JP2011018862A - 露光処理方法、それを用いた露光装置、露光処理システム、デバイスの製造方法、情報処理装置、及び露光処理プログラム - Google Patents
露光処理方法、それを用いた露光装置、露光処理システム、デバイスの製造方法、情報処理装置、及び露光処理プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011018862A JP2011018862A JP2009164257A JP2009164257A JP2011018862A JP 2011018862 A JP2011018862 A JP 2011018862A JP 2009164257 A JP2009164257 A JP 2009164257A JP 2009164257 A JP2009164257 A JP 2009164257A JP 2011018862 A JP2011018862 A JP 2011018862A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- exposure
- scanning direction
- exposure processing
- substrate
- wafer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
【課題】走査露光処理を中断させることなく、基板上のショット領域において、両スキャン方向の同期精度を算出する。
【解決手段】原版を保持するレチクルステージと、基板を保持するウエハステージとを所定の走査方向に同期移動させて、基板に定義される配列を構成する複数の領域を露光する露光処理方法であって、複数の領域において露光処理を通して取得する装置情報を抽出する抽出工程S1と、走査方向が第1の走査方向で同期移動された領域における装置情報に基づいて、第2の走査方向で同期移動された領域における装置情報を補間するための補間値を算出する算出工程S4、S5とを有する。
【選択図】図5
【解決手段】原版を保持するレチクルステージと、基板を保持するウエハステージとを所定の走査方向に同期移動させて、基板に定義される配列を構成する複数の領域を露光する露光処理方法であって、複数の領域において露光処理を通して取得する装置情報を抽出する抽出工程S1と、走査方向が第1の走査方向で同期移動された領域における装置情報に基づいて、第2の走査方向で同期移動された領域における装置情報を補間するための補間値を算出する算出工程S4、S5とを有する。
【選択図】図5
Description
本発明は、露光処理方法、それを用いた露光装置、露光処理システム、デバイスの製造方法、情報処理装置、及び露光処理プログラムに関するものである。
露光装置は、半導体デバイスや液晶表示素子等の製造工程であるリソグラフィ工程において、原版(レチクルやマスク)のパターンを、投影光学系を介して感光性の基板(例えば、表面にレジスト層が形成されたウエハやガラスプレート等)に転写する装置である。この露光装置において、例えば、半導体デバイスの製造では、パターンの解像力の向上と重ね合わせ精度の向上が常に要求されている。更に、電子機器のライフサイクルの短期化に伴い、生産形態は、短期間で試作、量産開始が求められる多品種少量生産にシフトしている。この多品種少量生産では、生産性を向上させるために、更なる不良率の低減が求められている。
近年、半導体露光装置は、パターン解像力向上のため、レチクルを保持するステージとウエハを保持するステージを2つの走査方向(アップスキャン及びダウンスキャン)に同期移動させながら露光する走査露光装置が主流である。上記のような不良率低減を達成するためには、ショット領域レベルで同期精度を把握し、露光装置や生産工程、更には、デザインへのフィードバックに活用することが必要である。
しかしながら、走査露光装置では、アップスキャンとダウンスキャンがほぼ交互に実施されるため、1つのウエハ内にアップスキャンで露光したショット領域とダウンスキャンで露光したショット領域が混在する。したがって、このウエハ上の各位置におけるアップスキャンとダウンスキャンの同期精度を確認する作業においては、片方向のスキャンの結果しか得られない位置が存在するという問題がある。
そこで、従来、走査露光装置においては、同期精度の確認を行う専用の検査を実施しており、例えば、特許文献1は、評価により同期精度を確認する方法を開示している。
しかしながら、特許文献1の評価方法では、露光装置が半導体デバイスの生産を一旦中断して検査をする必要があり、生産時間のロスが生じていた。
本発明は、このような状況を鑑みてなされたものであり、走査露光処理を中断させることなく、ウエハ上のショット領域において、両スキャン方向の同期精度を算出する露光処理方法を提供する。
上記課題を解決するために、原版を保持するレチクルステージと、基板を保持するウエハステージとを所定の走査方向に同期移動させて、基板に定義される配列を構成する複数の領域を露光する露光処理方法であって、複数の領域において露光処理を通して取得する装置情報を抽出する抽出工程と、走査方向が第1の走査方向で同期移動された領域における装置情報に基づいて、第2の走査方向で同期移動された領域における装置情報を補間するための補間値を算出する算出工程とを有することを特徴とする。
本発明によれば、走査方向が第1の走査方向(例えば、アップスキャン)で同期移動された領域における装置情報に基づいて、第2の走査方向(例えば、ダウンスキャン)で同期移動された領域における装置情報を補間するための補間値を算出する。したがって、該補間値により同期精度を補正することができるので、全ショット領域において両スキャン方向で同期精度を計測する必要が無く、走査露光装置においてスキャン方向毎に計測をする所要時間を低減できる。
以下、本発明を実施するための形態について図面等を参照して説明する。
(露光装置)
図1は、本発明の実施形態に係る露光装置の構成を示す概略図である。以下、本発明の露光装置は、半導体デバイスを製造するための走査型露光装置に適用するものとして説明する。また、以下の図において、露光装置を構成する投影光学系の光軸に平行にZ軸を取り、該Z軸に垂直な平面内で走査露光時のレチクル(原版)及びウエハ(基板)の走査方向にY軸を取り、該Y軸に直交する非走査方向にX軸を取って説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る露光装置の構成を示す概略図である。以下、本発明の露光装置は、半導体デバイスを製造するための走査型露光装置に適用するものとして説明する。また、以下の図において、露光装置を構成する投影光学系の光軸に平行にZ軸を取り、該Z軸に垂直な平面内で走査露光時のレチクル(原版)及びウエハ(基板)の走査方向にY軸を取り、該Y軸に直交する非走査方向にX軸を取って説明する。
露光装置100は、まず、照明光学系1と、露光パターンが形成されたレチクル2と、該レチクル2を載置するレチクルステージ3と、投影光学系4と、被処理基板であるウエハ5と、該ウエハ5を載置するウエハステージ6とを備える。
照明光学系1は、光源7から導入される光束の形状及び光量分布を調整し、レチクル2を照明する装置である。照明光学系1は、例えば、コヒーレンスファクタ(σ値)を設定するための円形開口面積が異なる複数の開口絞り、輪帯照明用のリング形状絞り、4重極絞り、照明光量を調整するための機構(例えば、複数のNDフィルタ及びそれを切り替える機構)等を備える。更に、照明光学系1は、光量を計測する光量検出器、光束の形状を決定するスリット、照明範囲を確保するための、レチクル2と共役な位置に設置されたブラインド、及び該ブラインドを駆動する駆動機構等を備える。なお、照明光学系1及び光源7は、照明光学系制御系8の指令により制御される。
レチクルステージ3は、レチクル2を載置及び保持しつつ、光軸に直交する面内における直交する2つの軸方向(X、Y方向)に移動可能なステージ装置である。なお、レチクルステージ3のX、Y方向の位置、及び該X、Y方向の軸周り回転は、レチクルステージ計測系9により計測される。そして、レチクルステージ3は、レチクルステージ計測系9から提供される情報に基づいて、レチクルステージ制御系10の指令により制御される。
更に、照明光学系1とレチクルステージ3との間には、TTR(Through The Reticle)観察光学系11を備える。TTR観察光学系11は、レチクル2上のマーク、又はレチクルステージ3に設置されるステージ基準マークと、ウエハステージ6上のステージ基準マークとを、投影光学系4を介して同時に観測及び計測可能な方式を採用した観察光学系である。TTR観察光学系11は、レチクル2、レチクルステージ3、及びウエハステージ6のX、Y、Zの3方向の位置、及びX、Y、Z方向の軸周り回転を計測する。
投影光学系4は、レチクル2のパターンをウエハ5に所定の倍率(例えば4:1)で縮小投影するための装置である。投影光学系4は、開口数を設定するための開口数設定機構や、収差を補正するためのレンズ駆動機構等を備える。なお、投影光学系4は、投影光学系制御系12の指令により制御される。
ウエハステージ6は、ウエハ5を載置及び保持しつつ、投影光学系4の光軸方向(Z方向)と、光軸に直交する面内における直交する2つの軸方向(X、Y方向)に移動可能なステージ装置である。なお、ウエハ5の位置は、ウエハステージ計測系13及びアライメント計測系14により計測される。この場合、ウエハステージ計測系13は、例えば、X、Y、Z方向の位置、及び該X、Y、Z方向の軸周り回転を計測する。また、アライメント計測系14は、Z方向におけるウエハ5の表面位置を計測する。そして、ウエハステージ6は、ウエハステージ計測系13及びアライメント計測系14から提供される情報に基づいて、ウエハステージ制御系15の指令により制御される。
更に、ウエハステージ6の近傍には、ウエハ5の表面を非露光光で観察及び計測することが可能なオフアクシス観察光学系16を備える。オフアクシス観察光学系16は、ウエハ5上に配置されたマークを複数観察し、レチクル2のパターンをウエハ5上のパターン位置に併せて転写できるように、ウエハ5上のパターン位置と形状を計測する装置である。また、オフアクシス観察光学系16は、ウエハステージ6上のステージ基準マークを観察し、ステージ基準マークの位置の計測も可能である。
また、露光装置100は、レチクル搬送ユニット17と、レチクルアライメントユニット18と、ウエハ搬送ユニット19と、チャンバ20と、主制御系21とを備える。
レチクル搬送ユニット17は、レチクルライブラリ22、レチクルロボット23等から構成される、レチクル2を搬送するための搬送系である。また、レチクルアライメントユニット18は、レチクル2の位置をレチクルステージ3上のマークに合わせるための装置である。なお、レチクル搬送ユニット17は、レチクル搬送制御系24の指令により制御される。また、ウエハ搬送ユニット19は、ウエハカセットエレベータ25、ウエハ搬入出ロボット26等から構成される、ウエハ5を搬送するための搬送系である。なお、ウエハ搬送ユニット19は、ウエハ搬送制御系27の指令により制御される。また、チャンバ20は、主に、空気の温度調整と、微小異物を濾過する空気清浄とを実施し、露光装置100の内部環境温度を一定に保つための空洞装置である。なお、チャンバ20は、チャンバ制御系28の指令により制御される。
主制御系21は、露光装置100を構成する各制御系、例えば、照明光学系制御系8、レチクルステージ制御系10、投影光学系制御系12、ウエハステージ制御系15、レチクル搬送制御系24、ウエハ搬送制御系27、チャンバ制御系28等を制御する。主制御系21は、通信インターフェイス29を介して、露光装置100の露光動作を定義する設定パラメータ又は動作指令を取得し、それらの情報に基づいて、露光装置100を構成する各構成要素を制御することが可能である。
次に、露光装置100における走査露光処理の動作について説明する。
光源7から提供される光束は、照明光学系1で形状及び光量分布が調整され、レチクルステージ3に載置されたレチクル2を照明する。レチクル2のパターンは、投影光学系4を介して、ウエハステージ6上のウエハ吸着チャック30に保持された、感光剤(レジスト)が塗布されたウエハ5上の予め決められた露光範囲(ショット領域)に転写される。これにより、ウエハ5上の感光剤に潜像パターンが形成される。露光処理(転写処理)は、ウエハ5上に配列されたショット毎に実施され、ウエハ5の全面に潜像パターンが形成される。潜像パターンは、別途現像工程において現像されて、マスクパターン(レジストパターン)となる。
この露光処理において、スリット状の照明光束でレチクル2の全てのパターン範囲をウエハ5に配列されたショット領域に転写するために、レチクルステージ3は、図1に示す「走査方向」に駆動する。それと同時に、ウエハステージ6も、図1に示す「走査方向」に駆動する。この場合、レチクルステージ3とウエハステージ6は、それぞれ投影光学系4の投影倍率に応じた速度比に基づいて駆動する。ここで、レチクル2とウエハ5との相対位置にズレが生じると、ウエハ5のショット領域には変形したパターンが転写される。そこで、主制御系21は、レチクル2とウエハ5との相対位置ズレを計算し、該相対位置ズレがゼロになるように、レチクルステージ制御系10及びウエハステージ制御系15を制御する。
また、露光処理は、露光装置100の露光動作を定義する設定パラメータ(JOBパラメータ)に基づいて実行される。JOBパラメータは、例えば、工程名(ジョブ名)、ロット認識ID、ショット領域位置、ショット領域範囲(領域の寸法)、ショット領域配列、各ショット領域番号、露光量、露光走査速度、露光走査方向等を含む。
このとき、主制御系21は、一枚、若しくは複数枚のウエハを1ロットとして、ロット単位にJOBパラメータに基づいて露光装置100を構成する各制御系を制御し、露光処理を実施する。具体的には、まず、ロット処理開始に伴い、露光処理に使用されるレチクル2及びウエハ5が露光装置100内に供給される。該レチクル2及びウエハ5の供給が完了すると、露光装置100の構成要素のうち、JOBパラメータで指定されたユニットのキャリブレーションと、レチクル2及びウエハ5のアライメントが実施される。そして、主制御系21は、その情報結果に基づいて、各ユニット、レチクル2、ウエハ5をそれぞれ補正駆動し、ウエハ5上の各ショット領域は、ステップ・アンド・スキャン方式で露光される。
また、主制御系21は、各ショット領域の走査露光動作時における露光装置100の性能を示す装置情報を、通信インターフェイス29を介して、後述の情報処理装置200に送信する機能を有する。なお、「装置情報」とは、ウエハ5上に定義されるショット領域配列を構成する複数のショット領域について、露光動作を通してそれぞれ得られる複数のショット領域情報を示す。ここで、ショット領域配列は、製造すべきデバイスのデザイン(例えば、寸法等)等の露光処理の要求に応じて、製造すべきデバイス毎に定義される。
ここで、「ショット領域情報」とは、例えば、同期精度、同期方向、フォーカスレベリング計測値、及びフォーカスレベリング追従精度等の露光装置100の制御に関わる情報を示す。また、「同期精度」とは、走査露光動作時のレチクル2(レチクルステージ3)とウエハ5(ウエハステージ6)との同期移動(同期走査)の精度に関する情報を示す。具体的には、まず、主制御系21は、ウエハ5上の各ショット領域を露光する際のレチクルステージ3及びウエハステージ6の位置情報に基づいて走査露光時におけるウエハステージ6に対するレチクルステージ3の追従誤差(X、Y)に関する情報を得る。そして、主制御系21は、この情報に基づいて、同期精度として、ショット領域内の移動平均値(MA)と移動標準偏差値(MSD)とを算出することができる。また、「同期方向」とは、その領域のスキャン方向が第1の走査方向(例えば、アップスキャン)であるか、若しくは第2の走査方向(例えば、ダウンスキャン)であるかを示す。また、「フォーカスレベリング計測値」とは、ウエハ5の表面位置、又は形状を示す情報を示す。更に、「フォーカスレベリング追従精度」とは、目標フォーカスレベリング位置に対するフォーカスレベリング計測値の誤差を示す。
更に、露光処理は、JOBパラメータを参照してロット単位で実施されるため、主制御系21は、処理を定義したジョブ名、及び処理が施されたロット認識IDを特定できる。加えて、主制御系21は、ウエハやショット領域に対する処理のための、ウエハ番号及びショット番号を特定できる。更には、主制御系21は、露光装置の認識番号、ジョブ名、ロット認識ID、ウエハ番号、ショット番号等を示す情報も、装置情報に付加することができる。
(露光処理システム)
次に、本発明の実施形態に係る露光処理システムについて説明する。図2は、露光処理システムの構成を示す概略図である。露光処理システム280は、上記露光装置100と、外部記憶装置150と、情報処理装置200とを備える。露光処理システム280を構成する各装置は、通信インターフェイスを介して接続されている。
次に、本発明の実施形態に係る露光処理システムについて説明する。図2は、露光処理システムの構成を示す概略図である。露光処理システム280は、上記露光装置100と、外部記憶装置150と、情報処理装置200とを備える。露光処理システム280を構成する各装置は、通信インターフェイスを介して接続されている。
外部記憶装置150は、露光装置100から通信インターフェイス151を介して装置情報を収集し、該装置情報をデータベース152に格納する装置である。
情報処理装置200は、外部記憶装置150内に蓄積された装置情報から、通信インターフェイス210を介して適宜データを抽出し、該データを処理する機能を有する露光処理プログラムを備えた装置である。情報処理装置200は、例えば、汎用のコンピュータに露光処理プログラムをインストールすることにより構成される。情報処理装置200は、露光処理プログラムをインストールされることによって、抽出部230と、演算処理部250とを備える装置として動作する。あるいは、情報処理装置200は、抽出手段、算出手段等を実行する装置として動作する。なお、情報処理装置200は、本実施形態では、露光装置100を設置した場所とは別の場所に設置する構成としたが、露光装置100の内部に設置されても良い。
情報処理装置200は、通信インターフェイス210と、管理部220と、抽出部230と、入力部240と、演算処理部250と、出力部260とを備える。管理部220は、通信インターフェイス210、抽出部230、入力部240、演算処理部250、及び出力部260を管理(制御)する処理部である。また、抽出部230は、外部記憶装置150内のデータベース152に格納されている装置情報から、入力部240より指示される情報抽出条件241に合致したものを抽出して演算処理部250に提供する処理部である。また、入力部240は、情報抽出条件241及び演算処理条件242を、それぞれ抽出部230及び演算処理部250に指示する手段である。なお、本発明はこれに限らず、不図示の記録部に記録された条件から指示してもよいし、若しくは、複数の条件から選択して指示してもよい。更に、通信インターフェイス210を介して、情報処理装置200とは別の場所から各条件を入力する構成としてもよい。また、演算処理部250は、演算処理条件242に基づいて、各ショット領域の同期精度の補間値をスキャン方向別に算出する処理部である。更に、出力部260は、出力デバイスとして、例えば、表示装置や記憶部を含み、演算処理部250による処理結果を出力デバイスに出力する処理部である。
次に、外部記憶装置150内のデータベース152に格納される装置情報であって、ある1つのショット領域に係るショット領域情報について説明する。図3は、ある1つのショット領域301に係るショット領域情報302の一例である。ショット領域情報302は、特定情報321と、設定情報322と、露光制御情報323と、制御結果324とを含む。
特定情報321は、例えば、露光装置の認識番号、ロットの認識番号、プロセス名称、ウエハ番号、ショット番号等を含むショット領域の特定に関わる情報である。また、設定情報322は、例えば、ショット領域の中心位置(X座標値)、ショット領域の中心位置(Y座標値)、ショット領域のX方向における範囲、ショット領域のY方向における範囲等を含むショット領域の設定に関わる情報である。また、露光制御情報323は、例えば、走査方向、走査速度、フォーカスレベリング目標値、X目標値(X方向の目標位置)、Y目標値(Y方向の目標位置)等を含むショット領域の露光制御に関わる情報である。更に、制御結果324は、例えば、ショット領域内におけるフォーカスレベリング計測値の最大値、最小値、平均値、標準偏差等を含むショット領域の露光における制御結果である。加えて、制御結果324は、例えば、ショット領域内におけるX、Y計測値(X方向における位置計測値、Y方向における位置計測値)の最大値、最小値、平均値、標準偏差を含む。また、制御結果324は、例えば、ショット領域内におけるフォーカスレベリング追従性の最大値、最小値、平均値、標準偏差を含む。また、制御結果324は、例えば、X、Y追従性(X方向における位置制御の追従性、Y方向における位置制御の追従性)の最大値、最小値、平均値、標準偏差を含む。更には、制御結果324は、例えば、ショット領域内におけるMA X、Y、θ(X、Y、θ方向における移動平均)とMSD X、Y、θ(X、Y、θ方向における移動標準偏差)の最大値、最小値、平均値、標準偏差を含む。
次に、情報処理装置200内の演算処理部250における演算処理について説明する。図4は、ウエハ上のショット領域配列と各ショット領域のスキャン方向を示す概略図である。ウエハ401は、アップスキャン方向とダウンスキャン方向の混在を矢印の上下にて表しており、更に、各ショット領域における制御結果の値を色諧調で表している。また、ウエハ402Aは、ウエハ401でのダウンスキャンのショット領域における値を削除し、削除領域の色諧調を黒で示す図である。また、ウエハ403Aは、アップスキャンのショット領域における値を削除し、削除領域の色諧調を黒で示す図である。
ここで、ウエハ402Aに示すように、ダウンスキャンの制御結果がない状態のショット領域に対する補間値を、アップスキャンのショット領域での制御結果よりショット領域の中心位置(X、Y)を因数に取った近似曲面の多項式関数で与えると仮定する。この場合、アップスキャンのショット領域毎の制御結果を所定の次数及び項数の近似式を用いて最小二乗法を使って近似し、多項式関数における各項の係数を求める。なお、近似する多項式の次数及び項数は、演算処理条件242で指定する。例えば、演算条件を2次多項式とした場合、次式のような関数f(X、Y)になる。ここで、A〜Fは、求めるべき係数である。
f(X、Y)=A×X2+B×Y2+C×X×Y+D×X+E×Y+F
なお、関数f(X、Y)に、どのショット領域における制御結果を適用させるかは、演算処理条件242で指定する。これについての詳細な説明は、後述する。
次に、一方向のスキャンによる同期精度結果しか得られてないショット領域において、他方向のスキャンによる同期精度結果を算出し、補間する処理方法について説明する。図5は、本発明の実施形態に係る露光処理方法の一例を示すフローチャートである。なお、図5のフローチャートは、どちらか一方のスキャン方向を対象に補間する方法である。例えば、両方向のスキャンに対してそれぞれ補間する場合は、対象のスキャン方向を変更して実施すれば良い。また、この例では、ダウンスキャンが行なわれていないショット領域に対して、MA X(X方向における移動平均)の最大値(MA Xmax)を補間する処理を説明する。
まず、補間処理を開始すると、抽出部230は、情報抽出条件241に基づいて、通信インターフェイス210を介してデータベース152より装置情報を抽出する(ステップS1:抽出工程)。このとき、ユーザは、情報抽出条件241として、ショット番号、ショット領域の中心位置(X座標値)、ショット領域の中心位置(Y座標値)、走査方向の情報抽出をそれぞれ指定し、更に、制御結果324のうち処理対象とする同期精度結果を指定する。この場合の制御結果324は、例えば、ショット領域内におけるMA X(X方向における移動平均)の最大値(MA Xmax)である。
次に、演算処理部250は、ショット領域配列のショット領域数をKとし、K個の各ショット領域に対して同期精度結果を補間するため、ショット番号のカウンタのカウント値Nを1に初期化する(ステップS2)。これにより、ショット番号1のショット領域より処理を実行すると設定される。
次に、演算処理部250は、ショット番号N番目のスキャン方向が、計算対象であるかを判定する(ステップS3)。演算処理部250は、例えば、N番目のショットがアップスキャンであれば、以下のステップS4に示す補間算出処理を実行し、N番目のショットがダウンスキャンであれば補間の必要がないため、以下のステップS6に示す全ショット処理終了判定に移行する。
次に、演算処理部250は、演算処理条件242に基づいて、N番目のショットの補間値計算方法を決定する(ステップS4:算出工程)。即ち、演算処理部250は、関数f(X、Y)にどのショット領域における制御結果を使用するかを決定する。このとき、ユーザは、演算処理条件242において、制御結果を使用するショット領域が、同じ、若しくは近似した計測条件であるものを選択するように条件を指定する。
制御結果を使用するショット領域の第1の選択例として、ウエハステージ位置に関わる条件の近いものとする場合、ショット領域配列において同じY位置の列では、ウエハステージのY位置の計測条件が近い。したがって、制御結果を使用するショット領域は、ショット領域の中心位置(Y座標値)が同じものとすることが好適である。
図6は、制御結果を使用するショット領域の第1の選択例を示す概略図である。例えば、図6は、ショット領域602Aにおけるアップスキャン方向の補間値を計算する場合を示しており、図6Aは、補間処理適用前、図6Bは、補間処理適用後をそれぞれ示している。図6において、列601は、ショット領域602Aと同じY位置の列である。この場合、演算処理部250は、列601に含まれるアップスキャン方向のショット領域603A、603B、603Cの中心位置(X座標値、Y座標値)、及び最大値(MA Xmax)を、上記関数f(X、Y)に代入し、A〜F係数の値を算出する。なお、曲線604は、算出された関数f(X、Y)のイメージを示したものである。そして、演算処理部250は、求められた関数f(X、Y)にショット領域602Aのショット領域の中心位置(X座標値、Y座標値)を代入し、ショット領域602Aのアップスキャン方向による最大値(MA Xmax)の補間値を算出する。この演算は、ショット領域602B、602Cについても同様である。なお、このような選択例は、ショット領域の中心位置(X座標値)が同じものを選択する場合にも適用可能である。
また、制御結果を使用するショット領域の第2の選択例として、ウエハステージ位置により走査露光装置の特性等がある場合、その特性に応じた範囲を決めて、該範囲内のショット領域の制御結果を使用しても良い。
図7は、制御結果を使用するショット領域の第2の選択例を示す概略図である。図7Aは、補間処理適用前、図7Bは、補間処理適用後をそれぞれ示している。図7に示すように、例えば、走査露光装置の特性が、ウエハを4分割とした範囲801〜804で異なると仮定する。範囲801内にあるショット領域におけるアップスキャン方向の補間値を計算する場合、範囲801内のショット領域は、ショット領域の中心位置と同じ座標軸で表せる。そこで、演算処理部250は、ショット領域の中心位置が範囲801内に含まれるアップスキャン方向のショット領域から、中心位置(X座標値、Y座標値)及び最大値(MA Xmax)を、上記関数f(X、Y)に代入し、A〜F係数の値を算出する。そして、演算処理部250は、求められた関数f(X、Y)に範囲801内に含まれるアップスキャン方向でないショット領域の中心位置(X座標値、Y座標値)を代入し、ショット領域のアップスキャン方向による最大値(MA Xmax)の補間値を算出する。
また、制御結果を使用するショット領域の第3の選択例として、ウエハの表面状態に関わる条件の近いものとする場合、近隣のショット領域の計測条件が近い。例えば、ウエハは、表面、若しくは裏面に異物が付着した場合、該異物が付着した付近の平坦度が変化する。したがって、制御結果を使用するショット領域は、近隣のショット領域とすることが好適である。この場合、近隣ショット領域の選択方法としては、ショット領域の中心位置(X座標値、Y座標値)に基づいて隣接するショット領域を認定しても良く、若しくは、隣接範囲も2ショット領域以内としても良い。更に、補間計算されるショット領域の中心位置から任意の範囲内に中心位置を持つショット領域としても良い。
図8は、制御結果を使用するショット領域の第3の選択例を示す概略図である。図8Aは、補間処理適用前、図8Bは、隣接するショット領域の認定後、図8Cは、補間処理適用後をそれぞれ示している。図8Aにおいて、範囲701は、異物による平坦度変化を等高線で示したものである。ここで、例えば、ショット領域704におけるアップスキャン方向の補間値を計算すると仮定する。この場合、演算処理部250は、隣接するアップスキャン方向のショット領域703A〜Dのショット領域の中心位置(X座標値、Y座標値)及び最大値(MA Xmax)を、関数f(X、Y)に代入し、A〜F係数の値を算出する。そして、演算処理部250は、求められた関数f(X、Y)にショット領域704のショット領域の中心位置(X座標値、Y座標値)を代入し、ショット領域704のアップスキャン方向による最大値(MA Xmax)の補間値を算出する。
次に、演算処理部250は、ステップS4で決定した補間値計算方法に基づいて、N番目のショットの補間値を算出する(ステップS5:算出工程)。次に、演算処理部250は、全ショット領域の補間計算が終了したかを判断する(ステップS6)。ここで、補間計算が終了してない場合は、カウント値Nが1インクリメントされ(ステップS7)、ステップS3に移行する。
以上のように、本発明によれば、全ショット領域、又はスキャン方向毎に補間処理を実施することで、全ショット領域でアップスキャン方向による同期精度結果、及びダウンスキャン方向による同期精度結果が得られる。即ち、本発明の露光処理システムにより、走査露光装置において一枚のウエハを一回露光処理することで、各ショット領域のスキャン方向毎の同期精度結果を算出することができる。これにより、全ショット領域において両スキャン方向で同期精度を計測する必要がないので、スキャン方向毎に同期精度を計測する所要時間を低減することができ、走査露光装置のダウンタイムを低減できる。
更に、本発明の露光処理システムは、同じショット領域配列も持つ複数のウエハに対して実施しても良い。その場合、ショット領域の特定に関わる情報により、ロットの認識番号が同じウエハ、又はプロセス名称が同じウエハの各ショット領域の同期精度結果を参照しても良い。これにより、更に同期精度を計測する所要時間を低減することができる。
(デバイスの製造方法)
次に、上記の露光装置を利用したデバイスの製造方法の実施形態について説明する。
次に、上記の露光装置を利用したデバイスの製造方法の実施形態について説明する。
半導体素子、液晶表示素子、撮像素子(CCD等)、薄膜磁気ヘッド等のデバイスは、レジスト(感光剤)が塗布された基板(ウエハ、ガラスプレート等)を、上記の露光装置を用いて露光する工程を経る。続いて、露光された前記基板を現像する工程と、その他の周知の工程と、を行うことによってデバイスが製造される。該周知の工程は、例えば、酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、及びパッケージング等の少なくとも1つの工程を含む。
(その他の実施形態)
本発明は、上記実施形態に限定するものでなく、本発明の目的が達成される範囲において、各構成が代替的に置換されても良い。
本発明は、上記実施形態に限定するものでなく、本発明の目的が達成される範囲において、各構成が代替的に置換されても良い。
上記実施形態では、補間値計算方法(図5、ステップS4)の説明において、制御結果を使用するショット領域の3つの選択例を挙げたが、本発明は、これに限定するものではない。例えば、補間処理に使用するショット領域から、一定の領域を除外する場合もある。例えば、ウエハの外周部(縁)では、平坦度がウエハ中心側と異なる場合がある。これは、ウエハ上に塗布する感光剤の厚みが外周部では厚くなり易いためである。更に、露光装置では光軸方向(Z方向)におけるウエハの表面位置を計測できる機構はあるが、ウエハの外周部に掛かるショットでは、ショット領域の一部しかウエハ上に掛からない。したがって、ショット領域全体がウエハ上に存在するショットと比較し、十分な計測結果が得られないことがある。そこで、これらの計測条件が異なるショット領域は、除外しても良い。除外ショット領域の選択方法としては、ウエハ直径を入力し、ショット領域中心位置とショット領域範囲からショット領域がウエハ内に全て収まっていないものを除外対象としても良い。
更に、ショット領域毎に同じ補間値計算方法を採用しなくても良い。例えば、上記第1の選択例では、ショット領域配列で同じY位置の列にあるショット領域より補間する計算方法を用いたが、ショット領域によっては、中心位置(Y座標値)が同じものが無い場合、隣接するショット領域より補間する計算方法を採用しても良い。
2 レチクル
3 レチクルステージ
5 ウエハ
6 ウエハステージ
100 露光装置
280 情報処理装置
S1 抽出工程
S4、5 算出工程
3 レチクルステージ
5 ウエハ
6 ウエハステージ
100 露光装置
280 情報処理装置
S1 抽出工程
S4、5 算出工程
Claims (11)
- 原版を保持するレチクルステージと、基板を保持するウエハステージとを所定の走査方向に同期移動させて、前記基板に定義される配列を構成する複数の領域を露光する露光処理方法であって、
前記複数の領域において露光処理を通して取得する装置情報を抽出する抽出工程と、
前記走査方向が第1の走査方向で同期移動された領域における前記装置情報に基づいて、前記第2の走査方向で同期移動された領域における前記装置情報を補間するための補間値を算出する算出工程と、
を有することを特徴とする露光処理方法。 - 前記算出工程は、前記第1の走査方向で同期移動された複数の領域における前記装置情報に基づく近似式により、前記補間値を算出することを特徴とする請求項1に記載の露光処理方法。
- 前記算出工程は、前記補間値の算出に採用する前記複数の領域を、前記第1の走査方向で同期移動された複数の領域から選択することを特徴とする請求項1及び2に記載の露光処理方法。
- 前記算出工程は、前記複数の領域毎に前記近似式を選択することを特徴とする請求項2及び3に記載の露光処理方法。
- 前記算出工程は、前記補間値の算出に採用する前記複数の領域から、一定の前記領域を除外することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の露光処理方法。
- 前記装置情報は、同期精度、同期方向、フォーカスレベリング計測値、及びフォーカスレベリング追従精度の少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の露光処理方法。
- 原版を保持するレチクルステージと、基板を保持するウエハステージとを所定の走査方向に同期移動させて、前記基板に定義される配列を構成する複数の領域を露光する露光装置であって、
請求項1〜6のいずれか1項に記載の露光処理方法を採用することを特徴とする露光装置。 - 原版を保持するレチクルステージと、基板を保持するウエハステージとを所定の走査方向に同期移動させて、前記基板に定義される配列を構成する複数の領域を露光する露光装置を有する露光処理システムであって、
前記露光装置による露光処理に際し、請求項1〜6のいずれか1項に記載の露光処理方法を採用することを特徴とする露光処理システム。 - 請求項7に記載の露光装置、若しくは、請求項8に記載の露光処理システムを用いて基板を露光する工程と、
前記基板を現像する工程と、
を有することを特徴とするデバイスの製造方法。 - 原版を保持するレチクルステージと、基板を保持するウエハステージとを所定の走査方向に同期移動させて、前記基板に定義される配列を構成する複数の領域を露光する露光処理を制御する情報処理装置であって、
前記複数の領域において露光処理を通して取得する装置情報を抽出する抽出部と、
前記走査方向が第1の走査方向で同期移動された領域における前記装置情報に基づいて、前記第2の走査方向で同期移動された領域における前記装置情報を補間するための補間値を算出する演算処理部と、
を有することを特徴とする情報処理装置。 - 原版を保持するレチクルステージと、基板を保持するウエハステージとを所定の走査方向に同期移動させて、前記基板に定義される配列を構成する複数の領域を露光する露光処理を露光装置に実行させる露光処理プログラムであって、
前記露光装置に、
前記複数の領域において露光処理を通して取得する装置情報を抽出する抽出手段と、
前記走査方向が第1の走査方向で同期移動された領域における前記装置情報に基づいて、前記第2の走査方向で同期移動された領域における前記装置情報を補間するための補間値を算出する算出手段と、
として機能させることを特徴とする露光処理プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009164257A JP2011018862A (ja) | 2009-07-10 | 2009-07-10 | 露光処理方法、それを用いた露光装置、露光処理システム、デバイスの製造方法、情報処理装置、及び露光処理プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009164257A JP2011018862A (ja) | 2009-07-10 | 2009-07-10 | 露光処理方法、それを用いた露光装置、露光処理システム、デバイスの製造方法、情報処理装置、及び露光処理プログラム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011018862A true JP2011018862A (ja) | 2011-01-27 |
Family
ID=43596411
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009164257A Pending JP2011018862A (ja) | 2009-07-10 | 2009-07-10 | 露光処理方法、それを用いた露光装置、露光処理システム、デバイスの製造方法、情報処理装置、及び露光処理プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2011018862A (ja) |
-
2009
- 2009-07-10 JP JP2009164257A patent/JP2011018862A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3962648B2 (ja) | ディストーション計測方法と露光装置 | |
JP2009200105A (ja) | 露光装置 | |
JP2006310446A (ja) | 半導体装置の製造方法、および露光装置 | |
JP2002353121A (ja) | 露光方法及びデバイス製造方法 | |
JP2006344739A (ja) | 位置計測装置及びその方法 | |
JPH10223528A (ja) | 投影露光装置及び位置合わせ方法 | |
JP2009200122A (ja) | 露光装置およびデバイス製造方法 | |
JP4850643B2 (ja) | 露光装置 | |
JPH11143087A (ja) | 位置合わせ装置及びそれを用いた投影露光装置 | |
JP5084432B2 (ja) | 露光方法、露光装置およびデバイス製造方法 | |
JP2001338860A (ja) | 露光方法及びデバイス製造方法 | |
JP2007184343A (ja) | 処理方法、処理装置、及びプログラム | |
JP3919592B2 (ja) | ステージ装置及びその制御方法並びに露光装置 | |
JP4137521B2 (ja) | 装置管理方法及び露光方法、リソグラフィシステム及びプログラム | |
JP6399739B2 (ja) | 露光装置、露光方法、およびデバイスの製造方法 | |
US20160041478A1 (en) | Lithography Cluster, Method and Control Unit for Automatic Rework of Exposed Substrates | |
JPH10284396A (ja) | アライメント方法及び重ね合わせ精度計測方法 | |
JP2009170559A (ja) | 露光装置およびデバイス製造方法 | |
JP2011018862A (ja) | 露光処理方法、それを用いた露光装置、露光処理システム、デバイスの製造方法、情報処理装置、及び露光処理プログラム | |
JP2009170612A (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、処理システムおよびコンピュータプログラム | |
JP2010085793A (ja) | 露光装置およびデバイス製造方法 | |
JP3576722B2 (ja) | 走査型露光装置及びそれを用いたデバイス製造方法 | |
JP2010232291A (ja) | 情報処理方法、それを用いた露光処理システム、デバイスの製造方法、情報処理装置、及び情報処理プログラム | |
JP2000228355A (ja) | 半導体露光装置およびデバイス製造方法 | |
JP2002203773A (ja) | 露光装置 |