JP2011048056A - Exposure apparatus, and exposure method and method for manufacturing display panel substrate using the same - Google Patents

Exposure apparatus, and exposure method and method for manufacturing display panel substrate using the same Download PDF

Info

Publication number
JP2011048056A
JP2011048056A JP2009195260A JP2009195260A JP2011048056A JP 2011048056 A JP2011048056 A JP 2011048056A JP 2009195260 A JP2009195260 A JP 2009195260A JP 2009195260 A JP2009195260 A JP 2009195260A JP 2011048056 A JP2011048056 A JP 2011048056A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exposure
lamps
light source
illuminance
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009195260A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5281987B2 (en
Inventor
Toshiyuki Nagamine
俊之 長嶺
Makoto Takenouchi
良 竹之内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi High Technologies Corp
Hitachi High Tech Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi High Technologies Corp, Hitachi High Tech Corp filed Critical Hitachi High Technologies Corp
Priority to JP2009195260A priority Critical patent/JP5281987B2/en
Publication of JP2011048056A publication Critical patent/JP2011048056A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5281987B2 publication Critical patent/JP5281987B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an exposure apparatus capable of enhancing the productivity by extending the lifetime of a light source including a plurality of lamps and reducing the times of maintenance, and to provide an exposure method and a method for manufacturing a display panel substrate using the apparatus. <P>SOLUTION: The exposure apparatus includes a light source including a plurality of lamps 131-1 and 131-2, a plurality of power supplies 141-1 and 141-2 respectively supplying electric power to the plurality of lamps, a power supply controlling device 140 controlling the plurality of power supplies, and a chuck 110 to mount a substrate 101 coated with a photosensitive resin material, wherein the power controlling device 140 controls the plurality of power supplies 141-1 and 141-2 in such a manner that the electric power supplied to the plurality of lamps 131-1 and 131-2 is equalized and constant. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、液晶ディスプレイ装置等の表示用パネル基板の製造において、基板の露光を行なう露光装置およびそれを用いた露光方法並びに表示用パネル基板の製造方法に関する。   The present invention relates to an exposure apparatus that exposes a substrate in the manufacture of a display panel substrate such as a liquid crystal display device, an exposure method using the same, and a method of manufacturing a display panel substrate.

表示用パネルとして用いられる液晶ディスプレイ装置のTFT(Thin Film Transistor)基板やカラーフィルタ基板、プラズマディスプレイパネル用基板、有機EL(Electroluminescence)表示パネル用基板等の製造は、露光装置を用いて、フォトリソグラフィー技術により基板上にパターンを形成して行なわれる。露光装置は、感光樹脂材料(フォトレジスト)を塗布した基板へ、マスクを介して露光光を照射することにより、マスクのパターンを基板へ転写するものである。露光装置に関しては、例えば、特許文献1や2に開示がある。   Manufacturing of TFT (Thin Film Transistor) substrates, color filter substrates, plasma display panel substrates, organic EL (Electroluminescence) display panel substrates, and the like of liquid crystal display devices used as display panels is performed using photolithography using an exposure apparatus. This is done by forming a pattern on the substrate using technology. The exposure apparatus transfers a mask pattern onto a substrate by irradiating the substrate coated with a photosensitive resin material (photoresist) with exposure light through the mask. For example, Patent Documents 1 and 2 disclose the exposure apparatus.

特開平11−260705号公報JP-A-11-260705 特開2008−286971号公報JP 2008-286971 A

近年、表示用パネルの大画面化に伴い基板が大型化する程、露光装置の光源に、より輝度の高いものが要求されるようになってきた。光源の輝度が高い程、露光光の照度が高くなり、露光時間が短く済んでタクトタイムが短縮され、スループットが向上する。   In recent years, as the size of the substrate increases with the increase in the screen size of the display panel, a light source with higher brightness has been required for the light source of the exposure apparatus. The higher the brightness of the light source, the higher the illuminance of the exposure light, the shorter the exposure time, the shorter the tact time, and the higher the throughput.

光源の輝度を高くするためには、ランプの出力を高くする必要がある。しかしながら、ランプの出力を高くすると、ランプが大型化して取り扱いが難しくなり、ランプの取り付け作業や交換作業に時間を要し、破損等の危険性も高くなる。   In order to increase the luminance of the light source, it is necessary to increase the output of the lamp. However, when the output of the lamp is increased, the lamp becomes large and difficult to handle, and it takes time to install and replace the lamp, and the risk of breakage and the like increases.

複数のランプを含む光源(ランプセット)を用いることにより、各ランプの出力を小さく抑えつつ、ランプセットとして高い出力、輝度を得ることができる。しかしながら、複数のランプを用いた場合、どれか一つでもランプが切れると、他のランプの寿命も間近との判断の元、全てのランプを交換していた。すなわち、露光装置のランプセット(光源)の寿命は、複数のランプの中の最小寿命となっていた。   By using a light source (lamp set) including a plurality of lamps, it is possible to obtain a high output and brightness as a lamp set while keeping the output of each lamp small. However, in the case of using a plurality of lamps, if any one of the lamps burns out, all lamps have been replaced based on the judgment that the other lamps are nearing the end of their lives. That is, the lifetime of the lamp set (light source) of the exposure apparatus is the minimum lifetime among the plurality of lamps.

本発明の目的は、ランプセット(光源)の寿命を延ばし、メンテナスンス回数を低減することにより、生産性を高めることが可能な露光装置およびそれを用いた露光方法並びに表示用パネル基板の製造方法を提供することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an exposure apparatus capable of enhancing the productivity by extending the life of a lamp set (light source) and reducing the number of maintenance times, an exposure method using the same, and a method for manufacturing a display panel substrate Is to provide.

上記目的を達成するための一形態として、複数のランプを含む光源と、複数の前記ランプへそれぞれ電力を供給する複数の電源と、複数の前記電源を制御する電源制御装置と、基板を載せるチャックとを有する露光装置において、前記電源制御装置は、複数の前記ランプへの供給電力が同じで一定となるように複数の前記電源を制御するものであることを特徴とする露光装置とする。   As one mode for achieving the above object, a light source including a plurality of lamps, a plurality of power supplies for supplying power to the plurality of lamps, a power supply control device for controlling the plurality of power supplies, and a chuck on which a substrate is mounted The power supply control apparatus controls the plurality of power supplies so that the power supplied to the plurality of lamps is the same and constant.

また、複数のランプを含む光源を有する露光装置を用いた露光方法において、複数の前記ランプを含む光源から発生する露光光の照度の目標値を入力する工程と、前記露光光の照度の前記目標値から、複数の前記ランプを含む光源の照度の目標値を決定する工程と、複数の前記ランプを含む光源の照度の前記目標値に基づき、複数の前記ランプへの供給電力が同じで一定になるようにしながら、電力量を調整する工程と、その後、複数の前記ランプへの供給電力が同じで一定になるように調整された前記光源から発生する露光光を用いて、基板を露光する工程と、を有することを特徴とする露光方法とする。   Further, in an exposure method using an exposure apparatus having a light source including a plurality of lamps, a step of inputting a target value of illuminance of exposure light generated from the light source including a plurality of lamps, and the target of illuminance of the exposure light Determining the target value of the illuminance of the light source including the plurality of lamps from the value and the target value of the illuminance of the light source including the plurality of lamps, the power supplied to the plurality of lamps is the same and constant A step of adjusting the amount of electric power, and then a step of exposing the substrate using exposure light generated from the light source adjusted so that the power supplied to the plurality of lamps is the same and constant The exposure method is characterized by comprising:

また、ガラス基板上に薄膜を形成する工程と、前記薄膜の上に感光樹脂を塗布する工程と、前記感光樹脂が塗布された前記ガラス基板を、前記露光方法を用いて露光する工程と、露光された前記ガラス基板を現像する工程と、現像された前記ガラス基板で前記薄膜が露出されている部分をエッチングする工程と、前記ガラス基板上の感光樹脂の膜を剥離する工程と、を有することを特徴とする表示用パネル基板の製造方法とする。   A step of forming a thin film on the glass substrate; a step of applying a photosensitive resin on the thin film; a step of exposing the glass substrate coated with the photosensitive resin using the exposure method; Developing the developed glass substrate, etching the exposed portion of the thin film on the developed glass substrate, and peeling the photosensitive resin film on the glass substrate. A display panel substrate manufacturing method characterized by the above.

また、ガラス基板上に、ブラックマトリクスを形成するブラックマトリクス工程と、前記ブラックマトリクスが形成された前記ガラス基板上に、着色パターンを形成する着色パターン形成工程と、その後、前記着色パターンの上に保護膜を形成する工程と、前記保護膜の上に電極膜を形成する工程と、を有し、前記ブラックマトリクス形成工程および前記着色パターン形成工程の少なくとも1つの工程において、前記露光方法を用いることを特徴とする表示用パネル基板の製造方法とする。   Further, a black matrix process for forming a black matrix on a glass substrate, a colored pattern forming process for forming a colored pattern on the glass substrate on which the black matrix is formed, and then protection on the colored pattern A step of forming a film and a step of forming an electrode film on the protective film, wherein the exposure method is used in at least one of the black matrix forming step and the colored pattern forming step. It is set as the manufacturing method of the display panel board | substrate characterized.

ランプセット(光源)の寿命を延ばし、メンテナスンス回数を低減することにより、生産性を高めることが可能な露光装置およびそれを用いた露光方法並びに表示用パネル基板の製造方法を提供することができる。   By extending the life of the lamp set (light source) and reducing the number of maintenance times, it is possible to provide an exposure apparatus capable of increasing productivity, an exposure method using the same, and a method for manufacturing a display panel substrate. .

第1の実施例に係る露光装置の概略構成図である。It is a schematic block diagram of the exposure apparatus which concerns on a 1st Example. 第1の実施例に係る露光方法を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the exposure method which concerns on a 1st Example. 第2の実施例に係る液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing process of the TFT substrate of the liquid crystal display device which concerns on a 2nd Example. 第3の実施例に係る液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing process of the color filter substrate of the liquid crystal display device which concerns on a 3rd Example.

発明者等は、先ずランプセット(光源)への電力供給方法とランプの寿命との関係、各ランプの照度の露光光照度の均一性への影響等について検討を行なった。その結果、ランプセット(光源)を構成する各ランプの照度を同じで一定にしようとすると、ランプの個体差により供給する電力に差が生じる(1例として、4個のランプセット(光源)において、11KW〜13KWの範囲でばらつき有)こと、そのため、各ランプへの負荷にばらつきが生じ、ランプの寿命が変化してしまうことがわかった。また、光学系としてコリメーターレンズが設置されていれば、露光光の照度分布の均一化は十分に確保できることが分かった(例えば、各ランプの照度のバラつきが±25%程度あっても、コリメーターレンズを通すことにより、露光面内での照度の均一性は±5%以内に収まる)。   The inventors first examined the relationship between the power supply method to the lamp set (light source) and the life of the lamp, the influence of the illuminance of each lamp on the uniformity of the exposure light illuminance, and the like. As a result, if the illuminance of the lamps constituting the lamp set (light source) is the same and constant, there is a difference in the power supplied due to individual differences between the lamps (for example, in four lamp sets (light sources)) Therefore, it was found that the load on each lamp varied and the lamp life changed. It was also found that if a collimator lens is installed as the optical system, the illuminance distribution of the exposure light can be sufficiently uniform (for example, even if the illuminance variation of each lamp is approximately ± 25%, By passing the meter lens, the illuminance uniformity within the exposure surface is within ± 5%).

本発明は上記知見に基づいて生まれたものであり、ランプセット(光源)を構成する各ランプへの供給電力を同じで一定にすることにより、これまで寿命の短かったランプの長寿命化をはかり、ランプセット(光源)を構成する各ランプの寿命を均一化することにより、ランプセット(光源)としての寿命を延ばすものである。これにより、メンテナスンス回数が減り、生産性を高めることが可能な露光装置およびそれを用いた露光方法並びに表示用パネル基板の製造方法を提供することができる。   The present invention was born based on the above knowledge, and by making the power supplied to the lamps constituting the lamp set (light source) the same and constant, the lamp having a short lifetime has been extended. The life of each lamp constituting the lamp set (light source) is made uniform, thereby extending the life of the lamp set (light source). Accordingly, it is possible to provide an exposure apparatus that can reduce the number of maintenance times and increase productivity, an exposure method using the same, and a method for manufacturing a display panel substrate.

以下、実施例で詳細に説明する。   Examples will be described in detail below.

第1の実施例について、図1及び図2を用いて説明する。図1は、本実施例に係る露光装置の概略構成図である。本実施例では、マスクと基板との間に微小な間隙(プロキシミティギャップ)を設けてマスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ露光装置の例を示している。   A first embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a schematic block diagram of an exposure apparatus according to the present embodiment. In this embodiment, an example of a proximity exposure apparatus that transfers a mask pattern to a substrate by providing a minute gap (proximity gap) between the mask and the substrate is shown.

露光装置は、ベース103、Xガイド104、Xステージ105、Yガイド106、Yステージ107、θステージ108、Z−チルト機構109、チャック110、マスクホルダ120、露光光照射装置130、電源制御装置140、電源141−1、141−2、光源制御装置150、入力装置151、及び照度センサー152を含んで構成されている。なお、露光装置は、これらの他に、基板101を搬入する搬入ユニット、基板101を搬出する搬出ユニット、装置内の温度管理を行なう温度制御ユニット等を備えている。   The exposure apparatus includes a base 103, an X guide 104, an X stage 105, a Y guide 106, a Y stage 107, a θ stage 108, a Z-tilt mechanism 109, a chuck 110, a mask holder 120, an exposure light irradiation device 130, and a power supply control device 140. , Power sources 141-1, 141-2, light source control device 150, input device 151, and illuminance sensor 152. In addition to these, the exposure apparatus includes a carry-in unit for carrying in the substrate 101, a carry-out unit for carrying out the substrate 101, a temperature control unit for managing the temperature in the apparatus, and the like.

図1において、チャック110は、基板101の露光を行なう露光位置にある。露光位置の上方には、マスクホルダ120によってマスク102が保持されている。基板101は、露光位置から離れた受け渡し位置において、図示しない搬入ユニットによりチャック110へ搭載され、また図示しない搬出ユニットによりチャック110から回収される。   In FIG. 1, the chuck 110 is at an exposure position where the substrate 101 is exposed. A mask 102 is held by a mask holder 120 above the exposure position. The substrate 101 is mounted on the chuck 110 by a carry-in unit (not shown) at a delivery position away from the exposure position, and is recovered from the chuck 110 by a carry-out unit (not shown).

チャック110は、Z−チルト機構109を介してθステージ108に搭載されており、θステージ108の下にはYステージ107及びXステージ5が設けられている。Xステージ105は、ベース103に設けられたXガイド104に沿ってX方向(図面横方向)へ移動する。Xステージ105のX方向への移動によって、チャック110は受け渡し位置と露光位置との間を移動する。Yステージ107は、Xステージ105に設けられたYガイド106に沿ってY方向(図面奥行き方向)へ移動する。θステージ108はθ方向へ回転し、Z−チルト機構109はZ方向(図面縦方向)へ移動及びチルトする。   The chuck 110 is mounted on the θ stage 108 via the Z-tilt mechanism 109, and the Y stage 107 and the X stage 5 are provided below the θ stage 108. The X stage 105 moves in the X direction (the horizontal direction in the drawing) along the X guide 104 provided on the base 103. As the X stage 105 moves in the X direction, the chuck 110 moves between the delivery position and the exposure position. The Y stage 107 moves in the Y direction (the drawing depth direction) along the Y guide 106 provided on the X stage 105. The θ stage 108 rotates in the θ direction, and the Z-tilt mechanism 109 moves and tilts in the Z direction (vertical direction in the drawing).

露光装置において、Xステージ105のX方向への移動、Yステージ107のY方向への移動、及びθステージ108のθ方向への回転によって、基板101の位置決めが行われる。また、Z−チルト機構109のZ方向への移動及びチルトによって、マスク102と基板101とのギャップ合わせが行なわれる。   In the exposure apparatus, the substrate 101 is positioned by moving the X stage 105 in the X direction, moving the Y stage 107 in the Y direction, and rotating the θ stage 108 in the θ direction. Further, the gap alignment between the mask 102 and the substrate 101 is performed by the movement and tilt of the Z-tilt mechanism 109 in the Z direction.

なお、本実施例では、Z−チルト機構109によりマスク102と基板101とのギャップ合わせを行っているが、マスクホルダ120をZ方向へ移動及びチルトすることにより、マスク102と基板101とのギャップ合わせを行なってもよい。   In this embodiment, the gap between the mask 102 and the substrate 101 is adjusted by the Z-tilt mechanism 109. However, by moving and tilting the mask holder 120 in the Z direction, the gap between the mask 102 and the substrate 101 is adjusted. You may combine.

マスクホルダ120の上方には、露光光照射装置130が設けられている。露光光照射装置130は、複数のランプ131−1、131−2、複数の集光鏡132−1,132−2、第1平面鏡133、レンズ134、シャッター135、コリメーターレンズ136、第2の平面鏡137、及びシャッター駆動装置138を含んで構成されている。   Above the mask holder 120, an exposure light irradiation device 130 is provided. The exposure light irradiation device 130 includes a plurality of lamps 131-1, 131-2, a plurality of condensing mirrors 132-1, 132-2, a first plane mirror 133, a lens 134, a shutter 135, a collimator lens 136, a second A plane mirror 137 and a shutter driving device 138 are included.

なお、本実施例では、露光光を発生する光源に4つのランプ131が用いられ、4つのランプ131が上から見て四角形を成すように配置されているが、図1では2つのランプのみが示されている。また、ランプの数はこれに限らず、2つ、3つ又は5つ以上のランプを用いてもよい。ランプ131には、水銀ランプ、ハロゲンランプ、キセノンランプ等のように、高圧ガスをバルブ内に封入したランプが使用されている。   In this embodiment, four lamps 131 are used as a light source for generating exposure light, and the four lamps 131 are arranged so as to form a quadrangle when viewed from above, but only two lamps are shown in FIG. It is shown. The number of lamps is not limited to this, and two, three, five or more lamps may be used. As the lamp 131, a lamp in which high-pressure gas is enclosed in a bulb, such as a mercury lamp, a halogen lamp, or a xenon lamp, is used.

各ランプ131の周囲には、各ランプ131から発生した光を集光する集光鏡132が設けられている。本実施例では、集光鏡132の一部を切り欠くことにより、隣接する2つのランプを集光鏡の直径よりも小さい距離に近づけて配置している。しかしながら、集光鏡132の一部を切り欠くことなく、隣接する2つのランプを集光鏡の直径よりも大きい距離に離して配置してもよい。   A condensing mirror 132 that condenses the light generated from each lamp 131 is provided around each lamp 131. In the present embodiment, a part of the condensing mirror 132 is notched so that the two adjacent lamps are arranged close to a distance smaller than the diameter of the condensing mirror. However, two adjacent lamps may be spaced apart by a distance larger than the diameter of the condenser mirror without cutting out a part of the condenser mirror 132.

各ランプ131は、各電源141から電力が供給されて点灯する。各ランプ131から発生した光は、各集光鏡132により集光され、第1平面鏡133へ照射される。第1平面鏡133で反射した光は、フライアイレンズ又はロットレンズ等からなるレンズ134へ入射し、レンズ134を透過して照度分布が均一化される。このときの照度分布は、露光面で±5%程度である。   Each lamp 131 is turned on when power is supplied from each power source 141. The light generated from each lamp 131 is collected by each condenser mirror 132 and applied to the first plane mirror 133. The light reflected by the first plane mirror 133 is incident on a lens 134 made of a fly-eye lens or a lot lens, and is transmitted through the lens 134 so that the illuminance distribution is made uniform. The illuminance distribution at this time is about ± 5% on the exposed surface.

シャッター135が開いているとき、レンズ134を透過した光は、コリメーターレンズ136を透過して平行光線束となり、第2平面鏡137で反射して、マスク102へ照射される。マスク102へ照射された露光光により、マスク102のパターンが基板101へ転写され、基板101の露光が行なわれる。   When the shutter 135 is open, the light transmitted through the lens 134 is transmitted through the collimator lens 136 to become a parallel light beam, reflected by the second plane mirror 137, and irradiated onto the mask 102. The pattern of the mask 102 is transferred to the substrate 101 by the exposure light applied to the mask 102, and the substrate 101 is exposed.

第2平面鏡137の裏側近傍には、照度センサー152が配置されている。第2平面鏡137には、露光光の一部を通過させる小さな開口が設けられている。照度センサー152は、第2平面鏡137の開口を通過した光を受光して、露光光の照度を検出する。照度センサー152の検出結果は、光源制御装置150へ入力される。   An illuminance sensor 152 is disposed in the vicinity of the back side of the second plane mirror 137. The second plane mirror 137 is provided with a small opening that allows a part of the exposure light to pass through. The illuminance sensor 152 receives the light that has passed through the opening of the second plane mirror 137 and detects the illuminance of the exposure light. The detection result of the illuminance sensor 152 is input to the light source control device 150.

以下、電源制御装置140及び光源制御装置150の動作について説明する。光源制御装置150は、ランプセット(光源)照度の目標値を電源制御装置140へ指示する。電源制御装置140は、まず、光源制御装置150から指示されたランプセット(光源)の照度の目標値に応じ、各電源141を制御して、各ランプ131へ供給する電力を同じで一定としながら、電力量を調整する。この際に各ランプ間の照度のバラつきが大きい場合は、ランプに不具合があると考えられるため、注意を促す警報を出力し、ランプ破裂などの事故を未然に防ぐことができる。なお、各ランプへの供給電力に関し、±3%以内ならば同一と見なせる。   Hereinafter, operations of the power supply control device 140 and the light source control device 150 will be described. The light source control device 150 instructs the power supply control device 140 to set a target value of lamp set (light source) illuminance. The power supply control device 140 first controls each power supply 141 according to the target value of the illuminance of the lamp set (light source) instructed from the light source control device 150, while keeping the power supplied to each lamp 131 the same and constant. Adjust the amount of power. At this time, if the illuminance variation between the lamps is large, it is considered that there is a problem with the lamps. Therefore, an alarm for warning is output to prevent an accident such as a lamp burst. It should be noted that the power supplied to each lamp can be regarded as the same if it is within ± 3%.

光源制御装置150は、露光処理を行なう前に、電源制御装置140へ指示するランプセットの照度の目標値を種々に変化させ、照度センサー152の検出結果を電源制御装置140から入力して、参考データとして記憶する。   The light source control device 150 variously changes the target value of the illuminance of the lamp set instructed to the power supply control device 140 before performing the exposure process, and inputs the detection result of the illuminance sensor 152 from the power supply control device 140 for reference. Store as data.

次に、図2を用いて露光方法について説明する。図2は、本実施例に係る露光方法を説明するためのフローチャートである。まず、光源制御装置150には、入力装置151から、露光光の照度の目標値が入力される(S201)。光源制御装置150は、露光光の照度の目標値から、ランプセットの照度の目標値を決定する(S202)。このとき、光源制御装置150は、例えば、参考データから、露光光の照度が目標値の前後にあるものを見つけ、その間のランプセットの照度の変化の傾きを参考にして、ランプセットの照度の目標値を決定する。参考データを用いることにより、露光光の照度が目標値となるランプセットの照度の目標値が、精度良く決定される。   Next, an exposure method will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a flowchart for explaining the exposure method according to the present embodiment. First, the target value of the illuminance of the exposure light is input to the light source control device 150 from the input device 151 (S201). The light source control device 150 determines the target value of the illuminance of the lamp set from the target value of the illuminance of the exposure light (S202). At this time, the light source control device 150 finds, for example, from the reference data that the illuminance of the exposure light is before and after the target value, and refers to the slope of the change in the illuminance of the lamp set during that time to determine the illuminance of the lamp set. Determine the target value. By using the reference data, the target value of the illuminance of the lamp set in which the illuminance of the exposure light becomes the target value is determined with high accuracy.

光源制御装置150は、決定したランプセットの照度の目標値を、電源制御装置140へ指示する。電源制御装置140は、光源制御装置150が決定したランプセットの照度の目標値に応じ、各電源141を制御して、各ランプ131へ供給する電力を同じで一定としながら、電力量を調整する(S203)。   The light source control device 150 instructs the power supply control device 140 on the determined target value of the illuminance of the lamp set. The power supply control device 140 controls each power supply 141 according to the target value of the illuminance of the lamp set determined by the light source control device 150, and adjusts the amount of power while keeping the power supplied to each lamp 131 the same and constant. (S203).

続いて、光源制御装置150は、シャッター駆動装置138を制御してシャッター135を開く。このとき、チャック110は受け渡し位置にあり、基板101の露光は行なわれない。照度センサー152は、露光光の照度を検出する(S204)。光源制御装置150は、照度センサー152が露光光の照度を検出した後、シャッター駆動装置138を制御してシャッター135を再び閉じる。   Subsequently, the light source control device 150 controls the shutter driving device 138 to open the shutter 135. At this time, the chuck 110 is in the delivery position, and the substrate 101 is not exposed. The illuminance sensor 152 detects the illuminance of the exposure light (S204). After the illuminance sensor 152 detects the illuminance of the exposure light, the light source control device 150 controls the shutter driving device 138 to close the shutter 135 again.

光源制御装置150は、照度センサー152の検出結果を入力し、照度センサー152の検出結果に基づいてランプセットの照度の目標値を補正する(S205)。このとき、光源制御装置150は、例えば、参考データから、露光光の照度が目標値の前後にあるものを見つけ、その間のランプセットの照度の変化の傾きを参考にして、ランプセットの照度の目標値を補正する。参考データを用いることにより、露光光の照度が目標値となるランプセットの照度の目標値が、精度良く補正される。   The light source controller 150 receives the detection result of the illuminance sensor 152 and corrects the target value of the illuminance of the lamp set based on the detection result of the illuminance sensor 152 (S205). At this time, the light source control device 150 finds, for example, from the reference data that the illuminance of the exposure light is before and after the target value, and refers to the slope of the change in the illuminance of the lamp set during that time to determine the illuminance of the lamp set. Correct the target value. By using the reference data, the target value of the illuminance of the lamp set where the illuminance of the exposure light becomes the target value is corrected with high accuracy.

光源制御装置150は、補正したランプセットの照度の目標値を、電源制御装置140へ指示する。電源制御装置140は、光源制御装置150が補正したランプセットの照度の目標値に応じ、各電源141を制御して、各ランプ131へ供給する電力を同じで一定としながら、電力量を調整する(S206)。そして、露光光の照度を検出し、検出結果に基づいてランプセットの照度の目標値を補正するので、複数のランプ131の光を合わせた露光光の照度が目標値に正確に制御される。   The light source control device 150 instructs the power supply control device 140 on the corrected target value of the illuminance of the lamp set. The power supply control device 140 controls each power supply 141 according to the target value of the illuminance of the lamp set corrected by the light source control device 150, and adjusts the amount of power while keeping the power supplied to each lamp 131 the same and constant. (S206). Then, since the illuminance of the exposure light is detected and the target value of the illuminance of the lamp set is corrected based on the detection result, the illuminance of the exposure light combined with the light from the plurality of lamps 131 is accurately controlled to the target value.

以上の処理を行なった後、基板101の露光を行なう(S207)。基板101の露光では、チャック110を露光位置へ移動し、基板101の位置決め及びマスク102と基板101とのギャップ合わせを行なった後、光源制御装置150がシャッター駆動装置138を制御してシャッター135を開閉する。以後、各電源141のフィードバック制御(S206)及び基板101の露光(S207)を繰り返す。そして、所定の期間毎に、図2の破線で示すようにステップS204へ戻って、露光光の照度の検出(S204)及びランプセットの照度の目標値の補正(S205)を行なう。   After performing the above processing, the substrate 101 is exposed (S207). In exposure of the substrate 101, the chuck 110 is moved to the exposure position, and after positioning the substrate 101 and aligning the gap between the mask 102 and the substrate 101, the light source control device 150 controls the shutter driving device 138 to move the shutter 135. Open and close. Thereafter, feedback control (S206) of each power supply 141 and exposure (S207) of the substrate 101 are repeated. Then, for each predetermined period, as shown by the broken line in FIG. 2, the process returns to step S204 to detect the illuminance of the exposure light (S204) and correct the target value of the illuminance of the lamp set (S205).

なお、本実施例では、露光光の照度の検出(S204)及びランプセットの照度の目標値の補正(S205)を所定の期間毎に行なっているが、基板101の露光を行なう度に行なってもよい。   In this embodiment, the illuminance of the exposure light is detected (S204) and the target value of the illuminance of the lamp set is corrected (S205) every predetermined period, but every time the substrate 101 is exposed. Also good.

上記露光方法により露光を行なった結果、従来に比べランプセットを長寿命化できることが分かった。   As a result of exposure by the above exposure method, it has been found that the lamp set can have a longer life than the conventional one.

以上説明した実施例によれば、露光光の照度を検出し、検出結果に基づいてランプセットの照度の目標値を補正することにより、複数のランプ131の光を合わせた露光光の照度を目標値に正確に制御することができる。   According to the embodiment described above, the illuminance of the exposure light is detected, and the target value of the illuminance of the plurality of lamps 131 is set as the target by correcting the illuminance target value of the lamp set based on the detection result. The value can be precisely controlled.

さらに、予めランプセットの照度の目標値を変化させて露光光の照度を検出し、検出結果を参考にして、ランプセットの照度の目標値を決定し、又はランプセットの照度の目標値を補正することにより、露光光の照度が目標値となるランプセットの照度の目標値を、精度良く決定又は補正することができる。   Furthermore, the illuminance of the exposure light is detected by changing the target value of the illuminance of the lamp set in advance, and the target value of the illuminance of the lamp set is determined or corrected with reference to the detection result. By doing so, the target value of the illuminance of the lamp set in which the illuminance of the exposure light becomes the target value can be determined or corrected with high accuracy.

本実施例ではプロキシミティ露光装置を例にして説明したが、これに限らずレンズ又は鏡を用いてマスクのパターンを基板上に投影する投影露光装置にも適用することができる。   In this embodiment, the proximity exposure apparatus has been described as an example. However, the present invention is not limited to this, and the present invention can be applied to a projection exposure apparatus that projects a mask pattern onto a substrate using a lens or a mirror.

本実施例に示した露光装置または露光方法を用いて、マスクのパターンを基板へ転写することにより、パターンの転写を均一に行なうことができ、露光に必要な露光時間を常に同じにすることができるので、高品質な基板を一定のタクトタイムで製造することができる。   By using the exposure apparatus or exposure method shown in this embodiment to transfer the mask pattern to the substrate, the pattern can be transferred uniformly, and the exposure time required for exposure can always be the same. As a result, a high-quality substrate can be manufactured with a constant tact time.

本実施例によれば、ランプセットを構成する各ランプへの供給電力を同じで一定にすることにより各ランプ負荷のばらつきが低減され、ランプセットの寿命を延ばすことができ、メンテナスンス回数が低減され、生産性を高めることが可能な露光装置およびそれを用いた露光方法を提供することができる。   According to the present embodiment, by making the power supplied to each lamp constituting the lamp set the same and constant, variations in each lamp load can be reduced, the life of the lamp set can be extended, and the number of times of maintenance is reduced. Thus, an exposure apparatus capable of increasing productivity and an exposure method using the same can be provided.

第2の実施例について図3を用いて説明する。なお、実施例1に記載され本実施例に未記載の事項は実施例1と同様である。   A second embodiment will be described with reference to FIG. The matters described in the first embodiment and not described in the present embodiment are the same as those in the first embodiment.

図3は本実施例に係る液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。先ず、薄膜形成工程(S301)において、スパッタ法により、ガラス基板上に液晶駆動用の透明電極となる導電体膜や絶縁体膜等の薄膜を形成する。スパッタ法に代えてプラズマ化学気相成長(CVD)法等を用いることもできる。   FIG. 3 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the TFT substrate of the liquid crystal display device according to this embodiment. First, in a thin film forming step (S301), a thin film such as a conductor film or an insulator film that becomes a transparent electrode for driving a liquid crystal is formed on a glass substrate by a sputtering method. A plasma chemical vapor deposition (CVD) method or the like may be used instead of the sputtering method.

次に、レジスト塗布工程(S302)において、ロール塗布法等により感光樹脂材料(フォトレジスト)を塗布して、薄膜形成工程(S301)で形成した薄膜上にフォトレジスト膜を形成する。   Next, in a resist coating step (S302), a photosensitive resin material (photoresist) is applied by a roll coating method or the like, and a photoresist film is formed on the thin film formed in the thin film forming step (S301).

次に、露光工程(S303)において、実施例1で用いたプロキシミティ露光装置及び露光方法を用いて、マスクのパターンをフォトレジスト膜に転写する。プロキシミティ露光装置に代えて、投影露光装置を用いることもできる。次に、現像工程(S304)において、シャワー現像法等により現像液をフォトレジスト膜上に供給して、フォトレジスト膜の不要部分を除去する。   Next, in the exposure step (S303), the mask pattern is transferred to the photoresist film using the proximity exposure apparatus and the exposure method used in the first embodiment. A projection exposure apparatus can be used in place of the proximity exposure apparatus. Next, in the developing step (S304), a developer is supplied onto the photoresist film by a shower developing method or the like to remove unnecessary portions of the photoresist film.

次に、エッチング工程(S305)において、ウエットエッチングにより、薄膜形成工程(S301)で形成した薄膜のうち、フォトレジスト膜でマスクされていない部分を除去する。次に、剥離工程(S306)において、エッチング工程(S305)でのマスクの役目を終えたフォトレジスト膜を、剥離液によって剥離する。これらの各工程の前又は後には、必要に応じて、基板の洗浄/乾燥工程が実施される。これらの工程を数回繰り返して、ガラス基板上にTFTアレイが形成される。   Next, in the etching step (S305), the portion of the thin film formed in the thin film formation step (S301) that is not masked by the photoresist film is removed by wet etching. Next, in the peeling step (S306), the photoresist film that has finished the role of the mask in the etching step (S305) is peeled off with a peeling solution. Before or after each of these steps, a substrate cleaning / drying step is performed as necessary. These steps are repeated several times to form a TFT array on the glass substrate.

本実施例によれば、実施例1と同様の効果が得られる。また、液晶ディスプレイ装置のTFT基板の生産性を向上することができる。   According to the present embodiment, the same effect as in the first embodiment can be obtained. In addition, the productivity of the TFT substrate of the liquid crystal display device can be improved.

第3の実施例について図4を用いて説明する。なお、実施例1や2に記載され本実施例に未記載の事項はそれらと同様である。   A third embodiment will be described with reference to FIG. The matters described in the first and second embodiments but not described in the present embodiment are the same as those described above.

図4は本実施例に係る液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。先ず、ブラックマトリクス形成工程(S401)において、フォトレジスト塗布、露光、現像、エッチング、剥離等の処理により、ガラス基板上にブラックマトリクスを形成する。   FIG. 4 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the color filter substrate of the liquid crystal display device according to this embodiment. First, in a black matrix forming step (S401), a black matrix is formed on a glass substrate by processing such as photoresist coating, exposure, development, etching, and peeling.

次に、着色パターン形成工程(S402)において、染色法によりガラス基板上に着色パターンを形成する。なお、染色法に代えて、顔料分散法、印刷法、電着法等を用いることもできる。この工程を、R(赤)、G(緑)、B(青)の着色パターンについて繰り返す。パターン形成において、実施例1で用いたプロキシミティ露光装置及び露光方法により、マスクのパターンをフォトレジスト膜に転写する。なお、プロキシミティ露光装置に代えて、投影露光装置を用いることもできる。   Next, in a colored pattern forming step (S402), a colored pattern is formed on the glass substrate by a staining method. In place of the dyeing method, a pigment dispersion method, a printing method, an electrodeposition method, or the like can also be used. This process is repeated for R (red), G (green), and B (blue) coloring patterns. In pattern formation, the mask pattern is transferred to the photoresist film by the proximity exposure apparatus and the exposure method used in the first embodiment. A projection exposure apparatus can be used instead of the proximity exposure apparatus.

次に、保護膜形成工程(S403)において、着色パターンの上に保護膜を形成する。次に、透明電極形成工程(S404)において、保護膜の上に透明電極膜を形成する。これらの各工程の前、途中又は後には、必要に応じて、基板の洗浄/乾燥工程が実施される。   Next, in a protective film forming step (S403), a protective film is formed on the colored pattern. Next, in the transparent electrode forming step (S404), a transparent electrode film is formed on the protective film. Before, during or after each of these steps, a substrate cleaning / drying step is performed as necessary.

上記ブラックマトリクス形成工程と着色パターン形成工程の露光処理の少なくとも1つにおいて、実施例1で用いたプロキシミティ露光装置及び露光方法を適用することができる。なお、プロキシミティ露光装置に代えて、投影露光装置を用いることもできる。   The proximity exposure apparatus and the exposure method used in Example 1 can be applied in at least one of the exposure processes of the black matrix forming process and the colored pattern forming process. A projection exposure apparatus can be used instead of the proximity exposure apparatus.

本実施例によれば、実施例1と同様の効果が得られる。また、液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の生産性を向上することができる。   According to the present embodiment, the same effect as in the first embodiment can be obtained. In addition, the productivity of the color filter substrate of the liquid crystal display device can be improved.

101…基板、
102…マスク、
103…ベース、
104…Xガイド、
105…Xステージ、
106…Yガイド、
107…Yステージ、
108…θステージ、
109…Z−チルト機構、
110…チャック、
120…マスクホルダ、
130…露光光照射装置、
131、131−1、131−2…ランプ、
132、132−1、132−2…集光鏡、
133…第1平面鏡、
134…レンズ、
135…シャッター
136…コリメーターレンズ、
137…第2平面鏡、
138…シャッター駆動装置、
140…電源制御装置、
141,141−1、141−2…電源、
150…光源制御装置、
151…入力装置。
101 ... substrate,
102 ... mask,
103 ... Base,
104 ... X guide,
105 ... X stage,
106 ... Y guide,
107 ... Y stage,
108 ... θ stage,
109 ... Z-tilt mechanism,
110 ... Chuck,
120 ... mask holder,
130 ... exposure light irradiation device,
131, 131-1, 131-2 ... lamp,
132, 132-1 and 132-2 ... condensing mirrors,
133 ... 1st plane mirror,
134 ... Lens,
135 ... Shutter 136 ... Collimator lens,
137 ... the second plane mirror,
138 ... Shutter driving device,
140 ... power supply control device,
141, 141-1, 141-2 ... power supply,
150 ... Light source control device,
151: Input device.

Claims (11)

複数のランプを含む光源と、複数の前記ランプへそれぞれ電力を供給する複数の電源と、複数の前記電源を制御する電源制御装置と、基板を載せるチャックと、を有する露光装置において、
前記電源制御装置は、複数の前記ランプへの供給電力が同じで一定となるように複数の前記電源を制御するものであることを特徴とする露光装置。
In an exposure apparatus comprising: a light source including a plurality of lamps; a plurality of power supplies that respectively supply power to the plurality of lamps; a power control device that controls the plurality of power supplies; and a chuck on which a substrate is placed.
The exposure apparatus according to claim 1, wherein the power supply control device controls the plurality of power supplies so that power supplied to the plurality of lamps is the same and constant.
複数のランプを含む光源と、複数の前記ランプへそれぞれ電力を供給する複数の電源と、複数の前記電源を制御する電源制御装置と、前記電源制御装置を制御する光源制御装置と、基板を載せるチャックと、を有する露光装置において、
前記電源制御装置は、前記光源制御装置から得た目標値に基づいて複数の前記ランプへの供給電力が同じで一定となるように複数の前記電源を制御するものであることを特徴とする露光装置。
A light source including a plurality of lamps, a plurality of power supplies that respectively supply power to the plurality of lamps, a power control device that controls the plurality of power supplies, a light source control device that controls the power control device, and a substrate are mounted In an exposure apparatus having a chuck,
The power supply control device controls the plurality of power supplies based on a target value obtained from the light source control device so that power supplied to the plurality of lamps is the same and constant. apparatus.
請求項2に記載の露光装置において、
前記目標値は、入力装置を用いて前記光源制御装置に入力された露光光の照度の目標値から決定されたものであることを特徴とする露光装置。
The exposure apparatus according to claim 2, wherein
The exposure apparatus characterized in that the target value is determined from a target value of illuminance of exposure light input to the light source control apparatus using an input device.
請求項2又は3に記載の露光装置において、
さらに前記光源から発生した露光光の照度を検出する照度センサーを備え、
前記光源制御装置は前記照度センサーが検出した露光光の照度に基づいて前記目標値を補正することを特徴とする露光装置。
In the exposure apparatus according to claim 2 or 3,
Furthermore, an illuminance sensor that detects the illuminance of exposure light generated from the light source is provided,
The light source controller corrects the target value based on the illuminance of exposure light detected by the illuminance sensor.
請求項1乃至4のいずれか1項に記載の露光装置において、
複数の前記ランプへの供給電力が同じとは、±3%以内の電力の変動を含むことを特徴とする露光装置。
The exposure apparatus according to any one of claims 1 to 4,
An exposure apparatus characterized in that the supply power to the plurality of lamps is the same includes fluctuations in power within ± 3%.
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の露光装置において、
前記光源から発生した露光光が通過するコリメーターレンズを更に有することを特徴とする露光装置。
The exposure apparatus according to any one of claims 1 to 5,
An exposure apparatus further comprising a collimator lens through which exposure light generated from the light source passes.
複数のランプを含む光源を有する露光装置を用いた露光方法において、
複数の前記ランプを含む光源から発生する露光光の照度の目標値を入力する工程と、
前記露光光の照度の前記目標値から、複数の前記ランプを含む光源の照度の目標値を決定する工程と、
複数の前記ランプを含む光源の照度の前記目標値に基づき、複数の前記ランプへの供給電力が同じで一定になるようにしながら、電力量を調整する工程と、
その後、複数の前記ランプへの供給電力が同じで一定になるように調整された前記光源から発生する露光光を用いて、基板を露光する工程と、を有することを特徴とする露光方法。
In an exposure method using an exposure apparatus having a light source including a plurality of lamps,
Inputting a target value of illuminance of exposure light generated from a light source including a plurality of the lamps;
Determining a target value of illuminance of a light source including the plurality of lamps from the target value of illuminance of the exposure light;
Based on the target value of the illuminance of a light source including a plurality of lamps, adjusting the amount of power while ensuring that the power supplied to the plurality of lamps is the same and constant;
And a step of exposing the substrate using exposure light generated from the light source that is adjusted so that the power supplied to the plurality of lamps is the same and constant.
ガラス基板上に薄膜を形成する工程と、
前記薄膜の上に感光樹脂を塗布する工程と、
前記感光樹脂が塗布された前記ガラス基板を、請求項7記載の露光方法を用いて露光する工程と、
露光された前記ガラス基板を現像する工程と、
現像された前記ガラス基板で前記薄膜が露出されている部分をエッチングする工程と、
前記ガラス基板上の感光樹脂の膜を剥離する工程と、を有することを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。
Forming a thin film on a glass substrate;
Applying a photosensitive resin on the thin film;
Exposing the glass substrate coated with the photosensitive resin using the exposure method according to claim 7;
Developing the exposed glass substrate;
Etching the exposed portion of the thin film on the developed glass substrate;
And a step of peeling the photosensitive resin film on the glass substrate.
請求項8記載の表示用パネル基板の製造方法において、
前記薄膜は、液晶駆動用の電極となる導電体膜であることを特徴とする表示用パネル基板の製造方法
In the manufacturing method of the display panel board | substrate of Claim 8,
The method for producing a display panel substrate, wherein the thin film is a conductive film that serves as an electrode for driving liquid crystal
ガラス基板上に、ブラックマトリクスを形成するブラックマトリクス工程と、
前記ブラックマトリクスが形成された前記ガラス基板上に、着色パターンを形成する着色パターン形成工程と、
その後、前記着色パターンの上に保護膜を形成する工程と、
前記保護膜の上に電極膜を形成する工程と、を有し、
前記ブラックマトリクス形成工程および前記着色パターン形成工程の少なくとも1つの工程において、請求項7記載の露光方法を用いることを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。
A black matrix process for forming a black matrix on a glass substrate;
A colored pattern forming step of forming a colored pattern on the glass substrate on which the black matrix is formed;
Then, forming a protective film on the colored pattern,
Forming an electrode film on the protective film,
8. A method for manufacturing a display panel substrate, wherein the exposure method according to claim 7 is used in at least one of the black matrix forming step and the colored pattern forming step.
請求項10記載の表示用パネル基板の製造方法において、
前記着色パターンは、赤色パターン、緑色パターン、青色パターンであることを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。
In the manufacturing method of the display panel board | substrate of Claim 10,
The method for manufacturing a display panel substrate, wherein the colored pattern is a red pattern, a green pattern, or a blue pattern.
JP2009195260A 2009-08-26 2009-08-26 Exposure apparatus, exposure method using the same, and manufacturing method of display panel substrate Expired - Fee Related JP5281987B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009195260A JP5281987B2 (en) 2009-08-26 2009-08-26 Exposure apparatus, exposure method using the same, and manufacturing method of display panel substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009195260A JP5281987B2 (en) 2009-08-26 2009-08-26 Exposure apparatus, exposure method using the same, and manufacturing method of display panel substrate

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011048056A true JP2011048056A (en) 2011-03-10
JP5281987B2 JP5281987B2 (en) 2013-09-04

Family

ID=43834461

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009195260A Expired - Fee Related JP5281987B2 (en) 2009-08-26 2009-08-26 Exposure apparatus, exposure method using the same, and manufacturing method of display panel substrate

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5281987B2 (en)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11260705A (en) * 1998-03-06 1999-09-24 Dainippon Kaken:Kk Exposure apparatus
JP2001267198A (en) * 2000-03-14 2001-09-28 Canon Inc Projection aligner and method for controlling plural light sources
JP2001307989A (en) * 2000-04-24 2001-11-02 Canon Inc Illumination device and illumination method, and aligner with the illumination device and manufacturing method of device by means of them
JP2008241877A (en) * 2007-03-26 2008-10-09 Phoenix Denki Kk Light source device and exposure device using same
JP2008286971A (en) * 2007-05-17 2008-11-27 Hitachi High-Technologies Corp Exposure device, exposure method, and method for manufacturing panel substrate for display
JP2009058924A (en) * 2007-08-31 2009-03-19 Attomakkusu:Kk Lighting system
JP2010034293A (en) * 2008-07-29 2010-02-12 Ushio Inc Light irradiation device for exposure

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11260705A (en) * 1998-03-06 1999-09-24 Dainippon Kaken:Kk Exposure apparatus
JP2001267198A (en) * 2000-03-14 2001-09-28 Canon Inc Projection aligner and method for controlling plural light sources
JP2001307989A (en) * 2000-04-24 2001-11-02 Canon Inc Illumination device and illumination method, and aligner with the illumination device and manufacturing method of device by means of them
JP2008241877A (en) * 2007-03-26 2008-10-09 Phoenix Denki Kk Light source device and exposure device using same
JP2008286971A (en) * 2007-05-17 2008-11-27 Hitachi High-Technologies Corp Exposure device, exposure method, and method for manufacturing panel substrate for display
JP2009058924A (en) * 2007-08-31 2009-03-19 Attomakkusu:Kk Lighting system
JP2010034293A (en) * 2008-07-29 2010-02-12 Ushio Inc Light irradiation device for exposure

Also Published As

Publication number Publication date
JP5281987B2 (en) 2013-09-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101672559B1 (en) Local site exposure apparatus and local site exposure method
JP4749299B2 (en) Exposure apparatus, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate
US8691481B2 (en) Local exposure method and local exposure apparatus
JP4879085B2 (en) Exposure equipment
TW201335722A (en) Exposure apparatus, exposure method, and fabricating method of display panel substrate
KR20130052520A (en) Exposure apparatus and exposure method
JP2008058898A (en) Exposure apparatus, exposure method and method for manufacturing display panel substrate
JP2013171088A (en) Proximity exposure apparatus, method for forming exposure light of proximity exposure apparatus, and method for manufacturing display panel substrate
JP2008298906A (en) Exposure apparatus, exposure method, and method of manufacturing display panel substrate
KR101133371B1 (en) Proximity exposure apparatus, method of forming exposure light in the proximity exposure apparatus and method of manufacturing a display panel substrate
JP5281987B2 (en) Exposure apparatus, exposure method using the same, and manufacturing method of display panel substrate
KR20130002954A (en) Exposing method and device thereof
TWI640837B (en) Substrate tuning system and method using optical projection
JP2010067794A (en) Exposure device and method of manufacturing device
JP2011242563A (en) Exposure apparatus, method for positioning lamp of exposure apparatus, and method of manufacturing display panel substrate
JP5184767B2 (en) Exposure equipment
JP2012220619A (en) Exposure apparatus, exposure method, and method for manufacturing display panel substrate
JP2006210553A (en) Aligner, illuminance distribution correction filter, and process for fabricating semiconductor device
JP2011237596A (en) Exposure apparatus, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate
JP2009282110A (en) Proximity exposure device, chuck height adjusting method of proximity exposure device and method of manufacturing panel substrate for display
JP2004119570A (en) Exposure setting method, exposure method and aligner using the same
JP2007193154A (en) Exposure device, exposure method and method for producing display panel substrate
JP5394320B2 (en) Light source unit, optical axis adjustment method of light source unit, proximity exposure apparatus, exposure light irradiation method of proximity exposure apparatus, and manufacturing method of display panel substrate
JP2007232890A (en) Exposure device, exposure method, and method for manufacturing display panel substrate
JP2010185899A (en) Proximity exposure apparatus, method for holding mask of proximity exposure apparatus, and method for manufacturing panel substrate for display

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120126

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130118

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130205

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130507

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130527

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees