JP2011018332A - タッチパネルの位置決め方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は、構造及び駆動が簡単であり、且つ複数同時接触を識別できるタッチパネル及びそのタッチパネルの位置決め方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係るタッチパネルの位置決め方法は、抵抗異方性を有する導電層及び前記導電層の1つの側辺に互いに離間して設置される複数の探測電極を含むタッチパネルを提供するステップと、前記導電層に第一電圧を印加するステップと、前記タッチパネルがタッチされた場合、前記導電層に第二電圧を印加し、前記第二電圧の印加点を接触点とするステップと、前記複数の探測電極の電圧を順次に測定し、相対極値電圧及び前記極値電圧に最も近い探測電極の電圧を捜すステップと、測定した前記極値電圧及び前記極値電圧に最も近い探測電圧に対応する探測電極の位置に基づいて、前記導電層における前記接触点の位置座標を確定するステップと、を備える。
【選択図】図2

Description

本発明は、タッチパネルの位置決め方法に関するものである。
従来の技術において主に使用されているタッチパネルは、抵抗式(Registive Overlay)、静電容量式(Capacitive Overlay)、赤外線式(Infrared Beam)及び表面弾性波式(Surface Acoustic Wave)等の種類がある。一般的に、4線式又は5線式抵抗式タッチパネルは、アナログ方式によって導電膜の電圧変化を感知するため、タッチパネルの使用過程において、同じ時間で一箇所の接触を識別するだけで、同時に多点接触で入力する場合、誤作動が発生し易い。
近来、タッチパネル技術の発展に伴って、ユーザーによるタッチパネル上の複数同時接触を識別できる多点入力可能なタッチパネルが流行となっている。多点タッチパネルは、主に静電容量式タッチパネルであり、透明ガラスの両面に設置される2つの導電層を備え、製品の異なる解析度に基づいて、前記2つの導電層は、それぞれパターン化され且つ互いに平行する複数の導線を備え、前記透明ガラスの両面に設置される複数の導線は互いに直交し、前記複数の導線を繰り返してスキャン(Scan)して、その上の静電容量変化を分析することにより、接触点の座標を判断する。
しかし、複数同時接触を識別できる多点入力可能なタッチパネルの製造工程が難く、駆動方法が複雑であるため、コストも上昇し、且つ応用される製品も制限される。
以上の問題点に鑑みて、本発明は、構造及び駆動が簡単であり、且つ複数同時接触を識別できるタッチパネル及びその位置決め方法を提供することを目的とする。
前記問題を解決するために、本発明に係るタッチパネルの位置決め方法は、抵抗異方性を有する導電層及び前記導電層の1つの側辺に互いに離間して設置される複数の探測電極を含むタッチパネルを提供するステップと、前記導電層に第一電圧を印加するステップと、前記タッチパネルがタッチされた場合、前記導電層に第二電圧を印加し、前記第二電圧の印加点を接触点とするステップと、前記複数の探測電極の電圧を順次に測定し、相対極値電圧及び前記極値電圧に最も近い探測電極の電圧を捜すステップと、測定した前記極値電圧及び前記極値電圧に最も近い探測電圧に対応する探測電極の位置に基づいて、前記導電層における前記接触点の位置座標を確定するステップと、を備える。
また、本発明に係るタッチパネルの位置決め方法は、第一導電層と、前記第一導電層の1つの側辺に互いに離間して設置される複数の第一探測電極と、第二導電層と、前記第二導電層における前記第一導電層の前記1つの側辺に直交する1つの側辺に互いに離間して設置される複数の第二探測電極と、を含み、前記第一導電層及び前記第二導電層は抵抗異方性を有するタッチパネルを提供するステップと、前記第一導電層に第一電圧を印加するステップと、前記第二導電層に第二電圧を印加し、前記第一導電層と前記第二導電層との間の接触箇所を接触点とするステップと、前記複数の第一探測電極の電圧を測定し、相対極値電圧及び前記極値電圧に最も近い第一探測電極の電圧を捜し、測定した前記極値電圧及び前記極値電圧に最も近い探測電圧に対応する第一探測電極の位置に基づいて、前記導電層における接触点の水平位置座標を確定するステップと、前記複数の第二探測電極の電圧を測定し、相対極値電圧及び前記極値電圧に最も近い第二探測電極の電圧を捜し、測定した前記極値電圧及び前記極値電圧に最も近い探測電圧に対応する第二探測電極の位置に基づいて、前記導電層における接触点の垂直位置座標を確定するステップと、を備える。
従来の技術に比べて、本発明に係る上述した位置決め方法のタッチパネルは、抵抗異方性材料からなる導電層、望ましくは、導電性高分子材料又はカーボンナノチューブ材料からなる導電層、特にカーボンナノチューブが優先方位に配列されたカーボンナノチューブフィルムからなる導電層を採用することによって以下のような利点がある。
第一に、優先方位に配列されたカーボンナノチューブを含むカーボンナノチューブフィルムは抵抗異方性を有するため、前記カーボンナノチューブフィルムの側辺の電圧を測定することにより、電圧の下降位置及び下降幅に基づいて、接触点の実際座標を判断でき、従って前記タッチパネルの構造及び駆動方法は簡単となる。第二に、優先方位に配列されたカーボンナノチューブを含むカーボンナノチューブフィルムは、カーボンナノチューブの延伸方向に沿う複数の導電通路に分割され、且つ不同の探測電極が互いに不同の導電通路に対応し、且つその電圧は互いに独立するため、前記タッチパネルは各々の導電通路における電圧変化に基づいて、複数点のタッチを実現でき、且つ接触点の数量を制限することなく多点タッチ機能を実現する。第三に、カーボンナノチューブの優れた力学特性はカーボンナノチューブフィルムに優れた靭性と機械的強度を与え、且つ導電層はカーボンナノチューブフィルムからなるので、タッチパネルの耐久性を向上させる。第四に、優れた導電性能を有するカーボンナノチューブフィルムを採用するタッチパネルの導電性能が優れ、且つタッチパネルの解析度及び正確度を向上させる。第五に、カーボンナノチューブフィルムは優れた透光性を有するので、前記タッチパネルに優れた透光性を与える。
上述した位置決め方法において、探測電極の電圧変化を測定することにより、相対極値電圧及び前記極値電圧に近付く探測電極の電圧を捜し、3個点の電圧に基づいて3個点補間方法と呼ばれるタッチパネルの位置決め方法を開発し、タッチパネルにおけるいずれか1つの座標を精確に確定でき、精度が高い。
本発明の第一実施形態に係るタッチパネルの断面図である。 図1に示したタッチパネルの第一伝導層及び第二伝導層の平面図である。 図1に示したタッチパネルにタッチしない場合、前記タッチパネルの探測電極の電圧曲線図である。 図1に示したタッチパネル上の三つの接触点の実際位置を示す図である。 図4に示したタッチパネルの探測電極の電圧曲線図である。 本発明の第二実施形態に係るタッチパネルの第一伝導層及び第二伝導層の平面図である。 本発明の第一実施形態に係る3個点補間方法によって図6に示したタッチパネル上の接触点の座標を確定する際、測定した電圧を示す図である。 本発明の第二実施形態に係る3個点補間方法によって図6に示したタッチパネル上の接触点の座標を確定する際、測定した電圧を示す図である。 図6に示したタッチパネルを複数の区域に分割して接触点の座標を確定する際、タッチパネルの区域分割を示す図である。
以下、図面に基づいて、本発明に係るタッチパネルについて詳細に説明する。
図1は、本発明の第一実施形態に係るタッチパネルの断面図である。前記タッチパネル2は、対向して設置される第一基板21及び第二基板22を備える。前記第一基板21は、弾性材料からなり、前記第二基板22は、一定の支持能力を有する剛性材料からなる。前記第一基板21に対向する前記第二基板22の片側の表面には、第一伝導層23が設置され、前記第二基板22に対向する前記第一基板21の片側の表面には、第二伝導層24が設置されている。前記第一基板21と前記第二基板22との間の周縁に粘着層25を設置して前記第一基板21と前記第二基板22とを粘着する。前記第一伝導層23と前記第二伝導層24との間の間隔は、2μm〜10μmである。前記第一伝導層23と前記第二伝導層24との間の間隔には、互いに隔離されている複数の絶縁素子27が設置されている。前記複数の絶縁素子27は、初期状態(タッチされない状態)下で前記第一伝導層23と前記第二伝導層24とが絶縁されるように、前記第一伝導層23を支持する。また、タッチパネル2のサイズが小さい場合、初期状態下で前記第一伝導層23が前記第二伝導層24と絶縁されれば、前記絶縁素子27を省略しても良い。
図2は、前記第一伝導層23及び前記第二伝導層24の平面図である。図2では、デカルト座標系(Cartesian Coordinate System)を導入し、前記座標系はX軸方向(第一方向)とY軸方向(第二方向)を含む。前記第一伝導層23は、第一導電層231及び第一電極232を備える。前記第一導電層231は、矩形のインジウム・スズ酸化物(Indium Tin Oxide,ITO)フィルムであり、比較的低い抵抗率及び比較的高い透光率を有する。前記第一電極232は、前記第一導電層231の四つの側辺に連続的に設置され、且つ前記第一導電層231に電気的に接続する。
前記第二伝導層24は、第二導電層241、第二電極242及び複数の探測電極243(E11−E1x)を備える。ただし、xは、探測電極243の数量を示す自然数である。
前記第二導電層241は、抵抗異方性(Anisotropy)を有する導電性フィルム(即ち、二次元空間での抵抗率が相異すること)である。言い換えれば、X軸方向(横方向)に沿う前記第二導電層241の抵抗率ρ1は、Y軸方向(縦方向)に沿う前記第二導電層241の抵抗率ρ2より大きい。
前記第二電極242は、条状の電極であり、カーボンナノチューブの延伸方向に直交する方向の前記第二導電層241の1つの側辺に設置され、且つ前記第二導電層241に電気的に接続される。即ち、図2に示したように、前記第二電極242は、前記第二導電層241の上側辺に設置されている。
前記複数の探測電極243は、前記第二電極242に相対する前記第二導電層241の他の側辺に均一に設置され、且つ全て前記第二導電層241に電気的に接続される。即ち、図2に示したように、前記複数の探測電極243は、前記第二導電層241の下側辺に設置される。カーボンナノチューブフィルムの抵抗異方性によって前記複数の探測電極243は、前記第二導電層241を前記複数の探測電極243に対応する複数の導電通路に分割する。
前記第二導電層241が均一な厚さを有するカーボンナノチューブフィルムによって形成されることが好ましい。前記カーボンナノチューブフィルムの厚さは0.5nm〜100μmである。前記カーボンナノチューブフィルムは、秩序整然な複数のカーボンナノチューブによって形成された均一な厚さを有する層状構造である。前記カーボンナノチューブは、単層カーボンナノチューブ、二層カーボンナノチューブ又は多層カーボンナノチューブ中の一種又は複数種の混合である。前記単層カーボンナノチューブの直径は0.5nm〜50nmであり、二層カーボンナノチューブの直径は1.0nm〜50nmであり、多層カーボンナノチューブの直径は1.5nm〜50nmである。前記カーボンナノチューブフィルムにおけるカーボンナノチューブは、同じ方向又は異なる方向により優先方位(Preferred Orientation)に配列される。
また、前記第二導電層241は、カーボンナノチューブフィルム又は重畳設置される複数フィルムのカーボンナノチューブフィルムによって形成され、且つ複数フィルムのカーボンナノチューブフィルムの重畳角度が異なる。前記カーボンナノチューブフィルムは、優先方位に配列された複数のカーボンナノチューブを含み、前記複数のカーボンナノチューブは、長さが基本的に同じであり、ファンデルワールス力(Van der Waals forces、分子間力)により連接して、連続的なカーボンナノチューブを形成する。前記第二導電層241におけるカーボンナノチューブは図2に示したY軸方向に沿って優先方位に配列される。
前記優先方位に配列されたカーボンナノチューブによるカーボンナノチューブフィルムは、抵抗異方性を有する。即ち、前記カーボンナノチューブの延伸方向に沿うカーボンナノチューブフィルムの抵抗率は、前記カーボンナノチューブの延伸方向に直交する方向に沿うカーボンナノチューブフィルムの抵抗率より小さい。言い換えれば、図2に示したように、X軸方向(横方向)に沿う前記第二導電層241の抵抗率ρ1は、Y軸方向(縦方向)に沿う前記第二導電層241の抵抗率ρ2より大きい。
一般的に、ρ1/ρ2の値は、前記タッチパネル2のX軸方向に沿うサイズが大きくなるに従って大きくなる。前記タッチパネル2のサイズ(矩形の対角線)が3.5インチ(inch)より小さければ、ρ1/ρ2の値は2より小さくなく、前記タッチパネル2のサイズが3.5インチより大きければ、ρ1/ρ2の値は5より小さくない。
本実施形態において、前記タッチパネル2のサイズは、3.5インチであり、前記横方向の抵抗率ρ1と前記縦方向の抵抗率ρ2の比率ρ1/ρ2は、ρ1/ρ2≧10であり、例えば、横方向の抵抗が540キロオームであり、縦方向の抵抗が3.6キロオームである。
前記第一電極232、前記第二電極242及び前記探測電極243は、アルミニウム(Al)、銅(Cu)又は銀(Ag)のような抵抗が低い材料からなり、電気信号の減衰を低減する。本実施形態において、前記第一電極232、前記第二電極242及び前記探測電極243は、銀ペースト(Silver Paste)からなる。
以下、前記タッチパネルの駆動方法を説明する。
駆動過程において、前記第一電極232は、第一電圧に接続し、前記第二電極242及び前記複数の探測電極243は、第二電圧に接続し、前記第一電圧は、前記第二電圧より大きく、又は前記第二電圧より小さい。以下、前記第一電圧は前記第二電圧より小さいことを例として位置決め方法を説明する。具体的に説明すると、前記第一電極232は、接地される。即ち、前記第一導電層231の電圧は0ボルト(V)となる。前記第二電極242及び前記複数の探測電極243は、5ボルトの高電圧に接続すると、前記第二導電層241の電圧は5ボルトである。前記複数の探測電極243は、前記第二導電層241の対応位置の電圧変化を測定して、接触点の位置を決めるのに必要な情報を提供する。
使用者が前記タッチパネル2に対していずれの操作を進行しない場合(タッチしない場合)、前記第一導電層231と前記第二導電層241とは互いに絶縁されているので、前記第二導電層241の電圧には何の変化も発生しない。従って、前記複数の探測電極243の電圧は全て5ボルトである。図3は、使用者が前記タッチパネル2に対していずれの操作を進行しない場合の複数の探測電極243の電圧曲線図である。図3において、横軸は前記複数の探測電極243の物理的横座標を示し、縦軸は前記複数の探測電極243の探測電圧を示す。前記複数の探測電極243の探測電圧が全て同じであるので、前記複数の探測電極243の電圧は、図3に示した縦軸に直交する直線(5Vに対応する直線)を呈する。
使用者が前記タッチパネル2に対して操作を進行した場合、前記第一基板21は圧力の作用によって前記第二基板22に向かって湾曲されて、前記第一導電層231と前記第二導電層241は接触点で電気的に接続される。接触点が1つである場合は、1つの電気的接続点が生じ、接触点が複数である場合は、複数の電気的接続点が生じる。前記第一導電層231の電圧が前記第二導電層241の電圧より小さいことによって、接触点に対応する探測電極243の電圧が変化する。前記接触点に対応する探測電極243の電圧は前記第二導電層241の電圧より小さくなる。即ち、前記探測電極243の電圧は5ボルトより小さい。実験によれば、前記探測電極243の電圧の下降幅は接触点の縦座標に関連する。即ち、前記接触点が前記第二電極242に接近するほど、前記接触点に対応する探測電極243の電圧の下降幅が小さく、前記接触点が前記第二電極242から離れるほど、前記接触点に対応する探測電極243の電圧の下降幅が大きい。言い換えれば、接触点に対応する探測電極243の電圧の変化は、前記接触点から前記第二電極242までの距離に対して正比関係を有する。
図4は、タッチパネル2に対して3個点のタッチを進行した時の接触点の実際位置の電圧曲線図である。図4における点A、点B、点Cはタッチパネル2における実際位置を示し、それぞれ探測電極E12、E15、E18の位置に対応する。図5タッチパネル2に対して3個点のタッチを進行した時の探測電極の電圧曲線図である。図5における横軸は複数の探測電極243の横座標を示し、縦軸は複数の探測電極243の電圧を示す。前記3個の探測電極E12、E15、E18の探測電圧は、それぞれ異なる下降幅を有する。
座標系における電圧曲線中の電圧下降点の位置に基づいて、前記複数の接触点A、点B、点Cに対応する探測電極が探測電極E12、E15、E18であり、前記3個の探測電極E12、E15、E18の横座標が接触点A、点B、点Cの横座標であることを直接に判断することができる。また、接触点に対応する探測電極E12、E15、E18の電圧下降幅に基づいて、前記複数の接触点の前記第二電極242に対する距離(即ち、座標系における接触点の縦座標)を分析して得ることができる。上述した方法によって、前記タッチパネル2におけるすべての接触点の座標を確定することができる。
カーボンナノチューブフィルムを採用するタッチパネル2は以下のような利点がある。第一に、優先方位に配列されたカーボンナノチューブを含むカーボンナノチューブフィルムは抵抗異方性を有し、前記探測電極243の電圧を測定し、且つ前記電圧の下降位置及び下降幅に基づいて接触点の実際の座標を判断できるので、前記タッチパネル2の構造及び駆動方法は簡単である。第二に、優先方位に配列されたカーボンナノチューブを含むカーボンナノチューブフィルムが、カーボンナノチューブの延伸方向に沿う複数の導電通路に分割され、且つ個々の探測電極243が互いに個々の導電通路に対応するので、前記タッチパネル2に対して複数点のタッチ操作を進行でき、且つ接触点の数は理論的に制限を受けず、前記タッチパネル2に対して真正に複数点のタッチ制御を実現することができる。第三に、カーボンナノチューブの優れた力学的特性は、カーボンナノチューブフィルムの優れた靭性と機械的強度を与え、導電層はカーボンナノチューブフィルムにからなるので、タッチパネル2の耐久性を向上させる。第四に、優れた導電性能を有するカーボンナノチューブフィルムを採用するタッチパネル2の導電性能は優れているので、タッチパネル2の解析度及び正確度を向上させる。第五に、カーボンナノチューブフィルムは優れた透光性を有するので、前記カーボンナノチューブフィルムを採用する前記タッチパネル2に優れた透光性を与える。
図6は、本発明の第二実施形態に係るタッチパネル4の第一伝導層43及び第二伝導層44の平面図である。本実施形態におけるタッチパネル4は第一実施形態におけるタッチパネル2と似ている。異なる点は、前記第一伝導層43は、前記第二伝道層44の構造と似ている。即ち、前記第一伝導層43は、カーボンナノチューブフィルムからなる第一導電層431と、条状の第一電極432と、複数の第一探測電極433(E11〜E1y)と、を備える。ただし、yは、探測電極443の数量を示す自然数である。前記第二伝導層44は、カーボンナノチューブフィルムからなる第二導電層441と、条状の第二電極442と、複数の第二探測電極443(E11〜E1x)と、を備えていることである。ただし、xは、第二探測電極443の数量を示す自然数である。前記第一導電層431におけるカーボンナノチューブは、X軸方向に沿って延伸される。前記第一電極432は、前記第一導電層の左側辺にY軸方向に沿って延伸して設置され、且つ前記第一導電膜431に電気的に接続される。前記複数の第一探測電極433は、前記第一電極432に相対する前記第一導電層431の右側辺に均一に設置され、且つ全て前記第一導電層431に電気的に接続される。前記第一導電層431において、Y軸方向に沿う抵抗率ρ3は、X軸方向に沿う抵抗率ρ4より大きく、ρ3/ρ4の値は、前記第一導電層431のY軸方向に沿うサイズが大きくなるに従って大きくなる。
前記タッチパネル4の駆動方法は、接触点の横座標を確定する時、前記第一電極432及び/又は前記複数の第一探測電極433を接地し、前記第二電極442及び前記第二探測電極443に高電圧(例えば、5ボルト)を印加し、前記複数の第二探測電極443の電圧を測定することによって前記接触点の横座標を確定する。接触点の縦座標を確定する時、前記複数の第一探測電極433の電圧を測定することによって前記接触点の縦座標を確定する。
前記タッチパネル4の駆動方法において、前記第一電極432及び第一探測電極433に低電圧を印加し、前記第二電極442及び第二探測電極443に高電圧を印加することによって前記第一探測電極433及び第二探測電極443の電圧の変化を測定して接触点の縦座標及び横座標を確定するので、電圧の下降幅を分析する必要がない。従って、前記タッチパネル4の駆動方法は、より簡単であり、精確である。
前記導電層は、カーボンナノチューブフィルム以外の他の抵抗異方性を有する材料を採用できる。例えば、導電高分子材料、低次元(即ち、一次元又は二次元)結晶材料(Crystal Material)を採用することができる。これら低次元の結晶材料における電子が一次元の線又は二次元の平面上のみで伝導されるから、このような材料の導電性は、ある1つ又は2つの結晶格子(Crystal Lattice)方向で優勢があるが、その他の方向では導電性が顕著に低下する。即ち、このような材料は、抵抗異方性(または、挑戦異方性とも呼ぶ)を有する。このような材料は本発明の導電異方性の導電層の要求を満足させるから、上述した各実施形態における効果と同じの効果を実現することができる。
しかし、前記駆動方法において、接触点が任意の第一探測電極433の横座標又は任意の第二探測電極443の縦座標に対応する場合、前記駆動方法は座標の位置を精確に確定することができる。
以下、3個点補間方法と呼ぶ計算方法について詳細に説明する。前記駆動方法によって、タッチパネル4のいずれか1つの座標を精確に確定することができる。ここで横座標の位置決めの方法を例として詳細に説明する。
図7は、本発明の第一実施形態に係る3個点補間方法によってタッチパネル上の接触点の座標を確定する際、測定した電圧を示す図である。図7において、横軸は複数の第二探測電極443及びそれに対応する横座標を示し、縦軸は、複数の第二探測電極443の出力電圧を示す。接触点の電圧変化を明らかに表示するために、図面には接触点及びそれに近接する探測電極しか表示しない。点Tは、接触点が前記タッチパネル4の横軸における相対位置である。点Bは、探測電圧の波形における電圧極小値であり、Xは電圧極小値に対応する探測電極E1nの横座標を示し、2≦n≦x−1を満足する。点A及び点Cは、電圧極小値に対応する探測電極E1nに最も近い探測電極E1n−1及びE1n+1の探測電圧である。点A、点B、点Cの電圧値は、それぞれVn−1、V、Vn+1であり、且つVn−1≧V、Vn+1≧Vを満足する。
定数Px及び変数△Sを設定する。Pxの値は、隣接しているいずれか2つの探測電極443の間の距離の1/2倍である。△Sの値は、接触点Tから隣接する探測電極E1nまでの横方向に沿う偏移距離である。△SとVn−1、Vn、Vn+1の関係は、以下の方程式を満足する。
Figure 2011018332
さらに演算し、方程式(1)は具体的に以下の方程式で表せる。
Figure 2011018332
又、Xt=Xn+△S...(3)
ただし、Xは接触点の横座標であり、Xは探測電極E1nの横座標である。方程式(1)、(2)、(3)によって以下の方程式(4)を得ることができる。
Figure 2011018332
以下、3個の特別点を計算することについて説明する。
△1≒0、△2≠0を満足する場合、△S≒−Pxであり、従って、Xt≒Xn−Pxを得る。接触点の位置は前記探測電極E1n−1と前記探測E1nとの中間線位置に近付き、接触点の横座標の値はXn−Pxに近付く。
△1=△2を満足する場合、△S=0、Xt≒Xnである。接触点の位置は前記探測電極E1nに近付き、接触点の横座標の値はXnに近付く。
△1≠0、△2≒0を満足する場合、△S≒+Pxであり、従って、Xt≒Xn+Pxを得る。接触点の位置は前記探測電極E1nと前記探測E1n+1との中間位置に近付き、接触点の横座標の値はXn+Pxに近付く。
以上の3種の情況は、実験の要求を満たすため、方程式(2)が接触点Tの座標に対する叙述を満足する。前記タッチパネル4における横軸の任意1つの位置は前記方程式(4)によって精確に確定することができる。
図8は、本発明の第一実施形態に係る3個点補間方法によってタッチパネル上の接触点の座標を確定する際、測定した電圧を示す図である。同じ原理によって、前記第一探測電極433に測定される接触点の電圧は極大値であり、接触点の電圧変化を明確に表示するために、図面には接触点の探測電圧しか表示しない。点Tは、接触点が前記タッチパネル4の横軸における相対位置である。点B′は、探測電圧波形における電圧極大値であり、且つ前記探測電極E2mに対応し、2≦m≦y−1である。点A′及び点C′は、電圧極大値に対応する探測電圧E2mに最も近い探測電極E2m−1及びE2m+1に対応する探測電圧である。点A′、 点B′及び点C′の電圧値は、それぞれVm−1′、V′及びVm+1′であり、且つVm−1′≦V′、Vm+1′≦V′である。
定数Py及び変数△S′を設定する。Pyの値は、隣接しているいずれか2つの探測電極443の間の距離の1/2倍である。△S′の値は、接触点Tから隣接する探測電極E1nまで横方向に沿う偏移距離である。△S′とVm−1′、Vm′、Vm+1′の関係は、以下の方程式を満足する。
Figure 2011018332
さらに演算し、方程式(5)は以下の方程式に具体的に表せる。
Figure 2011018332
又、Yt=Ym+△S′...(7)
ただし、Yは接触点の縦座標であり、Yは探測電極E2mの縦座標である。方程式(5)、(6)、(7)によって以下の方程式(8)を得ることができる。
Figure 2011018332
以下、3個の特別点を計算することについて説明する。
△1′≒0、△2′≠0を満足する場合、△S′≒−Py、従って、Yt≒Ym−Pyを得る。接触点の位置は前記探測電極E2m−1と前記探測E2mとの中間線位置に近付き、接触点の横座標の値はXn−Pxに近付く。
△1′=△2′を満足する場合、△S′=0、Yt≒Ym。接触点は前記探測電極E2mに近付き、縦座標の値はYmに近付く。
△1′≠0、△2′≒0を満足する場合、△S′≒+Pyであり、従って、Yt≒Ym+Pyを得る。接触点の位置は前記探測電極E2mと前記探測E2m+1との中間線位置に近付き、接触点の横座標の値はYm+Pyに近付く。
以上の3種の情況は実験の要求を満たすため、方程式(6)が接触点Tの座標の叙述を満足することを示す。前記タッチパネル4における縦軸の任意1つの位置は前記方程式(4)によって精確に確定することができる。
前記タッチパネル4における任意1つの接触点の座標は、以上の演算の方法によって精確に確定されることができる。
図9は、タッチパネルを複数の区域に分割して接触点の座標を確定する際、タッチパネルの区域分割を示す図である。前記タッチパネル4は、中間区域I及び外部区域IIに分割される。前記中間区域Iは、前記タッチパネル4の横辺縁までの最短距離がPy以上であり且つ前記タッチパネル4の縦辺縁までの最短距離がP以上である区域を含む。前記外部区域IIは、前記タッチパネル4の横辺縁までの最短距離がP未満であり且つ前記タッチパネル4の縦辺縁までの最短距離がP未満である区域を含む。P、Pの値は、上記の内容のように定義される。
接触点が前記中間区域Iに位置する場合、例えば、上述の方程式(4)及び方程式(8)を採用して、接触点Tの座標を位置決めることができる。接触点が外部区域IIに位置する場合、接触点の座標は以下の方程式を満足する。
前記第一探測電極433の電圧は前記第二探測電極443より小さい場合、前記第二探測電極443の探測極値電圧は極小値電圧であり、前記第一探測電極433の探測極値電圧は極大値電圧である。
接触点TがE11〜E11+Pの範囲内に位置する場合、横軸における接触点Tに最も近い探測電極はE11であり、次に近い探測電極はE12である。
横座標について、Vが極小値電圧である場合、接触点の位置Xは、以下の方程式を満足する。
Figure 2011018332
、Vは基準電圧であり、ただし、V>V>Vである。
接触点TがE1n〜E1n−Pの範囲内に位置する場合、横軸における接触点Tに最も近い探測電極はE1nであり、次に近い探測電極はE1n−1である。Vは極小値電圧であり、接触点の座標は、以下の方程式を満足する。
Figure 2011018332
、Vは基準電圧であり、ただし、V>Vn−1>V
の座標は、上記の方程式(8)を満足する。
接触点TがE21〜E21+Pの範囲内に位置する場合、縦軸における接触点Tに最も近い探測電極はE21であり、次に近い探測電極はE22である。
縦座標について、Vは極大値電圧である場合、接触点の位置Yは以下の方程式を満足する。
Figure 2011018332
、V′は基準電圧であり、ただし、V′>V′>V′である。
接触点TがE2y〜E2y−Pの範囲内に位置する場合、縦軸における接触点Tに最も近付くの探測電極はE2yであり、次の近付くの探測電極はE2y−1である。V′は極大値電圧であり、接触点の座標は以下の方程式を満足する。
Figure 2011018332
、V′は基準電圧であり、ただし、V′>Vy−1′>V′である。
の座標は、上記の方程式(4)を満足する。
以上、本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形又は修正が可能であり、該変形又は修正もまた、本発明の特許請求の範囲内に含まれるものであることは、いうまでもない。
2、4 タッチパネル
21 第一基板
22 第二基板
23、43 第一伝導層
231、431 第一導電層
232、432 第一電極
24、44 第二伝導層
241、441 第二導電層
242、442 第二電極
243 探測電極
25 粘着層
27 絶縁素子
433 第一探測電極
443 第二探測電極

Claims (29)

  1. 抵抗異方性を有する導電層及び前記導電層の1つの側辺に互いに離間して設置される複数の探測電極を含むタッチパネルを提供するステップと、
    前記導電層に第一電圧を印加するステップと、
    前記タッチパネルがタッチされた場合、前記導電層に第二電圧を印加し、前記第二電圧の印加点を接触点とするステップと、
    前記複数の探測電極の電圧を順次に測定し、相対極値電圧及び前記極値電圧に最も近い探測電極の電圧を捜すステップと、
    測定した前記極値電圧及び前記極値電圧に最も近い探測電圧に対応する探測電極の位置に基づいて、前記導電層における前記接触点の位置座標を確定するステップと、
    を備えることを特徴とするタッチパネルの位置決め方法。
  2. 前記複数の探測電極は順次にE11〜E1xに定義され、それに対応する電圧はそれぞれV〜Vに定義され、前記複数の探測電極の座標はぞれぞれX〜Xに定義され、隣接しているいずれか2つの探測電極の間の距離は2Pに定義され、中間電極はE1nに定義され、ただし、2≦n≦x−1を満足し、Vは前記極値電圧であり、前記極値電圧に対応する探測電極に最も近い2つの探測電極はそれぞれE1n−1、E1n+1に定義され、前記接触点の座標はXに定義されることを特徴とする請求項1に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  3. 前記第一電圧が前記第二電圧より小さい場合、前記極値電圧は極大値電圧であることを特徴とする請求項2に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  4. 前記Vが極大値電圧である場合、前記接触点の位置Xは以下の方程式を満足することを特徴とする請求項3に記載のタッチパネルの位置決め方法。
    Figure 2011018332
    ただし、Vは基準電圧であり、V>V>V
  5. 前記Vが極大値電圧である場合、前記接触点の位置Xは以下の方程式を満足することを特徴とする請求項3に記載のタッチパネルの位置決め方法。
    Figure 2011018332
    ただし、Vは基準電圧であり、V>Vx−1>V
  6. 前記Vが極大値電圧であり且つ2≦n≦x−1を満足する場合、前記接触点の位置Xは以下方程式を満足することを特徴とする請求項3に記載のタッチパネルの位置決め方法。
    Figure 2011018332
  7. 前記第一電圧は前記第二電圧より大きい場合、前記極値電圧は極小値電圧であることを特徴とする請求項2に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  8. 前記Vが極小値電圧である場合、前記接触点の位置Xは以下の方程式を満足することを特徴とする請求項7に記載のタッチパネルの位置決め方法。
    Figure 2011018332
    ただし、Vは基準電圧であり、V>V>V
  9. 前記Vが極小値電圧である場合、前記接触点の位置Xは以下の方程式を満足することを特徴とする請求項7に記載のタッチパネルの位置決め方法。
    Figure 2011018332
    ただし、Vは基準電圧であり、V>Vx−1>V
  10. 前記Vが極小値電圧であり且つ2≦n≦x−1を満足する場合、前記接触点の位置Xは以下方程式を満足することを特徴とする請求項7に記載のタッチパネルの位置決め方法。
    Figure 2011018332
  11. 前記導電層は、カーボンナノチューブフィルムであることを特徴とする請求項1に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  12. 前記タッチパネルの前記複数の探測電極に対向する片側に第一電極が設置され、前記第一電極によって前記導電層に前記第一電圧を印加することを特徴とする請求項1に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  13. 前記第一電極の配列方向及び前記複数の探測電圧の配列方向は、前記導電層の主導電方向に直交することを特徴とする請求項12に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  14. 前記複数の探測電極の電圧を順次に測定する場合、測定されない探測電極に前記第一電圧を印加することを特徴とする請求項12に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  15. 第一導電層と、前記第一導電層の1つの側辺に互いに離間して設置される複数の第一探測電極と、第二導電層と、前記第二導電層における前記第一導電層の前記1つの側辺に直交する1つの側辺に互いに離間して設置される複数の第二探測電極と、を含み、前記第一導電層及び前記第二導電層は抵抗異方性を有するタッチパネルを提供するステップと、
    前記第一導電層に第一電圧を印加するステップと、
    前記第二導電層に第二電圧を印加し、前記第一導電層と前記第二導電層との間の接触箇所を接触点とするステップと、
    前記複数の第一探測電極の電圧を測定し、相対極値電圧及び前記極値電圧に最も近い第一探測電極の電圧を捜し、測定した前記極値電圧及び前記極値電圧に最も近い探測電圧に対応する第一探測電極の位置に基づいて、前記導電層における接触点の水平位置座標を確定するステップと、
    前記複数の第二探測電極の電圧を測定し、相対極値電圧及び前記極値電圧に最も近い第二探測電極の電圧を捜し、測定した前記極値電圧及び前記極値電圧に最も近い探測電圧に対応する第二探測電極の位置に基づいて、前記導電層における接触点の垂直位置座標を確定するステップと、
    を備えることを特徴とするタッチパネルの位置決め方法。
  16. 前記複数の第二探測電極は順次にE21〜E2yに定義され、それに対応する探測電圧はそれぞれV′〜V′に定義され、前記複数の第二探測電極の座標はぞれぞれY〜Yに定義され、隣接しているいずれか2つの第二探測電極の間の距離は2Pに定義され、極値電圧はV′に定義され、前記極値電圧に対応する探測電極はE2mに定義され、ただし、2≦m≦y−1を満足し、前記極値電圧に対応する探測電極に最も近い2つの探測電極はそれぞれE2m−1、E2m+1に定義され、前記接触点の前記第二探測電極の配列方向における座標はYに定義されることを特徴とする請求項15に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  17. 前記第一電圧が前記第二電圧より小さい場合、前記第一探測電極の極値電圧は極大値電圧であり、前記第二探測電極の極値電圧は極小値電圧であることを特徴とする請求項16に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  18. 前記V′が極小値電圧である場合、前記接触点の位置Yは以下の方程式を満足することを特徴とする請求項17に記載のタッチパネルの位置決め方法。
    Figure 2011018332
    ただし、V′は基準電圧であり、V′>V′>V
  19. 前記V′が極小値電圧である場合、前記接触点の位置Yは以下の方程式を満足することを特徴とする請求項17に記載のタッチパネルの位置決め方法。
    Figure 2011018332
    ただし、V′は基準電圧であり、V′>Vy−1′>V
  20. 前記V′が極小値電圧であり且つ2≦m≦y−1を満足する場合、前記接触点の位置Yは以下方程式を満足することを特徴とする請求項17に記載のタッチパネルの位置決め方法。
    Figure 2011018332
  21. 前記第一電圧が前記第二電圧より大きい場合、前記第一探測電極の極値電圧は極小値電圧であり、前記第二探測電極の極値電圧は極大値電圧であることを特徴とする請求項16に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  22. 前記V′が極大値電圧である場合、前記接触点の位置Yは以下の方程式を満足することを特徴とする請求項21に記載のタッチパネルの位置決め方法。
    Figure 2011018332
    ただし、V′は基準電圧であり、V′>V′>V
  23. 前記V′が極大値電圧である場合、前記接触点の位置Yは以下の方程式を満足することを特徴とする請求項21に記載のタッチパネルの位置決め方法。
    Figure 2011018332
    ただし、V′は基準電圧であり、V′>Vy−1′>V
  24. 前記V′が極大値電圧であり且つ2≦m≦y−1を満足する場合、前記接触点の位置Yは以下方程式を満足することを特徴とする請求項21に記載のタッチパネルの位置決め方法。
    Figure 2011018332
  25. 前記第一導電層及び第二導電層は、全てカーボンナノチューブフィルムであり、且つ前記第一導電層及び第二導電層の主導電方向は互いに直交することを特徴とする請求項15に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  26. 前記第一導電層の前記複数の第一探測電極に対応する片側に第一電極が設置され、前記第一電極によって前記第一導電層に前記第一電圧を印加し、前記第二導電層の前記複数の第二探測電極に対応する片側に第二電極が設置され、前記第二電極によって前記第二導電層に前記第二電圧を印加することを特徴とする請求項15に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  27. 前記第一電極の配列方向及び前記複数の第二探測電極の配列方向は、前記第一導電層の主導電方向に直交し、前記第二電極の配列方向及び前記複数の第二探測電極の配列方向は、前記第一導電層の主導電方向に直交することを特徴とする請求項26に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  28. 前記複数の第一探測電極の電圧を順次に測定している場合、測定されない第一探測電極に前記第一電圧を印加し、測定されない第二探測電極に前記第二電圧を印加することを特徴とする請求項26に記載のタッチパネルの位置決め方法。
  29. 前記複数の第二探測電極の電圧を順次に測定している場合、測定されない第二探測電極に前記第二電圧を印加し、測定されない第一探測電極に前記第一電圧を印加することを特徴とする請求項26に記載のタッチパネルの位置決め方法。
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