JP2010539459A - 収束されたレーザビームを測定するための測定器 - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 14
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 238000009434 installation Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000002430 laser surgery Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 210000004087 cornea Anatomy 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
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- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0411—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using focussing or collimating elements, i.e. lenses or mirrors; Aberration correction
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0448—Adjustable, e.g. focussing
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
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- 収束されたレーザビームを測定するための測定器において、
レーザビームのビーム経路に互いに前後に配置した少なくとも2つのレンズ(10,12)を有する拡大レンズ系であって、該拡大レンズ系の連続するレンズでなす各対がそれぞれ一致した焦点をもった拡大レンズ系と、
前記拡大レンズ系の後方でその焦点に配置され、拡大されたレーザビームの画像を撮影するための電子画像センサ(14)と、
前記ビーム経路を取り囲み、レーザビームを供給するレーザ装置に前記測定器を結合するアダプタ(42)であって、レーザビームの光軸(16)に対して軸線方向に向いた、レーザ装置のための当接面(46)を形成するアダプタ(42)と、
前記アダプタに設けられた前記測定器の基準点(46)に対して、ビーム経路に沿って前記拡大レンズ系のレンズ(10,12)および前記画像センサ(14)を共に調整可能とする長手方向調整手段(98)と、を備えることを特徴とする測定器。 - 請求項1に記載の測定器において、
前記拡大レンズ系のレンズの少なくとも一部、特に全てのレンズ(10,12)は、ビーム経路の方向において前後にレンズバレル(68)に組み込まれてなり、
前記レンズバレル(68)は、ガイドボディ(56)のガイド受容穴(66)内を、前記レンズバレルの軸線方向に沿って移動可能に、好ましくは回転不能にガイドされ、前記アダプタ(42)が前記ガイドボディに連結されてなる測定器。 - 請求項2に記載の測定器において、
前記アダプタ(42)が、前記ガイドボディ(56)とは別個の構成部材であり、有利にはガイドボディに交換可能に連結されてなる測定器。 - 請求項2または3に記載の測定器において、
前記長手方向調整手段(98)が、前記レンズバレル(68)と前記ガイドボディ(56)との間で作用する測定器。 - 請求項2から4までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記アダプタ(42)と前記ガイドボディ(56)との間で作用するとともに、前記拡大レンズ系の少なくとも第1のレンズ(10)を、前記基準点(46)に対して横方向に、特に前記ビーム経路に対して垂直方向に調整可能とする横方向調整手段(52)が設けられてなる測定器。 - 請求項1から5までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記アダプタ(42)が、前記ビーム経路を取り囲むスリーブ状の主要部(44)を有し、該主要部の軸線方向の一端にはレーザ装置に連結するための連結手段が設けられている測定器。 - 請求項6に記載の測定器において、
前記連結手段が、レーザ装置の構成部を半径方向にクランプするよう構成されている測定器。 - 請求項6または7に記載の測定器において、
前記アダプタ(42)の前記主要部(44)が、軸線方向の他端にて、ビーム経路に対して横方向に、前記拡大レンズ系の少なくとも前記第1のレンズ(10)を前記アダプタ(46)に対して調整可能とする調整ブロック(52)に連結された測定器。 - 請求項1から8までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記拡大レンズ系が、全部で2つのレンズ(10,12)または全部で4つのレンズ(24,26,28,30)を有している測定器。 - 請求項1から9までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記拡大レンズ系の全てのレンズ(10,12)が、それぞれ収束レンズとして構成されている測定器。 - 請求項1から9までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記拡大レンズ系が少なくとも1つの拡散レンズ(24,28)を有するとともに少なくとも最後のレンズ(30)が収束レンズとして構成されている測定器。 - 請求項1から11までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記拡大レンズ系の少なくとも1つのレンズ(10,12)が一つの平坦なレンズ面を有し、湾曲したレンズ面が発散角の小さいビーム部分に指向されている測定器。 - 請求項1から12までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記長手方向調整手段(98)が、前記拡大レンズ系および画像センサをレーザビームのレイリー長さの少なくとも3倍だけ調整可能である測定器。 - 請求項2から13までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記ガイドボディ(56)が、チューブ状に構成されている測定器。 - 請求項2から14までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記レンズバレル(68)は、軸線方向一端で前記ガイドボディ(56)から突出するとともに、その突出した端部領域が、前記画像センサを含むカメラ(74)との機械的な連結をもたらすよう構成されている測定器。 - 請求項2から15までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記レンズバレル(68)と前記ガイドボディ(56)との間で作用し、該レンズバレルをガイドボディに対して軸方向に付勢する弾性的な付勢手段(104)が設けられている測定器。 - 請求項1から16までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記画像センサが、前記測定器に交換可能に連結されたカメラの一部である測定器。 - 請求項1から17までのいずれか一項に記載の測定器において、
手持ち式に構成されている測定器。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP07017968A EP2037238B1 (de) | 2007-09-13 | 2007-09-13 | Messgerät zur Vermessung eines Laserstrahls |
EP07017968.4 | 2007-09-13 | ||
PCT/EP2008/007575 WO2009036932A1 (de) | 2007-09-13 | 2008-09-12 | Messgerät zur vermessung eines fokussierten laserstrahls |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010539459A true JP2010539459A (ja) | 2010-12-16 |
JP2010539459A5 JP2010539459A5 (ja) | 2012-11-08 |
JP5554710B2 JP5554710B2 (ja) | 2014-07-23 |
Family
ID=39059375
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010524407A Active JP5554710B2 (ja) | 2007-09-13 | 2008-09-12 | 収束されたレーザビームを測定するための測定器 |
Country Status (14)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8351028B2 (ja) |
EP (1) | EP2037238B1 (ja) |
JP (1) | JP5554710B2 (ja) |
KR (1) | KR101255796B1 (ja) |
CN (1) | CN101821595B (ja) |
BR (1) | BRPI0815425B1 (ja) |
CA (1) | CA2699629C (ja) |
DE (1) | DE502007001924D1 (ja) |
ES (1) | ES2333369T3 (ja) |
IN (1) | IN2010KN00855A (ja) |
MX (1) | MX2010002894A (ja) |
RU (1) | RU2474795C2 (ja) |
TW (1) | TW200920334A (ja) |
WO (1) | WO2009036932A1 (ja) |
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- 2007-09-13 DE DE502007001924T patent/DE502007001924D1/de active Active
- 2007-09-13 ES ES07017968T patent/ES2333369T3/es active Active
- 2007-09-13 EP EP07017968A patent/EP2037238B1/de active Active
-
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- 2008-09-12 BR BRPI0815425-2A patent/BRPI0815425B1/pt not_active IP Right Cessation
- 2008-09-12 CA CA2699629A patent/CA2699629C/en active Active
- 2008-09-12 MX MX2010002894A patent/MX2010002894A/es active IP Right Grant
- 2008-09-12 JP JP2010524407A patent/JP5554710B2/ja active Active
- 2008-09-12 CN CN200880106717.7A patent/CN101821595B/zh active Active
- 2008-09-12 IN IN855KON2010 patent/IN2010KN00855A/en unknown
- 2008-09-12 TW TW097135025A patent/TW200920334A/zh unknown
- 2008-09-12 RU RU2010113570/28A patent/RU2474795C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2008-09-12 KR KR1020107008066A patent/KR101255796B1/ko active IP Right Grant
- 2008-09-12 US US12/677,776 patent/US8351028B2/en active Active
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CN101821595B (zh) | 2014-11-26 |
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RU2474795C2 (ru) | 2013-02-10 |
US8351028B2 (en) | 2013-01-08 |
TW200920334A (en) | 2009-05-16 |
EP2037238B1 (de) | 2009-11-04 |
ES2333369T3 (es) | 2010-02-19 |
CA2699629C (en) | 2016-04-19 |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120611 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A02 | Decision of refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140520 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140529 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D02 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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