JP2010243444A - 距離計用受光装置および距離計 - Google Patents

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Abstract

【課題】対象物が有する要因による測定誤差等にも対処するための校正をすることができる距離計用受光装置を提供する。
【解決手段】距離計1Aは、投光装置10,受光装置20Aおよび制御部30Aを備える。受光装置20Aは、受光部21,パルス電流発生部22,電流-電圧変換部23,波高値検出部24,基準タイミング発生部25,タイミング検出部26,計時部27および校正部28Aを含む。校正部28Aは、パルス電流発生部22から波高値Iまたは遅延時間Tが調整されて出力されたパルス電流が電流-電圧変換部23に入力されたときに計時部27により求められる時間についての校正情報と、波高値検出部24により求められる波高値とに基づいて、反射光を受光した受光部21から出力されたパルス電流が電流-電圧変換部23に入力されたときに計時部27により求められた時間の校正をする。
【選択図】図1

Description

本発明は、距離計用受光装置、および、この距離計用受光装置を備える距離計に関するものである。
対象物までの距離を計測する距離計として、TOF(time of flight)によるものが知られている。TOFによる距離計は、投光装置により対象物へ向けてパルス光を投光し、その投光されたパルス光が対象物で反射されて生じた反射光を受光装置により受光し、パルス光の投光タイミングから反射光の受光タイミングまでの時間を計測して、この時間に基づいて対象物までの距離を求める。
このような距離計では様々な要因により測定誤差を生じる場合がある。そこで、特許文献1には、距離計それ自体が有する要因による測定誤差に対処するための校正に関する発明が開示されている。
特許第2790590号公報
しかし、上記特許文献1に開示された発明を含む従来の技術では、対象物が有する要因(例えば、対象物の反射率、対象物までの距離)による測定誤差には対処することができない。本発明は、上記問題点を解消する為になされたものであり、対象物が有する要因による測定誤差等にも対処するための校正をすることができる距離計用受光装置および距離計を提供することを目的とする。
本発明に係る距離計用受光装置は、投光装置から投光されたパルス光が対象物で反射されて生じた反射光を受光して、パルス光の投光タイミングから反射光の受光タイミングまでの時間に基づいて対象物までの距離を計測する距離計用の受光装置であって、(1) 反射光を受光して、当該受光量に応じた波高値のパルス電流を出力する受光部と、(2) 基準タイミングを発生する基準タイミング発生部と、(3) 基準タイミング発生部により発生される基準タイミングから所定の遅延時間だけ遅れたパルス電流発生タイミングでパルス電流を出力するとともに、そのパルス電流の波高値および遅延時間が可変であるパルス電流発生部と、(4) 受光部またはパルス電流発生部から出力されたパルス電流を選択的に入力して、その入力したパルス電流に応じたパルス電圧を出力する電流-電圧変換部と、(5)電流-電圧変換部から出力されたパルス電圧の波高値を検出する波高値検出部と、(6) 電流-電圧変換部から出力されたパルス電圧を入力して、その入力したパルス電圧のレベルが所定の閾値に達したことを検出して当該検出タイミングを発生するタイミング検出部と、(7) 基準タイミングから検出タイミングまでの時間を求める計時部と、(8) パルス電流発生部から波高値または遅延時間が調整されて出力されたパルス電流が電流-電圧変換部に入力されたときに計時部により求められる時間についての校正情報と、波高値検出部により求められる波高値とに基づいて、反射光を受光した受光部から出力されたパルス電流が電流-電圧変換部に入力されたときに計時部により求められた時間の校正をする校正部と、を備えることを特徴とする。
本発明に係る距離計用受光装置では、反射光を受光した受光部から出力されるパルス電流は電流-電圧変換部に入力されて、その入力したパルス電流に応じたパルス電圧が電流-電圧変換部から出力される。また、基準タイミング発生部により発生される基準タイミングから所定の遅延時間だけ遅れたパルス電流発生タイミングでパルス電流発生部からパルス電流が出力され、そのパルス電流は電流-電圧変換部に入力されて、その入力したパルス電流に応じたパルス電圧が電流-電圧変換部から出力される。
電流-電圧変換部から出力されたパルス電圧の波高値が波高値検出部により検出される。電流-電圧変換部から出力されたパルス電圧はタイミング検出部に入力されて、その入力されたパルス電圧のレベルが所定の閾値に達したことが検出されてタイミング検出部から当該検出タイミングが発生される。基準タイミングから検出タイミングまでの時間が計時部により求められる。
そして、校正部により、パルス電流発生部から波高値または遅延時間が調整されて出力されたパルス電流が電流-電圧変換部に入力されたときに計時部により求められる時間についての校正情報と、波高値検出部により求められる波高値とに基づいて、反射光を受光した受光部から出力されたパルス電流が電流-電圧変換部に入力されたときに計時部により求められた時間の校正が行われる。
本発明に係る距離計用受光装置では、校正部が、予め求められて記憶されている校正情報に基づいて校正をするのが好適である。或いは、校正部が、反射光を受光した受光部から出力されたパルス電流が電流-電圧変換部に入力されたときに波高値検出部により求められる波高値に基づいて校正情報を作成し、この作成した校正情報に基づいて校正をするのも好適である。
本発明に係る距離計用受光装置では、パルス電流発生部が、互いに波高値が異なるパルス電流を出力する複数の電流源を含むのが好適である。或いは、パルス電流発生部が、出力するパルス電流の波高値が外部から制御される電流源を含むのも好適である。
本発明に係る距離計は、(1) パルス光を対象物へ向けて投光する投光装置と、(2) 投光装置から投光されたパルス光が対象物で反射されて生じた反射光を受光して、パルス光の投光タイミングから反射光の受光タイミングまでの時間に基づいて対象物までの距離を計測する上記の本発明に係る距離計用受光装置と、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、対象物が有する要因による測定誤差にも対処するための校正をすることができる。
第1実施形態に係る距離計1Aの構成図である。 第1実施形態に係る距離計1Aに含まれる電流-電圧変換部23から出力されるパルス電圧の波形を示す図である。 第1実施形態に係る距離計1Aに含まれるパルス電流発生部22および電流-電圧変換部23それぞれの出力波形を示す図である。 第1実施形態に係る距離計1Aに含まれる校正部28Aにより得られる校正情報の一例を示す図である。 第1実施形態に係る距離計1Aの動作を説明するフローチャートである。 第1実施形態に係る距離計1Aに含まれる校正部28Aにより得られる校正情報による校正を示す図である。 第2実施形態に係る距離計1Bの構成図である。 第2実施形態に係る距離計1Bの動作を説明するフローチャートである。 第2実施形態に係る距離計1Bに含まれる校正部28Bにより得られる校正情報による校正を示す図である。
以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
(第1実施形態)
図1は、第1実施形態に係る距離計1Aの構成図である。この図に示される距離計1Aは、TOFによるものであって、投光装置10,受光装置20Aおよび制御部30Aを備える。距離計1Aは、制御部30Aによる制御の下で、投光装置10により対象物90へ向けてパルス光を投光し、その投光されたパルス光が対象物90で反射されて生じた反射光を受光装置20Aにより受光し、パルス光の投光タイミングから反射光の受光タイミングまでの時間を計測して、この時間に基づいて対象物までの距離を求める。
投光装置10は、投光部11および駆動部12を含む。駆動部12は、制御部30Aにより指示される投光タイミングで投光部11がパルス光を出力するよう、その投光部11を駆動する。投光部11は、好適には発光ダイオードまたはレーザダイオードを含み、駆動部12から駆動電流を供給されて、パルス光を対象物90へ向けて投光する。
受光装置20Aは、受光部21,パルス電流発生部22,電流-電圧変換部23,波高値検出部24,基準タイミング発生部25,タイミング検出部26,計時部27および校正部28Aを含む。
受光部21は、投光装置10の投光部11から投光されたパルス光が対象物90で反射されて生じた反射光を受光して、その受光量に応じた波高値のパルス電流を出力する。受光部21は、好適にはフォトダイオードまたはアバランシュフォトダイオードを含む。
パルス電流発生部22は、制御部30Aにより制御されて、基準タイミング発生部25により発生される基準タイミングから所定の遅延時間Tだけ遅れたパルス電流発生タイミングでパルス電流を出力する。パルス電流発生部22から出力されるパルス電流の波高値Iおよび遅延時間Tは可変である。
パルス電流発生部22は、互いに波高値が異なるパルス電流を出力する複数の電流源を含んでいて、その複数の電流源のうちから何れかの電流源が制御部30Aにより選択され、その選択された電流源からパルス電流を出力するようにしてもよい。或いは、パルス電流発生部22は、出力するパルス電流の波高値が制御部30Aにより制御される電流源を含んでいてもよい。
電流-電圧変換部23は、受光部21またはパルス電流発生部22から出力されたパルス電流を選択的に入力して、その入力したパルス電流に応じたパルス電圧を出力する。電流-電圧変換部23から出力されるパルス電圧の波高値は、電流-電圧変換部23に入力されるパルス電流の波高値に応じたものである。
波高値検出部24は、電流-電圧変換部23から出力されたパルス電圧の波高値を検出する。基準タイミング発生部25は、制御部30Aにより制御されて、上記基準タイミングを発生する。タイミング検出部26は、電流-電圧変換部23から出力されたパルス電圧を入力して、その入力したパルス電圧のレベルが所定の閾値Vthに達したことを検出して当該検出タイミングを発生する。計時部27は、基準タイミング発生部25により発生される基準タイミングから、タイミング検出部26により発生される検出タイミングまでの時間を求める。
校正部28Aは、パルス電流発生部22から波高値Iまたは遅延時間Tが調整されて出力されたパルス電流が電流-電圧変換部23に入力されたときに計時部27により求められる時間についての校正情報と、波高値検出部24により求められる波高値とに基づいて、反射光を受光した受光部21から出力されたパルス電流が電流-電圧変換部23に入力されたときに計時部27により求められた時間の校正をする。この校正により得られた時間は、距離計1Aから対象物90までの距離を表す。
図2は、第1実施形態に係る距離計1Aに含まれる電流-電圧変換部23から出力されるパルス電圧の波形を示す図である。この図には、受光部21またはパルス電流発生部22から出力されて電流-電圧変換部23に入力されるパルス電流の波高値について3とおりの場合が示されている。また、この図には、電流-電圧変換部23から出力されたパルス電圧を入力するタイミング検出部26における閾値Vthのレベルが一点鎖線で示されている。
この図に示されるように、受光部21における受光量が大きく受光部21から出力されるパルス電圧が大きいほど、また、パルス電流発生部22から出力されるパルス電圧が大きいほど、電流-電圧変換部23から出力されるパルス電圧の波高値が高く、閾値Vthのレベルにおける該パルス電圧の幅が広く、したがって、タイミング検出部26により発生される検出タイミング(t,t,t)は早い。
つまり、対象物90で生じて受光部21に到達する反射光の強度が異なると、タイミング検出部26により発生される検出タイミングが異なり、それ故、パルス電流発生タイミングから検出タイミングまでの時間に基づいて単純に対象物90までの距離を計測したのでは、測定誤差が生じる場合がある。本実施形態に係る距離計1Aは、このような測定誤差に対処し得るものである。
図3は、第1実施形態に係る距離計1Aに含まれるパルス電流発生部22および電流-電圧変換部23それぞれの出力波形を示す図である。同図(a)は、パルス電流発生部22から出力されるパルス電流の波形を示す図であり、同図(b)は、同図(a)に示されるパルス電流がパルス電流発生部22から出力されたときに電流-電圧変換部23から出力されるパルス電圧の波形を示す図である。また、同図(c)は、パルス電流発生部22から出力されるパルス電流の波形を示す図であり、同図(d)は、同図(c)に示されるパルス電流がパルス電流発生部22から出力されたときに電流-電圧変換部23から出力されるパルス電圧の波形を示す図である。
同図では、基準タイミングからパルス電流発生タイミングまでの遅延時間T、および、パルス電流発生部22からの出力パルス電流の波高値Iに対して、計時部27により求められる基準タイミングから検出タイミングまでの時間がt(T,I)で表されている。
同図(a)に示されるパルス電流発生部22からの出力パルス電流は、比較的低い波高値Iを有し、基準タイミング発生部25により発生される基準タイミングから遅延時間Tだけ遅れたパルス電流発生タイミングで出力される。このとき、同図(a)に示される電流-電圧変換部23からの出力パルス電圧の波高値Vは比較的低い。このとき、基準タイミングから検出タイミングまでの時間はt(T,I)で表される。
同図(c)に示されるパルス電流発生部22からの出力パルス電流は、比較的高い波高値Iを有し、基準タイミング発生部25により発生される基準タイミングから遅延時間Tだけ遅れたパルス電流発生タイミングで出力される。このとき、同図(d)に示される電流-電圧変換部23からの出力パルス電圧の波高値Vは比較的高い。このとき、基準タイミングから検出タイミングまでの時間はt(T,I)で表される。
図2に示される関係から、I<I であれば、図3(b)における時間t(T,I) は、図3(d)における時間t(T,I)より長い。
本実施形態では、パルス電流発生部22から波高値Iまたは遅延時間Tが調整されて出力されたパルス電流が電流-電圧変換部23に入力されたときに計時部27により求められる時間t(T,I)についての校正情報が予め求められる。例えば、基準タイミングからパルス電流発生タイミングまでの遅延時間TがTおよびTの各値に設定され、また、パルス電流発生部22からの出力パルス電流の波高値IがIおよびIの各値に設定されて、計時部27により基準タイミングから検出タイミングまでの時間t(T,I),t(T,I),t(T,I),t(T,I)が求められる。
図4は、第1実施形態に係る距離計1Aに含まれる校正部28Aにより得られる校正情報の一例を示す図である。この図は、横軸を遅延時間Tとし、縦軸を時間t(T,I)として、パルス電流発生部22からの出力パルス電流の波高値Iの各値について、基準タイミングからパルス電流発生タイミングまでの遅延時間Tと、基準タイミングから検出タイミングまでの時間t(T,I)と、の間の関係を示すものである。
この図に示されるように、パルス電流発生部22からの出力パルス電流の波高値Iの各値において、基準タイミングから検出タイミングまでの時間t(T,I)は、基準タイミングからパルス電流発生タイミングまでの遅延時間Tに対して線形の関係がある。パルス電流発生部22からの出力パルス電流の波高値Iの各値について、このような遅延時間Tに対する時間t(T,I)の関係が予め求められて、これが校正情報として記憶される。
図5は、第1実施形態に係る距離計1Aの動作を説明するフローチャートである。上記のようにして、先ずステップS11では、パルス電流発生部22から波高値Iまたは遅延時間Tが調整されてパルス電流が出力され、計時部27により時間t(T,I)が求められる。続くステップS12では、ステップS11で計時部27により求められた時間t(T,I)により校正情報が作成される。
ステップS13では、実際の対象物90について距離測定が行われる。この際には、投光装置10において、制御部30Aにより指示される投光タイミングで、駆動部12により駆動されて投光部11からパルス光が対象物90に向けて投光される。また、この投光タイミングと同時に基準タイミングが基準タイミング発生部25により発生される。
投光装置10の投光部11から投光されたパルス光が対象物90で反射されて生じた反射光は、受光装置20Aの受光部21により受光されて、その受光量に応じた波高値のパルス電流が受光部21から出力される。受光部21から出力されるパルス電流は電流-電圧変換部23に入力されて、そのパルス電流に応じたパルス電圧が電流-電圧変換部23から出力される。電流-電圧変換部23から出力されるパルス電圧の波高値Vobjは、電流-電圧変換部23に入力されるパルス電流の波高値Iobjに応じたものである。
電流-電圧変換部23から出力されたパルス電圧の波高値Vobjは波高値検出部24により検出される。また、電流-電圧変換部23から出力されたパルス電圧はタイミング検出部26に入力されて、その入力したパルス電圧のレベルが所定の閾値Vthに達したことが検出されて当該検出タイミングがタイミング検出部26から発生される。計時部27では、基準タイミング発生部25により発生された基準タイミングから、タイミング検出部26により発生された検出タイミングまでの時間tobjが求められる。
そして、ステップS14では、校正部28Aにより、図4に示されるような校正情報と、波高値検出部24により検出されたパルス電圧の波高値Vobj(または、これに対応するパルス電流の波高値Iobj)とに基づいて、計時部27により求められた時間tobjが校正される。この校正に際しては、パルス電圧の波高値Vobjまたはパルス電流の波高値Iobjに対応する校正ライン(遅延時間Tに対する時間t(T,Iobj)の関係)があれば、その校正ラインが用いられる。具体的には、図6に示すように波高値Iobjに対応する校正ラインにしたがって、計時部27により求められた時間tobjに対応する遅延時間Tobjが求められ、これが校正された遅延時間となる。対応する校正ラインが無い場合には、波高値Iobjに近い他の値の波高値Iに対応する校正ラインが用いられて、補間処理により校正が行われる。
この校正により得られた遅延時間Tobjは、距離計1Aから対象物90までの距離を表す。しかも、上記のような校正が行われることにより、対象物90が有する要因による測定誤差が低減されて、より正確な距離が得られる。
(第2実施形態)
図7は、第2実施形態に係る距離計1Bの構成図である。この図に示される距離計1Bは、TOFによるものであって、投光装置10,受光装置20Bおよび制御部30Bを備える。距離計1Bは、制御部30Bによる制御の下で、投光装置10により対象物90へ向けてパルス光を投光し、その投光されたパルス光が対象物90で反射されて生じた反射光を受光装置20Bにより受光し、パルス光の投光タイミングから反射光の受光タイミングまでの時間を計測して、この時間に基づいて対象物までの距離を求める。
投光装置10は、投光部11および駆動部12を含む。また、受光装置20Bは、受光部21,パルス電流発生部22,電流-電圧変換部23,波高値検出部24,基準タイミング発生部25,タイミング検出部26,計時部27および校正部28Bを含む。
図1に示された第1実施形態に係る距離計1Aの構成と比較すると、この図7に示される第2実施形態に係る距離計1Bは、受光装置20Aに替えて受光装置20Bを備える点で相違し、校正部28Aに替えて校正部28Bを備える点で相違し、また、制御部30Aに替えて制御部30Bを備える点で相違する。
本実施形態では、投光装置10の駆動部12は、制御部30Bにより指示される投光タイミングで投光部11がパルス光を出力するよう、その投光部11を駆動する。受光装置20のパルス電流発生部22は、波高値検出部24により検出されたパルス電圧の波高値Vobjに基づいて制御部30Bにより制御されて、基準タイミング発生部25により発生される基準タイミングから所定の遅延時間Tだけ遅れたパルス電流発生タイミングでパルス電流を出力する。基準タイミング発生部25は、制御部30Bにより制御されて、基準タイミングを発生する。校正部28Bは、反射光を受光した受光部21から出力されたパルス電流が電流-電圧変換部23に入力されたときに波高値検出部24により求められる波高値に基づいて校正情報を作成し、この作成した校正情報に基づいて校正をする。
図8は、第2実施形態に係る距離計1Bの動作を説明するフローチャートである。本実施形態では、先ずステップS21で、実際の対象物90について距離測定が行われる。すなわち、投光装置10において、制御部30Bにより指示される投光タイミングで、駆動部12により駆動されて投光部11からパルス光が対象物90に向けて投光される。また、この投光タイミングと同時に基準タイミングが基準タイミング発生部25により発生される。
投光装置10の投光部11から投光されたパルス光が対象物90で反射されて生じた反射光は、受光装置20Bの受光部21により受光されて、その受光量に応じた波高値のパルス電流が受光部21から出力される。受光部21から出力されるパルス電流は電流-電圧変換部23に入力されて、そのパルス電流に応じたパルス電圧が電流-電圧変換部23から出力される。電流-電圧変換部23から出力されるパルス電圧の波高値Vobjは、電流-電圧変換部23に入力されるパルス電流の波高値Iobjに応じたものである。
電流-電圧変換部23から出力されたパルス電圧の波高値Vobjは波高値検出部24により検出される。その検出されたパルス電圧の波高値Vobjは制御部30Bに与えられる。また、電流-電圧変換部23から出力されたパルス電圧はタイミング検出部26に入力されて、その入力したパルス電圧のレベルが所定の閾値Vthに達したことが検出されて当該検出タイミングがタイミング検出部26から発生される。計時部27では、基準タイミング発生部25により発生された基準タイミングから、タイミング検出部26により発生された検出タイミングまでの時間tobjが求められる。
波高値検出部24により検出されたパルス電圧の波高値Vobjが制御部30Bに与えられると、ステップS22では、制御部30Bにより制御されたパルス電流発生部22から、そのパルス電圧の波高値Vobjに対応する波高値Iobjを有するパルス電流が出力される。また、基準タイミングからパルス電流発生部22におけるパルス電流発生タイミングまでの遅延時間Tは複数の値、例えばTおよびTに設定される。
パルス電流発生部22から出力されたパルス電流は電流-電圧変換部23に入力されて、そのパルス電流に応じたパルス電圧が電流-電圧変換部23から出力される。電流-電圧変換部23から出力されたパルス電圧はタイミング検出部26に入力されて、その入力したパルス電圧のレベルが所定の閾値Vthに達したことが検出されて当該検出タイミングがタイミング検出部26から発生される。計時部27では、基準タイミング発生部25により発生された基準タイミングから、タイミング検出部26により発生された検出タイミングまでの時間t(T,Iobj)、例えばt(T,Iobj)およびt(T,Iobj)が求められる。
ステップS23では、校正部28Bにより、パルス電流発生部22からの出力パルス電流の波高値Iobjについて、遅延時間Tに対する時間t(T,Iobj)の関係が求められて、これが校正情報として記憶される。そして、ステップS24では、校正部28Bにより、この校正情報に基づいて、計時部27により求められた時間tobjが校正される。パルス電圧の波高値Vobjまたはパルス電流の波高値Iobjに対応する校正ライン(遅延時間Tに対する時間t(T,Iobj)の関係)が校正には用いられる。具体的には、図9に示すように波高値Iobjに対応する校正ラインにしたがって、計時部27により求められた時間tobjに対応する遅延時間Tobjが求められ、これが校正された遅延時間となる。
この校正により得られた遅延時間Tobjは、距離計1Bから対象物90までの距離を表す。しかも、上記のような校正が行われることにより、対象物90が有する要因による測定誤差が低減されて、より正確な距離が得られる。
1A,1B…距離計、10…投光装置、11…投光部、12…駆動部、20A,20B…受光装置、21…受光部、22…パルス電流発生部、23…電流-電圧変換部、24…波高値検出部、25…基準タイミング発生部、26…タイミング検出部、27…計時部、28A,28B…校正部、30A,30B…制御部。

Claims (6)

  1. 投光装置から投光されたパルス光が対象物で反射されて生じた反射光を受光して、前記パルス光の投光タイミングから前記反射光の受光タイミングまでの時間に基づいて前記対象物までの距離を計測する距離計用の受光装置であって、
    前記反射光を受光して、当該受光量に応じた波高値のパルス電流を出力する受光部と、
    基準タイミングを発生する基準タイミング発生部と、
    前記基準タイミング発生部により発生される基準タイミングから所定の遅延時間だけ遅れたパルス電流発生タイミングでパルス電流を出力するとともに、そのパルス電流の波高値および前記遅延時間が可変であるパルス電流発生部と、
    前記受光部または前記パルス電流発生部から出力されたパルス電流を選択的に入力して、その入力したパルス電流に応じたパルス電圧を出力する電流-電圧変換部と、
    前記電流-電圧変換部から出力されたパルス電圧の波高値を検出する波高値検出部と、
    前記電流-電圧変換部から出力されたパルス電圧を入力して、その入力したパルス電圧のレベルが所定の閾値に達したことを検出して当該検出タイミングを発生するタイミング検出部と、
    前記基準タイミングから前記検出タイミングまでの時間を求める計時部と、
    前記パルス電流発生部から波高値または遅延時間が調整されて出力されたパルス電流が前記電流-電圧変換部に入力されたときに前記計時部により求められる時間についての校正情報と、前記波高値検出部により求められる波高値とに基づいて、前記反射光を受光した前記受光部から出力されたパルス電流が前記電流-電圧変換部に入力されたときに前記計時部により求められた時間の校正をする校正部と、
    を備えることを特徴とする距離計用受光装置。
  2. 前記校正部が、予め求められて記憶されている前記校正情報に基づいて前記校正をする、ことを特徴とする請求項1に記載の距離計用受光装置。
  3. 前記校正部が、前記反射光を受光した前記受光部から出力されたパルス電流が前記電流-電圧変換部に入力されたときに前記波高値検出部により求められる波高値に基づいて前記校正情報を作成し、この作成した前記校正情報に基づいて前記校正をする、ことを特徴とする請求項1に記載の距離計用受光装置。
  4. 前記パルス電流発生部が、互いに波高値が異なるパルス電流を出力する複数の電流源を含む、ことを特徴とする請求項1に記載の距離計用受光装置。
  5. 前記パルス電流発生部が、出力するパルス電流の波高値が外部から制御される電流源を含む、ことを特徴とする請求項1に記載の距離計用受光装置。
  6. パルス光を対象物へ向けて投光する投光装置と、
    前記投光装置から投光されたパルス光が前記対象物で反射されて生じた反射光を受光して、前記パルス光の投光タイミングから前記反射光の受光タイミングまでの時間に基づいて前記対象物までの距離を計測する請求項1〜4の何れか1項に記載の距離計用受光装置と、
    を備えることを特徴とする距離計。
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