JP2010245103A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2010245103A
JP2010245103A JP2009089157A JP2009089157A JP2010245103A JP 2010245103 A JP2010245103 A JP 2010245103A JP 2009089157 A JP2009089157 A JP 2009089157A JP 2009089157 A JP2009089157 A JP 2009089157A JP 2010245103 A JP2010245103 A JP 2010245103A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solid
ofg
photoelectric conversion
overflow gate
imaging device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2009089157A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5302073B2 (ja
Inventor
Hisanori Suzuki
久則 鈴木
Yasuto Yoneda
康人 米田
Kentaro Maeda
堅太郎 前田
Masaharu Muramatsu
雅治 村松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2009089157A priority Critical patent/JP5302073B2/ja
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to PCT/JP2010/055239 priority patent/WO2010113760A1/ja
Priority to US13/258,344 priority patent/US9491384B2/en
Priority to CN201080013270.6A priority patent/CN102362488B/zh
Priority to EP10758533.3A priority patent/EP2416362B1/en
Priority to KR1020117014324A priority patent/KR101668130B1/ko
Priority to TW099109685A priority patent/TWI544796B/zh
Publication of JP2010245103A publication Critical patent/JP2010245103A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5302073B2 publication Critical patent/JP5302073B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/711Time delay and integration [TDI] registers; TDI shift registers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14831Area CCD imagers
    • H01L27/14856Time-delay and integration
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14887Blooming suppression
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/62Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
    • H04N25/621Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of blooming
    • H04N25/622Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of blooming by controlling anti-blooming drains
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/148Charge coupled imagers
    • H01L27/14831Area CCD imagers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/10Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
    • H01L31/101Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
    • H01L31/112Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by field-effect operation, e.g. junction field-effect phototransistor
    • H01L31/113Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by field-effect operation, e.g. junction field-effect phototransistor being of the conductor-insulator-semiconductor type, e.g. metal-insulator-semiconductor field-effect transistor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

【課題】 積分露光を行う積算段数を無段階に切り替え得る固体撮像装置を提供する。
【解決手段】 固体撮像装置1では、オーバーフローゲート(OFG)5が所定の電気抵抗値を有し、電圧印加部16〜16が接続部17〜17にてOFG5と電気的に接続されている。そのため、電圧印加部16〜16によって接続部17〜17に印加される電圧値V1〜V5を調整することで、OFG5の前段側部分に生じる電圧値を高くし、OFG5の後段側部分に生じる電圧値を低くすることができる。その結果、OFG5の前段側部分でバリアレベル(ポテンシャル)が低くなり、OFG5の後段側部分でバリアレベルが高くなるので、光電変換部2の前段側領域で発生した電荷の全てをオーバーフロードレイン(OFD)4に流出させて、光電変換部2の後段側領域で発生した電荷のみをTDI転送することができる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、TDI(Time Delay Integration)転送方式の固体撮像装置に関する。
TDI転送方式の固体撮像装置は、光電変換部における電荷の垂直転送の際、被写体と同じ方向に同じ速度で電荷を転送することにより、画素の垂直段数分の積分露光を行う装置である。例えば、積分露光を行う積算段数をM段とすれば、M倍の電荷が蓄積されることになるので、リニアイメージセンサに比べてM倍の感度を実現することが可能となる。
ところで、被写体が相対的に明るい場合であっても、また、相対的に暗い場合であっても、適当な感度を得ることができるように(すなわち、ダイナミックレンジを広くすることができるように)、種々の固体撮像装置が提案されている。特許文献1には、光電変換部に沿うオーバーフローゲートのバリアレベルを垂直転送の前段側部分で低くすることにより、光電変換部の前段側部分において電荷の蓄積容量を抑えるように構成された固体撮像装置が記載されている。また、特許文献2には、光電変換部の前段側部分で発生した電荷を転送方向と逆方向に転送するように構成された固体撮像装置が記載されている。
特表2003−521837号公報 特開平11−298805号公報
しかしながら、特許文献1記載の固体撮像装置にあっては、オーバーフローゲートのバリアレベルが製造時に設定された固定値であるため、積分露光を行う積算段数を無段階に切り替えることができない。また、特許文献2記載の固体撮像装置にあっては、転送信号を付与するための端子を全ての段に対して設ければ、理論上、積分露光を行う積算段数を無段階に切り替えることが可能となるが、そのような構成は実用的でない。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、積分露光を行う積算段数を無段階に切り替えることができる固体撮像装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明に係る固体撮像装置は、所定の方向に沿うように設けられ、光入射に応じて電荷を発生する光電変換部と、光電変換部で発生した電荷を所定の方向に沿って前段側から後段側にTDI転送するTDI転送部と、光電変換部に沿うように設けられ、所定の電気抵抗値を有するオーバーフローゲートを含むオーバーフロードレインと、オーバーフローゲート上の複数の接続部においてオーバーフローゲートと電気的に接続された電圧印加部と、を備えることを特徴とする。
この固体撮像装置では、オーバーフローゲートが所定の電気抵抗値を有し、電圧印加部が複数の接続部においてオーバーフローゲートと電気的に接続されている。そのため、電圧印加部によって複数の接続部に対して印加される電圧値を調整することで、オーバーフローゲートが分割抵抗として機能し、オーバーフローゲートの前段側部分に生じる電圧値を高くし、オーバーフローゲートの後段側部分に生じる電圧値を低くすることができる。その結果、オーバーフローゲートの前段側部分においてバリアレベル(ポテンシャル)が低くなり、オーバーフローゲートの後段側部分においてバリアレベルが高くなるので、光電変換部における前段側の所定の領域で発生した電荷の全てをオーバーフロードレインに流出させて、光電変換部における後段側の所定の領域で発生した電荷のみをTDI転送することができる。従って、この固体撮像装置によれば、電圧印加部によって複数の接続部に対して印加される電圧値を調整することで、積分露光を行う積算段数を無段階に切り替えることが可能となる。
本発明に係る固体撮像装置においては、接続部は、所定の方向におけるオーバーフローゲートの両端部、及び所定の方向におけるオーバーフローゲートの中間部に位置し、中間部に位置する接続部は、少なくとも、所定の方向におけるオーバーフローゲートの中央部よりも後段側に位置していることが好ましい。また、隣り合う接続部同士の間隔は、後段側ほど狭くなっていることが好ましい。これらの構成によれば、オーバーフローゲートに生じる電圧値を転送方向の後段側ほど細かく設定することが可能となる。
本発明に係る固体撮像装置においては、電圧印加部は、光電変換部における前段側の所定の領域で発生した電荷の全てがオーバーフロードレインに流出するように、オーバーフローゲートに電圧を印加してオーバーフローゲートのバリアレベルを変化させることが好ましい。この場合、上述したように、光電変換部における後段側の所定の領域で発生した電荷のみをTDI転送することが可能となる。
本発明に係る固体撮像装置によれば、積分露光を行う積算段数を無段階に切り替えることが可能となる。
本発明に係る固体撮像装置の一実施形態の平面図である。 図1のII−II線に沿っての一部拡大断面図である。 図1の固体撮像装置におけるオーバーフローゲートのバリアレベルを示す模式図である。 積分露光を行う積算段数とオーバーフローゲートのバリアレベルとの関係を示すグラフである。 積分露光を行う積算段数とオーバーフローゲートのバリアレベルとの関係を示すグラフである。
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
図1は、本発明に係る固体撮像装置の一実施形態の平面図である。図1に示されるように、固体撮像装置1は、垂直方向(所定の方向)に延在する複数列の光電変換部2を備えている。複数列の光電変換部2は、水平方向に沿って並設されており、光の入射に感応して入射光の強度に応じた電荷を発生する。この固体撮像装置1は、例えば、垂直画素数128のTDI転送方式のCCDである。
隣り合う光電変換部2の間には、アイソレーション部3とオーバーフロードレイン(OFD)4とが光電変換部2に沿うように交互に設けられている。アイソレーション部3は、アイソレーション部3を挟んで隣り合う光電変換部2を電気的に分離する。OFD4は、所定の電気抵抗値(例えば20Ω/スクウェア)を有するオーバーフローゲート(OFG)5を含み、OFD4には、OFG5のバリアレベル(ポテンシャル)に対応する蓄積容量を超えた分の電荷が光電変換部2から流出する。これにより、光電変換部2において蓄積容量を超える電荷が発生した際に、その光電変換部2と隣り合う光電変換部2に、蓄積容量を超えた分の電荷が漏れ出すこと(すなわち、ブルーミング)を防止することができる。
光電変換部2上には、水平方向に沿って並設された複数列の光電変換部2に掛け渡されるように転送電極6〜8が設けられている。転送電極6〜8は、転送電極6,7,8の順序で周期的に複数配置されており、互いに電気的に絶縁されている。転送電極6〜8は、それぞれ端子11〜13と電気的に接続されている。端子11〜13には、三相の転送信号P1V,P2V,P3Vがそれぞれ付与される。これにより、転送電極6〜8は、1周期で1画素を構成し、光電変換部2で発生した電荷を垂直方向に沿って前段側から後段側にTDI転送する垂直シフトレジスタ(TDI転送部)9として機能する。また、光電変換部2の後段側には、垂直シフトレジスタ9によってTDI転送された電荷をアンプ14に転送する水平シフトレジスタ15が設けられている。
OFG5には、水平方向に延在する電圧印加部16〜16がOFG5上の複数の接続部17〜17において電気的に接続されている。接続部17は、各OFG5の前段側端部に位置し、接続部17は、各OFG5の後段側端部に位置している。接続部17〜17は、各OFG5の中間部に位置し、そのうち接続部17,17は、垂直方向におけるOFG5の中央部よりも転送方向の後段側に位置している。なお、隣り合う接続部17〜17同士の間隔は、転送方向の後段側ほど狭くなっている。
図2は、図1のII−II線に沿っての一部拡大断面図である。図2に示されるように、光電変換部2は、p型半導体層21上にn型半導体層22が形成されてpn接合が達成されることで構成されている。アイソレーション部3は、p型半導体層21上にp型半導体層23が形成されることで構成されており、OFD4は、p型半導体層21上にn型半導体層24が形成されることで構成されている。
p型半導体層21上には、n型半導体層22、p型半導体層23及びn型半導体層24を覆うように絶縁層25が形成されている。絶縁層25内には、OFD4と対向するようにOFG5が形成されており、絶縁層25上には、転送電極6〜8が形成されている。
なお、一例として、半導体はSiであり、「高不純物濃度」とは不純物濃度が1×1017cm−3程度以上のことであって、「+」を導電型に付して示すものとし、「低不純物濃度」とは不純物濃度が1×1015cm−3程度以下のことであって、「−」を導電型に付して示すものとする。そして、n型不純物としては砒素等があり、p型不純物としては硼素等がある。また、OFG5及び転送電極6〜8の材料としてはポリシリコン等があり、絶縁層25の材料としてはSiO等がある。
図3は、図1の固体撮像装置におけるオーバーフローゲートのバリアレベルを示す模式図である。なお、n型の半導体では正にイオン化したドナーが存在し、p型の半導体では負にイオン化したアクセプターが存在する。半導体におけるポテンシャルは、p型よりもn型の方が高くなる。換言すれば、エネルギーバンド図におけるポテンシャルは、下向きがポテンシャルの正方向となるため、n型の半導体におけるポテンシャルは、エネルギーバンド図においてはp型の半導体のポテンシャルよりも深くなり(高くなり)、エネルギー準位は低くなる。また、OFG5に正の電位が生じると、OFG5に対応する半導体領域のポテンシャルが深くなる(正方向に大きくなる)。そして、OFG5に生じる正の電位が小さいほど、対応する電極直下の半導体領域のポテンシャルが浅くなる(正方向に小さくなる)。
図3に示されるように、電圧印加部16〜16によって接続部17〜17にそれぞれ電圧値V1〜V5(ここでは、V1〜V3:高い電圧、V4:オープン、V5:低い電圧)の電圧が印加されると、OFG5のバリアレベル(ポテンシャル)は、接続部17よりも前段側の領域においてオールリセットの状態(バリアレベルが0の状態)となり、接続部17よりも後段側の領域においてアンチブルーミングが機能する状態(転送方向の後段側に向かってバリアレベルが直線的に漸増する状態)となる。つまり、電圧印加部16〜16は、光電変換部2における前段側の所定の領域(接続部17よりも転送方向の前段側の領域)で発生した電荷の全てがOFD4に流出するように、OFG5に電圧を印加してOFG5のバリアレベルを変化させる。これにより、光電変換部2における前段側の所定の領域(接続部17よりも転送方向の前段側の領域)で発生した電荷の全てがOFD4に流出することになり、光電変換部2における後段側の所定の領域(接続部17よりも転送方向の後段側の領域)で発生した電荷のみがTDI転送されることになる。
以上説明したように、固体撮像装置1では、OFG5が所定の電気抵抗値を有し、電圧印加部16〜16が接続部17〜17においてOFG5と電気的に接続されている。そのため、電圧印加部16〜16によって接続部17〜17に対して印加される電圧値V1〜V5を調整することで、OFG5が分割抵抗として機能し、OFG5の前段側部分に生じる電圧値を高くし、OFG5の後段側部分に生じる電圧値を低くすることができる。その結果、OFG5の前段側部分においてバリアレベル(ポテンシャル)が低くなり、OFG5の後段側部分においてバリアレベルが高くなるので、光電変換部2における前段側の所定の領域で発生した電荷の全てをOFD4に流出させて、光電変換部2における後段側の所定の領域で発生した電荷のみをTDI転送することができる。従って、固体撮像装置1によれば、電圧印加部16〜16によって接続部17〜17に対して印加される電圧値V1〜V5を調整することで、積分露光を行う積算段数(積算画素数)を無段階に切り替えることが可能となる。
例えば、図4に示されるように、高い電圧を印加する電圧印加部16の位置を変化させることで、積分露光を行う積算段数を70段と24段とに切り替えることができる。この図は、オーバーフローゲートのポテンシャルをTDIの各段に対して示したものであり、下側の二点鎖線はチャネルのポテンシャルを示している。オーバーフローゲートのポテンシャルと下側の二点鎖線とが交わる点は、オーバーフローゲートのポテンシャルとチャネルのポテンシャルとが等しくなって、バリアが存在しなくなったTDI段を示し、これよりも、オーバーフローゲートのポテンシャルが深くなっているTDI段が大きい部分では、チャネルに生じた電荷は全てオーバーフロードレインに流れることになる。また、図5に同様に示されるように、高い電圧を印加する電圧印加部16の電圧値を変化させることで、積分露光を行う積算段数を92段と70段とに切り替えることができる。なお、電荷の蓄積が開始される段(画素)における電荷の蓄積容量は少ないが、TDI転送方式では徐々に電荷が蓄積されるため、それは問題にはならない。
また、接続部17〜17は、垂直方向におけるOFG5の両端部、及び垂直方向におけるOFG5の中間部に位置し、中間部に位置する接続部17〜17のうち接続部17,17は、垂直方向におけるOFG5の中央部よりも転送方向の後段側に位置している。更に、隣り合う接続部17〜17同士の間隔は、転送方向の後段側ほど狭くなっている。これらにより、OFG5に生じる電圧値を転送方向の後段側ほど細かく設定することが可能となる。
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではない。例えば、OFG5に生じる電位勾配及びポテンシャル勾配は、転送方向の後段側に向かって曲線状や階段状に漸増するものであってもよい。
1…固体撮像装置、2…光電変換部、4…オーバーフロードレイン、5…オーバーフローゲート、9…垂直シフトレジスタ(TDI転送部)、16〜16…電圧印加部、17〜17…接続部。

Claims (4)

  1. 所定の方向に沿うように設けられ、光入射に応じて電荷を発生する光電変換部と、
    前記光電変換部で発生した電荷を前記所定の方向に沿って前段側から後段側にTDI転送するTDI転送部と、
    前記光電変換部に沿うように設けられ、所定の電気抵抗値を有するオーバーフローゲートを含むオーバーフロードレインと、
    前記オーバーフローゲート上の複数の接続部において前記オーバーフローゲートと電気的に接続された電圧印加部と、を備えることを特徴とする固体撮像装置。
  2. 前記接続部は、前記所定の方向における前記オーバーフローゲートの両端部、及び前記所定の方向における前記オーバーフローゲートの中間部に位置し、
    前記中間部に位置する前記接続部は、少なくとも、前記所定の方向における前記オーバーフローゲートの中央部よりも前記後段側に位置していることを特徴とする請求項1記載の固体撮像装置。
  3. 隣り合う前記接続部同士の間隔は、前記後段側ほど狭くなっていることを特徴とする請求項1又は2記載の固体撮像装置。
  4. 前記電圧印加部は、前記光電変換部における前記前段側の所定の領域で発生した電荷の全てが前記オーバーフロードレインに流出するように、前記オーバーフローゲートに電圧を印加して前記オーバーフローゲートのバリアレベルを変化させることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項記載の固体撮像装置。
JP2009089157A 2009-04-01 2009-04-01 固体撮像装置 Active JP5302073B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009089157A JP5302073B2 (ja) 2009-04-01 2009-04-01 固体撮像装置
US13/258,344 US9491384B2 (en) 2009-04-01 2010-03-25 Solid imaging device including photoelectric conversion unit and TDI transfer unit
CN201080013270.6A CN102362488B (zh) 2009-04-01 2010-03-25 固体摄像装置
EP10758533.3A EP2416362B1 (en) 2009-04-01 2010-03-25 Solid imaging device
PCT/JP2010/055239 WO2010113760A1 (ja) 2009-04-01 2010-03-25 固体撮像装置
KR1020117014324A KR101668130B1 (ko) 2009-04-01 2010-03-25 고체 촬상 장치
TW099109685A TWI544796B (zh) 2009-04-01 2010-03-30 Solid-state imaging device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009089157A JP5302073B2 (ja) 2009-04-01 2009-04-01 固体撮像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010245103A true JP2010245103A (ja) 2010-10-28
JP5302073B2 JP5302073B2 (ja) 2013-10-02

Family

ID=42828053

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009089157A Active JP5302073B2 (ja) 2009-04-01 2009-04-01 固体撮像装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9491384B2 (ja)
EP (1) EP2416362B1 (ja)
JP (1) JP5302073B2 (ja)
KR (1) KR101668130B1 (ja)
CN (1) CN102362488B (ja)
TW (1) TWI544796B (ja)
WO (1) WO2010113760A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013098420A (ja) * 2011-11-02 2013-05-20 Hamamatsu Photonics Kk 固体撮像装置
JP2014049779A (ja) * 2012-08-29 2014-03-17 Toshiba Corp 固体撮像装置

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101360849B1 (ko) * 2012-09-10 2014-02-12 클레어픽셀 주식회사 씨모스 이미지 센서
KR101360850B1 (ko) * 2013-11-13 2014-02-12 클레어픽셀 주식회사 씨모스 이미지 센서
CN104716151B (zh) * 2015-03-14 2017-05-17 长春长光辰芯光电技术有限公司 背照式tdi图像传感器及其电子快门控制方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002231914A (ja) * 2001-01-30 2002-08-16 Hamamatsu Photonics Kk 半導体エネルギー検出器
JP2003521837A (ja) * 1999-03-22 2003-07-15 サーノフ コーポレイション 時間遅延/積分チャージカップルド・デバイスのダイナミックレンジを拡げる方法及び装置
JP2006064197A (ja) * 2004-08-24 2006-03-09 Mitsubishi Electric Corp 液体燃料燃焼装置の燃料流量調整方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11298805A (ja) 1998-04-06 1999-10-29 Nikon Corp Tdi転送方式の固体撮像装置
US6278142B1 (en) * 1999-08-30 2001-08-21 Isetex, Inc Semiconductor image intensifier
JP3647390B2 (ja) * 2000-06-08 2005-05-11 キヤノン株式会社 電荷転送装置、固体撮像装置及び撮像システム
TWI350587B (en) 2005-11-14 2011-10-11 Panasonic Electric Works Ltd Spatial information detecting device and light detecting element suitable for the same device
US7508432B2 (en) * 2006-07-19 2009-03-24 Eastman Kodak Company CCD with improved substrate voltage setting circuit
EP2093801B1 (en) * 2006-11-28 2016-11-16 Hamamatsu Photonics K.K. Solid-state imaging element

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003521837A (ja) * 1999-03-22 2003-07-15 サーノフ コーポレイション 時間遅延/積分チャージカップルド・デバイスのダイナミックレンジを拡げる方法及び装置
JP2002231914A (ja) * 2001-01-30 2002-08-16 Hamamatsu Photonics Kk 半導体エネルギー検出器
JP2006064197A (ja) * 2004-08-24 2006-03-09 Mitsubishi Electric Corp 液体燃料燃焼装置の燃料流量調整方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013098420A (ja) * 2011-11-02 2013-05-20 Hamamatsu Photonics Kk 固体撮像装置
US9305969B2 (en) 2011-11-02 2016-04-05 Hamamatsu Photonics K.K. Solid-state imaging device operable with two readout modes in two different directions coincident with a moving speed and a moving direction of a moving subject
JP2014049779A (ja) * 2012-08-29 2014-03-17 Toshiba Corp 固体撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
TWI544796B (zh) 2016-08-01
EP2416362B1 (en) 2018-06-13
WO2010113760A1 (ja) 2010-10-07
EP2416362A1 (en) 2012-02-08
KR20120011838A (ko) 2012-02-08
US9491384B2 (en) 2016-11-08
CN102362488B (zh) 2014-04-16
JP5302073B2 (ja) 2013-10-02
CN102362488A (zh) 2012-02-22
EP2416362A4 (en) 2015-03-25
US20120007149A1 (en) 2012-01-12
TW201110687A (en) 2011-03-16
KR101668130B1 (ko) 2016-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4397105B2 (ja) 固体撮像装置
JP2016219849A (ja) 固体撮像装置
KR101588459B1 (ko) 이미지 센서 및 그 구동 방법
TWI521689B (zh) 利用電荷積分的多重線性影像感測器
WO2016047474A1 (ja) 固体撮像装置、および電子装置
JP5302073B2 (ja) 固体撮像装置
JP5814818B2 (ja) 固体撮像装置
JP2016139660A (ja) 固体撮像装置
TWI577004B (zh) 具有具中心接觸件之通道區域之光感測器
JP2015088621A (ja) 固体撮像装置および固体撮像装置の製造方法
US7804113B2 (en) Anti-blooming structures for back-illuminated imagers
JP2005268644A (ja) 裏面照射型固体撮像素子、電子機器モジュール及びカメラモジュール
US20210273011A1 (en) Imaging device
JP2011142188A (ja) 固体撮像素子
JP2008098255A (ja) 固体撮像装置
JP2006005265A (ja) 固体撮像装置
JP2008244496A (ja) イメージセンサ
JP2007123680A (ja) 固体撮像装置
JP5709944B2 (ja) 固体撮像装置
JP2014154562A (ja) 固体撮像装置、その製造方法、及び撮像システム
JP4957776B2 (ja) 裏面照射型固体撮像素子、電子機器モジュール及びカメラモジュール
JP2008263086A (ja) フォトダイオード及びこれを用いた固体撮像素子
JP2010021587A (ja) 裏面照射型固体撮像素子、電子機器モジュール及びカメラモジュール
JP2008124252A (ja) 固体撮像素子の検査方法、検査装置、及び固体撮像素子
JP2011003737A (ja) 固体撮像素子、撮像装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111115

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130402

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130530

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130618

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130620

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5302073

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250