JP2011067555A - X線ct装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】上記課題克服の為、本発明では、X線焦点9の位置ずれを検出するための検出器(シフト検出器5)に入射する散乱線量を測定するための散乱線検出器6を設け、そこで計測した散乱線量を用いてシフト検出器5の出力を補正する機能を有することを特徴とする。
【選択図】図10
Description
ここで、X線源には、通常、高電圧で加速された電子を陽極に照射し、X線を発生させるX線管球が用いられる。しかし、電子の加速に使われたエネルギーに対してX線の発生効率は低く、ほとんどのエネルギーは熱に変わるため、加熱された陽極の熱膨張によりX線ビームの発生位置が変動する現象が生じる。
X線焦点の位置ずれを検知するための検出器(以下、シフト検出器)は、二つ以上のX線検出器素子を並べた構成となっており、各X線検出器素子の出力信号の違いから、X線の照射中心すなわち焦点位置を測定するものである。
また、X線焦点位置の制御を行うには、例えばX線管球を照射中心に移動させる方法、もしくは、X線のビーム範囲を制限しているコリメータを移動させて実施する方法がとられる。
同様に、シフト検出器に入射する散乱X線は、シフト検出器のX線焦点の位置ずれ検出精度を低下させる。
しかし、被写体のサイズ、形状に応じて散乱X線量は変化するため、被写体に起因する散乱X線量を測定前に見積もることが困難である。
以下、本発明の第一の実施の形態に係るX線CT装置100を図1、図2を用いて説明する。
図1は、本発明の第一の実施の形態に係るX線CT装置の構造を体軸方向から見た図である。図2は、本発明の第一の実施の形態に係るX線CT装置の構造をX線ビーム照射方向から見た図であり、(a)(b)はそれぞれコリメータ開口幅の異なる場合を示した図である。
また、X線CT装置100のスキャナ装置には、X線源であるX線管球1と、コリメータ8と、被写体撮像用X線検出器(本体検出器4)とが備えられ、開口部2の中心を回転中心軸としてガントリに回転可能に支持されている。このような構成により、開口部2内の被写体3を回転撮像することが可能となる。
X線源であるX線管球1は、X線管球1内にある有限の大きさを持つX線焦点9からX線を発生する。
なお、X線管球1の陽極が加熱されて膨張する現象は体軸方向(スライス方向ともいう)に対してのみ発生し、その結果、X線焦点9が体軸方向にのみ移動するものとする。
コリメータ8は、X線管球1と被写体3の間に配置され、被写体3の検査したい範囲内だけにX線を照射するようにX線の照射範囲を整形することで、被写体3の無効被曝を防ぐ役割を担う。
被写体3を挟んでX線管球1と対向する位置に被写体撮像用X線検出器(以下、本体検出器4という)が配置される。本体検出器4は、一度の被写体3へのX線照射で多数のX線透過率のデータを同時に得るために、X線検出器素子がスキャナ回転方向(チャンネル方向ともいう)及び体軸方向に対して多列複数配置される。
ここで、X線検出器素子とは、X線の入射した位置を特定可能な最小単位を示し、例えば、シンチレータとダイオードを用いたX線検出器の場合には、X線検出信号はダイオード毎に検出されるため、X線検出器素子はダイオードの単位となる。
X線焦点9の移動を検出するシフト検出器5は、被写体3を透過することによるX線の減衰の影響を受けることのないよう、本体検出器4の多数のX線検出器素子の一部として本体検出器4のスキャナ回転方向の端部に配置されている。シフト検出器5は、X線焦点9の位置とその大きさ及びコリメータ8との幾何配置により決定される半影量の違いを体軸方向に並べられた2つ以上のX線検出器素子で測定する。測定された半影量の違いに基づいて体軸方向のX線焦点9の移動量が算出される。
ここで、半影とは、X線焦点9が理想的な点源として扱えず幅を有するために、X線焦点9の一部分からのX線は直接届くが、X線焦点9の他の部分からのX線は遮蔽体によって直接には届かない状態を示す。
第一の実施の形態に係るX線CT装置100では、図1、図2のように、シフト検出器5が本体検出器4のスキャナ回転方向の両端部にそれぞれ1セットずつ配置される場合を示す。
散乱線検出器6は、シフト検出器5に入射する散乱X線の線量を見積もるために、シフト検出器5の体軸方向の外側端部に配置される。
散乱線のみを正しく検出するために、X線焦点9から散乱線検出器6に直接X線が入射しないようにX線を遮蔽する遮蔽体が必要である。
第一の実施の形態に係るX線CT装置100では、コリメータ8がX線の照射範囲を整形すると同時に、散乱線検出器6に直接X線が入射しないように配置される(後述する図14参照)。
そのため、シフト検出器5とは逆に、コリメータ8による半影が入らないように、散乱線検出器6はシフト検出器5から体軸方向の外側に充分距離をとる必要がある。
また、散乱線検出器6への半影の影響を除去するため、シフト検出器5と散乱線検出器6の間に、散乱線検出器6としてもシフト検出器5としても使われないX線検出器素子があってもよい。
図10を用いてX線焦点9の位置ずれの補正処理の流れを説明する。
図10は、本発明の第一の実施の形態に係るX線CT装置におけるシフト検出器のデータに関する散乱線補正処理の流れを示すフローチャートである。
制御装置12(X線CT装置100)は、コリメータ8の開口幅を、例えば、被写体3の関心領域全体に必要なX線を照射できるように設定する。または、コリメータ8の開口幅を、無効被曝を減らすため、被写体3の関心領域端部まではX線焦点9の全領域から直接X線が照射されるが、関心領域外にはなるべく直接X線が入射しないように設定する。
図14は、本発明の第一の実施の形態に係るX線CT装置において、シフト検出器と散乱線検出器で測定されるX線強度プロファイルの概要を示す図である。
まず、図14を用いてX線焦点9、コリメータ8、本体検出器4、シフト検出器5、及び散乱線検出器6の幾何配置を説明する。
X線焦点9は理想的な点源として扱えず幅を有するため、X線焦点9の全領域から直接X線が入射する領域(半影を含まない直接X線領域)と、X線焦点9の一部分からのX線は直接届くがX線焦点9の他の部分からのX線は遮蔽体(コリメータ8)によって直接には届かない半影領域と、遮蔽体(コリメータ8)によってX線焦点9からX線が直接入射しない領域が発生する。図14に示すように、これらの領域は、X線焦点9の位置及び大きさ、コリメータ8の位置及び開口幅、X線検出器素子の配置により幾何的に決定される。
X線検出器素子について、通常、半影を含まない直接X線領域に本体検出器4を配置する。また、半影領域にシフト検出器5を配置する。さらに、X線焦点9からX線が直接入射しない領域に散乱線検出器6を配置し、半影の影響のない散乱線のみを測定する。
逆に、シフト検出器5の一部に、半影を含まない直接X線領域がかかるような配置にしてもよく、シフト検出器5の一部に、X線焦点9からX線が直接入射しない領域がかかるような配置にしても構わない。
一方、散乱線検出器6は、半影の影響のない散乱線のみを測定するためのものであり、半影領域にかからないように配置する。
再び、図10を用いてX線焦点9の位置ずれの補正処理の流れの続きを説明する。
シフト検出器5、散乱線検出器6として使用されるX線検出器素子の決定(ステップS102)が終了後、X線CT装置100は、被写体3の撮像に移行する。
撮像時はX線焦点9の位置でX線が発生し、コリメータ8によってX線照射領域が整形される。
被写体3を透過したX線は、本体検出器4で検出され、そのX線強度に応じた信号をデータとしてX線CT装置100のデータ処理系(記録装置10、演算装置11、制御装置12)(図1参照)に送られ、画像として再構成される。
シフト検出器5及び散乱線検出器6から取得したデータからX線焦点9の位置ずれを求める(ステップS103〜S106)。
X線焦点9の位置ずれ量を求める方法を以下に示す。
以下、平均したデータの値を図14のX線検出器素子5(a)についてはA、図14のX線検出器素子5(b)についてはBとする。
以下、平均したデータの値を図14のX線検出器素子6(a)についてはC、図14のX線検出器素子6(b)についてはDとする。なお図14の5(a)、5(b)、6(a)、6(b)については、スキャナ回転方向の端部のX線検出器素子を表すものとする。
また、ヘリカルスキャンの場合、あるスキャナ回転角度(view)における体軸方向正側の端にある散乱線検出器6で測定されたデータと、スキャナ一回転後のスキャナ回転角度(view)における体軸方向負側の端にある散乱線検出器6で測定されたデータの平均を取ることで、統計精度を向上できる。
またスキャナが回転しても体軸方向に被写体3への照射範囲が進行しない通常スキャンにおいても、一回転前後の散乱線検出器6の出力を平均化することで統計精度を向上できる。この場合には、スキャナ回転数が多いほど統計精度は向上する。
B=B’+S(5(b)) ・・・(式3)
B’=B−D ・・・(式5)
下の(式6)を用いて計算される(ステップS106)。
=2×(A−B−C+D)/(A+B−C−D)・・・(式6)
(効果1)
上記Δ’値を用いることで、散乱X線、特に被写体3からの測定毎に変化する散乱X線による影響を補正・除去することができ、より精度良くX線焦点9の位置ずれを算出することができる。
(効果2)
X線焦点9の位置ずれの検出に重要な半影領域と、散乱線の検出に必要となる直接X線の入射しない領域を分け、それぞれの領域毎に適切な位置に配置されるX線検出器素子のデータを必要に応じて足し合わせて用いることで、X線焦点9の位置ずれの検出精度を向上できる。
(効果3)
シフト検出器5及び散乱線検出器6を本体検出器4のX線検出器素子の一部として作成することで、シフト検出器5や散乱線検出器6を別途作成するコストを低減でき、また配置調整などのメンテナンス労力も軽減できることが期待される。
時々刻々と変化するX線焦点の位置ずれに応じて、撮像中リアルタイムにコリメータ8を制御することで、本体検出器4に入射するX線照射範囲を調整することができる。調整をより正確に行うために、上記焦点位置情報を用いることができる。
図11を用いてX線焦点9の位置ずれの補正処理とコリメータ8の制御の流れを説明する。
図11は、本発明の第一の実施の形態に係るX線CT装置におけるシフト検出器のデータに関する散乱線補正処理とコリメータ制御の流れを示すフローチャートである。
コリメータ8の移動量は、例えばΔ’値に、予め測定しておいたスキャン条件毎の最適な比例定数を掛けて求めることができる。
例えば、図14におけるX線検出器素子5(a)とX線検出器素子5(b)が、体軸方向視野中心からそれぞれ正/負の方向に同じ距離に配置される場合、各出力信号から計算されたΔ’が、Δ’=0となるときにX線焦点9が体軸方向のX線照射野中心となる。
そのため、上記方法で得られるΔ’値が正の場合、出力Bが得られたX線検出器素子側に、コリメータ8を移動させ、一方、Δ’値が負の場合、出力Aが得られたX線検出器素子側に、コリメータ8を移動させることで、被写体3への無効被曝を抑えつつ、X線焦点9の位置ずれによってX線照射野が本体検出器4と一致しなくなる問題を回避できる。
さらに、全てのシフト検出器5で被写体かぶりが発生した場合、その時点でコリメータ8制御は行わない等の処置をとるとよい。
これは、被写体3を透過せず、直接X線を検出することのできる、本体検出器4のスキャナ回転方向端部のX線検出器素子で測定されたデータ(両端部平均)で、各スライス列(スキャナ回転方向に並ぶX線検出器素子列)の測定データを規格化することによってなされる。但し、スライス列毎のゲイン変動が無視できる範囲において、複数スライスの端部素子データの平均値を用いてリファレンス補正してもよい。
(効果4)
上記Δ’値を用いることで、散乱X線、特に被写体3からの測定毎に変化する散乱X線による影響を補正・除去することができ、より精度良くX線焦点9の位置ずれを算出することができ、その結果、リアルタイム性を求められるX線照射野の制御をより素早く正確に実施できる。
(効果5)
図14の5(a)、5(b)の信号のそれぞれの平均を同じにし、Δ’=0でフィードバックを実施する場合、Δ’の正負のみで移動方向が決定できる(ネガティブフィードバック)ため、コリメータ制御回路を簡素化することが可能である。
第一の実施の形態では、X線の遮蔽体としてコリメータ8を用いたが、シフト検出器5及び散乱線検出器6として使われるX線検出器素子は、コリメータ8によって遮蔽されるX線検出器素子のうちスキャナ回転方向両端部にあるもののみである。
X線検出器素子を本体検出器4としてより効率的に用いるためには、例えば別途遮蔽体を設ける以下のような第二の実施の形態がありうる。
図3は、本発明の第二の実施の形態に係るX線CT装置の構造を体軸方向から見た図である。図4は、本発明の第二の実施の形態に係るX線CT装置の構造をX線ビーム照射方向から見た図である。
基本的な構成は、第一の実施の形態に係るX線CT装置100と同じであり、同一のものは、同一の符号を用いて説明を省略する。
但し、第二の実施の形態に係るX線CT装置200では、新たに体軸方向中央にX線を通す開口部を持ったX線遮蔽体であるスリット7を、X線焦点9とシフト検出器5及び散乱線検出器6の間に設ける。また、シフト検出器5および散乱線検出器6は、本体検出器4とは別個に設けられる。
散乱線検出器6は、シフト検出器5に入射する散乱X線の線量を見積もるために、シフト検出器5の体軸方向外側端部に配置される。散乱線検出器6には、直接X線が入射しないようにX線遮蔽体が必要であり、第二の実施の形態に係るX線CT装置200では、スリット7をもって兼用とする。
また、シフト検出器5とは異なり、スリット7による半影が入らないように、散乱線検出器6はシフト検出器5から体軸方向外側に充分距離をとる必要がある。もしくは、シフト検出器5が体軸方向外側に充分な大きさを持つ、あるいは充分多くのX線検出器素子からなる必要がある。
また、シフト検出器5及び散乱線検出器6は、本体検出器4のスキャナ回転方向の片側一端部のみの配置でもよい。
図5に示すようにスリット7に開口部を複数設けることによって、統計精度を上げるような工夫を行ってもよい。
なお、図3、図4、図5に示すシフト検出器5、散乱線検出器6、本体検出器4はそれぞれ互いに隣接していてもよい。
なお、統計精度を向上させるため、シフト検出器5及び散乱線検出器6の機能を担うX線検出器素子を複数設けて、得られるデータをまとめて一つのデータとしてもよい。
なお、図3ではX線焦点9とコリメータ8の間にスリット7を配置しているが、シフト検出器5に入射する散乱X線量と散乱線検出器6に入射する散乱X線量がほぼ等しくなり、本体検出器4へ直接入射するX線を妨害せず、散乱線検出器6に直接入射するX線を遮蔽でき、かつ被写体3が開口部2に入る際に邪魔にならない位置に配置すればよい。
図12は、本発明の第二の実施の形態に係るX線CT装置におけるシフト検出器のデータに関する散乱線補正処理とコリメータ制御の流れを示すフローチャートである。図15は、本発明の第二の実施の形態に係るX線CT装置において、シフト検出器と散乱線検出器で測定されるX線強度プロファイルの概要を示す図である。
また、ステップS203はステップS103と、ステップS204はステップS104と、ステップS205はステップS105と、ステップS206はステップS106と、対応する。
(効果6)
コリメータ8の開口幅によらず一定のデータ制御が可能になる。
(効果7)
シフト検出器5及び散乱線検出器6として使われるX線検出器素子を別途設けることで、未使用のX線検出器素子を最小限にできる。すなわち、本体検出器4の端部スライス列を最大限に、被写体3の撮像に利用できる。
図13を用いてX線焦点9の位置ずれの補正処理とコリメータ8の制御の流れを説明する。
図13は、本発明の第二の実施の形態に係るX線CT装置におけるシフト検出器のデータに関する散乱線補正処理とコリメータ制御の流れを示すフローチャートである。
但し、第二の実施の形態の係るX線CT装置200のスリット7は、コリメータ8の制御と同期して移動し、スリット7の体軸方向開口部中心が常にコリメータ8の開口中心と一致するような配置をとるものとする。
なお、第一の実施の形態に係るX線CT装置100および第二の実施の形態に係るX線CT装置200は、制御装置12によりコリメータ8を制御するかわりに、X線管球1や本体検出器4(シフト検出器5と散乱線検出器6を含む)を移動させることでもX線照射野をフィードバック制御することができる。その場合、第二の実施の形態の係るX線CT装置200のスリット7はコリメータ8と同期せず固定配置をとるものとする。
本発明の第二の実施の形態の変形例に係るX線CT装置201を図6、図7、図8に示す。
図6は、本発明の第二の実施の形態の変形例に係るX線CT装置の構造を体軸方向から見た図である。図7は、本発明の第二の実施の形態の変形例に係るX線CT装置の構造をX線ビーム照射方向から見た図である。図8は、本発明の第二の実施の形態の変形例に係るX線CT装置について、スリットに複数の開口がある場合の構造の概略を示した図である。
第二の実施の形態に係るX線CT装置200では、シフト検出器5の体軸方向に散乱線検出器6を配置したが、スキャナ回転方向に散乱線検出器6を配置することも可能である。なお散乱線検出器6はシフト検出器5のスキャナ回転方向の両端部に配置してもよい。その他の幾何配置及びデータの補正処理の流れは第二の実施の形態と同様であり、図3を図6に、図4を図7に、図5を図8に読み替えればよく、図12、図13は共通する。また、図15は図7を参考に読み替えればよい。
さらに、図9のようにシフト検出器5の体軸方向外側端部及びスキャナ回転方向外側端部の両方に散乱線検出器6を配置することで散乱線量の推定精度を上げるよう工夫してもよい。
(効果8)
コリメータ8及びスリット7が体軸方向に移動してもスキャナ回転方向には半影量の変化は生じない。そのため、シフト検出器5と散乱線検出器6を接近して配置することができ、シフト検出器5と散乱線検出器6に入射する散乱X線量の違いを最小に抑えることができる。
(効果9)
シフト検出器5と散乱線検出器6を体軸方向に並べることによって、各検出器の配置がコンパクトなものとなる。
シフト検出器5に半影を作る方法として、上記第一の実施の形態のようにコリメータ8を用いる方法と、上記第二の実施の形態のようにスリット7を設ける方法を組み合わせて実施することができる。
また、以下に示す方法によって、本体検出器4のスキャナ回転方向端部の同じX線検出器素子列を用いて、X線焦点9位置ずれ検出とリファレンス補正の両方を行うことができる。
図16は、本発明の第三の実施の形態に係るX線CT装置の構造を体軸方向から見た図である。図17は、本発明の第三の実施の形態に係るX線CT装置の構造をX線ビーム照射方向から見た図であり、(a)(b)(c)はそれぞれコリメータ開口幅の異なる場合を示した図である。なお、図17の左側(スキャン回転方向負側)のシフト検出器5および散乱線検出器6は省略するものとする。
基本的な構成は第一の実施の形態、第二の実施の形態と同じである。但し、シフト検出器5及び散乱線検出器6としては、第一の実施の形態と同様に、本体検出器4の一部としてスキャナ回転方向端部に配置され、散乱線検出器6はシフト検出器5の体軸方向外側端部に配置される。
また、シフト検出器5及び散乱線検出器6の機能を担うX線検出器素子はコリメータ8開口幅に応じて変化するものとする。
まず、スリット7の開口幅よりもコリメータ8の開口幅の方が狭い図17(a)の場合、シフト検出器5をコリメータ8の半影が入る領域に、散乱線検出器6を半影領域の外側に設定する。つまり、第一の実施の形態と同様の方法でX線焦点9の位置ずれを検出する。このとき、リファレンスデータの取得は全てのスライス列において直接X線の照射するX線検出器素子があるため問題なく行える。また、X線照射範囲端部のスライス列に関しても、被写体3撮像部である本体検出器4とスキャナ回転方向端部で、半影によるゲイン変動量は同じであり、正しく補正できる。
リファレンスデータの取得は、スリット7の陰になる部分以外については、最も感度変化が激しいX線照射範囲端部のスライス列も含めて問題なく行える。スリット7の陰になっているスライス列については、半影が入っていないと考えられる中心付近のデータを外挿してリファレンスデータとする。あるいは、X線焦点9がずれてもスリット7による半影照射量の合計(シフト検出器5で検出されるAとBの合計値)はコリメータ8制御によってもあまり変化しないと考えて、X線照射範囲端部のスライス列以外の素子で得られたデータの合計でX線照射範囲端部以外のスライス列のリファレンス補正を行う。
図18は、本発明の第三の実施の形態に係るX線CT装置におけるシフト検出器のデータに関する散乱線補正処理とコリメータ制御の流れを示すフローチャートである。
第三の実施の形態における散乱線補正処理(ステップS305)及びコリメータ制御処理(ステップS308)の流れは、第一の実施の形態と同様に行う。
基本的な流れは第一の実施の形態と同じであり、図1を図16に、図2を図17に、図11を図18に読み替えればよい。
また、ステップS301はステップS151と、ステップS302はステップS152と、ステップS303はステップS153と、ステップS304はステップS154と、ステップS305はステップS155と、ステップS306はステップS156と、ステップS307はステップS157と、ステップS308はステップS158と、対応する。
また、図18に示すように、シフト検出器5及び散乱線検出器6から得られるデータを、リファレンスデータとして使用するために記憶装置10に記憶する処理が加わる(ステップS309)。
焦点移動の情報(Δ’値)を用いたコリメータ8の制御方法については(ステップS308)、第二の実施の形態と同様であり、X線CT装置300のスリット7は、コリメータ8の制御と同期して移動し、スリット7の体軸方向開口部中心が常にコリメータ8の開口中心と一致するような配置をとる。
(効果10)
リファレンスデータも同時に取得可能なため、リファレンスデータを用いた補正が可能となる。特に、コリメータ8で整形されたX線照射範囲端部スライスのX線検出器素子列に関して、正しくリファレンス補正できる。
(効果11)
リファレンス補正用のX線検出器素子と,焦点位置ずれ検出用のX線検出器素子を兼ねることができるので、よりコンパクトに配置でき、コスト低減にも繋がる。
(効果12)
コリメータ8開口幅を最大にしても、スリット7によって陰になるX線検出器素子が存在できるため、未使用のX線検出器素子を最小限にできる。すなわち本体検出器4の端部スライス列を最大限に、被写体3の撮像に利用できる。
2 開口部
3 被写体
4 被写体撮像用X線検出器(本体検出器)
5 X線焦点移動検出器(シフト検出器)(焦点移動検出部)
6 散乱線検出器(散乱線検出部)
7 スリット
8 コリメータ
9 X線焦点
10 記憶装置
11 演算装置
12 制御装置(移動機構)
Claims (12)
- X線焦点位置からX線を発生するX線源と、
前記X線を整形するためのコリメータと、
被写体を透過したX線を検出するためのX線検出器素子が多列複数配置されている本体検出器と、
前記X線焦点位置の移動を検出する焦点移動検出部と、
を備えるX線CT装置において、
前記焦点移動検出部に入射する散乱線量を測定するための散乱線検出部を備える
ことを特徴とするX線CT装置。 - X線焦点位置からX線を発生するX線源と、
前記X線を整形するためのコリメータと、
被写体を透過したX線を検出するためのX線検出器素子が多列複数配置されている本体検出器と、
前記X線焦点位置の移動を検出する焦点移動検出部と、
を備えるX線CT装置において、
前記焦点移動検出部に入射する散乱線量を測定するための散乱線検出部を備え、
前記焦点移動検出部と前記散乱線検出部が検出した情報を基に、前記本体検出器に入射するX線照射範囲の制御をする
ことを特徴とするX線CT装置。 - 前記X線照射範囲の制御は、
前記コリメータを移動させる移動機構により行われる
ことを特徴とする請求項2に記載のX線CT装置。 - 前記X線照射範囲の制御は、
前記X線焦点位置を移動させる移動機構により行われる
ことを特徴とする請求項2に記載のX線CT装置。 - 前記X線照射範囲の制御は、
ネガティブフィードバック制御により行われる
ことを特徴とする請求項2乃至請求項4のいずれか1項に記載のX線CT装置。 - 前記コリメータの開口幅に応じて、
前記焦点移動検出部及び前記散乱線検出部の機能を持つX線検出器素子を決定する
ことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載のX線CT装置。 - 前記焦点移動検出器にX線焦点の半影を作るためのスリットを設け、
かつ該スリットが前記散乱線検出器への直接X線入射を防止する遮蔽体を兼ねる構造を備える
ことを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載のX線CT装置。 - 前記スリットに開口部を複数設ける
ことを特徴とする請求項7に記載のX線CT装置。 - 前記焦点移動検出器にX線焦点の半影を作るためのスリットを設け、
なおかつ該スリットが前記散乱線検出器への直接X線入射を防止する遮蔽体を兼ねる構造を備え、
さらに前記コリメータの開口幅に応じて、
前記焦点移動検出部及び前記散乱線検出部の機能を持つX線検出器素子が適切に変化することで、
X線焦点位置ずれ検出とリファレンス補正を同時に行える
ことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載のX線CT装置。 - 前記焦点移動検出器に入射する散乱線量を見積もるために、異なるスキャナ回転角度の測定データを用いる
ことを特徴とする請求項1乃至請求項9のいずれか1項に記載のX線CT装置。 - 前記焦点移動検出器と前記X線焦点との間に前記被写体が入り込んだことを検知し、補正する手段を備えた
ことを特徴とする請求項1乃至請求項10のいずれか1項に記載のX線CT装置。 - X線焦点位置からX線を発生する機能と、
前記X線を整形する機能と、
被写体を透過したX線を検出するための機能と、
前記X線焦点位置の移動を検出する機能と、
を備えるX線CT装置において、
前記X線焦点位置の移動を検出する機能の出力データに含まれる散乱線量を測定する機能を備え、
前記X線焦点位置の移動を検出する機能が焦点移動距離計算時に、
前記散乱線量を測定する機能を用いて、前記出力データの散乱線量を補正する
ことを特徴とするX線CT装置。
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