JP2011061211A - 基板、プリント回路板及びそれらの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】基板1の表面に部分的にシリコーン重合体含有樹脂2を備える基板であり、シリコーン重合体含有樹脂2を形成する樹脂組成物の硬化後の熱膨張係数が50×10-6/℃以下である基板、このシリコーン重合体含有樹脂2の表面に電子部品6を搭載してなるプリント回路板。
【選択図】図2
Description
(1) 基板表面に部分的にシリコーン重合体含有樹脂を備える基板であり、シリコーン重合体含有樹脂を形成する樹脂組成物の硬化後の熱膨張係数が50×10-6/℃以下である基板。
(2) 基板に備えられたシリコーン重合体含有樹脂の表面にも導体パターンを設けてなる(1)に記載の基板。
(3) 基板表面に部分的にシリコーン重合体含有樹脂を備える基板であり、基板に備えられたシリコーン重合体含有樹脂の表面にも導体パターンを設けてなる基板。
(4) シリコーン重合体含有樹脂を形成する樹脂組成物の硬化後の引張試験での伸びが1.0%以上である(1)〜(3)のいずれかに記載の基板。
(5) シリコーン重合体含有樹脂を形成する樹脂組成物がシリコーン重合体、硬化剤及び無機充填剤を含有する(1)〜(4)のいずれかに記載の基板。
(6) シリコーン重合体含有樹脂を形成する樹脂組成物がシリコーン重合体100重量部に対して無機充填剤を100〜2000重量部含有する(5)に記載の基板。
(7) シリコーン重合体として熱硬化性官能基含有シリコーン重合体を含有する(5)又は(6)のいずれかに記載の基板。
(8) (1)〜(7)のいずれかに記載のシリコーン重合体含有樹脂の表面に電子部品を搭載してなるプリント回路板。
(9) 電子部品が半導体チップである(8)に記載のプリント回路板。
(10) 硬化物の熱膨張係数が50×10-6/℃以下である樹脂組成物をワニス化し、基板表面に部分的にこの樹脂ワニスを塗布することを特徴とする基板の製造方法。
(11) 熱硬化性シリコーン重合体、硬化剤及び無機充填剤を含有する樹脂組成物をワニス化し、基板表面に部分的にこの樹脂ワニスを塗布することを特徴とする基板の製造方法。
(12) 硬化物の熱膨張係数が50×10-6/℃以下である樹脂組成物を用いてなる樹脂シートを基板表面に部分的に貼り付けることを特徴とする基板の製造方法。
(13) 熱硬化性シリコーン重合体、硬化剤及び無機充填剤を含有する樹脂組成物を用いてなる樹脂シートを基板表面に部分的に貼り付けることを特徴とする基板の製造方法。
(14) (10)〜(13)のいずれかに記載の製造方法で製造された基板の、部分的に設けられた樹脂の表面に、さらに回路を形成することを特徴とする基板の製造方法。
これによって、マザーボード用基板等の安価な基板上に半導体チップなどの電子部品を搭載することが可能であり、かつ接続信頼性に優れるシリコーン重合体含有樹脂を備えた基板を提供することが可能となる。このシリコーン重合体含有樹脂を備えた基板は電機製品のさらなる小型化に伴う電子部品搭載密度の高度化要求に対応するものである。
[化1]
R′m(H)kSiX4-(m+k) (I)
(式中Xは、加水分解してOH基を生成する基であり、例えば、塩素、臭素等のハロゲン又は−ORを示し、ここで、Rは炭素数1〜4のアルキル基、炭素数1〜4のアルキルカルボニル基を示す。R′は、非反応性の基であり、例えば、炭素数1〜4のアルキル基、フェニル基等のアリール基、kは1又は2、mは0又は1、m+kは1又は2を意味する)で表されるシラン化合物とヒドロシリル化反応剤とを反応させて得ることができる。一般式(I)のシラン化合物は加水分解、重縮合によってSi−H基含有シリコーン重合体とされ、ヒドロシリル化反応剤をSi−H基含有シリコーン重合体のSi−H基との間でヒドロシリル化反応させて、熱硬化性官能基が導入されたシリコーン重合体が得られる。
[化2]
R′nSiX4-n (II)
(式中R′及びXは一般式(I)に同じであり、nは0〜2の整数を意味する。)で表されるアルコキシシラン化合物を併用することができる。
[化3]
HCH3Si(OCH3)2、HC2H5Si(OCH3)2、H3CH7Si(OCH3)2、HC4H9Si(OCH3)2、HCH3Si(OC2H5)2、HC2H5Si(OC2H5)2、HC3H7Si(OC2H5)2、HC4H9Si(OC2H5)2、HCH3Si(OC3H7)2、HC2H5Si(OC3H7)2、HC3H7Si(OC3H7)2、HC4H9Si(OC3H7)2、HCH3Si(OC4H9)2、HC2H5Si(OC4H9)2、HC3H7Si(OC4H9)2、HC4H9Si(OC4H9)2、等のアルキルジアルコキシシラン
H2Si(OCH3)2、H2Si(OC2H5)2、H2Si(OC3H7)2、H2Si(OC4H9)2、等のジアルコキシシラン
HPhSi(OCH3)2、HPhSi(OC2H5)2、HPhSi(OC3H7)2、HPhSi(OC4H9)2、(ただし、Phはフェニル基を示す。以下同様)等のフェニルジアルコキシシラン
H2Si(OCH3)2、H2Si(OC2H5)2、H2Si(OC3H7)2、H2Si(OC4H9)2、等のジアルコキシシランなどの2官能性シラン化合物(以下、シラン化合物における官能性とは、縮合反応性の官能基を有することを意味する。)
HSi(OCH3)3、HSi(OC2H5)3、HSi(OC3H7)3、HSi(OC4H9)3、等のトリアルコキシシランなどの3官能性シラン化合物などがある。
[化8]
Si(OCH3)4、Si(OC2H5)4、Si(OC3H7)4、Si(OC4H9)4等のテトラアルコキシシランなどの4官能性シラン化合物、
H3CSi(OCH3)3、H5C2Si(OCH3)3、H7C3Si(OCH3)3、H9C4Si(OCH3)3、H3CSi(OC2H5)3、H5C2Si(OC2H5)3、H7C3Si(OC2H5)3、H9C4Si(OC2H5)3、H3CSi(OC3H7)3、H5C2Si(OC3H7)3、H7C3Si(OC3H7)3、H9C4Si(OC3H7)3、H3CSi(OC4H9)3、H5C2Si(OC4H9)3、H7C3Si(OC4H9)3、H9C4Si(OC4H9)3、等のモノアルキルトリアルコキシシラン、
PhSi(OCH3)3、PhSi(OC2H5)3、PhSi(OC3H7)3、PhSi(OC4H9)3(ただし、Phはフェニル基を示す。以下同様)等のフェニルトリアルコキシシラン、
(H3CCOO)3SiCH3、(H3CCOO)3SiC2H5、(H3CCOO)3SiC3H7、(H3CCOO)3SiC4H9等のモノアルキルトリアシルオキシシラン
Cl3SiCH3、Cl3SiC2H5、Cl3SiC3H7、Cl3SiC4H9、Br3SiCH3、Br3SiC2H5、Br3SiC3H7、Br3SiC4H9等のモノアルキルトリハロゲノシランなどの3官能性シラン化合物、
(H3C)2Si(OCH3)2、(H5C2)2Si(OCH3)2、(H7C3)2Si(OCH3)2、(H9C4)2Si(OCH3)2、(H3C)2Si(OC2H5)2、(H5C2)2Si(OC2H5)2、(H7C3)2Si(OC2H5)2、(H9C4)2Si(OC2H5)2、(H3C)2Si(OC3H7)2、(H5C2)2Si(OC3H7)2、(H7C3)2Si(OC3H7)2、(H9C4)2Si(OC3H7)2、(H3C)2Si(OC4H9)2、(H5C2)2Si(OC4H9)2、(H7C3)2Si(OC4H9)2、(H9C4)2Si(OC4H9)2等のジアルキルジアルコキシシラン、
Ph2Si(OCH3)2、Ph2Si(OC2H5)2等のジフェニルジアルコキシシラン、
(H3CCOO)2Si(CH3)2、(H3CCOO)2Si(C2H5)2、(H3CCOO)2Si(C3H7)2、(H3CCOO)2Si(C4H9)2等のジアルキルジアシルオキシシラン、
Cl2Si(CH3)2、Cl2Si(C2H5)2、Cl2Si(C3H7)3、Cl2Si(C4H9)2、Br2Si(CH3)2、Br2Si(C2H5)2、Br2Si(C3H7)2、Br2Si(C4H9)2等のアルキルジハロゲノシランなどの2官能性シラン化合物がある。
撹拌装置、コンデンサ及び温度計を備えたガラスフラスコに、テトラメトキシシラン(東京化成工業株式会社製)を20g、ジメトキシジメチルシラン(東京化成工業株式会社製)を60g、ジメトキシメチルシラン(東京化成工業株式会社製)を67g、合成溶剤としてメタノール(東京化成工業株式会社製)を37g配合した溶液に、合成触媒としてマレイン酸を1.5g、蒸留水を50g配合して80℃で2時間攪拌した後、アリルグリシジルエーテル(東京化成工業株式会社製)を72gと塩化白金酸塩(2重量%イソプロピルアルコール溶液)を0.2g添加し、更に4時間撹拌してエポキシ変性のシリコーン重合体、を合成した。得られたシリコーン重合体のシロキサン単位の重合度は65であった(GPCによって標準ポリスチレンの検量線を利用して測定した数平均分子量から換算、以下同じ)。
撹拌装置、コンデンサ及び温度計を備えたガラスフラスコに、前記参考例と同様の方法で合成したシリコーン重合体の固形分100重量部に対してシリカ粉末(製品名:SO−25R,平均粒径:0.5μm,株式会社アドマテックス製)450重量部と希釈溶剤としてメタノールを202重量部配合し、80℃で1時間攪拌した後、室温まで冷却し、シリコーン重合体の固形分100重量部に対してテトラブロモビスフェノールAを78重量部と2−エチル−4−メチルイミダゾール3重量部を配合し、室温で1時間撹拌して樹脂ワニスを調製した。この樹脂ワニスの硬化物の熱膨張係数は22×10-6/℃であり、伸びは3.1%であった。
シリコーン重合体の固形分100重量部に対して、シリカ粉末(商品名:SO−25R,平均粒径:0.5μm,株式会社アドマテックス製)の配合量を900重量部、メタノールの配合量を250重量部に変えた以外は実施例1と同様にして樹脂ワニスを調製した。この樹脂ワニスの硬化物の熱膨張係数は15×10-6/℃であり、伸びは2.2%あった。この樹脂ワニスを用いて、実施例1と同様にしてプリント回路板を作製した。
シリコーン重合体の固形分100重量部に対して、シリカ粉末(商品名:SO−25R,平均粒径:0.5μm,株式会社アドマテックス製)の配合量を1300重量部、メタノールの配合量を490重量部に変えた以外は実施例1と同様にして樹脂ワニスを調製した。この樹脂ワニスの硬化物の熱膨張係数は10×10-6/℃であり、伸びは1.2%であった。この樹脂ワニスを用いて、実施例1と同様にしてプリント回路板を作製した。
厚さ0.8mmの紙基材フェノール樹脂片面銅張積層板に接続端子を作成し、その上に半田バンプ付半導体チップを設置した後、288℃、30秒間、熱による半田リフローすることにより半導体チップのバンプと樹脂シート上の接続端子を接続した。
接続状態(リフロークラックの有無)の検査結果を表1に示す。リフロークラックの無かったものを○とし、クラックが見られたものを×とした。
2.シリコーン重合体含有樹脂
3.接続端子(導体パターン)
4.回路導体
5.ハンダ
6.半導体チップ
Claims (14)
- 基板表面に部分的にシリコーン重合体含有樹脂を備える基板であり、シリコーン重合体含有樹脂を形成する樹脂組成物の硬化後の熱膨張係数が50×10-6/℃以下である基板。
- 基板に備えられたシリコーン重合体含有樹脂の表面にも導体パターンを設けてなる請求項1に記載の基板。
- 基板表面に部分的にシリコーン重合体含有樹脂を備える基板であり、基板に備えられたシリコーン重合体含有樹脂の表面にも導体パターンを設けてなる基板。
- シリコーン重合体含有樹脂を形成する樹脂組成物の硬化後の引張試験での伸びが1.0%以上である請求項1〜請求項3のいずれかに記載の基板。
- シリコーン重合体含有樹脂を形成する樹脂組成物がシリコーン重合体、硬化剤及び無機充填剤を含有する請求項1〜4のいずれかに記載の基板。
- シリコーン重合体含有樹脂を形成する樹脂組成物がシリコーン重合体100重量部に対して無機充填剤を100〜2000重量部含有する請求項5に記載の基板。
- シリコーン重合体として熱硬化性官能基含有シリコーン重合体を含有する請求項5又は請求項6のいずれかに記載の基板。
- 請求項1〜7のいずれかに記載のシリコーン重合体含有樹脂の表面に電子部品を搭載してなるプリント回路板。
- 電子部品が半導体チップである請求項8に記載のプリント回路板。
- 硬化物の熱膨張係数が50×10-6/℃以下である樹脂組成物をワニス化し、基板表面に部分的にこの樹脂ワニスを塗布することを特徴とする基板の製造方法。
- 熱硬化性シリコーン重合体、硬化剤及び無機充填剤を含有する樹脂組成物をワニス化し、基板表面に部分的にこの樹脂ワニスを塗布することを特徴とする基板の製造方法。
- 硬化物の熱膨張係数が50×10-6/℃以下である樹脂組成物を用いてなる樹脂シートを基板表面に部分的に貼り付けることを特徴とする基板の製造方法。
- 熱硬化性シリコーン重合体、硬化剤及び無機充填剤を含有する樹脂組成物を用いてなる樹脂シートを基板表面に部分的に貼り付けることを特徴とする基板の製造方法。
- 請求項10〜請求項13のいずれかに記載の製造方法で製造された基板の、部分的に設けられた樹脂の表面に、さらに回路を形成することを特徴とする基板の製造方法。
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