JP2010500924A - 溶接装置の制御 - Google Patents

Abstract

溶接装置を作動方法にあって、溶接装置（１）は少なくとも１つの溶接電極（４）を有しており、当該溶接電極は少なくとも１つの可変電気基準量によって作動され、当該電気基準量は制御装置（６）によって制御され、前記電気基準量の制御を基準データセット（２５）を考慮して行い、当該基準データセットは実行されるべき溶接過程に特有である。本発明では基準データセット（２５）を少なくとも１つの生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）を基にして求め、当該生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）は実行されるべき溶接過程に特有である。

Description

本発明は、溶接装置、殊に電気抵抗加圧溶接装置の駆動方法および駆動装置に関する。

従来技術から、種々の溶接装置および溶接方法が既知である。殊に、自動車産業の領域では主に電子溶接装置が使用されている。このような電子溶接装置は２つの溶接電極を有している。これらの溶接電極の間に溶接電流が流れる。この溶接電流は、処理されるべきワークピースを溶接するのに用いられる。ここでこの溶接電流は通常は、コンバータから供給される。この場合には溶接のために通常は、１〜２．５Ｖの領域の溶接電圧の場合には２０ｋＡまでの電流が使用される。溶接タスクの材料に応じて、それより大きい電流も使用される。個々の溶接過程はここで１秒までの領域の時間窓内で行われる。しかしより長い時間も可能である。

従来技術では、これまで、溶接過程に対して一定の溶接電流が使用されてきた。しかし、溶接過程をその全体ないしはその時間的な経過にわたって最適に実行するために、多くの場合において溶接電流の変更が効果的である。これと相応に、従来技術から、溶接電流および溶接過程の別の特有の量を調整部を介して調整することが知られている。このような調整部はここで、相応の溶接過程に特有の基準曲線にアクセスする。これまで、調整動作および監視動作のための適応調整部が必要とする基準曲線は、個々の曲線として調整モジュール内にロードされてきた。これらの基準曲線は、元来の動作過程の前に行われる基準溶接過程を介して記録される。

しかしこれによって、最適ではない基準曲線が調整の基礎として調整モジュール内に格納され、調整部がこれを基本として、最適に作動しないという危険が生じる。このような最適でない曲線の原因は、例えば、飛沫溶接（Spritzerschweissungen）、非常に摩耗した電極キャップ、フライス削りされたばかりの電極キャップおよび別のノイズ量である。

従って、従来技術から既知の方法では、基準曲線は、目下のシステム状態（例えば電極キャップの摩耗状態）に依存する、ないしは最適な基準曲線が作成されるか否かは、目下のシステム状態に依存する。

例えば、冷却、溶接用鉗子の力等のプロセス量が、基準溶接の時点で安定していない場合、このような不完全な状態も基準として習得されてしまう。

このような場合には調整部は誤った基準を参照し、最適に作動することができない。

さらに、多くの薄板の種類では、例えば抵抗経過の大きな変動帯が生じる。このような変動は、基準曲線として使用される曲線では対処不可能である。換言すれば、適切な基準曲線が存在するはずである安定したプロセス帯を求めることはできない。なぜなら、他の曲線に対する比較が欠如しているからである。

従って本発明の課題は、種々異なるシステム条件への改善された整合を可能にする方法および溶接装置を提供することである。詳細には、調整部の改善された照合を可能にする方法が提供されるべきである。その他に、溶接過程の監視を可能にする方法が提供されるべきである。

上述の課題は本発明により、請求項１の方法および請求項１１の溶接装置によって解決される。有利な実施形態および発展形態は従属請求項に記載されている。

本発明の溶接装置作動方法では、溶接装置は少なくとも１つの溶接電極、有利には２つの溶接電極を有している。これは、少なくとも１つの可変の電気的基準量を伴う電流によって駆動され、ここでこの電気的基準量は制御装置によって制御され、電気的基準量の制御は、実施されるべき溶接過程に特有の基準データセットを考慮して行われる。本発明では基準データセットは少なくとも１つの生データセットを基にして求められる。ここでこの生データセットは、実行されるべき溶接過程に特有のものである。

電気的基準量とは殊に、電流を特徴付けるパラメータないし量である。有利には電気的基準量は、基準量のグループから選択される。この基準量グループは溶接電流、溶接電圧、出力、エネルギー、位相切片（Ｐｈａｓｅｎａｎｓｃｈｎｉｔｔ）、これらの組み合わせ等であり、殊に溶接電流を含んでいる。

本発明はさらに、溶接装置の制御および／または監視方法に関する。ここで溶接装置は少なくとも１つの溶接電極を有している。この溶接電極は少なくとも１つの電気的基準量によって駆動され、この電気的基準量は制御装置によって制御される。ここで電気的基準量の制御は、実行されるべき溶接過程に対して特有の基準データセットを考慮して行われる。本発明では、基準データセットは少なくとも１つの、実行されるべき測定過程を特徴付ける生データセットと比較され、この比較から、実行されるべき溶接過程に関する情報が得られる。

基準データセットと生データセットのこの比較によって、溶接が正しく行われたか否かに関する情報が得られる。例えば生データセットが基準データセットから著しく偏差している場合には相応に、溶接がエラーを有していることが推測される。このようにして溶接過程が監視される。このようにして２つの本発明の方法において生データセットが作成され、これが溶接装置の監視および制御のために使用される。

有利には、変動帯は基準データセットの周囲に定められる。生データセットがこの変動帯内にある場合には、相応に実施された溶接は問題ないと見なされる。求められた生データセットが（部分的に）この変動帯外にある場合には、溶接過程はもはや正しくない。

有利には電気的基準量は調整装置によって調整される。しかし、次のことに留意されたい。すなわち、本発明の方法が基準量の調整だけでなく、溶接過程の監視にも使用されることに留意されたい。

有利には基準データセットは多数の生データセットから求められる。ここで各生データセットは、実行されるべき溶接過程に対して特有のものである。しかしこの方法では、殊に、個々の生データセットにわたった平均化のみが取り扱われるのではない。

基準データセットを以下で、基準曲線とも称する。この基準曲線は特定の溶接過程を示し、例えば、溶接電流に対する特性値等のデータ対を測定経過の時点に依存して含む。

従って、本明細書の関連では、実行されるべき溶接過程に特有のデータセットは、殊に同じまたは類似の溶接過程に対して記録されたデータセットである。従って特定のデータセットは、特定の溶接電極によって、溶接されるべき特定の材料で、または類似の材料で行われる溶接過程に対して特有のものである。

同じように実行されるべき溶接過程に対して特有のものである多数の生データセットを使用することによって、誤りを有する測定による、起こり得る異常値を抑圧する基準データセットの作成が可能である。さらにこのようにして、実行されるべき溶接過程を正確にあらわす、平均された基準データセットが求められる。

換言すれば、例えば、溶接装置の相応する操作面を拡張することによって、上述した不測要因に対処することができる。

詳細には、製造中、溶接は自動的に、本発明による新たな機能の呼び出しに応じて、所定の時間にわたって、各プログラムないしは各溶接点に対して記録され、例えばＰＣまたは溶接制御部内に記憶される。換言すれば、多数の溶接過程が記録され、これによって後に基準データセットの改善された情報が得られる。

このような記録が終了した後、ユーザには一群の曲線（例えば複数の抵抗経過）が各溶接されたプログラムないし各溶接点に対して提供される（個々の制御部および各プログラムに対して装置がネットワーク化されている場合）。このような一群の曲線に基づいて、ユーザは、飛沫溶接または妨害された溶接等の異常値を識別することができ、例えばマウスをクリックすることによってこれを消去することができる。しかしこのような識別ないし消去が自動的に行われてもよい。

さらに、ユーザは安定したプロセス帯を識別することができ、作成されるべき基準曲線の位置をより良く見積もることができる。

上述した異常値を除去した後、次に一群の曲線が平均化され、基準データセットとして、溶接制御部の調整モジュール内に格納される。

このようにして、基準データセットが上述したプロセス帯の中央に位置する、または一般的にユーザによって定められたポジションに位置することが保証される。有利には、上述した一群の曲線を求める際に、測定されたないしは導出された全ての量が平均化される。これは例えば電流、位相切片の電圧、抵抗、出力およびエネルギーである。

有利な方法では、基準データセットは多数の値対、例えば時間値を含み、これに対する抵抗値が示される。

有利には基準データセットは、少なくとも１つの生データセットおよび特に有利には少なくとも１つの生データセット部分に数学的な演算を用いることによって作成される。この演算は平均化等である。殊に、数学的演算は機械的な演算グループから選択される。この演算グループは平均値算出、殊に算術平均値算出または幾何平均値算出、積分形成、合計値形成およびこれらの組み合わせ等である。有利には算術平均値算出が用いられ、これによって個々の生データセットが平均され、このようにして基準データセットが作成される。しかし生データセットのみに算術的演算を使用する場合には、このような生データセットの平滑化だけではない。

別の有利な方法では、値対はそれぞれ１つの第１の値と、この第１の値に割り当てられた少なくとも１つの第２の値を含んでいる。しかし、１つの第１の値に、複数の第２の値を割り当てることも可能である。これは例えば電流値、電圧値、ここから導出された抵抗値、位相切片に対する値および出力およびエネルギーに対する値である。この場合にこれは値対ではなく、ｎ個の組（ｎ−Ｔｕｐｅｌ）である。

有利には、数学的演算は、それぞれ同じ第１の値に割り当てられている、種々の生データセットの第２の値に用いられる。従って例えば特定の第１の値、例えば所定の生データセット内の時間値に、特定の抵抗値が割り当てられる。このような抵抗値、すなわち第２の値は次に算術平均され、相応の平均値が、基準データセットに対する基礎として所定の時間値のもとで使用される。従って基準データセットは、上述したこのような第１の値に対して、この値に割り当てられた平均値を含んでいる。

有利には、基準データセットを求めるのに使用される生データセットの数は１〜１００の間であり、有利には５〜２００の間であり、特に有利には１０〜１００の間であり、特に有利には１５〜４０の間である。この数を求める際に、一方では、数が上昇するにつれて、基準データセットの精度も上昇することが考慮されなければならない。他方では、殊に生データセットの手動処理時に、多くのデータセットがユーザによって処理されない可能性があるということに留意されたい。

別の有利な実施形態では、溶接装置は多数のプログラムにおいて作動され、この各プログラムにおいて基準データセットが作成される。ここで種々のプログラムとは、例えば種々異なる種類の材料のための種々異なる溶接プログラムのことであり、各溶接プログラム内で、それぞれ多数の生データセットが作成され、ここから同じように基準データセットが作成される。

別の有利な方法では、基準データセットを求める際に、種々異なる生データセットが部分的に異なって重み付けされる。例えば、妥当でない、または異常値を含んでいる生データセットを異なって重み付けすることが可能である。ここで殊に、個々の生データセットをファクタ０で重み付けすることも可能である。すなわち、基準データセットを求める際に考慮しないことも可能である。基準データセットを求める際に、生データセット内の個々のデータ値を考慮しないことも可能である。

別の有利な方法では、このような重み付けが自動的に行われる。例えば生データセットから、異常値を例えば微分の途中でまたは勾配形成によって識別し、このような異常値が存在する場合には、相応する生データセットを完全に平均値算出から除去することができる。

本発明はさらに溶接装置に関する。ここでこの溶接装置は、第１の溶接電極と、この第１の溶接電極と協働する第２の溶接電極と、給電装置とを有する。ここでこの給電装置は溶接電極に電流を供給する。ここでこの電流の少なくとも１つの基準量が可変である。この溶接装置はさらに測定装置を有している。この測定装置は少なくとも１つの電気的な量を定める。この量は、電極に供給される電流の電気的基準量を特徴付ける。さらにこの溶接装置は制御装置を有している。制御装置は電気的基準量を、特有の測定量に依存して制御する。ここで制御装置は、実行されるべき溶接過程に対して特有の基準データセットを考慮して、電気的基準量を制御する。本発明では溶接装置ないし電子溶接装置に割り当てられたＰＣは記憶装置を有している。この記憶装置内には、少なくとも１つの生データセットが少なくとも一時的に記憶される。ここでこの生データセットは、実行されるべき溶接装置に特有である。さらにプロセッサ装置が設けられる。これは、少なくとも１つの生データセットから基準データセットを求める、および／または少なくとも１つの生データセットを基準データセットと比較する。

有利には電気的基準量は、基準量のグループから選択される。このグループは溶接電流、溶接電圧、出力、エネルギー、位相切片（Ｐｈａｓｅｎａｎｓｃｈｎｉｔｔ）、これらの組み合わせ等であり、殊に溶接電流を含んでいる。

有利には、プロセッサ装置は基準データセットを、多数の生データセットないしは生データセット部分から求める。記憶装置内には、有利には、多数の生データセットも少なくとも一時的に記憶される。ここで各生データセットは、実行されるべき溶接過程に特有のものである。

有利な実施形態では、測定装置は溶接電流を測定する電流測定装置である。

特に有利には溶接装置は切り換え装置を有している。この切り換え装置によって、生データセットが記憶装置内に読み込まれる第１のモードから、基準データセットを考慮して溶接過程が実行される第２のモードへ切り換えられる。この第２のモードは殊に、溶接過程が実行される動作モードのことである。この場合には切り換え装置は例えば機械的なスイッチである。しかし、ソフトウェアベースのスイッチまたはセンサ部材、モニター部材等の切り換え装置を設けることもできる。

有利には溶接装置は較正モードを有している。この較正モードでは多数の生データセットから基準データセットが作成される。

さらに本発明は溶接装置に関する。これは上述した様式の方法で作動される。

その他の利点および実施形態は添付した図面から明らかになる。

溶接装置の部分を概略的に示す図 本発明による溶接装置のブロックダイヤグラム 記録された多数の生データセットのグラフ 多数の生データセットの別の図 本発明の方法のフローチャート

図１は、溶接装置１の概略図を示している。この溶接装置１は溶接用鉗子１０を有している。溶接用鉗子１０は２つの電極４、５を含んでいる。これらは、２つの表面ないしは２つ以上のワークピース３ａ、３ｂを溶接するために用いられる。ここでこの溶接用鉗子には、電流線路１４、１５を介して、溶接電流が供給される。電圧測定線路１７、１８ないし電極電圧ケーブルは、電圧測定のために用いられる。電極電圧ケーブル１７、１８は鉗子アームと接触しており、溶接用鉗子１０の動きを妨げないように設けられている。それにもかかわらずこのケーブルは鉗子の動きとともに動くので、電極電圧ケーブル１７、１８には高い柔軟性のケーブルが使用されるべきである。

各鉗子アームにはそれぞれ１つのケーブル心線ないし電圧測定ケーブルのみが接続されている。従ってケーブルはこの領域においてシールド無しに構成される。しかし別のフローでは、電圧ケーブル１７、１８は別の線路と共に案内されるので、この箇所ではシールド１２が必要である。このようなシールドは同じようにアース電位にされ、これによってノイズは良好に外へ導出される。

図２は、溶接装置の概略的な図を示している。ここで参照番号８は、例えばＰＣ上の操作面をあらわす。参照番号２０は、例えば電気制御盤戸棚の形状の、溶接用鉗子の制御部をあらわす。参照番号１０はここでも溶接用鉗子をあらわす。

参照番号７は、溶接電流Ｉ_Ｓｃｈを測定するための測定装置に関する。さらにシールド１２および（図示されていない）別の電圧測定装置によって、その時々の電圧が測定され、このようにして時間に依存して抵抗が特定される（導出された量として）。このような溶接抵抗はここで物質抵抗と接触抵抗から成る。物質抵抗は、材料および溶接電極自体の状態並びに、溶接されるべき２つの材料に依存する。接触抵抗は溶接プロセス自体によって決まる。すなわち殊に、接触する表面、生じる溶接レンズないしは溶接ジョイント部および溶接電極によって決まる。

参照番号６はここで調整器、すなわち詳細には、電流電圧調整器をあらわし、参照番号１９は変圧器をあらわす。

本発明の構成によって、プログラムの複数の溶接を考慮することができる。ここでこれらの溶接は、プログラムが行われる順番に依存しない。複数の溶接を、溶接制御時に同時に記録することもできる。これは実際には基準データセットの作成を非常に簡単にする。

図３は、多数のこのような生データセットないし生特性曲線２３ａ、２３ｂ、２３ｃ、２３ｄ、２３ｅを備えたダイヤグラムを示している。ここでこのダイヤグラム内には、測定された電流値と電圧値から決まる抵抗が、溶接過程の時間に対して示されている。

１つの溶接過程に対して多数の生データセットが得られることが分かる。これらの個々の生データセットは、記憶装置１６（図２を参照）内の記録モードにおいて読み込まれる。ここで一方では、記録を次のように実行することが可能である。すなわち、既に記録された生データセットが消去されるように実行することが可能である。しかし、既に記録された生データセットが保持され、かつ別の生データセットでの記録が続けられることも可能である。

有利には、生データ自体の記録ないしはその経過の記録を、直接的にＰＣで、見ることが可能である。状態表示部内に表示される各記録の終了後に記録が保持され、分析モードに移行する。これは全ての生データの記録後に、例えば基準データセット作成に用いられる。

例えば図３に示されている適切なフィルタないしは適切なプログラムによって、記録された全曲線が示される。ここで処理中に、特別な曲線（この場合には曲線２３ｄ）がさらなる処理のために選択される。ここで操作者はこの曲線を単独で表示することができる。すなわち、別の曲線２３ａ、２３ｂ、２３ｃ・・・が隠される。例えばこれが溶接飛沫測定をあらわしているので、この曲線ないしこの生データセット２３ｄがさらなる利用に対して適切でないことが判明した場合、このデータセットないし曲線２３ｄは消去される。曲線２３ｄから個々の測定点ないし異常値を消去する、ないし補正することも可能である。これは例えば曲線の平滑化の範囲内で行われる。

さらに、個々の曲線２３ｄを、特別に整合されたアルゴリズムで平滑化することも可能である。この場合には、この段階において、飛沫溶接の曲線ないし生データセットおよび他の異常値が消去されるべきである。このような生データセットは図３において、参照番号２３ｃおよび２３ｅによって示されており、抵抗経過特性の突発的に下降するエッジで識別される。従って、このような生データセットを自動的に識別し、消去することも可能である。これは例えば、このような生データセットの勾配を観察して行われる。

さらなるステップにおいて、残っている曲線ないし生データセットの平均化が行われる、このようにしてプログラムないし溶接点に対する相応の基準曲線が求められる。この過程は図４に示されている。ここで参照番号２５は、平均化された曲線、すなわちこのプログラムに対する基準曲線ないし基準データセットをあらわしている。

この基準曲線の上および下に位置する２つの曲線２６および２７は、最小ないし最大の抵抗経過特性をあらわしている。これらの抵抗経過に対して、一方では各完全な最も高いおよび最も低い位置にある曲線を使用することが可能であろう。しかし各特別な時間値に対して、相応の最大および最小の抵抗値が使用されてもよい。これらの最大および最小に現れる抵抗経過の表示は殊に、測定値の散乱に対する尺度を得るために有用である。このように、測定の散乱経過に関する画像を得るために、相の散乱ないし変化を表示することも可能である。

垂直な線２８は、例示的に選び出された値を示している。すなわち、図示された時間値２７０およびこれに相応する抵抗値１５８である。

別の方法では、ここに示された曲線２５を再び生データセットに関連して示す、または元来の曲線状態に戻すことも可能である。

さらなるステップでは、複数の求められた基準データセットが基準曲線として、この特別なプログラムに対する溶接制御部６（調整部を有する）内に格納される。それぞれ別の作動プログラムにおいては、求められた生データセットによって同じように方法が実施される。さらに、この図においては、抵抗測定の例での基準データセットの算出が示されていることに留意されたい。しかしこれと相応に、出力値、エネルギー値および位相切片値に対する測定を、ここで相応する基準データセットを作成するために求めることもできる。

図５は、完全な方法フローを示すブロックダイヤグラムである。第１のステップでは溶接経過の記録が開始され、個々の溶接経過ないし生データセットが制御部またはＰＣ８内に記憶される。記録は、ユーザの相応する入力によって止められる。多数の溶接経過が記録された後、個々の経過ないし特性値がユーザによってまたは自動的に分析される。ここでは殊に、例えば飛沫溶接による異常値が除去される。さらなるステップでは残りの経過ないし特性値が平均化され、得られた平均化された曲線が基準として溶接制御部内に格納される。このような経過が種々異なる溶接プログラムに対して繰り返される。

本出願において開示されたすべての特徴は、個別にまたは組み合わせにより従来技術に対して新規である限り、本発明を構成するものとして請求される。

１ 溶接装置
３ａ，３ｂ ワークピース
４ 電極
５ 電極
６ 溶接制御部
７ 測定装置
８ ＰＣ
１０ 溶接鉗子
１２ シールド
１４，１５ 電流線路
１６ 記憶装置
１７，１８ 電圧測定線路
１９ 変圧器
２０ 溶接用鉗子のための制御部
２３ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ 生データセットないし生特性曲線
２５ 基準データセットないし基準特性曲線
２６ 最大抵抗経過特性
２７ 最小抵抗経過特性
２８ 垂直線
Ｉ_Ｓｃｈ 溶接電流

Claims (19)

1. 溶接装置（１）を制御するおよび／または監視する方法であって、
   ここで前記溶接装置（１）は少なくとも１つの溶接電極（４）を有しており、当該溶接電極は少なくとも１つの可変電気基準量によって作動され、
   当該電気基準量は制御装置（６）によって制御され、
   前記電気基準量の制御を基準データセット（２５）を考慮して行い、当該基準データセットは実行されるべき溶接過程に特有である形式の方法において、
   前記基準データセット（２５）を少なくとも１つの生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）を基にして求め、
   当該生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）は実行されるべき溶接過程に特有である、
   ことを特徴とする、溶接装置を制御するおよび／または監視する方法。
2. 溶接装置（１）を制御するおよび／または監視する方法であって、
   ここで前記溶接装置（１）は少なくとも１つの溶接電極（４）を有しており、当該溶接電極は少なくとも１つの電気基準量によって作動され、
   当該電気基準量は制御装置（６）によって制御され、
   前記電気基準量の制御を基準データセット（２５）を考慮して行い、当該基準データセットは実行されるべき溶接過程に特有である形式の方法において、
   前記基準データセット（２５）を、実行されるべき測定過程に特有の少なくとも１つの生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）と比較し、当該比較から、実行されるべき溶接過程に対する情報を得る、
   ことを特徴とする、溶接装置を制御するおよび／または監視する方法。
3. 前記電気基準量を基準量グループから選択し、当該基準量グループは溶接電流（Ｉ_Ｓｃｈ）、溶接電圧、出力、エネルギー、位相切片、これらの組み合わせ等、殊に溶接電流（Ｉ_Ｓｃｈ）を含む、請求項１または２記載の方法。
4. 前記基準データセット（２５）を多数の生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）から求め、各生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）は実行されるべき溶接過程に特有である、請求項１から３までのいずれか１項記載の方法。
5. 前記基準データセット（２５）は多数の値対を含んでいる、請求項１から４までのいずれか１項記載の方法。
6. 少なくとも１つの生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）に数学的演算を用いることによって前記基準データセット（２５）を作成する、請求項１から５までのいずれか１項記載の方法。
7. 前記数学的演算を数学的演算のグループから選択し、
   当該数学的演算のグループは、平均値算出、殊に算術的平均値算出または幾何学的平均値算出、積分形成、合計値形成、平滑化、これらの組み合わせ等を含む、請求項６記載の方法。
8. 前記値対はそれぞれ第１の値と、当該第１の値に割り当てられている少なくとも１つの第２の値を含んでいる、請求項１から７までのいずれか１項記載の方法。
9. 前記数学的演算を、前記種々異なる生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）の第２の値に用い、当該第２の値はそれぞれ同じ第１の値に割り当てられている、請求項５記載の方法。
10. 前記基準データセット（２５）を求めるために使用される前記生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）の数は１〜１０００の間、有利には５〜２００の間、特に有利には１０〜１００の間、特に有利には１５〜４０の間である、請求項１から９までのいずれか１項記載の方法。
11. 前記溶接装置（１）は多数のプログラムにおいて動作可能であり、当該各プログラムにおいて基準データセット（２５）を作成する、請求項１から１０までのいずれか１項記載の方法。
12. 前記基準データセット（２５）を求める際に、種々異なる生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）を少なくとも部分的に異なって重み付けする、請求項１から１１までのいずれか１項記載方法。
13. 前記重み付けを自動的に行う、請求項９記載の方法。
14. 溶接装置（１）であって、
    当該溶接装置は、第１の溶接電極（４）と、当該第１の溶接電極と協働する第２の溶接電極（５）と、溶接過程の間、前記溶接電極（４，５）に電流（Ｉ_Ｓｃｈ）を供給する給電装置とを有しており、当該電流（Ｉ_Ｓｃｈ）の少なくとも１つの基準量は可変であり、
    前記溶接装置は測定装置（７）を有しており、当該測定装置は、前記電極に供給される電気基準量に対して特有の少なくとも１つの電気的な量を特定し、
    前記溶接装置は制御装置（６）を有しており、当該制御装置は、前記電気基準量を前記特有の測定量に依存して制御し、
    当該制御装置（６）は基準データセット（２５）を考慮して前記電気基準量を制御し、当該基準データセットは実行されるべき溶接過程に対して特有である形式のものにおいて、
    前記溶接装置は記憶装置（１６）を有しており、当該記憶装置内には少なくとも１つの生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）が記憶されており、当該生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）は実行されるべき溶接過程に対して特有であり、
    前記溶接装置はプロセッサ装置を有しており、当該プロセッサ装置は少なくとも１つの生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）から、基準データセット（２５）を求める、
    ことを特徴とする溶接装置。
15. 前記電気基準量を基準量グループから選択し、当該基準量グループは溶接電流（Ｉ_Ｓｃｈ）、溶接電圧、出力、エネルギー、位相切片、これらの組み合わせ等、殊に溶接電流（Ｉ_Ｓｃｈ）を含んでいる、請求項１４記載の装置。
16. 前記測定装置（７）は溶接電流（Ｉ_Ｓｃｈ）を測定する電流測定装置（７）である、請求項１４または１５記載の装置。
17. 前記プロセッサ装置は前記生データセット（２５）を、多数の生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）から求める、請求項１４から１６までのいずれか１項記載の装置。
18. 前記溶接装置（１）は切り換え装置を有しており、当該切り換え装置によって、生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）が記憶装置（１６）内に読み込まれる第１のモードから、前記基準データセット（２５）を考慮して溶接過程が実行される第２のモードへ切り換えられる、請求項１４から１７までのいずれか１項記載の装置。
19. 前記溶接装置（１）は較正モードを有しており、当該較正モードにおいて、多数の生データセット（２３ａ，２３ｂ，２３ｃ，２３ｄ）から、基準データセット（２５）が作成される、請求項１４から１８までのいずれか１項記載の装置。

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