JP2010214595A - Resin sealing apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a resin sealing apparatus which prevents entrainment of air bubbles to improve molding quality when resin-sealing a semiconductor-mounting substrate made by mounting a plurality of semiconductors onto a large-size substrate and can facilitate positioning or handling of the substrate which is sucked and retained to a mold. <P>SOLUTION: In an upper mold 1, an upper mold insert 5 is elastically bent beforehand so as to become convex downwards toward the center position of a cavity recessed part 17 and is assembled to an upper chase 4 fixed onto an upper base 3 and, when a mold is clamped, the upper mold insert 5 is pushed back flatly by a resin pressure, is positioned so as to be surrounded by sidewalls of the upper chase 4 and continues to operate a clamping pressure by means of bending of the upper insert 5 even after an encapsulation resin 25 is cured and contracted. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、複数の半導体素子が片面実装される実装基板を上型に吸着保持されたままキャビティ凹部に封止樹脂が充填された下型とでクランプして一括して樹脂封止する樹脂封止装置に関する。   The present invention provides a resin seal that clamps a mounting substrate on which a plurality of semiconductor elements are mounted on one side with a lower mold in which a cavity recess is filled with a sealing resin while being held by suction on the upper mold, and collectively encapsulates the resin. It relates to a stopping device.

半導体装置の生産効率を高めるため、大型基板に複数の半導体素子が基板実装されたワークをモールド金型へ搬入して一括して樹脂封止し、成形品をダイシングして各個片に分離して製品化することが行なわれている。   In order to increase the production efficiency of semiconductor devices, a work in which a plurality of semiconductor elements are mounted on a large substrate is loaded into a mold, sealed with resin, and the molded product is diced and separated into individual pieces. It is being commercialized.

一般に基板材料(例えばガラスエポキシ樹脂基板等)より封止樹脂(エポキシ樹脂等)のほうが熱収縮率は大きいため、基板実装された半導体装置を樹脂封止後に、基板がパッケージ部(樹脂封止部)と反対面側に凸形状になるように反り易い。これによりその後のダイシング等の加工精度が低下したり、ハンドリングがしにくくなったり、或いは製品を基板実装する場合に接続不良を起こし易いなどの不具合が生ずるおそれがある。   Generally, a sealing resin (epoxy resin, etc.) has a higher thermal shrinkage rate than a substrate material (eg, glass epoxy resin substrate, etc.), so that after the semiconductor device mounted on the substrate is resin-sealed, the substrate is packaged (resin-sealed portion). ) And tends to warp so as to have a convex shape on the opposite side. As a result, the processing accuracy such as subsequent dicing may be reduced, handling may be difficult, or a defect such as a connection failure may be caused when the product is mounted on a board.

このため、半導体素子が実装された基板をキャビティ凹部が形成された下型に当該半導体素子をキャビティ凹部内に向けて載置し、上型との間で基板をクランプする当該上型面を凸面が形成されている。基板をモールド金型でクランプすると、基板は上型の凸形状に沿って半導体素子実装面側が湾曲したまま樹脂封止される。これによって、成形後のパッケージ部が冷やされて熱収縮することにより、基板の反りが矯正されるようになっている。(特許文献1)。   For this reason, the substrate on which the semiconductor element is mounted is placed on the lower mold in which the cavity recess is formed with the semiconductor element facing the cavity recess, and the upper mold surface that clamps the substrate with the upper mold is convex. Is formed. When the substrate is clamped with a mold, the substrate is resin-sealed while the semiconductor element mounting surface side is curved along the convex shape of the upper die. As a result, the warped portion of the substrate is corrected by cooling the package portion after molding and heat shrinking. (Patent Document 1).

特開10−326800号公報JP 10-326800 A

半導体素子を1列配置された場合の基板では、生産効率が低いため、より大型の基板を用いて半導体素子をマトリクス状に基板実装して一括して樹脂封止するのが効率的である。上記特許文献1においては、基板実装された個々の半導体素子に対応して上型面を凸面とするものであるが、基板を撓ませることに加えて樹脂圧が加わることにより半導体素子のワイヤ接続部に負荷が加わるため、接続信頼性が低下するおそれがある。また、トランスファー成形の場合、封止樹脂を流動させるため、空気を抱き込んでボイドが発生し易く、しかも比較的熱容量の小さい薄型の製品の場合、封止樹脂が熱硬化し易いことから大型基板の成形には向いていない。   Since the production efficiency of the substrate in which the semiconductor elements are arranged in one row is low, it is efficient to mount the semiconductor elements in a matrix using a larger substrate and encapsulate them in a resin. In Patent Document 1, the upper mold surface is a convex surface corresponding to each semiconductor element mounted on the substrate. However, in addition to bending the substrate, the resin pressure is applied to the wire connection of the semiconductor element. Since a load is applied to the part, connection reliability may be reduced. In addition, in the case of transfer molding, since the sealing resin is made to flow, voids are likely to be generated by embracing air, and in the case of a thin product having a relatively small heat capacity, the sealing resin is easily cured by heat, so that a large substrate It is not suitable for molding.

また、下型に形成されたキャビティ凹部へ予め封止樹脂を供給しておき、上型に基板を吸着保持してクランプするモールド金型を用いて大型の基板を樹脂封止する装置構成も考えられる。しかしながら、基板の成形面積が広いため大きなプレス力が必要になるため、モールド金型内に気泡を閉じ込められないようにする必要がある。また、薄型のパッケージの場合、ボイドの発生をなくすためキャビティを閉止して減圧成形を行なう場合も考えられる。しかしながら、大型の基板の撓みによる位置ずれや変形、減圧空間の形成により基板が吸着面より離脱して落下するおそれもある。   Also, consider a device configuration in which a sealing resin is supplied in advance to a cavity recess formed in the lower mold, and a large substrate is sealed with a mold using a mold mold that holds and clamps the substrate to the upper mold. It is done. However, since a large molding area of the substrate requires a large pressing force, it is necessary to prevent air bubbles from being trapped in the mold. In the case of a thin package, it may be considered that the cavity is closed and reduced pressure molding is performed in order to eliminate the generation of voids. However, there is a possibility that the substrate may be detached from the suction surface and fall due to displacement or deformation due to bending of the large substrate or formation of a decompression space.

本発明の目的は、上記従来技術の課題を解決し、大型基板に複数の半導体素子が実装された半導体実装基板を樹脂封止する際の気泡の抱き込みを防いで成形品質を向上させた樹脂封止装置を提供することにある。   The object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to improve molding quality by preventing entrapment of bubbles when resin mounting a semiconductor mounting substrate in which a plurality of semiconductor elements are mounted on a large substrate The object is to provide a sealing device.

本発明は上記目的を達成するため、次の構成を備える。
即ち、複数の半導体素子が片面実装された半導体素子実装基板が上型に吸着保持されたままキャビティ凹部に封止樹脂が充填された下型とでクランプして一括して樹脂封止される樹脂封止装置であって、前記上型は、上型ベースに固定された上型チェイスに前記キャビティ凹部の中心位置に向けて上型インサートが下方に凸となるように予め弾性的に撓ませて前記上型チェイスに組み付けられ、型締めされると前記上型インサートが樹脂圧力により平坦状に押し戻されて前記上型チェイスの側壁に囲まれて位置決めされ、前記封止樹脂が硬化縮小後においても前記上型インサートの撓みによりクランプ圧を作用し続けることを特徴とする。
尚、本明細書において「クランプ」とは固形物を挟み込む動作のみならず、凹部に充填された液状または半液状の流動体(例えば溶融した樹脂)を加圧すべく挟み込む動作も含む。
また、前記上型ベース及び上型チェイスを貫通するねじ孔にコイルスプリングが装填され、該ねじ孔に押圧ねじをねじ嵌合させることにより前記コイルスプリングが押し縮められて前記上型インサートが下方に凸となるように常時付勢されている、若しくは、前記上型インサートは、予め研削加工若しくは曲げ加工が施されて下方に凸となるように撓みをもたせて上型チェイスに支持されていることを特徴とする。
また、前記下型は下型ベースに固定された下型チェイスに、センターブロック及び該センターブロックの周囲に弾性体により上方へ付勢された可動ブロックが設けられて前記キャビティ凹部が形成され、前記可動ブロックの基板クランプ面には、前記上型に吸着保持された基板に突き当てて支持する支えピンが基板クランプ面より突出没可能に設けられていることを特徴とする。
また、前記上型インサートの基板吸着面は吸着装置により吸引される吸引路に連通する梨地面に形成されていることを特徴とする。
また、前記上型チェイスと下型チェイスとの間にはシールリングが設けられており、該シールリングがクランプされるとキャビティに連通する吸引路を通じた吸引装置による吸引動作により当該キャビティ内に減圧空間が形成されて型締めされることを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention comprises the following arrangement.
That is, a resin that is collectively sealed by clamping with a lower mold in which a cavity recess is filled with a sealing resin while a semiconductor element mounting substrate on which a plurality of semiconductor elements are mounted on one side is adsorbed and held by the upper mold In the sealing device, the upper mold is elastically bent in advance so that the upper mold insert protrudes downward toward the center position of the cavity recess on the upper mold chase fixed to the upper mold base. When the upper die chase is assembled and clamped, the upper die insert is pushed back into a flat shape by resin pressure and surrounded by the side wall of the upper die chase. The clamp pressure is continuously applied by the bending of the upper mold insert.
In the present specification, “clamp” includes not only an operation of sandwiching a solid substance but also an operation of sandwiching a liquid or semi-liquid fluid (for example, a molten resin) filled in a concave portion to pressurize it.
In addition, a coil spring is loaded into a screw hole penetrating the upper mold base and the upper mold chase, and a press screw is fitted into the screw hole so that the coil spring is compressed and the upper mold insert is moved downward. The upper die insert is always urged so as to be convex, or the upper die insert is supported by the upper die chase so as to be convex downward by being ground or bent in advance. It is characterized by.
Further, the lower mold is provided in a lower chase fixed to the lower mold base, a center block and a movable block urged upward by an elastic body around the center block to form the cavity recess, A support pin is provided on the substrate clamp surface of the movable block so as to protrude from the substrate clamp surface so as to protrude from the substrate clamp surface.
Further, the substrate suction surface of the upper mold insert is formed on a satin surface communicating with a suction path sucked by a suction device.
Further, a seal ring is provided between the upper chase and the lower chase, and when the seal ring is clamped, the pressure is reduced in the cavity by a suction operation through a suction path communicating with the cavity. A space is formed and the mold is clamped.

本発明に係る樹脂封止装置を用いれば、上型は、上型ベースに固定された上型チェイスにキャビティ凹部の中心位置に向けて上型インサートが下方に凸となるように予め弾性的に撓ませて上型チェイスに組み付けられ、型締めされると上型インサートが樹脂圧力により平坦状に押し戻されて上型チェイスの側壁に囲まれて位置決めされ、封止樹脂が硬化縮小後においても上型インサートの撓みによりクランプ圧を作用し続ける。
よって、半導体素子実装基板を複数の半導体素子実装面側が下方に凸となるように上型インサートへ吸着保持されるので、封止樹脂が充填されたキャビティへ基板中央部から周辺部に向かって浸漬することができ、封止樹脂に基板中央部から外周縁部に向かって接触させて漸次樹脂圧力が強まるので、気泡が存在しても樹脂圧力が最初に高圧となる基板中央部より低圧な基板外周縁部に向って押し出され気泡の抱き込みを防ぐことができる。また、上型インサートは、予め弾性的に撓ませて下方に凸となるように上型ベースに組み付けられているので、クランプ状態では樹脂圧力に押し戻され、封止樹脂の硬化縮小後においても上型インサートの撓みによりクランプ圧を作用し続ける。よって、樹脂封止動作の前後で上型インサートの撓み量の変化にともなって外形が僅かに変化しても、上型チェイスの側壁に囲まれて位置決めされているので、半導体素子実装基板の撓みや位置ずれにより成形品質が損なわれることもない。
By using the resin sealing device according to the present invention, the upper mold is elastically provided in advance so that the upper mold insert protrudes downward toward the center position of the cavity recess on the upper mold chase fixed to the upper mold base. When the upper die chase is bent and assembled, and the die is clamped, the upper die insert is pushed back flat by the resin pressure and positioned by being surrounded by the side wall of the upper die chase. The clamp pressure continues to act due to the bending of the mold insert.
Therefore, the semiconductor element mounting substrate is sucked and held by the upper mold insert so that the plurality of semiconductor element mounting surfaces protrude downward, so that the semiconductor resin mounting substrate is immersed in the cavity filled with the sealing resin from the central portion of the substrate toward the peripheral portion. Since the resin pressure gradually increases as the sealing resin is brought into contact with the sealing resin from the central part of the substrate toward the outer peripheral edge, the substrate is lower in pressure than the central part of the substrate where the resin pressure first becomes high even if bubbles are present. It is pushed out toward the outer peripheral edge and can prevent the entrapment of bubbles. In addition, the upper mold insert is preliminarily elastically bent and assembled to the upper mold base so as to protrude downward. The clamp pressure continues to act due to the bending of the mold insert. Therefore, even if the outer shape slightly changes with the change in the amount of bending of the upper mold insert before and after the resin sealing operation, the positioning is surrounded by the side wall of the upper mold chase. In addition, the molding quality is not impaired by the positional deviation.

また、上型ベース及び上型チェイスを貫通するねじ孔にコイルスプリングが装填され、該ねじ孔に押圧ねじをねじ嵌合させることによりコイルスプリングが押し縮められて上型インサートが下方に凸となるように常時付勢されている。よって、押圧ねじの嵌合量を調整することで、上型インサートの撓み量を調整できるので、型締めされると樹脂圧により平坦状に押し戻され、さらに封止樹脂が硬化収縮してもコイルスプリングの付勢により追従して押圧し続けることによりパッケージ部(樹脂封止部)の中央部を均一な樹脂密度で樹脂封止することができる。
また、上型インサートは、予め研削加工若しくは曲げ加工が施されて下方に凸となるように撓みをもたせて上型チェイスに支持されていても同様である。
In addition, a coil spring is loaded into a screw hole penetrating the upper die base and the upper die chase, and a press screw is screwed into the screw hole so that the coil spring is compressed and the upper die insert is convex downward. So that it is constantly energized. Therefore, the amount of bending of the upper mold insert can be adjusted by adjusting the fitting amount of the pressing screw, so that when the mold is clamped, it is pushed back into a flat shape by the resin pressure, and even if the sealing resin is cured and contracted, the coil The central portion of the package portion (resin sealing portion) can be resin-sealed with a uniform resin density by continuing to press and follow the spring bias.
The same applies to the case where the upper die insert is supported by the upper die chase so that the upper die insert is bent in advance so as to be convex downward.

また、下型チェイスに、センターブロック及び該センターブロックの周囲に弾性体により上方へ付勢された可動ブロックが設けられてキャビティ凹部が形成され、可動ブロックの基板クランプ面には、上型に吸着保持された基板に突き当てて支持する支えピンが基板クランプ面より突出没可能に設けられている。これにより、上型に基板を吸着保持されたまま型締め動作が開始されると、基板が先ず可動ブロックの基板クランプ面より突出している支えピンにより支持されるので、上型インサートに吸着された基板の落下を防ぐことができる。また、型締めが進行すると、支えピンは可動ブロックの基板クランプ面より下方に没入して基板がクランプされ、型開きすると再度基板を押し上げるので、成形後の離型を促進することも可能である。   In addition, the lower die chase is provided with a center block and a movable block urged upward by an elastic body around the center block to form a cavity recess, and the substrate clamp surface of the movable block is attracted to the upper die. A support pin that abuts and supports the held substrate is provided so as to protrude from the substrate clamping surface. As a result, when the clamping operation is started while the substrate is sucked and held by the upper die, the substrate is first supported by the support pins protruding from the substrate clamping surface of the movable block, and is thus sucked by the upper die insert. It is possible to prevent the substrate from falling. Further, as the mold clamping progresses, the support pins are immersed below the substrate clamping surface of the movable block to clamp the substrate, and when the mold is opened, the substrate is pushed up again, so that it is possible to promote mold release after molding. .

また、上型インサートの基板吸着面は吸着装置により吸引される吸引路に連通する梨地面に形成されていると、吸着面積の広い基板を撓ませても上型インサートへの吸着状態を維持することができ、ハンドリングが向上する。
また、上型チェイスと下型チェイスとの間にはシールリングが設けられており、該シールリングがクランプされるとキャビティに連通する吸引路を通じた吸引装置による吸引動作により当該キャビティ内に減圧空間が形成されて型締めされるので、基板と接触した樹脂圧力と減圧されたキャビティ内の圧力差が大きくなって基板と封止樹脂との界面に存在する空気はキャビティの外側へ押し出される。よって、パッケージ部が薄型で大型な製品であっても、気泡が混入することなく成形でき、成形品質を向上させることができる。
In addition, if the substrate suction surface of the upper mold insert is formed on a satin surface communicating with the suction path sucked by the suction device, the suction state to the upper mold insert is maintained even if the substrate having a large suction area is bent. Can improve handling.
In addition, a seal ring is provided between the upper chase and the lower chase, and when the seal ring is clamped, a reduced pressure space is formed in the cavity by a suction operation through a suction passage communicating with the cavity. Thus, the pressure difference between the pressure of the resin in contact with the substrate and the reduced pressure in the cavity is increased, and the air present at the interface between the substrate and the sealing resin is pushed out of the cavity. Therefore, even if the package portion is a thin and large product, it can be molded without mixing bubbles, and the molding quality can be improved.

実施例1に係る樹脂封止装置の型締め前の状態を示す断面説明図である。It is sectional explanatory drawing which shows the state before the mold clamping of the resin sealing apparatus which concerns on Example 1. FIG. 図1の樹脂封止装置の型締め後の状態を示す断面説明図である。It is sectional explanatory drawing which shows the state after the mold clamping of the resin sealing apparatus of FIG. 実施例2に係る樹脂封止装置の型締め前の状態を示す断面説明図である。It is sectional explanatory drawing which shows the state before the mold clamping of the resin sealing apparatus which concerns on Example 2. FIG. 図3の樹脂封止装置の型締め後の状態を示す断面説明図である。FIG. 4 is a cross-sectional explanatory view showing a state after mold clamping of the resin sealing device of FIG. 3.

以下、本発明に係る樹脂封止装置の好適な実施の形態について添付図面と共に詳述する。   Hereinafter, preferred embodiments of a resin sealing device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

先ず、図1において、上型1を固定型と下型2を可動型として説明する。
上型1の構成について説明する。上型ベース3には上型チェイス4が固定されている。上型チェイス4には、上型インサート5がガイドブロック6により支持されている。上型インサート5は後述するキャビティ凹部の中心位置に向けて下方に凸になるように予め弾性的に撓ませて上型チェイス4に組み付けられている。
First, referring to FIG. 1, the upper mold 1 will be described as a fixed mold and the lower mold 2 as a movable mold.
The configuration of the upper mold 1 will be described. An upper chase 4 is fixed to the upper mold base 3. An upper mold insert 5 is supported on the upper mold chase 4 by a guide block 6. The upper mold insert 5 is assembled in the upper mold chase 4 by being elastically bent in advance so as to protrude downward toward the center position of a cavity recess described later.

上型ベース3を貫通するねじ孔3a及び上型チェイス4を貫通する貫通孔4aにはコイルスプリング7が装填されている。ねじ孔3aには押圧ねじ8がねじ嵌合しており、該押圧ねじ8を締め付けることによりコイルスプリング7が押し縮められて上型インサート5が下方に向けて凸になるように常時付勢されている。押圧ねじ8のねじ孔3aに対する嵌合量(押圧ねじ8の高さ)を調整することで、上型インサート5の撓み量を調整することができる。例えば大型の基板23のときには押圧ねじ8の位置を低くしてコイルスプリング7で上型インサート5を強く付勢するといったような調整をすることにより、基板23の大きさに拘わらず基板23を気泡の排出等に適した所定の角度に撓ませることが可能である。   A coil spring 7 is loaded in the screw hole 3 a that penetrates the upper die base 3 and the through hole 4 a that penetrates the upper die chase 4. A press screw 8 is screwed into the screw hole 3a. When the press screw 8 is tightened, the coil spring 7 is pressed and contracted so that the upper mold insert 5 is always urged downward. ing. The amount of deflection of the upper mold insert 5 can be adjusted by adjusting the fitting amount of the pressing screw 8 with respect to the screw hole 3a (height of the pressing screw 8). For example, in the case of a large substrate 23, the position of the pressing screw 8 is lowered and adjustment is made such that the upper mold insert 5 is strongly biased by the coil spring 7, so that the substrate 23 is bubbled regardless of the size of the substrate 23. It is possible to bend to a predetermined angle suitable for discharging the gas.

上型インサート5、上型チェイス4、上型ベース3にはエア吸引路9a,9b,9cが各々設けられており、吸着装置10に連結されている。吸着装置10を作動させると基板23を上型インサート5の下面に吸着保持するようになっている。また、上型インサート5の基板吸着面5aは吸着装置10に上記各エア吸引路9a,9b,9cを通じて連通する梨地面に形成されている。この梨地面は吸着する基板23の外形より狭い範囲で形成されている。上型インサート5と上型チェイス4との間にはシール材26が挿入されており、エア吸引路9aとエア吸引路9bとの気密性を確保するようになっている。   The upper mold insert 5, the upper mold chase 4, and the upper mold base 3 are provided with air suction paths 9 a, 9 b, 9 c, respectively, and are connected to the suction device 10. When the suction device 10 is operated, the substrate 23 is sucked and held on the lower surface of the upper mold insert 5. Further, the substrate suction surface 5a of the upper mold insert 5 is formed on a satin surface communicating with the suction device 10 through the air suction passages 9a, 9b, 9c. The pear ground is formed in a range narrower than the outer shape of the substrate 23 to be adsorbed. A sealing material 26 is inserted between the upper mold insert 5 and the upper mold chase 4 so as to ensure airtightness between the air suction path 9a and the air suction path 9b.

また、上型インサート5は、コイルスプリング7により付勢されて下方に凸となるように撓みを持たせて上型チェイス4に設けられたガイドブロック6によって支持されている。この場合、上型インサート5は、その外周部に形成された段部がガイドブロック6の対向面に形成された段部と係合することによって上型チェイス4に保持されている。尚、上型インサート5は、コイルスプリング7を設けることなく、予め研削加工、プレス曲げ加工が施されて下方に凸となるように撓みを持たせて上型チェイス4に支持されていてもよい。
例えば、厚さ12mmで縦横の寸法100mm×200mmの上型インサート5の中央部を372kgfのコイルスプリング7で押圧すると、上型インサート5の撓み量はおよそ0.2mmとなる。上型インサート5は、型締めされて樹脂封止を行なっているときには樹脂圧力によりコイルスプリング7の付勢に抗して押し戻されて平面視外形が僅かに(1μm未満)に拡大するが、上型チェイス4の側壁に位置決めされて平坦状に支持される。また、キャビティ面積が80mm×160mmの場合、樹脂圧力が約4.7kgf/cmで平坦に押し戻されることが確認されている。
Further, the upper mold insert 5 is supported by a guide block 6 provided in the upper mold chase 4 so as to be urged by a coil spring 7 and to be bent downward. In this case, the upper mold insert 5 is held by the upper mold chase 4 by engaging the step formed on the outer periphery of the upper mold 5 with the step formed on the opposing surface of the guide block 6. The upper die insert 5 may be supported by the upper die chase 4 without being provided with the coil spring 7, so that the upper die insert 5 is preliminarily ground and pressed and bent so as to protrude downward. .
For example, when the central portion of the upper insert 5 having a thickness of 12 mm and a vertical and horizontal dimension of 100 mm × 200 mm is pressed by the coil spring 7 having a length of 372 kgf, the amount of deflection of the upper insert 5 is approximately 0.2 mm. When the upper mold insert 5 is clamped and sealed with resin, it is pushed back against the bias of the coil spring 7 by the resin pressure, and the outer shape in plan view slightly expands (less than 1 μm). It is positioned on the side wall of the mold chase 4 and is supported flat. In addition, when the cavity area is 80 mm × 160 mm, it is confirmed that the resin pressure is pushed back flat at a pressure of about 4.7 kgf / cm 2 .

次に下型2の構成について説明する。
下型2においては、下型ベース11の上に下型チェイス12が固定されている。下型チェイス12にはヒータ13が内蔵されている。下型チェイス12には、センターブロック14が固定されている。センターブロック14の周囲には、クランパとして機能する可動ブロック15が下型チェイス12との間に弾挿された第1のばね16により常時上方へ付勢されている。上記センターブロック14と可動ブロック15によりキャビティ凹部17が形成されている。
Next, the configuration of the lower mold 2 will be described.
In the lower mold 2, a lower mold chase 12 is fixed on the lower mold base 11. A heater 13 is built in the lower chase 12. A center block 14 is fixed to the lower chase 12. Around the center block 14, a movable block 15 functioning as a clamper is always urged upward by a first spring 16 which is elastically inserted between the lower block chase 12. A cavity recess 17 is formed by the center block 14 and the movable block 15.

また、可動ブロック15の基板クランプ面(上面)15aには、上型1に吸着保持された基板23に突き当てて支持する支えピン18が基板クランプ面15aより突出没可能に設けられている。支えピン18は可動ブロック15内に弾挿された第2のばね19により常時上方へ突出する向きへ付勢されている。下型2を型締めする際に、支えピン18が上型インサート5に吸着された基板23に突き当たって支持しながら可動ブロック15内へ没入するように第2のばね19の付勢に抗して押し込まれる。   Further, on the substrate clamp surface (upper surface) 15 a of the movable block 15, support pins 18 are provided so as to protrude and sink from the substrate clamp surface 15 a so as to abut against and support the substrate 23 sucked and held by the upper mold 1. The support pin 18 is always biased in a direction of protruding upward by a second spring 19 that is elastically inserted into the movable block 15. When the lower die 2 is clamped, the support pin 18 resists the bias of the second spring 19 so that the support pin 18 comes into contact with the substrate 23 adsorbed by the upper die insert 5 and is supported while being supported. And pushed.

また、下型チェイス12の上部外周側にはシールリング20が設けられており、対向する上型チェイス4との間で挟み込まれると閉鎖空間が形成される。下型チェイス12には、この閉鎖空間に接続するエア吸引路21が形成されており、吸引装置22に接続されている。
上型チェイス4と下型チェイス12との間でシールリング20が挟み込まれ、吸引装置22によってエア吸引されるとキャビティ内を含むモールド金型内に減圧空間が形成される。
Further, a seal ring 20 is provided on the upper outer peripheral side of the lower die chase 12, and a closed space is formed when sandwiched between the upper die chase 4 and the opposite. An air suction path 21 connected to the closed space is formed in the lower chase 12 and is connected to the suction device 22.
When the seal ring 20 is sandwiched between the upper die chase 4 and the lower die chase 12 and air is sucked by the suction device 22, a reduced pressure space is formed in the mold including the inside of the cavity.

ここで、上記樹脂封止装置を用いた樹脂封止動作の一例について説明する。
基板23には、複数の半導体素子24がマトリクス状に片面実装された半導体実装基板が用いられる。
図1において、モールド金型が型開き状態において、上型1の上型インサート5に対して基板23が搬入され、吸着装置10を作動させて基板23を半導体素子実装面が下向きとなるように基板吸着面(梨地面)5aに位置合わせして吸着保持する。このとき、基板23は、上型インサート5の撓みにならって、下方に向けて凸になるように吸着保持される。
Here, an example of the resin sealing operation using the resin sealing device will be described.
As the substrate 23, a semiconductor mounting substrate in which a plurality of semiconductor elements 24 are mounted on one side in a matrix is used.
In FIG. 1, when the mold is in the mold open state, the substrate 23 is loaded into the upper mold insert 5 of the upper mold 1 and the suction device 10 is operated so that the substrate 23 faces the semiconductor element mounting surface downward. The substrate is attracted and held in alignment with the substrate attracting surface (pear surface) 5a. At this time, the substrate 23 is sucked and held so as to protrude downward, following the bending of the upper mold insert 5.

また、下型2のキャビティ凹部17には、顆粒樹脂、半硬化樹脂等の封止樹脂25が供給される。キャビティ凹部17に供給される封止樹脂25は、気泡の混入やワイヤーフローを避けるためできるだけ流動しないように、キャビティ全面で均一で平坦な形態が望ましい。基板23及び封止樹脂25は、図示しないローダーにより供給される。   A sealing resin 25 such as a granule resin or a semi-cured resin is supplied to the cavity recess 17 of the lower mold 2. It is desirable that the sealing resin 25 supplied to the cavity recess 17 has a uniform and flat shape over the entire cavity surface so as not to flow as much as possible in order to avoid air bubbles and wire flow. The substrate 23 and the sealing resin 25 are supplied by a loader (not shown).

基板23及び封止樹脂25が供給されると、下型2を公知の型締め機構(電動モータ、トグルリンク等)を用いて上昇させる。このとき、先ず図1のように上型インサート5に吸着された基板23に、支えピン18が突き当たって支持する。次いで、シールリング20が上型チェイス4と下型チェイス12との間に挟み込まれて閉鎖空間が形成されると、吸引装置22の吸引動作により、キャビティ内に減圧空間が形成される。吸引装置22は、シールリング20がクランプされる前から作動していてもよい。基板23は撓みを生じた基板中央部より気泡を外側に押し出しながら溶融した封止樹脂25へ徐々に浸漬して行き樹脂の流動もほとんどないため、封止樹脂25が気泡を抱き込んだまま硬化するのを防ぐことができる。具体的には、封止樹脂25は、加熱された可動ブロック15からの熱伝導によりキャビティ凹部17の外周部(特に四隅)において硬化が素早く進行する。このため、例えば基板23を均一な高さで保持したままで封止樹脂25に浸漬すると、外周部が既に硬化が進行してしまっているため、中央部に気泡が存在していたときにはその気泡は硬化の進んだ外周部の封止樹脂25に阻まれて排出し難くなるおそれがある。しかしながら、基板中央部が下方に凸となるように撓ませながら基板23を封止樹脂25に浸漬することにより、常に浸漬される界面から外周側に向けて隙間を作りながら浸漬できる。したがって、気泡を基板外周部に向けて排出しながらクランプすることができるため、成形後の封止樹脂25への気泡の混入を確実に防止することができる。   When the substrate 23 and the sealing resin 25 are supplied, the lower mold 2 is raised using a known mold clamping mechanism (such as an electric motor and a toggle link). At this time, first, as shown in FIG. 1, the support pins 18 abut against and support the substrate 23 adsorbed by the upper mold insert 5. Next, when the seal ring 20 is sandwiched between the upper die chase 4 and the lower die chase 12 to form a closed space, a decompression space is formed in the cavity by the suction operation of the suction device 22. The suction device 22 may be operating before the seal ring 20 is clamped. The substrate 23 is gradually immersed in the molten sealing resin 25 while extruding bubbles outward from the central portion of the substrate where bending occurs, so that there is almost no resin flow, so the sealing resin 25 is cured while holding the bubbles. Can be prevented. Specifically, the sealing resin 25 is rapidly cured at the outer peripheral portion (particularly, the four corners) of the cavity concave portion 17 due to heat conduction from the heated movable block 15. For this reason, for example, when the substrate 23 is immersed in the sealing resin 25 while being held at a uniform height, since the outer peripheral portion has already progressed, the bubbles are present when bubbles are present in the central portion. May be hindered by the sealing resin 25 at the outer peripheral portion where curing has progressed, making it difficult to discharge. However, by immersing the substrate 23 in the sealing resin 25 while bending so that the central portion of the substrate is convex downward, the substrate 23 can be immersed while creating a gap from the always immersed interface toward the outer peripheral side. Accordingly, since the bubbles can be clamped while being discharged toward the outer peripheral portion of the substrate, it is possible to reliably prevent the bubbles from being mixed into the sealing resin 25 after molding.

このように、上型1に基板23を吸着保持されたまま型締め動作が開始されると、基板23が先ず可動ブロック15の基板クランプ面15aより突出している支えピン18により支持されるので、上型インサート5に吸着された基板23の落下を防ぐことができる。特に、減圧空間が形成される際に、吸引装置22の吸引動作と吸着装置10による基板吸着動作が平衡状態になるので、基板23の落下防止に有効である。   Thus, when the mold clamping operation is started while the substrate 23 is attracted and held on the upper mold 1, the substrate 23 is first supported by the support pins 18 protruding from the substrate clamp surface 15 a of the movable block 15. The substrate 23 adsorbed on the upper mold insert 5 can be prevented from falling. In particular, when the decompression space is formed, the suction operation of the suction device 22 and the substrate suction operation by the suction device 10 are in an equilibrium state, which is effective in preventing the substrate 23 from falling.

次に、図2のように下型2の可動ブロック15の支えピン18が可動ブロック15内に没入し基板クランプ面15aが基板23をクランプすると、キャビティ内の樹脂圧が基板23の全面に作用するので、コイルスプリング7の付勢に抗して基板23及び上型インサート5の撓みが押し戻されて平坦状に支持される。上型インサート5は樹脂圧力により平坦状に押し戻されて外形が僅かに(1μm未満)拡大するが、偏りなく全体的に変形し上型チェイス4の側壁に位置決めされるため、撓みの押し戻しによる位置ずれは生じない。また、封止樹脂25が硬化縮小しても上型インサート5の撓みによりクランプ圧を作用し続ける。   Next, as shown in FIG. 2, when the support pin 18 of the movable block 15 of the lower mold 2 is immersed in the movable block 15 and the substrate clamping surface 15a clamps the substrate 23, the resin pressure in the cavity acts on the entire surface of the substrate 23. Therefore, the bending of the substrate 23 and the upper mold insert 5 is pushed back against the bias of the coil spring 7 and is supported in a flat shape. The upper die insert 5 is pushed back to a flat shape by the resin pressure, and the outer shape slightly expands (less than 1 μm). There is no deviation. Even if the sealing resin 25 is cured and reduced, the clamp pressure continues to act due to the bending of the upper mold insert 5.

型締め状態で封止樹脂25を加熱硬化させて吸引装置22による吸引動作を停止し、下型2を下動させて型開きを行なう。型開きすると基板23は上型インサート5に吸着されたままであるので、成形品がキャビティより離型し、支えピン18が可動ブロック15より再度基板23を押し上げるので、成形品の離型を促進する。   In the mold clamping state, the sealing resin 25 is heated and cured, the suction operation by the suction device 22 is stopped, and the lower mold 2 is moved down to open the mold. When the mold is opened, the substrate 23 remains adsorbed to the upper mold insert 5, so that the molded product is released from the cavity, and the support pins 18 push the substrate 23 up again from the movable block 15, thereby promoting the release of the molded product. .

以上のように、封止樹脂25に基板中央部から外周縁部に向かって接触させて漸次樹脂圧力が強まるので、気泡が存在しても樹脂圧力が最初に高圧となる基板中央部より低圧な基板外周縁部に向って移動して押し出され、気泡の抱き込みを防ぐことができる。また、上型チェイス4と下型チェイス12との間に設けられたシールリング20がクランプされるとキャビティ内に減圧空間が形成されて基板クランプ動作が行なわれるので、基板23と接触した樹脂圧力と減圧されたキャビティ内の圧力差が大きくなって基板23と封止樹脂25との界面に存在する空気はキャビティ外へ押し出されて排気される。よって、パッケージ部が薄型で大型な製品であっても、気泡が混入することなく成形でき、成形品質を向上させることができる。また、封止樹脂25が硬化収縮してもコイルスプリング7の付勢により上型インサート5が追従して撓むことにより、パッケージ部(樹脂封止部)を押圧し続けることにより均一な樹脂密度で樹脂封止することができる。つまり、例えば平坦な上型インサート5を用いたときには、上型インサート5でクランプすることにより加えられる成形圧力の大部分をより硬化の進んだ基板外周部の封止樹脂25で受け持つ(支持する)状態となるため、硬化の進行が遅い中央部の封止樹脂25では成形圧力が相対的に小さくなる。しかしながら、本実施例では上型インサート5の中央部が下方に凸となるため、基板外周部の硬化の進行状態と関係なく基板中央部の封止樹脂25にも所望の成形圧力(クランプ圧)を加えることができる。したがって、封止樹脂25に作用する成形圧力の分布を均一化にすることができ、パッケージ部(樹脂封止部)をより均一な樹脂密度で樹脂封止することが可能となっている。   As described above, since the resin pressure gradually increases as the sealing resin 25 is brought into contact with the outer peripheral edge from the center of the substrate, the resin pressure is lower than the center of the substrate where the resin pressure first becomes high even if bubbles are present. It moves toward the outer peripheral edge of the substrate and is pushed out, thereby preventing the entrapment of bubbles. Further, when the seal ring 20 provided between the upper die chase 4 and the lower die chase 12 is clamped, a decompression space is formed in the cavity and the substrate clamping operation is performed, so that the resin pressure in contact with the substrate 23 is increased. The pressure difference in the cavity that has been reduced in pressure increases, and the air present at the interface between the substrate 23 and the sealing resin 25 is pushed out of the cavity and exhausted. Therefore, even if the package portion is a thin and large product, it can be molded without mixing bubbles, and the molding quality can be improved. Further, even if the sealing resin 25 is cured and contracted, the upper mold insert 5 follows and bends by the bias of the coil spring 7, so that the package portion (resin sealing portion) is continuously pressed, thereby uniform resin density. Can be sealed with resin. That is, for example, when the flat upper mold insert 5 is used, most of the molding pressure applied by clamping with the upper mold insert 5 is handled (supported) by the sealing resin 25 on the outer periphery of the substrate that has been further cured. Therefore, the molding pressure is relatively small in the sealing resin 25 in the central portion where the progress of curing is slow. However, since the central portion of the upper mold insert 5 protrudes downward in this embodiment, a desired molding pressure (clamping pressure) is applied to the sealing resin 25 at the central portion of the substrate regardless of the progress of curing of the outer peripheral portion of the substrate. Can be added. Accordingly, the distribution of the molding pressure acting on the sealing resin 25 can be made uniform, and the package portion (resin sealing portion) can be resin-sealed with a more uniform resin density.

次に、樹脂封止装置の他例について説明する。
図1及び図2のモールド金型と概略構成は同様であるので、同一部材には同一番号を付して説明を援用するものとし、異なる構成を中心に説明する。
次に、図3において、モールド金型の概略構成は図1及び図2と同様であるが、下型2に減圧空間を形成するシールリング20や吸引装置22及びエア吸引路21は省略されており、基板23を支持する支えピン18も省略されている。本実施例は下型2のキャビティ凹部17を覆ってリリースフィルム28が設けられる。
Next, another example of the resin sealing device will be described.
Since the schematic configuration is the same as that of the mold of FIGS. 1 and 2, the same reference numerals are assigned to the same members, and the description will be referred to, and different configurations will be mainly described.
Next, in FIG. 3, the schematic configuration of the mold is the same as that of FIGS. The support pins 18 that support the substrate 23 are also omitted. In this embodiment, a release film 28 is provided so as to cover the cavity recess 17 of the lower mold 2.

リリースフィルム28は、モールド金型の加熱温度に耐えられる耐熱性を有するもので、金型面より容易に剥離するものであって、キャビティ凹部17の内面にならって変形する柔軟性、伸展性を有するもの、例えば、PTFE、ETFE、PET、FEPフィルム、フッ素含浸ガラスクロス、ポリプロピレンフィルム、ポリ塩化ビニリジン等が好適に用いられる。リリースフィルム28は、長尺状のものをリリースフィルム供給機構(図示せず)により連続してモールド金型へ供給するようになっていても、或いは予め短冊状に切断されたものを用いてもいずれでも良い。
リリースフィルム28は、可動クランプ15の基板クランプ面15aや可動ブロック15とセンターブロック14との隙間29を通じて吸着保持される。
The release film 28 has heat resistance that can withstand the heating temperature of the mold, and is easily peeled off from the mold surface, and has flexibility and extensibility to deform along the inner surface of the cavity recess 17. For example, PTFE, ETFE, PET, FEP film, fluorine-impregnated glass cloth, polypropylene film, polyvinylidin chloride and the like are preferably used. The release film 28 may be a long film that is continuously supplied to a mold by a release film supply mechanism (not shown), or a film that has been cut into a strip shape in advance. Either is fine.
The release film 28 is sucked and held through the substrate clamp surface 15 a of the movable clamp 15 and the gap 29 between the movable block 15 and the center block 14.

図3において、モールド金型が型開き状態において、上型1の上型インサート5に対して基板23が搬入され、吸着装置10を作動させて基板23を半導体素子実装面が下向きとなるように基板吸着面(梨地面)5aに位置合わせして吸着保持する。このとき、基板23は、上型インサート5の撓みにならって、下方に凸となるように吸着保持される。   In FIG. 3, when the mold is in the mold open state, the substrate 23 is carried into the upper mold insert 5 of the upper mold 1 and the suction device 10 is operated so that the semiconductor element mounting surface faces downward. The substrate is attracted and held in alignment with the substrate attracting surface (pear surface) 5a. At this time, the substrate 23 is sucked and held so as to protrude downward, following the bending of the upper mold insert 5.

また、下型2にはキャビティ凹部17を覆ってリリースフィルム28が吸着保持されている。このリリースフィルム28に覆われたキャビティ凹部17に顆粒樹脂、粉砕樹脂、半硬化樹脂等の封止樹脂25が供給される。キャビティ凹部17に供給される封止樹脂25は、気泡の混入を避けるためできるだけ流動しないように、キャビティ全面で均一で平坦な形態が望ましい。基板23及び封止樹脂25は、図示しないローダーにより供給される。   In addition, the release film 28 is sucked and held on the lower mold 2 so as to cover the cavity recess 17. A sealing resin 25 such as a granular resin, a pulverized resin, or a semi-cured resin is supplied to the cavity concave portion 17 covered with the release film 28. It is desirable that the sealing resin 25 supplied to the cavity recess 17 has a uniform and flat shape over the entire cavity surface so as not to flow as much as possible in order to avoid mixing of bubbles. The substrate 23 and the sealing resin 25 are supplied by a loader (not shown).

基板23及び封止樹脂25が供給されると、下型2を公知の型締め機構(電動モータ、トグルリンク等)を用いて上昇させる。このとき、先ず図4のように上型インサート5に吸着された基板23に、リリースフィルム28を介して可動ブロック15が突き当たって支持する。また、基板23は撓みを生じた基板中央部より溶融した封止樹脂25へ徐々に浸漬して行き、樹脂の流動もほとんどないため、封止樹脂25への気泡の抱き込みを防ぐことができる。また、封止樹脂25に基板中央部から外周縁部に向かって接触させて漸次樹脂圧力が強まるので、気泡が存在しても樹脂圧力が最初に高圧となる基板中央部より低圧な基板外周縁部に向って移動して基板23とリリースフィルム28との界面を通じて押し出され、気泡の抱き込みを防ぐことができる。   When the substrate 23 and the sealing resin 25 are supplied, the lower mold 2 is raised using a known mold clamping mechanism (such as an electric motor and a toggle link). At this time, first, as shown in FIG. 4, the movable block 15 abuts and supports the substrate 23 adsorbed by the upper mold insert 5 via the release film 28. Further, since the substrate 23 is gradually immersed in the melted sealing resin 25 from the central portion of the substrate where the bending has occurred and there is almost no resin flow, it is possible to prevent entrapment of bubbles in the sealing resin 25. . Further, since the resin pressure is gradually increased by bringing the sealing resin 25 into contact with the outer peripheral edge from the center of the substrate, the outer peripheral edge of the substrate having a lower pressure than the central portion of the substrate where the resin pressure first becomes high even if bubbles are present. It moves toward the part and is pushed out through the interface between the substrate 23 and the release film 28, thereby preventing bubbles from being held.

上記リリースフィルム28を用いれば、封止樹脂25として粉砕樹脂、顆粒樹脂、シート樹脂等様々な樹脂を用いることができ、金型汚れが発生し難くなるため金型メンテナンスが簡略化でき、しかも離型性がよいため、量産性を高めることができる。   When the release film 28 is used, various resins such as a pulverized resin, a granule resin, and a sheet resin can be used as the sealing resin 25, and the mold maintenance is simplified because mold contamination is less likely to occur. Since the moldability is good, mass productivity can be improved.

また、封止樹脂として台紙付シート樹脂を用いて樹脂封止を行なってもよい。台紙には金属台紙ないしは樹脂当接面が梨地加工面に加工された金属台紙が好適に用いられる。また、台紙に積層されている樹脂シートは半硬化状態(Bステージ)の樹脂が好適に用いられる。
上記台紙付シート樹脂を用いれば、封止樹脂のハンドリングがし易く、かつ離型性もよいため、製造工程が簡略化できる。
また、封止樹脂として液状の樹脂を用いて樹脂封止を行なってもよい。
Further, resin sealing may be performed using a sheet resin with a mount as the sealing resin. As the mount, a metal mount or a metal mount in which the resin contact surface is processed into a satin finish surface is preferably used. Moreover, the resin sheet laminated | stacked on a base_sheet | mounting_paper is used suitably for semi-cured resin (B stage).
If the above-mentioned sheet resin with a mount is used, it is easy to handle the sealing resin and good releasability, so that the manufacturing process can be simplified.
In addition, resin sealing may be performed using a liquid resin as the sealing resin.

1 上型
2 下型
3 上型ベース
3a ねじ孔
4 上型チェイス
4a 貫通孔
5 上型インサート
5a 基板吸着面
6 ガイドブロック
7 コイルスプリング
8 押圧ねじ
9a,9b,9c,21 エア吸引路
10 吸着装置
11 下型ベース
12 下型チェイス
13 ヒータ
14 センターブロック
15 可動ブロック
15a 基板クランプ面
16 第1のばね
17 キャビティ凹部
18 支えピン
19 第2のばね
20 シールリング
22 吸引装置
23 基板
24 半導体素子
25 封止樹脂
26 シール材
28 リリースフィルム
29 隙間
1 Upper mold 2 Lower mold 3 Upper mold base 3a Screw hole 4 Upper mold chase 4a Through hole 5 Upper mold insert 5a Substrate adsorption surface 6 Guide block 7 Coil spring 8 Press screw 9a, 9b, 9c, 21 Air suction path 10 Adsorption device 11 Lower mold base 12 Lower mold chase 13 Heater 14 Center block 15 Movable block 15a Substrate clamping surface 16 First spring 17 Cavity recess 18 Support pin 19 Second spring 20 Seal ring 22 Suction device 23 Substrate 24 Semiconductor element 25 Sealing Resin 26 Sealing material 28 Release film
29 Clearance

Claims (6)

複数の半導体素子が片面実装された半導体素子実装基板が上型に吸着保持されたままキャビティ凹部に封止樹脂が充填された下型とでクランプして一括して樹脂封止される樹脂封止装置であって、
前記上型は、上型ベースに固定された上型チェイスに前記キャビティ凹部の中心位置に向けて上型インサートが下方に凸となるように予め弾性的に撓ませて前記上型チェイスに組み付けられ、型締めされると前記上型インサートが樹脂圧力により平坦状に押し戻されて前記上型チェイスの側壁に囲まれて位置決めされ、前記封止樹脂が硬化縮小後においても前記上型インサートの撓みによりクランプ圧を作用し続けることを特徴とする樹脂封止装置。
Resin sealing that is clamped with a lower mold in which a cavity resin is filled with a sealing resin while a semiconductor element mounting substrate on which a plurality of semiconductor elements are mounted on one side is held by suction on the upper mold A device,
The upper mold is assembled to the upper mold chase in such a way that the upper mold chase fixed to the upper mold base is elastically bent in advance so that the upper mold insert protrudes downward toward the center position of the cavity recess. When the mold is clamped, the upper mold insert is pushed back into a flat shape by the resin pressure and is positioned by being surrounded by the side wall of the upper mold chase, and the sealing resin is bent by the upper mold insert even after being cured and reduced. A resin sealing device characterized by continuing to apply a clamping pressure.
前記上型ベース及び上型チェイスを貫通するねじ孔にコイルスプリングが装填され、該ねじ孔に押しねじをねじ嵌合させることにより前記コイルスプリングが押し縮められて前記上型インサートが下方に凸となるように付勢される請求項1記載の樹脂封止装置。   A coil spring is loaded into a screw hole that passes through the upper mold base and the upper mold chase, and the coil spring is pressed and contracted by screwing a screw into the screw hole so that the upper mold insert protrudes downward. The resin sealing device according to claim 1, wherein the resin sealing device is biased so as to become. 前記上型インサートは、予め研削加工若しくは曲げ加工が施されて下方に凸となるように撓みをもたせて前記上型チェイスに支持されている請求項1記載の樹脂封止装置。   2. The resin sealing device according to claim 1, wherein the upper mold insert is supported by the upper mold chase so that the upper mold insert is bent in advance so as to protrude downward. 前記下型は下型ベースに固定された下型チェイスに、センターブロック及び該センターブロックの周囲に弾性体により上方へ付勢された可動ブロックが設けられて前記キャビティ凹部が形成され、前記可動ブロックの基板クランプ面には、前記上型に吸着保持された基板に突き当てて支持する支えピンが基板クランプ面より突出没可能に設けられている請求項1乃至3のいずれか1項記載の樹脂封止装置。   The lower die has a lower die chase fixed to a lower die base, a center block and a movable block urged upward by an elastic body around the center block to form the cavity recess, and the movable block 4. The resin according to claim 1, wherein a support pin that abuts and supports the substrate clamped and held by the upper mold is provided on the substrate clamp surface of the substrate so as to protrude from the substrate clamp surface. 5. Sealing device. 前記上型インサートの基板吸着面は吸着装置により吸引される吸引路に連通する梨地面に形成されている請求項1乃至4のいずれか1項記載の樹脂封止装置。   5. The resin sealing device according to claim 1, wherein a substrate suction surface of the upper mold insert is formed on a textured surface communicating with a suction path sucked by a suction device. 前記上型チェイスと下型チェイスとの間にはシールリングが設けられており、該シールリングがクランプされるとキャビティに連通する吸引路を通じた吸引装置による吸引動作により当該キャビティ内に減圧空間が形成されて型締めされる請求項1乃至5のいずれか1項記載の樹脂封止装置。   A seal ring is provided between the upper chase and the lower chase, and when the seal ring is clamped, a reduced pressure space is formed in the cavity by a suction operation through a suction passage communicating with the cavity. The resin sealing device according to claim 1, wherein the resin sealing device is formed and clamped.
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