JP2011069702A - クリープ量測定装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】簡便な構成で高精度に試験片のクリープ量の測定ができ、かつ、試験片の置かれた環境について正確な温度管理を可能とするクリープ量測定装置を提供する。
【解決手段】試験片TP1、TP2に荷重を印加して試験片にクリープを発生させ、発生されたクリープのクリープ量に応じた変位量で試験片設置部20の可動台座28を測定面28bと共に移動させると共に、測定部30のレーザ変位計34から出射されるレーザ光を測定面に入射して、測定面で反射された反射光の光学的な特性の変化を検出する。
【選択図】図1

Description

本発明は、クリープ量測定装置に関し、特に、試験片のクリープ量を光学的に測定することができるクリープ量測定装置に関する。
近年、試験片のクリープ量を精度よく測定するために、レーザ光等を用いて、非接触的に測定する構成が提案されている。
具体的には、特許文献1においては、高温炉本体1中に収容した試験片3に重り4を懸架し、重り4を載置する治具5を基準にし、治具5との距離をレーザー測長機6で測定することにより、試験片5の変位を高頻度に測定して、変位の推移を測定し得る伸び測定用クリープ試験方法を開示する。
特開平05−187979号公報
しかしながら、本発明者の検討によれば、特許文献1で提案される構成では、治具の基準板との距離を測定しているので、試験片と基準板との間に治具を介して測定していることになり、試験片の変位に治具によるばらつきが生じる可能性がある。また、高温炉に治具等を外に出すための間隙部等が必要となって、高温炉の内部が外気温等の影響を受けて、正確な温度の管理が困難な傾向にある。
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたもので、本発明は、簡便な構成で高精度に試験片のクリープ量の測定ができ、かつ、試験片の置かれた環境について正確な温度管理を可能とするクリープ量測定装置を提供することを目的とする。
以上の目的を達成すべく、本発明は、試験片を設置する試験片設置部と、試験片のクリープ量を測定する測定部と、を備えたクリープ量測定装置であって、前記試験片設置部は、静止した第1の支持体と、前記第1の支持体に移動自在に載置されて前記試験片を設置する可動台座と、前記可動台座に設定された測定面と、を有し、前記測定部は、静止した第2の支持体と、前記第2の支持体に載置されたレーザ変位計と、を有し、前記試験片に荷重を印加して前記試験片にクリープを発生させ、発生された前記クリープのクリープ量に応じた変位量で前記可動台座を前記測定面と共に移動させると共に、前記レーザ変位計から出射されるレーザ光を前記測定面に入射して、前記測定面で反射された反射光の光学的な特性の変化を検出することを第1の特徴とする。
また本発明は、かかる第1の特徴に加えて、前記試験片設置部は、更に恒温槽を有し、前記試験片設置部の前記第1の支持体、前記可動台座及び前記測定面は、前記恒温槽の内部に封じられて配置され、前記測定部は、前記恒温槽の外部に配置されることを第2の特徴とする。
また本発明は、かかる第2の特徴に加えて、前記測定部の前記レーザ変位計から出射される前記レーザ光は、前記恒温槽に設けられた窓部材を介して前記試験片設置部の前記測定面に入射されることを第3の特徴とする。
本発明の第1の特徴によれば、試験片に荷重を印加して試験片にクリープを発生させ、発生されたクリープのクリープ量に応じた変位量で試験片設置部の可動台座を測定面と共に移動させると共に、測定部のレーザ変位計から出射されるレーザ光を測定面に入射して、測定面で反射された反射光の光学的な特性の変化を検出することにより、簡便な構成で高精度に試験片のクリープ量の測定ができる。
本発明の第2の特徴によれば、更に恒温槽を備え、可動台座及び測定面を有する試験片設置部が、恒温槽の内部に封じられて配置され、測定部が、恒温槽の外部に配置されることにより、試験片の置かれた環境について正確な温度管理を可能として、より高精度に試験片のクリープ量の測定ができる。
本発明の第3の特徴によれば、測定部のレーザ変位計から出射されるレーザ光を、恒温槽に設けられた窓部材を介して試験片設置部の測定面に入射することにより、試験片の置かれた環境についてより正確な温度管理を可能として、より高精度に試験片のクリープ量の測定ができる。
本発明の第1の実施形態におけるクリープ量測定装置の模式的構成図である。 本実施形態のクリープ量測定装置におけるクリープ治具の側面図である。 図2のA矢視図である。 本発明の第2の実施形態におけるクリープ量測定装置のクリープ治具の部分拡大側面図である。
以下、図面を適宜参照して、本発明の各実施形態におけるクリープ量測定装置につき、詳細に説明する。なお、図中、x軸、y軸及びz軸は、3軸直交座標系をなし、z軸方向が、鉛直方向である。
(第1の実施形態)
まず、本発明の第1の実施形態におけるクリープ量測定装置につき、図1から図3を参照して、詳細に説明する。
図1は、本実施形態におけるクリープ量測定装置の模式的構成図である。また、図2は、本実施形態のクリープ量測定装置におけるクリープ治具の側面図であり、図3は、図2のA矢視図である。
図1から図3に示すように、本実施形態におけるクリープ量測定装置1は、いずれも基部10上に固定された試験片設置部20及び測定部30を備える。
具体的には、試験片設置部20は、x軸の正の方向の壁部に窓部材22aを設けた恒温槽22内に封じられて収容されたクリープ治具24を有する。かかるクリープ治具24は、基部10上に固定された第1の支持体26、及び第1の支持体26に対して移動自在に載置された可動台座28を有する。
より詳しくは、第1の支持体26は、x軸の方向に延在して第1の支持体26の上面に固定され、可動台座28をx軸の方向に移動自在に支持するレール26a、y軸の方向に離間して第1の支持体26の上面に固定された一対のピン部材26b、及び第1の支持体26から突出して固定されたローラ26cを有する。
また、可動台座28は、可動台座28の上部がy軸の方向に切り欠かれ、板状の試験片TP1を収容して載置自在な溝部28a、及び可動台座28のx軸の正方向の端部の設定されて、試験片TP1のクリープ量を測定するためのレーザ光が入射される平面である測定面28bを有する。かかる測定面28bは、入射されるレーザ光を反射して発散光を生じるような所定の表面荒さを有する。更に、可動台座28のx軸の負方向の端部には、ワイヤSの一端が連絡し、ワイヤSは、ローラ26cを介して配策され、ワイヤSの他端には、所定の重さの重りWが連絡する。
ここで、可動台座28の溝部28aにおけるx軸の正方向に位置する壁面は、x軸の負方向に突出して荷重印加部28cを形成している。なお、かかる試験片設置部20の各構成要素は、熱変形が無視し得て十分な強度を有する材料製であり、典型的には、鉄等の金属製である。また、板状の試験片TP1は、典型的には、熱環境下で、熱変形を起こし得る材料製であり、典型的には樹脂製である。
更に、測定部30は、試験片設置部20の恒温槽22の外部で、試験片設置部20に対してx軸の正の方向に配置され、基部10上に固定された第2の支持体32、及び第2の支持体32に固定されたレーザ変位計34を有する。かかるレーザ変位計34は、恒温槽22の窓部材22aを介して可動台座28の測定面28bに対向する。なお、レーザ変位計34から出射されるレーザ光は、限定的なものではないが、典型的には赤色領域の波長を主体とし、窓部材22aの材質も、かかるレーザ光の波長に応じてレーザ光を過不足無く透過自在な透光性を有する。
次に、かかる構成を有するクリープ量測定装置1を用いて、試験片TP1の熱環境下における熱変形量、つまりクリープ量を測定する方法につき、詳細に説明する。
試験片TP1のクリープ量を測定するには、まず、試験片設置部20のクリープ治具24における可動台座28の溝部28aに、試験片TP1を載置する。このとき、試験片TP1の両端部は、第1の支持体26の上面に固定された一対のピン部材26bに対してx軸の正方向側から当接される一方で、試験片TP1の中央部は、可動台座28の溝部28aに設けられた荷重印加部28cに対してx軸の負方向側から当接される。そして、かかる状態で、重りWを鉛直方向で自由にして、その荷重を、ワイヤSを介して可動台座28に印加する。
同時に、試験片設置部20の恒温槽22内の温度を所定温度に設定して温度環境を維持して封じると共に、測定部30のレーザ変位計34からレーザ光を出射して、かかるレーザ光を恒温槽22の窓部材22aを介して、可動台座28に設定された測定面28bに入射する。
すると、試験片TP1には、ワイヤSを介して可動台座28に印加される重りWからの荷重が荷重印加部28cを介して印加されているから、試験片TP1の熱変形が時間が経過するに従って進んでいき、試験片TP1がx軸の負方向に向かって凸となるように撓んで変形していく。かかる試験片TP1の変形に伴って、可動台座28がx軸の負方向に移動すると共に可動台座28に設けられた測定面28bも同様に移動し、対応して、測定面28bに入射されたレーザ光が反射される反射光の発散角も変化する。更に、かかる反射光は、レーザ変位計34で受光され、その反射光の発散角が経時的にレーザ変位計34に記録される。
そして、以上のような、試験片TP1の変形を生じさせながら所定時間が経過したならば、今回の測定は終了し、レーザ変位計34に記録された測定面28bからの反射光の発散角を経時的に分析することにより、試験片TP1のクリープ量が得られることになる。
なお、試験片TP1のクリープ量を、測定面28bからの反射光の発散角変化から求めているが、限定的なものではなく、反射光の波長変化等から求めてもかまわない。
(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態におけるクリープ量測定装置につき、更に図4をも参照して、詳細に説明する。
図4は、本発明の第2の実施形態におけるクリープ量測定装置のクリープ治具の部分拡大側面図である。
本実施形態のクリープ量測定装置2においては、可動台座128が円筒状の試験片TP2に対応した構成を有することが、第1の実施形態のクリープ量測定装置1の構成に対する主たる相違点であり、残余の構成は同様である。よって、本実施形態においては、かかる相違点に着目して説明することとし、同様な構成については同一の符号を付して適宜説明を簡略化又は省略する。
具体的には、図4に示すように、クリープ治具124の可動台座128は、y軸の方向に貫通した開口部128aを有して、開口部128a内に円筒状の試験片TP2を収容して載置自在である。また、可動台座128のx軸の正方向の端部には、測定面128bが設定され、可動台座128のx軸の負方向の端部には、ワイヤSの一端が連絡する。更に、可動台座128の開口部128aにおけるx軸の正方向に位置する壁面は、荷重印加部128cとして機能する。
ここで、第1の支持体26の上面に固定された一対のピン部材26bには、更にこれらの間を連絡して固定された直方体状のストッパ126dが設けられている。
次に、かかる構成を有するクリープ量測定装置2を用いて、試験片TP2のクリープ量を測定する方法につき、詳細に説明する。
試験片TP2のクリープ量を測定するには、まず、可動台座128の開口部128aに、試験片TP2を載置する。このとき、試験片TP2は、第1の支持体26の上面に固定された一対のピン部材26bの間を連絡して固定されたストッパ126dに対してx軸の正方向側から当接される一方で、可動台座128の開口部128aに設けられた荷重印加部128cに対してx軸の負方向側から当接される。そして、かかる状態で、重りWの荷重を、ワイヤSを介して可動台座28に印加することになる。
同時に、試験片設置部20の恒温槽22内の温度を所定温度に設定して温度環境を維持すると共に、測定部30のレーザ変位計34からレーザ光を出射して、かかるレーザ光を恒温槽22の窓部材22aを介して、可動台座128に設定された測定面128bに入射する。
すると、試験片TP2には、可動台座128に印加される荷重が荷重印加部128cを介して印加されているから、試験片TP2の熱変形が時間が経過するに従って進んでいき、試験片TP2がx軸の方向に縮径するように撓んで変形していく。かかる試験片TP2の変形に伴って、可動台座128がx軸の負方向に移動すると共に可動台座128に設けられた測定面128bも同様に移動し、対応して、測定面128bに入射されたレーザ光が反射される反射光の発散角も変化する。更に、かかる反射光は、レーザ変位計34で受光され、その反射光の発散角が経時的にレーザ変位計34に記録される。
そして、以上のような、試験片TP2の変形を生じさせながら所定時間が経過したならば、今回の測定は終了し、レーザ変位計34に記録された測定面28bからの反射光の発散角を経時的に分析することにより、試験片TP2のクリープ量が得られることになる。
なお、以上の各実施形態では、試験片に対する曲げ変形や圧縮変形について説明したが、試験片の一端を可動台座に固定し、試験片の他端を第1の支持体に固定した状態で、試験片の一端を可動台座で引っ張り荷重を印加することにより、引っ張り変形についてのクリープ量を得ることができることはもちろんである。
以上の各実施形態の構成によれば、試験片に荷重を印加して試験片にクリープを発生させ、発生されたクリープのクリープ量に応じた変位量で試験片設置部の可動台座を測定面と共に移動させると共に、測定部のレーザ変位計から出射されるレーザ光を測定面に入射して、測定面で反射された反射光の光学的な特性の変化を検出することにより、簡便な構成で高精度に試験片のクリープ量の測定ができる。
また、更に恒温槽を備え、可動台座及び測定面を有する試験片設置部が、恒温槽の内部に封じられて配置され、測定部が、恒温槽の外部に配置されることにより、試験片の置かれた環境について正確な温度管理を可能として、より高精度に試験片のクリープ量の測定ができる。
また、測定部のレーザ変位計から出射されるレーザ光を、恒温槽に設けられた窓部材を介して試験片設置部の測定面に入射することにより、試験片の置かれた環境についてより正確な温度管理を可能として、より高精度に試験片のクリープ量の測定ができる。
なお、本発明は、部材の種類、配置、個数等は前述の実施形態に限定されるものではなく、その構成要素を同等の作用効果を奏するものに適宜置換する等、発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能であることはもちろんである。
以上のように、本発明においては、簡便な構成で高精度に試験片のクリープ量の測定ができ、かつ、試験片の置かれた環境について正確な温度管理を可能とするクリープ量測定装置を提供することができるものであり、その汎用普遍的な性格から車両の樹脂部品等のクリープ量測定装置に広範に適用され得るものと期待される。
1………クリープ量測定装置
2………クリープ量測定装置
W………重り
S………ワイヤ
TP1…試験片
TP2…試験片
10……基部
20……試験片設置部
22……恒温槽
22a…窓部材
24……クリープ治具
26……第1の支持体
26a…レール
26b…ピン部材
26c…ローラ
28……可動台座
28a…溝部
28b…測定面
28c…荷重印加部
30……測定部
32……第2の支持体
34……レーザ変位計
28……可動台座
28a…溝部
28b…測定面
28c…荷重印加部
124…クリープ治具
126d…ストッパ
128……可動台座
128a…開口部
128b…測定面
128c…荷重印加部

Claims (3)

  1. 試験片を設置する試験片設置部と、試験片のクリープ量を測定する測定部と、を備えたクリープ量測定装置であって、
    前記試験片設置部は、静止した第1の支持体と、前記第1の支持体に移動自在に載置されて前記試験片を設置する可動台座と、前記可動台座に設定された測定面と、を有し、
    前記測定部は、静止した第2の支持体と、前記第2の支持体に載置されたレーザ変位計と、を有し、
    前記試験片に荷重を印加して前記試験片にクリープを発生させ、発生された前記クリープのクリープ量に応じた変位量で前記可動台座を前記測定面と共に移動させると共に、前記レーザ変位計から出射されるレーザ光を前記測定面に入射して、前記測定面で反射された反射光の光学的な特性の変化を検出することを特徴とするクリープ量測定装置。
  2. 前記試験片設置部は、更に恒温槽を有し、前記試験片設置部の前記第1の支持体、前記可動台座及び前記測定面は、前記恒温槽の内部に封じられて配置され、前記測定部は、前記恒温槽の外部に配置されることを特徴とする請求項1に記載のクリープ量測定装置。
  3. 前記測定部の前記レーザ変位計から出射される前記レーザ光は、前記恒温槽に設けられた窓部材を介して前記試験片設置部の前記測定面に入射されることを特徴とする請求項2に記載のクリープ量測定装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105181460A (zh) * 2015-09-26 2015-12-23 哈尔滨工程大学 一种同时多级加载蠕变试验机
CN116296764A (zh) * 2023-05-16 2023-06-23 常州萨伟利铸造技术有限公司 一种自硬砂蠕变性测量设备

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58161846A (ja) * 1982-03-19 1983-09-26 Toshiba Corp クリ−プ試験装置
JPH02226041A (ja) * 1989-02-27 1990-09-07 Fuji Electric Co Ltd 試験片の荷重点変位計測方法
JPH03140836A (ja) * 1989-10-27 1991-06-14 Fujitsu Ltd 材料の温度による変形量測定装置
JPH05187979A (ja) * 1992-01-13 1993-07-27 Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk 伸び測定用クリープ試験方法
JP2002372484A (ja) * 2001-06-13 2002-12-26 Shinagawa Refract Co Ltd 耐火物の圧縮クリープ試験装置
JP2003083857A (ja) * 2001-09-12 2003-03-19 Kobe Kogyo Shikenjiyou:Kk クリープ試験機
JP2003202279A (ja) * 2001-10-25 2003-07-18 Keigo Kamabayashi クリープ試験機
JP2005121614A (ja) * 2003-10-20 2005-05-12 Satake Corp 物体の変形特性測定装置
JP2005241525A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Sii Nanotechnology Inc 走査型プローブ顕微鏡および該顕微鏡による測定方法
JP2006284363A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Toyobo Co Ltd プローブ顕微鏡及び物性測定方法
JP2009042169A (ja) * 2007-08-10 2009-02-26 Shindengen Electric Mfg Co Ltd 熱衝撃試験装置

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58161846A (ja) * 1982-03-19 1983-09-26 Toshiba Corp クリ−プ試験装置
JPH02226041A (ja) * 1989-02-27 1990-09-07 Fuji Electric Co Ltd 試験片の荷重点変位計測方法
JPH03140836A (ja) * 1989-10-27 1991-06-14 Fujitsu Ltd 材料の温度による変形量測定装置
JPH05187979A (ja) * 1992-01-13 1993-07-27 Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk 伸び測定用クリープ試験方法
JP2002372484A (ja) * 2001-06-13 2002-12-26 Shinagawa Refract Co Ltd 耐火物の圧縮クリープ試験装置
JP2003083857A (ja) * 2001-09-12 2003-03-19 Kobe Kogyo Shikenjiyou:Kk クリープ試験機
JP2003202279A (ja) * 2001-10-25 2003-07-18 Keigo Kamabayashi クリープ試験機
JP2005121614A (ja) * 2003-10-20 2005-05-12 Satake Corp 物体の変形特性測定装置
JP2005241525A (ja) * 2004-02-27 2005-09-08 Sii Nanotechnology Inc 走査型プローブ顕微鏡および該顕微鏡による測定方法
JP2006284363A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Toyobo Co Ltd プローブ顕微鏡及び物性測定方法
JP2009042169A (ja) * 2007-08-10 2009-02-26 Shindengen Electric Mfg Co Ltd 熱衝撃試験装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105181460A (zh) * 2015-09-26 2015-12-23 哈尔滨工程大学 一种同时多级加载蠕变试验机
CN116296764A (zh) * 2023-05-16 2023-06-23 常州萨伟利铸造技术有限公司 一种自硬砂蠕变性测量设备
CN116296764B (zh) * 2023-05-16 2023-08-11 常州萨伟利铸造技术有限公司 一种自硬砂蠕变性测量设备

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