TWI420376B - 觸控面板之多點辨識方法 - Google Patents

Description

觸控面板之多點辨識方法

本發明有關於一種觸控面板結構，特別有關於一種採用奈米碳管導電層的觸控面板，以及應用於該觸控面板的多點辨識方法。

傳統觸控面板主要包括電阻式、電容式、紅外線式以及表面聲波式。一般如四線或五線感測電阻式觸控面板，因為是採類比方式偵測導電膜上的電壓變化，因此，在使用過程中同一時間只能辨識單點觸控動作，當使用者同時以多點觸控動作進行輸入時，會產生誤動作。

美國專利公開案US2006/0097991以及US2008/0158181分別揭露一種可進行多點觸控辨識的電容式觸控面板結構，其一般包括分別設置在二透明玻璃基板相對側表面上透明導電層，依據產品解析度的不同，兩個導電層分別需經傳統黃光製程，形成多條相互間隔且平行設置的導線，且兩面的導線互相垂直。操作時，藉由反復掃描各條導線，分析其上電容的變化來判斷使用者手指接觸點的座標。

然而，上述電容式觸控面板，需以傳統黃光製程生產，製作難度高，產品良率較低，驅動方法也較為複雜。因此，雖電容式觸控面板可辨識多點觸控操作，但其高昂的成本，無形中限制了其適合的應用範圍。

為了解決傳統電容式觸控面板結構和驅動複雜，同時傳統電阻式觸控面板無法辨識多點操作的問題，有必要提供一 種結構和驅動簡單，且可同時進行多個觸控點操作的觸控面板，以及應用於該觸控面板之多點辨識方法。

本發明提供一種用於觸控面板的多點辨識方法，觸控面板具有相疊合的二導電層，其中第一導電層具有阻抗異向性，在第一導電層的一側邊具有複數個相間隔的第一感測電極，該多點辨識方法包括下列步驟：提供一第一電壓到第一導電層；提供大於第一電壓的一第二電壓到第二導電層；當觸控面板有至少二點被觸碰而使第二導電層接觸到第一導電層時，依序量測各第一感測電極之電壓訊號，取得一第一X軸相對高電壓、一第二X軸相對高電壓以及位二X軸相對高電壓之間的一X軸相對低電壓訊號；將第一X軸相對高電壓訊號所對應的位置視為一第一X軸觸控點，輸出一第一觸控點X軸座標；以及將第二X軸相對高電壓訊號所對應的位置視為一第二X軸觸控點，輸出一第二觸控點X軸座標。

其次，第二導電層之一側邊設置複數個相間隔的第二感測電極，第二感測電極所在之側邊與第一感測電極所在之側邊互相垂直，第二導電層具有阻抗異向性，第二導電層的低阻抗方向與第一導電層的低阻抗方向互相垂直。因此，上述多點辨識方法更包括下列步驟：當觸控面板有至少二點被觸碰而使第二導電層接觸到第一導電層時，依序量測各第二感測電極之電壓訊號，取得一第一Y軸相對低電壓、一第二Y軸相對低電壓以及位於第一Y軸相對低電壓及第二Y軸相對低電壓之間的一Y軸相對高電壓訊號；將第一Y軸相對低電壓訊號所對應的位置視為一第一Y軸觸控點，輸出一第一Y 軸座標；以及將第二Y軸相對低電壓訊號所對應的位置視為一第二Y軸觸控點，輸出一第二觸控點Y軸座標。

在一較佳實施例中，當依序量測各第一感測電極之電壓訊號時，提供第一電壓到其他未進行測量的第一感測電極。當依序量測各第二感測電極之電壓訊號時，提供第二電壓到其他未進行測量的第二感測電極。第一導電層及第二導電層為一大致上平行排列的奈米碳管所形成之導電薄膜。

第1圖為本發明一實施例的電阻式觸控面板組合圖。為了簡化圖示及說明，圖中之第一感測電極114及第二感測電極124僅分別以五電極表示，但實際應用時，第一感測電極114及第二感測電極124的數目，可根據實際觸控面板的面積及應用領域而定。

如第1圖所示，觸控面板100由二導電膜110,120相疊合而成，二導電膜110,120以一環形膠體層130黏合固定，中央均均散佈複數個絕緣間隔物132(spacer)，使二導電膜110,120維持一固定間距。

導電膜110包括一基板111，一第一導電層113藉由膠體層112黏合固定於基板111表面。在導電膜110表面另設置複數個第一感測電極114、第一電極115以及一連接導線116。其中第一感測電極114間之間距相等，並分別與第一導電層113的一側電性連接；第一電極115平行設置於導電膜110另一側的邊緣，並與第一導電層113另一側電性連接，同時第一電極115於左側透過連接導線116沿著第一導電層113外側 邊緣平行延伸，末端延伸至導電膜110的下緣中央，作為傳遞訊號之用。

導電膜120亦包括一基板121，另一第二導電層123藉由膠體層122黏合固定於基板121表面。在導體層123表面另設置複數個第二感測電極124、第二電極126以及複數條連接導線125。第二感測電極124間之間距相等，並分別與第二導電層123的電性連接；第二電極126平行設置於導電膜120左側的邊緣，並與第二導電層123電性連接；第二感測電極124與導電膜120右側數條平行排列的連接導線125連接，連接導線125沿著第二導電層123右側邊緣，末端延伸至導電膜120的下緣中央，作為傳遞訊號之用。

此外，觸控面板100另包括一軟性印刷電路板140，其具有複數個金屬接點141，在環形膠體層130下緣中央具有一缺口131。在組裝時，該缺口131與軟性電路板140對應，軟性電路板140上下的金屬接點141可與導電膜110及導電膜120上的各導線的末端電性連接，可使外部電訊號傳遞到導電層110的第一感測電極114、第一電極115以及導電層120的第二感測電極124、第二電極126上。

在一較佳實施例中，本發明實施例觸控面板100所使用之基板111,121，可採用透明材質如：聚乙烯(Polyethylene,PE)，聚碳酸酯(Polycarbonate PC)，聚對苯二甲酸二乙酯(polyethylene terephthalate,PET)，聚甲基丙烯酸甲酯(PolyMethyl MethAcrylate,PMMA)或薄化後的玻璃基板；環形膠體層130、膠體層112及膠體層122可以是熱固化膠或UV固化膠。

在台灣專利公開案(公開號：TW 200920689)「奈米碳管薄膜製備裝置及其製備方法」中，揭露一種奈米碳管薄膜的製備方法，藉由該方法可產生一具有導電特性的奈米碳管薄膜，且因該方法是由超順垂直排列奈米碳管陣列(Super Vertical-Aligned Carbon Nanotube Array)透過拉伸方式製成，可應用於製作透明導電膜。

為了提高觸控面板的可靠度，並縮減觸控面板的邊框寬度，本發明實施例中之第一導電層113及第二導電層123是以上述方法所形成的奈米碳管導電薄膜所構成。但因拉伸製程中，長鍊狀奈米碳管約略沿著拉伸方向平行排列，而導電膜在拉伸方向具有較低阻抗，在垂直拉伸方向阻抗約為拉伸方向阻抗的50至350倍之間，其表面電阻也因量測的位置不同、方向不同而介於1kΩ/□至800kΩ/□之間，因此第一導電層113及第二導電層123具有導電異方向性(Anisotropic Conductivity)。

如第1圖所示，在本發明實施例中，第一導電層113具有一主導電方向P₁ (原導電膜拉伸方向)，第二導電層123具有另一主導電方向P₂ ，且第一導電層113的主要導電方向P₁ 及第二導電層123的主要導電方向P₂ 相互垂直，且第一導電層113與第二導電層123在垂直主導電方向P₁ ,P₂ 的阻抗約為主導電方向P₁ ,P₂ 阻抗的100至200倍之間。

為了簡化說明，以下實施例以觸控面板在操作時，僅有二個觸控點舉例，但實際操作時，本發明實施例觸控面板之多點辨識方法亦可適用於更多觸控點的情形。

第2圖為本發明第一實施例於二點輸入時，X軸側感測電極所測得之電壓分佈示意圖。其中X_n-1 ~X_m+1 代表第一感測電極114所對應的X軸座標，V_n-1 ~V_m+1 代表由所對應的第一感測電極114所量測得之電壓訊號，P_x 代表第一感測電極114之間的間距。

請參照第1圖及第2圖，當上述觸控面板100尚未進行感測時，第一電極115及各第一感測電極114均輸入一第一電壓V₁ ，使第一導電層113處於等電位；第二電極126及各第二感測電極124均輸入一第二電壓V₂ ，使第二導電層123亦處於等電位。其中第二電壓V₂ 大於第一電壓V₁ 。

當上述觸控面板100在進行感測時，可先以X軸量測開始，由各個第一感測電極114依序切換，進行電壓量測，接著再進行Y軸量測，由各第二感測電極依序切換，進行電壓量測，如此反覆切換，以偵測使用者的觸控操作，當觸控面板100未被觸碰時時各個第一感測電極114所測得的電壓均為第一電壓V1，各個第二感測電極124所測得的電壓均為第二電壓V2。

在一較佳實施例中，當依序量測各第一感測電極114之電壓訊號時，持續提供第一電壓V₁ 到其他未進行測量的第一感測電極114。當依序量測各第二感測電極124之電壓訊號時，持續提供第二電壓V₂ 到其他未進行測量的第二感測電極124，可增加訊號的識別度。

當觸控面板100有至少二點被觸碰，而使第二導電層123接觸到第一導電層113時，依照上述說明，可由各第一感測電極之電壓訊號可判斷出一第一X軸相對高電壓V_n 、一第二 X軸相對高電壓V_m 以及位於二X軸相對高電壓之間的X軸相對低電壓訊號V₁ ，而測得第一X軸相對高電壓V_n 的第一感測電極114所對應的X軸座標為X_n ，測得第二X軸相對高電壓V_m 的第一感測電極114所對應的X軸座標為X_m 。

此時可將第一X軸相對高電壓V_n 所對應的位置視為一第一X軸觸控點，將第二X軸相對高電壓V_m 所對應的位置視為一第二X軸觸控點，其中第一X軸觸控點的實際X座標值X₁ 可由下列第一方程組計算獲得： 上式中n2，V_n-1 為第n-1個第一感測電極所測得之電壓，V_n+1 為第n+1個第一感測電極所測得之電壓。

其次，第二X軸觸控點的實際X座標值X₂ 可由下列第二方程組計算獲得： 上式中mn+3，V_m-1 為第m-1個第一感測電極所測得之電壓，V_m+1 為第m+1個第一感測電極所測得之電壓。

第3圖為本發明第二實施例當二觸控點在X軸方向很接近時，X軸側感測電極所測得之電壓分佈示意圖。如第3圖所示，因為本發明實施例之觸控面板100所採用的第一導電層113及第一感測電極114為約略平行的奈米碳管所形成的導電薄膜，其具有阻抗異向性，因此當碰觸觸控面板100的二 個觸控點在X軸方向很接近時，位於二X軸相對高電壓V_n ,V_m 之間的X軸相對低電壓訊號V_n+1 為左右兩側X軸相對高電壓V_n ,V_m 的作用疊加(V_n+1 ’+V_m-1 ’)。因此當m=n+2時，第一方程組中之V_n+1 及第二方程組中之V_m-1 需分別由下列V_n+1 ’及V_m-1 ’取代，再進行X座標計算：

其中V_n+1 ’正比V_n 且正比(V_n -V_n-1 ),V_m-1 ’正比V_m 且正比(V_m -V_m+1 )。

第4圖為本發明第三實施例於二點輸入時，Y軸側感測電極所測得之電壓分佈示意圖。請參照第1圖及第4圖，在完成上述X座標偵測後，可繼續由各第二感測電極124之電壓訊號可判斷出一第一Y軸相對低電壓V_s 、一第二Y軸相對低電壓V_t 以及位於二Y軸相對低電壓之間的一Y軸相對高電壓訊號V₂ ，而測得第一Y軸相對低電壓V_s 的第二感測電極124所對應的Y軸座標為Y_s ，測得第二Y軸相對低電壓V_t 的第二感測電極124所對應的Y軸座標為Y_t 。

此時可將第一Y軸相對低電壓V_s 所對應的位置視為一第一Y軸觸控點，將第二Y軸相對低電壓V_t 所對應的位置視為一第二Y軸觸控點，其中第一Y軸觸控點的實際Y座標值Y₁ 與第二Y軸觸控點的實際Y座標值Y₂ 可分別由由下列第三與第四方程組計算獲得： 其中s2，V_s-1 為第s-1個第二感測電極所測得之電壓，V_s+1 為第s+1個第二感測電極所測得之電壓。

其次，第二觸控點Y軸座標Y₂ 滿足下列第四方程組： 其中ts+3，V_t-1 為第t-1個第二感測電極所測得之電壓，V_t+1 為第t+1個第二感測電極所測得之電壓。

第5圖為本發明第四實施例當二觸控點在Y軸方向很接近時，Y軸側感測電極所測得之電壓分佈示意圖。同理，因第一導電層113及第二導電層123具有阻抗異向性，因此當碰觸觸控面板100的二個觸控點在Y軸方向很接近時，位於二Y軸相對低電壓V_s ,V_t 之間的Y軸相對高電壓訊號V_s+1 為左右兩側Y軸相對低電壓V_s ,V_t 的作用疊加(V₂ -V_s+1 ’-V_t-1 ’)。因此當t=s+2時，第三方程組中之V_s+1 及第四方程組中之V_t-1 分別由下列V_s+1 ’及V_t-1 ’取代，再進行Y座標計算：

其中V_s+1 ’正比V_s 且正比(V_s-1 -V_s ),V_t-1 ’正比V_t 且正比(V_t+1 -V_t )。

由上述說明可知，本發明實施例觸控面板之多點辨識方法可分別得知二點的觸控點的X座標及Y座標，進而達到多點觸控的目的。

此外，如第6圖所示，當在第一個掃描週期中，所求得之第一觸控點X軸座標X₁ 、第二觸控點X軸座標X₂ 、第一觸控點Y軸座標Y₁ 及第二觸控點Y軸座標Y₂ 簡單配對，可得出一對角分別為第一觸控點A(X₁ ,Y₁ )及第二觸控點B(X₂ ,Y₂ )的矩形；而在次一個掃描週期中，所求得的第一觸控點座標改變為A’(X₁ ’,Y₁ ’)，第二觸控點座標改變為B’(X₂ ’,Y₂ ’)時，以A’及B’為對角線的矩形面積大於前一掃描週期的接觸點矩形面積，因此可將此動作設定為多點觸控的「放大」功能。反之，當在次一掃描週期中，以觸控點A’及B’為對角線的矩形面積小於前一掃描週期中，以觸控點A及B為對角線的矩形面積，則可將此功能設定為多點觸控的「縮小」功能。

其次，如第7圖所示，在次一掃描週期中，以觸控點A’及B’為對角線的矩形面積約略等於前一週期中，以觸控點A及B為對角線的矩形面積，但觸控點A及B平移至觸控點A’及B’，則可將此功能設定為多點觸控的「平移」或是「翻頁」功能。

如第8圖所示，在次一掃描週期中，以觸控點A’及B’為對角線的矩形面積約略等於前一週期中，以觸控點A及B為對角線的矩形面積，但觸控點A及B斜向平移至觸控點A’及B’，造成類似矩形向順時針方向翻轉的軌跡，則可將此功能設定為多點觸控的「轉向」功能。

本發明主要提供一種結構和驅動簡單、成本較低的電阻式觸控面板，其且藉由簡單的計算，可進行多點辨識及多點觸控的手勢操作，因此可大幅擴大觸控面板的產品應用層面。

雖然本發明已於較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此項技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，仍可作些許的更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧觸控面板

110‧‧‧第一導電膜

111‧‧‧基板

112‧‧‧膠體層

113‧‧‧第一導電層

114‧‧‧第一感測電極

115‧‧‧第一電極

116‧‧‧連接導線

120‧‧‧第二導電膜

121‧‧‧基板

122‧‧‧膠體層

123‧‧‧第二導電層

124‧‧‧第二感測電極

125‧‧‧連接導線

126‧‧‧第二電極

130‧‧‧膠體層

131‧‧‧缺口

132‧‧‧間隔物

140‧‧‧軟性電路板

141‧‧‧金屬接點

P₁ ,P₂ ‧‧‧主導電方向

V₁ ‧‧‧第一電壓

V₂ ‧‧‧第二電壓

V_y ‧‧‧第二感測電極電壓

V_n ‧‧‧第一X軸相對高電壓

V_m ‧‧‧第二X軸相對高電壓

V_s ‧‧‧第一Y軸相對高電壓

V_t ‧‧‧第二Y軸相對高電壓

X_n ‧‧‧第一相對高電壓X軸座標

X_m ‧‧‧第二相對高電壓X軸座標

Y_s ‧‧‧第一相對低電壓Y軸座標

Y_t ‧‧‧第二相對低電壓Y軸座標

P_x ‧‧‧第一感測電極間距

P_y ‧‧‧第二感測電極間距

A‧‧‧第一觸控點

B‧‧‧第二觸控點

X₁ ‧‧‧第一觸控點X軸座標

X₂ ‧‧‧第二觸控點X軸座標

Y₁ ‧‧‧第一觸控點Y軸座標

Y₂ ‧‧‧第二觸控點Y軸座標

V_x ‧‧‧第一感測電極電壓

第1圖為本發明一實施例電阻式觸控面板之組合圖。

第2圖為本發明第一實施例於二點輸入時，X軸側感測電極所測得之電壓分佈示意圖。

第3圖為本發明第二實施例當二觸控點在X軸方向很接近時，X軸側感測電極所測得之電壓分佈示意圖。

第4圖為本發明第三實施例於二點輸入時，Y軸側感測電極所測得之電壓分佈示意圖。

第5圖為本發明第四實施例當二觸控點在Y軸方向很接近時，Y軸側感測電極所測得之電壓分佈示意圖。

第6圖至第8圖為應用本發明多點辨識方法進行不同操作手勢判別之示意圖。

100‧‧‧觸控面板

110‧‧‧第一導電膜

111‧‧‧基板

112‧‧‧膠體層

113‧‧‧第一導電層

114‧‧‧第一感測電極

115‧‧‧第一電極

116‧‧‧連接導線

120‧‧‧第二導電膜

121‧‧‧基板

122‧‧‧膠體層

123‧‧‧第二導電層

124‧‧‧第二感測電極

125‧‧‧連接導線

126‧‧‧第二電極

130‧‧‧膠體層

131‧‧‧缺口

132‧‧‧間隔物

140‧‧‧軟性電路板

141‧‧‧金屬接點

P₁ ,P₂ ‧‧‧主導電方向

Claims (16)

1. 一種用於觸控面板的多點辨識方法，其中該觸控面板具有相疊合的一第一導電層及一第二導電層，第一導電層之一側邊設置複數個相間隔的第一感測電極，第一導電層具有阻抗異向性，該多點辨識方法包括下列步驟：提供一第一電壓到該第一導電層；提供一第二電壓到該第二導電層，其中該第二電壓大於該第一電壓；當觸控面板有至少二點被觸碰而使第二導電層接觸到第一導電層時，依序量測各第一感測電極之電壓訊號，取得一第一X軸相對高電壓、一第二X軸相對高電壓以及位於該第一X軸相對高電壓及該第二X軸相對高電壓之間的一X軸相對低電壓訊號；將第一X軸相對高電壓訊號所對應的位置視為一第一X軸觸控點，輸出一第一觸控點X軸座標；以及將第二X軸相對高電壓訊號所對應的位置視為一第二X軸觸控點，輸出一第二觸控點X軸座標。
2. 如申請專利範圍第1項所述之多點辨識方法，其中當依序量測各第一感測電極之電壓訊號時，提供第一電壓到其他未進行測量的第一感測電極。
3. 如申請專利範圍第1項所述之多點辨識方法，其中當第n個第一感測電極量測得該第一X軸相對高電壓訊號V_n 時，第一觸控點X軸座標X₁ 滿足下列第一方程組： 其中n2，V_n-1 為第n-1個第一感測電極所測得之電壓，V_n+1 為第n+1個第一感測電極所測得之電壓，X_n 為第n個第一感測電極所對應之X軸座標，P_x 為第一感測電極的間距。
4. 如申請專利範圍第3項所述之多點辨識方法，其中當第m個第一感測電極量測得該第二X軸相對高電壓訊號V_m 時，第二觸控點X軸座標X₂ 滿足下列第二方程組： 其中mn+3，V_m-1 為第m-1個第一感測電極所測得之電壓，V_m+1 為第m+1個第一感測電極所測得之電壓，X_m 為第m個第一感測電極所對應之X軸座標。
5. 如申請專利範圍第4項所述之多點辨識方法，其中當m=n+2時，第一方程組中之V_n+1 及第二方程組中之V_m-1 分別由下列V_n+1 ’及V_m-1 ’取代： 其中V₁ 為該第一電壓。
6. 如申請專利範圍第1項所述之多點辨識方法，其中第二導電層之一側邊設置複數個相間隔的第二感測電極，第二感測電極所在之側邊與第一感測電極所在之側邊互相垂直，第二導電層具有阻抗異向性，第二導電層的低阻抗方向與第一導電層的低阻抗方向互相垂直。
7. 如申請專利範圍第6項所述之多點辨識方法，其中該多點辨識方法更包括下列步驟：當觸控面板有至少二點被觸碰而使第二導電層接觸到第一導電層時，依序量測各第二感測電極之電壓訊號，取得一第一Y軸相對低電壓、一第二Y軸相對低電壓以及位於第一Y軸相對低電壓及第二Y軸相對低電壓之間的一Y軸相對高電壓訊號；將第一Y軸相對低電壓訊號所對應的位置視為一第一Y軸觸控點，輸出一第一Y軸座標；以及將第二Y軸相對低電壓訊號所對應的位置視為一第二Y軸觸控點，輸出一第二觸控點Y軸座標。
8. 如申請專利範圍第7項所述之多點辨識方法，其中當依序量測各第二感測電極之電壓訊號時，提供第二電壓到其他未進行測量的第二感測電極。
9. 如申請專利範圍第7項所述之多點辨識方法，其中當第s個第一感測電極量測得該第一Y軸相對低電壓訊號V_s 時，第一Y軸座標Y₁ 滿足下列第三方程組： 其中s2，V_s-1 為第s-1個第二感測電極所測得之電壓，V_s+1 為第s+1個第二感測電極所測得之電壓，Y_s 為第s個第二感測電極所對應之Y軸座標，P_y 為第二感測電極的間距。
10. 如申請專利範圍第9項所述之多點辨識方法，其中當第t個第二感測電極量測得該第二Y軸相對低電壓訊號V_t 時，第二觸控點Y軸座標Y₂ 滿足下列第四方程組： 其中ts+3，V_t-1 為第t-1個第二感測電極所測得之電壓，V_t+1 為第t+1個第二感測電極所測得之電壓，Y_t 為第t個第二感測電極所對應之Y軸座標。
11. 如申請專利範圍第10項所述之多點辨識方法，其中當t=s+2時，第三方程組中之V_s+1 及第四方程組中之V_t-1 分別由下列V_s+1 ’及V_t-1 ’取代： 其中V₂ 為該第一電壓。
12. 如申請專利範圍第6項所述之多點辨識方法，其中第一導電層及第二導電層為一平行排列的奈米碳管所形成之導電薄膜。
13. 一種用於觸控面板的多點辨識方法，其中該觸控面板具有相疊合的一第一導電層及一第二導電層，第一導電層之一側邊設置複數個相間隔的第一感測電極，第一導電層具有阻抗異向性，該多點辨識方法包括下列步驟：提供一第一電壓到該第一導電層；提供一第二電壓到該第二導電層，其中該第二電壓小於該第一電壓；當觸控面板有至少二點被觸碰而使第二導電層接觸到第一導電層時，依序量測各第一感測電極之電壓訊號，取得一第一相對低電壓、一第二相對低電壓以及位於第一相對低電壓及第二相對低電壓之間的一第一相對高電壓訊號；將第一相對低電壓訊號所對應的位置視為一第一觸控點，輸出一第一觸控點座標；以及將第二相對低電壓訊號所對應的位置視為一第二觸控點，輸出一第二觸控點座標。
14. 如申請專利範圍第13項所述之多點辨識方法，其中當第s個第一感測電極量測得該第一相對低電壓訊號V_s 時，第一座標Y₁ 滿足下列第三方程組： 其中s2，V_s-1 為第s-1個第一感測電極所測得之電壓，V_s+1 為第s+1個第一感測電極所測得之電壓，Y_s 為第s個第一感測電極所對應之Y軸座標，P_y 為第一感測電極的間距。
15. 如申請專利範圍第14項所述之多點辨識方法，其中當第t個第一感測電極量測得該第二Y軸相對低電壓訊號V_t 時，第二觸控點Y軸座標Y₂ 滿足下列第四方程組： 其中ts+3，V_t-1 為第t-1個第一感測電極所測得之電壓，V_t+1 為第t+1個第一感測電極所測得之電壓，Y_t 為第t個第一感測電極所對應之Y軸座標。
16. 如申請專利範圍第15項所述之多點辨識方法，其中當t=s+2時，第三方程組中之V_s+1 及第四方程組中之V_t-1 分別由下列V_s+1 ’及V_t-1 ’取代： 其中V₁ 為該第一電壓。