JP2011033397A - プローブカード - Google Patents
プローブカード Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011033397A JP2011033397A JP2009177892A JP2009177892A JP2011033397A JP 2011033397 A JP2011033397 A JP 2011033397A JP 2009177892 A JP2009177892 A JP 2009177892A JP 2009177892 A JP2009177892 A JP 2009177892A JP 2011033397 A JP2011033397 A JP 2011033397A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- reinforcing
- probe
- probe card
- screw
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
【構成】 このプローブカードは、ST基板300と、ST基板300の上面側に間隔を空けて平行に配置されたメイン基板100と、ST基板300の下面に設けられたプローブユニット800と、ICピン400と、補強枠500とを備えている。補強枠500は、ST基板300の上面に樹脂R1で固着され且つ略平行に配置された第1、第2の補強部材500a、500bを有する。ICピン400は、第1、第2の補強部材500a、500bの間に配置され、ST基板300とメイン基板100との間を接続する。
【選択図】 図1
Description
130・・・孔部
200・・・・補強板
210・・・上側凹部
230・・・下側凹部
230・・・連通孔
300・・・・ST基板(配線基板)
400・・・・ICピン(中継部材)
500・・・・補強枠
500a・・・第1の補強部材
521a・・凹部
522a・・挿入孔
500b・・・第2の補強部材
600・・・・支持ポスト
610・・・円筒部
620・・・スペーサ
630・・・座金
640・・・上側ネジ
650・・・下側ネジ
700・・・・支持部材
800・・・・プローブユニット
810・・・プローブ基板
820・・・プローブ
Claims (6)
- 第1面及び第1面の裏側の第2面を有する配線基板と、
前記配線基板の第1面側に間隔を空けて平行に配置されたメイン基板と、
前記配線基板と前記メイン基板を接続する複数の中継部材と、
前記配線基板の第2面に固着されたプローブ基板と、
このプローブ基板に設けられたプローブと、
高さ寸法が前記配線基板と前記メイン基板の間隔よりも小さい補強部材を有する補強枠とを備えており、
前記補強枠は、前記配線基板の第1面に樹脂により固着されており、
前記中継部材は、間隔を空けて隣り合う前記補強部材の間に配置されていることを特徴とするプローブカード。 - 請求項1記載のプローブカードにおいて、
前記メイン基板には補強板が取り付けられており、
柱状の支持ポストが前記補強板と前記補強枠の補強部材とを繋いでいることを特徴とするプローブカード。 - 請求項1記載のプローブカードにおいて、
前記補強枠の補強部材は、互いに平行に配置されていることを特徴とするプローブカード。 - 請求項1記載のプローブカードにおいて、
前記補強枠の補強部材は、方形に配置されていることを特徴とするプローブカード。 - 請求項1記載のプローブカードにおいて、
前記補強枠の補強部材は、同心円状に配置されていることを特徴とするプローブカード。 - 請求項1記載のプローブカードにおいて、
前記補強枠の補強部材は、放射状に配置されていることを特徴とするプローブカード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009177892A JP5280958B2 (ja) | 2009-07-30 | 2009-07-30 | プローブカード |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009177892A JP5280958B2 (ja) | 2009-07-30 | 2009-07-30 | プローブカード |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013108560A Division JP5643876B2 (ja) | 2013-05-23 | 2013-05-23 | プローブカード |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011033397A true JP2011033397A (ja) | 2011-02-17 |
JP5280958B2 JP5280958B2 (ja) | 2013-09-04 |
Family
ID=43762625
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009177892A Expired - Fee Related JP5280958B2 (ja) | 2009-07-30 | 2009-07-30 | プローブカード |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5280958B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013167461A (ja) * | 2012-02-14 | 2013-08-29 | Micronics Japan Co Ltd | 電気的接続装置及びその組立方法 |
KR101765463B1 (ko) * | 2015-08-11 | 2017-08-23 | 주식회사 영우디에스피 | 디스플레이 패널 검사용 프로브 유닛 클램핑 장치 |
CN108074511A (zh) * | 2016-11-09 | 2018-05-25 | 永友Dsp有限公司 | 显示面板检测用探针单元的夹紧装置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7491809B2 (ja) | 2020-10-26 | 2024-05-28 | 五洋建設株式会社 | 構造物のひび割れの長さ特定方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002313856A (ja) * | 2001-04-12 | 2002-10-25 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体素子試験装置およびこれを用いた半導体素子試験方法 |
JP2007003334A (ja) * | 2005-06-23 | 2007-01-11 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体およびこれを用いた電気的接続装置 |
WO2007066622A1 (ja) * | 2005-12-05 | 2007-06-14 | Nhk Spring Co., Ltd. | プローブカード |
-
2009
- 2009-07-30 JP JP2009177892A patent/JP5280958B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002313856A (ja) * | 2001-04-12 | 2002-10-25 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体素子試験装置およびこれを用いた半導体素子試験方法 |
JP2007003334A (ja) * | 2005-06-23 | 2007-01-11 | Micronics Japan Co Ltd | プローブ組立体およびこれを用いた電気的接続装置 |
WO2007066622A1 (ja) * | 2005-12-05 | 2007-06-14 | Nhk Spring Co., Ltd. | プローブカード |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013167461A (ja) * | 2012-02-14 | 2013-08-29 | Micronics Japan Co Ltd | 電気的接続装置及びその組立方法 |
KR101765463B1 (ko) * | 2015-08-11 | 2017-08-23 | 주식회사 영우디에스피 | 디스플레이 패널 검사용 프로브 유닛 클램핑 장치 |
CN108074511A (zh) * | 2016-11-09 | 2018-05-25 | 永友Dsp有限公司 | 显示面板检测用探针单元的夹紧装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5280958B2 (ja) | 2013-09-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4695447B2 (ja) | プローブ組立体およびこれを用いた電気的接続装置 | |
KR101025895B1 (ko) | 프로브 카드 | |
TWI814768B (zh) | 懸臂式接觸探針及相應的探針頭 | |
JP5629611B2 (ja) | 接触子及び電気的接続装置 | |
EP1879035A1 (en) | Probe Card | |
US7554348B2 (en) | Multi-offset die head | |
JP4884753B2 (ja) | 導電性接触子ユニットおよび導電性接触子 | |
JP5280958B2 (ja) | プローブカード | |
TWI396846B (zh) | 探針卡 | |
TWI727162B (zh) | 電子裝置的測試設備的探針卡 | |
WO2012124209A1 (ja) | 半導体モジュールおよびその製造方法 | |
KR20070115998A (ko) | 웨이퍼 테스트 장치용 프로브 | |
KR20060080678A (ko) | 반도체 검사용 프로브 카드 | |
WO2008015962A1 (fr) | Mécanisme de réglage du parallélisme d'une carte sonde | |
JP2008164618A (ja) | プローブカード | |
TWI815846B (zh) | 懸臂式探針頭及對應的接觸探針 | |
KR101120405B1 (ko) | 프로브 블록 조립체 | |
WO2010095521A1 (ja) | プローブカード | |
JP5643876B2 (ja) | プローブカード | |
JPWO2008133089A1 (ja) | 導電性接触子ユニット | |
KR20090006431A (ko) | 평탄화 수단을 구비한 프로브 카드 | |
KR101600019B1 (ko) | 프로브 기판 및 이를 포함하는 프로브 카드 | |
JP2010210478A (ja) | プローブカード | |
JP2011089815A (ja) | プローブカード | |
KR101441015B1 (ko) | 웨이퍼 칩 검사용 프로브 카드 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120601 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130417 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130423 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130523 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |