JP2011028549A - X−y直交2軸駆動機構 - Google Patents

X−y直交2軸駆動機構 Download PDF

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【課題】ロストモーションが最も顕現化する側にリニアスケールを配置してロストモーションを補正することができるようにしたX−Y直交2軸駆動機構の提供。
【解決手段】一側駆動ユニット13と、ワーク部材30であるコンタクトピン31を備えて一側駆動ユニット13に搭載される他側駆動ユニット23とからなり、一側駆動ユニット13が備える一対の一側リニアガイド18,19のうち、ロストモーションが最も顕現化する側にある一側リニアガイド19の内側近傍位置には、予め定めてある原点位置との関係でコンタクトピン31の実座標位置を理論座標位置に一致させるためのパルス指令を発するリニアスケール33を設置し、該パルス指令により一側駆動ユニット13が備える一側サーボモータ15の回転を制御することで、コンタクトピン31の位置をロストモーションを加味して調整可能とした。
【選択図】図1

Description

本発明は、基板検査装置が備えるコンタクトピンや各種の工作機械が備えるスライドテーブルなどのワーク部材を、X−Y方向に正確に移動させる際に不可避的に発生するロストモーションを容易に補正できるようにしたX−Y直交2軸駆動機構に関する発明である。
例えば基板検査装置においては、可動エリア内に被検査基板を定置させた上で、検査ポイントとの関係で定まるX−Y方向にコンタクトピンを正確に移動させた上で、該コンタクトピンをZ軸方向に移動させて所定の検査ポイントに正確に接触させることができるX−Y直交2軸駆動機構を備えている。
図4は、基板検査装置が備えるX−Y直交2軸駆動機構の従来例を示す平面図である。同図によれば、X−Y直交2軸駆動機構102は、装置本体101側に配設されるY軸ユニット103と、該Y軸ユニット103を介して配置されるX軸ユニット113とで構成されている。
このうち、Y軸ユニット103は、Y軸サーボモータ104側にカップリング105を介して連結されるY軸ボールネジ106と、該Y軸ボールネジ106を間においてその長さ方向での両側に配列される一対のY軸リニアガイド107,108と、Y軸ボールネジ106の回転運動を受けてY軸リニアガイド107,108に案内されて進退するY軸起動ベース109とで形成されている。
また、X軸ユニット113は、X軸サーボモータ114側にカップリング115を介して連結されるX軸ボールネジ116と、該X軸ボールネジ116の長さ方向に沿わせて配置されるX軸リニアガイド117とをY軸駆動ベース109上に搭載させるとともに、X軸ボールネジ116の回転運動を受けてX軸リニアガイド117に案内されて進退するX軸起動ベース118を配設してその全体が形成されている。
しかも、X軸起動ベース118の先端部118a側には、Z軸方向への移動が可能なコンタクトピン119が取り付けられており、該コンタクトピン119の接触端119aを可動エリアE内に定置されている被検査基板Pの所定ポイントに接触させることができるようになっている。
ところで、図4に示す可動エリアE内におけるコンタクトピン119のX−Y方向での移動精度は、構成部材であるY軸ボールネジ106、X軸ボールネジ116、一対のY軸リニアガイド107,108およびX軸リニアガイド117自体の加工精度に依存するほか、全体の組み付け精度にも依存することになる。
このため、高精度に加工された構成部材をいかに精度よく組み付けたとしても、X軸ボールネジ116を回転させてコンタクトピン119の接触端119aを図5に示すようにa点位置からb点方向へとX軸方向に移動させた際には、一対のY軸リニアガイド107,108のボールの変形やY軸起動ベース109の剛性等に起因するロストモーションが発生して傾きが生ずることから、出発点であるa点位置からb点側の移動後の位置との間にどうしても差が生じ、この差分を予め理論値に取り込んだ上でb点位置へと移動させなければならないという煩雑さがあった。
このため、このようなロストモーションの発生に対しては、例えば下記特許文献1に開示されているようなロストモーション補正値設定方法などによりその対応が図られることになる。
特開2001−166805号公報
すなわち、上記特許文献1の開示技術によれば、機械位置を検出する位置検出スケールが出力する機械位置信号と送り駆動用のサーボモータの回転角度を検出するロータリエンコーダが出力するモータ位置信号の双方を用いて位置ループ制御を行うに際して、テストプログラムを実行して前記機械位置信号と前記モータ位置信号との差を演算して誤差を求め、該誤差の行き側の平均値と戻り側の平均値との差を演算し、該差分を動的なロストモーション補正値として保存して自動設定できるようになっている。
しかし、上記特許文献1の開示手法による場合には、ボールネジと位置検出スケールとに熱的な影響を共有させて同じ線膨張環境のもとにおいておく必要があることから、ボールネジの近傍に位置検出スケール(リニアスケール)を配置しておかなければならないという設計上の不自由さがあるほか、その駆動系を制御する動作ソフトも複雑になるという不都合があった。
本発明は、従来技術の上記課題に鑑み、ロストモーションが最も顕現化する側にリニアスケールを配置してロストモーションを補正することができるようにしたX−Y直交2軸駆動機構を提供することに目的がある。
本発明は、上記目的を達成すべくなされたものであり、一側サーボモータを介して回転制御される一側ボールネジと、該一側ボールネジを間においてその長さ方向での両側に配列させた一対の一側リニアガイドとを装置本体側に配設し、前記一側ボールネジの回転運動を受けながら前記一側リニアガイドに沿っての進退移動を可能に一側起動ベースを配設してなる一側駆動ユニットと、他側サーボモータを介して回転制御される他側ボールネジと、該他側ボールネジの長さ方向に沿わせて配列される1本の他側リニアガイドとを前記一側起動ベース上に搭載させ、正確な位置決めを要するワーク部材を備える他側起動ベースを前記他側ボールネジの回転運動を受けながら前記他側リニアガイドに沿っての進退移動を可能に配設してなる他側駆動ユニットとからなるX−Y直交2軸駆動機構において、一対の前記一側リニアガイドのうち、ロストモーションの発生が最も顕現化する前記一側ボールネジからより離間させた側にある前記一側リニアガイドの内側近傍位置には、予め定めてある原点位置との関係で前記ワーク部材の実座標位置を理論座標位置に一致させるためのパルス指令を発するリニアスケールを設置し、前記パルス指令により前記一側サーボモータの回転を制御して前記ロストモーションを加味しての前記ワーク部材の位置調整を可能としたことを最も主要な特徴とする。
この場合、前記リニアスケールは、前記一側リニアガイドの内側近傍位置にその長さ方向が平行となるようにして前記装置本体側に設置される標準尺と、該標準尺の設置位置との関係で定まる前記一側起動ベースの対応部位に設置される検出素子とで構成するのが好ましい。
また、前記ワーク部材は、Z軸方向での移動が可能なコンタクトピンとして配設するのが望ましい。
本発明によれば、ロストモーションの発生が最も顕現化する側にリニアスケールを配設し、予め定めてある原点位置との関係でワーク部材の実座標位置を理論座標位置に一致させるためのパルス指令を出すことができるので、該パルス指令に基づいて一側サーボモータを駆動させることでワーク部材を常に移動指示座標へと正確に移動させることができる。
また、ワーク部材がコンタクトピンであれば、被検査基板の検査ポイントに対し常に正確にその接触端を接触させて検査を行うことができる。
本発明の一例を示す平面図。 本発明におけるワーク部材の移動指示位置と実移動位置との関係を示す説明図。 図2との関係で実施されるロストモーションの補正処理手順の一例を示すフローチャート図。 従来からあるX−Y直交2軸駆動機構の構成例を示す平面図。 図4に示すX−Y直交2軸駆動機構におけるロストモーション発生のメカニズムを示す説明図。
図1は、本発明に係るX−Y直交2軸駆動機構を基板検査装置に適用した場合の一例を示す要部平面図であり、X−Y直交2軸駆動機構12は、装置本体11側に配設される一側駆動ユニット13と、該一側駆動ユニット13を介して配置される他側駆動ユニット23とで構成されている。
すなわち、図示例ではY軸駆動ユニット14として示される一側駆動ユニット13は、一側サーボモータ15側に一側カップリング16を介して連結される一側ボールネジ17と、該一側ボールネジ17を間においてその長さ方向での両側に配列させた一対の一側リニアガイド18,19とを装置本体11側に配設し、一側ボールネジ17の回転運動を受けながら一対の一側リニアガイド18,19に沿ったY軸方向での進退移動を可能に一側起動ベース20を配設することで、その全体が形成されている。
この場合、図1にあって一側ボールネジ17の外側方向である右側近傍位置には、一方の一側リニアガイド18が配置され、図1にあって一側ボールネジ17の内側方向である左側離間位置には、他方の一側リニアガイド19が配置されている。
これにより、一側ボールネジ17と他方の一側リニアガイド19との間には、後述するワーク部材30としてのコンタクトピン31の他側方向であるX軸方向での可動距離が確保されることになる。
また、図示例ではX軸駆動ユニット24として示される他側駆動ユニット23は、他側サーボモータ25側に他側カップリング26を介して連結される他側ボールネジ27と、該他側ボールネジ27の長さ方向に沿わせて配列される1本の他側リニアガイド28とを一側起動ベース20上に搭載させ、他側起動ベース29を他側ボールネジ27の回転運動を受けながら他側リニアガイド28に沿ったX軸方向での進退移動を可能に配設することで、その全体が形成されている。
しかも、他側起動ベース29における進出方向での先端部29a側には、ワーク部材30としてZ軸方向での進退移動が可能なコンタクトピン31が取り付けられており、一側起動ベース20のY軸方向での可動間隔と、他側起動ベース29のX軸方向での可動間隔とにより規定される可動エリアE内に定置されている被測定基板Pの所定ポイントにその接触端31aを接触させることができるようになっている。
また、一対の一側リニアガイド18,19のうち、ロストモーションの発生が最も顕現化する一側ボールネジ17からより離間させた側にある他方の一側リニアガイド19の内側近傍位置には、予め定めてある原点位置との関係で他側起動ベース29側の実座標値を理論座標値と一致させるためのパルス指令を発するリニアスケール33が設置されている。
そして、該リニアスケール33は、図1および図2からも明らかなように、他方の一側リニアガイド19の内側近傍位置にその長さ方向が平行となるようにして装置本体11側に設置される標準尺34と、該標準尺34の直上に位置する一側起動ベース20に設置される検出素子35とで構成されている。
この場合、標準尺34は、光学的または磁気的方法で目盛りが付けられて作成されており、したがって、検出素子35の側も標準尺34が光学的方法で目盛りが付けられていれば光電センサが、標準尺34が磁気的方法で目盛りが付けられていれば磁電センサがそれぞれ用いられることになる。
このため、ワーク部材30であるコンタクトピン31は、リニアスケール33が発するパルス指令により一側サーボモータ15の回転を制御することで、Y軸方向での位置を調整することで、ロストモーション発生に伴うX軸方向での位置を補正することができることになる。
次に、図1に示すX−Y直交2軸駆動機構12に適用して実施されるロストモーションの具体的な補正手法を、図2および図3を参照して以下に説明する。
まず、リニアスケール33を構成している標準尺34には、まず、基準となるべき原点位置A(図2では、可動エリアE内の左下隅の目盛り位置)が決められる。
標準尺34の原点位置Aを決めた後は、一側起動ベース20が標準尺34の直上位置に備える検出素子35が原点位置A上に位置するように一側駆動ユニット13を駆動制御し、検出素子35に原点位置Aを認識させ、この位置がX−Y直交2軸駆動機構12上の原点となる。
X−Y直交2軸駆動機構12は、このようにして検出素子35に原点位置Aを認識させた後に、被検査基板Pに対する実際の計測作業に移行することになる。
実際の使用に際しては、任意の座標位置への移動指示、例えば図2に示す例によれば、X軸方向の移動指示値xとY軸方向の移動指示値yにより定まる移動指示座標(x,y)への移動指示を、一側サーボモータ15と他側サーボモータ25とのそれぞれのエンコーダのパルス指令として出し、一側駆動ユニット13と他側駆動ユニット23とを駆動させることで、ワーク部材30としてのコンタクトピン31の接触端31aが理論位置である移動指示座標(x,y)に位置するように移動させる。
しかし、X−Y直交2軸駆動機構12は、ロストモーションを発生させるため、コンタクトピン30の接触端30aもロストモーションの値(R)との関係で実際には実座標位置(x,y)へと移動することになる。
このとき、移動指示座標(x,y)と実座標位置(x,y)とが一致(パルス指令による理論位置と標準尺34から検出素子35が読み取った座標とが一致)していたり、一致せずとも無視し得る程度に微小である場合には、コンタクトピン30をZ軸方向に移動させ、その接触端30aを図1に正方格子状に示される被検査基板Pの計測ポイントにプロービングして計測を開始する。
一方、被検査基板Pの計測ポイントがロストモーションの値(R)が最も顕現化する他方の一側リニアガイド19寄りに位置するなどして、理論位置である移動指示座標(x,y)と実座標位置(x,y)とが無視し得ない程度に不一致(パルス指令による理論位置と標準尺34から検出素子35が読み取った座標とが無視し得ない程度に不一致)である場合には、X軸方向が原点位置Aにあった状態よりも傾いていることが判明するため、実座標が理論座標と一致するようなパルス指令を出す。つまり、(Y軸方向における移動指示値yから実移動値yを減じた数値)が、(ロストモーションの値R×X軸方向での移動指示値x)を(X軸方向での原点位置Aの原点値x)で除した数値と一致するようなパルス指令を出す。
Y軸駆動ユニット14である一側駆動ユニット13は、上記パルス指令を受けて駆動することで、一側サーボモータ15からの回転運動が一側ボールネジ17を介して一側起動ベース20をY軸方向に移動させ、該一側起動ベース20に搭載されている他側移動ベース29が備えるコンタクトピン30の接触端30aもロストモーションを補正するためにそのX軸方向(他側ボールネジ27側の長さ方向)をY軸方向に沿わせて理想位置へと移動させることができることになる。
つまり、他側移動ベース29が備えるコンタクトピン30の接触端30aは、ロストモーションの値Rを加味してその座標位置を補正することができ、しかる後にコンタクトピン30をZ軸方向に移動させ、その接触端30aを被検査基板の計測ポイントに接触させて計測を開始することができることになる。
以上は、本発明を図示例に基づいて説明したものであり、その具体的な構成は、これに限定されるものではない。例えば、一側駆動ユニット14は、Y軸駆動ユニット13を例に説明してあるが、X軸駆動ユニット23として配置することができ、その場合は、他側駆動ユニット24がY軸駆動ユニット13として配置されることになる。
また、ワーク部材30については、コンタクトピン31を例に説明してあるが、罫書き部材などのように正確に位置決めして移動させる必要があるものでさえあれば、各種のものを用いることができる。
本発明に係るX−Y直交2軸駆動機構は、ワーク部材として基板検査装置が備える検査用のコンタクトピンを可動エリアE内のX−Y方向に移動させる際に特に好適に適用することができるものの、各種の工作機械が備える長軸で高い精度出しが要求されるスライドテーブル等のワーク部材におけるロストモーションを補正する際にも効果的に適用することができる。
11 装置本体
12 X−Y直交2軸駆動機構
13 一側駆動ユニット
14 Y軸駆動ユニット
15 一側サーボモータ
16 一側カップリング
17 一側ボールネジ
18,19 一側リニアガイド
20 一側起動ベース
23 他側駆動ユニット
24 X軸駆動ユニット
25 他側サーボモータ
26 他側カップリング
27 他側ボールネジ
28 他側リニアガイド
29 他側起動ベース
30 ワーク部材
31 コンタクトピン
31a 接触端
33 リニアスケール
34 標準尺
35 検出素子
A 原点位置
E 可動エリア
P 被検査基板

Claims (3)

  1. 一側サーボモータを介して回転制御される一側ボールネジと、該一側ボールネジを間においてその長さ方向での両側に配列させた一対の一側リニアガイドとを装置本体側に配設し、前記一側ボールネジの回転運動を受けながら前記一側リニアガイドに沿っての進退移動を可能に一側起動ベースを配設してなる一側駆動ユニットと、他側サーボモータを介して回転制御される他側ボールネジと、該他側ボールネジの長さ方向に沿わせて配列される1本の他側リニアガイドとを前記一側起動ベース上に搭載させ、正確な位置決めを要するワーク部材を備える他側起動ベースを前記他側ボールネジの回転運動を受けながら前記他側リニアガイドに沿っての進退移動を可能に配設してなる他側駆動ユニットとからなるX−Y直交2軸駆動機構において、
    一対の前記一側リニアガイドのうち、ロストモーションの発生が顕現化する前記一側ボールネジからより離間させた側にある前記一側リニアガイドの内側近傍位置には、予め定めてある原点位置との関係で前記他側起動ベース側の実座標位置を理論座標位置に一致させるためのパルス指令を発するリニアスケールを設置し、前記パルス指令により前記一側サーボモータの回転を制御して前記ロストモーションを加味しての前記ワーク部材の位置調整を可能としたことを特徴とするX−Y直交2軸駆動ユニット。
  2. 前記リニアスケールは、前記一側リニアガイドの内側近傍位置にその長さ方向が平行となるようにして前記装置本体側に設置される標準尺と、該標準尺の設置位置との関係で定まる前記一側起動ベースの対応部位に設置される検出素子とで構成した請求項1に記載のX−Y直交2軸駆動ユニット。
  3. 前記ワーク部材は、Z軸方向での移動が可能なコンタクトピンである請求項1または2に記載のX−Y直交2軸駆動ユニット。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03224003A (ja) * 1990-01-30 1991-10-03 Brother Ind Ltd 数値制御送り装置
JPH11237920A (ja) * 1998-02-19 1999-08-31 Toshiba Mach Co Ltd Nc工作機械の制御装置および位置決め制御方法
JP2001030136A (ja) * 1999-05-18 2001-02-06 Mitsubishi Electric Corp 移動装置
JP2003271214A (ja) * 2002-03-13 2003-09-26 Yaskawa Electric Corp 数値制御装置およびそのピッチエラー補正方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03224003A (ja) * 1990-01-30 1991-10-03 Brother Ind Ltd 数値制御送り装置
JPH11237920A (ja) * 1998-02-19 1999-08-31 Toshiba Mach Co Ltd Nc工作機械の制御装置および位置決め制御方法
JP2001030136A (ja) * 1999-05-18 2001-02-06 Mitsubishi Electric Corp 移動装置
JP2003271214A (ja) * 2002-03-13 2003-09-26 Yaskawa Electric Corp 数値制御装置およびそのピッチエラー補正方法

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