JP2011034545A - 電圧レギュレータ回路 - Google Patents

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Abstract

【課題】クロック信号が入力された場合に無駄な電力消費を防止できる電圧レギュレータ回路を提供することを課題とする。
【解決手段】第1の回路の入力信号が第1の期間ではレベル変化せずにその後に第1の回路の入力信号のエッジを検出すると第2のレベルの出力から第1のレベルの出力に変化する第1のパルス発生器(307)と、第1のパルス発生器により出力されるパルスが第1のレベルになってから第2の期間までの間にパルスを出力する第2のパルス発生器(308)と、ソースが電源電位ノードに接続され、ドレインが第1の回路の電源電位端子に接続される第1の電界効果トランジスタ(304)と、第2のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、第1の電界効果トランジスタのゲートを第1の電位にする第1のスイッチ(305)とを有する電圧レギュレータ回路が提供される。
【選択図】図3

Description

本発明は、電圧レギュレータ回路に関する。
近年、携帯機器のバッテリ持続時間増加や、半導体素子の放熱部品のコスト削減のため、半導体回路の低消費電力化が求められている。半導体回路の低消費電力化のためには、できるだけ低い電源電圧で動作させることが必要である。例えば、プロセッサコアと周辺回路を含む半導体回路では、プロセッサコアには1.2V、周辺回路には0.8Vと、別々の電源電圧を供給することがある。そして、各回路に供給する電源は、電圧レギュレータ回路の出力が利用されることが多い。
電圧レギュレータ回路の出力電圧は、出力電流に依存しないことが望ましい。例えば、プロセッサコアの消費電流が、0Aから1Aに変化したとしても、出力は1.2V一定になっていることが望ましい。しかしながら、電圧レギュレータ回路の出力電圧は、出力トランジスタ抵抗成分で電位差を発生しており、かつ、その制御には一定の時間を要するため、それより速い時間で急峻に出力電流が増加した場合は、抵抗成分による電圧降下が発生し、出力電圧が低下する。電圧の低下は、半導体回路の誤動作の原因となるので、避けなければならない。
図1(A)は電圧レギュレータ回路の構成例を示す図であり、図1(B)はその動作を示すタイミングチャートである(例えば、米国特許第4,952,863号明細書参照)。電圧レギュレータ回路は、差動アンプ10、ドライバ回路12、ディレイ回路14、単安定マルチバイブレータ回路16、トランジスタT6,T11〜T13及び容量CLを有する。差動アンプ10は、トランジスタT1〜T5を有する。ドライバ回路12は、トランジスタT7〜T10を有する。
この電圧レギュレータ回路は、出力電流急増に対する出力電圧Voutの低下を抑えるため、電圧供給先のドライバ回路12の入力信号Vinを単安定マルチバイブレータ回路16に通して得られる信号を使って、出力トランジスタT6の抵抗を急峻に小さくする。図1(B)に示すように、入力信号Vinの立ち上がりエッジに反応して、ノードEで一定期間のパルスを生成し、そのパルスが発生している期間だけ、nチャネル出力トランジスタT6がオンする。出力電圧Voutは、ドライバ回路12の電源電圧として供給される。破線は、トランジスタT13がない場合に時刻t1後に出力電流が急増して出力電圧Voutが低下してしまうことを示す。実線は、トランジスタT13の働きにより、出力電圧Voutの低下を抑制できることを示す。
また、回路の動作モードに応じて擬似負荷を制御する技術が知られている(例えば、特開2005−310060号公報参照)。この技術では、スリープ状態からアクティブ状態になる際に、擬似負荷の大きさを徐々に変更して、出力電流値が急峻に変化しないようにする。
米国特許第4,952,863号明細書 特開2005−310060号公報
プロセッサコアの消費電流のほとんどはクロック信号によるものであり、入力されるクロック信号が停止している状態から、活性化される状態へ変化するときが、最も消費電流の増加が大きい。クロック信号の活性化は、クロック信号に繰り返しパルス信号が入力されている状態である。
図2は、図1(A)の電圧レギュレータ回路に入力信号Vinとしてクロック信号を入力した場合の動作を示すタイミングチャートである。入力信号Vinとしてクロック信号を入力したとすると、クロック信号Vinが供給されている間、常に出力電圧Voutは、電源電圧Vccまで上昇し、本来必要な電圧最小レベルを維持できない。このため、無駄な電力を消費することになる。
また、特開2005−310060号公報の方法を用いた場合、擬似負荷を徐々に変化させるための時間が必要であり、クロック信号が入力されてすぐに電流を消費するプロセッサ回路では、電流増加に対応できない。
本発明の目的は、クロック信号が入力された場合に無駄な電力消費を防止することができる電圧レギュレータ回路を提供することである。
電圧レギュレータ回路は、第1の回路の入力信号が第1の期間ではレベル変化せずにその後に前記第1の回路の入力信号のエッジを検出すると第2のレベルの出力から第1のレベルの出力に変化する第1のパルス発生器と、前記第1のパルス発生器により出力されるパルスが第1のレベルになってから第2の期間までの間にパルスを出力する第2のパルス発生器と、ソースが電源電位ノードに接続され、ドレインが前記第1の回路の電源電位端子に接続される第1の電界効果トランジスタと、前記第2のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記第1の電界効果トランジスタのゲートを第1の電位にする第1のスイッチとを有することを特徴とする。
入力信号としてクロック信号が入力された場合には、クロック信号の入力開始時のみ、第1の電界効果トランジスタのドレイン電圧を上げることができるので、無駄な電力消費を防止し、安定した電源電位を供給することができる。
図1(A)は電圧レギュレータ回路の構成例を示す図であり、図1(B)はその動作を示すタイミングチャートである。 図1(A)の電圧レギュレータ回路に入力信号としてクロック信号を入力した場合の動作を示すタイミングチャートである。 本発明の第1の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。 図3の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。 本発明の第2の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。 図5の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。 図7(A)は図5の第1のパルス発生器の構成例を示す図であり、図7(B)は図7(A)のRSラッチ回路の構成例を示す図である。 図7(A)の第1のパルス発生器の動作例を示すタイミングチャートである。 本発明の第3の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。 図9の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。 図9の第2のパルス発生器の構成例を示す図である。 本発明の第4の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。 図12の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。 図12の第1のパルス発生器の構成例を示す図である。 本発明の第5の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。 図15の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。 図15のクロックパルス検出回路の構成例を示す図である。 図17のクロックパルス検出回路の動作例を示すタイミングチャートである。 図15のパルス発生器の構成例を示す図である。 図19のパルス発生器の動作例を示すタイミングチャートである。 本発明の第6の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。 本発明の第7の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。 図15のポジティブエッジ検出器の構成例を示す図である。 本発明の第8の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。 図24の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。 本発明の第9の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。 図26の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。 図26のポジティブエッジ検出器の構成例を示す図である。 図28のポジティブエッジ検出器の動作例を示すタイミングチャートである。 本発明の第10の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。 本発明の第11の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。 本発明の第12の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。
(第1の実施形態)
図3は本発明の第1の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図であり、図4は図3の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。電圧レギュレータ回路は、直流電源301,302、エラーアンプ303、第1の電界効果トランジスタ304、第2の電界効果トランジスタ(第1のスイッチ)305、第1のパルス発生器307、第2のパルス発生器308、及び抵抗R1,R2を有する。
第1の半導体回路306は、例えばバッファ311を有し、電源電位端子に出力電圧Voutが入力され、基準電位端子に基準電位(グランド電位)GNDが入力され、入力信号CKを入力して動作する。例えば、第1の半導体回路306は、プロセッサコア又は周辺回路を有し、1.2V又は0.8Vの出力電圧Voutの供給を受ける。電圧レギュレータ回路は、電源電位Vccを降圧して出力電圧Voutを生成し、第1の半導体回路306に電源電圧として供給する。第1の半導体回路306は、入力信号CKとしてクロック信号が入力された場合には、クロック信号の入力開始時刻T1に第1の半導体回路306の消費電流が増大し、出力電圧Voutが低下する作用が働く。本実施形態では、クロック信号の入力開始時にのみ、第1の電界効果トランジスタ304のドレイン電圧Voutを上げ、無駄な電力消費を防止し、安定した電源電位を供給することができる。
直流電源301は、一端が基準電位GNDのノードに接続され、他端が電源電位Vccを出力する。直流電源302は、一端が基準電位GNDのノードに接続され、他端がリファレンス電圧Vrefを出力する。
第1のパルス発生器307は、第1の半導体回路306の入力信号CKのエッジを検出するとハイレベル(第1のレベル)の出力を維持し、その後の第1の期間内にエッジが検出されないときにはローレベル(第2のレベル)の出力を維持するパルスXを出力する。第2のパルス発生器308は、第1のパルス発生器307により出力されるパルスXがハイレベル(第1のレベル)になってから第2の期間Twまでの間にハイレベルのパルスYを出力する。
第2の電界効果トランジスタ305は、nチャネル電界効果トランジスタであり、第2のパルス発生器308により出力されるパルスYをゲートに制御信号として入力し、ソースが基準電位ノード(第1の電位ノード)に接続される。第1の電界効果トランジスタ304は、ゲートが第2の電界効果トランジスタ305のドレインに接続され、ソースが電源電位Vccのノードに接続され、ドレインが第1の半導体回路306の電源電位端子に接続される。
ノードN11は、第1の電界効果トランジスタ304のドレインに接続される。抵抗R1は、ノードN11及びN12間に接続される。抵抗R2は、ノードN12及び基準電位GNDのノード間に接続される。エラーアンプ303は、正入力端子がノードN12に接続され、負入力端子がリファレンス電圧Vrefのノードに接続され、出力端子が第1の電界効果トランジスタ304のゲートに接続される。
抵抗R1及びR2は、第2の電界トランジスタ304のドレイン電圧Voutを抵抗分割するための抵抗である。エラーアンプ303は、抵抗R1及びR2により抵抗分割されたノードN12の電圧とリファレンス電圧Vrefとの差電圧を第1の電界効果トランジスタ304のゲートに出力する。
なお、エラーアンプ303の正入力端子は、ノードN11に接続してもよい。エラーアンプ303は、第1の電界効果トランジスタ304のドレイン電圧Vout又はそれに応じたノードN12の電圧とリファレンス電圧Vrefとの差電圧を第1の電界効果トランジスタ304のゲートに出力する。
ノードN12の電圧がリファレンス電圧Vrefより低くなると、エラーアンプ303の出力電圧Bは下降し、第1の電界効果トランジスタ304はオン方向に作用し、出力電圧Voutは上昇する。逆に、ノードN12の電圧がリファレンス電圧Vrefより高くなると、エラーアンプ303の出力電圧Bは上昇し、第1の電界効果トランジスタ304はオフ方向に作用し、出力電圧Voutは下降する。これにより、出力電圧Voutは、所望の一定電圧を維持することができる。電圧レギュレータ回路は、電源電位Vccを降圧して出力電圧Voutを生成する。
時刻T1において、入力信号CKのクロック信号の入力開始時に、第1の半導体回路306の消費電流が増大し、エラーアンプ303が追従できず、出力電圧Voutが低下する作用が働く。そこで、パルス発生器307,308及び第2の電界効果トランジスタ305を設けることにより、出力電圧Voutの低下を防止する。
第1のパルス発生器307は、第1の半導体回路306の入力信号CKのエッジを検出するとハイレベルの出力を維持し、その後の第1の期間内にエッジが検出されないときにはローレベルの出力を維持するパルスXを出力する。すなわち、パルスXは、入力信号CKのクロック信号が入力中であるときにはハイレベルを維持し、入力信号CKのクロック信号の入力が終了するとローレベルを維持する。第2のパルス発生器308は、第1のパルス発生器307により出力されるパルスXがハイレベルになってから第2の期間Twまでの間にハイレベルのパルスYを出力する。
時刻T1において、パルスYがハイレベルになると、nチャネル電界効果トランジスタ305がオンし、電圧Bがローレベル(基準電位)になる。すると、pチャネル電界効果トランジスタ304はオンし、出力電圧Voutは電源電位Vccまで上昇し、電源電位Vccを維持する。これにより、第1の半導体回路306の消費電流が増大しても、出力電圧Voutの低下を防止することができる。
次に、時刻T2において、パルスYがローレベルになると、nチャネル電界効果トランジスタ305がオフし、電圧Bはエラーアンプ303の出力電圧になる。すると、pチャネル電界効果トランジスタ304はゲート電圧Bに応じて動作し、出力電圧Voutは電源電位Vccより低い一定電圧を維持する。時刻T2以降では、エラーアンプ303の動作により、出力電圧Voutは所望の一定電圧を維持することができる。図2では、クロック信号入力中は、出力電圧Voutが電源電位Vccを維持していたために、無駄な電力を消費していた。
本実施形態では、入力信号CKとしてクロック信号が入力された場合には、クロック信号の入力開始時のみ、pチャネル電界効果トランジスタ304のドレイン電圧Voutを上げることができるので、無駄な電力消費を防止し、安定した電源電位を供給することができる。
以上のように、クロック信号が入力された時刻T1に、第1のパルス発生器307の出力パルスXは、ハイレベルになる。これにより、第2のパルス発生器308の出力パルスYもハイレベルになる。これを受けて、pチャネル電界効果トランジスタ304のゲート電圧Bは、急峻にローレベルに変化し、pチャネル電界効果トランジスタ304のソース及びドレイン間の抵抗は急激に小さくなる。これにより、出力電圧Voutは電源電位Vccまで上昇する。その後、クロック信号が持続している間でも、一定期間Tw経過すると、パルスYはローレベルに戻る。このため、pチャネル電界効果トランジスタ304のゲート電圧Bは、再びエラーアンプ303による出力電圧と同一の電圧になる。これにより、出力電圧Voutはエラーアンプ303による目標電圧に下降し、目標電圧を維持する。
本実施形態によれば、一定期間Tw経過後の時刻T2以降は出力電圧Voutが電源電位Vccに固定されることはなく、目標電圧まで低下する。これにより、第1の半導体回路306と電圧レギュレータ回路の合計の消費電力は30%程度削減が可能である。また、第1の半導体回路306の外に大きな容量素子が必要なくなるため、実装費用や実装面積が不要になる。
(第2の実施形態)
図5は本発明の第2の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図であり、図6は図5の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。図5の回路は、図3の回路に対して、パルス幅設定回路501,502、第3のパルス発生器503、論理和(OR)回路504、フリップフロップ505、及び容量CLを追加したものである。以下、本実施形態が第1の実施形態と異なる点を説明する。
第1の半導体回路306は、バッファ311の他、フリップフロップ505を有する。フリップフロップ505は、バッファ311の出力信号を入力し、リセット信号RSがハイレベルになるとリセット解除する。フリップフロップ505がリセット解除されると、フリップフロップ505及びその後段の回路において消費電流が増大し、出力電圧Voutが低下する。そこで、第3のパルス発生器503及び論理和回路504を設けることにより、リセット信号RSが変化したときの出力電圧Voutの低下を防止する。
容量CLは、出力電圧Voutを安定化させるための容量であり、ノードN11及び基準電位GNDのノード間に接続される。パルス幅設定回路501は、設定されたパルス幅TW2を出力する。パルス幅設定回路502は、設定されたパルス幅TW1を出力する。第1のパルス発生器307は、パルス幅設定回路502により出力されたパルス幅Tw1に応じて、第1の半導体回路306の入力信号CKのエッジを検出するとハイレベルの出力を維持し、その後のパルス幅TW1の期間内にエッジが検出されないときにはローレベルの出力を維持するパルスXを出力する。クロック停止期間601及び602は、入力信号CKとしてのクロック信号が停止している期間である。クロック停止期間601は、時刻T5〜T6の期間であり、パルス幅Tw1の期間より短いため、パルスXはハイレベルを維持する。これに対し、クロック停止期間602は、時刻T7〜T9の期間であり、パルス幅Tw1の期間より長いため、クロック信号の停止からパルス幅Tw1の期間経過時刻T8にパルスXはローレベルになる。その後、時刻T9において、入力信号CKとしてのクロック信号の入力が開始すると、パルスXはハイレベルになる。
第2のパルス発生器308は、パルス幅設定回路501により出力されたパルス幅Tw2に応じて、第1のパルス発生器307により出力されるパルスXがハイレベルになってからパルス幅Tw2の期間までの間にハイレベルのパルスYを出力する。パルスYは、時刻T1〜T2及び時刻T9〜T10においてハイレベルになり、その他の期間ではローレベルになる。
リセット信号RSは、例えば、時刻T3以前ではローレベルであり、時刻T3以降ではハイレベルである。第3のパルス発生器503は、パルス幅設定回路501により出力されたパルス幅Tw2に応じて、第1の半導体回路306のリセット信号RSがハイレベルになってからパルス幅Tw2の期間までの間にハイレベルのパルスEを出力する。パルスEは、時刻T3〜T4においてハイレベルになる。
論理和回路504は、第2のパルス発生器308の出力パルスY及び第3のパルス発生器503の出力パルスEの論理和のパルスZを出力する。第2の電界効果トランジスタ305は、ゲートに論理和回路504の出力パルスZを入力する。すなわち、第2の電界効果トランジスタ305は、第2のパルス発生器308により出力されるパルスY及び第3のパルス発生器503により出力されるパルスEをゲートに入力し、パルスY又はEがハイレベルになるとオンし、パルスY及びEがローレベルになるとオフする。第1の電界効果トランジスタ304は、パルスY又はEがハイレベルになるとオンし、出力電圧Voutが電源電位Vccに上昇する。パルスYがハイレベルのときの動作は、第1の実施形態と同様である。
本実施形態は、リセット信号RSがハイレベルになると、パルスEがハイレベルになり、第1の電界効果トランジスタ304がオンし、出力電圧Voutが電源電位Vccに上昇し、第1の半導体回路306の消費電流増大による出力電圧Voutの低下を防止することができる。また、パルス幅Tw2経過後はパルスEがローレベルになり、出力電圧Voutは目標電圧に低下するので、無駄な電力消費を防止することができる。
以上のように、本実施形態は、第1の実施形態に対して、第1の半導体回路306においてクロック信号に次いで電力の大きいリセット信号RSと、リセット信号RSを入力とする第3のパルス発生器503と、第2のパルス発生器308の出力パルスYと第3のパルス発生器503の出力パルスEを入力とする論理和回路504と、第1のパルス発生器307のパルス幅Tw1を制御するパルス幅設定回路502と、第2のパルス発生器308及び第3のパルス発生器503のパルス幅Tw2を制御するパルス幅設定回路501とが追加されている。パルス幅設定回路502は、出力電流が変化して出力電圧Voutが変化してから第1の電界効果トランジスタ304のゲート電圧Bが制御され安定になるために必要な時間、もしくは、それ以下の時間Tw1に設定されている。パルス幅設定回路501は、第2の電界効果トランジスタ305により出力電圧Voutが目標電圧から電源電位Vcc近傍になるまでに必要な時間、もしくは、それ以上の時間Tw2に設定されている。
図6において、初期状態では、入力信号CKはローレベルであり、パルス発生器307,308,503の出力パルスX,Y,Eは、ローレベルである。この状態では、電圧レギュレータ回路は、電圧Vout×{R2/(R1+R2)}とリファレンス電圧Vrefが等しくなるように、電圧Bを保つことで、出力電圧Voutを目標電圧Vref×(R1+R2)/R2に設定している。
時刻T1で、入力信号CKが活性化され、連続クロックパルスが入力されたとする。第1のパルス発生器307は、入力クロック信号CKの立ち上がりエッジを検出して、出力パルスXをハイレベルにする。入力クロック信号CKのパルス周期が、パルス幅Tw1より短い場合は、パルスXがハイレベルの状態で、次の入力クロック信号CKの立ち上がりエッジが到達するので、パルスXはハイレベルを維持する。第2のパルス発生器308は、パルスXの立ち上がりエッジを検出して、パルスYをハイレベルにする。時刻T1からパルス幅Tw2の期間にパルスXがローレベルにならないならば、時刻T2でパルスYはローレベルになる。時刻T2までリセット信号RSはローレベルであるとすると、第3のパルス発生器503の出力パルスEはローレベルのままである。従って、パルスZは時刻T1〜T2の期間ハイレベルになり、時刻T2でローレベルに戻る。つまり、時刻T1〜T2の期間に第2の電界効果トランジスタ305がオンする。これにより、電圧Bは時刻T1でローレベルになり、出力電圧Voutは電源電位Vccに近づくように上昇する。時刻T2で、出力電圧Voutは目標電圧Vref×(R1+R2)/R2になるように減少し始める。
次に、時刻T3でリセット信号RSが解除されハイレベルになったとする。第3のパルス発生器503の出力パルスEは、パルス幅Tw2の期間ハイレベルになり、時刻T4でローレベルに戻る。従って、パルスZは時刻T3〜T4の期間ハイレベルになり、出力電圧Voutは時刻T1〜T2の期間と同じ動作を繰り返す。
次に、時刻T5で、入力クロック信号CKが一旦停止し、時刻T6で再活性させるとする。時間T5〜T6の期間が、パルス幅Tw1よりも短い場合、パルスXはハイレベルを維持したままであるので、パルスYはハイレベルになることはない。リセット信号RSは変化していないので、パルスZもローレベルを維持しており、第2の電界効果トランジスタ305がオンすることはない。この期間、出力電流が一旦減少するため、出力電圧Voutは上昇するが、再び時刻T6で消費電流が時刻T5以前と同じになる。ところが、この期間はパルス幅Tw1より短いので、電圧Bはほとんど変化せず、時刻T6においても出力電圧Voutが低下することはない。
次に、時刻T7で、入力クロック信号CKが一旦停止し、時刻T9で再活性させるとする。ただし、時刻T7〜T9の時間は、パルス幅Tw1よりも長い。時刻T7直前の入力クロック信号CKの最後の立ち上がりよりパルス幅Tw1後の時刻T8にパルスXは、ローレベルになる。その後、入力クロック信号CKが最初に立ち上がる時刻T9で、パルスXは再びハイレベルになる。この立ち上がりエッジを検出して、パルスYがパルス幅Tw2の期間ハイレベルになる。リセット信号RSは変化していないので、パルスZは時刻T9でハイレベルになる。時刻T7で入力クロック信号CKが停止したことによる出力電流低減のため、電圧Bは上昇し、時刻T8では安定している。つまり、時刻T1以前の状態と同じになっている。従って、時刻T9〜T10では、時刻T1〜T2の期間と同じ動作をする。
このように、入力クロック信号CKが停止及び活性を繰り返しても、出力電圧Voutは目標電圧未満になることはなく、出力電圧Voutが供給される第1の半導体回路306は安定して動作する。また、クロック信号供給期間は、第2の電界効果トランジスタ305がオンの期間を除き、出力電圧Voutは目標電圧になっている。そのため、本実施形態は、常時、電源電位Vcc近傍の電位Voutを出力する場合よりも第1の半導体回路306の電力を削減できる。
図7(A)は図5の第1のパルス発生器307の構成例を示す図であり、図7(B)は図7(A)のRSラッチ回路706の構成例を示す図であり、図8は図7(A)の第1のパルス発生器307の動作例を示すタイミングチャートである。第1のパルス発生器307は、エッジ検出器701、インバータ704、論理積(AND)回路705、RSラッチ回路706、リング発振器707、カウンタ711、及びRSラッチ回路712を有する。エッジ検出器701は、インバータ702及び論理積回路703を有する。リング発振器707は、否定論理積(NAND)回路708、及びインバータ709,710を有する。
図7(B)に示すように、RSラッチ回路706は、否定論理積回路721及び722を有し、リセット信号resetがハイレベルかつセット信号setがローレベルになると出力信号outがローレベルになり、リセット信号resetがローレベルかつセット信号setがハイレベルになると出力信号outがハイレベルになる。RSラッチ回路712も、RSラッチ回路706と同じ構成を有する。カウンタ711は、パルス幅Tw1に応じて例えば8ビットカウンタに設定される。8ビットのカウント期間がパルス幅Tw1に対応する。
初期状態ではカウンタ711には0がセットされている。入力クロック信号CKのパルス繰返し周期は十分短く、リング発振器707の出力信号N3のパルスによって後段のカウンタ711の出力信号N4が変化しないとする。時刻T1で入力クロック信号CKのエッジが検出され、信号N1にパルスが生成される。これにより、8ビットカウンタ711は0にリセットされ、信号N4はローレベルになり、RSラッチ回路706の出力信号N2及びRSラッチ回路712の出力信号Xはハイレベルになる。この後、時刻T5までは継続的に信号N1にパルスが生成されるため、8ビットカウンタ711は0にリセットされ、信号N4はローレベルになり、RSラッチ回路706の出力信号N2及びRSラッチ回路712の出力信号Xはハイレベルを維持する。時刻T5で入力クロック信号CKが停止することにより、カウンタ711はリセットされず、カウントアップするが、時刻T6までの期間に出力が変化しない場合、時刻T6で入力信号CKにパルスが入力されると同時にカウンタ711はリセットされるため、信号N4は変化しない。時刻T7で同様に、入力クロック信号CKが停止し、再度カウントアップする。今度は、時刻T8でカウンタ711の出力信号N4がハイレベルになったとする。これにより、RSラッチ回路712はリセットされ、信号Xがローレベルに戻る。同時に、RSラッチ回路706の出力信号N2はローレベルになり、リング発振器707は停止する。時刻T9で再び時刻T1と同じ状態になる。これにより、第1のパルス発生器307の機能を実現できる。また、パルス幅Tw1の制御は、カウンタ711が出力を変化させるカウント数を変えることで実現できる。
図5の第2のパルス発生器308は、図7(A)の第1のパルス発生器307と同様の構成を有し、第1のパルス発生器307により出力されるパルスがハイレベルになってからカウンタによるパルス幅Tw2の期間経過までの間にハイレベルのパルスYを出力する。図5の第3のパルス発生器503は、図7(A)の第1のパルス発生器307と同様の構成を有し、第1の半導体回路306のリセット信号RSが変化してからカウンタによるパルス幅Tw2の期間経過までの間にハイレベルのパルスEを出力する。
(第3の実施形態)
図9は、本発明の第3の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図であり、図10は図9の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。本実施形態(図9)は、第2の実施形態(図5)に対して、第2のパルス発生器308及び第3のパルス発生器503が出力電圧Voutに応じてパルス幅を設定する点が異なる。以下、本実施形態が第2の実施形態と異なる点を説明する。第2のパルス発生器308及び第3のパルス発生器503は、パルス幅設定回路501からパルス幅Tw2を入力する代わりに、出力電圧Voutを入力する。第2のパルス発生器308は、出力電圧Voutが第1の電圧Vtより高くなると、出力パルスYをローレベルにする。同様に、第3のパルス発生器503は、出力電圧Voutが第1の電圧Vtより高くなると、出力パルスEをローレベルにする。すなわち、第2のパルス発生器308は、第1のパルス発生器307により出力されるパルスXがハイレベルになってから第1の電界効果トランジスタ304のドレイン電圧Voutが第1の電圧Vtを超えるまでの間にハイレベルのパルスYを出力する。同様に、第3のパルス発生器503は、第1の半導体回路306のリセット信号RSが変化してから第1の電界効果トランジスタ304のドレイン電圧Voutが第1の電圧Vtを超えるまでの間にハイレベルのパルスEを出力する。これにより、本実施形態は、第2の実施形態に比べ、出力電圧Voutが電源電位Vcc近傍で待機する時間が短くなり、低電力化できる。
図11は、図9の第2のパルス発生器308の構成例を示す図である。第3のパルス発生器503も第2のパルス発生器308と同様の構成を有するので、第2のパルス発生器308の構成を例に説明する。第2のパルス発生器308は、インバータ702、論理積回路703、インバータ704、論理積回路705、RSラッチ回路706、コンパレータ1101及び直流電源1102を有する。直流電源1102は、第1の電圧Vtを供給する。パルスXは、インバータ702及び論理積回路703に入力される。パルスYは、RSラッチ回路706から出力される。コンパレータ1101は、出力電圧Voutが第1の電圧Vtより高いときにはハイレベルを出力し、出力電圧Voutが第1の電圧Vt以下のときにはローレベルを出力する。コンパレータ1101がハイレベルを出力すると、RSラッチ回路706はリセットされ、ローレベルのパルスYを出力する。
(第4の実施形態)
図12は、本発明の第4の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図であり、図13は図12の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。本実施形態(図12)は、第2の実施形態(図5)に対して、第1のパルス発生器307、第2のパルス発生器308及び第3のパルス発生器503にクロック信号CK2が入力されている点が異なる。以下、本実施形態が第2の実施形態と異なる点を説明する。図13は、図6に対して、クロック信号CK2が追加されている以外は同じである。
図14は、図12の第1のパルス発生器307の構成例を示す図である。図14の第1のパルス発生器307は、図7(A)の第1のパルス発生器307に対して、リング発振器707の代わりに論理積回路1401を設けたものである。以下、図14の第1のパルス発生器307が図7(A)の第1のパルス発生器307と異なる点を説明する。論理積回路1401は、RSラッチ回路706の出力信号N2及びクロック信号CK2の論理積信号N3をカウンタ711に出力する。クロック信号CK2は、RSラッチ回路706の出力信号N2に応じて、そのままカウンタ711に入力されるか、ハイレベル固定としてカウンタ711に入力される。従って、本実施形態は、図7(A)のリング発振器707の周波数と図14のクロック信号CK2の周波数とが同じであれば、図8と同じ動作をする。これにより、本実施形態は、入力信号CKの立ち上がりエッジをトリガとして、所定の時間ハイレベルのパルスXを出力することができる。本実施形態は、リング発振器707の発振周波数より安定したクロック信号CK2を使用できることから、第2の実施形態に比べて製造ばらつきに依存することがない回路が実現できる。このため、本実施形態は、第2の電界効果トランジスタ305をオンする時間を最小限にすることができ、消費電力を低減できる。
(第5の実施形態)
図15は本発明の第5の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図であり、図16は図15の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。本実施形態(図15)は、第2の実施形態(図5)に対して、第1のパルス発生器307の代わりにクロックパルス検出回路(第1のパルス発生器)1502を設け、ポジティブエッジ検出器1501を追加したものである。また、図16は、図6に対して、パルスXの波形のみ異なる。以下、本実施形態が第2の実施形態と異なる点を説明する。
クロックパルス検出回路1502は、パルス幅設定回路502により出力されたパルス幅Tw1を入力し、第1の半導体回路306の入力信号(クロック信号)CKがパルス幅Tw1の期間ローレベルになった後にポジティブエッジ(立ち上がりエッジ)を検出すると、所定期間ハイレベルのパルスXをパルス発生器308に出力する。すなわち、クロックパルス検出回路1502は、第1の半導体回路306の入力信号CKがパルス幅Tw1の期間(第1の期間)ではレベル変化せずにその後に第1の半導体回路306の入力信号CKのポジティブエッジを検出するとローレベル(第2のレベル)の出力からハイレベル(第1のレベル)の出力に変化する。パルス発生器308の動作は、第2の実施形態と同様であり、後に図19及び図20を参照しながら説明する。ポジティブエッジ検出器1501は、第1の半導体回路306のリセット信号RSのポジティブエッジを検出すると、所定期間ハイレベルのパルスをパルス発生器503に出力する。パルス発生器503の動作は、第2の実施形態と同様であり、後に図19及び図20を参照しながら説明する。
図23は、図15のポジティブエッジ検出器1501の構成例を示す図である。ポジティブエッジ検出器1501は、図7(A)と同様にインバータ702及び論理積回路703を有し、入力端子Inにリセット信号RSを入力し、図8の信号N1と同様のパルスを出力端子Outから出力する。
図17は図15のクロックパルス検出回路1502の構成例を示す図であり、図18は図17のクロックパルス検出回路1502の動作例を示すタイミングチャートである。ポジティブエッジ検出器701は、図7(A)と同様にインバータ702及び論理積回路703を有し、入力信号(クロック信号)CKのポジティブエッジを検出し、信号N1を出力する。インバータ1704は、信号N1の論理反転信号を出力する。論理積回路1705は、インバータ1704の出力信号及び信号N5の論理積信号を出力する。D型フリップフロップ1701は、入力端子に電源電位Vccを入力し、クロック端子に信号N1を入力し、リセットバー端子RBに信号N5を入力し、出力端子から信号N2を出力する。ポジティブエッジ検出器1706は、インバータ及び論理積回路を有し、信号N2のポジティブエッジを検出し、パルスXを出力する。リング発振器707は、図7(A)と同様に否定論理積(NAND)回路708、及びインバータ709,710を有し、信号N2がハイレベルの期間に発振信号N3を出力する。カウンタ1707は、リセットバー端子RBが論理積回路1705の出力端子に接続され、信号N3のパルスをカウントし、mビットのカウント値を出力する。比較器1708は、入力端子Cにカウンタ1707のmビットのカウント値を入力し、入力端子Rにmビットのパルス幅Tw1(例えば8)を入力し、出力端子OUTから比較結果の信号N4を出力する。具体的には、比較器1708は、カウント値及びパルス幅Tw1が同じであればハイレベルの信号N4を出力し、異なればローレベルの信号N4を出力する。D型フリップフロップ1702は、入力端子に信号N4を入力し、クロック端子に信号N3を入力し、リセットバー端子RBに信号N5を入力する。D型フリップフロップ1703は、入力端子に電源電位Vccを入力し、クロック端子にD型フリップフロップ1702の出力信号を入力し、リセットバー端子RBに信号N5を入力する。インバータ1709は、D型フリップフロップ1703の出力信号の論理反転信号を出力する。論理積回路1710は、インバータ1709の出力信号及びリセット信号RS1の論理積信号N5を出力する。
時刻T1において、入力信号CKとしてクロック信号が入力されると、ポジティブエッジ検出器701はワンショットパルスの信号N1を生成する。ワンショットパルスの信号N1は、D型フリップフロップ1701のクロック端子に入力される。すると、D型フリップフロップ1701は、ハイレベルの信号N2を出力する。信号N2がローレベルからハイレベルに変化すると、ポジティブエッジ検出器1706はワンショットパルスを生成し、ワンショットパルスXが出力される。信号N2がハイレベルになると、リング発振器707が発振し、クロックパルスの信号N3を出力する。入力信号CKとしてクロック信号が入力され続ける状態が続くと、信号N1としてワンショットパルスが生成され続け、カウンタ1707のリセットバー端子RBにはハイレベルとローレベルが交互に入力されるので、カウンタ1707は常にリセットがかかった状態になる。ここで、リセットバー端子RBにローレベルが入力されると、カウンタ1707はリセットされる。つまり、入力信号CKとしてクロック信号が入力されている限り、カウンタ1707の出力値は0である。しかし、入力信号CKとしてクロック信号が入力されなくなると、カウンタ1707のリセットバー端子RBはリセット解除された状態になる。そうすると、カウンタ1707の出力値は、リング発振器707の発振クロック信号N3によってインクリメントされる。比較器1708は、カウンタ1707の出力値がパルス幅Tw1と同じ値になったときにハイレベルの信号N4を出力する。信号N4がハイレベルになると、信号N4を入力するD型フリップフロップ1702はハイレベルをD型フリップフロップ1703のクロック端子に出力する。そうすると、D型フリップフロップ1703はハイレベルを出力し、信号N5はローレベルになる。信号N5がローレベルになると、D型フリップフロップ1701〜1703及びカウンタ1707は、リセットバー端子RBにローレベルを入力し、リセットがかかる。D型フリップフロップ1701がリセットされて、ローレベルの信号N2を出力すると、リング発振器707は発振を停止する。D型フリップフロップ1703は、リセットされ、ローレベルを出力する。すると、信号N5はハイレベルとなり、D型フリップフロップ1701〜1703及びカウンタ1707のリセットは解除される。その後、時刻T9以降の動作は、時刻T1以降の動作と同様である。なお、クロック停止期間601は、時刻T5〜T6の期間であり、パルス幅Tw1の期間より短いため、パルスXはローレベルを維持する。これに対し、クロック停止期間602は、時刻T7〜T9の期間であり、パルス幅Tw1の期間より長いため、クロック信号の再開時刻T9にパルスXはハイレベルになる。
図19は図15のパルス発生器308の構成例を示す図であり、図20は図19のパルス発生器308の動作例を示すタイミングチャートである。図15のパルス発生器503も、パルス発生器308と同じ構成を有する。
D型フリップフロップ1701は、入力端子に電源電位Vccを入力し、クロック端子にパルスXを入力し、リセットバー端子RBに信号N4を入力し、出力端子から信号N1を出力する。バッファ1901は、信号N1をバッファリングし、パルスYを出力する。リング発振器707は、図7(A)と同様に否定論理積回路708、及びインバータ709,710を有し、信号N1がハイレベルの期間に発振信号N2を出力する。カウンタ1707は、リセットバー端子RBに信号N4を入力し、信号N2のパルスをカウントし、mビットのカウント値を出力する。比較器1708は、入力端子Cにカウンタ1707のmビットのカウント値を入力し、入力端子Rにmビットのパルス幅Tw2(例えば15)を入力し、出力端子OUTから比較結果の信号N3を出力する。具体的には、比較器1708は、カウント値及びパルス幅Tw2が同じであればハイレベルの信号N3を出力し、異なればローレベルの信号N3を出力する。D型フリップフロップ1702は、入力端子に信号N3を入力し、クロック端子に信号N2を入力し、リセットバー端子RBに信号N4を入力する。D型フリップフロップ1703は、入力端子に電源電位Vccを入力し、クロック端子にD型フリップフロップ1702の出力信号を入力し、リセットバー端子RBに信号N4を入力する。インバータ1709は、D型フリップフロップ1703の出力信号の論理反転信号を出力する。論理積回路1710は、インバータ1709の出力信号及びリセット信号RS1の論理積信号N4を出力する。
図19のパルス発生器308は、図17のクロックパルス検出回路1502に対して、2個のポジティブエッジ検出器701及び1706を取り除いたものである。時刻T1において、パルスXとしてワンショットパルスが入力されると、D型フリップフロップ1701は、ハイレベルの信号N1を出力する。パルスYの信号は、信号N1と論理的に同じ信号である。信号N1がハイレベルになると、リング発振器707は、発振クロック信号N2を出力する。信号N2としてクロック信号が出力されると、カウンタ1707はカウント値をインクリメントする。比較器1708は、カウント値がパルス幅Tw2と同じ値になったとき、ハイレベルの信号N3を出力し、D型フリップフロップ1702は、ハイレベルを出力する。すると、D型フリップフロップ1703は、クロック端子がローレベルからハイレベルに変化し、出力端子からハイレベルを出力する。その結果、信号N4はハイレベルからローレベルに変化し、D型フリップフロップ1701〜1703及びカウンタ1707はリセットされる。リセットされた結果、時刻T5において、D型フリップフロップ1701はローレベルの信号N1を出力する。D型フリップフロップ1703は、リセットされた結果、ローレベルを出力し、信号N4はハイレベルになる。すると、D型フリップフロップ1701〜1703及びカウンタ1707はリセット解除される。その後、時刻T7〜T9の動作は、時刻T1〜T5の動作と同様である。
図7(A)、図11及び図14のパルス発生器ではRSラッチ回路706を用いたのに対し、図17のクロックパルス検出回路1502及び図19のパルス発生器308,503ではD型フリップフロップ1701〜1703を用いる。D型フリップフロップ1701〜1703を使うことの利点は、標準的な半導体集積回路の設計フローである同期回路設計環境をそのまま使えることである。RSラッチ回路706は、非同期回路的な振る舞いをするので、図7(A)、図11及び図14のパルス発生器はハードマクロとして作り、半導体集積回路に実装することになる。これに対し、D型フリップフロップ1701〜1703を使った図17のクロックパルス検出回路1502及び図19のパルス発生器308,503は、ネットリスト及び設計制約を作れば(つまりソフトマクロとして作れば)、半導体集積回路の標準的な設計フローにのっとって実装できる利点がある。
(第6の実施形態)
図21は、本発明の第6の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。本実施形態(図21)は、第5の実施形態(図15)に対して、入力信号CKとして複数の入力信号CKa〜CKnを設け、クロックパルス検出回路1502として複数のクロックパルス検出回路1502a〜1502nを設け、半導体回路306として複数の半導体回路306a〜306nを設け、論理和(OR)回路2101を追加したものである。以下、本実施形態が第5の実施形態と異なる点を説明する。
半導体回路306a〜306nは、それぞれ例えばバッファを有し、電源電位端子に出力電圧Voutが入力され、基準電位端子に基準電位GNDが入力され、それぞれ入力信号CKa〜CKnを入力して動作する。クロックパルス検出回路1502a〜1502nは、それぞれ入力信号CKa〜CKnを入力する。論理和回路2101は、クロックパルス検出回路1502a〜1502n及びポジティブエッジ検出器1501の出力信号の論理和信号をパルスXとして出力する。パルス発生器308は、パルスX及びパルス幅Tw2を入力し、パルスZをnチャネル電界効果トランジスタ305のゲートに出力する。
半導体集積回路には、複数のクロックドメインが存在することがある。本実施形態は、複数の入力信号CKa〜CKnを使用する半導体回路306a〜306nに適用することができる。複数の入力信号CKa〜CKnとしてのクロック信号のうちのいずれか一つでも活性化すれば、パルスXとしてワンショットパルスが発生する。ワンショットパルスが発生した場合の動作は、第5の実施形態と同様である。なお、その他の実施形態についても、同様に、本実施形態を適用することができる。
(第7の実施形態)
図22は、本発明の第7の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。本実施形態(図22)は、第5の実施形態(図15)に対して、論理積回路2201を追加したものである。以下、本実施形態が第5の実施形態と異なる点を説明する。論理積回路2201は、クロック信号CK1及びイネーブル信号CEN(図25)の論理積信号(入力信号)CKを出力する。クロック信号CK1は、図16の入力信号CKと同一周波数の連続クロック信号である。入力信号CKは、図16の入力信号CKと同一の信号であり、イネーブル信号CENがハイレベルのときにはクロック信号CK1と同一の信号になり、イネーブル信号CENがローレベルのときにはローレベルになる。論理積回路2201は、クロックゲーティングセルとして動作し、イネーブル信号CENによりクロック信号を通過させたり、停止させたりすることができる。
(第8の実施形態)
図24は本発明の第8の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図であり、図25は図24の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。本実施形態(図24)は、第7の実施形態(図22)に対して、クロックパルス検出回路1502の代わりにポジティブエッジ検出器2401を設けたものである。以下、本実施形態が第7の実施形態と異なる点を説明する。ポジティブエッジ検出器2401は、図23に示すように、インバータ702及び論理積回路703を有し、イネーブル信号CENのポジティブエッジを検出し、パルスXをパルス発生器308に出力する。なお、イネーブル信号CENがローレベルのときにクロック信号CK1を通過させる場合には、ポジティブエッジ検出器2401の代わりにネガティブエッジ検出器を設ければよい。
(第9の実施形態)
図26は本発明の第9の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図であり、図27は図26の電圧レギュレータ回路の動作例を示すタイミングチャートである。本実施形態(図26)は、第8の実施形態(図24)に対して、ポジティブエッジ検出器2401の代わりにパルス幅チェック機能付ポジティブエッジ検出器2601を設けたものである。以下、本実施形態が第8の実施形態と異なる点を説明する。図27は、図16に対応し、イネーブル信号CENがハイレベルのときには入力信号CKがクロック信号CK1と同じになり、イネーブル信号CENがローレベルのときには入力信号CKもローレベルになる。ポジティブエッジ検出器2601は、パルス幅Tw1より長いクロック停止期間602の後に、イネーブル信号CENのポジティブエッジを検出すると、ワンショットパルスのパルスXを出力する。これに対し、ポジティブエッジ検出器2601は、パルス幅Tw1より短いクロック停止期間601の後に、イネーブル信号CENのポジティブエッジを検出した時には、ローレベルのパルスXを維持する。
図28は図26のポジティブエッジ検出器2601の構成例を示す図であり、図29は図28のポジティブエッジ検出器2601の動作例を示すタイミングチャートである。以下、図28のポジティブエッジ検出器2601の構成が図17のクロックパルス検出回路1502の構成と異なる点を説明する。イネーブル信号CENは、ポジティブエッジ検出器701に入力される。インバータ1704は、イネーブル信号CENの論理反転信号を出力する。論理積回路1705は、インバータ1704の出力信号及び信号N5の論理積信号を、カウンタ1707のリセットバー端子RBに出力する。パルス幅Tw1より短いクロック停止期間601では、イネーブル信号CENがローレベルになり、時刻T6においてイネーブル信号CENが立ち上がっても、パルスXはローレベルを維持する。これに対し、パルス幅Tw1より長いクロック停止期間602では、イネーブル信号CENがローレベルになり、時刻T9においてイネーブル信号CENが立ち上がると、パルスXはワンショットパルスになる。なお、パルス幅Tw1は、例えば8である。
(第10の実施形態)
図30は、本発明の第10の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。本実施形態(図30)は、第5の実施形態(図15)に対して、nチャネル電界効果トランジスタ305の代わりに電界効果トランジスタ3002,3003及びインバータ3001を設けたものである。以下、本実施形態が第5の実施形態と異なる点を説明する。インバータ3001は、パルスZの論理反転信号を出力する。nチャネル電界効果トランジスタ3002は、ゲートがパルスZのノードに接続され、ソースが基準電位GNDのノードに接続され、ドレインがpチャネル電界効果トランジスタ304のゲートに接続される。pチャネル電界効果トランジスタ3003は、ゲートがインバータ3001の出力端子に接続され、ソースがpチャネル電界効果トランジスタ304のゲートに接続され、ドレインが基準電位GNDのノードに接続される。電界効果トランジスタ3002及び3003は、CMOSトランスファゲート(第1のスイッチ)を構成し、図15のnチャネル電界効果トランジスタ305と同じ機能を有する。本実施形態の動作は、第5の実施形態の動作と同じである。
(第11の実施形態)
図31は、本発明の第11の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。本実施形態(図31)は、第10の実施形態(図30)に対して、電界効果トランジスタ3101及び3102を追加したものである。以下、本実施形態が第10の実施形態と異なる点を説明する。nチャネル電界効果トランジスタ3101は、ゲートがインバータ3001の出力端子に接続され、ドレインがエラーアンプ303の出力端子に接続され、ソースがpチャネル電界効果トランジスタ304のゲートに接続される。pチャネル電界効果トランジスタ3102は、ゲートがパルスZのノードに接続され、ソースがエラーアンプ303の出力端子に接続され、ドレインがpチャネル電界効果トランジスタ304のゲートに接続される。電界効果トランジスタ3101及び3102は、CMOSトランスファゲートを構成する。CMOSトランスファゲート(第2のスイッチ)3101,3102は、パルスZを制御信号として、エラーアンプ303の出力端子及びnチャネル電界効果トランジスタ304のゲートの間を切断する。
図30のように、エラーアンプ303の出力端子からpチャネル電界効果トランジスタ304のゲートに接続された状態で、pチャネル電界効果トランジスタ304のゲートを基準電位GNDのノードに接続すると、エラーアンプ303から不要な貫通電流が流れてしまい、電力損失となってしまう。本実施形態では、電界効果トランジスタ3002及び3003がオンし、pチャネル電界効果トランジスタ304のゲートを基準電位GNDのノードに接続するときには、電界効果トランジスタ3101及び3102をオフすることにより、pチャネル電界効果トランジスタ304のゲートをエラーアンプ303の出力端子から切り離す。これにより、エラーアンプ303からの不要な貫通電流を防止し、電力損失を防止することができる。
(第12の実施形態)
図32は、本発明の第12の実施形態による電圧レギュレータ回路の構成例を示す図である。本実施形態(図32)は、第5の実施形態(図15)に対して、nチャネル電界効果トランジスタ305の代わりにnチャネル電界効果トランジスタ(第1のスイッチ)3201を設けたものである。以下、本実施形態が第5の実施形態と異なる点を説明する。nチャネル電界効果トランジスタ3201は、ゲートが論理和回路504の出力端子に接続され、ソースが基準電位GNDのノードに接続され、ドレインがノードN12に接続される。パルスZがハイレベルになると、nチャネル電界効果トランジスタ3201がオンし、エラーアンプ303の正入力端子が基準電位GNDになり、パルスBがローレベルになる。逆に、パルスZがローレベルになると、nチャネル電界効果トランジスタ3201がオフする。エラーアンプ303は、正入力端子の電圧レベルが負入力端子の電圧レベルより高ければハイレベルを、低ければローレベルを出力する。ゆえに、エラーアンプ303の正入力端子がローレベルに落ちれば、エラーアンプ303の出力端子はローレベルに落ちる。nチャネル電界効果トランジスタ3201は、パルスZを制御信号として、nチャネル電界効果トランジスタ304のゲートを強制的に基準電位(第1の電位)GNDにする。これにより、本実施形態は、第5の実施形態と同様の動作を行うことができる。
なお、第1〜第12の実施形態では、第2の電界効果トランジスタ305,3201がnチャネル電界効果トランジスタであり、第1の電界効果トランジスタ304がpチャネル電界効果トランジスタである場合について説明してきたが、第1の電界効果トランジスタ304がnチャネル電界効果トランジスタの場合は、第2の電界効果トランジスタ305,3201はpチャネル電界効果トランジスタになることは明らかである。
以上のように、第1〜第12の実施形態の電圧レギュレータ回路は、入力信号CKとしてクロック信号が入力された場合には、クロック信号の入力開始時のみ、第1の電界効果トランジスタ304のドレイン電圧Voutを上げることができるので、無駄な電力消費を防止し、安定した電源電位を供給することができる。
なお、上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
以上の実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
(付記1)
第1の回路の入力信号が第1の期間ではレベル変化せずにその後に前記第1の回路の入力信号のエッジを検出すると第2のレベルの出力から第1のレベルの出力に変化する第1のパルス発生器と、
前記第1のパルス発生器により出力されるパルスが第1のレベルになってから第2の期間までの間にパルスを出力する第2のパルス発生器と、
ソースが電源電位ノードに接続され、ドレインが前記第1の回路の電源電位端子に接続される第1の電界効果トランジスタと、
前記第2のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記第1の電界効果トランジスタのゲートを第1の電位にする第1のスイッチと
を有することを特徴とする電圧レギュレータ回路。
(付記2)
前記第1のパルス発生器は、前記第1の回路の入力信号のエッジを検出すると第1のレベルの出力を維持し、その後の第1の期間内にエッジが検出されないときには第2のレベルの出力を維持することを特徴とする付記1記載の電圧レギュレータ回路。
(付記3)
前記第1のスイッチは、前記第2のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記第1の電界効果トランジスタのゲートを第1の電位ノードに接続することを特徴とする付記1記載の電圧レギュレータ回路。
(付記4)
前記第1のスイッチは、前記第2のパルス発生器により出力されるパルスをゲートに入力し、ソースが第1の電位ノードに接続される第2の電界効果トランジスタを有し、
前記第1の電界効果トランジスタは、ゲートが前記第2の電界効果トランジスタのドレインに接続されることを特徴とする付記1記載の電圧レギュレータ回路。
(付記5)
さらに、前記第1の電界効果トランジスタのドレイン電圧又はそれに応じた電圧とリファレンス電圧との差電圧を前記第1の電界効果トランジスタのゲートに出力するエラーアンプを有することを特徴とする付記1記載の電圧レギュレータ回路。
(付記6)
前記第2のパルス発生器は、前記第1のパルス発生器により出力されるパルスが第1のレベルになってからカウンタによる第2の期間経過までの間にパルスを出力することを特徴とする付記1記載の電圧レギュレータ回路。
(付記7)
前記第2のパルス発生器は、前記第1のパルス発生器により出力されるパルスが第1のレベルになってから前記第1の電界効果トランジスタのドレイン電圧が第1の電圧を超えるまでの間にパルスを出力することを特徴とする付記1記載の電圧レギュレータ回路。
(付記8)
さらに、前記第1の回路のリセット信号が変化してから第3の期間までの間にパルスを出力する第3のパルス発生器を有し、
前記第1のスイッチは、前記第2のパルス発生器により出力されるパルス及び前記第3のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記第1の電界効果トランジスタのゲートを強制的に第1の電位にすることを特徴とする付記1記載の電圧レギュレータ回路。
(付記9)
前記第3のパルス発生器は、前記第1の回路のリセット信号が変化してからカウンタによる第3の期間経過までの間にパルスを出力することを特徴とする付記8記載の電圧レギュレータ回路。
(付記10)
前記第3のパルス発生器は、前記第1の回路のリセット信号が変化してから前記第1の電界効果トランジスタのドレイン電圧が第1の電圧を超えるまでの間にパルスを出力することを特徴とする付記8記載の電圧レギュレータ回路。
(付記11)
前記第2の電界効果トランジスタは、nチャネル電界効果トランジスタであり、ソースが基準電位ノードに接続され、
前記第1の電界効果トランジスタは、pチャネル電界効果トランジスタであり、
前記第2のパルス発生器は、前記第1のパルス発生器により出力されるパルスが第1のレベルになってから第2の期間までの間にハイレベルのパルスを前記第2の電界効果トランジスタのゲートに出力することを特徴とする付記4記載の電圧レギュレータ回路。
(付記12)
前記第1のパルス発生器は、前記第1の期間をカウントするカウンタを有することを特徴とする付記1記載の電圧レギュレータ回路。
(付記13)
さらに、前記第2の電界トランジスタのドレイン電圧を抵抗分割するための抵抗を有し、
前記エラーアンプは、前記抵抗により抵抗分割された電圧とリファレンス電圧との差電圧を前記第1の電界効果トランジスタのゲートに出力することを特徴とする付記5記載の電圧レギュレータ回路。
(付記14)
前記第1のスイッチは、前記第2のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記抵抗により抵抗分割された電圧のノードを第1の電位ノードに接続することを特徴とする付記13記載の電圧レギュレータ回路。
(付記15)
さらに、前記第2のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記エラーアンプの出力端子及び前記第1の電界効果トランジスタのゲートの間を切断する第2のスイッチを有し、
前記第1のスイッチは、前記第2のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記第1の電界効果トランジスタのゲートを第1の電位ノードに接続することを特徴とする付記5記載の電圧レギュレータ回路。
(付記16)
さらに、複数の前記第1の回路の入力信号のエッジをそれぞれ検出する複数の前記第1のパルス発生器と、
前記複数の第1のパルス発生器により出力されるパルスの論理和パルスを出力する論理和回路とを有し、
前記第2のパルス発生器は、前記論理和回路により出力される論理和パルスが第1のレベルになってから第2の期間までの間にパルスを出力することを特徴とする付記1記載の電圧レギュレータ回路。
(付記17)
前記第1のパルス発生器は、ポジティブエッジ検出器、リング発振器、カウンタ、D型フリップフロップ及び比較器を有し、
前記第2のパルス発生器は、リング発振器、カウンタ、D型フリップフロップ及び比較器を有することを特徴とする付記1記載の電圧レギュレータ回路。
(付記18)
さらに、クロック信号及びイネーブル信号の論理積信号を前記第1の回路の入力信号として出力する論理積回路を有し、
前記第1のパルス発生器は、前記イネーブル信号を基に前記第1の回路の入力信号のエッジを検出することを特徴とする付記1記載の電圧レギュレータ回路。
301,302 直流電源
303 エラーアンプ
304 第1の電界効果トランジスタ
305 第2の電界効果トランジスタ
306 第1の半導体回路
307 第1のパルス発生器
308 第2のパルス発生器
311 バッファ

Claims (10)

  1. 第1の回路の入力信号が第1の期間ではレベル変化せずにその後に前記第1の回路の入力信号のエッジを検出すると第2のレベルの出力から第1のレベルの出力に変化する第1のパルス発生器と、
    前記第1のパルス発生器により出力されるパルスが第1のレベルになってから第2の期間までの間にパルスを出力する第2のパルス発生器と、
    ソースが電源電位ノードに接続され、ドレインが前記第1の回路の電源電位端子に接続される第1の電界効果トランジスタと、
    前記第2のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記第1の電界効果トランジスタのゲートを第1の電位にする第1のスイッチと
    を有することを特徴とする電圧レギュレータ回路。
  2. 前記第1のスイッチは、前記第2のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記第1の電界効果トランジスタのゲートを第1の電位ノードに接続することを特徴とする請求項1記載の電圧レギュレータ回路。
  3. 前記第1のスイッチは、前記第2のパルス発生器により出力されるパルスをゲートに入力し、ソースが第1の電位ノードに接続される第2の電界効果トランジスタを有し、
    前記第1の電界効果トランジスタは、ゲートが前記第2の電界効果トランジスタのドレインに接続されることを特徴とする請求項1又は2記載の電圧レギュレータ回路。
  4. さらに、前記第1の電界効果トランジスタのドレイン電圧又はそれに応じた電圧とリファレンス電圧との差電圧を前記第1の電界効果トランジスタのゲートに出力するエラーアンプを有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の電圧レギュレータ回路。
  5. さらに、前記第1の回路のリセット信号が変化してから第3の期間までの間にパルスを出力する第3のパルス発生器を有し、
    前記第1のスイッチは、前記第2のパルス発生器により出力されるパルス及び前記第3のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記第1の電界効果トランジスタのゲートを強制的に第1の電位にすることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の電圧レギュレータ回路。
  6. さらに、前記第2の電界トランジスタのドレイン電圧を抵抗分割するための抵抗を有し、
    前記エラーアンプは、前記抵抗により抵抗分割された電圧とリファレンス電圧との差電圧を前記第1の電界効果トランジスタのゲートに出力することを特徴とする請求項4記載の電圧レギュレータ回路。
  7. 前記第1のスイッチは、前記第2のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記抵抗により抵抗分割された電圧のノードを第1の電位ノードに接続することを特徴とする請求項6記載の電圧レギュレータ回路。
  8. さらに、前記第2のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記エラーアンプの出力端子及び前記第1の電界効果トランジスタのゲートの間を切断する第2のスイッチを有し、
    前記第1のスイッチは、前記第2のパルス発生器により出力されるパルスを制御信号として、前記第1の電界効果トランジスタのゲートを第1の電位ノードに接続することを特徴とする請求項4記載の電圧レギュレータ回路。
  9. さらに、複数の前記第1の回路の入力信号のエッジをそれぞれ検出する複数の前記第1のパルス発生器と、
    前記複数の第1のパルス発生器により出力されるパルスの論理和パルスを出力する論理和回路とを有し、
    前記第2のパルス発生器は、前記論理和回路により出力される論理和パルスが第1のレベルになってから第2の期間までの間にパルスを出力することを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の電圧レギュレータ回路。
  10. さらに、クロック信号及びイネーブル信号の論理積信号を前記第1の回路の入力信号として出力する論理積回路を有し、
    前記第1のパルス発生器は、前記イネーブル信号を基に前記第1の回路の入力信号のエッジを検出することを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の電圧レギュレータ回路。
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