JP2010520608A - コネクタ装置 - Google Patents

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Abstract

2つの電気コネクタを連結するための電気コネクタが記載され、電気コネクタは、舌部及び一対の端壁により、第1相補性コネクタと連結するよう構成されて、舌部は、第1舌区域、第2舌区域及び第3舌区域を含み、複数のコンタクトが、コネクタハウジング内に位置付けられて、コンタクトは、第1舌区域及び第2舌区域内にそれぞれ位置付けられたコンタクトの第1セット及び第2セットにグループ分けされる。別の実施形態では、コンタクトは、第1舌区域、第2舌区域及び第3舌区域内にそれぞれに位置付けられたコンタクトの第1セット、第2セット及び第3セットにグループ分けされる。別の実施形態では、2つの電気コネクタに連結された、少なくとも1つの電気コネクタを有する相互接続システムが記載される。

Description

本発明は、コネクタ及び特に2つの電気コネクタを連結するための電気コネクタに関する。
現在、ハードディスクドライブ(HDD)は、デジタルデータコンテンツを使用中のラップトップ、デスクトップコンピュータ、サーバー及び他の電子デバイスに保存するために使用されている。これらの電子デバイスの各々は、アクセス時間、容量、フォームファクター、信頼性及びデータ伝送速度など、使用される記憶メディアそれ独自の要件を有する。伝送速度はHDDが所定の時間で伝送できるデータの量を示す。伝送速度は通常1秒当たりのビット(bps)で計測される。
各HDDインターフェースは、コンピュータ入力/出力(I/O)バスを介してコンピュータの残りの部分と通信する。インターフェースは、それを介してデータとしてのデータフローがHDDから読み出される又はHDDに書き込まれる通信チャネルである。沢山のタイプのHDDインターフェースがあり、それらにはIDE(Integrated Drive Electronics)、ATA(Advanced Technology Attachment)、SCSI(Small Computer System Interface)、シリアル(Serial)ATA(SATA)、SAS(Serial Attached SCSI)及びファイバーチャンネルが挙げられる。HDDとバスは単独では(natively)互いに通信できないため、HDDとIEEE 1394やユニバーサルシリアルバス(USB)などのバスと接続するために、ブリッジ回路(Bridge circuitry)が時々使用される。この項で記載されたHDDインターフェースのリストは完全ではなく、HDD及びそれらのインターフェースの仕様を指示する、刻々と変化する電子デバイスの要求に対応するために常に増加している。インターフェースがHDDの最大伝送速度をサポートできない場合、インターフェースは電子デバイスの全体の性能に対して障害となることがある。
SATAコネクタ及びSASコネクタは、HDD業界で現在、最も一般的に使用されている2つのコネクタである。SATAヘッダは、しばしばラップトップ及びデスクトップコンピュータに適したHDD上で使用され、その一方で、SASヘッダは企業のサーバーシステムに適したHDD上で使用される。
現在、市場で入手可能なのは、発売される前のHDDの検査用に特殊化された製品検査装置である。しかしながら、これらの検査装置の大半は、特別なタイプのインターフェースを有するHDD用に設計されたものである。
HDDがSATAヘッダに適していようと、SASヘッダに適していようと関係なく、HDDの検査用に使用することができる電気コネクタを供給することが望ましい。電気コネクタが更に既存のSASソケットと連結することができ、それにより、既存のSASソケットが製品検査装置のプリント基板(PCB)のバックプレーン上で使用可能になるのも望ましい。更に、HDDインターフェースの技術が発展し続けるにつれて、電気コネクタが容易に修正され、2つの他のコネクタを接続するという、その目的を達成できれば、それもまた望ましい。
1つの実施形態によると、
第1当接面及び第2当接面を有しながら、長手方向のベース部を備える細長い絶縁性ハウジングであって、
第1当接面は、第1側壁と、第2側壁と、一対の端壁との間に画定された中央スロットにより、第2相補形コネクタと連結するように構成されて、全ての壁はベース部から延在しており、
第2当接面は、舌部及び一対の端壁により、第1相補形コネクタと連結するように構成されて、舌部及び端壁は、両方ともベース部から延在しており、舌部は、第1舌区域、第2舌区域及び第3舌区域を含む、細長い絶縁性ハウジングと、
ハウジング内に位置付けられた複数のコンタクトであって、第1舌区域及び第2舌区域内にそれぞれ位置付けられたコンタクトの第1セット及び第2セットにグループ分けされる、複数のコンタクトと、を備える、2つの電気コネクタを連結するための電気コネクタが提供される。
別の実施形態によると、2つの電気コネクタを連結するための少なくとも1つの電気コネクタを有する相互接続システムであって、電気コネクタは、
第1当接面及び第2当接面を有しながら、長手方向のベース部を備える細長い絶縁性ハウジングであって、
第1当接面は、第1側壁と、第2側壁と、一対の端壁との間に画定された中央スロットにより、第2相補形コネクタと連結するように構成されて、全ての壁はベース部から延在しており、
第2当接面は、舌部及び一対の端壁により、第1相補形コネクタと連結するように構成されて、舌部及び端壁は、両方ともベース部から延在しており、舌部は、第1舌区域、第2舌区域及び第3舌区域を含む、細長い絶縁性ハウジングと、
ハウジング内に位置付けられた複数のコンタクトであって、第1舌区域及び第2舌区域内にそれぞれ位置付けられたコンタクトの第1セット及び第2セットにグループ分けされて、
第1相補形コネクタ及び第2相補形コネクタの1つ又は両方が、電気コネクタに連結される、複数のコンタクトと、を備える、相互接続システムが提供される。
別の実施形態によると、
第1当接面及び第2当接面を有しながら、長手方向のベース部を備える細長い絶縁性ハウジングであって、
第1当接面は、第1側壁と、第2側壁と、一対の端壁との間に画定された中央スロットにより、第2相補形コネクタと連結するように構成されて、全ての壁はベース部から延在しており、
第2当接面は、舌部及び一対の端壁により、第1相補形コネクタと連結するように構成されて、舌部及び端壁は、両方ともベース部から延在しており、舌部は、第1舌区域、第2舌区域及び第3舌区域を含む、細長い絶縁性ハウジングと、
ハウジング内に位置付けられた複数のコンタクトであって、第1舌区域、第2舌区域及び第3舌区域内にそれぞれ位置付けられたコンタクトの第1セット、第2セット及び第3セットにグループ分けされる、複数のコンタクトと、を備える、2つの電気コネクタを連結するための電気コネクタがある。
別の実施形態によると、2つの電気コネクタを連結するための少なくとも1つの電気コネクタを有する相互接続システムであって、この電気コネクタは、
第1当接面及び第2当接面を有しながら、長手方向のベース部を備える細長い絶縁性ハウジングであって、
第1当接面は、第1側壁と、第2側壁と、一対の端壁との間に画定された中央スロットにより、第2相補形コネクタと連結するように構成されて、全ての壁はベース部から延在しており、
第2当接面は、舌部及び一対の端壁により、第1相補形コネクタと連結するよう構成されて、舌部及び端壁は、両方ともベース部から延在しており、舌部は、第1舌区域、第2舌区域及び第3舌区域を含む、細長い絶縁性ハウジングと、
ハウジング内に位置付けられた複数のコンタクトであって、第1舌区域、第2舌区域、第3舌区域内にそれぞれ位置付けられたコンタクトの第1セット、第2セット及び第3セットにグループ分けされて、
第1相補形コネクタ及び第2相補形コネクタの1つ又は両方が、電気コネクタに連結される、複数のコンタクトと、備える相互接続システムが提供される。
本発明は更に、本明細書に記載された又は添付図面に示された部品若しくは特性の、あらゆる代替的な組み合わせに一致しているということができる。明示的には記載されていない、これらの部品又は特性の既知の同等物も、やはり含まれると見なされる。
本発明の例示の形態は、これより添付の図面を参照して記載される。
フレキシブルPCBに接合されているリジッド(rigid)PCB上に半田付けされたSATAソケットの実施例を示す図。 犠牲SATAソケットをバックプレーンPCBに連結するために使用されたインターフェースソケットの実施例を示す図。 犠牲SATAソケットの実施例を示す図。 犠牲SATAソケットに連結するために使用されたHDD用のPCB上のSATAヘッダの実施例を示す図。 犠牲SATAソケットがどのようにバックプレーンPCB上のインターフェースソケット及びHDDのPCB上のSATAヘッダに連結されるかの概略を示す図。 製品検査装置のバックプレーンPCBに連結するように意図されている、相補性コネクタに関する本発明の例示のコネクタの斜視図。 コネクタの第2表面から見た本発明の例示のコネクタの斜視図。 本発明の例示のコネクタ及び本発明の例示のコネクタの中に挿入されるコンタクトの斜視図。 第1当接面から見た本発明の例示のコネクタの透視図。 第2当接面から見た本発明の例示のコネクタの透視図。 本発明の例示のコネクタ内に配置されたコンタクトの異なる部分の斜視図。 1つのコンタクトが露出された、本発明の例示のコネクタの断面図。 製品検査装置のバックプレーンPCBに連結されるように意図されている第1相補性コネクタ、及びデータ記憶装置に更に連結されるPCBに連結されるように意図されている第2相補性コネクタに関する、本発明の例示のコネクタの斜視図。 製品検査装置のバックプレーンPCBに連結されるように意図されている相補性コネクタに関する本発明の1つの別の例示コネクタの斜視図。 異なるベース拡張部を有する図10Aの例示のコネクタの斜視図。 図10Aの例示のコネクタ及びコネクタの中に挿入されるコンタクトの斜視図。 第1当接面から見た図10Aの例示のコネクタの透視図。 第2当接面から見た図10Aの例示のコネクタの透視図。
SATAコネクタ及びSASコネクタは、現在、HDD業界で2つの最も一般的に使用されているコネクタである。SATAヘッダはラップトップ及びデスクトップコンピュータに適したHDDに多く使用され、その一方で、SASヘッダは企業のサーバーシステムに適したHDD上で使用される。SATAインターフェースは、データ信号の伝送に使用される7ピン(コンタクト)の1つのセグメントと、電力の伝送に使用される15ピン(コンタクト)の別のセグメントとを備え、セグメントは両方とも、1.27mm(0.05インチ)のピッチを有する。SASインターフェースに関して、先に記載された2つのセグメントに加えて、データ信号の伝送に使用される0.80mm(0.03インチ)のピッチを有する7ピンのもう1つのセグメントがある。
現在市場で入手可能なのは、発売される前のHDDの検査用の特殊化された製品検査装置である。しかしながら、これらの検査装置の大部分は、SATAなどの特別なタイプのインターフェースを有するHDD専用に設計されたものである。
図1は、フレキシブルPCB 24に接合されているリジッドPCB 22上に半田付けされたSATAソケット20の実施例を示す。使用の際は、フレキシブルPCB 24は、別のコネクタ(図示せず)を介して製品検査装置に連結される。フレキシブルPCB 24が連結されている製品検査装置上で検査シーケンスが実行される前に、検査されるHDDのPCB上のSATAヘッダ(図示せず)は、リジッドPCB 22上のSATAソケット20に差し込まれる。検査が完了した後、検査されるHDDのPCB上のSATAヘッダが、リジッドPCB 22上のSATAソケット20から抜かれる。SATAソケット20へのSATAヘッダの各差し込み及び引き抜きは、当接サイクルとして既知である。リジッドPCB 22上のSATAソケット20の性能は、繰り返される当接により低下する。当接サイクルの回数がSATAソケット20の製造メーカーにより指定された回数に到達次第、リジッドPCB 22上のSATAソケット20は交換される。リジッドPCB 22及びフレキシブルPCB 24の両方がHDDの検査用の製品検査装置とともに再度使用することができる前に、リジッドPCB 22上のSATAソケット20を交換するために、リジッドPCB 22から既存のSATAソケット20の半田付けを外し、次に新しいSATAソケット20をリジッドPCB 22に再度半田付けをしなければならない。これには時間がかかり、繰り返されるリジッドPCB 22からのSATAソケット20の半田付けの外し及びリジッドPCB 22へのSATAソケット20の再度の半田付けは、リジッドPCB 22を損傷させる場合がある。
代替的な解決策は、インターフェースソケットを製品検査装置のバックプレーンPCBに連結し、次に犠牲コネクタを使ってHDDのPCB上のヘッダを製品検査装置のバックプレーンPCB上のインターフェースソケットに連結することである。犠牲コネクタはHDDのPCB上に連結されたヘッダのインターフェースを受け入れることができるソケットを有するべきである。
図2Aは、犠牲SATAコネクタをバックプレーンPCBに連結するために使用されるインターフェースソケット30の実施例を示す。図2Bは、インターフェースソケット30とともに使用されるように特別に設計された犠牲SATAコネクタ40の実施例を示す。図2Cは、犠牲SATAコネクタ40に連結できるHDDのPCB上に使用されたSATAヘッダ50の実施例を示す。
図3は、犠牲SATAコネクタ40がどのように製品検査装置610のバックプレーンPCB 601上のインターフェースソケット30及びHDD 620のPCB 602上のSATAヘッダ50に連結されるかの概略を示す。インターフェースソケット30は、第1主要面上に複数のソケット孔32を有し、連結される犠牲SATAコネクタ40の複数の長い尾部44を受け入れる。インターフェースソケット30の第2主要面上には、第1主要面上のソケット孔32の位置に対応する複数の長い尾部(図示せず)があり、第2主要面上の長い尾部は、インターフェースソケット30を製品検査装置610のバックプレーンPCB 601に接合するために使用される。
製品検査装置610のバックプレーンPCB 601に接合されるインターフェースソケット30と直接当接する代わりに、この配置により、HDD 620のPCB 602上のSATAヘッダ50は、犠牲SATAコネクタ40と当接する。したがって、バックプレーンPCB 601上のインターフェースソケット30を交換する必要が生じるまでの使用期間がより長くなる。犠牲SATAコネクタ40は、使用が犠牲SATAコネクタ40の製造メーカーにより指定された最大当接サイクル数に到達次第交換される。犠牲SATAコネクタ40は、一時的にインターフェースソケット30に接合されているため、犠牲SATAコネクタ40が交換されるとき、インターフェースソケット30に対する損傷はより少ない。また、インターフェースソケット30を交換しなければならなくなるまでの使用期間がより長くなるので、バックプレーンPCB 601の寿命を伸ばすことができる。
上記の設計は、検査されるHDDのPCB上のヘッダがSATAインターフェースである場合に限り効果がある。犠牲SATAコネクタ40が、SASソケットを有する類似の犠牲コネクタと交換されない限り、インターフェースソケット30を有する製品検査装置610は、HDDのPCB上にSASヘッダを有するHDDの検査に使用できない。同時に、インターフェースソケット及び製品検査装置のバックプレーンPCBは再指定されて、データ信号の伝送用に使用されるSASインターフェース内の追加のセグメントに対応する犠牲SASのコネクタ追加の7つの長い尾部を受け入れる必要があるであろう。
前述で強調したように、SASインターフェース上の追加のセグメントは、SATAインターフェース上の2つのセグメント(1.27mmつまり0.05インチ)と比較して、より小さなピッチ(0.80mmつまり0.03インチ)である。この縮小されたピッチは、犠牲SASコネクタ内の追加の7つの長い尾部の製造に、更なる難題を課す。
バックプレーンPCB、インターフェースソケット及び犠牲コネクタを再設計する必要性というのは、SATAヘッダを有するHDDを検査する専用の製品検査装置、並びにSASヘッダを有するHDDを検査する別の製品検査装置を有する必要性と相まって、HDDの製造メーカーにとって、製造コストを増加させるものである。
上記の問題に対する解決策は、製品検査装置の既存のバックプレーンPCBに対する大きな再設計を必要とすることなく、同じ製品検査装置を使用しながら、SATA及びSAS HDDの両方の検査に使用できる犠牲コネクタを有することである。犠牲コネクタ上の長い尾部に一致するように特別に設計された孔を有するインターフェースソケットを要求する、犠牲コネクタ上の長い尾部を有する代わりに、犠牲コネクタが、一般に入手可能なSASインターフェースソケットとバックプレーンPCB上で連結できるヘッダを有する場合も有益である。
本発明の例示の電気コネクタ100は、SATA及びSAS HDDの両方の検査に使用できる犠牲コネクタである。加えて、電気コネクタ100は、一般に入手可能なSASインターフェースソケットと当接し、これにより製品検査装置のバックプレーンPCBに必要とされる設計変更の量を最小限に抑える。
図4A、4B、5、6A、6B及び9を参照すると、本発明の例示の電気コネクタ100は、長手方向のベース部115を有する細長い絶縁性ハウジング110と、ハウジング110内に受容された複数のコンタクトの第1セット310、第2セット320及び第3セット330とを備える。ハウジング110は、第1当接面160及び第2当接面165を形成する。
第1当接面160で、第1側壁120、第2側壁122及び一対の端壁124、126は、ベース部115から延在する。第1当接面160で第2相補性コネクタ48と係合するために、中央受容スロット130は、長手方向に延在している側壁120、122と、横方向に延在している端壁124、126との間で画定される。少なくとも1つの実施形態では、第2相補性コネクタ48はSATAヘッダである。少なくとも1つの別の実施形態では、第2相補性コネクタ48は、SASヘッダである。
第1側壁120は、その内側面から引っ込んだ凹部132を有し、凹部132は第1側壁120を第1当接区域1601と第2当接区域1602に分割する。第1側壁120の第1当接区域1601は、第2当接区域1602よりも長い。第2側壁122は、第1側壁120の凹部132に対向する位置で、第3当接区域1603を有する。
一対のガイドポスト146は、ベース部115から突出し、各端壁124、126に隣接する。各ガイドポスト146は、ハウジング110の第1当接面160を超えて延在する、第2相補性コネクタ48の挿入をガイドするための先細にされたガイド部1461を形成する。
第2当接面165で、舌部200及び一対の対向する端壁210は、ベース部115から延在する。各端壁210は、第1相補性コネクタ45の挿入をガイドするためのガイド空間143を有する。舌部200は、対向する第1表面201及び第2表面202を含み、端壁210に隣接する第1舌区域221と、端壁210に隣接する第2舌区域222と、第2舌区域222との間の第3舌区域223を形成する。第1舌区域221及び第2舌区域222は、舌部200の第1表面201内に複数の通過部240を有し、第3舌区域223は、舌部200の第2表面202内に複数の通過部240を有する。少なくとも1つの実施形態では、第1相補性コネクタ45はSASソケットである。
第1当接面160で第1当接区域1601、第2当接区域1602及び第3当接区域1603はそれぞれ、第1当接面160から第2当接面165に延在し、舌部200内の対応する通過部240と通信する複数の通路245を有する。第1当接区域1601及び第2当接区域1602内の通路245は、同じ列内に配列される。第3当接区域1603内の通路245は、別の列内に配列されて、この列は、第1当接区域1601及び第2当接区域1602のための列よりも低く配置されている。
図7〜9と併せて図5を参照すると、コンタクト300は、主に送電用の、コンタクトの第1セット310の1つのセットを含み、コンタクトの第2セット320及び第3セット330は、両方とも信号伝送用である。
コンタクトの第1セット310、第2セット320、第3セット330は、第1当接区域1601、第2当接区域1602、第3当接区域1603の通路245を通ってそれぞれ突出し、舌部200の対応する通過部240内に受容される。コンタクト300の3つのセットは、構造において実質的に同一であり、コンタクト300の1つのみが、本明細書に便宜上図示されている。
各コンタクト300は、ハウジング110の中央受容スロット130に存在する第1接触部302、ハウジング110の舌部200に存在する第2接触部303並びに第1接触部302及び第2接触部303を相互接続するハウジング保持部308を備える。
第1当接面160でのコンタクト300の第1接触部302の設計において、第2相補性コネクタ48に許容可能な所望の挿入力400及び垂直力410を考慮しなければならない。電気コネクタ100が、より多くの当接サイクルに耐えることができるように、挿入力400及び垂直力410は最小限に抑えられなければならない。
本発明の1つの実施形態において、第1接触部302は、第1接触部302の第1部3021、第1接触部302の第2部3022及び第1部3021と第2部3022を分離するよじれ部3020を備える、片持梁構造であることができる。図7に図示されるように、第1接触部302の第1部3021は、水平位置に対する第1角度3024で傾斜しており、その一方、第1接触部302の第2部3022は水平位置に対する第2角度3025で傾斜している。この片持梁設計は、ハウジング110の中央受容スロット130内に露出された、第1当接面160で第2相補性コネクタ48の対応する端子と電気的に係合するための凸状コンタクト端を形成する。好ましくは、第1角度3024は約20°未満の値であり、第2角度3025は約20°〜25°である。
第2接触部303は、平らな形状を有し、第2当接面165で第1相補性コネクタ45の対応する端子と電気的に係合するために、ハウジング110の舌部200の対応する通過部240内に置かれる。第2接触部303は、第2当接面165で「U」型構造フック306を組み込むことによりハウジング110に接合されて、繰り返される第1相補性コネクタ45との当接の結果、ハウジング110から第2接触部303が隆起して離れるのを防ぐことができる。第2接触部303をハウジング110に接合する他の方法が適用されてもよく、それは本発明の範囲内である。ハウジング保持部308は、ハウジング110内で干渉するための水平端上のかかり(barb)を提供する。
従来の電気コネクタは、最少500当接サイクルから約5,000当接サイクルまで耐えることができる。本発明の例示の電気コネクタ100は、最少5,000当接サイクルから約10,000当接サイクルまで耐えることができる。ニッケル及び金めっきを有するリン青銅又はベリリウム銅などの異なる材料又は同様な金属メッキを有する別のタイプの銅合金を使用して、コンタクト300を製造することができる。コンタクト300の設計及びコンタクト300に使用される材料の選択は、電気コネクタ100の当接サイクルの最大限度を決定する。
本発明の別の実施形態では、電気コネクタ100は、少なくとも1つの端壁210に連結された接合デバイス140を更に備えてもよい。接合デバイス140は、各当接サイクル中に、第2相補性コネクタ48を第1当接面160での電気コネクタ100へ接続し、そして電気コネクタ100から抜き外すとき、第2当接面165での第1相補性コネクタ45に関する所定の位置に電気コネクタ100を一時的に保持することができる任意のデバイスであってよい。接合デバイス140は、ハウジング110と一体的に組み立てられてもよく、電気コネクタ100を第1相補性コネクタ45から取り外す又は電気コネクタ100を別の電気コネクタ100と交換するとき及びその必要があるときに、電気コネクタ100を第1相補性コネクタ45から容易に切り離せるようにすべきである。
本発明の別の実施形態では、接合デバイス140は、ラッチ解除部1401と、第2当接面165の方向に延在するラッチ部材1402と、ラッチ部材1402内の孔1403とを有するラッチ装置である。図4Aを参照すると、第2当接面165で電気コネクタ100が第1相補性コネクタ45と当接するとき、ラッチ部材1402が突出部142の傾斜の上に乗り上げると同時に、第1相補性コネクタ45上の端壁に連結された突出部142はラッチ部材1402を第1相補性コネクタ45の端壁から離れて外側に押す。ラッチ部材1402が突出部142の頂部を通過すると同時に、ラッチ部材1402内の孔1403はラッチ部材1402をその本来の水平位置に戻しながら、相補性コネクタ45の突出部142と係合する。これはラッチ装置のロックされた位置であり、電気コネクタ100は第1相補性コネクタ45に固く連結される。
電気コネクタ100を第1相補性コネクタ45から外すには、ラッチ解除部1401を電気コネクタ100のハウジング110に向けて内側に押し下げる。そうすることで、ラッチ部材1402内の孔1403は、第1相補性コネクタ45上で突出部142と離れ、2つのコネクタ100、45は、電気コネクタ100を第1相補性コネクタ45から離れる方向に引くことにより容易に外すことができる。
電気コネクタ100は、それらが連結されるときに第1相補性コネクタ45と適切に整列することができるので、電気コネクタ100が各端壁210で接合デバイス140を有することは望ましい。したがって、第1相補性コネクタ45の各端壁で1つの突出部があるべきである。本発明の別の実施形態では、接合デバイス140は片持であってもよく、シート金属で作製されてもよい。
今日現れている新しいタイプのHDDインターフェースは、マイクロ(Micro)SATAインターフェースである。このタイプのインターフェースは、現在、小さなフォームファクター及び低消費電力を要件とするHDDを対象としている。現時点では、このタイプのHDDインターフェースを有するHDDは、ラップトップ内で使用されており、ラップトップ内にはHDD用に限られた空間しかなく、またこれらのHDDの消費電力は懸案事項である。SATAインターフェースのように、マイクロSATAインターフェースは、データ信号の伝送用の1つのセグメント及び電力の伝送用の別のセグメントを備え、セグメントは両方とも、1.27mm(0.05インチ)のピッチを有する。SATAインターフェースとマイクロSATAインターフェースとの間の違いは、マイクロSATAインターフェースの場合、電力の伝送用に使用されるピン(コンタクト)の数が15から9に減らされることと、電力の伝送用に割り当てられるセグメントがベース部の拡張によって、2つのより小さなセグメントに更に分割されることである。電力の伝送に割り当てられた9ピン(コンタクト)のうち、7ピン(コンタクト)は、より長いセグメント内にあり、残りの2ピンは、より短いセグメント内にある。
本発明の別の実施形態では、電気コネクタ2000は、マイクロSATA HDDの検査に使用することができる犠牲コネクタである。更に、電気コネクタ2000は、標準マイクロSATAインターフェースソケット及びマイクロSATAヘッダの両方に当接する。既存の製品検査装置のバックプレーンPCB上の電気回路は、マイクロSATAインターフェースソケットを受け入れるために、若干修正する必要があることもある。
図10A、10B、11、12A及び12Bを参照すると、本発明の例示の電気コネクタ2000は、長手方向のベース部2115を有する細長い絶縁性ハウジング2110と、細長い絶縁性ハウジング2110内に受容された複数のコンタクトの第1セット2310、第2セット2320、及び第3セット2330とを備える。ハウジング2110は、第1当接面2160及び第2当接面2165を形成する。
第1当接面2160で、第1側壁2120、第2側壁2122及び一対の端壁2124、2126は、ベース部2115から延在する。第1当接面2160で第2相補性コネクタ2048と係合するために、中央受容スロット2130は、長手方向に延在している側壁2120、2122と横方向に延在している端壁2124、2126との間に画定される。少なくとも1つの実施形態で、第2相補性コネクタ2048はマイクロSATAヘッダである。
第1側壁2120は、その内側面から引っ込んだ第1ベース凹部2132及び第2ベース凹部2134を有し、第1側壁2120を第1当接区域21601、第2当接区域21602及び第3当接区域21603に分割する。第1側壁2120の第1当接区域21601は、第2当接区域2160及び第3当接区域21603よりも短い。第1側壁2120の第2当接区域21602は、第3当接区域21603と同じ長さであってもよい。
一対のガイドポスト146はベース部2115から突出し、対応する端壁2124、2126に隣接する。各ガイドポスト146は、ハウジング2110の第1当接面2160を超えて延在する、第2相補性コネクタ2048の挿入をガイドするための、先細にされたガイド部1461を形成する。
第2当接面2165で、対向する第1表面2201及び第2表面2202を有する舌部2200並びに一対の対向する端壁2210は、ベース部2115から延在する。各端壁2210は、第1相補性コネクタ2045の挿入をガイドするためのガイド空間143を有する。舌部2200は、第1ベース拡張部2721及び第2ベース拡張部2722により、第1舌区域2221、第2舌区域2222及び第3舌区域2223にそれぞれ分割される。
第1ベース拡張部2721は、第2ベース拡張部2722よりも幅が狭い。ベース拡張部は異なる形式を採用してもよい。図10Aでは、第1ベース拡張部2721及び第2ベース拡張部2722は、第1舌区域2221、第2舌区域2222及び第3舌区域2223の厚さより大きい厚さを有する固体部である。図10Bでは、第2ベース拡張部2722は、2つのチャネル側壁2723及びチャネルベース2724により画定されたチャネルであり、チャネルベース2724の厚さは、第1舌区域2221、第2舌区域2222及び第3舌区域2223と同じである。
第1舌区域2221、第2舌区域2222及び第3舌区域2223は、舌部2200の第1表面2201内に複数の通過部2240を有する。第1当接面2160で、第1当接区域21601、第2当接区域21602及び第3当接区域21603はそれぞれ、第1当接面2160から第2当接面2165に延在し、それぞれ舌部2200内の対応する通過部2240と通信する、複数の通路2245を有する。
図11を参照すると、コンタクト2300は、両方とも電力伝送用コンタクトの第1セット2310及び第2セット2320、並びに信号伝送用コンタクトの第3セット2330を含む。コンタクトの第1セット2310、第2セット2320及び第3セット2330はそれぞれ、第1当接区域21601、第2当接区域21602及び第3当接区域21603の通路2245を通って突出し、舌部2200の対応する通過部2240内に受容される。コンタクト2300のこれらの3つのセットは、構造及びコンタクト300への機能において、実質的に同一である。コンタクト300に関する上述の材料及び実施形態はコンタクト2300に適用可能であり、本発明の範囲内である。
図12A及び12Bを参照すると、第2側壁2122は、第1側壁2120の第2ベース凹部2134に対向する位置で第4当接区域21604を有する。第2舌区域2222と第3舌区域2223との間にある第4舌区域2224は、舌部2200の第2表面2202内に複数の通過部2240を有する。第1当接面2160での第4当接区域21604は、それぞれ、第1当接面2160から第2当接面2165へ延在し、第4舌区域2224内の対応する通過部2240と通信する、複数の通路2245を有する。第1当接区域21601、第2当接区域21602及び第3当接区域21603内の通路2245は、同じ列内に配列される。第4当接区域21604内の通路2245は、別の列内に配列され、この列は、第1当接区域21601、第2当接区域21602及び第3当接区域21603ための列よりも低く配置されている。コンタクト2300は、コンタクト2340の第4セットの追加のセットを含み、これは信号伝送用に使用されてもよい。コンタクトの4つセットはそれぞれ、それらの対応する当接区域の通路2245を通って突出し、舌部2200の対応する通過部2240内に受容される。
本発明の別の実施形態では、第1側壁2120の第1ベース凹部2132に対向する第2側壁2122上の位置で、複数の通路2245を有する別の当接区域(図示せず)があり、対応して、第1ベース拡張部2721に対向する舌部2200の第2表面2202内に複数の通過部2240を有する、別の舌区域(図示せず)がある。上記と同様の方法で、通路2245は延在し、対応する通過部2240と通信する。この実施形態で、コンタクト2300は、信号伝送に使用することができる追加のセットである、コンタクトの第5セット(図示せず)を含む。
本発明の別の実施形態では、電気コネクタ2000は、少なくとも1つの端壁2210に連結された接合デバイス140(先に記述された)を更に備えてもよい。
図示されるように、電気コネクタ100及びその様々な他の実施形態は、SASヘッダとソケットの接続、SATAヘッダとSASソケットの接続及びマイクロSATAヘッダとソケットの相互接続において、広範囲の多用途性をもたらす。
本発明の好ましい実施形態の前述の説明は、例示及び説明の目的で提示してきたものである。以上の教示を考慮すれば、多くの修正形態及び変形形態が可能であるため、それは、包括的であることも、開示されたまさにその形態に本発明を限定することも意図していない。かかる修正形態及び変形形態のすべてが、本発明の範囲内である。本明細書に記載の実施形態は、本発明の原理及びその実際的な用途の最良の説明を提供し、それによって当業者が本発明を様々な実施形態で、また企図される特定の用途に適するように様々な修正を行って利用できるように、選択され説明された。合法的に、公正に権利を与えられる範囲に従って解釈されるとき、本発明の範囲は、本明細書に添付される請求項により定義されると意図される。

Claims (28)

  1. 第1当接面160及び第2当接面165を有しながら、長手方向のベース部115を備える細長い絶縁性ハウジング110であって、
    前記第1当接面160は、第1側壁120と、第2側壁122と、一対の端壁124、126との間に画定された中央スロット130により、第2相補形コネクタ48と連結するように構成されて、全ての壁は前記ベース部115から延在しており、
    前記第2当接面165は、舌部200及び一対の端壁210により、第1相補形コネクタ45と連結するように構成されて、前記舌部200及び前記端壁210は、両方とも前記ベース部115から延在しており、前記舌部200は、第1舌区域221、第2舌区域222及び第3舌区域223を含む、細長い絶縁性ハウジング110と、
    前記ハウジング110内に位置付けられた複数のコンタクト300であって、前記第1舌区域221及び前記第2舌区域222内にそれぞれ位置付けられたコンタクトの第1セット310及び第2セット320にグループ分けされる、複数のコンタクト300と、
    を備える、2つの電気コネクタを連結するための電気コネクタ100。
  2. 前記舌部200が、両方とも前記舌部200の長手方向に延在している第1表面201及び対向する第2表面202を含み、コンタクトの前記第1セット310及び前記第2セット320は、前記舌部200の前記第1表面201内に配置されて、コンタクトの前記第3セット330は、前記舌部200の前記第2表面202内に配置される、請求項1に記載の電気コネクタ100。
  3. 接合デバイス140を更に備える、請求項1又は請求項2に記載の電気コネクタ100。
  4. 前記コンタクト300のそれぞれが、2つの接触部302及び303を有する、請求項1に記載の電気コネクタ100。
  5. 前記舌部200は、両方とも前記舌部200の長手方向で延在している第1表面201及び対向する第2表面202を含み、コンタクトの前記第1セット310及び前記第2セット320は、前記舌部200の前記第1表面201内に配置されて、コンタクトの前記第3セット330は、前記舌部200の前記第2表面202内に配置されて、前記コンタクト300のそれぞれは、2つの接触部302及び303を有する、請求項1に記載の電気コネクタ100。
  6. ラッチ装置である接合デバイス140を更に備える、請求項4又は請求項5に記載の電気コネクタ100。
  7. 前記接触部302及び303の少なくとも1つが、片持梁構造である、請求項4〜6のいずれか一項に記載の電気コネクタ100。
  8. 前記接触部302及び303の少なくとも1つが、前記接触部の端部に「U」型フック構造306を有する、請求項4〜6のいずれか一項に記載の電気コネクタ100。
  9. 前記接触部302及び303の1つが、片持梁構造であり、もう一方の接触部が、前記接触部の端部に「U」型フック構造306を有する、請求項4〜6のいずれか一項に記載の電気コネクタ100。
  10. 2つの電気コネクタを連結するための少なくとも1つの電気コネクタ100を有する相互接続システムであって、前記電気コネクタは、
    第1当接面160及び第2当接面165を有しながら、長手方向のベース部115を備える細長い絶縁性ハウジング110であって、
    前記第1当接面160は、第1側壁120と、第2側壁122と、一対の端壁124、126との間に画定された中央スロット130により、第2相補形コネクタ48と連結するように構成されて、全ての壁は前記ベース部115から延在しており、
    前記第2当接面165は、舌部200及び一対の端壁210により、第1相補形コネクタ45と連結するように構成されて、前記舌部200及び前記端壁210は、両方とも前記ベース部115から延在しており、前記舌部200は、第1舌区域221、第2舌区域222及び第3舌区域223を含む、細長い絶縁性ハウジング110と、
    前記ハウジング110内に位置付けられた複数のコンタクト300であって、前記第1舌区域221及び前記第2舌区域222内にそれぞれ位置付けられたコンタクトの第1セット310及び第2セット320にグループ分けされて、
    第1相補形コネクタ45及び第2相補形コネクタ48の1つ又は両方が、前記電気コネクタ100に連結される複数のコンタクト300と、
    を備える、相互接続システム。
  11. 前記舌部200が、両方とも前記舌部200の長手方向で延在している第1表面201及び対向する第2表面202を含み、コンタクトの前記第1セット310及び前記第2セット320は、前記舌部200の前記第1表面201内に配置されて、コンタクトの前記第3セット330は、前記舌部200の前記第2表面202内に配置される、請求項10に記載の相互接続システム。
  12. 前記コンタクト300のそれぞれが、2つの接触部302及び303を有し、前記接合デバイス140が、ラッチ装置である、請求項11に記載の相互接続システム。
  13. 前記接触部302及び303の少なくとも1つが、片持梁構造である、請求項12に記載の相互接続システム。
  14. 前記連結された相補形コネクタ45、48の少なくとも1つが、SASコネクタである、請求項10〜13のいずれか一項に記載の相互接続システム。
  15. 前記連結された第1相補形コネクタ45が、SASソケットであり、前記連結された第2相補形コネクタ48が、SATAヘッダである、請求項10〜13のいずれか一項に記載の相互接続システム。
  16. 前記連結された第1相補形コネクタ45が、プリント基板601のバックプレーンに更に連結される、請求項10〜15のいずれか一項に記載の相互接続システム。
  17. 前記連結された第2相補形コネクタ48が、プリント基板602に更に連結される、請求項10〜16のいずれか一項に記載された相互接続システム。
  18. 前記連結された第1相補性コネクタ45が、製品検査装置610のプリント基板601のバックプレーンに連結される、請求項14〜17のいずれか一項に記載の相互接続システム。
  19. 前記連結された第2相補形コネクタ48が、データ記憶装置620に更に連結される別のプリント基板602に連結される、請求項18に記載の相互接続システム。
  20. 第1当接面2160及び第2当接面2165を有しながら、長手方向のベース部2115を備える細長い絶縁性ハウジング2110であって、
    前記第1当接面2160は、第1側壁2120と、第2側壁2122と、一対の端壁2124、2126との間に画定された中央スロット2130により、第2相補形コネクタ2048と連結するように構成されて、全ての壁は前記ベース部2115から延在しており、
    前記第2当接面2165は、舌部2200及び一対の端壁2210により、第1相補形コネクタ2045と連結するように構成されて、前記舌部2200及び前記端壁2210は、両方とも前記ベース部2115から延在しており、前記舌部2200は、第1舌区域2221、第2舌区域2222及び第3舌区域2223を含む、細長い絶縁性ハウジング2110と、
    前記ハウジング2110内に位置付けられた複数のコンタクト2300であって、前記第1舌区域2221、前記第2舌区域2222及び前記第3舌区域2223内にそれぞれ位置付けられたコンタクトの第1セット2310、第2セット2320及び第3セット2330にグループ分けされる、複数のコンタクト2300と、
    を備える、2つの電気コネクタを連結するための電気コネクタ2000。
  21. 前記舌部2200が、両方とも前記舌部2200、第1ベース拡張部2721及び第2ベース拡張部2722の長手方向に延在している第1表面2201及び対向する第2表面2202を含み、前記第1ベース拡張部2721は、コンタクト2310の前記第1セットをコンタクト2320の前記第2セットから分離し、前記第2ベース拡張部2722は、コンタクト2320の前記第2セットをコンタクト2330の前記第3セットから分離し、コンタクトの3つのセット全ては、前記舌部2200の前記第1表面2201内に配置される、請求項1に記載の電気コネクタ2000。
  22. 接合デバイス2140を更に備える、請求項20又は請求項21に記載の電気コネクタ。
  23. 2つの電気コネクタを連結するための少なくとも1つの電気コネクタ2000を有する相互接続システムであって、前記電気コネクタは、
    第1当接面2160及び第2当接面2165を有しながら、長手方向のベース部2115を備える細長い絶縁性ハウジング2110であって、
    前記第1当接面2160は、第1側壁2120と、第2側壁2122と、一対の端壁2124、2126との間に画定された中央スロット2130により、第2相補形コネクタ2048と連結するように構成されて、全ての壁は前記ベース部2115から延在しており、
    前記第2当接面2165は、舌部2200及び一対の端壁2210により、第1相補形コネクタ2045と連結するように構成されて、前記舌部2200及び前記端壁2210は、両方とも前記ベース部2115から延在しており、前記舌部2200は、第1舌区域2221、第2舌区域2222及び第3舌区域2223を含む、細長い絶縁性ハウジング2110と、
    前記ハウジング2110内に位置付けられた複数のコンタクト2300であって、前記第1舌区域2221、前記第2舌区域2222、前記第3舌区域2223内にそれぞれ位置付けられたコンタクトの第1セット2310、第2セット2320及び第3セット2330にグループ分けされて、
    第1相補形コネクタ2045及び第2相補形コネクタ2048の1つ又は両方が、前記電気コネクタ2000に連結される複数のコンタクト2300と、
    を備える、相互接続システム。
  24. 前記舌部2200が、両方とも前記舌部2200、第1ベース拡張部2721及び第2ベース拡張部2722の長手方向に延在している第1表面2201及び対向する第2表面2202を含み、前記第1ベース拡張部2721は、コンタクト2310の前記第1セットをコンタクト2320の前記第2セットから分離し、前記第2ベース拡張部2722は、コンタクト2320の前記第2セットをコンタクト2330の前記第3セットから分離し、コンタクトの3つのセット全ては、前記舌部2200の前記第1表面2201内に配置される、請求項23に記載の相互接続システム。
  25. 前記電気コネクタ2000は、接合デバイス2140を更に備える、請求項24に記載の相互接続システム。
  26. 前記連結された第1相補形コネクタ2045は、マイクロ(Micro)SATAソケットであり、前記連結された第2相補形コネクタ2048は、マイクロ(Micro)SATAヘッダである、請求項23〜25のいずれか一項に記載の相互接続システム。
  27. 前記連結された第1相補形コネクタ2045は、製品検査装置610のプリント基板601のバックプレーンに連結される、請求項26に記載の相互接続システム。
  28. 前記連結された第2相補形コネクタ2048は、データ記憶装置620に更に連結される別のプリント基板602に連結される、請求項26に記載の相互接続システム。
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