected and an inspection apparatus for inspecting an electrical characteristic of the inspection part,
An inner contact formed from a conductive cylindrical member, one end of which is pressed against the electrode portion and the other end is pressed against the inspection point;
The inner contact is accommodated in a non-conductive state inside, and has an outer contact made of a conductive cylindrical member whose one end is pressed against the electrode portion and the other end is pressed against the inspection point,
The inner contact and the outer contact are provided with a spiral notch in the cylindrical wall portion between the one end and the other end,
A contactor, wherein an outer wall surface of a cylindrical member of the outer contactor is formed so as to increase gradually or stepwise from the other end side along the one end side.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009241646A JP5381609B2 (en) | 2009-10-20 | 2009-10-20 | Inspection jig and contact |
TW099134056A TWI418820B (en) | 2009-10-20 | 2010-10-06 | Inspection fixture and probe |
CN2010105184605A CN102043071B (en) | 2009-10-20 | 2010-10-18 | Inspection fixture and contact |
KR1020100101825A KR101157879B1 (en) | 2009-10-20 | 2010-10-19 | Inspection fixture, inspection probe |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009241646A JP5381609B2 (en) | 2009-10-20 | 2009-10-20 | Inspection jig and contact |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011089801A true JP2011089801A (en) | 2011-05-06 |
JP5381609B2 JP5381609B2 (en) | 2014-01-08 |
Family
ID=43909411
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009241646A Expired - Fee Related JP5381609B2 (en) | 2009-10-20 | 2009-10-20 | Inspection jig and contact |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5381609B2 (en) |
KR (1) | KR101157879B1 (en) |
CN (1) | CN102043071B (en) |
TW (1) | TWI418820B (en) |
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- 2009-10-20 JP JP2009241646A patent/JP5381609B2/en not_active Expired - Fee Related
-
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- 2010-10-06 TW TW099134056A patent/TWI418820B/en not_active IP Right Cessation
- 2010-10-18 CN CN2010105184605A patent/CN102043071B/en not_active Expired - Fee Related
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TWI418820B (en) | 2013-12-11 |
KR101157879B1 (en) | 2012-06-22 |
TW201142323A (en) | 2011-12-01 |
CN102043071B (en) | 2013-09-04 |
CN102043071A (en) | 2011-05-04 |
KR20110043480A (en) | 2011-04-27 |
JP5381609B2 (en) | 2014-01-08 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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