TWI406165B - 觸控面板之多點辨識方法 - Google Patents

Description

觸控面板之多點辨識方法

本發明係關於一種觸控面板，且特別係關於一種觸控面板的多點辨識方法。

傳統觸控面板主要包括電阻式、電容式、紅外線式以及表面聲波式。一般如四線或五線感測電阻式觸控面板，因為是採類比方式偵測導電膜上的電壓變化，因此，在使用過程中同一時間只能辨識單點觸控動作，當使用者同時以多點觸控動作進行輸入時，會產生誤動作。

美國專利公開案US2006/0097991以及US2008/0158181分別揭露一種可進行多點觸控辨識的電容式觸控面板結構，其一般包括分別設置在二透明玻璃基板相對側表面上透明導電層，依據產品解析度的不同，兩個導電層分別需經傳統黃光製程，形成多條相互間隔且平行設置的導線，且兩面的導線互相垂直。操作時，藉由反復掃描各條導線，分析其上電容的變化來判斷使用者手指接觸點的座標。

然而，上述電容式觸控面板，需以傳統黃光製程生產，製作難度高，產品良率較低，驅動方法也較為複雜。因此，雖電容式觸控面板可辨識多點觸控操作，但其高昂的成本，無形中限制了其適合的應用範圍。

本發明提供一種觸控面板的多點辨識方法，在二個觸控點很接近的情況下仍然可以判斷接觸點的座標。

本發明提出一種用於觸控面板的多點辨識方法。該觸控面板具有相疊合的第一導電層及第二導電層。第一導電層沿第一軸向具有多個第一電極，而第二導電層沿第二軸向具有多個第二電極。該多點辨識方法包括：當提供第一電壓到第一電極時，感測第二電極而獲得第一電位函數；當提供第一電壓到該些第一電極的一部份而不提供第一電壓到該些第一電極的另一部份時，感測第二電極而獲得第二電位函數；以及使用第一電位函數與第二電位函數而計算於該觸控面板上第一觸控點與第二觸控點於第二軸向的位置。

本發明提出一種用於觸控面板的多點辨識方法，其中觸控面板具有相疊合的第一導電層及第二導電層。第一導電層沿第一軸向具有多個第一電極。第二導電層沿第二軸向具有多個第二電極與多個第三電極，其中第二電極與第三電極分別被配置於第二導電層沿第一軸向的不同側。該多點辨識方法包括：當提供第一電壓到該些第一電極的第一部份而不提供第一電壓到該些第一電極的第二部份時，感測第二電極而獲得第一電位函數；當提供第一電壓到該些第一電極的第二部份而不提供第一電壓到該些第一電極的第一部份時，感測第三電極而獲得第二電位函數；將第一電位函數中極值所對應的位置視為第一觸控點於第二軸向的位置；以及將第二電位函數中極值所對應的位置視為第二觸控點於第二軸向的位置。

在本發明之一實施例中，上述之第一導電層與第二導電層具有非均質電導。例如，第二導電層的低阻抗方向為第一軸向，而第一導電層的低阻抗方向為第二軸向。在本發明之一實施例中，第一導電層及第二導電層為平行排列的奈米碳管所形成之導電薄膜。

基於上述，本發明實施例在二個觸控點很接近的情況下讀出含有第一與第二觸控點的第一電位函數，然後藉由驅動一部份的導電層電極來讀出含有第一觸控點的第二電位函數(同時獲得第一觸控點的位置)，最後藉由第一電位函數與第二電位函數而計算出第二觸控點的位置。本發明另一實施例於導電層的左右二側各自配置了一組電極，在二個觸控點很接近的情況下，藉由驅動一部份的導電層電極而仍然可以從導電層左右二側的電極組獲得第一與第二觸控點的位置。

為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1為本發明一實施例的電阻式觸控面板100組合圖。在圖1中引入笛卡兒座標系統(Cartesian coordinate system)，其包括相互垂直的X軸方向Y軸方向和Z軸方向。為了簡化圖式及說明，圖1中之第一電極114及第二電極124僅分別以五電極表示，但實際應用時，第一感測電極114及第二感測電極124的數目，可根據實際觸控面板的面積及應用領域而定。

如圖1所示，觸控面板100由第一導電膜110與第二導電膜120相疊合而成。第一導電膜110與第二導電膜120二者以一環形膠體層130黏合固定。第一導電膜110與第二導電膜120之間均勻散佈多個絕緣間隔物(spacer)132，使二導電膜110、120維持一固定間距。

第一導電膜110包括基板111與第一導電層113，其中第一導電層113藉由膠體層112黏合固定於基板111表面。在第一導電層113的一側沿第一軸向(例如：X軸方向)設置多個第 一電極114。其中，第一電極114間之間距相等，並分別與第一導電層113電性連接；第一電極114的末端延伸至第一導電膜110的下緣中央，作為對外部傳遞訊號之用。

第二導電膜120亦包括一基板121與第二導電層123，第二導電層123藉由膠體層122黏合固定於基板121表面。在第二導體層123的一側沿第二軸向(例如：Y軸方向)設置多個第二電極124。第二電極124間之間距相等，並分別與第二導電層123電性連接；第二電極124與第二導電膜120右側數條平行排列的連接導線125連接，連接導線125沿著第二導電層123右側邊緣延伸，連接導線125的末端延伸至第二導電膜120的下緣中央，作為對外部傳遞訊號之用。

此外，觸控面板100另包括一軟性印刷電路板140，其具有複數個金屬接點141，在環形膠體層130下緣中央具有一缺口131。在組裝時，該缺口131與軟性電路板140對應，軟性電路板140上下的金屬接點141可與第一導電膜110及第二導電膜120上的各導線的末端電性連接，可使外部電訊號傳遞到第一導電層110的第一電極114以及第二導電層120的第二電極124上。

在一較佳實施例中，本發明實施例觸控面板100所使用之基板111、121，可採用透明材質如：聚乙烯(Polyethylene,PE)、聚碳酸酯(Polycarbonate,PC)、聚對苯二甲酸二乙酯(polyethylene terephthalate,PET)、聚甲基丙烯酸甲酯(PolyMethyl MethAcrylate,PMMA)或薄化後的玻璃基板等。環形膠體層130、膠體層112及膠體層122可以是熱固化膠或UV固化膠等。

在台灣專利公開案(公開號：TW 200920689)「奈米碳管薄膜製備裝置及其製備方法」中，揭露一種奈米碳管薄膜的製備方法，藉由該方法可產生一具有導電特性的奈米碳管薄膜，且因該方法是由超順垂直排列奈米碳管陣列(Super Vertical-Aligned Carbon Nanotube Array)透過拉伸方式製成，可應用於製作透明的導電薄膜。

為了提高觸控面板100的可靠度，並縮減觸控面板100的邊框寬度，本發明實施例中之第一導電層113及第二導電層123是以上述方法所形成的奈米碳管導電薄膜所構成。但因拉伸製程中，長鍊狀奈米碳管約略沿著拉伸方向平行排列，而奈米碳管導電薄膜在拉伸方向具有較低阻抗，在垂直拉伸方向阻抗約為拉伸方向阻抗的50至350倍之間，其表面電阻也因量測的位置不同、方向不同而介於1 KΩ至800 KΩ之間，因此第一導電層113及第二導電層123具有非均質電導(Anisotropic Conductivity)。

如圖1所示，在本發明實施例中，第一導電層113具有一主導電方向D1(原導電膜拉伸方向)，第二導電層123具有另一主導電方向D2。在此實施例中，第一導電層113的主導電方向(即低阻抗方向)D1及第二導電層123的主導電方向D2相互垂直。例如，第二導電層123的低阻抗方向D2為X軸方向，而第一導電層113的低阻抗方向D1為Y軸方向。在此，第一導電層113與第二導電層123在主導電方向之垂直方向的阻抗，約為主導電方向D1、D2阻抗的100至200倍之間。

為了簡化說明，以下實施例以觸控面板100在操作時，僅有二個觸控點舉例。但實際操作時，本發明實施例觸控面板之多點辨識方法亦可適用於更多觸控點的情形。

圖2是依照本發明實施例說明圖1中觸控面板100的感測電位函數。第二導電層123上的第二電極124會被供給第二電壓(例如接地電壓Vss)。當提供接地電壓Vss到各個第二電極124時，感測電路(未繪示)可以一個接著一個地依序感測第一導電層113上的每一個第一電極114。當在感測第一電極114其中之一時，其他未感測的第一電極114會被提供第一電壓(例如系統電壓Vdd)。因此，依據每一個第一電極114的位置(相當於X軸位置)與所感測到的電壓，可以獲得X軸的電位函數。圖2說明當觸控面板100有二個觸控點。在觸控點位置，第一導電層113與第二導電層123發生電性連接。由於第一導電層113的非均質電導，使得此二個觸控點的X軸位置x₁ 與x₂ 的電位會被第二導電層123拉低，而其他位置則約略維持於系統電壓Vdd之準位。因此，將此X軸電位函數中的二個極值(在此為相對極小值)所對應的位置分別視為第一觸控點與第二觸控點於X軸向的位置。

相類似地，在感測第二導電層123上的第二電極124其中之一時，第一導電層113上的第一電極114會被供給系統電壓Vdd。此時，感測電路(未繪示)可以一個接著一個地依序感測每一個第二電極124。當在感測第二電極124其中之一時，其他未感測的第二電極124會被提供接地電壓Vss。因此，依據每一個第二電極124的位置(相當於Y軸位置)與所感測到的電壓，可以獲得Y軸的電位函數。由於第二導電層123的非均質電導，使得在圖2所示此二個觸控點的Y軸位置y₁ 與y₂ 的電位會被第一導電層113拉高，而其他位置則約略維持於接地電壓Vss之準位。因此，將此Y軸電位函數中的二個極值(在 此為相對極大值)所對應的位置分別視為第一觸控點與第二觸控點於Y軸向的位置。

圖2所繪示的連續函數曲線是一種示意圖。實際上，從第一電極114與第二電極124所讀出的電壓值是離散值。利用離散值求得電位函數的相對極大值與/或相對極小值，應是本領域具有通常知識者所習知之技藝，故不在此贅述。

圖3是依照本發明實施例說明圖1中觸控面板100的感測電位函數。圖3類似於圖2，不同之處在於此二個觸控點的Y軸位置y₁ 與y₂ 非常接近，使得Y軸電位函數中在位置y₁ 與y₂ 的二個波型相疊合而形成一個更大的波形。因此，感測電路(未繪示)感測第二電極124後只能在此Y軸電位函數中獲得一個極值。系統會將此極值所對應的位置錯認為是此二個觸控點的Y軸位置(即圖3中虛線圓圈處)，然而此二個觸控點的Y軸真正位置卻是y₁ 與y₂ 。這樣的感測誤差可以透過下述諸實施例所進行的辨識方法而得到解決。

第一實施例

圖4A與圖4B是說明多點辨識方法的第一實施例。於本實施例中，觸控面板100的第二導電層123沿Y軸向具有多個電極124與多個電極124’，電極124與電極124’分別被配置於第二導電層123沿X軸向的不同側(例如圖4A所示第二導電層123的左側與右側)。本實施例未詳述的內容可以參照圖1~圖3的相關說明。當提供第二電壓(例如接地電壓Vss)到電極124及/或電極124’時，感測該些第一電極114而獲得X軸的電位函數。將X軸的電位函數中的二個極值所對應的位置分別視為觸控點p1與觸控點p2於X軸向的位置x₂ 與x₁ 。 前述在依序感測第一電極114時，提供第一電壓(例如系統電壓Vdd)到第一電極114中其他未進行感測者。

在發生如圖3所述的感測誤差時，接著進行下述步驟以獲得此二個觸控點的Y軸位置y₁ 與y₂ (或是其近似位置)。首先提供系統電壓Vdd來驅動到第一電極114的第一部份，而不提供系統電壓Vdd到第一電極114的第二部份。於圖4A與圖4B雖然繪示第一電極114被分為二個部份，然而在其他實施例，第一電極114可能被分為三個或更多個部份。在驅動第一電極114的過程，可以依序輪流地提供系統電壓Vdd給第一電極114的每一個部份。另外，對於第一電極114中未被提供系統電壓Vdd的部份電極，可以將其耦接至其他參考電壓或是浮接，而本實施例是將第一電極114中未被提供系統電壓Vdd的部份電極耦接至接地電壓Vss。

請參照圖4A，當提供系統電壓Vdd到第一電極114的右半部而提供接地電壓Vss到第一電極114的左半部時，對電極124進行感測而獲得Y軸的第一電位函數。當依序感測電極124時，提供接地電壓Vss到這些電極124中其他未進行感測者。在觸控面板100左側的觸控點位置，因為第一導電層113沒有提供拉高電壓，而使得此觸控點幾乎沒有呈現在Y軸的第一電位函數。因此，該第一電位函數中的極值所對應位置y₁ ’可以被視為觸控面板100右側觸控點於Y軸向的位置y₁ 。

請參照圖4B，接下來提供系統電壓Vdd到第一電極114的左半部，而不提供系統電壓Vdd到第一電極114的右半部。當提供系統電壓Vdd到第一電極114的左半部而提供接地電壓Vss到第一電極114的右半部時，對電極124’進行感測而獲得Y軸的第二電位函數。當依序感測電極124’時，提供接地 電壓Vss到這些電極124’中其他未進行感測者。在觸控面板100右側的觸控點位置，因為第一導電層113沒有提供拉高電壓，而使得此觸控點幾乎沒有呈現在Y軸的第二電位函數。因此，該第二電位函數中的極值所對應位置y₂ ’可以被視為觸控面板100左側觸控點於Y軸向的位置y₂ 。

因此，縱使此二個觸控點的Y軸位置y₁ 與y₂ 非常接近，本實施例仍然可以分別感測出此二個觸控點的Y軸位置。值得注意的是，本實施例雖然是以「Y軸位置y₁ 與y₂ 非常接近」作為示例，所屬領域之技術人員也可以依據本實施例的教示而類推至其他情形。例如，觸控面板100的第一導電層113可以在其Y軸向的二側配置二組電極(圖4B未繪出上側的電極)。藉由依序輪流地提供接地電壓Vss給電極124的上半部份與下半部份，即使X軸位置x₁ 與x₂ 非常接近，仍然可以分別透過第一導電層113二側的電極讀出此二個觸控點X軸位置x₁ 與x₂ (或是其近似位置)。

第二實施例

若基於產品體積之考量，則可以僅在第一導電層113與第二導電層123的單一側配置電極。圖5A、圖5B與圖5C是說明多點辨識方法的第二實施例，其中以PY1、PY2、...、PY13表示第二導電層123上的第二電極124。本實施例未詳述的內容可以參照圖1~圖3、圖4A~圖4B的相關說明。在感測第二導電層123上的第二電極124其中之一時，第一導電層113上的所有第一電極114會被供給第一電壓(例如系統電壓Vdd)。在依序感測第二電極124時，其他未感測的第二電極124會被提供第二電壓(例如接地電壓Vss)。依據每一個第二電極124的位置(相當於Y軸位置)與所感測到的電壓，可以獲得觸控點 p1與p2在位置y₁ 與y₂ 的二個波型相疊合而形成的電位函數P(1+2)。

接著進行下述步驟以獲得此二個觸控點p1與p2的Y軸位置y₁ 與y₂ (或是其近似位置)。如圖5B，首先提供系統電壓Vdd到第一電極114的第一部份，而不提供系統電壓Vdd到第一電極114的第二部份。於圖5B雖然繪示第一電極114被分為二個部份，然而在其他實施例，第一電極114可能被分為三個或更多個部份。另外，對於第一電極114中未被提供系統電壓Vdd的部份電極，可以將其耦接至其他參考電壓或是浮接，而本實施例是將第一電極114中未被提供系統電壓Vdd的部份電極耦接至接地電壓Vss。

與圖4A相似，圖5B說明當提供系統電壓Vdd到第一電極113的一部份(右半部)而不提供系統電壓Vdd到第一電極113的另一部份(左半部)時，感測第二電極124而獲得電位函數P1。接下來使用電位函數P(1+2)與電位函數P1而計算於觸控面板100上觸控點p1與觸控點p2於Y軸向的位置，詳述如下。

請參照圖5C，在觸控面板100左側觸控點p2的位置，因為第一導電層113沒有提供拉高電壓，而使得此觸控點p2幾乎沒有呈現在電位函數P1。因此，電位函數P1中的極值所對應位置可以被視為觸控面板100右側觸控點p1於Y軸向的位置y₁ 。

本實施例提供一修正係數r，然後將電位函數P1乘上修正係數r而獲得電位函數P1’，即P1’=r×P1。此電位函數P1’可以表示在觸控面板100上只有單一觸控點p1所對應的Y軸電位函數。前述提供修正係數r的實現方式，可以是建立一對照 表(lookup table)。藉由所提供的對照表，本實施例可以依據觸控點p1於X軸向的位置x₂ 查找該對照表，以獲得並提供該修正係數r。

計算等式P2=P(1+2)-r×P1而獲得電位函數P2，然後將電位函數P2中一極值(在此為相對極大值)所對應的位置視為觸控點p2於Y軸向的位置y₂ 。因此，縱使此二個觸控點p1與p2的Y軸位置y₁ 與y₂ 非常接近，本實施例仍然可以分別感測出此二個觸控點的Y軸位置。值得注意的是，本實施例雖然是以「Y軸位置y₁ 與y₂ 非常接近」作為示例，所屬領域之技術人員也可以依據本實施例的教示而類推至其他情形。例如，當X軸位置x₁ 與x₂ 非常接近時，以「全部驅動」與「部份驅動」方式提供接地電壓Vss給電極124，然後獲得觸控點p1與p2在X軸疊合而形成的電位函數與只有觸控點p1的電位函數，最後使用前述二電位函數而計算於觸控面板100上觸控點p1與觸控點p2於X軸向的位置(或是其近似位置)。

在其他實施例中，修正係數r可以不必使用，而省略了對照表的製備，並簡化了計算的複雜度。也就是說，上述「計算等式P2=P(1+2)-r×P1」的步驟可以被修改為「計算等式P2=P(1+2)-P1」，以獲得電位函數P2，進而求得觸控點p2於Y軸向的位置y₂ 。

第三實施例

本實施例採用與第二實施例相似的步驟而求得電位函數P(1+2)與電位函數P1。本實施例與第二實施例不同之處在於使用電位函數P(1+2)與電位函數P1而計算觸控點p1與觸控點p2於Y軸向位置的方程式。

於本實施例中，將電位函數P(1+2)中一極值(在此為相對極大值)所對應的位置視為中間位置pm，而將電位函數P1中一極值(在此為相對極大值)所對應的位置視為觸控點p1，此時pm會位於觸控點p1與觸控點p2之間，因此當中間位置pm及觸控點p1位置已知時，觸控點p2的位置可簡單利用中點公式求得。例如，計算等式p2=2×pm-p1而獲得觸控點p2的位置。相較於第二實施例，本實施例的雖誤差較大，但運算可大幅簡化。

綜上所述，上述諸實施例在二個觸控點很接近的情況下，讀出含有觸控點p1與p2的電位函數P(1+2)，然後藉由驅動一部份的導電層電極來讀出含有觸控點p1的電位函數P1(同時獲得觸控點p1的位置)，最後藉由電位函數P(1+2)與電位函數P1而計算出觸控點p2的位置。第一實施例是在第二導電層的左右二側各自配置了一組電極，在二個觸控點很接近的情況下，藉由驅動一部份的第一導電層的電極而仍然可以從第二導電層左右二側的電極組獲得觸控點p1與p2的位置。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧觸控面板

110、120‧‧‧導電膜

111、121‧‧‧基板

112、122、130‧‧‧膠體層

113、123‧‧‧導電層

114、124、124’、PY1~PY13‧‧‧電極

125‧‧‧導線

131‧‧‧缺口

132‧‧‧絕緣間隔物

140‧‧‧軟性電路板

141‧‧‧金屬接點

D1、D2‧‧‧主導電方向

P1、P1’、P2、P(1+2)‧‧‧電位函數

r‧‧‧修正係數

X、Y、Z‧‧‧笛卡兒座標系統的座標軸

圖1為本發明一實施例的電阻式觸控面板組合圖。

圖2是依照本發明實施例說明圖1中觸控面板的感測電位函數。

圖3是依照本發明實施例說明圖1中觸控面板的感測電位函數。

圖4A與圖4B是說明多點辨識方法的第一實施例。

圖5A、圖5B與圖5C是說明多點辨識方法的第二實施例。

r‧‧‧修正係數

PY3~PY11‧‧‧Y軸電極

P1、P1’、P2、P(1+2)‧‧‧電位函數

Claims (21)

1. 一種用於觸控面板的多點辨識方法，該觸控面板具有相疊合的一第一導電層及一第二導電層，該第一導電層沿一第一軸向具有多個第一電極，該第二導電層沿一第二軸向具有多個第二電極，該多點辨識方法包括：當提供一第一電壓到該些第一電極時，感測該些第二電極而獲得一第一電位函數；當提供該第一電壓到該些第一電極的一部份而不提供該第一電壓到該些第一電極的另一部份時，感測該些第二電極而獲得一第二電位函數；以及使用該第一電位函數與該第二電位函數而計算於該觸控面板上一第一觸控點與一第二觸控點於該第二軸向的位置。
2. 如申請專利範圍第1項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其中，該第一導電層與該第二導電層具有非均質電導。
3. 如申請專利範圍第2項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其中，該第二導電層的低阻抗方向為該第一軸向，而該第一導電層的低阻抗方向為該第二軸向。
4. 如申請專利範圍第2項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其中，該第一導電層及該第二導電層為平行排列的奈米碳管所形成之導電薄膜。
5. 如申請專利範圍第1項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其中，該第一軸向與該第二軸向互相垂直。
6. 如申請專利範圍第1項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其進一步包括：當依序感測該些第二電極時，提供一第二電壓到該些第二電極中其他未進行感測者。
7. 如申請專利範圍第1項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其進一步包括：當提供該第一電壓到該些第一電極的一部份時，提供該第二電壓到其他未接受該第一電壓的該些第一電極。
8. 如申請專利範圍第1項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其中，所述使用該第一電位函數與該第二電位函數而計算該第一觸控點與該第二觸控點於該第二軸向位置的步驟包括：提供一修正係數r；將該第二電位函數中一極值所對應的位置視為該第一觸控點於該第二軸向的位置；計算等式P2=P(1+2)-r×P1而獲得一第三電位函數P2，其中P(1+2)表示該第一電位函數，而P1表示該第二電位函數；以及將該第三電位函數P2中一極值所對應的位置視為該第二觸控點於該第二軸向的位置。
9. 如申請專利範圍第8項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其中，所述提供該修正係數r的步驟包括；提供一對照表；以及依據該第一觸控點於該第一軸向的位置查找該對照表，以獲得並提供該修正係數r。
10. 如申請專利範圍第1項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其中，所述使用該第一電位函數與該第二電位函數而計算該第一觸控點與該第二觸控點於該第二軸向位置的步驟包括： 將該第一電位函數中一極值所對應的位置視為一中間位置；將該第二電位函數中一極值所對應的位置視為該第一觸控點於該第二軸向的位置；以及計算等式p2=2×pm-p1而獲得該第二觸控點的位置p2，其中pm表示該中間位置，而p1表示該第一觸控點的位置。
11. 如申請專利範圍第1項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，進一步包括：當提供一第二電壓到該些第二電極時，感測該些第一電極而獲得一第四電位函數；以及將該第四電位函數中的二個極值所對應的位置分別視為該第一觸控點與該第二觸控點於該第一軸向的位置。
12. 如申請專利範圍第11項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，進一步包括：當依序感測該些第一電極時，提供該第一電壓到該些第一電極中其他未進行感測者。
13. 一種用於觸控面板的多點辨識方法，該觸控面板具有相疊合的一第一導電層及一第二導電層，該第一導電層沿一第一軸向具有多個第一電極，該第二導電層沿一第二軸向具有多個第二電極與多個第三電極，該些第二電極與該些第三電極分別被配置於該第二導電層沿該第一軸向的不同側，該多點辨識方法包括：當提供一第一電壓到該些第一電極的第一部份而不提供該第一電壓到該些第一電極的第二部份時，感測該些第二電極而獲得一第一電位函數； 當提供該第一電壓到該些第一電極的第二部份而不提供該第一電壓到該些第一電極的第一部份時，感測該些第三電極而獲得一第二電位函數；將該第一電位函數中一極值所對應的位置視為一第一觸控點於該第二軸向的位置；以及將該第二電位函數中一極值所對應的位置視為一第二觸控點於該第二軸向的位置。
14. 如申請專利範圍第13項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其中，該第一導電層與該第二導電層具有非均質電導。
15. 如申請專利範圍第14項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其中，該第二導電層的低阻抗方向為該第一軸向，而該第一導電層的低阻抗方向為該第二軸向。
16. 如申請專利範圍第14項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其中，該第一導電層及該第二導電層為平行排列的奈米碳管所形成之導電薄膜。
17. 如申請專利範圍第13項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其中，該第一軸向與該第二軸向互相垂直。
18. 如申請專利範圍第13項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其進一步包括：當依序感測該些第二電極與該些第三電極時，提供一第二電壓到該些第二電極與該些第三電極中其他未進行感測者。
19. 如申請專利範圍第13項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其進一步包括：當提供該第一電壓到該些第一電極的一部份時，提供該第二電壓到其他未接受該第一電壓的該些第一電極。
20. 如申請專利範圍第13項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其進一步包括：當提供一第二電壓到該些第二電極及/或該些第三電極時，感測該些第一電極而獲得一第三電位函數；以及將該第三電位函數中的二個極值所對應的位置分別視為該第一觸控點與該第二觸控點於該第一軸向的位置。
21. 如申請專利範圍第20項所述之用於觸控面板的多點辨識方法，其進一步包括：當依序感測該些第一電極時，提供該第一電壓到該些第一電極中其他未進行感測者。