JP2011018415A - 磁気センサ - Google Patents

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Tomoo Sasaki
智生 佐々木
Toru Oikawa
亨 及川
Masamichi Tagami
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Abstract

【課題】本発明は、出力を十分に高めることができかつ微小領域からの磁束を感度よく検出可能な磁気センサを提供する。
【解決手段】磁気センサ200は、グラフェン層7と、グラフェン層7上に配置された磁化固定層12Bと、グラフェン層7上に配置された磁化自由層12Cと、グラフェン層7に電気的に接続された第一電極20A及び第二電極20Dと、グラフェン層7、磁化固定層12B、及び、磁化自由層12Cを積層方向の両側から挟む下部磁気シールド層22及び上部磁気シールド層11,12と、を備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、スピン伝導現象を用いた磁気センサに関するものである。
以下の特許文献や非特許文献に開示されるような、いわゆるスピン蓄積型(SA)の磁気センサが知られている。
特開2007−299467号公報 特許第4029772号公報
J. Mag. Mag. Mat. 286, 88 (2005) Phys.Rev. B 71, 094402 (2005)
スピン蓄積型の磁気センサは、原理的にスピン流を選択的に測定できるため、ノイズを低減して高感度な測定が可能になり、微小領域からの磁束を感度よく検出できると考えられる。しかしながら、従来のスピン蓄積型のセンサでは、出力が十分ではない。
そこで、本発明は、出力を十分に高めることができかつ微小領域からの磁束を感度よく検出可能な磁気センサを提供することを課題とする。
本発明に係る磁気センサは、グラフェン層と、グラフェン層上に配置された磁化固定層と、グラフェン層上に配置された磁化自由層と、グラフェン層に電気的に接続された第一電極及び第二電極と、下部磁気シールド層及び上部磁気シールド層とを備え、下部磁気シールド層及び上部磁気シールド層はグラフェン層、磁化固定層及び磁化自由層を積層方向の両側から挟む。
本発明によれば、磁化固定層と第一電極と(又は、磁化自由層と第二電極と)を電流源に接続することにより、磁化固定層(又は、磁化自由層)の磁化の向きに対応するスピンを有する電子をグラフェン層へ注入することができる。このようにして注入されたスピンは、グラフェン層を磁化自由層(又は、磁化固定層)側に拡散する。そして、磁化自由層と第二電極と(又は、磁化固定層と第一電極と)に接続される電圧測定器により、グラフェン層と磁化自由層(又は磁化固定層)との間において発生する電圧出力を検出できる。また、一対のシールド層により、磁化固定層、磁化自由層、及び、グラフェン層が積層方向の両側から挟まれており、これらの3つの層が積層方向から侵入する磁界から保護される。したがって、不要な磁束を除去して積層方向と直交する横方向からの磁束を選択的に検出でき磁気センサとして好適に使用できる。
特に、本発明の磁気センサでは、スピンの伝導及び蓄積を行なうチャンネルとして、グラフェンを用いている。グラフェンのスピン拡散長は、従来のCu等の金属や、Si等の半導体等に比べて著しく長いので、磁気センサの出力を十分に高くすることができる。
ここで、グラフェン層は単層のグラフェンシートであることが好ましい。
これによれば、グラフェン層の厚みを極めて薄くでき、グラフェン層及び磁化自由層を挟む一対の磁気シールド層間の間隔を極めて薄くできる。したがって、極めて微小の領域からの磁束を検出できる。
また、上部磁気シールド層が、磁化自由層の上に配置され磁化自由層と電気的に接続された上部第1磁気シールド層と、磁化固定層の上に配置され磁化固定層と電気的に接続された上部第2磁気シールド層と、を有し、上部第1磁気シールド層と、上部第2磁気シールド層とは互いに電気的に絶縁されることが好ましい。
これにより、また、上部第1磁気シールド層を利用して、磁化自由層からの電圧の検出又はグラフェン層へのスピンの注入を容易に行なえ、上部第二磁気シールド層を利用して、グラフェン層へのスピンの注入又は磁化固定層からの電圧の検出を好適に行なえる。
また、上部第1磁気シールド層と下部磁気シールド層との間隔が、上部第2磁気シールド層と下部磁気シールド層との間隔よりも小さいことが好ましい。
これによれば、より狭い領域からの磁束を選択的に検出できる。
また、グラフェン層と下部磁気シールド層との間に絶縁層が配置され、絶縁層の材料がSiO又はSiCであることが好ましい。
これによれば、グラフェン層を流れるスピン流の流出を特に抑制しやすいという効果がある。
また、第二電極を一対有し、一対の第二電極は、グラフェン層上に磁化自由層を間に挟む位置に、かつ、磁化固定層と磁化自由層とを結ぶ方向と直交する方向に離間して配置されることが好ましい。
これによれば、グラフェン層内の電位にムラが生じた場合でも、平均化された信号が得られるため、信号が安定化できるという効果がある。
また、磁化自由層にバイアス磁界を印加する永久磁石をさらに備えることがこのましい。
これによれば、磁化自由層の単磁区化が可能であり、バルクハウゼンノイズを低減できる。
また、磁化自由層及び記磁化固定層の少なくとも一方の材料が、Cr、Mn、Co、Fe、及びNiからなる群から選択される金属、前記群の元素を1以上含む合金、又は、前記群から選択される1以上の元素及びB、C、及びNからなる群から選択される1以上の元素を含む合金であることが好ましい。
これらの材料は軟磁性材料であるため、磁化自由層としての機能を好適に実現することが可能である。また、これらの材料はスピン分極率の大きい強磁性材料であるため、磁化固定層としての機能を好適に実現することが可能である。
また、磁化固定層は、形状異方性によって、又は、磁化固定層上に形成された反強磁性層によって、磁化の向きが固定されていることが好ましい。
また、磁化自由層は検出すべき磁界を外部から受け入れる磁界入力面をさらに備え、磁界入力面の外側から見て磁化固定層は、磁化自由層よりも奥に配置されることが好ましい。
これによれば、磁化自由層の磁化が外部磁場による影響を受け易くなり、感度が良くなる。一方、磁化固定層の磁化は十分に固定されやすく、所定のスピンを低抵抗でグラフェン層内に効率よく注入しやすい。
また、磁化自由層はグラフェン層の端面をさらに被覆していることが好ましい。
これによれば、磁化自由層において、グラフェン層の上に積層された部分よりも厚みが大きい部分をさらに形成することができ、この厚みの大きい部分に外部磁界を入力させることができる。このようにしてグラフェン層を排除し、上下の磁気シールド層の間の距離を有効に利用して外部磁界の検出ができるので、一対の磁気シールド間の距離をより狭めることができるという効果がある。
また、グラフェン層と対向する面における磁化固定層の面積が、グラフェン層と対向する面における磁化自由層の面積よりも大きいことが好ましい。
これにより、低抵抗でグラフェン層に電流を流すことができ、大きなスピン電圧を得ることができると言う効果がある。
本発明によれば、出力を十分に高めることができかつ微小領域からの磁束を感度よく検出可能な磁気センサを提供することができる。
第1実施形態に係る磁気センサを示す断面図である。 図1におけるII−II線に沿った断面図である。 図1におけるIII−III線に沿った断面図である。 所望の層数のグラフェン層を剥離法により得る方法を(a)〜(c)の順に示す概略斜視図である。 図6に続き、所望の層数のグラフェン層を剥離法により得る方法を(a)〜(d)の順に示す概略斜視図である。 第2実施形態に係る磁気センサを示す断面図である。 第3実施形態に係る磁気センサを示す断面図である。
以下、添付図面を参照しながら本発明の実施形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において、同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
(第1実施形態)
以下、第1実施形態に係る磁気センサの一例として、薄膜磁気記録再生ヘッド200を説明する。
図1は、薄膜磁気記録再生ヘッド200を示す部分断面図である。図2は、図1におけるII−II線に沿った断面図である。なお、図2では、後述する第三絶縁層14及び永久磁石15を省略してチャンネル層の形状を示している。
薄膜磁気記録再生ヘッド200は、そのエアベアリング面(Air Bearing Surface:媒体対向面)Sが磁気記録媒体20の記録面20aに対向配置されるような位置で磁気情報の記録及び読み取り動作を行う。磁気記録媒体20は、記録面20aを有する記録層20bと、記録層20bに積層される軟磁性の裏打ち層20cとを含んで構成されており、図中Z方向で示す方向に、薄膜磁気記録再生ヘッド200に対して相対的に進行する。
薄膜磁気記録再生ヘッド200は、磁気記録媒体20から記録を読み取る磁気センサ100C及び磁気記録媒体20への記録を行う磁気記録部100Dを備える。磁気センサ100C及び磁気記録部100Dは、基板SB上に設けられており、アルミナ、シリカ等の非磁性絶縁層1により覆われている。図1に示すように、磁気センサ100Cの上に磁気記録部100Dが設けられている。磁気記録部100Dにおいて、リターンヨーク30上にコンタクト部32及び主磁極33が設けられており、これらが、磁束のパスを形成している。コンタクト部32を取り囲むように薄膜コイル31が設けられており、薄膜コイル31に記録電流を流すと主磁極33の先端から磁束が放出され、ハードディスク等の磁気記録媒体20の記録層20bに情報を記録することができる。
磁気センサ100Cは、電子のスピンの伝導及び蓄積をするチャンネルとして機能するグラフェン層7と、グラフェン層7の第一の部分上に設けられた磁化自由層12Cと、グラフェン層7の第一の部分とは異なる第二の部分上に設けられた磁化固定層12Bとを主として備えている。
さらに、図1に示すように、磁気センサ100Cは、グラフェン層7を間に挟んで対向する下部磁気シールド層22と、上部第一磁気シールド層11及び上部第二磁気シールド層12と、下部磁気シールド層22とグラフェン層7との間に設けられた第一絶縁層23及び第一電極20Aと、磁化固定層12B上に設けられた反強磁性層8と、反強磁性層8上に設けられた導電キャップ層19とを更に備えている。
基板SBとしては、特に限定されないが、AlTiC等の導電性の基板が好ましい。
図1に示すように、下部磁気シールド層22は、外部、特に磁気センサ100Cの下部から、磁化自由層12C及び磁化固定層12Bに侵入する磁気をそれぞれ遮断するためのものであり、第一絶縁層23及び第一電極20Aの下に形成されている。
下部磁気シールド層22の材料として、例えばNi及びFeを含む合金、センダスト、Fe及びCoを含む合金、Fe、Co、及びNiを含む合金等の軟磁性体材料が挙げられる。
第一絶縁層23は、グラフェン層7に蓄積、伝導させる電子のスピンが下部磁気シールド層22側へ流出することを防ぐものである。第一絶縁層23は、グラフェン層7と下部磁気シールド層22との間に設けられている。スピン蓄積を効率良く行う観点から、第一絶縁層23は、グラフェン層7の下部面上において、磁化固定層12B側から磁化自由層12C側に亘って設けられていることが好ましい。さらに、グラフェン層7において磁化固定層12Bから磁化自由層12C側まで効率よくスピンを拡散させる観点から、第一絶縁層23が、グラフェン層7を介して磁化自由層12Cに全部重なるように設けられていることが好ましい。第一絶縁層23として、例えばSiO、SiC等が挙げられる。
第一電極20Aは、磁化固定層12Bからグラフェン層7へ検出用電流を流すための電極である。第一電極20Aは、グラフェン層7の下面上において、エアベアリング面Sとは反対側に第一絶縁層23と隣接して設けられている。図1では、第一電極20Aを介して、グラフェン層7は下部磁気シールド層22と電気的に接続している。従って、第一電極20A下に設けられている下部磁気シールド層22を磁化固定層12Bへ検出用電流Iを流すための電極として用いることができる。第一電極20Aとして、例えば、CuやTaなどの金属材料が用いられる。
グラフェン層7は、スピン注入によりスピンが蓄積される層である。図1に示すように、グラフェン層7は、第一絶縁層23及び第一電極20Aにより形成される平面(XY平面)上に設けられており、図2に示すように、例えば、矩形形状をしている。
グラフェンとは、炭素原子が6角形の網の目状に平面的に結合した構造のシートである。グラフェン層7は、複数のグラフェンシートが積層したものであってもよいが、3層以下のグラフェンシートであることが好ましく、2層以下がより好ましく、単層グラフェンシートであることが最も好ましい。これにより、グラフェン層7の厚みを極限まで薄くでき、極めて微小領域からの磁束を選択的に検出可能となる。
このようなグラフェン層7は、例えば、剥離用、分解法により得ることができる。
剥離法では、例えば、図4(a)に示すように、高配向熱分解グラファイト(HOPG)400を用意する。この高配向熱分解グラファイト(HOPG)400は、単層グラフェンシート401が多数積層されたものである。また、有機溶媒に可溶なフィルム基材501上に、レジスト層503を塗布した剥離板500を用意する。
続いて、図4(b)に示すように、常圧下でフィルム基材501上のレジスト層503をHOPG400と接触させる。これにより、レジスト層50とHOPG400とが付着する。続いて、HOPG400と剥離板500とを真空下におき、図4(c)に示すように、HOPG400から剥離板500をはがす。これにより、剥離板500のレジスト層503上に、最初のHOPG400から、一部の、すなわち、1層又は複数層のグラフェンシートが剥離されて付着する。
さらに、図5(a)に示すように、別の剥離板500を用意し、真空を維持した状態で、剥離された複数層のグラフェンシート401にレジストを接触させ、再び、図5(b)に示すように剥離する。このような作業を、付着したレジスト層が、所望の膜厚になるように光学顕微鏡等で観察しながら、この付着、剥離を真空中で繰り返す。
その後、剥離板500のレジスト層503上に付着したグラフェンシート401を、基材、図5(d)に示すように、例えば、基板SB上に、下部磁気シールド層22及び第一絶縁層23を積層した基材の第一絶縁層23上に真空中で付着させ、その後、常圧に戻してから有機溶媒でフィルム基材501を溶かし、レジストを溶解・洗浄することにより、図5(d)に示すように、剥離板500から所望の基材上へ所望の層数のグラフェンシート401を配置することができる。
また、分解法では、まず、例えば、CVD法等により形成したSiC層に対して必要に応じて、酸化及び水素エッチングを行なった後、電子衝撃加熱等によってシリコン原子を脱離させることによって、SiC層上に、グラフェンシートを形成できる。
磁化自由層12Cは、外部磁界を検出し、磁気記録媒体20などの磁化方向の変化を鋭敏に検出するための層である。磁化自由層12Cは、グラフェン層7の上面上においてグラフェン層7の検出対象となる磁束が進入する側すなわちエアベアリング面S側に配置されており、エアベアリング面Sの一部を形成する磁界入力面SSを有している。磁化自由層12Cを磁気記録媒体20に近接して設置することにより、媒体20から磁気情報を好適に読み取ることが可能である。磁化自由層12Cとして強磁性材料、特に軟磁性材料が適用され、例えば、Cr、Mn、Co、Fe及びNiからなる群から選択される金属、前記群の金属を1種以上含む合金、又は、前記群から選択される1又は複数の金属及びB、C、及びNのうち少なくとも一種を含む合金が挙げられる。具体的には、CoFeB、NiFeが挙げられる。
磁化固定層12Bは、所定のスピンを有する電子をグラフェン層7へ注入するための層であり、磁化固定層12Bは、グラフェン層7の上面上においてグラフェン層7の検出対象となる磁束が進入する側の反対側、すなわち、エアベアリング面Sの外側から見て、磁化自由層12Cよりも奥に配置されている。
図2に示すように、磁化自由層12Cや磁化固定層12Bの外形形状は、例えば、矩形状とすることができる。
磁化固定層12Bの材料として、スピン分極率の大きい強磁性金属材料を使用することができ、例えば、Cr、Mn、Co、Fe及びNiからなる群から選択される金属、前記群の元素を1種以上含む合金、又は、前記群から選択される1種以上の元素及びB、C、及びNからなる群から選択される一種以上の元素を含む合金が挙げられる。具体的には、CoFe、CoFeBが挙げられる。
磁化固定層12Bの保磁力は、磁化自由層12Cの保磁力よりも大きい。磁化固定層12Bの磁化は、後述する反強磁性層8を用いる磁化固定方法、及び磁化固定層12Bの形状異方性による磁化固定方法のうち少なくともいずれか一の磁化固定方法によって固定されていることが好ましい。これにより、磁化固定層12Bの磁化の向きを外部磁界に反応し難くすることが可能となる。
磁化固定層12Bの磁化固定方法として、反強磁性層8を用いる磁化固定方法を採用する場合、図1に示すように、反強磁性層8は、磁化固定層12B上に接して設けられている。反強磁性層8が磁化固定層12Bと交換結合することにより、磁化固定層12Bの磁化方向を固定(一方向異方性を付与)することが可能となる。この場合、反強磁性層8を設けない場合よりも、高い保磁力を一方向に有する磁化固定層12Bが得られる。従って、反強磁性層8に用いられる材料は、磁化固定層12Bに用いられる材料に合わせて選択される。例えば、反強磁性層8として、Mnを用いた反強磁性を示す合金、具体的にはMnと、Pt、Ir、Feのうちから選ばれる少なくとも一つの元素とを含む合金が挙げられる。具体的には、例えば、IrMn、PtMnが挙げられる。
一方、磁化固定層12Bに形状異方性を持たせて、磁化固定層12Bの磁化を固定する方法を採用する場合には、反強磁性層8を省略することが可能である。なお、反強磁性層8及び形状異方性の両方によって磁化を固定してもよいことは言うまでもない。形状異方性を用いる場合、平面視における磁化固定層12Bのアスペクト比を1以外の値とすればよく、例えば、図2に示すように、グラフェン層7の厚み方向(Z軸方向)から見て、Y軸方向の磁化固定層12Bの長さ12BYは、X軸方向の磁化固定層12Bの幅12BXよりも長くして、Y方向に磁化固定することが考えられる。
また、グラフェン層7と対向する面における磁化固定層12Bの面積が、グラフェン層7と対向する面における磁化自由層12Cの面積よりも大きいことが好ましい。これにより、低抵抗でグラフェン層に電流を流すことができ、大きなスピン電圧を得ることができると言う効果がある。
なお、図1に戻って、グラフェン層7と磁化自由層12Cとの間、及びグラフェン層7と磁化固定層12Bとの間にはトンネル障壁層が設けられていてもよい。トンネル障壁層の材料として、酸化アルミニウムや酸化マグネシウムなどの絶縁体、あるいは酸化亜鉛などの半導体が適用される。
導電キャップ層19は、上部第二磁気シールド層12を電極として磁化固定層12Bに電流を流すべく、上部第二磁気シールド層12と反強磁性層8とを電気的に接続するための層である。導電キャップ層19は、上部第二磁気シールド層12と反強磁性層8や磁化固定層12Bとの間の原子の拡散等を抑制する効果もある。導電キャップ層19の材料として、例えば、CuやTaなどの金属材料が用いられる。
第二絶縁層43は、導電キャップ層19の両端に形成されている。第二絶縁層43として、例えばSiO、SiC等が挙げられる。
上部第一磁気シールド層11は磁化自由層12C上に形成されており、磁化自由層と電気的に接続されている。また、上部第二磁気シールド層12は、磁化固定層12B、反強磁性層8、及び、導電キャップ層19からなる層構造の上に形成され、磁化固定層12Bと電気的に接続されている。上部第一磁気シールド層11及び上部第二磁気シールド層12は、外部、特に磁気センサ100Cの上部から、磁化自由層12C、磁化固定層12Bに侵入する磁気をそれぞれ遮断する。なお、上部第一磁気シールド層11と上部第二磁気シールド層12とが、互いに離間して独立に設けられている、すなわち、電気的に絶縁されていることにより、上部第一磁気シールド層11を磁化自由層12C用の電極として、上部第二磁気シールド層12を磁化固定層12B用の電極としてそれぞれ利用することができる。
上部第1磁気シールド層11と下部磁気シールド層22との間隔が、上部第2磁気シールド層12と下部磁気シールド層22との間隔よりも小さいことが好ましい。このように、磁化固定層12B、反強磁性層8、導電キャップ層19等によって厚くなりやすい上部第二磁気シールド層12と下部磁気シールド層22との間隔に比べて、上部第1磁気シールド層11と下部磁気シールド層22との間隔を小さくすることによって、極めて微小な領域から放出される磁束を選択的に磁化自由層で検出することができる。
上部第一磁気シールド層11、及び上部第二磁気シールド層12の材料は例えば、下部磁気シールド層22と同様とすることができる。
第二電極20Dは、磁化自由層12Cとグラフェン層7との間に生じる電圧を検出するための電極である。この実施形態では、図2及び図3に示すように、第二電極20Dを2つ有する。一対の第二電極20Dは、グラフェン層7上に磁化自由層12Cを間に挟む位置に、かつ、磁化固定層12Bと磁化自由層12Cとを結ぶ方向(Y方向)と直交する方向(X方向)に離間して配置されている。第二電極20Dとして、例えば、CuやTaなどの金属材料が用いられる。なお、第二電極20Dが、1つでも実施可能であることはいうまでもない。このような一対の第二電極20Dがあると、グラフェン層7内の電位にムラが生じた場合でも、平均化された信号が得られるため、信号が安定化できるという効果がある。
次に、図3を用いて、図1に示した磁気センサ100CのX方向に平行な断面形状を説明する。図3は、図1のIII−III線に沿った断面構成を説明するための概略図である。
第三絶縁層14は、グラフェン層7及び磁化自由層12Cと永久磁石15との間に設けられ、グラフェン層7及び磁化自由層12Cと永久磁石15とを電気的に絶縁するためのものである。第三絶縁層14として、SiO、SiCなどが用いられる。
一対の永久磁石15は、第三絶縁層14を介して、磁化自由層12CのZ方向の両側に配置されている。一対の永久磁石15からの漏洩磁束を用いて、磁化自由層12Cにバイアス磁界を、例えば、X方向に印加することにより、磁化自由層12Cの磁区構造を安定化(単磁区化)することが可能となる。これにより、磁壁の移動に起因するバルクハウゼンノイズを抑制することが可能となる。
以下に、図1で示した第1実施形態に係る磁気センサ100Cの動作について説明する。下部磁気シールド層22と、上部第二磁気シールド層12とを、電流源70に電気的に接続する。また、第二電極20D及び上部第一磁気シールド層11を、電圧測定器80に電気的に接続する。
まず、磁気センサ100Cの磁化固定層12Bへ検出用電流Iを流す。例えば、図1に示すように、電流源70から電子を、上部第二磁気シールド層12、導電キャップ層19、反強磁性層8、磁化固定層12B、グラフェン層7、第一電極20A、下部磁気シールド層22の順に流す。
このように、強磁性体である磁化固定層12Bからグラフェン層7へ電子を流すと、磁化固定層12Bとグラフェン層7との界面からグラフェン層7内に磁化固定層12Bの磁化の向きに対応するスピンを有する電子が流入される(スピン注入)。そして、このスピンは、グラフェン層7内をさらに磁化固定層12B側から磁化自由層12C側に向かって拡散する。
そして、外部からの磁界によって磁化の向きが変化する磁化自由層12Cの磁化の向きと、磁化固定層12Bの磁化の向きとの相対角に応じて、磁化自由層12Cとグラフェン層7との界面において異なる電圧出力が発生することとなる。本実施形態では、第二電極20Dと上部第一磁気シールド層11との間からこの電圧を検出している。このようにして、磁気センサ100Cを外部磁場センサとして応用することができる。
以下に、第1実施形態に係る磁気センサ100Cによる効果を説明する。第1実施形態に係る磁気センサによれば、チャンネルとしてグラフェン層を用いることにより、磁気センサ100Cからの出力を十分に高めることができる。この理由は以下のとおりである。
すなわち、チャンネル層が、金属からなる場合には一般的にスピン出力が1μV程度と短く、このような磁気センサからの出力は低い。しかしながら、チャンネル層が非金属からなる場合にはスピン拡散長が十倍以上長く、スピン出力が大きく取れる。例えば、スピン出力は、GaAsで5μV(T. Inouchi et al. 2 (2009) 023006), Siで8μV(T. Sasaki et al.Appl. Phys. Express 2 (2009) 053003), グラフェンで100μV(M. Shiraishi et al. (2008) arXiv:0810.4592v1)とされている。
そして、スピン蓄積型では以下のような出力が理論値として得られるとされている(S. Takahashi and S. Maekawa: Phys. Rev.B 67 (2003) 052409)。
V=ββ’rexp(-L/λ)I
ここで、Vが出力電圧、βがスピンを注入するときのスピン分極率(最大1)、β’がスピンを検出するときのスピン分極率(最大1),rがスピン抵抗,Lが電極間距離, λがスピン拡散長, Iが注入電流である。また、スピン抵抗rはチャンネルの抵抗率に比例した関係式(r=ρλ/S)で表され、ρはスピン伝導層の抵抗率、Sはスピン伝導層の断面積である。但し、この式が成りたつのは注入電流が少ないときであり、注入電流を増大させても電流が大きい領域では出力の増大は頭打ちになる。またスピン抵抗はスピン伝導層の抵抗率に比例して上昇する値であり、スピン伝導層の抵抗率が上昇するほど出力は上昇する。
したがって、グラフェンをチャンネル層として用いると、極めて高い出力が得られる。
また、3つのシールド層11,12,22により、磁化固定層12B、磁化自由層12C、及び、グラフェン層7が挟まれており、これらが積層方向(Z方向)から侵入する磁界から保護されて、不要な磁束を除去して、横方向(Y方向)からの磁束を選択的に検出でき磁気センサとして好適に使用できる。
また、グラフェン層7が単層グラフェンシートであると、チャンネル層の厚みを極め薄くでき、極めて微小な領域からの磁束を検出できる。通常の結晶性材料では、原子同士が3次元構造をとることが前提でありチャンネル層を原子一層に薄くすることは極めて困難であるが、グラフェンシートでは、一層でもスピンを伝導する構造を保持できるのである。
(第2実施形態)
以下、第2実施形態に係る磁気センサについて説明する。図6は、第二実施形態の磁気センサに係る断面図である。
図6に示す磁気センサが、第一実施形態に係る磁気センサと異なる点は、磁化自由層12C及びグラフェン層7の形状であるので、これらについてのみ説明する。
図6に示すように、第2実施形態に係る磁気センサでは、グラフェン層7のエアベアリング面S側の端面7aは、エアベアリング面Sに露出せず、エアベアリング面Sよりも内側に配置され、グラフェン層7のエアベアリング面S側の端面7aと、エアベアリング面との間には磁化自由層12Cがさらに介在している。すなわち、磁化自由層12Cが、さらに、グラフェン層7の磁化固定層とは反対側の端面7aを被覆している。これによれば、第1実施形態と同様の効果に加え、磁化自由層12Cにおいて、グラフェン層7の上に積層された部分12Caよりも厚みが大きい部分12Cbをさらに形成することができ、この厚みの大きい部分12Cbに外部磁界を入力させることができる。これにより、部分12Cbが存在しない場合に比べて上下の磁気シールド層11,22の間の距離を有効に利用して外部磁界の検出ができるので、第1実施形態に比べて一対の磁気シールド層11,22間の距離をより狭めることが可能となるという効果がある。
(第3実施形態)
以下、第3実施形態に係る磁気センサについて説明する。図7は、第三実施形態の磁気センサに係る断面図である。
図7に示す磁気センサが、第一実施形態に係る磁気センサと異なる点は、第一電極20Aが、グラフェン層7の上に配置されており、グラフェン層7と、下部磁気シールド層22とが、電気的に絶縁されている点である。
これによれば、第1実施形態と同様の効果に加え、絶縁層の平坦性を確保しやすいと言う効果がある。
以上、各実施形態において、本発明の磁気センサを薄膜磁気記録再生ヘッドに適用する例を用いて説明したが、本発明の磁気センサは、薄膜磁気記録再生ヘッド以外の例えば小型ロボット、ディジタルカメラ、及びインクジェットプリンターなどで使用される磁気エンコーダー装置、磁場計測装置、磁気検知装置等の各種用途にも適用することが可能である。
また、本発明は、上記実施形態に限定されず様々な変形態様が可能である。例えば、グラフェン層7の形状や、磁化自由層12C、磁化固定層12Bの形状及び配置、第一電極20A、第二電極20Dの形状や配置も特に上記には限定されない。
また、上記実施形態では、上部磁気シールドが、互いに絶縁された、上部第1磁気シールド層と、下部第1磁気シールド層との2つから構成されているが、第1磁気シールド層と第二磁気シールド層とを一体化して、例えば、磁化自由層のみと電気的に接続し、磁化固定層には、シールドとはならない電極を電気的に接続してもよい。
以下、実施例1及び2に基づいて本発明をより具体的に説明するが、本発明は以下の実施例1及び2に限定されるものではない。
(実施例1)
アルティック基板を洗浄し、アライメントマークを作成した。アルティック基板上に、下部シールド層を形成し、フォトリソグラフィー法及びイオンミリング用により、矩形形状にした。続いて、下部磁気シールド層上に絶縁層としてSiO層を形成した。SiO2層の一部をイオンミリングにより削り、その孔をAuCuで埋めることにより、第一電極を形成した。そして、CMPにより、SiO層と、AuCu層とを平坦化した。
続いて、上述した剥離法により、SiO層及びAuCu層に接して単層のグラフェンシートを配置した。
続いて、磁化自由層及び磁化固定層の形状のレジストパターンをグラフェン層上に形成し、CoFe(厚み2nm)/Ru(厚み0.8nm)/CoFe(厚み2.5nm)/IrMn(厚み6nm)/Ti(厚み3nm)の順に成膜を行い、Arミリング及びエッチングを行い、グラフェン最表面を露出させた。続いて、磁化自由層及び磁化固定層の上部以外に、磁化自由層や磁化固定層の側面も含めてSiO層を形成し、磁化自由層側のRu/CoFe/IrMn/Tiをイオンミリングにより除去した。磁化自由層及び磁化固定層の平面形状は、それぞれ200×200nmとした。
その後、バイアス磁界印加用の永久磁石層を作成し、固定層と自由層との上にそれぞれ第1上部磁気シールド及び第二上部磁気シールド層を形成し、磁束読み取り用のセンサを完成させた。出力を十分に高めることができかつ微小領域からの磁束を感度よく検出可能な磁気センサが提供された。
7…グラフェン層、8…反強磁性層、11…上部第一磁気シールド層、12…上部第二磁気シールド層、15…永久磁石、22…下部磁気シールド層、23…第一絶縁層、81…第1絶縁層、82…第2絶縁層、12B…磁化固定層、12C…磁化自由層、18A〜18D…配線、20A…第一電極、20D…第二電極、200,100B,100C…磁気センサ、S…エアベアリング面、SS…磁界入力面。

Claims (12)

  1. グラフェン層と、
    前記グラフェン層上に配置された磁化固定層と、
    前記グラフェン層上に配置された磁化自由層と、
    前記グラフェン層に電気的に接続された第一電極及び第二電極と、
    前記グラフェン層、前記磁化固定層、及び、前記磁化自由層を積層方向の両側から挟む下部磁気シールド層及び上部磁気シールド層と、
    を備えた磁気センサ。
  2. 前記グラフェン層は単層グラフェンシートである請求項1記載の磁気センサ。
  3. 前記上部磁気シールド層は、
    前記磁化自由層の上に配置され前記磁化自由層と電気的に接続された上部第1磁気シールド層と、
    前記磁化固定層の上に配置され前記磁化固定層と電気的に接続された上部第2磁気シールド層と、を有し、
    前記上部第1磁気シールド層と、前記上部第2磁気シールド層とは互いに電気的に絶縁された請求項1又は2記載の磁気センサ。
  4. 前記上部第1磁気シールド層と前記下部磁気シールド層との間隔が、前記上部第2磁気シールド層と前記下部磁気シールド層との間隔よりも小さい請求項3記載の磁気センサ。
  5. 前記グラフェン層と前記下部磁気シールド層との間に絶縁層が配置され、前記絶縁層の材料がSiO又はSiCである請求項1〜4の何れか記載の磁気センサ。
  6. 前記第二電極を一対有し、前記一対の第二電極は、前記グラフェン層上に前記磁化自由層を間に挟む位置に、かつ、前記磁化固定層と前記磁化自由層とを結ぶ方向と直交する方向に離間して配置された請求項1〜5の何れか記載の磁気センサ。
  7. 前記磁化自由層にバイアス磁界を印加する永久磁石をさらに備える請求項1〜6の何れか記載の磁気センサ。
  8. 前記磁化自由層及び前記磁化固定層の少なくとも一方の材料が、Cr、Mn、Co、Fe、及びNiからなる群から選択される金属、前記群の元素を1以上含む合金、又は、前記群から選択される1以上の元素及びB、C、及びNからなる群から選択される1以上の元素を含む合金である、請求項1〜7のいずれか一項に記載の磁気センサ。
  9. 前記磁化固定層は、形状異方性によって、又は、前記磁化固定層上に形成された反強磁性層によって、磁化の向きが固定されている、請求項1〜8のいずれか一項に記載磁気センサ。
  10. 前記磁化自由層は検出すべき磁界を外部から受け入れる磁界入力面をさらに備え、前記磁界入力面の外側から見て前記磁化固定層は、前記磁化自由層よりも奥に配置された請求項1〜9の何れか一項に記載の磁気センサ。
  11. 前記磁化自由層は前記グラフェン層の端面をさらに被覆している請求項1〜10の何れか一項に記載の磁気センサ。
  12. 前記グラフェン層と対向する面における前記磁化固定層の面積が、前記グラフェン層と対向する面における前記磁化自由層の面積よりも大きい請求項1〜11のいずれか一項に記載の磁気センサ。
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