JP2010284048A - テストターミナル及び電気盤 - Google Patents

Abstract

【課題】 誤操作を確実に防止する。
【解決手段】 自動復旧機能が不使用状態のときには、シャッタ開閉スイッチ１２の押下によって、シャッタ駆動コイルが励磁されて、シャッタ駆動コイルの磁気的引力によって、可動部材１４が上方に変位して、テストプラグ挿入口４が開放状態となり、テストプラグのテストプラグ挿入口４への挿入が可能となる。また、自動復旧機能が使用状態のときには、自動的に可動部材１４が下方に変位して、テストプラグ挿入口４が閉鎖され、テストプラグの挿入が阻止される。
【選択図】 図４

Description

この発明は、例えば、変電所等の電気所に設置される自動復旧装置等の電気盤に組み込まれ、保護継電器試験の際に用いられるテストターミナル、及びテストターミナルを備えた電気盤に関する。

従来より、変電所等の電気所には、例えば、遮断器の事故による遮断から一定時間経過後に、遮断した遮断器を入操作により自動的に復旧するための自動復旧装置（ＡＲＥ）が設置されている。自動復旧装置には、保護継電器を試験するためのテストターミナルが、回線に対応して多数設けられている。テストターミナルは、それぞれ、変圧器回路及び変流器回路に組み込まれる計器用変圧器テストターミナル（ＰＴＴターミナル）及び計器用変流器テストターミナル（ＣＴＴターミナル）を含んでいる。例えば、ＰＴＴターミナルのプラグ挿入口には、自動復旧装置の復旧機能不使用時（復旧機能停止時）に、対応するＰＴＴプラグが挿入されて、電圧の計測が行われる。

作業員は、試験のためのＰＴＴプラグを操作する場合に、回線名が表示された銘板を見て、復旧機能不使用回線であることを確認している。しかしながら、作業員は、復旧機能使用回線であるにも関わらず、復旧機能不使用回線であると誤認して、ＰＴＴプラグを挿入してしまうことがある。この場合は、復旧機能使用状態で、ＰＴＴプラグを挿入することにより電圧喪失を招き、遮断指令により健全回線を誤遮断させてしまう。

自動復旧装置の上部には、復旧機能使用状態／不使用状態の表示（４３スイッチの表示）がなされるが、テストターミナルは、自動復旧装置の下部に多数配置されているために、対応関係の確認が容易でなく、誤認を防止することは困難である。

このため、テストターミナルのプラグ挿入口にテストターミナルカバーを取り付けて、プラグ挿入口を閉塞するとともに、テストターミナルカバーを、表示板と、この表示板を高さ方向（取付状態で鉛直方向）の周りに回動自在に支持する外枠と、係止用の脚部とから構成し、表示板の表面に「挿入禁止」と表示し、裏面は非表示として、テストプラグ挿入の可否に応じて、表示板の表面又は裏面を正面側（外部側）に向けてテストターミナルカバーが取り付けられるようにした技術が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。

特開２００７―１７１７５０号公報

しかしながら、上記従来技術では、「挿入禁止」の表示をさせるか否かの判断は作業員が行い、また、テストターミナルカバーを外してしまえば、テストプラグをプラグ挿入口に容易に挿入できるので、復旧機能使用状態でテストプラグを挿入してしまうといったヒューマンエラーを完全になくすことは困難である。

この発明は、前記の課題を解決し、誤操作を確実に防止することができるテストターミナル及び電気盤を提供することを目的としている。

前記の課題を解決するために、請求項１の発明は、所定の機能を有する電気盤に設けられ、保護継電器試験のために用いられるテストターミナルであって、対応するテストプラグが挿入されるテストプラグ挿入口を備えているとともに、前記所定の機能が使用状態のときに、前記テストプラグ挿入口を閉鎖し、前記所定の機能が不使用状態のときに、前記テストプラグ挿入口を開放する挿入口開閉手段を備えたことを特徴としている。

請求項１の発明では、挿入口開閉手段は、電気盤の所定の機能が使用状態のときに、テストプラグ挿入口を閉鎖し、所定の機能が不使用状態のときに、テストプラグ挿入口を開放する。

請求項２の発明は、請求項１に記載のテストターミナルであって、前記電気盤は、遮断した機器を所定時間後に自動的に復旧するための自動復旧機能を有し、前記挿入口開閉手段は、前記自動復旧機能が使用状態のときに前記テストプラグ挿入口を閉鎖し、前記自動復旧機能が不使用状態のときに、前記テストプラグ挿入口を開放することを特徴としている。

請求項３の発明は、請求項１又は２に記載のテストターミナルであって、前記テストプラグ挿入口の近傍に配置され、前記所定の機能の使用状態及び／又は不使用状態を示す使用状態表示手段を備えたことを特徴としている。

請求項４の発明は、請求項１、２又は３に記載のテストターミナルであって、前記挿入口開閉手段は、前記テストプラグ挿入口の開閉を行うとともに磁気的引力により吸引されることが可能な可動部材と、励磁されると前記可動部材を吸引する吸引手段と、前記吸引手段に直列に接続された開閉スイッチとを有し、前記所定の機能が不使用状態のときに、前記開閉スイッチが操作されると、前記吸引手段が励磁されて、前記可動部材が吸引され、前記テストプラグ挿入口が開放されるように構成されていることを特徴としている。

請求項５の発明は、所定の機能を有し、保護継電器試験のために用いられるテストターミナルが設けられた電気盤であって、前記テストターミナルは、対応するテストプラグが挿入されるテストプラグ挿入口を備えているとともに、前記所定の機能が使用状態のときに、前記テストプラグ挿入口を閉鎖し、前記所定の機能が不使用状態のときに、前記テストプラグ挿入口を開放する挿入口開閉手段を備えたことを特徴としている。

請求項１の発明によれば、挿入口開閉手段は、電気盤の所定の機能が使用状態のときに、テストプラグ挿入口を閉鎖し、テストプラグの挿入が阻止され、所定の機能が不使用状態のときに、テストプラグ挿入口を開放するので、所定の機能が使用状態でテストプラグを挿入してしまうといった誤操作を確実に防止することができる。

請求項２の発明によれば、挿入口開閉手段は、電気盤の自動復旧機能が使用状態のときに、テストプラグ挿入口を閉鎖し、テストプラグの挿入が阻止され、自動復旧機能が不使用状態のときに、テストプラグ挿入口を開放するので、自動復旧機能が使用状態でテストプラグを挿入してしまうといった誤操作を確実に防止することができる。

請求項３の発明によれば、テストプラグ挿入口の近傍に配置された使用状態表示手段によって、所定の機能が使用状態及び／又は不使用状態であることが自動的に示されるので、例えば、不使用回線か使用回線かを明確に認識することができ、誤操作を一段と確実に防止することができる。

請求項４の発明によれば、所定の機能が不使用状態の場合に、開閉スイッチの押下によってはじめて、吸引手段が励磁されるので、所定の機能が不使用状態の場合にいつでも、無用にテストプラグ挿入口が開放状態となることはないので、例えば、テストプラグ挿入口からの異物の侵入を防止することができる。

請求項５の発明によれば、挿入口開閉手段は、電気盤の所定の機能が使用状態のときに、テストプラグ挿入口を閉鎖し、テストプラグの挿入が阻止され、所定の機能が不使用状態のときに、テストプラグ挿入口を開放するので、所定の機能が使用状態でテストプラグを挿入してしまうといった誤操作を確実に防止することができる。

この発明の一実施の形態に係る自動復旧装置の構成を説明するための説明図である。 図１のＡ部を拡大して示す拡大図である。 同自動復旧装置のテストターミナル部の構成及び機能を説明するための説明図である。 同テストターミナル部の構成及び機能を説明するための説明図であって、自動復旧機能使用時の状態を示す図である。 同テストターミナル部の構成及び機能を説明するための説明図であって、自動復旧機能不使用時の状態を示す図である。 同テストターミナル部の構成及び機能を説明するための説明図であって、自動復旧機能不使用時の状態を示す図である。

次に、この発明の実施の形態について、図面を用いて詳しく説明する。

図１は、この発明の一実施の形態に係る自動復旧装置の構成を説明するための説明図、図２は、図１のＡ部を拡大して示す拡大図、図３は、同自動復旧装置のテストターミナル部の構成及び機能を説明するための説明図、図４は、同テストターミナル部の構成及び機能を説明するための説明図であって、自動復旧機能使用時の状態を示す図、図５及び図６は、同テストターミナル部の構成及び機能を説明するための説明図であって、自動復旧機能不使用時の状態を示す図である。

図１に示すように、自動復旧装置１は、例えば、遮断器（機器）の事故による遮断から一定時間経過後に、遮断した遮断器を入操作により自動的に復旧するために用いられ、保護継電器２，２，…等の機器と、テストターミナル部３，３，…とを備えている。図２と、図４乃至図６とに示すように、テストターミナル部３は、テストプラグ１９が挿入されるテストプラグ挿入口４を有しているとともに、テストプラグ挿入口４の近傍に配置され、自動復旧機能の使用状態／不使用状態を示す使用状態表示部５と、自動復旧機能の使用状態に応じてテストプラグ挿入口４を開閉する挿入口開閉機構６とを有している。また、テストターミナル部３は、図３に示すように、表示回路用の正極側端子ｔ１、及び負極側端子ｔ２と、励磁回路用の正極側端子ｔ３、及び負極側端子ｔ４とを有している。

使用状態表示部５は、図３に示すように、光透過性部材からなり、対応する回線名等が表示された銘板９と、銘板９の裏面側に配置され、銘板９を照明するとともに点灯により使用状態を示すＬＥＤから構成される表示灯１１とを有している。自動復旧機能使用時（対応する回線の４３スイッチ状態が「使用」を示す時）に動作する補助リレーのリレーコイル２１の励磁によって、メーク接点（ａ接点）２２が閉じて、メーク接点２２に直列に接続された表示灯１１が点灯する。

自動復旧機能不使用時には、リレーコイル２１が復帰し、メーク接点２２が開放されて、表示灯１１が滅灯する。すなわち、表示灯１１の点灯により自動復旧機能が使用状態であることが自動的に示され、表示灯１１の滅灯により自動復旧機能が不使用状態で、テストプラグ挿入可能であることが自動的に示される。

挿入口開閉機構６は、図２と、図４乃至図６とに示すように、正面に配置されたシャッタ開閉スイッチ１２と、テストプラグ挿入口４の上方に配置され、シャッタ駆動コイルを含む励磁回路１３と、励磁回路１３の下方に配置され、励磁回路１３により鉛直方向に沿って変位可能な可動部材１４と、可動部材１４の変位を案内する溝部が形成されているとともに可動部材１４を変位可能に支持するための可動部材支持部１５とを有している。

可動部材１４は、板状のシャッタ部材１６と、シャッタ部材１６の上部に取り付けられ、帯状の鋼材等からなり、励磁回路１３の励磁されたシャッタ駆動コイルの磁気的引力によって上方に変位可能な作動部１７と、作動部１７の左右両側に配置され、端部が外部に露出された把持部材１８とを有している。

図３に示すように、自動復旧機能不使用時に動作する補助リレーのリレーコイル２３の励磁によって、メーク接点２４が閉じて、シャッタ駆動コイル励磁可能状態となる。この状態で、メーク接点２４に直列に接続されたシャッタ開閉スイッチ１２が押下されると、シャッタ開閉スイッチ１２に直列に接続された励磁回路１３のシャッタ駆動コイルが励磁され、作動部１７が上方に吸引され、可動部材１４が上方に変位し、シャッタ部材１６によって塞がれていたテストプラグ挿入口４は開放され、テストプラグ１９の挿入が可能となる。

また、自動復旧機能使用時には、メーク接点２４が開いて、シャッタ駆動コイル励磁不能状態となる。これによって、励磁回路１３のシャッタ駆動コイルによって上方に吸引されていた可動部材１４は、自重により落下し（下方へ変位し）、テストプラグ挿入口４は、シャッタ部材１６によって塞がれて、閉鎖状態とされ、テストプラグ１９の挿入が阻止される。

すなわち、自動復旧機能が不使用状態のときに、シャッタ開閉スイッチ１２の押下によって、自動的に可動部材１４が上方に変位して、テストプラグ挿入口４が開放状態となり、テストプラグ１９のテストプラグ挿入口４への挿入が可能となる。また、自動復旧機能が使用状態のときに、自動的に可動部材１４が下方に変位して、テストプラグ挿入口４が閉鎖され、テストプラグ１９の挿入が阻止される。ただし、この実施の形態では、自動復旧機能が使用状態のときでも、把持部１８を手動で持ち上げることにより、可動部材１４が上方に変位して、テストプラグ挿入口４を開放状態とすることが可能なようにされている。

次に、図３乃至図６を参照して、テストターミナル部の動作について説明する。自動復旧機能不使用時には、図３に示すように、メーク接点２２が開いて、表示灯１１が滅灯する。すなわち、表示灯１１の滅灯により自動復旧機能が不使用状態であることが示される。また、補助リレーのリレーコイル２３の励磁によって、メーク接点２４が閉じて、励磁可能状態となる。

この状態で、シャッタ開閉スイッチ１２が押下されると、励磁回路１３のシャッタ駆動コイルが励磁され、図４に示すように、作動部１７が上方に引き寄せられ、可動部材１４が上方に変位し、シャッタ部材１６によって塞がれていたテストプラグ挿入口４は開放される。これにより、テストプラグ挿入口４にテストプラグ１９が挿入される。例えば、テストプラグ１９としてのＰＴＴプラグには、電圧計等の計測機器が接続され、電圧の計測が行われる。

自動復旧機能使用時には、図３に示すように、補助リレーのリレーコイル２１の励磁によって、メーク接点２２が閉じて、表示灯１１が点灯する。すなわち、表示灯１１の点灯により自動復旧機能が使用状態であることが示される。また、メーク接点２４が開いて、励磁不能状態となる。これによって、図５及び図６に示すように、励磁回路１３のシャッタ駆動コイルによって上方に引き寄せられていた可動部材１４は、自重により落下し、テストプラグ挿入口４は、シャッタ部材１６によって塞がれて、閉鎖状態とされる。

なお、自動復旧機能が不使用状態で、テストプラグ１９をテストプラグ挿入口４に挿入して、計測を行っているときに、回線が復旧して自動復旧機能が使用状態となる可能性もあるが、作業員は、使用状態表示部５の表示灯１１の点灯により、使用状態への変化を知ることができる。

こうして、この実施の形態の構成によれば、自動復旧機能が不使用状態のときには、シャッタ開閉スイッチ１２の押下によって、シャッタ駆動コイルが励磁されて、シャッタ駆動コイルの磁気的引力によって、可動部材１４が上方に変位して、テストプラグ挿入口４が開放状態となり、テストプラグ１９のテストプラグ挿入口４への挿入が可能となる。また、自動復旧機能が使用状態のときには、自動的に可動部材１４が下方に変位して、テストプラグ挿入口４が閉鎖され、テストプラグ１９の挿入が阻止される。これにより、復旧機能使用状態でテストプラグ１９を挿入してしまうといった誤操作を確実に防止することができる。したがって、例えば、ヒューマンエラーによる停電を防止することができる。

また、自動復旧機能が不使用状態の場合、シャッタ開閉スイッチ１２の押下によってはじめて、シャッタ駆動コイルが励磁されるので、自動復旧機能が不使用状態の場合にいつでも、無用にテストプラグ挿入口４が開放状態となることはない。したがって、例えば、テストプラグ挿入口４からの異物の侵入を防止することができる。

さらに、テストプラグ挿入口４の近傍に配置された表示灯１１の点灯によって、自動復旧機能が使用状態であることが自動的に示され、表示灯１１の滅灯により自動復旧機能が不使用状態であることが自動的に示されるので、作業員は、不使用回線か使用回線かを明確に認識することができ、誤操作を一段と確実に防止することができる。また、自動復旧機能が使用状態のときはシャッタ駆動コイルは非励磁状態であるので、使用状態でも、把持部１８を手動で用い上げることにより、可動部材１４が上方に変位して、テストプラグ挿入口４を開放状態とすることができるので、自動復旧機能使用時の作業が必要な場合に、円滑に作業を行うことができる。

以上、この発明の実施の形態を図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があってもこの発明に含まれる。例えば、上述した実施の形態では、復旧機能使用時に表示灯を点灯させて、復旧機能不使用時に滅灯させる場合について述べたが、復旧機能使用時と復旧機能不使用時とで、表示色（赤色と緑色等）の異なる別々の表示灯を点灯させるようにしても良い。また、復旧機能使用時と復旧機能不使用時とで、点滅パターンを変化させるようにしても良い。これにより、表示灯の故障による不点灯を見分けることができる。

また、シャッタ開閉スイッチ１２を廃しても良い。また、励磁回路１３に代えて、モータ等によって可動部材１４を駆動させるようにしても良い。また、可動部材は、水平方向に沿ってスライドさせるようにしても良い。また、把持部材を廃して、例えば、可動部材に棒状部材の挿通が可能な挿通孔を形成しておき、作業時に、棒状部材を挿通孔に挿通して、必要に応じて可動部材を操作するようにしても良い。ここで、棒状部材と挿通孔とは、嵌合可能な所定の断面形状（例えば、多角形状等）としても良い。

自動復旧装置に限らず、一般に、保護継電器及びテストターミナルが設けられた電気盤において適用できる。また、変電所や発電所のほか、電気所として、需要家の電気室等に設置された電気盤のテストターミナルについて適用できる。

１ 自動復旧装置（電気盤）
２ 保護継電器
３ テストターミナル部（テストターミナル）
４ テストプラグ挿入口
５ 使用状態表示部（使用状態表示手段）
６ 挿入口開閉機構（挿入口開閉手段）
１２ シャッタ開閉スイッチ（開閉スイッチ）
１３ 励磁回路（吸引手段）
１４ 可動部材
１９ テストプラグ

Claims (5)

1. 所定の機能を有する電気盤に設けられ、保護継電器試験のために用いられるテストターミナルであって、
   対応するテストプラグが挿入されるテストプラグ挿入口を備えているとともに、前記所定の機能が使用状態のときに、前記テストプラグ挿入口を閉鎖し、前記所定の機能が不使用状態のときに、前記テストプラグ挿入口を開放する挿入口開閉手段を備えたことを特徴とするテストターミナル。
2. 前記電気盤は、遮断した機器を所定時間後に自動的に復旧するための自動復旧機能を有し、前記挿入口開閉手段は、前記自動復旧機能が使用状態のときに前記テストプラグ挿入口を閉鎖し、前記自動復旧機能が不使用状態のときに、前記テストプラグ挿入口を開放することを特徴とする請求項１に記載のテストターミナル。
3. 前記テストプラグ挿入口の近傍に配置され、前記所定の機能の使用状態及び／又は不使用状態を示す使用状態表示手段を備えたことを特徴とする請求項１又は２に記載のテストターミナル。
4. 前記挿入口開閉手段は、前記テストプラグ挿入口の開閉を行うとともに磁気的引力により吸引されることが可能な可動部材と、励磁されると前記可動部材を吸引する吸引手段と、前記吸引手段に直列に接続された開閉スイッチとを有し、前記所定の機能が不使用状態のときに、前記開閉スイッチが操作されると、前記吸引手段が励磁されて、前記可動部材が吸引され、前記テストプラグ挿入口が開放されるように構成されていることを特徴とする請求項１、２又は３に記載のテストターミナル。
5. 所定の機能を有し、保護継電器試験のために用いられるテストターミナルが設けられた電気盤であって、
   前記テストターミナルは、対応するテストプラグが挿入されるテストプラグ挿入口を備えているとともに、前記所定の機能が使用状態のときに、前記テストプラグ挿入口を閉鎖し、前記所定の機能が不使用状態のときに、前記テストプラグ挿入口を開放する挿入口開閉手段を備えたことを特徴とする電気盤。

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